JP3274034B2 - 半導体加速度検出装置 - Google Patents

半導体加速度検出装置

Info

Publication number
JP3274034B2
JP3274034B2 JP32317194A JP32317194A JP3274034B2 JP 3274034 B2 JP3274034 B2 JP 3274034B2 JP 32317194 A JP32317194 A JP 32317194A JP 32317194 A JP32317194 A JP 32317194A JP 3274034 B2 JP3274034 B2 JP 3274034B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
inverting input
input terminal
operational amplifier
bridge circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP32317194A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH08178951A (ja
Inventor
雅裕 山本
達 荒木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP32317194A priority Critical patent/JP3274034B2/ja
Priority to US08/507,161 priority patent/US5612488A/en
Priority to DE19532764A priority patent/DE19532764C2/de
Publication of JPH08178951A publication Critical patent/JPH08178951A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3274034B2 publication Critical patent/JP3274034B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P15/12Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values by alteration of electrical resistance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D3/00Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
    • G01D3/08Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for safeguarding the apparatus, e.g. against abnormal operation, against breakdown
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01PMEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
    • G01P21/00Testing or calibrating of apparatus or devices covered by the preceding groups

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)
  • Control Of Amplification And Gain Control (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Air Bags (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、自動車用のABS
(Antilock Brake System )やエアバッグシステム等に
用いられ、半導体基板上あるいは半導体基板内に半導体
のピエゾ抵抗効果を利用した歪ゲージ抵抗を形成し、加
速度検出時にその弾性変化に伴って発生する抵抗値変化
を電気信号として出力する半導体加速度検出装置に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】振動や加速度等を検出するのに一般に用
いられている半導体加速度検出装置の構造としては、半
導体のピエゾ抵抗効果を利用した歪ゲージ抵抗素子が形
成される薄肉状のダイヤフラム部を検出梁のほぼ中央に
形成し、その両側の厚肉部の一方を支持体に固定すると
共に他方の厚肉部を自由端として、歪ゲージ抵抗素子の
抵抗値の変化に応じて被測定力を検出する片持ち梁構造
の半導体加速度センサが知られている。
【0003】図6はこの種の半導体加速度センサを示す
構造断面図である。図6において、19はパッケージの
