JP3408918B2 - 画像形成装置 - Google Patents
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G15/00—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
- G03G15/05—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern for imagewise charging, e.g. photoconductive control screen, optically activated charging means
-
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- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G15/00—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern
- G03G15/02—Apparatus for electrographic processes using a charge pattern for laying down a uniform charge, e.g. for sensitising; Corona discharge devices
- G03G15/0266—Arrangements for controlling the amount of charge
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- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G2215/00—Apparatus for electrophotographic processes
- G03G2215/02—Arrangements for laying down a uniform charge
- G03G2215/021—Arrangements for laying down a uniform charge by contact, friction or induction
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Electrostatic Charge, Transfer And Separation In Electrography (AREA)
- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、感光体等の像担持体に
帯電ローラ等の帯電手段を接触させて、その像担持体に
電荷を付与する電子写真方式の画像形成装置の改良に関
する。
帯電ローラ等の帯電手段を接触させて、その像担持体に
電荷を付与する電子写真方式の画像形成装置の改良に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、画像形成装置には静電複写
機、プリンタ等が知られている。この画像形成装置に
は、像担持体としての感光体に電荷を付与するための帯
電装置が設けられている。この帯電装置として、コロナ
形式の放電装置が広く使用されている。このコロナ放電
形式の帯電装置の場合、例えば、感光体に５００ボルト
ないし８００ボルトの帯電電位を与えるためには、帯電
装置それ自体に４ないし８キロボルトの高圧を印加しな
ければならない。このため、コロナ放電によってオゾン
等のコロナ生成物が生じる。このコロナ生成物によっ
て、画像形成装置を構成する各部品、感光体が劣化する
等の不具合がある。そこで、このコロナ放電形式の帯電
装置を用いた画像形成装置の場合には、オゾン分解フィ
ルタ、気流発生ファンが設けられ、コロナ生成物を除去
するようにしている。しかしながら、オゾン分解フィル
タ、気流発生ファンを設ける分だけ、画像形成装置の構
造が複雑化する。
機、プリンタ等が知られている。この画像形成装置に
は、像担持体としての感光体に電荷を付与するための帯
電装置が設けられている。この帯電装置として、コロナ
形式の放電装置が広く使用されている。このコロナ放電
形式の帯電装置の場合、例えば、感光体に５００ボルト
ないし８００ボルトの帯電電位を与えるためには、帯電
装置それ自体に４ないし８キロボルトの高圧を印加しな
ければならない。このため、コロナ放電によってオゾン
等のコロナ生成物が生じる。このコロナ生成物によっ
て、画像形成装置を構成する各部品、感光体が劣化する
等の不具合がある。そこで、このコロナ放電形式の帯電
装置を用いた画像形成装置の場合には、オゾン分解フィ
ルタ、気流発生ファンが設けられ、コロナ生成物を除去
するようにしている。しかしながら、オゾン分解フィル
タ、気流発生ファンを設ける分だけ、画像形成装置の構
造が複雑化する。
【０００３】そこで、近年、像担持体に接触して電荷を
付与する接触帯電手段としての帯電ローラを用いた画像
形成装置が注目されている。この接触帯電方式の画像形
成装置によれば、感光体に電荷を付与する際に帯電ロー
ラに印加すべき電圧の低圧化を図ることができる等のメ
リット、像担持体に電荷を付与する過程で発生するオゾ
ンの量を極めて微量にすることができ、オゾンフィル
タ、気流発生ファンの不要化を図ることができる等のメ
リットがある。
付与する接触帯電手段としての帯電ローラを用いた画像
形成装置が注目されている。この接触帯電方式の画像形
成装置によれば、感光体に電荷を付与する際に帯電ロー
ラに印加すべき電圧の低圧化を図ることができる等のメ
リット、像担持体に電荷を付与する過程で発生するオゾ
ンの量を極めて微量にすることができ、オゾンフィル
タ、気流発生ファンの不要化を図ることができる等のメ
リットがある。
【０００４】しかしながら、この接触帯電手段を用いた
画像形成装置の場合、感光体に付与される帯電電位が帯
電ローラの抵抗値の影響を受け、帯電ローラに一定の電
圧を印加したとしても、感光体に付与される帯電電位は
帯電ローラの抵抗値によって変化する。その感光体の帯
電電位の変化の割合は、感光体の表面の線速度が大きい
ほど大きい。
画像形成装置の場合、感光体に付与される帯電電位が帯
電ローラの抵抗値の影響を受け、帯電ローラに一定の電
圧を印加したとしても、感光体に付与される帯電電位は
帯電ローラの抵抗値によって変化する。その感光体の帯
電電位の変化の割合は、感光体の表面の線速度が大きい
ほど大きい。
【０００５】図１は、感光体の表面の線速度をパラメー
タとして、その帯電ローラの抵抗値と感光体の表面の帯
電電位との関係を示している。その図１において、横軸
は帯電ローラの抵抗値を示し、縦軸は感光体の表面の帯
電電位であり、この図１は、一例として、帯電ローラに
印加する基準電圧を−１６００ボルトとし、感光体の表
面の線速度を５０ｍｍ／ｓｅｃ、２００ｍｍ／ｓｅｃ、
４００ｍｍ／ｓｅｃに変化させたときの帯電ローラの抵
抗値に対する帯電電位の変化を示している。その帯電ロ
ーラの抵抗値は周囲の環境、特に温度、湿度の変化によ
って変化する。図２は湿度をパラメータとして、温度と
帯電ローラの抵抗値との関係を示している。その図２に
おいて、横軸は温度であり、縦軸は帯電ローラの抵抗値
