JP6285376B2 - エッジ検出装置 - Google Patents
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Description
前記エッジ位置解析手段では使用しない前記ラインセンサの両端部の光量データによって光軸のズレを検知する光軸ズレ判定手段と、を備えるエッジ検出装置である。
前記被検出物体がない方の光量が所定の閾値より大きい場合、
前記被検出物体がない方の光量が所定の閾値より小さい場合、
のうちいずれかであることを特徴とするエッジ検出装置である。
図2Aでは、光軸(すなわちレーザー光芒10)のズレはなく、正常な状態を示し、図2A右側の特性図における光量データの分布は正規なものである。
図2Bでは、光軸がBottom側にずれており、図2B右側でBootom側の光量データが大きくなっていることがわかる。
図2Cでは、光軸がTop側にずれた場合であり、図2C右側でBootom側の光量データが小さくなっていることがわかる。
図2Dでは、光軸がY軸(−)方向にずれた場合であり、図2D右側ではBootom側の光量データはさほどの変化を示さないことがわかる。
M_Bottom > 110% Of 所定値 ・・・・・数(1)
これは図2Bのように光が過剰に当たりすぎるケースを考慮するものである。
次に、
M_Bottom < 10% Of 所定値 ・・・・・数(2)
図2Cのように光が異常に当たらなくなったケースを考慮するものである。
その他、図2DのようにY軸で光軸がずれた場合には、より特殊な演算を行う必要があるが(全受光量との相関などで)、本願発明ではそこまでは訴求しない。
初めに、電源投入でスタートする(S0)(以降、図3中ステップをSnで示す)。ここでは、光源2を駆動するなどの初期化処理が行われる。全受光量などの記憶を行う。また光軸校正処理も行ってよい。
光量データにズレ異常が見つかった(Yes)場合には、速やかに光軸ズレが発生した旨を通知する光軸ズレ通知処理(S6)へ進む。そこで、その旨のイベント出力の準備を行う。
2 光源
3 被検出物体
4 マイクロコンピュータ
10 レーザー光芒
Claims (3)
- ラインセンサと、このラインセンサに向けて単色光を照射する光源と、
上記単色光の光路に位置付けられた被検出物体のエッジにおけるフレネル回折の光強度分布から前記ラインセンサの画素配列方向における上記被検出物体のエッジ位置を検出するエッジ位置解析手段と、
前記エッジ位置解析手段では使用しない前記ラインセンサの両端部の光量データによって光軸のズレを検知する光軸ズレ判定手段と、を備えるエッジ検出装置。 - 請求項1に記載のエッジ検出装置において、
前記光軸ズレ判定手段は前記ラインセンサの両端部の光量データによって、前記被検出物体がある方と被検出物体がない方の端部を見極めて、この被検出物体がない方の光量が所定の光量ズレ条件に合致した場合に光軸のズレを検知することを特徴とするエッジ検出装置。 - 請求項2に記載のエッジ検出装置において
前記光量ズレ条件とは、
前記被検出物体がない方の光量が所定の閾値より大きい場合、または、
前記被検出物体がない方の光量が所定の閾値より小さい場合、
のうちいずれかであることを特徴とするエッジ検出装置。
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JP2015030486A JP6285376B2 (ja) | 2015-02-19 | 2015-02-19 | エッジ検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2015030486A JP6285376B2 (ja) | 2015-02-19 | 2015-02-19 | エッジ検出装置 |
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JP2016151543A JP2016151543A (ja) | 2016-08-22 |
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