ベースを形成するコバール等の金属よりなるステムを示
し、このステム19にはパッケージの外部との電気接続
をするために例えば8つの貫通孔19aが設けられ、そ
の貫通孔19aに硬質ガラスを溶着してリード端子20
が固定されていて、上記ステム19とリード端子20と
は該硬質ガラスにより電気的に絶縁されている。
【0004】上記ステム19上には、混成集積回路21
が搭載され、その集積回路の基板上に台座22を介して
加速度検出梁23が取り付けられている。この加速度検
出梁23は、例えばP型単結晶シリコンからなり、支持
体としての台座22上に取り付けられる固定端の端部及
び該台座22とは反対側の自由端の端部はそれぞれ厚肉
部でなり、それら厚肉部間に薄肉化したダイヤフラム部
24には、例えばボロン等のP型不純物を熱拡散または
イオン注入により半導体のピエゾ抵抗効果を利用した歪
ゲージ抵抗25がP型不純物を高濃度で導入して梁表面
に形成した拡散配線あるいは蒸着等により梁表面に形成
されたアルミ配線によってフルブリッジ回路に結線され
ている。
【0005】上記加速度検出梁23は、台座22とは反
対側の厚肉部が自由端となっているため、加速度が加え
られると、ダイヤフラム部24に歪が生じ、加速度の大
きさに応じて歪ゲージ抵抗25の抵抗値が変化するの
で、従って、ブリッジ回路に予め電圧を印加しておくこ
とにより、ブリッジ出力として不平衡電圧が生じ加速度
に応じた電圧を検出することができる。
【0006】このように検出される加速度信号は、通
常、非常に小信号であるため、加速度検出梁23の固定
端側に、診断回路等を有する出力増幅回路26が形成さ
れている。この出力増幅回路26で信号処理された加速
度信号は、金またはアルミニウムのワイヤ(細線)27
により引き出され、感度調整厚膜抵抗やオフセット調整
厚膜抵抗等を有する混成集積回路21に入力されて補正
され、該混成集積回路21にて補正された加速度信号
は、金またはアルミニウムのワイヤ28によってリード
端子20に導かれ、外部のマイコン等に伝播される。
【0007】歪ゲージ抵抗素子が形成される上記ダイヤ
フラム部24は、前述したように、薄肉状であるため
に、固定端及び自由端の厚肉部と比較すると、その機械
的強度は当然小さくなっている。そして、何らかの原因
で上記半導体加速度センサに強い衝撃が加わると、上記
ダイヤフラム部24が折れてしまうことがあり、このよ
うな場合、歪ゲージ抵抗素子の構成するセンシング部が
断線してしまうことがある。また、歪ゲージ抵抗素子の
基準抵抗値の変動や出力増幅回路の異常により誤動作す
ることがある。
【0008】したがって、従来の半導体加速度センサ
は、異常状態を検出するのに、定期的にタイミング信号
を発生させて、そのタイミング信号に基づいて上記歪ゲ
ージ抵抗素子に疑似加速度信号を付加することにより、
上記半導体加速度センサから電気的な出力信号を取り出
し、半導体加速度センサの異常を検出する診断回路を具
備していた。
【0009】図7は半導体加速度検出装置の診断回路を
有する従来の出力増幅回路部を示す回路構成図である。
図7において、1ないし4は上述した加速度検出梁23
の薄肉化されたダイヤフラム部24表面に形成された加
速度検出素子としての歪ゲージ抵抗素子で、それぞれ等
しい抵抗値RS を有し、ブリッジ回路を構成しており、
歪ゲージ抵抗素子1と3の接続点は電源VCCが接続され
ると共に、歪ゲージ抵抗素子2と4の接続点は接地端G
NDに接続され、歪ゲージ抵抗素子1と2及び歪ゲージ
抵抗素子3と4の各接続点が出力端子となり、この出力
端子から加速度に応じた出力が得られるようになされて
いる。
【0010】5ないし7は上記ブリッジ回路の出力端子
に接続されて加速度に応じた出力を得るための出力増幅
回路としての高入力インピーダンス差動増幅回路を構成
する第1ないし第3の演算増幅器を示し、第1の演算増
幅器5の非反転入力端子は上記歪ゲージ抵抗素子1と2
の接続点に接続されると共に、その反転入力端子は出力
端子に帰還抵抗8を介して接続され、一方、第2の演算
増幅器6の非反転入力端子は上記歪ゲージ抵抗素子3と
4の接続点に接続されると共に、その反転入力端子は出
力端子に帰還抵抗9を介して接続され、また、第3の演
算増幅器7の反転入力端子は抵抗10を介して上記第1
の演算増幅器5の出力端子に接続されると共に、その非
反転入力端子は抵抗11を介して上記第2の演算増幅器
6の出力端子に接続され、さらにその出力端子と反転入
力端子は帰還抵抗12を介して接続されると共に、その
非反転入力端子には電源VCCと接地間に直列接続された
抵抗14と15による分圧電圧をオフセット電圧(基準
電圧)VR として抵抗13を介して与えられるようにな
されている。
【0011】また、17と18は上記ブリッジ回路の歪
ゲージ抵抗3と4の接続点(第2の演算増幅器6の非反
転入力端子)と接地間に接続された定電流源とスイッチ
で、スイッチ18を投入することにより、歪ゲージ抵抗
3に流れる電流を強制的に定電流源17を介して接地端
GNDに流すようにして、第2の演算増幅器6の非反転