であり、図２は一例として湿度が１５％、９０％のとき
の温度に対する帯電ローラの抵抗値の変化を示してい
る。
タとして、その帯電ローラの抵抗値と感光体の表面の帯
電電位との関係を示している。その図１において、横軸
は帯電ローラの抵抗値を示し、縦軸は感光体の表面の帯
電電位であり、この図１は、一例として、帯電ローラに
印加する基準電圧を−１６００ボルトとし、感光体の表
面の線速度を５０ｍｍ／ｓｅｃ、２００ｍｍ／ｓｅｃ、
４００ｍｍ／ｓｅｃに変化させたときの帯電ローラの抵
抗値に対する帯電電位の変化を示している。その帯電ロ
ーラの抵抗値は周囲の環境、特に温度、湿度の変化によ
って変化する。図２は湿度をパラメータとして、温度と
帯電ローラの抵抗値との関係を示している。その図２に
おいて、横軸は温度であり、縦軸は帯電ローラの抵抗値
であり、図２は一例として湿度が１５％、９０％のとき
の温度に対する帯電ローラの抵抗値の変化を示してい
る。
【０００６】このように、帯電ローラの抵抗値が周囲の
環境によって変化するため、感光体の表面の帯電電位を
一定に維持制御するのは難しい。
環境によって変化するため、感光体の表面の帯電電位を
一定に維持制御するのは難しい。
【０００７】そこで、環境の変化にかかわらず感光体の
帯電電位を目標電位（例えば、−９００ボルト）に維持
するために、周囲の環境条件を検出し、この検出結果に
基づいて帯電ローラの抵抗値を予測し、この帯電ローラ
に印加すべき基準電圧を補正している。ところが、帯電
ローラ毎の抵抗値のバラツキ、帯電ローラの経時変化の
影響を受けて、必ずしも感光体の帯電電位が目標電位に
設定されるとは限らない。
帯電電位を目標電位（例えば、−９００ボルト）に維持
するために、周囲の環境条件を検出し、この検出結果に
基づいて帯電ローラの抵抗値を予測し、この帯電ローラ
に印加すべき基準電圧を補正している。ところが、帯電
ローラ毎の抵抗値のバラツキ、帯電ローラの経時変化の
影響を受けて、必ずしも感光体の帯電電位が目標電位に
設定されるとは限らない。
【０００８】一方、コロナ放電形式の帯電装置において
も、周囲の環境条件の変化、帯電装置の経時劣化等の影
響を受けて、感光体の帯電電位が変動する。そこで、従
来、コロナ放電形式の帯電装置の場合、感光体の表面の
帯電電位を測定し、この感光体の表面の帯電電位が目標
電位に維持されるように帯電装置に印加すべき基準電圧
の補正を行っている。この種の補正を行う場合、画像形
成作業の中断が伴う。コロナ放電形式の帯電装置の場
合、感光体の帯電電位の変動の原因となる環境条件が緩
やかなレベルで推移するので、その補正の回数は割合い
少なくても良い。例えば、電源オン時に１回、あるい
は、所定時間経過後に補正を行えば、電源オフ時までそ
の補正された基準電圧を帯電装置に印加しても、感光体
の目標電位に対する帯電電位の差はほとんどない。従っ
て、コロナ放電形式の帯電装置の場合、帯電装置に印加
すべき基準電圧の補正を頻繁に行わなくとも、安定した
品質の画像を得ることができる。
も、周囲の環境条件の変化、帯電装置の経時劣化等の影
響を受けて、感光体の帯電電位が変動する。そこで、従
来、コロナ放電形式の帯電装置の場合、感光体の表面の
帯電電位を測定し、この感光体の表面の帯電電位が目標
電位に維持されるように帯電装置に印加すべき基準電圧
の補正を行っている。この種の補正を行う場合、画像形
成作業の中断が伴う。コロナ放電形式の帯電装置の場
合、感光体の帯電電位の変動の原因となる環境条件が緩
やかなレベルで推移するので、その補正の回数は割合い
少なくても良い。例えば、電源オン時に１回、あるい
は、所定時間経過後に補正を行えば、電源オフ時までそ
の補正された基準電圧を帯電装置に印加しても、感光体
の目標電位に対する帯電電位の差はほとんどない。従っ
て、コロナ放電形式の帯電装置の場合、帯電装置に印加
すべき基準電圧の補正を頻繁に行わなくとも、安定した
品質の画像を得ることができる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】そこで、接触帯電手段
を用いる画像形成装置に、感光体の表面の帯電電位を測
定し、この感光体の表面の帯電電位が目標電位に維持さ
れるように帯電ローラに印加すべき基準電圧を補正する
方式を適用することが考えられている。しかしながら、
この方式を適用することにすると、以下に説明する不具
合が生じる。
を用いる画像形成装置に、感光体の表面の帯電電位を測
定し、この感光体の表面の帯電電位が目標電位に維持さ
れるように帯電ローラに印加すべき基準電圧を補正する
方式を適用することが考えられている。しかしながら、
この方式を適用することにすると、以下に説明する不具
合が生じる。
【００１０】画像形成装置には、一度に多数枚、例え
ば、１分当り４０枚ないし６０枚未満、１分当り６０枚
以上の用紙に連続して画像形成を行うもの（感光体の表
面の線速度が大きいもの）があるが、この種の画像形成
装置では、帯電ローラの温度が感光体との接触摩擦熱や
画像形成装置内の温度上昇（主に定着の熱）によって急
激に昇温し、極めて短い時間でその帯電ローラの抵抗値
が変化するため、電源オン時に１回の補正、あるいは、
１日に１回等の長期的間隔を開けて補正を行うことにす
ると、感光体の帯電電位の変動が大きくなり、ひいては
画像濃度の変動が大きくなって、画像品質が劣化すると
いう問題がある。この画像濃度の変動を避けるために
は、極めて短い時間間隔で頻繁に帯電ローラに印加すべ
き基準電圧の補正を行わなければならず、画像形成作業
を頻繁に中断しなければならないという問題が発生す
る。
ば、１分当り４０枚ないし６０枚未満、１分当り６０枚
以上の用紙に連続して画像形成を行うもの（感光体の表
面の線速度が大きいもの）があるが、この種の画像形成
装置では、帯電ローラの温度が感光体との接触摩擦熱や
画像形成装置内の温度上昇（主に定着の熱）によって急
激に昇温し、極めて短い時間でその帯電ローラの抵抗値
が変化するため、電源オン時に１回の補正、あるいは、
１日に１回等の長期的間隔を開けて補正を行うことにす
ると、感光体の帯電電位の変動が大きくなり、ひいては
画像濃度の変動が大きくなって、画像品質が劣化すると
いう問題がある。この画像濃度の変動を避けるために
は、極めて短い時間間隔で頻繁に帯電ローラに印加すべ
き基準電圧の補正を行わなければならず、画像形成作業
を頻繁に中断しなければならないという問題が発生す
る。
【００１１】本発明は、上記の事情に鑑みて為されたも
ので、その目的とするところは、接触帯電手段を用いる
画像形成装置に、感光体の表面の帯電電位を測定してこ
の感光体の表面の帯電電位が目標電位に維持されるよう
に接触帯電手段に印加すべき基準電圧を補正する方式を
適用することにした場合でも、画像品質の劣化を避けつ
つ画像形成作業の中断回数を極力少なくすることのでき
る画像形成装置を提供することにある。
ので、その目的とするところは、接触帯電手段を用いる
画像形成装置に、感光体の表面の帯電電位を測定してこ
の感光体の表面の帯電電位が目標電位に維持されるよう
に接触帯電手段に印加すべき基準電圧を補正する方式を
適用することにした場合でも、画像品質の劣化を避けつ
つ画像形成作業の中断回数を極力少なくすることのでき
る画像形成装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項１に記載
