JPH0968462A - 反射率測定装置 - Google Patents
反射率測定装置Info
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- JPH0968462A JPH0968462A JP24390195A JP24390195A JPH0968462A JP H0968462 A JPH0968462 A JP H0968462A JP 24390195 A JP24390195 A JP 24390195A JP 24390195 A JP24390195 A JP 24390195A JP H0968462 A JPH0968462 A JP H0968462A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 被測定面に乖離や傾きが生じても正確な測定
値を得る。 【構成】 照明光源２２からの光束は被測定面Ｓを４５
度方向の２方向から照明する。被測定面Ｓからの反射光
はフォトダイオードアレイ２８で光電変換されて電気信
号となり、Ａ／Ｄ変換器２９を経てデジタル信号となっ
てＣＰＵ３１に送られ、ＣＰＵ３１内の反射率計算手段
４３、色計算手段４４において必要な計算をする。検知
用照明光源３２から出射した光束は、投光光学系３３に
より被測定面Ｓ上に点像を結び、この点像は乖離誤差検
出光学系３４により、フォトダイオードアレイ３６上に
点像を結び、光電変換された信号はＡ／Ｄ変換器３８を
経て乖離誤差検知手段４５に送られ乖離誤差の有無が検
知される。一方、傾き誤差検出光学系３５には、被測定
面Ｓで正反射された光束が入射し、傾き誤差検知エリア
センサ３７上に点像を結び、光電変換された点像位置情
報を含む電気信号は傾き誤差検知手段４６に送られ、先
の乖離誤差を補正した傾き誤差の有無が検知される。
値を得る。 【構成】 照明光源２２からの光束は被測定面Ｓを４５
度方向の２方向から照明する。被測定面Ｓからの反射光
はフォトダイオードアレイ２８で光電変換されて電気信
号となり、Ａ／Ｄ変換器２９を経てデジタル信号となっ
てＣＰＵ３１に送られ、ＣＰＵ３１内の反射率計算手段
４３、色計算手段４４において必要な計算をする。検知
用照明光源３２から出射した光束は、投光光学系３３に
より被測定面Ｓ上に点像を結び、この点像は乖離誤差検
出光学系３４により、フォトダイオードアレイ３６上に
点像を結び、光電変換された信号はＡ／Ｄ変換器３８を
経て乖離誤差検知手段４５に送られ乖離誤差の有無が検
知される。一方、傾き誤差検出光学系３５には、被測定
面Ｓで正反射された光束が入射し、傾き誤差検知エリア
センサ３７上に点像を結び、光電変換された点像位置情
報を含む電気信号は傾き誤差検知手段４６に送られ、先
の乖離誤差を補正した傾き誤差の有無が検知される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、物体の反射光量を
光電変換手段により高精度に測定する反射率測定装置に
関するものである。
光電変換手段により高精度に測定する反射率測定装置に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】最近では、反射率測定装置は反射率をそ
のまま使用するだけでなく、分光反射率を測定し、印刷
や物体色の色彩値、光沢度等の測定にも使用されるよう
になり、高精度の要求は強くなっている。
のまま使用するだけでなく、分光反射率を測定し、印刷
や物体色の色彩値、光沢度等の測定にも使用されるよう
になり、高精度の要求は強くなっている。
【０００３】反射率を測定し色彩値を求める方法は、日
本工業規格ＪＩＳ−Ｚ８７２２「物体色の測定方法」で
種々規定されている。この中に、測定条件ａ、測定条件
ｂという２つの測定方法がある。これらは照明系と受光
系の配置が被測定物面の法線に対して、４５度離れてい
るか法線上（０度）にあるかの違いであり、幾何学的配
置は同じと考えてよく、一般的には４５−０法、又は０
−４５法と呼ばれている。
本工業規格ＪＩＳ−Ｚ８７２２「物体色の測定方法」で
種々規定されている。この中に、測定条件ａ、測定条件
ｂという２つの測定方法がある。これらは照明系と受光
系の配置が被測定物面の法線に対して、４５度離れてい
るか法線上（０度）にあるかの違いであり、幾何学的配
置は同じと考えてよく、一般的には４５−０法、又は０
−４５法と呼ばれている。
【０００４】ここで、一般的には４５−０法と呼ばれる
方式について、図３を用いて説明する。図３は４５−０
方式の構成を示す概略図である。光源１ａ及び１ｂから
発した光束は、照明光学系２ａ及び２ｂで平行光束La及
びLbとなり、測定ヘッド部３から出射し、被測定面Ｓを
斜め４５度方向の２個所から照明する。このとき、被測