入力端子の電位を下げるようになされており、これによ
って、疑似加速度を付加するようになっている。
【0012】ここで、第1の演算増幅器5の出力端子と
反転入力端子間に接続された帰還抵抗8の抵抗値は、非
反転入力端子側の入力インピーダンスと等しくするため
に、歪ゲージ抵抗1と2の合成並列抵抗値と等しい値に
設定され、また、第2の演算増幅器6の出力端子と反転
入力端子間に接続された帰還抵抗9の抵抗値は、非反転
入力端子側の入力インピーダンスと等しくするために、
歪ゲージ抵抗3と4の合成並列抵抗値と等しい値に設定
され、さらに、抵抗10と抵抗11、抵抗12と抵抗1
3は等しい抵抗値に設定されていて、第3の演算増幅器
7に対し、上記歪ゲージ抵抗素子のブリッジ回路の出力
インピーダンスが高くても、第3の演算増幅器7の入力
に低インピーダンスで出力を伝達して、その影響を受け
ずに正確に差動増幅器としての機能を果たすことができ
るようになされている。
【0013】従って、図7に示す構成においては、第1
の演算増幅器5の出力端子の電位をV1 、第2の演算増
幅器6の出力端子の電位をV2 、抵抗10及び12の抵
抗値をR10及びR12とすると、第3の演算増幅器7の出
力端子に発生する出力信号Vout は、下式に示すよう
に、第1と第2の演算増幅器5と6の出力端子間の電位
差(V1 −V2 )を抵抗10と12の比R12/R10を増
幅率として反転増幅したものにオフセット電圧VR を加
えた値になり、加速度に応じた出力が得られる。 Vout =−R12/R10(V1 −V2 )+VR (1)
【0014】また、ブリッジ回路の出力端子である歪ゲ
ージ抵抗1と2の接続点には定電流源17及びスイッチ
18が接続されており、外部から所定のタイミングでス
イッチ18がオンされることで、定電流Iが発生する。
今、スイッチ18をオンにすると、ブリッジ回路のバラ
ンスがくずれ、第1の演算増幅器5の非反転入力端子と
第2の演算増幅器6の非反転入力端子に電位差△V=−
1/2(I×RS )が発生し、あたかも加速度が加わっ
たように疑似加速度が発生する。
【0015】すなわち、図7において、説明の便宜上、
電源VCCの電源電圧をVCC、歪ゲージ抵抗1と2の接続
点での電位(第2の演算増幅器6の非反転入力端子の電
位)V0 とし、スイッチ18のオフ時に電源VCCから歪
ゲージ抵抗1と2を介して接地端GNDに流れる電流を
0 としたとき、まず、スイッチ18がオフの状態で
は、次の式が成立する。 VCC=I0 ×2RS (2) V0 =I0 ×RS (3) 他方、スイッチ18がオンの状態では、このとき、歪ゲ
ージ抵抗1と2の接続点での電位をV0′とすると、電
流源17から引き出される定電流Iの影響によって次の
式が成立することになる。 VCC=(I0 +1/2・I)×RS +(I0 −1/2・I)×RS =I0 ×2RS (4) V0′=(I0 −1/2・I)×RS (5)
【0016】従って、スイッチ18がオフの状態では、
第1の演算増幅器5の非反転入力端子は第2の演算増幅
器6の非反転入力端子の電位と等しいため、スイッチ1
8をオンすると、第1の演算増幅器5の非反転入力端子
と第2の演算増幅器6の非反転入力端子に電位差△V=
0′−V0 =−1/2(I×RS )が発生し、あたか
も加速度が加わったように疑似加速度が発生することに
なり、図7に示す抵抗12と10の抵抗比をR12:R10
=10:1とすると、第3の演算増幅器7の出力Vout
としては、下式に示す信号が現れる。 Vout =−10×△V+VR =5・I・RS +VR (6) このようにして、疑似加速度を発生することにより検出
装置を診断することができる。
【0017】図8は図7に示す回路図においてスイッチ
18を時刻tでオンしたときの各部電位を示すもので、
スイッチ18をオンしたとき、第1の演算増幅器5の出
力電位V1 がブリッジ回路の歪ゲージ抵抗3と4の接続
点における出力電位V0 と変わらなく固定値を維持する
のに対し、第2の演算増幅器6の出力電位V2 は−1/
2(I×RS )となり、従って、第3の演算増幅器7の
出力電位Vout は、式(1)に基づき、5・I・RS
値を示すことになる。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の構成においては、加速度検出梁23の破損等に
よって第1の演算増幅器5等第3の演算増幅器7の反転
入力端子への信号経路に異常が生じて、第3の演算増幅
器7の反転入力端子での電位、すなわち第1の演算増幅
器5の出力電位V1 が固定値となった場合には、スイッ
チ18をオンしても、検出装置の出力としては5・I・
S の信号が発生し、図8に示す正常時と同じであるた
め異常を検出することができなかった。同様に、図7に
示す回路において、定電流源16及びスイッチ18をブ
リッジ回路の歪ゲージ抵抗3と4の接続点側から歪ゲー
ジ抵抗1と2の接続点側に切換接続しても同様で、検出
装置の出力としては5・I・RS の信号が発生し、正常
時と同じであるため異常を検出することができなかっ
た。