の画像形成装置は、上記の課題を解決するため、像担持
体に接触して電荷を付与する接触帯電手段と、前記接触
帯電手段に基準電圧を印加する電圧印加手段と、前記像
担持体の帯電電位を検出する電位検出手段と、前記接触
帯電手段の帯電電位に影響を与える環境条件を検出する
環境条件検出手段と、前記電位検出手段の検出結果と前
記環境条件検出手段の検出結果とに基づいて前記電圧印
加手段を制御する制御手段とを有し、該制御手段は、前
記像担持体の帯電電位が目標電位となるように前記電圧
印加手段の基準電圧を補正する基準電圧補正手段と、該
基準電圧補正手段の実行タイミングを設定するタイミン
グ設定手段とからなり、前記環境条件検出手段が温度セ
ンサであり、前記タイミング設定手段は、前記温度セン
サの検出結果に基づいて前記基準電圧補正手段の実行タ
イミングを決定し、前記タイミング設定手段は、前記温
度センサにより検出された前記接触帯電手段の検出温度
が低いときには、前記基準電圧を補正する時間間隔を短
くし、前記温度センサにより検出された前記接触帯電手
段の検出温度が高いときには、前記基準電圧を補正する
時間間隔を長くすることを特徴とする。
の画像形成装置は、上記の課題を解決するため、像担持
体に接触して電荷を付与する接触帯電手段と、前記接触
帯電手段に基準電圧を印加する電圧印加手段と、前記像
担持体の帯電電位を検出する電位検出手段と、前記接触
帯電手段の帯電電位に影響を与える環境条件を検出する
環境条件検出手段と、前記電位検出手段の検出結果と前
記環境条件検出手段の検出結果とに基づいて前記電圧印
加手段を制御する制御手段とを有し、該制御手段は、前
記像担持体の帯電電位が目標電位となるように前記電圧
印加手段の基準電圧を補正する基準電圧補正手段と、該
基準電圧補正手段の実行タイミングを設定するタイミン
グ設定手段とからなり、前記環境条件検出手段が温度セ
ンサであり、前記タイミング設定手段は、前記温度セン
サの検出結果に基づいて前記基準電圧補正手段の実行タ
イミングを決定し、前記タイミング設定手段は、前記温
度センサにより検出された前記接触帯電手段の検出温度
が低いときには、前記基準電圧を補正する時間間隔を短
くし、前記温度センサにより検出された前記接触帯電手
段の検出温度が高いときには、前記基準電圧を補正する
時間間隔を長くすることを特徴とする。
【００１３】本発明の請求項２に記載の画像形成装置
は、像担持体に接触して電荷を付与する接触帯電手段
と、前記接触帯電手段に基準電圧を印加する電圧印加手
段と、前記像担持体の帯電電位を検出する電位検出手段
と、前記接触帯電手段の帯電電位に影響を与える環境条
件を検出する環境条件検出手段と、前記電位検出手段の
検出結果と前記環境条件検出手段の検出結果とに基づい
て前記電圧印加手段を制御する制御手段とを有し、該制
御手段は、前記像担持体の帯電電位が目標電位となるよ
うに前記電圧印加手段の基準電圧を補正する基準電圧補
正手段と、該基準電圧補正手段の実行タイミングを設定
するタイミング設定手段とからなり、前記環境条件検出
手段が温度センサであり、前記タイミング設定手段は、
前記温度センサの検出結果に基づいて前記基準電圧補正
手段の実行タイミングを決定し、前記タイミング設定手
段は、前記接触帯電手段の温度が上昇するに伴って前記
基準電圧補正手段の実行間隔が長くなるように、前記接
触帯電手段の温度とコピー枚数との間に対応関係が与え
られていることを特徴とする。
は、像担持体に接触して電荷を付与する接触帯電手段
と、前記接触帯電手段に基準電圧を印加する電圧印加手
段と、前記像担持体の帯電電位を検出する電位検出手段
と、前記接触帯電手段の帯電電位に影響を与える環境条
件を検出する環境条件検出手段と、前記電位検出手段の
検出結果と前記環境条件検出手段の検出結果とに基づい
て前記電圧印加手段を制御する制御手段とを有し、該制
御手段は、前記像担持体の帯電電位が目標電位となるよ
うに前記電圧印加手段の基準電圧を補正する基準電圧補
正手段と、該基準電圧補正手段の実行タイミングを設定
するタイミング設定手段とからなり、前記環境条件検出
手段が温度センサであり、前記タイミング設定手段は、
前記温度センサの検出結果に基づいて前記基準電圧補正
手段の実行タイミングを決定し、前記タイミング設定手
段は、前記接触帯電手段の温度が上昇するに伴って前記
基準電圧補正手段の実行間隔が長くなるように、前記接
触帯電手段の温度とコピー枚数との間に対応関係が与え
られていることを特徴とする。
【００１４】本発明の請求項３に記載の画像形成装置
は、像担持体に接触して電荷を付与する接触帯電手段
と、前記接触帯電手段に基準電圧を印加する電圧印加手
段と、前記像担持体の帯電電位を検出する電位検出手段
と、前記接触帯電手段の帯電電位に影響を与える環境条
件を検出する環境条件検出手段と、前記電位検出手段の
検出結果と前記環境条件検出手段の検出結果とに基づい
て前記電圧印加手段を制御する制御手段とを有し、該制
御手段は、前記像担持体の帯電電位が目標電位となるよ
うに前記電圧印加手段の基準電圧を補正する基準電圧補
正手段と、該基準電圧補正手段の実行タイミングを設定
するタイミング設定手段とからなり、前記環境条件検出
手段が温度センサであり、前記タイミング設定手段は、
前記温度センサの検出結果に基づいて前記基準電圧補正
手段の実行タイミングを決定し、前記タイミング設定手
段は、前記温度センサにより検出された前回の温度と前
記温度センサにより検出された今回の温度との温度差が
比較基準値以上であるとき、前記基準電圧の補正を実行
し、前記タイミング設定手段は、前記接触帯電手段の温
度が上昇するに伴って前記基準電圧補正手段の実行回数
が少なくなるように、前記比較基準値を前記温度センサ
により検出された温度に基づいて変更することを特徴と
する。
は、像担持体に接触して電荷を付与する接触帯電手段
と、前記接触帯電手段に基準電圧を印加する電圧印加手
段と、前記像担持体の帯電電位を検出する電位検出手段
と、前記接触帯電手段の帯電電位に影響を与える環境条
件を検出する環境条件検出手段と、前記電位検出手段の
検出結果と前記環境条件検出手段の検出結果とに基づい
て前記電圧印加手段を制御する制御手段とを有し、該制
御手段は、前記像担持体の帯電電位が目標電位となるよ
うに前記電圧印加手段の基準電圧を補正する基準電圧補
正手段と、該基準電圧補正手段の実行タイミングを設定
するタイミング設定手段とからなり、前記環境条件検出
手段が温度センサであり、前記タイミング設定手段は、
前記温度センサの検出結果に基づいて前記基準電圧補正
手段の実行タイミングを決定し、前記タイミング設定手
段は、前記温度センサにより検出された前回の温度と前
記温度センサにより検出された今回の温度との温度差が
比較基準値以上であるとき、前記基準電圧の補正を実行
し、前記タイミング設定手段は、前記接触帯電手段の温
度が上昇するに伴って前記基準電圧補正手段の実行回数
が少なくなるように、前記比較基準値を前記温度センサ
により検出された温度に基づいて変更することを特徴と
する。
【００１５】
【００１６】
【００１７】
【００１８】
【００１９】
【００２０】
【００２１】
【００２２】
【発明の実施の形態】図３は本発明に係わる画像形成装
置の一実施例を示す要部構成図であって、この図３にお