定面Ｓを測定ヘッド部３に突き当てる方式と、一定の間
隔を保つ方式がある。図３は測定ヘッド部３と被測定面
Ｓが一定の間隔ｄを保っている。
方式について、図３を用いて説明する。図３は４５−０
方式の構成を示す概略図である。光源１ａ及び１ｂから
発した光束は、照明光学系２ａ及び２ｂで平行光束La及
びLbとなり、測定ヘッド部３から出射し、被測定面Ｓを
斜め４５度方向の２個所から照明する。このとき、被測
定面Ｓを測定ヘッド部３に突き当てる方式と、一定の間
隔を保つ方式がある。図３は測定ヘッド部３と被測定面
Ｓが一定の間隔ｄを保っている。
【０００５】被測定面Ｓで反射された光束は上方の集光
光学系４を通り、波長毎の光強度を検出するフォトダイ
オードアレイ５に達し、それぞれの素子で検出された光
束は光電変換され、電気信号の強弱に変えられる。その
後に、Ａ／Ｄ変換器６でデジタル化された信号は、波長
データと共にＣＰＵ７内のメモリ７ａ、７ｂに蓄えられ
る。
光学系４を通り、波長毎の光強度を検出するフォトダイ
オードアレイ５に達し、それぞれの素子で検出された光
束は光電変換され、電気信号の強弱に変えられる。その
後に、Ａ／Ｄ変換器６でデジタル化された信号は、波長
データと共にＣＰＵ７内のメモリ７ａ、７ｂに蓄えられ
る。
【０００６】このとき、被測定物として反射率が既知の
標準反射板を選択して、反射の基準設定値をメモリ７ａ
に記憶し、被測定面Ｓの反射データをメモリ７ｂに記憶
して、ＣＰＵ７内の反射率計算手段８により波長毎の反
射率を算出し、更に色彩値計算手段９によりＪＩＳ規定
の計算手法によって色空間の値を得ることができる。
標準反射板を選択して、反射の基準設定値をメモリ７ａ
に記憶し、被測定面Ｓの反射データをメモリ７ｂに記憶
して、ＣＰＵ７内の反射率計算手段８により波長毎の反
射率を算出し、更に色彩値計算手段９によりＪＩＳ規定
の計算手法によって色空間の値を得ることができる。
【０００７】
【発明が解決しようとしている課題】この反射率測定装
置においては、照射光学系２ａ、２ｂとフォトダイオー
ドアレイ５に至る集光光学系４が固定されている場合に
は測定の再現性が良い。ところが、従来装置は先に述べ
たように、被測定面Ｓと測定ヘッド部３を離して測定す
る方法と、密着させて測定する方法の２種類があって何
れかを選択することになるが、図３のような非接触で測
定する型式では、測定ヘッド部３と被測定面Ｓとの間隔
ｄや傾きが標準反射面と同じに保持できるとは限らず、
被測定面Ｓや測定者が代ると変化し易くなり測定誤差の
原因となる。
置においては、照射光学系２ａ、２ｂとフォトダイオー
ドアレイ５に至る集光光学系４が固定されている場合に
は測定の再現性が良い。ところが、従来装置は先に述べ
たように、被測定面Ｓと測定ヘッド部３を離して測定す
る方法と、密着させて測定する方法の２種類があって何
れかを選択することになるが、図３のような非接触で測
定する型式では、測定ヘッド部３と被測定面Ｓとの間隔
ｄや傾きが標準反射面と同じに保持できるとは限らず、
被測定面Ｓや測定者が代ると変化し易くなり測定誤差の
原因となる。
【０００８】この誤差を防ぐために従来方法では、被測
定面Ｓへの照明光光束を集光光学系４の有効径よりも小
さくする手段等を用いているが必ずしも有効ではない。
一方、測定ヘッド部３と被測定面Ｓを密着させて測定す
る装置では、間隔は比較的正確に設定できても傾きが発
生したり、測定ヘッド部３により試料面を傷付ける虞れ
や、紙や薄板のような物は測定面が凹凸になったりする
ことがあり、同様に測定の誤差原因となる。
定面Ｓへの照明光光束を集光光学系４の有効径よりも小
さくする手段等を用いているが必ずしも有効ではない。
一方、測定ヘッド部３と被測定面Ｓを密着させて測定す
る装置では、間隔は比較的正確に設定できても傾きが発
生したり、測定ヘッド部３により試料面を傷付ける虞れ
や、紙や薄板のような物は測定面が凹凸になったりする
ことがあり、同様に測定の誤差原因となる。
【０００９】拡散性の高い被測定物については、図４に
示す照明系１１から照射された被測定面Ｓは、どの方向
にもほぼ均一な反射特性ｒを示すため、図５に示すよう
に被測定面Ｓが受光光学系１２、受光部１３に対し傾き
εが生じても測光量には変化が少ない。ところが、例え
ば図６のように被測定面Ｓが基準位置からｄだけ乖離す
ると、受光光学系１２への見掛けの立体角θ2 が図４の
立体角θ1 と比べて変化することになるため、受光部１
３に達する光量が変化する。
示す照明系１１から照射された被測定面Ｓは、どの方向
にもほぼ均一な反射特性ｒを示すため、図５に示すよう
に被測定面Ｓが受光光学系１２、受光部１３に対し傾き
εが生じても測光量には変化が少ない。ところが、例え
ば図６のように被測定面Ｓが基準位置からｄだけ乖離す
ると、受光光学系１２への見掛けの立体角θ2 が図４の