【0019】この発明は上述した従来例にかかる問題点
を解消するためになされたもので、疑似加速度を付加し
て検出装置を診断する際に、出力増幅回路の異常をも検
出することができる信頼性の高い半導体加速度検出装置
を得ることを目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】この発明に係る半導体加
速度検出装置は、半導体基板に半導体のピエゾ抵抗効果
を利用した歪ゲージ抵抗を形成し、加速度検出時にその
弾性変化に伴って発生する抵抗値変化を電気信号として
出力する半導体加速度検出装置において、上記歪ゲージ
抵抗のブリッジ回路と、上記ブリッジ回路の第1と第2
の出力端子に入力端子が接続されて加速度に応じた出力
を得るための出力増幅回路と、上記ブリッジ回路の第1
及び第2の出力端子と接地との間にそれぞれスイッチを
介して設けられてスイッチの投入時に上記ブリッジ回路
の第1及び第2の出力端子から異なる定電流値を引き出
すための第1と第2の定電流源とを備えたことを特徴と
するものである。
【0021】また、上記出力増幅回路は、上記ブリッジ
回路の第1と第2の出力端子にそれぞれ非反転入力端子
が接続されると共に出力端子と反転入力端子が帰還抵抗
を介して接続された第1と第2の演算増幅器と、この第
1と第2の演算増幅器の出力端子にそれぞれ抵抗を介し
て反転入力端子と非反転入力端子が接続されると共に出
力端子と反転入力端子が帰還抵抗を介して接続され、か
つ非反転入力端子に抵抗分圧によるオフセット電圧が与
えられる第3の演算増幅器とを備えたことを特徴とする
ものである。
【0022】
【作用】この発明に係る半導体加速度検出装置において
は、歪ゲージ抵抗のブリッジ回路の第1及び第2の出力
端子と接地との間にそれぞれスイッチを介して第1と第
2の定電流源を設けて、スイッチの投入時に上記ブリッ
ジ回路の第1及び第2の出力端子から異なる定電流値を
引き出すようにしたことにより、疑似加速度を付加して
検出装置を診断する際に、出力増幅回路の正常と異常の
判別を可能にする。
【0023】また、上記出力増幅回路を、上記ブリッジ
回路の第1と第2の出力端子にそれぞれ非反転入力端子
が接続されると共に出力端子と反転入力端子が帰還抵抗
を介して接続された第1と第2の演算増幅器と、この第
1と第2の演算増幅器の出力端子にそれぞれ抵抗を介し
て反転入力端子と非反転入力端子が接続されると共に出
力端子と反転入力端子が帰還抵抗を介して接続され、か
つ非反転入力端子に抵抗分圧によるオフセット電圧が与
えられる第3の演算増幅器とを備えて構成するようにし
たので、第1と第2の定電流源による定電流の比及び抵
抗比の設定によって出力増幅回路の正常と異常の判別及
び異常時の異常部位の検出を容易にすることを可能にす
る。
【0024】
【実施例】次に、この発明の一実施例を図に基づいて説
明する。図1はこの発明の一実施例に係る半導体加速度
検出装置の出力増幅回路部を示す回路図である。図1に
おいて、図7に示す従来例と同一部分は同一符号を示
し、1ないし4は図6に示す加速度検出梁23の薄肉化
されたダイヤフラム部24表面に形成された加速度検出
素子としての歪ゲージ抵抗素子で、それぞれ等しい抵抗
値RS を有し、ブリッジ回路を構成しており、歪ゲージ
抵抗素子1と3の接続点は電源VCCが接続されると共
に、歪ゲージ抵抗素子2と4の接続点は接地端GNDに
接続され、歪ゲージ抵抗素子1と2及び歪ゲージ抵抗素
子3と4の各接続点が出力端子となり、この出力端子か
ら加速度に応じた出力Vout が得られるようになされて
いる。
【0025】5ないし7は上記ブリッジ回路の出力端子
に接続されて加速度に応じた出力を得るための出力増幅
回路としての高入力インピーダンス差動増幅回路を構成
する第1ないし第3の演算増幅器を示し、第1の演算増
幅器5の非反転入力端子は上記歪ゲージ抵抗素子1と2
の接続点に接続されると共に、その反転入力端子は出力
端子に帰還抵抗8を介して接続され、一方、第2の演算
増幅器6の非反転入力端子は上記歪ゲージ抵抗素子3と
4の接続点に接続されると共に、その反転入力端子は出
力端子に帰還抵抗9を介して接続され、また、第3の演
算増幅器7の反転入力端子は抵抗10を介して上記第1
の演算増幅器5の出力端子に接続されると共に、その非
反転入力端子は抵抗11を介して上記第2の演算増幅器
6の出力端子に接続され、さらにその出力端子と反転入
力端子は帰還抵抗12を介して接続されると共に、その
非反転入力端子には電源VCCと接地間に直列接続された
抵抗14と15による分圧電圧をオフセット電圧(基準
電圧)VR として抵抗13を介して与えられるようにな
されている。
【0026】また、16及び17と18は上記ブリッジ
回路の歪ゲージ抵抗1と2の接続点(第1演算増幅器5
の非反転入力端子)と接地間、及び歪ゲージ抵抗3と4
の接続点(第2の演算増幅器6の非反転入力端子)と接
地間にそれぞれ接続された第1及び第2の定電流源とス
イッチで、スイッチ18を投入することにより、歪ゲー
ジ抵抗1に流れる電流を強制的に引き出し第1の定電流