いて、１は像担持体としての光導電性の感光体ドラム、
２は接触帯電手段としての帯電ローラである。感光体１
は矢印方向に回転可能である。帯電ローラ２は感光体ド
ラム１に所定の接触圧で圧接されて、感光体ドラム１の
回転に伴って従動回転される。感光体ドラム１の周囲に
は、感光体ドラム１の回転方向の順に電位検出手段とし
ての電位センサ１０、イレーサ１２、現像装置５、転写
ローラ６、クリーニング装置７、除電露光装置８が配設
されている。帯電ローラ２には電圧印加手段としての電
源２１により基準電圧（例えば、−１６００ボルト）が
印加される。画像形成の際、感光体ドラム１は除電露光
装置８により除電され、その回転中に帯電ローラ２によ
りマイナス電位に帯電され、図示を略す露光装置により
露光されて、その感光体ドラム１の表面に静電潜像が形
成される。なお、その図３において、矢印３は露光用の
光を示している。静電潜像が形成された感光体ドラム１
は、次に、イレーサー１２により非画像部の電荷が除去
される。現像装置５にはプラスのバイアス電圧が印加さ
れ、感光体ドラム１にはその回転中に現像装置５から供
給されたトナーが付着される。これにより、静電潜像が
顕像化され、トナー像が感光体ドラム１の表面に形成さ
れる。
置の一実施例を示す要部構成図であって、この図３にお
いて、１は像担持体としての光導電性の感光体ドラム、
２は接触帯電手段としての帯電ローラである。感光体１
は矢印方向に回転可能である。帯電ローラ２は感光体ド
ラム１に所定の接触圧で圧接されて、感光体ドラム１の
回転に伴って従動回転される。感光体ドラム１の周囲に
は、感光体ドラム１の回転方向の順に電位検出手段とし
ての電位センサ１０、イレーサ１２、現像装置５、転写
ローラ６、クリーニング装置７、除電露光装置８が配設
されている。帯電ローラ２には電圧印加手段としての電
源２１により基準電圧（例えば、−１６００ボルト）が
印加される。画像形成の際、感光体ドラム１は除電露光
装置８により除電され、その回転中に帯電ローラ２によ
りマイナス電位に帯電され、図示を略す露光装置により
露光されて、その感光体ドラム１の表面に静電潜像が形
成される。なお、その図３において、矢印３は露光用の
光を示している。静電潜像が形成された感光体ドラム１
は、次に、イレーサー１２により非画像部の電荷が除去
される。現像装置５にはプラスのバイアス電圧が印加さ
れ、感光体ドラム１にはその回転中に現像装置５から供
給されたトナーが付着される。これにより、静電潜像が
顕像化され、トナー像が感光体ドラム１の表面に形成さ
れる。
【００２３】感光体ドラム１と転写ローラ６との間には
所定のタイミングで転写紙９が給送され、感光体ドラム
１に形成されたトナー像はマイナス電圧が印加された転
写ローラ６により転写紙９に転写される。その後、転写
紙９は図示を略す定着装置に給送され、この定着装置に
よりトナー像が転写紙９に定着される。一方、感光体ド
ラム１は転写終了後、クリーニング装置７によって残存
トナーが除去され、除電露光装置８によって均一に除電
され、これにより１回の画像形成作業（１枚のコピー）
が完了する。連続して画像形成を行う場合には、感光体
ドラム１が引続き回転され、帯電ローラ２による帯電以
降の動作が引続き実行される。電位センサ１０は感光体
ドラム１の表面から２ないし３ミリメートルの間隙を有
して配設されている。電位センサ１０は感光体ドラム１
の表面の帯電電位を検出する。
所定のタイミングで転写紙９が給送され、感光体ドラム
１に形成されたトナー像はマイナス電圧が印加された転
写ローラ６により転写紙９に転写される。その後、転写
紙９は図示を略す定着装置に給送され、この定着装置に
よりトナー像が転写紙９に定着される。一方、感光体ド
ラム１は転写終了後、クリーニング装置７によって残存
トナーが除去され、除電露光装置８によって均一に除電
され、これにより１回の画像形成作業（１枚のコピー）
が完了する。連続して画像形成を行う場合には、感光体
ドラム１が引続き回転され、帯電ローラ２による帯電以
降の動作が引続き実行される。電位センサ１０は感光体
ドラム１の表面から２ないし３ミリメートルの間隙を有
して配設されている。電位センサ１０は感光体ドラム１
の表面の帯電電位を検出する。
【００２４】帯電ローラ２は導電性芯金にエピクロルヒ
ドリンゴムからなる弾性層を被覆することにより形成さ
れる。この弾性層の表面には現像剤に対して離型性の良
好な表面層が必要に応じて形成される。帯電ローラ２に
はその近傍に環境条件検出手段としての温度センサ１１
が設けられている。温度センサ１１は帯電ローラ２の周
囲の温度を検出することにより間接的に帯電ローラ２の
温度を検出する。この発明の実施の形態の場合、帯電ロ
ーラ２から離間させて温度センサ１１を設けているが、
温度センサ１１を帯電ローラ２に接触させて帯電ローラ
２の温度を直接検出しても良い。
ドリンゴムからなる弾性層を被覆することにより形成さ
れる。この弾性層の表面には現像剤に対して離型性の良
好な表面層が必要に応じて形成される。帯電ローラ２に
はその近傍に環境条件検出手段としての温度センサ１１
が設けられている。温度センサ１１は帯電ローラ２の周
囲の温度を検出することにより間接的に帯電ローラ２の
温度を検出する。この発明の実施の形態の場合、帯電ロ
ーラ２から離間させて温度センサ１１を設けているが、
温度センサ１１を帯電ローラ２に接触させて帯電ローラ
２の温度を直接検出しても良い。
【００２５】帯電ローラ２の帯電特性は既述したように
導電性芯金の周囲を被覆する弾性層の電気的特性に支配
される。その理由はこの弾性層を構成するエピクロルヒ
ドリンゴムの電気的抵抗値が温度、湿度等の環境条件の
変化によって変化するからである。そのエピクロルヒド
リンゴムの抵抗値の変化量は温度が高くなるに伴って小
さくなり、言い替えると温度が低くなるに伴って大きく
なる。また、帯電ローラ２の抵抗値と感光体ドラム１の
帯電電位との間には、図４に示すように、ほぼ直線的な
比例関係があり、例えば、電源２１により基準電圧とし
て帯電ローラ２にＤＣ１６００ボルトを印加する場合、
帯電ローラ２の抵抗値が１０6オーム・ｃｍから１０8オ
ーム・ｃｍに渡って変化すると、感光体ドラム１の帯電
電位は−９００ボルトから−７００ボルトに渡って変動
する。その電源２１は制御手段としてのＣＰＵ２０によ
って制御され、そのＣＰＵ２０には電位センサ１０から
の出力情報と温度センサ１１からの出力情報とが入力さ
れる。
導電性芯金の周囲を被覆する弾性層の電気的特性に支配
される。その理由はこの弾性層を構成するエピクロルヒ
ドリンゴムの電気的抵抗値が温度、湿度等の環境条件の
変化によって変化するからである。そのエピクロルヒド
リンゴムの抵抗値の変化量は温度が高くなるに伴って小
さくなり、言い替えると温度が低くなるに伴って大きく
なる。また、帯電ローラ２の抵抗値と感光体ドラム１の
帯電電位との間には、図４に示すように、ほぼ直線的な
比例関係があり、例えば、電源２１により基準電圧とし
て帯電ローラ２にＤＣ１６００ボルトを印加する場合、
帯電ローラ２の抵抗値が１０6オーム・ｃｍから１０8オ
ーム・ｃｍに渡って変化すると、感光体ドラム１の帯電
電位は−９００ボルトから−７００ボルトに渡って変動
する。その電源２１は制御手段としてのＣＰＵ２０によ
って制御され、そのＣＰＵ２０には電位センサ１０から
の出力情報と温度センサ１１からの出力情報とが入力さ
