JP3281951B2 - 基板の導通検査方法 - Google Patents
基板の導通検査方法Info
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- JP3281951B2 JP3281951B2 JP33172097A JP33172097A JP3281951B2 JP 3281951 B2 JP3281951 B2 JP 3281951B2 JP 33172097 A JP33172097 A JP 33172097A JP 33172097 A JP33172097 A JP 33172097A JP 3281951 B2 JP3281951 B2 JP 3281951B2
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- Japan
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- checker
- continuity
- substrate
- head
- camera
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
の導体部間の導通状態を検査する基板の導通検査方法に
関する。
すように、導通チェッカ1の中央部に基板2が取付けら
れ、この基板2の上下にチェッカヘッド3を取付けてい
る。基板2には、導体回路4及びターゲットマーク5が
形成されており、上下のチェッカヘッド3には、導体回
路4間の導通を検査するプローブピン6が取付けられて
いる。
カヘッド3との間に挿入して左右に移動させ、基板2の
ターゲットマーク5を投影し、基板2とプローブピン6
との位置ずれを補正している。この検査方法は、基板2
の2箇所のターゲットマーク5を投影するためカメラ7
を左右に移動させるので、時間がかかるという問題があ
る。さらに、基板2の上面及び下面を投影するので作業
時間がさらにかかるという問題がある。そこで、カメラ
7を、チェッカヘッド3に一体に取付け、調整時間の短
縮を図っている。
ヘッド3は、基板2の種類に応じて度々取替える必要が
ある。チェッカヘッド3が変わると、カメラ7とプロー
ブピン6との間の寸法が、チェッカヘッド3ごとに変化
するので、導通検査を実施するに先立ち、チェッカヘッ
ド3を導通チェッカ1に取り付けて、プローブピン6と
基板2との間に感圧紙を挟み、実際にタッチトライして
その位置ずれを測定し、その測定値に基づいた補正値を
入力している。この調整作業中は、導通検査を行なうこ
とができないので、導通チェッカ1の稼働率が悪く生産
性を低下させるという問題がある。
ので、その目的は、導通チェッカによる導通検査の稼働
率を向上させ得る基板の導通検査方法を提供するにあ
る。
に本発明が採った手段は、実施例で使用する符号を付し
て説明すると、導通チェッカ1に基板2及びチェッカヘ
ッド3を取付け、チェッカヘッド3のカメラ7により基
板2のターゲットマーク5を投影して基板2の位置を決
め、チェッカヘッド3に取付けたプローブピン6を基板
2の回路パターン4に接触させて導通を検査する基板の
導通検査方法において、チェッカヘッド3にプローブピ
ン6を取付けた段階で、カメラ7とプローブピン6との
位置ずれを、基板2の回路パターン形成用のマスクフィ
ルム13を基準にして測定し、チェッカヘッド3を導通
チェッカ1に取付ける際に、測定した位置ずれに基ずく
補正値を導通チェッカ1に入力するようにしたので、チ
ェッカヘッド3を導通チェッカ1に取付ければ直ちに導
通検査を実施することができる。
1及び図2を参照して説明する。但し、従来例において
説明した同一箇所には同一符号を付す。チェッカヘッド
3には、基板2のターゲットマーク5に対応する位置
に、孔11が形成され、ここにカメラ7が挿入されてい
る。このカメラ7は、孔11に連続して形成された鏡筒
12を通して、マスクフィルム13を投影する。また、
チェッカヘッド3には、所定の位置にプローブピン6が
取付けられている。
を形成する際に使用されるものであって、回路パターン
部4A及び2箇所にターゲットマーク部5Aが形成され
ている。これら回路パターン部4A及びターゲットマー
ク部5Aの位置及び寸法は、基板2の導体回路4及びタ
ーゲットマーク5と同一である。
ン6にコンタクトさせ、顕微鏡等を使用してプローブピ
ン6と回路パターン部4Aとの位置を合わせる。ここ
で、カメラ7によりターゲットマーク部5Aを投影し、
相互の中心間の寸法を測定すれば、この測定値がプロー
ブピン6とカメラ7とのずれとなる。そこで、この寸法
に基づいて補正値を決定する。
1にチェッカヘッド3を取付け、補正値を導通チェッカ
1に入力する。これにより、プローブピン6とカメラ7
とのずれは補正されるので、導通チェッカ1に基板2を
取付ければ直ちに基板2の導通検査を実施することがで
きる。
る。即ち、 (1)マスクフィルム13を基準にしてプローブピン6
とカメラ7との位置ずれを測定するので、チェッカヘッ
ド3を導通チェッカ1に取付ける前の工程で両者の補正
値が決定できる。 (2)この補正値は、チェッカヘッド3を導通チェッカ
1に取付けるときに導通チェッカ1に入力されるので、
直ちに導通検査を実施することができる。
ずれは、マスクフィルム13を基準にして行うので、導
通チェッカ1に基板2を取付けて実施していた従来と同
様の精度を得ることができる。 (4)プローブピン6とカメラ7との位置ずれを測定す
るため、従来とは異なり導通チェッカ1を使用しないの
で、導通検査を実施するための導通チェッカ1の稼働率
が向上する。
ッカヘッドを取付け、チェッカヘッドのカメラにより基
板のターゲットマークを投影して基板の位置を決め、チ
ェッカヘッドに取付けたプローブピンを基板の回路パタ
ーンに接触させて導通を検査する基板の導通検査方法に
おいて、前記チェッカヘッドにプローブピンを取付けた
段階で、基板の回路パターン形成用のマスクフィルムを
基準にしてカメラとプローブピンとの位置ずれを測定
し、こりチェッカヘッドを導通チェッカに取付ける際
に、測定した位置ずれに基ずく補正値を導通チェッカに
入力するようにしたので、導通チェッカの稼働率を向上
させることができるという優れた効果を奏するものであ
る。
ている状態を示す図である。
る。
置ずれを測定している状態を示す図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 導通チェッカに基板及びチェッカヘッド
を取付け、チェッカヘッドのカメラにより基板のターゲ
ットマークを投影して基板の位置を決め、チェッカヘッ
ドに取付けたプローブピンを基板の回路パターンに接触
させて導通を検査する基板の導通検査方法において、 前記チェッカヘッドに前記プローブピンを取付けた段階
で、カメラとプローブピンとの位置ずれを基板の回路パ
ターン形成用のマスクフィルムを基準にして測定し、 このチェッカヘッドを前記導通チェッカに取付ける際
に、測定した位置ずれに基ずく補正値を該導通チェッカ
に入力するようにしたことを特徴とする基板の導通検査
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33172097A JP3281951B2 (ja) | 1997-12-02 | 1997-12-02 | 基板の導通検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33172097A JP3281951B2 (ja) | 1997-12-02 | 1997-12-02 | 基板の導通検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11160382A JPH11160382A (ja) | 1999-06-18 |
JP3281951B2 true JP3281951B2 (ja) | 2002-05-13 |
Family
ID=18246849
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33172097A Expired - Lifetime JP3281951B2 (ja) | 1997-12-02 | 1997-12-02 | 基板の導通検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3281951B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105466337B (zh) * | 2015-12-31 | 2018-06-05 | 珠海市运泰利自动化设备有限公司 | 用于检测pcb板的细密针点光学检测***及其检测方法 |
-
1997
- 1997-12-02 JP JP33172097A patent/JP3281951B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH11160382A (ja) | 1999-06-18 |
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