源16を介して定電流I1 が接地端GNDに流れるよう
にすると共に、歪ゲージ抵抗3に流れる電流を引き出し
強制的に第2の定電流源17を介して定電流I2 が接地
端GNDに流れるようにして、第1及び第2の演算増幅
器5及び6の非反転入力端子の電位をそれぞれ下げるよ
うになされており、このとき、定電流I1 とI2 の値を
変えるように電流比を設定することにより、ブリッジ回
路に流れる電流のバランスをくずして、第1及び第2の
演算増幅器5及び6の非反転入力端子間に電位差を発生
させて疑似加速度が加わるようにしている。
【0027】ここで、第1の演算増幅器5の出力端子と
反転入力端子間に接続された帰還抵抗8の抵抗値は、非
反転入力端子側の入力インピーダンスと等しくするため
に、歪ゲージ抵抗1と2の合成並列抵抗値と等しい値に
設定され、また、第2の演算増幅器6の出力端子と反転
入力端子間に接続された帰還抵抗9の抵抗値は、非反転
入力端子側の入力インピーダンスと等しくするために、
歪ゲージ抵抗3と4の合成並列抵抗値と等しい値に設定
され、さらに、抵抗10と抵抗11、抵抗12と抵抗1
3は等しい抵抗値に設定されていて、第3の演算増幅器
7に対し、上記歪ゲージ抵抗素子のブリッジ回路の出力
インピーダンスが高くても、第3の演算増幅器7の入力
に低インピーダンスで出力を伝達して、その影響を受け
ずに正確に差動増幅器としての機能を果たすことができ
るようになされている。
【0028】従って、図1に示す構成においては、第1
の演算増幅器5の出力端子の電位をV1 、第2の演算増
幅器6の出力端子の電位をV2 、抵抗10及び12の抵
抗値をR10及びR12とすると、差動増幅器としての第3
の演算増幅器7の出力端子に発生する出力信号Vout
は、従来例と同様に、式(1)に示す値になり、加速度
に応じた出力が得られる。
【0029】また、ブリッジ回路の出力端子である歪ゲ
ージ抵抗1と2の接続点には第1の定電流源16及びス
イッチ18が接続されると共に、歪ゲージ抵抗3と4の
接続点には第2の定電流源17及びスイッチ18が接続
されており、外部から所定のタイミングでスイッチ18
がオンされることで、定電流I1 及びI2 が発生する。
ここで、例えば、定電流I1 とI2 の電流比を9:10
とすれば、基準電流値Iに対し、定電流I1 =9I、定
電流I2 =10Iとなり、スイッチ18をオンにする
と、ブリッジ回路のバランスがくずれ、第1と第2の演
算増幅器5と6の非反転入力端子間には、電位差△V=
−1/2(I×Rs)が発生し、あたかも加速度が加わ
ったように疑似加速度が発生することになる。
【0030】すなわち、図1において、従来例と同様
に、説明の便宜上、電源VCCの電源電圧をVCC、歪ゲー
ジ抵抗1と2の接続点での電位(第1の演算増幅器5の
非反転入力端子の電位)V0 とし、スイッチ18のオフ
時に電源VCCから歪ゲージ抵抗1と2を介して接地端G
NDに流れる電流をI0 としたとき、スイッチ18がオ
フの状態では、前述した式(2)及び(3)が成立す
る。他方、スイッチ18がオンの状態では、このとき、
歪ゲージ抵抗1と2の接続点での電位をV10′とする
と、前述した式(4)及び(5)と同様な式(7)及び
(8)が成立することになる。 VCC=(I0 +1/2・9I)×RS +(I0 −1/2・9I)×RS =I0 ×2RS (7) V10′=(I0 −1/2・9I)×RS =V0 −9/2・I×RS (8) 同様に、このとき、同様に、歪ゲージ抵抗3と4の接続
点での電位をV20′とすると、式(9)及び(10)が
成立することになる。 VCC=(I0 +1/2・10I)×RS +(I0 −1/2・10I)×RS =I0 ×2RS (9) V20′=(I0 −1/2・10I)×RS =V0 −5・I×RS (10)
【0031】従って、スイッチ18がオフの状態では、
第1の演算増幅器5の非反転入力端子は第2の演算増幅
器6の非反転入力端子の電位と等しいため、スイッチ1
8をオンすると、第1の演算増幅器5の非反転入力端子
と第2の演算増幅器6の非反転入力端子に電位差△V=
20′−V10′=−1/2(I×RS )が発生し、あた
かも加速度が加わったように疑似加速度が発生すること
になる。このとき、図1に示す抵抗12と10の抵抗比
をR12:R10=10:1とすると、第3の演算増幅器7
の出力Vout としては、式(6)と同様な信号が現れ
る。 Vout =−10×△V+VR =5・I・RS +VR このようにして、疑似加速度を発生することにより検出
装置を診断することができる。
【0032】図2は図1に示す回路図においてスイッチ
18を時刻tでオンしたときの正常時における各部電位
を示すもので、スイッチ18をオンしたとき、第1の演
算増幅器5の出力電位V1 は、式(8)からV0 の値を
引いた−9/2・I×RS の値を示し、同様に、第2の
演算増幅器6の出力電位V2 は、式(10)からV0
値を引いた−5・I×RS の値を示し、従って、第3の
演算増幅器7の出力電位Vout は、5・I・RS の値を
示すことになる。
