JP3310481B2 - テストモード実行装置 - Google Patents
テストモード実行装置Info
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- JP3310481B2 JP3310481B2 JP28764394A JP28764394A JP3310481B2 JP 3310481 B2 JP3310481 B2 JP 3310481B2 JP 28764394 A JP28764394 A JP 28764394A JP 28764394 A JP28764394 A JP 28764394A JP 3310481 B2 JP3310481 B2 JP 3310481B2
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- Japan
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- test mode
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、マイクロプロセッサに
よるテストモード制御機能を具備する機器に搭載され、
組み立てラインのテスト工程で使用されるテストモード
実行装置に関し、更に詳しくは不揮発性メモリ（ＥＥＰ
ＲＯＭ）を巧みに利用することにより電源投入操作によ
ってテストモードを自動的に実行させるテストモード実
行装置に関する。
よるテストモード制御機能を具備する機器に搭載され、
組み立てラインのテスト工程で使用されるテストモード
実行装置に関し、更に詳しくは不揮発性メモリ（ＥＥＰ
ＲＯＭ）を巧みに利用することにより電源投入操作によ
ってテストモードを自動的に実行させるテストモード実
行装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】マイクロプロセッサによるテストモード
制御機能を具備する機器たとえば電子レンジにあって
は、使用頻度の低い複数の特定キーを組み合わせて操作
することによりテストモードを実行させるようにし、特
定キーを知らないユーザーが通常操作ではテストモード
を実行することがないようにしている。
制御機能を具備する機器たとえば電子レンジにあって
は、使用頻度の低い複数の特定キーを組み合わせて操作
することによりテストモードを実行させるようにし、特
定キーを知らないユーザーが通常操作ではテストモード
を実行することがないようにしている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、特定キーの
組み合わせ方式ではテストモードを実行させる操作を単
純（例えば二つのキーの同時押し）にすると、ユーザー
のミス操作でテストモードが実行される虞れがある。
組み合わせ方式ではテストモードを実行させる操作を単
純（例えば二つのキーの同時押し）にすると、ユーザー
のミス操作でテストモードが実行される虞れがある。
【０００４】一方、電子レンジはキーの削減化が進み操
作パネルに存在するキーの数が少なくなっているので、
組み合わせパターンの数にも限界があるにも拘わらず、
テストモードの数は増加傾向にある。
作パネルに存在するキーの数が少なくなっているので、
組み合わせパターンの数にも限界があるにも拘わらず、
テストモードの数は増加傾向にある。
【０００５】そのため、さらに複雑なキーの組み合わせ
を設定せざるを得なくなっており、テストモードに入る
ための複雑なキー操作によるロスタイムの増加とか複雑
なキー操作に対応できる高価なロボットの導入を余儀な
くされている。
を設定せざるを得なくなっており、テストモードに入る
ための複雑なキー操作によるロスタイムの増加とか複雑
なキー操作に対応できる高価なロボットの導入を余儀な
くされている。
【０００６】本発明は上記実状に鑑みてなされたもので
あり、出荷後にテストモードが実行されるのを防止する
と共に、テスト工程でのテストモード実行操作を簡略化
することを目的とする。
あり、出荷後にテストモードが実行されるのを防止する
と共に、テスト工程でのテストモード実行操作を簡略化
することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、テストモード
の順番値を記憶する不揮発性メモリと、該不揮発性メモ
リに記憶された順番値がテストモード移行値であるか通
常モード移行値であるかを判定する判定手段と、テスト
モードの実行結果に基づいて上記順番値を更新する順番
値更新手段と、製品組み立て後の最初の電源投入を検知
する最初の電源投入検知手段と、最初の電源投入検知に
基づいて上記順番値を初期値に設定する初期値設定手段
とを備え、製品組み立て後の電源投入回数に対応させて
テストモードを順次実行させてなるテストモード実行装
置において、 不揮発性メモリに記憶された数値データを
加算してチェックサム値を算出するチェックサム値算出
手段と、算出されたチェックサム値を記憶する上記不揮
発性メモリ内の特定メモリ領域と、該特定メモリ領域に
記憶されているチェックサム値と上記チェックサム値算
出手段にて算出されたチェックサム値とが一致するかど
うかを判定する一致判定手段と、該一致判定手段からの