れる。
【００２６】以下に、本発明に係わる画像形成装置の基
準電圧補正の実行タイミング（帯電ローラ２に印加すべ
き基準電圧を補正する手段を実行するタイミング）につ
いて説明する。
準電圧補正の実行タイミング（帯電ローラ２に印加すべ
き基準電圧を補正する手段を実行するタイミング）につ
いて説明する。
【００２７】
【発明の実施形態１】図５は本発明に係わる画像形成装
置の実施形態１を説明するためのフロー図であって、基
準電圧補正手段の実行タイミングを示すフローである。
置の実施形態１を説明するためのフロー図であって、基
準電圧補正手段の実行タイミングを示すフローである。
【００２８】ＣＰＵ２０は、メイン電源をオンすると、
図５に示すように、まず、基準電圧補正手段を実行する
（Ｓ１）。この基準電圧補正手段は図６に示すステップ
Ｓ１０〜Ｓ１６からなっている。
図５に示すように、まず、基準電圧補正手段を実行する
（Ｓ１）。この基準電圧補正手段は図６に示すステップ
Ｓ１０〜Ｓ１６からなっている。
【００２９】まず、ＣＰＵ２０は、帯電ローラ２の温度
に拘らず、基準電圧−１６００ボルトをメモリＶ１にセ
ットし、これにより電源２１の電圧が−１６００ボルト
に設定される（Ｓ１０）。感光体ドラム１は帯電ローラ
２に印加された−１６００ボルトの基準電圧により所定
の電位に帯電される（Ｓ１１）。次に、電位センサ１０
が感光体ドラム１の帯電電位を検出し、これをメモリＳ
Ｖに保存する（Ｓ１２）。ＣＰＵ２０は、感光体ドラム
１に与えるべき目標電位Ｖ０（ここでは、Ｖ０＝−９０
０ボルト）とメモリＳＶに保存された帯電電位との差
（Ｖ０−ＳＶ）を演算し、その差（Ｖ０−ＳＶ）をメモ
リＡに記憶する（Ｓ．１３）。次に、ＣＰＵ２０は、そ
の差（Ｖ０−ＳＶ）が許容誤差としての２０ボルト以内
であるか否かを判断する（Ｓ．１４）。その差（Ｖ０−
ＳＶ）が２０ボルト以内でないときには、ＣＰＵ２０
は、適当な補正係数ｋを用いて、メモリＡに記憶された
差（Ｖ０−ＳＶ）をｋ倍し、メモリＶ１に記憶された基
準電圧とｋ（Ｖ０−ＳＶ）との差電圧（Ｖ１−ｋＡ）を
メモリＶ２に保存し（Ｓ１５）、そのメモリＶ２に保存
された差電圧（Ｖ１−ｋＡ）を基準電圧としてメモリＶ
１にセットする（Ｓ１６）。これにより、電源２１の電
圧が新たに設定された基準電圧に変更され、感光体ドラ
ム１は変更された基準電圧により所定の電位に帯電され
る。このステップＳ１１〜Ｓ１６を繰り返すことによ
り、感光体ドラム１の帯電電位が目標電位Ｖ０に収束さ
れる。ここで、感光体ドラム１の帯電電位が許容誤差の
範囲内で目標電位Ｖ０に達すると、ＣＰＵ２０は基準電
圧補正制御を終了し、次のステップＳ２に移行する。
に拘らず、基準電圧−１６００ボルトをメモリＶ１にセ
ットし、これにより電源２１の電圧が−１６００ボルト
に設定される（Ｓ１０）。感光体ドラム１は帯電ローラ
２に印加された−１６００ボルトの基準電圧により所定
の電位に帯電される（Ｓ１１）。次に、電位センサ１０
が感光体ドラム１の帯電電位を検出し、これをメモリＳ
Ｖに保存する（Ｓ１２）。ＣＰＵ２０は、感光体ドラム
１に与えるべき目標電位Ｖ０（ここでは、Ｖ０＝−９０
０ボルト）とメモリＳＶに保存された帯電電位との差
（Ｖ０−ＳＶ）を演算し、その差（Ｖ０−ＳＶ）をメモ
リＡに記憶する（Ｓ．１３）。次に、ＣＰＵ２０は、そ
の差（Ｖ０−ＳＶ）が許容誤差としての２０ボルト以内
であるか否かを判断する（Ｓ．１４）。その差（Ｖ０−
ＳＶ）が２０ボルト以内でないときには、ＣＰＵ２０
は、適当な補正係数ｋを用いて、メモリＡに記憶された
差（Ｖ０−ＳＶ）をｋ倍し、メモリＶ１に記憶された基
準電圧とｋ（Ｖ０−ＳＶ）との差電圧（Ｖ１−ｋＡ）を
メモリＶ２に保存し（Ｓ１５）、そのメモリＶ２に保存
された差電圧（Ｖ１−ｋＡ）を基準電圧としてメモリＶ
１にセットする（Ｓ１６）。これにより、電源２１の電
圧が新たに設定された基準電圧に変更され、感光体ドラ
ム１は変更された基準電圧により所定の電位に帯電され
る。このステップＳ１１〜Ｓ１６を繰り返すことによ
り、感光体ドラム１の帯電電位が目標電位Ｖ０に収束さ
れる。ここで、感光体ドラム１の帯電電位が許容誤差の
範囲内で目標電位Ｖ０に達すると、ＣＰＵ２０は基準電
圧補正制御を終了し、次のステップＳ２に移行する。
【００３０】ＣＰＵ２０はステップＳ２以降において、
基準電圧補正の実行タイミングの設定を行う。その理由
を以下に説明する。
基準電圧補正の実行タイミングの設定を行う。その理由
を以下に説明する。
【００３１】画像形成動作を数十回以上行うと、感光体
１と帯電ローラ２との間に発生する接触摩擦熱等によ
り、帯電ローラ２の温度が上昇する。この帯電ローラ２
の温度が上昇すると、帯電ローラ２の抵抗値が図２に示
すように低くなり、上昇前の温度条件のもとで設定され
た基準電圧を帯電ローラ２に印加すると、感光体ドラム
１の帯電電位が目標電位Ｖ０よりも大きくなる。逆に、
帯電ローラ２の温度が下降すると、帯電ローラ２の抵抗
値が高くなり、下降前の温度条件のもとで設定された基
準電圧を帯電ローラ２に印加すると、感光体ドラム１の
帯電電位が目標電位Ｖ０よりも小さくなる。すなわち、
帯電ローラ２の温度の変化によって、その帯電ローラ２
に印加すべき基準電圧を補正しなければならないが、こ
の基準電圧の補正実行時には、画像形成作業が中断され
る。この画像形成作業の中断回数を少なくする観点か
ら、この補正の頻度は極力少ないことが望ましい。ま
た、感光体ドラム１の寿命の観点からも補正の回数が極
力少ないことが望ましい。
１と帯電ローラ２との間に発生する接触摩擦熱等によ
り、帯電ローラ２の温度が上昇する。この帯電ローラ２
の温度が上昇すると、帯電ローラ２の抵抗値が図２に示
すように低くなり、上昇前の温度条件のもとで設定され
た基準電圧を帯電ローラ２に印加すると、感光体ドラム
１の帯電電位が目標電位Ｖ０よりも大きくなる。逆に、
帯電ローラ２の温度が下降すると、帯電ローラ２の抵抗
値が高くなり、下降前の温度条件のもとで設定された基
準電圧を帯電ローラ２に印加すると、感光体ドラム１の
帯電電位が目標電位Ｖ０よりも小さくなる。すなわち、
帯電ローラ２の温度の変化によって、その帯電ローラ２
に印加すべき基準電圧を補正しなければならないが、こ
の基準電圧の補正実行時には、画像形成作業が中断され
る。この画像形成作業の中断回数を少なくする観点か
ら、この補正の頻度は極力少ないことが望ましい。ま
た、感光体ドラム１の寿命の観点からも補正の回数が極
力少ないことが望ましい。
【００３２】帯電ローラ２の温度が高い場合には帯電ロ
ーラ２の抵抗値の変化量は図２から明らかなように小さ
い。従って、帯電ローラ２に印加すべき基準電圧の補正
量は小さくても良い。言い替えると、基準電圧をほとん
ど補正しなくても、目標電位Ｖ０を得ることができるの
で、補正実行の時間間隔を帯電ローラ２の温度が高くな
ればなるほど長くすることにすれば、画像形成作業の中
断回数を少なくできることになる。
ーラ２の抵抗値の変化量は図２から明らかなように小さ
い。従って、帯電ローラ２に印加すべき基準電圧の補正
量は小さくても良い。言い替えると、基準電圧をほとん
ど補正しなくても、目標電位Ｖ０を得ることができるの
で、補正実行の時間間隔を帯電ローラ２の温度が高くな
ればなるほど長くすることにすれば、画像形成作業の中
断回数を少なくできることになる。