【0033】他方、図3に示すように、スイッチ18を
時刻tでオンしても、加速度検出梁23の破損等により
第1の演算増幅器5が異常となり、その出力電位V1
ブリッジ回路の歪ゲージ抵抗1と2の接続点での電位V
0 に固定された場合には、この場合、第2の演算増幅器
6の出力電位V2 は、式(10)からV0 の値を引いた
−5・I×RS の値を示し、従って、第3の演算増幅器
7の出力電位Vout は、−50・I・RS の値を示すこ
とになる。
【0034】同様にして、図4に示すように、スイッチ
18を時刻tでオンしても、第2の演算増幅器6が異常
となり、その出力電位V2 がブリッジ回路の歪ゲージ抵
抗3と4の接続点での電位V0 に固定された場合には、
この場合、第1の演算増幅器5の出力電位V1 は、式
(8)からV0 の値を引いた−9/2・I×RS の値を
示し、従って、第3の演算増幅器7の出力電位Vout
は、45・I・RS の値を示すことになる。
【0035】また、図5に示すように、スイッチ18を
時刻tでオンしても、第1と第2の演算増幅器5と6が
ともに異常となり、それらの出力電位V1 とV2 がとも
に電位V0 に固定された場合には、この場合、第3の演
算増幅器7の出力電位Voutは、VR の値を示すことに
なる。
【0036】このように、出力増幅回路の正常時には、
第3の演算増幅器7の出力電位Vou t は、5・I・RS
の値を示すのに対し、加速度検出梁23の破損等によ
り、第1の演算増幅器5が異常となってその出力電位V
1 がV0 に固定となった場合には、第3の演算増幅器7
の出力電位Vout は−50・I・RS の値を示し、ま
た、第2の演算増幅器6の異常となってその出力電位V
2 がV0 に固定となった場合には、第3の演算増幅器7
の出力電位Vout は45・I・RS の値を示し、さら
に、第1と第2の演算増幅器5と6がともに異常となっ
てその出力電位V1 とV2 がともにV0 に固定となった
場合には、第3の演算増幅器7の出力電位Vou t はVR
の値を示すことになり、第3の演算増幅器7の出力電位
から、正常と異常の判別することができると共に、異常
時にはその異常部位をも特定して検出することができ
る。
【0037】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、歪ゲ
ージ抵抗で構成されるブリッジ回路の第1及び第2の出
力端子と接地との間にそれぞれスイッチを介して第1と
第2の定電流源を設けて、スイッチの投入時に上記ブリ
ッジ回路の第1及び第2の出力端子から異なる定電流値
を引き出すようにしたことにより、疑似加速度を付加し
て検出装置を診断する際に、出力増幅回路の正常と異常
の判別を行うことができる。
【0038】また、上記出力増幅回路を、上記ブリッジ
回路の第1と第2の出力端子にそれぞれ非反転入力端子
が接続されると共に出力端子と反転入力端子が帰還抵抗
を介して接続された第1と第2の演算増幅器と、この第
1と第2の演算増幅器の出力端子にそれぞれ抵抗を介し
て反転入力端子と非反転入力端子が接続されると共に出
力端子と反転入力端子が帰還抵抗を介して接続され、か
つ非反転入力端子に抵抗分圧によるオフセット電圧が与
えられる第3の演算増幅器とを備えて構成するようにし
たので、第1と第2の定電流源による定電流の比及び抵
抗比の設定によって出力増幅回路の異常時の異常部位の
検出を容易にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の一実施例に係る半導体加速度検出
装置の出力増幅回路部を示す回路図である。
【図2】 図1の出力増幅回路部が正常な場合の診断動
作を説明する各部電位変化図である。
【図3】 図1の第1の演算増幅器5が異常な場合の診
断動作を説明する各部電位変化図である。
【図4】 図1の第2の演算増幅器6が異常な場合の診
断動作を説明する各部電位変化図である。
【図5】 図1の第1と第2の演算増幅器5と6がとも
に異常な場合の診断動作を説明する各部電位変化図であ
る。
【図6】 半導体加速度検出装置を示す断面構造図であ
る。
【図7】 半導体加速度検出装置の従来の出力増幅回路
部を示す回路図である。
【図8】 図7の従来の半導体加速度検出装置の出力増
幅回路部が正常な場合の診断動作を説明する各部電位変
化図である。
【符号の説明】
1〜4 ブリッジ回路を構成する歪ゲージ抵抗、5 第
1の演算増幅器、6 第2の演算増幅器、7 第3の演
算増幅器、8〜15 抵抗、16 第1の定電流源、1
7 第2の定電流源、18 スイッチ。
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−107268(JP,A) 特開 平6−229778(JP,A) 特開 平5−249141(JP,A) 特開 平8−211098(JP,A) 実開 平5−4025(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01P 15/12 G01P 21/00 G01L 9/04