一致信号に基づいてチェックサム値が０かどうかを判定
する０判定手段とからなり、上記一致判定手段の不一致
信号もしくは上記０判定手段からの０判定信号にて最初
の電源投入を検知する最初の電源投入検知手段を設けた
ことを特徴とするものである。
の順番値を記憶する不揮発性メモリと、該不揮発性メモ
リに記憶された順番値がテストモード移行値であるか通
常モード移行値であるかを判定する判定手段と、テスト
モードの実行結果に基づいて上記順番値を更新する順番
値更新手段と、製品組み立て後の最初の電源投入を検知
する最初の電源投入検知手段と、最初の電源投入検知に
基づいて上記順番値を初期値に設定する初期値設定手段
とを備え、製品組み立て後の電源投入回数に対応させて
テストモードを順次実行させてなるテストモード実行装
置において、 不揮発性メモリに記憶された数値データを
加算してチェックサム値を算出するチェックサム値算出
手段と、算出されたチェックサム値を記憶する上記不揮
発性メモリ内の特定メモリ領域と、該特定メモリ領域に
記憶されているチェックサム値と上記チェックサム値算
出手段にて算出されたチェックサム値とが一致するかど
うかを判定する一致判定手段と、該一致判定手段からの
一致信号に基づいてチェックサム値が０かどうかを判定
する０判定手段とからなり、上記一致判定手段の不一致
信号もしくは上記０判定手段からの０判定信号にて最初
の電源投入を検知する最初の電源投入検知手段を設けた
ことを特徴とするものである。
【０００８】
【０００９】
【００１０】
【作用】本発明では、不揮発性メモリを巧みに利用した
チェックサム値の判定のみで最初の電源投入を検知でき
る。
チェックサム値の判定のみで最初の電源投入を検知でき
る。
【００１１】
【００１２】
【００１３】
【実施例】以下、本発明によるテストモード実行装置の
一実施例を図面に基づき詳細に説明する。
一実施例を図面に基づき詳細に説明する。
【００１４】図３はマイクロプロセッサによるテストモ
ード制御機能を具備する機器たとえば電子レンジの概略
ブロック図であって、１は電子レンジ全体の制御を司る
マイクロプロセッサ、２は本発明にとって最も重要な構
成要素となる不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）であり、
図４に示す如くチェックサム値，テストモードの実行順
番値，各種データを書き換え可能に記憶するものであ
る。３は自動制御に必要な情報をマイクロプロセッサ１
に与える各種センサ、４はマイクロプロセッサ１の指令
に基づいて加熱手段とか送風手段を駆動させる各種リレ
ー、５は商用電源を整流平滑して所定の直流電源をマイ
クロプロセッサ１に供給する電源ユニット、６はテスト
モードにおける指示事項とかエラーメッセージを表示す
る表示装置、７はマイクロプロセッサ１に指令を与える
入力手段である。
ード制御機能を具備する機器たとえば電子レンジの概略
ブロック図であって、１は電子レンジ全体の制御を司る
マイクロプロセッサ、２は本発明にとって最も重要な構
成要素となる不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）であり、
図４に示す如くチェックサム値，テストモードの実行順
番値，各種データを書き換え可能に記憶するものであ
る。３は自動制御に必要な情報をマイクロプロセッサ１
に与える各種センサ、４はマイクロプロセッサ１の指令
に基づいて加熱手段とか送風手段を駆動させる各種リレ
ー、５は商用電源を整流平滑して所定の直流電源をマイ
クロプロセッサ１に供給する電源ユニット、６はテスト
モードにおける指示事項とかエラーメッセージを表示す
る表示装置、７はマイクロプロセッサ１に指令を与える
入力手段である。
【００１５】次に、以上の構成及び図１に示すフローチ
ャートに基づき本発明によるテストモード実行装置の一
制御動作を説明する。尚、不揮発性メモリ２はメモリ領
域Ａ１にテストモードの順番値が予め初期値設定（１に
設定）されているものを採用し、９工程のテストモード
を実行する本実施例の制御プログラムは順番値が９以下
であればテストモード、１０であれば通常モードに電源
投入後直ちに移行するよう設計され、順番値１〜９がテ
ストモード移行値、１０が通常モード移行値に設定され
ている。
ャートに基づき本発明によるテストモード実行装置の一
制御動作を説明する。尚、不揮発性メモリ２はメモリ領
域Ａ１にテストモードの順番値が予め初期値設定（１に
設定）されているものを採用し、９工程のテストモード
を実行する本実施例の制御プログラムは順番値が９以下
であればテストモード、１０であれば通常モードに電源
投入後直ちに移行するよう設計され、順番値１〜９がテ
ストモード移行値、１０が通常モード移行値に設定され
ている。
【００１６】製品組み立て後、テスト工程で製品に電源
を投入するとマイクロプロセッサ１は不揮発性メモリ２
のメモリ領域Ａ１に記憶された順番値が通常モード移行
値１０かどうか判定する（Ｓ１）。
を投入するとマイクロプロセッサ１は不揮発性メモリ２
のメモリ領域Ａ１に記憶された順番値が通常モード移行
値１０かどうか判定する（Ｓ１）。
【００１７】通常モード移行値１０であれば通常モード
に移行するのであるが、最初の電源投入時は順番値が１
に設定されているのでテストモード１を実行する（Ｓ
２）。
に移行するのであるが、最初の電源投入時は順番値が１
に設定されているのでテストモード１を実行する（Ｓ
２）。
【００１８】テストモード１の実行で正常にテストデー
タが取り込まれたことが表示装置６に表示されたりテス
ト結果が合格であれば、自動的あるいは入力装置７から
その旨入力される（Ｓ３）ことにより、不揮発性メモリ
２のメモリ領域Ａ１は１が加算されて順番値２に更新さ
れ（Ｓ４）てテストモード１は終了する（Ｓ５）。正常
にテストデータが取り込まれなくて表示装置６にエラー
表示が出たり入力装置７から不合格の入力がなされた場
合にはテストモード１は停止となる（Ｓ６）ので、対策
処理を施した後に再度テストモード１を実行させること
になる。
タが取り込まれたことが表示装置６に表示されたりテス
ト結果が合格であれば、自動的あるいは入力装置７から
その旨入力される（Ｓ３）ことにより、不揮発性メモリ
２のメモリ領域Ａ１は１が加算されて順番値２に更新さ
れ（Ｓ４）てテストモード１は終了する（Ｓ５）。正常
にテストデータが取り込まれなくて表示装置６にエラー
表示が出たり入力装置７から不合格の入力がなされた場
合にはテストモード１は停止となる（Ｓ６）ので、対策
処理を施した後に再度テストモード１を実行させること
になる。
【００１９】テストモード１を合格した製品に電源遮断
後再度電源を投入すると、メモリ領域Ａ１の順番値が２
になっているのでテストモード２が直ちに実行される。
次々にテストモードが実行され合格してメモリ領域Ａ１
の順番値が１０に達したならば、次からの電源投入では
Ｓ１ステップで通常モード移行の判定を受けて通常モー
ドに移行するので、ユーザー宅ではテストモードが実行
されることはない。
後再度電源を投入すると、メモリ領域Ａ１の順番値が２
になっているのでテストモード２が直ちに実行される。
次々にテストモードが実行され合格してメモリ領域Ａ１
の順番値が１０に達したならば、次からの電源投入では
Ｓ１ステップで通常モード移行の判定を受けて通常モー
ドに移行するので、ユーザー宅ではテストモードが実行
されることはない。
【００２０】次に、図２に示すフローチャートに基づき
本発明の他の実施例を説明する。この発明では、不揮発
性メモリ２のメモリ領域Ａ１にテストモードの順番値が
予め初期値設定（１に設定）されていなくても、電源投
入／遮断を繰り返すだけでテストモードが順次実行され
るようにしている。
本発明の他の実施例を説明する。この発明では、不揮発
性メモリ２のメモリ領域Ａ１にテストモードの順番値が
予め初期値設定（１に設定）されていなくても、電源投
入／遮断を繰り返すだけでテストモードが順次実行され
るようにしている。
【００２１】製品組み立て後、テスト工程で製品に電源
を投入するとマイクロプロセッサ１は不揮発性メモリ２
のメモリ領域Ａ１〜Ａｎの数値データを加算してチェッ
クサム値を算出する（Ｓ１）。そして、算出したチェッ
クサム値がチェックサム値記憶用メモリ領域Ａ０に記憶
されている数値データと一致するかどうかの一致判定を
し（Ｓ２）、一致すればメモリ領域Ａ０の数値データが
０かどうかの０判定をして（Ｓ３）、不揮発性メモリ２
が無垢であるかどうかをチェックする。
を投入するとマイクロプロセッサ１は不揮発性メモリ２
のメモリ領域Ａ１〜Ａｎの数値データを加算してチェッ
クサム値を算出する（Ｓ１）。そして、算出したチェッ
クサム値がチェックサム値記憶用メモリ領域Ａ０に記憶
されている数値データと一致するかどうかの一致判定を
し（Ｓ２）、一致すればメモリ領域Ａ０の数値データが
０かどうかの０判定をして（Ｓ３）、不揮発性メモリ２
が無垢であるかどうかをチェックする。
【００２２】上記一致判定（Ｓ２）で不一致であるか上
記０判定で０であれば、製品組み立て後に初めて電源を
投入したことになり、不揮発性メモリ２のメモリ領域Ａ
１に順番値１を設定し（Ｓ４）、メモリ領域Ａ１〜Ａｎ
のチェックサム値をメモリ領域Ａ０に書き込む（Ｓ
５）。
記０判定で０であれば、製品組み立て後に初めて電源を
投入したことになり、不揮発性メモリ２のメモリ領域Ａ
１に順番値１を設定し（Ｓ４）、メモリ領域Ａ１〜Ａｎ
のチェックサム値をメモリ領域Ａ０に書き込む（Ｓ
５）。
【００２３】以上の制御動作で、製品組み立て後初めて
電源を投入した場合のテストモード順番値が初期値設定
（１に設定）されたことになり、Ｓ６ステップ以降のフ
ローチャートについては前述の実施例と基本的に同じで
あり、違う点はＳ１０ステップの追加である。
電源を投入した場合のテストモード順番値が初期値設定
（１に設定）されたことになり、Ｓ６ステップ以降のフ
ローチャートについては前述の実施例と基本的に同じで
あり、違う点はＳ１０ステップの追加である。
【００２４】
【発明の効果】本発明では、製品組み立て後において電
源を投入するだけでテストモードを実行させることがで
き、複数のテスト工程がある場合には電源投入／遮断を
繰り返すだけで複数のテストモードを順次実行すること
ができるので、テスト工程の作業タイム削減が計れ、安
価な作業ロボットの導入が可能となる他、不揮発性メモ
リを巧みに利用したチェックサム値の判定のみで最初の
電源投入を検知できるので、極めて簡単にしてコストア
ップすることのないテストモードを実現できるものであ
る。
源を投入するだけでテストモードを実行させることがで
き、複数のテスト工程がある場合には電源投入／遮断を
繰り返すだけで複数のテストモードを順次実行すること
ができるので、テスト工程の作業タイム削減が計れ、安
価な作業ロボットの導入が可能となる他、不揮発性メモ
リを巧みに利用したチェックサム値の判定のみで最初の
電源投入を検知できるので、極めて簡単にしてコストア
ップすることのないテストモードを実現できるものであ
る。
【００２５】
【００２６】
【図１】本発明によるテストモード実行装置の一例を説
明するフローチャートである。
明するフローチャートである。
【図２】本発明によるテストモード実行装置の他例を説
明するフローチャートである。
明するフローチャートである。
【図３】本発明を採用した電子レンジの概略ブロック図
である。
である。
【図４】本発明に係る不揮発性メモリのメモリ概要を説
明する図である。
明する図である。
１ マイクロプロセッサ ２ 不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯＭ） ６ 表示装置 ７ 入力手段
Claims (1)
- 【請求項１】 テストモードの順番値を記憶する不揮発
性メモリと、該不揮発性メモリに記憶された順番値がテ
ストモード移行値であるか通常モード移行値であるかを
判定する判定手段と、テストモードの実行結果に基づい
て上記順番値を更新する順番値更新手段と、製品組み立
て後の最初の電源投入を検知する最初の電源投入検知手
段と、最初の電源投入検知に基づいて上記順番値を初期
値に設定する初期値設定手段とを備え、製品組み立て後
の電源投入回数に対応させてテストモードを順次実行さ
せてなるテストモード実行装置において、 不揮発性メモリに記憶された数値データを加算してチェ
ックサム値を算出するチェックサム値算出手段と、算出
されたチェックサム値を記憶する上記不揮発性メモリ内
の特定メモリ領域と、該特定メモリ領域に記憶されてい
るチェックサム値と上記チェックサム値算出手段にて算
出されたチェックサム値とが一致するかどうかを判定す
る一致判定手段と、該一致判定手段からの一致信号に基
づいてチェックサム値が０かどうかを判定する０判定手
段とからなり、上記一致判定手段の不一致信号もしくは
上記０判定手段からの０判定信号にて最初の電源投入を
検知する最初の電源投入検知手段を設けたことを特徴と
する テストモード実行装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28764394A JP3310481B2 (ja) | 1994-11-22 | 1994-11-22 | テストモード実行装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28764394A JP3310481B2 (ja) | 1994-11-22 | 1994-11-22 | テストモード実行装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08147261A JPH08147261A (ja) | 1996-06-07 |
| JP3310481B2 true JP3310481B2 (ja) | 2002-08-05 |
Family
ID=17719885
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28764394A Expired - Fee Related JP3310481B2 (ja) | 1994-11-22 | 1994-11-22 | テストモード実行装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3310481B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102322892A (zh) * | 2011-05-24 | 2012-01-18 | 许影 | 一种微波炉部件检测装置 |
| CN109798547B (zh) * | 2018-12-30 | 2021-08-03 | 佛山市顺德区美的洗涤电器制造有限公司 | 灶具的煲汤方法、装置、灶具及存储介质 |
| KR102313589B1 (ko) | 2019-11-21 | 2021-10-19 | 한국세라믹기술원 | 질화알루미늄 세라믹스 조성물의 제조방법 |
| CN112672329B (zh) * | 2020-12-01 | 2023-12-15 | 佛山市顺德区美的洗涤电器制造有限公司 | 一种联动功能检测方法、***及计算机可读存储介质 |
-
1994
- 1994-11-22 JP JP28764394A patent/JP3310481B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08147261A (ja) | 1996-06-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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