【００３３】具体的には、例えば、帯電ローラ２の温度
が１５度Ｃ以下の場合には、１０枚複写毎に補正を実行
し、帯電ローラ２の温度が１５度Ｃを越えて２５度Ｃ以
下の場合には５０枚複写毎に補正を実行し、帯電ローラ
２の温度が２５度Ｃを越えた場合には１００枚複写毎に
補正を実行することにすれば、実質的に感光体ドラム１
の帯電電位を目標電位Ｖ０に維持しつつ、補正の実行頻
度を少なくすることができ、ひいては、画像形成作業の
中断回数の減少、感光体ドラム１の劣化を防止できる。
が１５度Ｃ以下の場合には、１０枚複写毎に補正を実行
し、帯電ローラ２の温度が１５度Ｃを越えて２５度Ｃ以
下の場合には５０枚複写毎に補正を実行し、帯電ローラ
２の温度が２５度Ｃを越えた場合には１００枚複写毎に
補正を実行することにすれば、実質的に感光体ドラム１
の帯電電位を目標電位Ｖ０に維持しつつ、補正の実行頻
度を少なくすることができ、ひいては、画像形成作業の
中断回数の減少、感光体ドラム１の劣化を防止できる。
【００３４】図５はその基準電圧の補正の実行タイミン
グをコピー枚数に基づいて設定する手段としてのフロー
を示している。ＣＰＵ２０は、ステップＳ２において、
画像形成作業を一回実行するたびに、カウントメモリＸ
の内容を「＋１」する。そして、ＣＰＵ２０は温度セン
サ１１により検出された温度をメモリＳＴに読み込む
（Ｓ３）。次に、ＣＰＵ２０は、温度センサ１１により
検出された温度が１５度Ｃ以下の時には、メモリａに比
較基準値としてコピー枚数１０をセットし、検出された
温度が１５度Ｃを越えて２５度Ｃ以下の温度範囲の時に
は、メモリａに比較基準値としてコピー枚数５０をセッ
トし、検出された温度が２５度Ｃを越えた時には、メモ
リａに比較基準値としてコピー枚数１００をセットする
（Ｓ４）。次に、ＣＰＵ２０はカウントメモリＸに記録
されたコピー枚数がメモリａに記憶された比較基準値を
越えたか否かを判断し（Ｓ５）、カウントメモリＸに記
録されたコピー枚数がメモリａに記憶された比較基準値
未満のときには画像形成動作を実行し、カウントメモリ
Ｘに記録されたコピー枚数がメモリａに記憶された比較
基準値以上のときには、画像形成動作を停止して基準電
圧補正手段を実行する（Ｓ６）。そして、ＣＰＵ２０は
カウントメモリＸの内容を「０」に設定し、ステップＳ
２に戻る。
グをコピー枚数に基づいて設定する手段としてのフロー
を示している。ＣＰＵ２０は、ステップＳ２において、
画像形成作業を一回実行するたびに、カウントメモリＸ
の内容を「＋１」する。そして、ＣＰＵ２０は温度セン
サ１１により検出された温度をメモリＳＴに読み込む
（Ｓ３）。次に、ＣＰＵ２０は、温度センサ１１により
検出された温度が１５度Ｃ以下の時には、メモリａに比
較基準値としてコピー枚数１０をセットし、検出された
温度が１５度Ｃを越えて２５度Ｃ以下の温度範囲の時に
は、メモリａに比較基準値としてコピー枚数５０をセッ
トし、検出された温度が２５度Ｃを越えた時には、メモ
リａに比較基準値としてコピー枚数１００をセットする
（Ｓ４）。次に、ＣＰＵ２０はカウントメモリＸに記録
されたコピー枚数がメモリａに記憶された比較基準値を
越えたか否かを判断し（Ｓ５）、カウントメモリＸに記
録されたコピー枚数がメモリａに記憶された比較基準値
未満のときには画像形成動作を実行し、カウントメモリ
Ｘに記録されたコピー枚数がメモリａに記憶された比較
基準値以上のときには、画像形成動作を停止して基準電
圧補正手段を実行する（Ｓ６）。そして、ＣＰＵ２０は
カウントメモリＸの内容を「０」に設定し、ステップＳ
２に戻る。
【００３５】この発明の実施形態１によれば、温度とコ
ピー枚数との間に関係を持たせて基準電圧の補正を行う
ようにしているので、画像品質の劣化を極力伴うことな
く、基準電圧補正手段の実行回数を少なくできる。
ピー枚数との間に関係を持たせて基準電圧の補正を行う
ようにしているので、画像品質の劣化を極力伴うことな
く、基準電圧補正手段の実行回数を少なくできる。
【００３６】
【発明の実施形態２】図７は本発明に係わる画像形成装
置の実施の形態２を説明するためのフロー図であって、
基準電圧補正手段の実行タイミングを示すフローであ
る。
置の実施の形態２を説明するためのフロー図であって、
基準電圧補正手段の実行タイミングを示すフローであ
る。
【００３７】ＣＰＵ２０はメイン電源ＳＷをオンする
と、まず、図６に示す基準電圧補正手段を実行する（Ｓ
１）。これにより、感光体ドラム１は目標電位Ｖ０に設
定される。次に、ＣＰＵ２０は温度センサ１１により検
出された帯電ローラ２の温度を読み込み、メモリＳＴ１
に保存する（Ｓ２）。このメモリＳＴ１に保存された温
度をメモリＳＴＲに転送する（Ｓ３）。メモリＳＴ１は
今回読み取られた温度のデータを一時的に保存する役割
を有し、メモリＳＴＲは前回読み取られた温度のデータ
を一時的に保存する役割を有する。そして、ＣＰＵ２０
は画像形成作業を１回実行し（Ｓ４）、温度センサ１１
により検出された帯電ローラ２の温度を読み込み、メモ
リＳＴ１に保存する（Ｓ５）。メモリａには比較基準値
としての温度差Δｔが保存され、ＣＰＵ２０は前回読み
取られてメモリＳＴＲに保存された温度と今回読み取ら
れてメモリＳＴ１に保存された温度との差が温度差Δｔ
よりも大きいか否かを判断し（Ｓ６）、その差が温度差
Δｔよりも小さいときには、ステップＳ４に移行して画
像形成作業を引続き実行し、その差が温度差Δｔ以上の
ときには、Ｓ７に移行して図６に示す基準電圧補正手段
を実行した後、ステップＳ２に移行する。
と、まず、図６に示す基準電圧補正手段を実行する（Ｓ
１）。これにより、感光体ドラム１は目標電位Ｖ０に設
定される。次に、ＣＰＵ２０は温度センサ１１により検
出された帯電ローラ２の温度を読み込み、メモリＳＴ１
に保存する（Ｓ２）。このメモリＳＴ１に保存された温
度をメモリＳＴＲに転送する（Ｓ３）。メモリＳＴ１は
今回読み取られた温度のデータを一時的に保存する役割
を有し、メモリＳＴＲは前回読み取られた温度のデータ
を一時的に保存する役割を有する。そして、ＣＰＵ２０
は画像形成作業を１回実行し（Ｓ４）、温度センサ１１
により検出された帯電ローラ２の温度を読み込み、メモ
リＳＴ１に保存する（Ｓ５）。メモリａには比較基準値
としての温度差Δｔが保存され、ＣＰＵ２０は前回読み
取られてメモリＳＴＲに保存された温度と今回読み取ら
れてメモリＳＴ１に保存された温度との差が温度差Δｔ
よりも大きいか否かを判断し（Ｓ６）、その差が温度差
Δｔよりも小さいときには、ステップＳ４に移行して画
像形成作業を引続き実行し、その差が温度差Δｔ以上の
ときには、Ｓ７に移行して図６に示す基準電圧補正手段
を実行した後、ステップＳ２に移行する。
【００３８】
【発明の実施の形態３】図８は本発明に係わる画像形成
装置の実施の形態３を説明するためのフロー図であっ
て、基準電圧補正手段の実行タイミングを示すフロー図
である。
装置の実施の形態３を説明するためのフロー図であっ
て、基準電圧補正手段の実行タイミングを示すフロー図
である。
【００３９】帯電ローラ２の抵抗値の変化は、既述した
ようにその温度が高けくなればなるほど小さくなるの
で、この比較基準値Δtを帯電ローラ２の温度が高くな
るに従って大きく設定しても良い。
ようにその温度が高けくなればなるほど小さくなるの
で、この比較基準値Δtを帯電ローラ２の温度が高くな
るに従って大きく設定しても良い。
【００４０】この発明の実施の形態３による場合、今回
読み取られてメモリＳＴ１に保存された帯電ローラ２の
温度が１５度Ｃ以下の時にはメモリａに温度差Δｔとし
て「１」を保存し、今回読み取られてメモリＳＴ１に保
存された帯電ローラ２の温度が１５度Ｃを越えて２５度
Ｃ以下の時にはメモリａに温度差Δｔとして「２」を保
存し、今回読み取られてメモリＳＴ１に保存された帯電
ローラ２の温度が２５度Ｃを越えたときにはメモリａに
温度差Δｔとして「３」を保存し、帯電ローラ２の温度
が高くなるに伴って温度差を大きく設定することとした
ものである。
読み取られてメモリＳＴ１に保存された帯電ローラ２の
温度が１５度Ｃ以下の時にはメモリａに温度差Δｔとし
て「１」を保存し、今回読み取られてメモリＳＴ１に保
存された帯電ローラ２の温度が１５度Ｃを越えて２５度
Ｃ以下の時にはメモリａに温度差Δｔとして「２」を保
存し、今回読み取られてメモリＳＴ１に保存された帯電
ローラ２の温度が２５度Ｃを越えたときにはメモリａに
温度差Δｔとして「３」を保存し、帯電ローラ２の温度
が高くなるに伴って温度差を大きく設定することとした
ものである。
【００４１】この発明の実施の形態３によれば、帯電ロ
ーラ２の温度が上昇するに伴って、基準電圧補正手段の
実行回数を、発明の実施の形態２で説明した場合と較べ
て少なくすることができる。
ーラ２の温度が上昇するに伴って、基準電圧補正手段の
実行回数を、発明の実施の形態２で説明した場合と較べ
て少なくすることができる。
【００４２】
【発明の実施の形態４】図９〜図１１は本発明に係わる
画像形成装置の基準電圧補正手段の他の例を説明するた
めの図であって、図９は基準電圧補正手段を説明するた
めのフロー図である。
画像形成装置の基準電圧補正手段の他の例を説明するた
めの図であって、図９は基準電圧補正手段を説明するた
めのフロー図である。
【００４３】温度センサ１１により検出された帯電ロー
ラ２の温度から予測される帯電ローラ２の抵抗値に基づ
き求められる基準電圧を帯電ローラ２に印加することに
すれば、目標電位Ｖ０に近い帯電電位を初めから感光体
ドラム１に与えることができるので、基準電圧補正手段
の実行時間の短縮化を図ることができる。
ラ２の温度から予測される帯電ローラ２の抵抗値に基づ
き求められる基準電圧を帯電ローラ２に印加することに
すれば、目標電位Ｖ０に近い帯電電位を初めから感光体
ドラム１に与えることができるので、基準電圧補正手段
の実行時間の短縮化を図ることができる。
【００４４】図１０はその帯電ローラ２に印加すべき基
準電圧と帯電ローラ２の検出温度との関係を示すグラフ
であり、ＣＰＵ２０のテーブルメモリにはこのグラフに
基づいて図１１に示すように帯電ローラ２の検出温度と
基準温度との関係が記憶されている。ＣＰＵ２０は、メ
イン電源ＳＷをオンすると、まず、温度センサ１１によ
り検出された帯電ローラ２の温度をメモリＳＴに読み込
む（Ｓ１０）。次に、ＣＰＵ２０は検出温度に基づいて
これに対応する基準電圧をメモリＶ１に読み込み（Ｓ１
１）、帯電ローラ２にメモリＶ１に読み込まれた基準電
圧を印加する（Ｓ１２）。次に、ＣＰＵ２０は電位セン
サ１０により検出された感光体ドラム１の帯電電位をメ
モリＳＶに読み込み（Ｓ１３）、目標電位Ｖ０とメモリ
ＳＶに保存された帯電電位との差（Ｖ０−ＳＶ）を演算
し、この差（Ｖ０−ＳＶ）をメモリＡに保存する（Ｓ１
４）。そして、ＣＰＵ２０はそのメモリＡに保存された
差（Ｖ０−ＳＶ）が許容範囲２０ボルト以下であるか否
かを判断し（Ｓ１５）、その差（Ｖ０−ＳＶ）が許容範
囲２０ボルトを越えているときには、その差（Ｖ０−Ｓ
Ｖ）を補正係数ｋによりｋ倍して、メモリＶ１に記憶さ
れた基準電圧からｋ（Ｖ０−ＳＶ）を引算して、この引
算により得られた値をメモリＶ２に保存する（Ｓ１
６）。そして、ＣＰＵ２０はこのメモリＶ２に保存され
た値をメモリＶ１にセットし（Ｓ１７）、このメモリＶ
１に保存された変更後の基準電圧を帯電ローラ２に印加
して（Ｓ１２）、検出された帯電電位を再度読み込む
（Ｓ１３）。この一連のステップを繰り返すことによ
り、感光体ドラム１の帯電電位を目標電位Ｖ０に迅速に
設定できる。また、温度センサ１１の代わりに湿度セン
サを設けても良く、あるいは、温度センサ１１と湿度セ
ンサとの両方を設けても良い。
準電圧と帯電ローラ２の検出温度との関係を示すグラフ
であり、ＣＰＵ２０のテーブルメモリにはこのグラフに
基づいて図１１に示すように帯電ローラ２の検出温度と
基準温度との関係が記憶されている。ＣＰＵ２０は、メ
イン電源ＳＷをオンすると、まず、温度センサ１１によ
り検出された帯電ローラ２の温度をメモリＳＴに読み込
む（Ｓ１０）。次に、ＣＰＵ２０は検出温度に基づいて
これに対応する基準電圧をメモリＶ１に読み込み（Ｓ１
１）、帯電ローラ２にメモリＶ１に読み込まれた基準電
圧を印加する（Ｓ１２）。次に、ＣＰＵ２０は電位セン
サ１０により検出された感光体ドラム１の帯電電位をメ
モリＳＶに読み込み（Ｓ１３）、目標電位Ｖ０とメモリ
ＳＶに保存された帯電電位との差（Ｖ０−ＳＶ）を演算
し、この差（Ｖ０−ＳＶ）をメモリＡに保存する（Ｓ１
４）。そして、ＣＰＵ２０はそのメモリＡに保存された
差（Ｖ０−ＳＶ）が許容範囲２０ボルト以下であるか否
かを判断し（Ｓ１５）、その差（Ｖ０−ＳＶ）が許容範
囲２０ボルトを越えているときには、その差（Ｖ０−Ｓ
Ｖ）を補正係数ｋによりｋ倍して、メモリＶ１に記憶さ
れた基準電圧からｋ（Ｖ０−ＳＶ）を引算して、この引
算により得られた値をメモリＶ２に保存する（Ｓ１
６）。そして、ＣＰＵ２０はこのメモリＶ２に保存され
た値をメモリＶ１にセットし（Ｓ１７）、このメモリＶ
１に保存された変更後の基準電圧を帯電ローラ２に印加
して（Ｓ１２）、検出された帯電電位を再度読み込む
（Ｓ１３）。この一連のステップを繰り返すことによ
り、感光体ドラム１の帯電電位を目標電位Ｖ０に迅速に
設定できる。また、温度センサ１１の代わりに湿度セン
サを設けても良く、あるいは、温度センサ１１と湿度セ
ンサとの両方を設けても良い。
【００４５】
【発明の効果】本発明に係わる画像形成装置は、以上説
明したように構成したので、接触帯電手段を用いる画像
形成装置に、感光体の表面の帯電電位を測定してこの感
光体の表面の帯電電位が目標電位に維持されるように接
触帯電手段に印加すべき基準電圧を補正する方式を適用
することにした場合でも、画像品質の劣化を避けつつ画
像形成作業の中断回数を極力少なくすることができる。
明したように構成したので、接触帯電手段を用いる画像
形成装置に、感光体の表面の帯電電位を測定してこの感
光体の表面の帯電電位が目標電位に維持されるように接
触帯電手段に印加すべき基準電圧を補正する方式を適用
することにした場合でも、画像品質の劣化を避けつつ画
像形成作業の中断回数を極力少なくすることができる。
【図１】 感光体の表面の線速度をパラメータとして、
その帯電ローラの抵抗値と感光体の表面の帯電電位との
関係を示すグラフである。
その帯電ローラの抵抗値と感光体の表面の帯電電位との
関係を示すグラフである。
【図２】 湿度をパラメータとして、温度と帯電ローラ
の抵抗値との関係を示すグラフである。
の抵抗値との関係を示すグラフである。
【図３】 本発明に係わる画像形成装置の要部構成図で
ある。
ある。
【図４】 帯電ローラの抵抗値と感光体ドラムの帯電電
位との関係を示すグラフである。
位との関係を示すグラフである。
【図５】 本発明に係わる画像形成装置の実施形態１を
説明するためのフロー図であって、基準電圧補正タイミ
ングを示すフローである。
説明するためのフロー図であって、基準電圧補正タイミ
ングを示すフローである。
【図６】 本発明に係わる画像形成装置の基準電圧補正
手段の一例を示すフロー図である。
手段の一例を示すフロー図である。
【図７】 本発明に係わる画像形成装置の実施の形態２
を説明するためのフロー図であって、基準電圧補正タイ
ミングを示すフローである。
を説明するためのフロー図であって、基準電圧補正タイ
ミングを示すフローである。
【図８】 本発明に係わる画像形成装置の実施の形態３
を説明するためのフロー図であって、基準電圧補正タイ
ミングを示すフロー図である。
を説明するためのフロー図であって、基準電圧補正タイ
ミングを示すフロー図である。
【図９】 本発明に係わる画像形成装置の基準電圧補正
制御の他の例を説明するための図であって、基準電圧補
正手段を説明するためのフロー図である。
制御の他の例を説明するための図であって、基準電圧補
正手段を説明するためのフロー図である。
【図１０】 本発明に係わる温度センサの検出温度と基
準電圧との関係を示すグラフである。
準電圧との関係を示すグラフである。
【図１１】 本発明に係わる温度センサの検出温度と基
準電圧との関係を示す図表である。
準電圧との関係を示す図表である。
１…感光体ドラム（像担持体）
２…帯電ローラ（接触帯電手段）
１０…電位センサ（電位検出手段）
１１…温度センサ（環境条件検出手段）
２０…ＣＰＵ（制御手段）
２１…電源（電圧印加手段）
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G03G 15/02 102
G03G 15/00 303
G03G 21/00 370
Claims (3)
- 【請求項１】 像担持体に接触して電荷を付与する接触
帯電手段と、 前記接触帯電手段に基準電圧を印加する電圧印加手段
と、 前記像担持体の帯電電位を検出する電位検出手段と、 前記接触帯電手段の帯電電位に影響を与える環境条件を
検出する環境条件検出手段と、 前記電位検出手段の検出結果と前記環境条件検出手段の
検出結果とに基づいて前記電圧印加手段を制御する制御
手段とを有し、 該制御手段は、前記像担持体の帯電電位が目標電位とな
るように前記電圧印加手段の基準電圧を補正する基準電
圧補正手段と、該基準電圧補正手段の実行タイミングを
設定するタイミング設定手段とからなり、 前記環境条件検出手段が温度センサであり、 前記タイミング設定手段は、前記温度センサの検出結果
に基づいて前記基準電圧補正手段の実行タイミングを決
定し、 前記タイミング設定手段は、前記温度センサにより検出
された前記接触帯電手段の検出温度が低いときには、前
記基準電圧を補正する時間間隔を短くし、前記温度セン
サにより検出された前記接触帯電手段の検出温度が高い
ときには、前記基準電圧を補正する時間間隔を長くする
ことを 特徴とする画像形成装置。 - 【請求項２】 像担持体に接触して電荷を付与する接触
帯電手段と、 前記接触帯電手段に基準電圧を印加する電圧印加手段
と、 前記像担持体の帯電電位を検出する電位検出手段と、 前記接触帯電手段の帯電電位に影響を与える環境条件を
検出する環境条件検出手段と、 前記電位検出手段の検出結果と前記環境条件検出手段の
検出結果とに基づいて前記電圧印加手段を制御する制御
手段とを有し、 該制御手段は、前記像担持体の帯電電位が目標電位とな
るように前記電圧印加手段の基準電圧を補正する基準電
圧補正手段と、該基準電圧補正手段の実行タイミングを
設定するタイミング設定手段とからなり、 前記環境条件検出手段が温度センサであり、 前記タイミング設定手段は、前記温度センサの検出結果
に基づいて前記基準電圧補正手段の実行タイミングを決
定し、 前記タイミング設定手段は、前記接触帯電手段の温度が
上昇するに伴って前記基準電圧補正手段の実行間隔が長
くなるように、前記接触帯電手段の温度とコピー枚数と
の間に対応関係が与えられていることを 特徴とする画像
形成装置。 - 【請求項３】 像担持体に接触して電荷を付与する接触
帯電手段と、 前記接触帯電手段に基準電圧を印加する電圧印加手段
と、 前記像担持体の帯電電位を検出する電位検出手段と、 前記接触帯電手段の帯電電位に影響を与える環境条件を
検出する環境条件検出手段と、 前記電位検出手段の検出結果と前記環境条件検出手段の
検出結果とに基づいて前記電圧印加手段を制御する制御
手段とを有し、 該制御手段は、前記像担持体の帯電電位が目標電位とな
るように前記電圧印加手段の基準電圧を補正する基準電
圧補正手段と、該基準電圧補正手段の実行タイミングを
設定するタイミング設定手段とからなり、 前記環境条件検出手段が温度センサであり、 前記タイミング設定手段は、前記温度センサの検出結果
に基づいて前記基準電圧補正手段の実行タイミングを決
定し、 前記タイミング設定手段は、前記温度センサにより検出
された前回の温度と前記温度センサにより検出された今
回の温度との温度差が比較基準値以上であるとき、前記
基準電圧の補正を実行し、 前記タイミング設定手段は、前記接触帯電手段の温度が
上昇するに伴って前記基準電圧補正手段の実行回数が少
なくなるように、前記比較基準値を前記温度センサによ
り検出された温度に基づいて変更する ことを特徴とする
画像形成装置。
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| US08/625,529 US5805954A (en) | 1995-03-30 | 1996-03-29 | Image forming apparatus that detects environmental conditions |
| DE69606661T DE69606661T2 (de) | 1995-03-30 | 1996-03-29 | Bilderzeugungsgerät |
| ES96105080T ES2144659T3 (es) | 1995-03-30 | 1996-03-29 | Aparato de formacion de imagenes. |
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| JP7-74282 | 1995-03-30 | ||
| JP06458096A JP3408918B2 (ja) | 1995-03-30 | 1996-03-21 | 画像形成装置 |
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|---|---|
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| JP3408918B2 true JP3408918B2 (ja) | 2003-05-19 |
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-
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