立体角θ1 と比べて変化することになるため、受光部１
３に達する光量が変化する。
【００１０】一方、拡散性が低く光沢のある被測定面Ｓ
については、図７に示す被測定面Ｓからの反射光Ｒは指
向性が強くなっているため、図８に示すように被測定面
Ｓが受光光学系１２に対し傾きεを生ずると、受光光学
系１２に集光される光束が変化し測光量の誤差となる。
ところが、図９に示すように測定面Ｓが基準位置から乖
離しても正反射した光束方向は変らず、拡散光が僅かに
変化するだけであるので、受光部１３に入射する光量も
殆ど変化せず測定誤差が生ずることはない。
については、図７に示す被測定面Ｓからの反射光Ｒは指
向性が強くなっているため、図８に示すように被測定面
Ｓが受光光学系１２に対し傾きεを生ずると、受光光学
系１２に集光される光束が変化し測光量の誤差となる。
ところが、図９に示すように測定面Ｓが基準位置から乖
離しても正反射した光束方向は変らず、拡散光が僅かに
変化するだけであるので、受光部１３に入射する光量も
殆ど変化せず測定誤差が生ずることはない。
【００１１】本発明の目的は、上述の問題点を解消し、
被測定物について乖離や傾きが生じても、正確な測定値
を得る反射率測定装置を提供することにある。
被測定物について乖離や傾きが生じても、正確な測定値
を得る反射率測定装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めの本発明に係る反射率測定装置においては、被測定試
料面で反射した光量を測定して反射率を求める測定装置
であって、前記被測定試料面の取付位置について、測定
基準位置からの乖離誤差検出手段と傾き誤差検出手段と
の少なくとも一方を備えたことを特徴とする。
めの本発明に係る反射率測定装置においては、被測定試
料面で反射した光量を測定して反射率を求める測定装置
であって、前記被測定試料面の取付位置について、測定
基準位置からの乖離誤差検出手段と傾き誤差検出手段と
の少なくとも一方を備えたことを特徴とする。
【００１３】
【発明の実施の形態】本発明を図１、図２に図示の実施
例に基づいて詳細に説明する。図１は反射率測定装置を
使用した色彩測定装置の構成を示すブロック図であり、
ＪＩＳに規定された４５度照明、垂直受光（４５−０）
法に基づいた装置である。測定試料取付基準位置からの
乖離量、傾き量の検出機構を作動させ、測定試料取付位
置が不正確である場合に、不正確であることを知らせる
手段と、正しい位置に修正する手段を有するものであ
る。
例に基づいて詳細に説明する。図１は反射率測定装置を
使用した色彩測定装置の構成を示すブロック図であり、
ＪＩＳに規定された４５度照明、垂直受光（４５−０）
法に基づいた装置である。測定試料取付基準位置からの
乖離量、傾き量の検出機構を作動させ、測定試料取付位
置が不正確である場合に、不正確であることを知らせる
手段と、正しい位置に修正する手段を有するものであ
る。
【００１４】測定器本体２１の内部には、測定用照明光
源２２が設けられ、照明光源２２の前方には、集光レン
ズ２３、ファイバ２４の入射端が配置されている。ファ
イバ２４は途中でファイバ２４ａ、２４ｂに２岐され、
これらの出射端の前方には照明光学系２５ａ、２５ｂが
配置され、ファイバ２４ａ、２４ｂからの出射光は、平
行光として斜めの２方向から測定器本体２１の下部に開
口する測定ヘッド部２６に配置された被測定面Ｓに向け
られている。
源２２が設けられ、照明光源２２の前方には、集光レン
ズ２３、ファイバ２４の入射端が配置されている。ファ
イバ２４は途中でファイバ２４ａ、２４ｂに２岐され、
これらの出射端の前方には照明光学系２５ａ、２５ｂが
配置され、ファイバ２４ａ、２４ｂからの出射光は、平
行光として斜めの２方向から測定器本体２１の下部に開
口する測定ヘッド部２６に配置された被測定面Ｓに向け
られている。
【００１５】被測定面Ｓの法線に沿った反射方向の上方
には、測定用集光光学系２７、フォトダイオードアレイ
２８が配置され、フォトダイオードアレイ２８の出力は
増幅器を含むＡ／Ｄ変換器２９を介してＣＰＵ３１に接
続されている。
には、測定用集光光学系２７、フォトダイオードアレイ
２８が配置され、フォトダイオードアレイ２８の出力は
増幅器を含むＡ／Ｄ変換器２９を介してＣＰＵ３１に接
続されている。
【００１６】また、測定器本体２１の内部には半導体レ
ーザー光源から成る検知用照明光源３２が配置され、こ
の検知用照明光源３２と測定ヘッド部２６間には投光光
学系３３が設けられ、この投光光束の被測定面Ｓの反射
方向には検出光学系３４、３５を介して、それぞれフォ
トダイオードアレイ３６、エリアセンサ３７が設けられ
ている。フォトダイオードアレイ３６、エリアセンサ３
７の出力はそれぞれ増幅器を含むＡ／Ｄ変換器３８、３
９を介してＣＰＵ３１に接続されている。ここで、検出