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体基板に半導体のピエゾ抵抗効果を
    利用した歪ゲージ抵抗を形成し、加速度検出時にその弾
    性変化に伴って発生する抵抗値変化を電気信号として出
    力する半導体加速度検出装置において、上記歪ゲージ抵
    抗のブリッジ回路と、上記ブリッジ回路の第1と第2の
    出力端子に入力端子が接続されて加速度に応じた出力を
    得るための出力増幅回路と、上記ブリッジ回路の第1及
    び第2の出力端子と接地との間にそれぞれスイッチを介
    して設けられてスイッチの投入時に上記ブリッジ回路の
    第1及び第2の出力端子から異なる定電流値を引き出す
    ための第1と第2の定電流源とを備えたことを特徴とす
    る半導体加速度検出装置。
  2. 【請求項2】 上記出力増幅回路は、上記ブリッジ回路
    の第1と第2の出力端子にそれぞれ非反転入力端子が接
    続されると共に出力端子と反転入力端子が帰還抵抗を介
    して接続された第1と第2の演算増幅器と、この第1と
    第2の演算増幅器の出力端子にそれぞれ抵抗を介して反
    転入力端子と非反転入力端子が接続されると共に出力端
    子と反転入力端子が帰還抵抗を介して接続され、かつ非
    反転入力端子に抵抗分圧によるオフセット電圧が与えら
    れる第3の演算増幅器とを備えたことを特徴とする請求
    項1記載の半導体加速度検出装置。
JP32317194A 1994-12-26 1994-12-26 半導体加速度検出装置 Expired - Fee Related JP3274034B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32317194A JP3274034B2 (ja) 1994-12-26 1994-12-26 半導体加速度検出装置
US08/507,161 US5612488A (en) 1994-12-26 1995-07-26 Semiconductor acceleration detecting device
DE19532764A DE19532764C2 (de) 1994-12-26 1995-09-05 Halbleiterbeschleunigungserfassungseinrichtung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32317194A JP3274034B2 (ja) 1994-12-26 1994-12-26 半導体加速度検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH08178951A JPH08178951A (ja) 1996-07-12
JP3274034B2 true JP3274034B2 (ja) 2002-04-15