光学系３４、フォトダイオードアレイ３６は反射面の法
線近傍に配置されていて乖離誤差検出に使用され、検出
光学系３５、エリアセンサ３７は法線を挟んで照明光源
３２とほぼ対称的に配置されていて傾き検出に使用され
る。
ーザー光源から成る検知用照明光源３２が配置され、こ
の検知用照明光源３２と測定ヘッド部２６間には投光光
学系３３が設けられ、この投光光束の被測定面Ｓの反射
方向には検出光学系３４、３５を介して、それぞれフォ
トダイオードアレイ３６、エリアセンサ３７が設けられ
ている。フォトダイオードアレイ３６、エリアセンサ３
７の出力はそれぞれ増幅器を含むＡ／Ｄ変換器３８、３
９を介してＣＰＵ３１に接続されている。ここで、検出
光学系３４、フォトダイオードアレイ３６は反射面の法
線近傍に配置されていて乖離誤差検出に使用され、検出
光学系３５、エリアセンサ３７は法線を挟んで照明光源
３２とほぼ対称的に配置されていて傾き検出に使用され
る。
【００１７】測定器本体２１内の筐体４１は図示した範
囲の測光用投受光光学系を含み、内部にこれらを一体と
して収納しているが、図示の都合上により、実際の配置
は紙面と直交する位置にある。また、照明光学系２５ａ
及び２５ｂは筐体４１に含むように図示しているが、実
際にはこれらは含まれていない。
囲の測光用投受光光学系を含み、内部にこれらを一体と
して収納しているが、図示の都合上により、実際の配置
は紙面と直交する位置にある。また、照明光学系２５ａ
及び２５ｂは筐体４１に含むように図示しているが、実
際にはこれらは含まれていない。
【００１８】ＣＰＵ３１はメモリ３１ａ、３１ｂ、３１
ｃを内蔵しており、更にシステム制御手段４２、反射率
計算手段４３、色度値計算手段４４、乖離誤差検知手段
４５、傾き誤差検知手段４６が設けられている。また、
ＣＰＵ３１には乖離・傾き制御手段４７、位置良否表示
手段４８、表示出力手段４９が接続され、乖離・傾き制
御手段４７の出力は筐体４１を測定器本体２１に対して
駆動する乖離・傾き調整駆動部５０に接続されている。
ｃを内蔵しており、更にシステム制御手段４２、反射率
計算手段４３、色度値計算手段４４、乖離誤差検知手段
４５、傾き誤差検知手段４６が設けられている。また、
ＣＰＵ３１には乖離・傾き制御手段４７、位置良否表示
手段４８、表示出力手段４９が接続され、乖離・傾き制
御手段４７の出力は筐体４１を測定器本体２１に対して
駆動する乖離・傾き調整駆動部５０に接続されている。
【００１９】測定に際して、照明光源２２からの光束は
集光レンズ２３により集光され、ファイバ２４を通り２
方向２４ａ、２４ｂに分割される。ファイバ２４ａ、２
４ｂの出射端から出射した光束は、照明光学系２５ａ、
２５ｂにより被測定面Ｓを４５度方向の２方向から照明
する。被測定面Ｓは測定器本体２１の測定ヘッド部２６
からｄだけ乖離して配置されているが、外光により影響
しないように測定器本体２１の下部に配置されている。
被測定面Ｓの保持は作業机などの平面状の所に装置と共
に置けばよく、特別な装置を用いる必要はない。
集光レンズ２３により集光され、ファイバ２４を通り２
方向２４ａ、２４ｂに分割される。ファイバ２４ａ、２
４ｂの出射端から出射した光束は、照明光学系２５ａ、
２５ｂにより被測定面Ｓを４５度方向の２方向から照明
する。被測定面Ｓは測定器本体２１の測定ヘッド部２６
からｄだけ乖離して配置されているが、外光により影響
しないように測定器本体２１の下部に配置されている。
被測定面Ｓの保持は作業机などの平面状の所に装置と共
に置けばよく、特別な装置を用いる必要はない。
【００２０】集光光学系２７は被測定面Ｓからの反射光
を集光して、被測定面Ｓに焦点がほぼ一致するようにし
て測定範囲を決め、測定波長毎の光強度を検出するフォ
トダイオードアレイ２８に均一な広がりを作る。フォト
ダイオードアレイ２８で光電変換された光束は強弱情報
を持つ電気信号となり、Ａ／Ｄ変換器２９を経てデジタ
ル信号となってＣＰＵ３１に達しメモリに蓄えられる。
その後に、ＣＰＵ３１内の反射率計算手段４３、色計算
手段４４において必要な計算がなされ、表示出力手段４
９に結果が表示される。
を集光して、被測定面Ｓに焦点がほぼ一致するようにし
て測定範囲を決め、測定波長毎の光強度を検出するフォ
トダイオードアレイ２８に均一な広がりを作る。フォト
ダイオードアレイ２８で光電変換された光束は強弱情報
を持つ電気信号となり、Ａ／Ｄ変換器２９を経てデジタ
ル信号となってＣＰＵ３１に達しメモリに蓄えられる。
その後に、ＣＰＵ３１内の反射率計算手段４３、色計算
手段４４において必要な計算がなされ、表示出力手段４
９に結果が表示される。
【００２１】誤差検出手段の原理は三角測量方式であ
り、焦点位置のずれをフォトダイオードアレイ３６上の
ずれとして検知するものである。検知用照明光源３２か
ら出射した光束は、投光光学系３３により被測定面Ｓ上
に極めて小さな点像を結ぶ。この点像は被測定面Ｓの法
線近傍に配置された乖離誤差検出光学系３４により、フ
ォトダイオードアレイ３６上に点像を結ぶ。フォトダイ
オードアレイ３６上に形成された点像は、被測定面Ｓの
乖離量に応じてほぼ線型位置に変動する。更に、光電変
換された点像位置情報を持った電気信号はＡ／Ｄ変換器
３８を経て、ＣＰＵ３１内の乖離誤差検知手段４５に送
られ乖離誤差の有無が検知される。
り、焦点位置のずれをフォトダイオードアレイ３６上の
ずれとして検知するものである。検知用照明光源３２か
ら出射した光束は、投光光学系３３により被測定面Ｓ上
に極めて小さな点像を結ぶ。この点像は被測定面Ｓの法
線近傍に配置された乖離誤差検出光学系３４により、フ
ォトダイオードアレイ３６上に点像を結ぶ。フォトダイ
オードアレイ３６上に形成された点像は、被測定面Ｓの
乖離量に応じてほぼ線型位置に変動する。更に、光電変
換された点像位置情報を持った電気信号はＡ／Ｄ変換器
３８を経て、ＣＰＵ３１内の乖離誤差検知手段４５に送
られ乖離誤差の有無が検知される。
【００２２】一方、光源３２及び投光光学系３３に対し
て、被測定面Ｓの法線を挟みほぼ対称的に設置された傾
き誤差検出光学系３５には、被測定面Ｓで正反射された
光束が入射し、傾き誤差検知エリアセンサ３７上に点像
を結ぶ。エリアセンサ３７上に形成される点像は、乖離
と傾きを含んだ誤差に応じてほぼ線型位置に変動する。
更に、光電変換された点像位置情報を含む電気信号は、
Ａ／Ｄ変換器３９を経てＣＰＵ３１内の傾き誤差検知手
段４６に送られ、先の乖離誤差を補正した傾き誤差の有
無が検知される。
て、被測定面Ｓの法線を挟みほぼ対称的に設置された傾
き誤差検出光学系３５には、被測定面Ｓで正反射された
光束が入射し、傾き誤差検知エリアセンサ３７上に点像
を結ぶ。エリアセンサ３７上に形成される点像は、乖離
と傾きを含んだ誤差に応じてほぼ線型位置に変動する。
更に、光電変換された点像位置情報を含む電気信号は、
Ａ／Ｄ変換器３９を経てＣＰＵ３１内の傾き誤差検知手
段４６に送られ、先の乖離誤差を補正した傾き誤差の有
無が検知される。
【００２３】乖離誤差検知手段４５は被測定面Ｓが拡散
面のとき、点像は乖離量として検出できるが傾きは検出
できない。また、被測定面Ｓが光沢を十分に有する場合
は点像光束が正反射し、受光部に入射せず同様に検出で
きない。傾き誤差検出手段４６では、乖離と傾き誤差に
よる点像の動きは同様に変動し、両者を区別することは
できない。このため、本実施例では乖離誤差検知手段４
５及び傾き誤差検出手段４６の両者から誤差を精度良く
検出するようにしている。
面のとき、点像は乖離量として検出できるが傾きは検出
できない。また、被測定面Ｓが光沢を十分に有する場合
は点像光束が正反射し、受光部に入射せず同様に検出で
きない。傾き誤差検出手段４６では、乖離と傾き誤差に
よる点像の動きは同様に変動し、両者を区別することは
できない。このため、本実施例では乖離誤差検知手段４
５及び傾き誤差検出手段４６の両者から誤差を精度良く
検出するようにしている。
【００２４】筐体４１と測定器本体２１との結合部に設
けられた乖離・傾き調整駆動装置部５０は、乖離・傾き
制御手段４７からの信号により作動するようにされてい
る。乖離・傾き制御手段４７はＣＰＵ３１からのＯＫ、
ＮＧの信号を交信しながら駆動調整部５０を駆動し、筐
体４１を正しい位置に設定する。乖離や傾き誤差の有
無、調整中の表示は、位置良否表示手段４８にＣＰＵ３
１からの指示で表示する。
けられた乖離・傾き調整駆動装置部５０は、乖離・傾き
制御手段４７からの信号により作動するようにされてい
る。乖離・傾き制御手段４７はＣＰＵ３１からのＯＫ、
ＮＧの信号を交信しながら駆動調整部５０を駆動し、筐
体４１を正しい位置に設定する。乖離や傾き誤差の有
無、調整中の表示は、位置良否表示手段４８にＣＰＵ３
１からの指示で表示する。
【００２５】次いで、分光反射率を測定し色彩値を求め
る手順について、図２のフローチャート図により説明す
る。電源を投入後に、ステップ１では乖離誤差、傾き誤
差検出基準を設定する。被測定面Ｓと同じ位置に置かれ
た位置設定用反射板を使用して、検出機構で正しい取付
位置つまり乖離基準と、傾きとをそれぞれのフォトダイ
オードアレイ３６、エリアセンサ３７で検出し、基準位
置としてＣＰＵ３１内の誤差検知手段用メモリに蓄え
る。
る手順について、図２のフローチャート図により説明す
る。電源を投入後に、ステップ１では乖離誤差、傾き誤
差検出基準を設定する。被測定面Ｓと同じ位置に置かれ
た位置設定用反射板を使用して、検出機構で正しい取付
位置つまり乖離基準と、傾きとをそれぞれのフォトダイ
オードアレイ３６、エリアセンサ３７で検出し、基準位
置としてＣＰＵ３１内の誤差検知手段用メモリに蓄え
る。
【００２６】ここで、使用する設定用反射板は中間的な
光沢で平面状の物が望ましい。ステップ３で述べる標準
反射白板は拡散性が良いため、傾きの基準を設定できな
い。つまり、傾き誤差は拡散性の良い物では測定精度に
影響しないが、被測定面Ｓが拡散性が良く、乖離誤差の
設定だけで良い場合には兼用が可能である。
光沢で平面状の物が望ましい。ステップ３で述べる標準
反射白板は拡散性が良いため、傾きの基準を設定できな
い。つまり、傾き誤差は拡散性の良い物では測定精度に
影響しないが、被測定面Ｓが拡散性が良く、乖離誤差の
設定だけで良い場合には兼用が可能である。
【００２７】ステップ２はダーク測定で測定ヘッド部２
６に覆いをして、暗電流、漏れ電流をフォトダイオード
アレイ３６により波長毎に検出し、乖離誤差検知手段４
５のメモリに蓄える。なお、このステップ２はステップ
４の後に行うこともできる。
６に覆いをして、暗電流、漏れ電流をフォトダイオード
アレイ３６により波長毎に検出し、乖離誤差検知手段４
５のメモリに蓄える。なお、このステップ２はステップ
４の後に行うこともできる。
【００２８】ステップ３では、標準反射白板の位置検出
である位置設定用反射板とほぼ同様に置かれた反射率が
高くかつ拡散性を有する標準反射白板の乖離誤差を、乖
離誤差検出用フォトダイオードアレイ３６で検出し、Ｃ
ＰＵ３１内の乖離誤差検知手段４５に送り、ステップ１
の位置からの乖離誤差を検知する。なお、前述した理由
で傾き誤差は検出しない。
である位置設定用反射板とほぼ同様に置かれた反射率が
高くかつ拡散性を有する標準反射白板の乖離誤差を、乖
離誤差検出用フォトダイオードアレイ３６で検出し、Ｃ
ＰＵ３１内の乖離誤差検知手段４５に送り、ステップ１
の位置からの乖離誤差を検知する。なお、前述した理由
で傾き誤差は検出しない。
【００２９】ステップ４では、標準反射白板の位置制御
で乖離誤差検知手段４５によって乖離誤差を検出した場
合は、ＣＰＵ３１のシステム制御手段４２から乖離・傾
き制御手段４７に検知信号を送り、乖離・傾き調整駆動
部５０を動かして筐体４１の姿勢を調整する。一方、位
置良否表示手段４８において良否結果をランプ表示し、
正しい位置に設定されると、良のランプが点灯表示され
次ステップに移行する。
で乖離誤差検知手段４５によって乖離誤差を検出した場
合は、ＣＰＵ３１のシステム制御手段４２から乖離・傾
き制御手段４７に検知信号を送り、乖離・傾き調整駆動
部５０を動かして筐体４１の姿勢を調整する。一方、位
置良否表示手段４８において良否結果をランプ表示し、
正しい位置に設定されると、良のランプが点灯表示され
次ステップに移行する。
【００３０】ステップ５では、反射光量測定基準となる
標準反射白板は反射量が既知であるので、この光量を基
準とし、波長毎にフォトダイオードアレイ３６で測定
し、ＣＰＵ３１内の乖離誤差検知手段４５のメモリに蓄
える。
標準反射白板は反射量が既知であるので、この光量を基
準とし、波長毎にフォトダイオードアレイ３６で測定
し、ＣＰＵ３１内の乖離誤差検知手段４５のメモリに蓄
える。
【００３１】ステップ６で被測定面Ｓの取り付けと取付
位置検出を行う。被測定面Ｓをステップ３で測定した標
準反射白板と同じ個所に置き、乖離誤差検出手段４５と
傾き誤差検出手段４６で検出した位置が、ステップ１で
設定した基準位置との誤差を乖離誤差検知手段４５と傾
き誤差検知手段４６が比較する。
位置検出を行う。被測定面Ｓをステップ３で測定した標
準反射白板と同じ個所に置き、乖離誤差検出手段４５と
傾き誤差検出手段４６で検出した位置が、ステップ１で
設定した基準位置との誤差を乖離誤差検知手段４５と傾
き誤差検知手段４６が比較する。
【００３２】ステップ７で被測定面Ｓの位置調整で誤差
検知手段４５、４６によって誤差を検出した場合には乖
離・傾き制御手段４７に伝え、乖離・傾き調整駆動部５
０により調整する。一方、位置良否表示手段４８で良否
結果をランプ表示する。正しい位置に設定されると良の
ランプが点灯表示され次のステップ８に進む。ステップ
８では被測定面Ｓの反射光量を測定し、波長毎にフォト
ダイオードアレイ２８で検出した光量をＣＰＵ３１内の
反射率計算手段４３のメモリに蓄える。
検知手段４５、４６によって誤差を検出した場合には乖
離・傾き制御手段４７に伝え、乖離・傾き調整駆動部５
０により調整する。一方、位置良否表示手段４８で良否
結果をランプ表示する。正しい位置に設定されると良の
ランプが点灯表示され次のステップ８に進む。ステップ
８では被測定面Ｓの反射光量を測定し、波長毎にフォト
ダイオードアレイ２８で検出した光量をＣＰＵ３１内の
反射率計算手段４３のメモリに蓄える。
【００３３】ステップ９で反射率の計算と表示を行い、
ステップ５とステップ８で測定した波長毎のデータと、
ステップ２で測定した暗電流を基に波長毎の反射率を反
射率計算手段４３で算出する。
ステップ５とステップ８で測定した波長毎のデータと、
ステップ２で測定した暗電流を基に波長毎の反射率を反
射率計算手段４３で算出する。
【００３４】ステップ１０では色度値の計算を行い、Ｃ
ＰＵ３１内の色度値計算手段４４により決められた方法
で計算し、色彩値を表示出力手段４９で出力し終了す
る。続いて、別の試料を測定するときは、ステップ６か
ら開始することとなる。
ＰＵ３１内の色度値計算手段４４により決められた方法
で計算し、色彩値を表示出力手段４９で出力し終了す
る。続いて、別の試料を測定するときは、ステップ６か
ら開始することとなる。
【００３５】以上の測定に当って、被測定面Ｓの光沢度
によっては乖離誤差と傾き誤差の何れか一方の検出を行
い、他方は検出できない場合がある。しかし、従来の技
術の項で説明したように、検出されない誤差は測定精度
に影響のないものであり、本実施例では検出不能時には
位置良否表示手段４８のランプを良とするようになって
いる。
によっては乖離誤差と傾き誤差の何れか一方の検出を行
い、他方は検出できない場合がある。しかし、従来の技
術の項で説明したように、検出されない誤差は測定精度
に影響のないものであり、本実施例では検出不能時には
位置良否表示手段４８のランプを良とするようになって
いる。
【００３６】また、本実施例では色彩測定に限定した例
を挙げたが、ほぼ同様な光学系で測定される濃度系や、
光沢計、写像性測定等、被測定物の設定誤差が光量にも
影響する反射率測定装置に利用可能である。また、測定
試料取付基準位置からの乖離誤差、傾き誤差両方の検出
機構を用いた実施例を述べたが、装置コスト等の都合に
より何れか一方の検出だけであっても支障はない。
を挙げたが、ほぼ同様な光学系で測定される濃度系や、
光沢計、写像性測定等、被測定物の設定誤差が光量にも
影響する反射率測定装置に利用可能である。また、測定
試料取付基準位置からの乖離誤差、傾き誤差両方の検出
機構を用いた実施例を述べたが、装置コスト等の都合に
より何れか一方の検出だけであっても支障はない。
【００３７】
【発明の効果】以上説明したように本発明の反射率測定
装置によれば、反射率測定において、光量を測定する前
に被測定面の取付状態が正しいか否かが分かり、測定精
度を向上するので、測定値の解析後に間違いに気付き、
再測定を行うことは不要になる。また、位置の設定誤差
を気にせず測定することが可能となるので、効率良く測
定が進められるなど、コスト的、時間的にも有利であ
る。
装置によれば、反射率測定において、光量を測定する前
に被測定面の取付状態が正しいか否かが分かり、測定精
度を向上するので、測定値の解析後に間違いに気付き、
再測定を行うことは不要になる。また、位置の設定誤差
を気にせず測定することが可能となるので、効率良く測
定が進められるなど、コスト的、時間的にも有利であ
る。
【図１】実施例の構成図である。
【図２】測定方法のフローチャート図である。
【図３】従来の反射率測定装置を使用した測色機の概略
図である。
図である。
【図４】従来の反射率測定における拡散試料の誤差の説
明図である。
明図である。
【図５】従来の反射率測定における拡散試料の誤差の説
明図である。
明図である。
【図６】従来の反射率測定における拡散試料の誤差の説
明図である。
明図である。
【図７】従来の反射率測定における光沢試料の誤差の説
明図である。
明図である。
【図８】従来の反射率測定における光沢試料の誤差の説
明図である。
明図である。
【図９】従来の反射率測定における光沢試料の誤差の説
明図である。
明図である。
２１ 測定器本体 ２２ 測光用照明光源 ２７ 測色用集光光学系 ２８、３６ フォトダイオードアレイ ３１ ＣＰＵ ３２ 検知用照明光源 ３７ エリアセンサ ４１ 筐体 ４３ 反射率計算手段 ４４ 色度値計算手段 ４５ 乖離誤差検知手段 ４６ 傾き誤差検知手段 ４７ 乖離・傾き制御手段 ５０ 乖離・傾き調整駆動部 Ｓ 被測定面
Claims (3)
- 【請求項１】 被測定試料面で反射した光量を測定して
反射率を求める測定装置であって、前記被測定試料面の
取付位置について、測定基準位置からの乖離誤差検出手
段と傾き誤差検出手段との少なくとも一方を備えたこと
を特徴とする反射率測定装置。 - 【請求項２】 前記乖離誤差検出手段と傾き誤差検出手
段は、１個所から照射される光源を共用し、前記乖離誤
差検出手段は被測定面の法線近傍に配置したラインセン
サにより、前記乖離誤差検出手段は前記法線を挟んで前
記光源と対称的に配置したエリアセンサにより光電的に
検出するようにした請求項１に記載の反射率測定装置。 - 【請求項３】 前記被測定試料面の乖離位置や傾きが不
正確である場合に、反射光量を測定する機能を停止し、
該機能が停止したことを知らせる手段又は正しい位置に
修正する手段の少なくとも一方の手段を有する請求項１
に記載の反射率測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24390195A JPH0968462A (ja) | 1995-08-30 | 1995-08-30 | 反射率測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24390195A JPH0968462A (ja) | 1995-08-30 | 1995-08-30 | 反射率測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0968462A true JPH0968462A (ja) | 1997-03-11 |
Family
ID=17110690
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24390195A Pending JPH0968462A (ja) | 1995-08-30 | 1995-08-30 | 反射率測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0968462A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100385563B1 (ko) * | 2000-12-01 | 2003-05-27 | 한국과학기술원 | 구동수단을 갖는 분광 광도계와 광도 측정방법 |
| KR100767772B1 (ko) * | 2005-09-26 | 2007-10-18 | 후지제롯쿠스 가부시끼가이샤 | 광학 측정 장치 및 이것을 이용한 화상 형성 장치 |
| WO2012147488A1 (ja) * | 2011-04-28 | 2012-11-01 | コニカミノルタオプティクス株式会社 | マルチアングル測色計 |
| WO2013146419A1 (ja) * | 2012-03-29 | 2013-10-03 | コニカミノルタ株式会社 | 測光装置及び測定制御用プログラム |
-
1995
- 1995-08-30 JP JP24390195A patent/JPH0968462A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100385563B1 (ko) * | 2000-12-01 | 2003-05-27 | 한국과학기술원 | 구동수단을 갖는 분광 광도계와 광도 측정방법 |
| KR100767772B1 (ko) * | 2005-09-26 | 2007-10-18 | 후지제롯쿠스 가부시끼가이샤 | 광학 측정 장치 및 이것을 이용한 화상 형성 장치 |
| WO2012147488A1 (ja) * | 2011-04-28 | 2012-11-01 | コニカミノルタオプティクス株式会社 | マルチアングル測色計 |
| CN103492845A (zh) * | 2011-04-28 | 2014-01-01 | 柯尼卡美能达株式会社 | 多角度测色计 |
| US9001329B2 (en) | 2011-04-28 | 2015-04-07 | Konica Minolta, Inc. | Multi-angle colorimeter |
| JP5737390B2 (ja) * | 2011-04-28 | 2015-06-17 | コニカミノルタ株式会社 | マルチアングル測色計 |
| CN103492845B (zh) * | 2011-04-28 | 2015-09-16 | 柯尼卡美能达株式会社 | 多角度测色计 |
| US9222835B2 (en) | 2011-04-28 | 2015-12-29 | Konica Minolta, Inc. | Multi-angle colorimeter |
| WO2013146419A1 (ja) * | 2012-03-29 | 2013-10-03 | コニカミノルタ株式会社 | 測光装置及び測定制御用プログラム |
| JPWO2013146419A1 (ja) * | 2012-03-29 | 2015-12-10 | コニカミノルタ株式会社 | 測光装置及び測定制御用プログラム |
| US9494423B2 (en) | 2012-03-29 | 2016-11-15 | Konica Minolta, Inc. | Photometric apparatus and measurement control program |
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