Family

ID=18151876

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32317194A Expired - Fee Related JP3274034B2 (ja) 1994-12-26 1994-12-26 半導体加速度検出装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5612488A (ja)
JP (1) JP3274034B2 (ja)
DE (1) DE19532764C2 (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5863902A (en) * 1995-01-06 1999-01-26 Sibia Neurosciences, Inc. Methods of treating neurodegenerative disorders using protease inhibitors
EP0752593A3 (de) * 1995-07-07 1998-01-07 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur Früherkennung von Ausfällen bei Leistungshalbleitermodulen
IT1305490B1 (it) * 1998-06-26 2001-05-09 Braun Carex Spa B Dispositivo perfezionato per la misura di precisione di grandezze emetodo di verifica di buon funzionamento del dispositivo
US20030162733A1 (en) * 2000-11-27 2003-08-28 Haynes Joel R. Nucleic acid adjuvants
JP4515241B2 (ja) * 2004-12-16 2010-07-28 Okiセミコンダクタ株式会社 出力増幅回路及びそれを用いたセンサ装置
JP4749132B2 (ja) * 2005-11-21 2011-08-17 富士通セミコンダクター株式会社 センサ検出装置及びセンサ
JP5023917B2 (ja) * 2007-09-21 2012-09-12 株式会社デンソー センサ装置
US9157822B2 (en) * 2011-02-01 2015-10-13 Kulite Semiconductor Products, Inc. Electronic interface for LVDT-type pressure transducers using piezoresistive sensors
US9246486B2 (en) * 2011-12-16 2016-01-26 Apple Inc. Electronic device with noise-cancelling force sensor
CN102928160A (zh) * 2012-11-21 2013-02-13 昆山北极光电子科技有限公司 一种机械的动平衡测量方法
EP3080627B1 (en) * 2013-12-26 2020-10-14 Allegro MicroSystems, LLC Methods and apparatus for sensor diagnostics
CN105987691B (zh) * 2015-03-16 2021-02-05 精工爱普生株式会社 电路装置、物理量检测装置、电子设备以及移动体
US10527703B2 (en) 2015-12-16 2020-01-07 Allegro Microsystems, Llc Circuits and techniques for performing self-test diagnostics in a magnetic field sensor
US20210247213A1 (en) * 2020-02-11 2021-08-12 Allegro Microsystems, Llc Multi-channel quadrature signaling with current mode interface
CN113483754B (zh) * 2021-07-06 2023-02-03 重庆多融科技有限公司 一种惯导***用加速度计信号处理***及处理方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0830716B2 (ja) * 1990-11-30 1996-03-27 三菱電機株式会社 半導体加速度検出装置
JP3019550B2 (ja) * 1991-10-14 2000-03-13 日産自動車株式会社 半導体センサの自己診断回路

Also Published As

Publication number Publication date
US5612488A (en) 1997-03-18
DE19532764A1 (de) 1996-06-27
JPH08178951A (ja) 1996-07-12
DE19532764C2 (de) 1998-01-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3274034B2 (ja) 半導体加速度検出装置
US5460044A (en) Semiconductor acceleration detecting apparatus
JP2002311045A (ja) 加速度センサ
JPH05107268A (ja) 半導体センサの自己診断回路
US5415044A (en) Semiconductor acceleration sensor including means for detecting weight detachment
JPH0972805A (ja) 半導体センサ
JP3281217B2 (ja) 半導体式加速度センサと該センサのセンサ素子の特性評価方法
JP3335516B2 (ja) 半導体センサ
JP4379993B2 (ja) 圧力センサ
JP4514432B2 (ja) ホイートストーンブリッジ調整回路
US5343731A (en) Semiconductor accelerometer
JP4517490B2 (ja) センサ装置
JPH0694744A (ja) 半導体加速度検出装置
JPH08248060A (ja) 半導体加速度検出装置
US5614673A (en) Acceleration sensing device
JP4352555B2 (ja) 圧力センサ
JPH0830716B2 (ja) 半導体加速度検出装置
JPS61139758A (ja) 半導体加速度センサ
JPH02307064A (ja) 半導体式加速度検出装置
JPH09196967A (ja) 半導体力学量センサ
JPS63132171A (ja) 半導体式加速度検出装置
JPH0743381A (ja) 半導体加速度センサの故障診断回路
JP2636404B2 (ja) 半導体差圧測定装置
JPS63255664A (ja) 半導体センサ増幅回路
JP2531854Y2 (ja) 加速度センサ

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080201

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090201

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100201

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100201

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110201

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120201

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees