JP3266046B2 - 蛍光体の量子効率測定装置 - Google Patents
蛍光体の量子効率測定装置Info
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Description
ズマディスプレイなどに用いられる、蛍光体の量子効率
を測定する量子効率測定装置に関するものである。
光体やプラズマディスプレイ用蛍光体が到達し得る効率
の極限を知る尺度として極めて重要で、主として絶対値
測定法と相対値測定法の2種類の量子効率測定法が用い
られている。
れる励起光の光量子数(吸収光量子数)と、蛍光発光に
より得られる光量子数(蛍光光量子数)とを個別に測定
し、吸収光量子数と蛍光光量子数との比から量子効率を
求める方法である。
吸収光量子数を、以下の方法で求める。まず、単一波長
の励起光に対して、サーモパイルなどの熱形放射検出器
や絶対放射計を使って、蛍光体に照射される励起光の光
量子数(励起光量子数)を測定し、絶対反射率が既知
の、例えば硫酸バリウムなどを反射率標準として、蛍光
体から反射される反射光量子数(反射光量子数)を測定
し、先に求めた励起光量子数から反射光量子数を減算す
ることにより、吸収光量子数を求める。
分光器で測定し、その絶対量を前記熱形放射検出器や絶
対放射計の前面に、励起光のみを除去する光学フィルタ
を装着して求め、蛍光発光スペクトルと絶対量とからそ
の蛍光発光の光量子数(蛍光光量子数)を導き、先に求
めた吸収光量子数と、この蛍光光量子数との比から、蛍
光体の量子効率を求める方法である。
光光量子数がいずれも微弱であり、これをすべて取り込
むための積分球が必要となる。この対策として、励起光
用光源の光出力を高めたり、高感度の熱形放射検出器や
絶対放射計、分光器などを用いる必要があった。また、
積分球と反射率標準を使用するため、量子効率測定装置
の構成が複雑で、かつ精度を要した。
は先に、光量不足の一要因となる積分球や、吸収光量子
数を求める際に必要となる反射率標準を用いることな
く、蛍光体の量子効率測定ができる簡便な量子効率測定
方法を提案している(特願平8−301478号)。
効率測定方法、および測定装置の概要を示す。
域から真空紫外域における、特定波長λ1(以下、波長
λ1と呼ぶ)での蛍光体への励起光の光量子数(波長λ
1での励起光量子数)を測定し、次に、測定(2)とし
て特定波長λ2(以下、波長λ2と呼ぶ)での蛍光体へ
の励起光量子数(波長λ2での励起光量子数)を測定す
る。
から反射される反射光量子数(波長λ1での反射光量子
数)を測定し、測定(4)として波長λ2の蛍光体から
反射される反射光量子数(波長λ2での反射光量子数)
を測定する。
体から蛍光発光される蛍光光量子数(波長λ1での蛍光
光量子数)を測定し、測定(6)として波長λ2の蛍光
体から蛍光発光される蛍光光量子数(波長λ2での蛍光
光量子数)を測定する。
定で得られた各々の光量子数を演算し、最終的に、波長
λ1の励起光量子数,反射光量子数,蛍光光量子数か
ら、波長λ2おける蛍光体の量子効率を求める方法であ
る。
光体の量子効率を測定する場合、波長λ1と波長λ2の
切り替え時や、蛍光体と前記蛍光体への入射光量を測定
する受光器の切り替え時などにおいて、その都度、真空
雰囲気を形成するための真空チャンバの蓋を開閉する必
要があった。
応じて、繰り返して真空チャンバを大気雰囲気にした
り、真空雰囲気にするなど、何度も真空排気することに
なり、量子効率の測定時間がかかるばかりでなく、蛍光
体の励起用光源(紫外線発生用光源)の点滅回数が多く
なり、励起用光源への負担が大きくなるという課題があ
った。
定方法および装置において、測定方法を簡略化するとと
もに、測定時における真空雰囲気を形成する回数を低減
させ、かつ励起用光源の点滅回数を低減させることを目
的とする。
に、本発明の蛍光体の量子効率測定装置は、紫外域から
真空紫外域までの放射束を発生する光源と、前記光源か
らの放射束を、少なくとも2つ以上の波長域に分光する
ための分光手段と、前記分光手段により複数の波長域に
分光された第1の波長域おいて、前記第1の波長域での
放射束に対する吸収率と量子効率が既知で、複数の波長
域のうち前記第1の波長域とは別の分光された1つ以上
の測定波長域における量子効率を測定する被測定蛍光体
と、前記光源および前記分光手段から照射される放射束
をモニターし、前記被測定蛍光体と同一位置に交互に設
定されたモニター受光器と、前記被測定蛍光体と前記モ
ニター受光器とを測定条件に応じて、交互に切り替える
蛍光体切り替え手段と、前記被測定蛍光体の近傍でか
つ、前記光源および前記分光手段から前記被測定蛍光体
に対して照射される放射束を遮らない位置に配置され、
前記光源および前記分光手段から前記被測定蛍光体に照
射された放射束のうち、被測定蛍光体で反射された放射
束と、前記被測定蛍光体からの蛍光発光を受光する反射
光受光器と、前記被測定蛍光体の近傍に配置し、前記光
源および前記分光手段から照射された放射束により、被
測定蛍光体が蛍光発光し、その蛍光発光の発光スペクト
ルを分光測定する発光スペクトル測定手段と、前記光源
の出射側,分光手段,被測定蛍光体,モニター受光器,
蛍光体切り替え手段,反射光受光器,発光スペクトル測
定手段の入射側を同一の容器内に収容し、真空雰囲気に
するための真空容器と、前記真空容器内の雰囲気を真空
雰囲気に保つための真空排気手段と、前記光源の点灯用
制御および消灯用制御、前記分光手段の分光用制御、前
記蛍光体切り替え手段の駆動−停止用制御、前記真空排
気手段の駆動および停止用制御を含む機構手段を制御す
るとともに、前記モニター受光器や前記反射光受光器か
らの光電変換信号、前記発光スペクトル測定手段からの
分光データ信号から、量子効率を演算する演算制御手段
とから構成し、前記第1の波長域および前記1つ以上の
測定波長域において、前記モニター受光器から得られ
る、前記被測定蛍光体に入射する前記光源および前記分
光手段からの放射束の測定値と、前記反射光受光器から
得られる、前記被測定蛍光体からの反射光と蛍光発光の
測定値と、前記発光スペクトル測定手段から得られる、
前記被測定蛍光体からの蛍光発光の発光スペクトル値と
から、前記被測定蛍光体の量子効率を求めるようにした
ものである。
もに、前記分光手段を、少なくとも2つ以上の狭帯域透
過フィルタとし、これを相互に選択するようにしたもの
である。さらに、モニター受光器と、反射光受光器をシ
リコンホトダイオードとするとともに、前記反射光受光
器を2つの受光器とし、いずれかの一方の受光器の受光
面に、前記光源および前記分光手段から前記被測定蛍光
体に照射される放射束のうち、被測定蛍光体からの反射
光を遮光し、蛍光発光のみを透過させるバンドパスフィ
ルタとしたものである。
の波長域の発光スペクトルを同時に測定するポリクロメ
ータとしたものである。
る、複数の波長域の中心波長が、147nm,172n
m,185nm,254nmのいずれかの組み合わせと
したものである。
す光軸上に、前記光源からの放射束を照射または遮光さ
せるシャッタを配置したものである。
は、被測定蛍光体の周囲雰囲気を真空雰囲気にする工程
と、真空雰囲気としたあとで、前記第2の励起光を前記
被測定蛍光体に照射して、前記第2の励起光における前
記被測定蛍光体の発光スペクトル,反射光量と蛍光発光
量および、前記第2の励起光の紫外線量の測定を行う工
程と、前記第1の励起光における前記被測定蛍光体の発
光スペクトル,反射光量と蛍光発光量および、第1の励
起光の紫外線量の測定を行う工程と、前記各測定を行う
工程で得られたデータを演算して、前記被測定蛍光体の
前記第2の励起光での量子効率を算出する工程とを少な
くとも含み、前記測定を行う工程における測定開始から
終了までの間、1回の真空雰囲気を形成したままの状態
で測定を行うことを特徴とする。
て、図1を用いて説明する。図1は、紫外域から真空紫
外域における蛍光体の量子効率を測定するための、量子
効率測定装置の概要を示す構成図である。
までの放射束(以下励起光と呼ぶ)を発生する光源で、
好ましくは重水素ランプである。2は光源1を点灯する
光源用電源、3は光源1からの励起光を照射または遮断
させるシャッタ、4はシャッタ3を開閉させるシャッタ
駆動手段で、電磁ソレノイドである。5は光源1から照
射される励起光を集光するための集光手段で、サファイ
アレンズである。
分光するための分光手段で、複数の狭帯域透過フィルタ
7である。狭帯域透過フィルタ7は好ましくは金属多層
膜からなる干渉フィルタで、中心波長が147nm,1
72nm,185nm,254nmなどが用意されてい
る。8は分光手段6により、特定の波長域を選定するた
めに、狭帯域透過フィルタ7の中から、特定のフィルタ
を切り替えるフィルタ切り替え手段で、モータである。
された波長域の1つにおいて、その波長域での励起光に
対する吸収率と量子効率が既知で、複数の波長域のうち
前記既知の波長域とは別の波長域における量子効率を測
定するための被測定蛍光体、10は光源1からの励起光
をモニターするモニター受光器で、受光面の前面に波長
感度の依存性がないサリチル酸ナトリウムの膜を形成
(図示せず)したシリコンホトダイオードである。
0とを測定条件に応じて、交互に切り替える蛍光体切り
替え手段で回転機構からなる。被測定蛍光体9とモニタ
ー受光器10のいずれも、同一の蛍光体切り替え手段1
1にそれぞれ配置している。
るための回転駆動手段で、モータである。13aと13
bはいずれも被測定蛍光体9の近傍でかつ、光源1およ
び分光手段6から被測定蛍光体9に対して照射される励
起光を遮らない位置に配置され、光源1および分光手段
6から被測定蛍光体9に照射された励起光のうち、被測
定蛍光体9で反射された励起光と、被測定蛍光体9から
の蛍光発光を受光する反射光受光器で、いずれも受光面
の前面に波長感度の依存性がないサリチル酸ナトリウム
の膜を形成(図示せず)したシリコンホトダイオードで
ある。
れ、被測定蛍光体9からの反射光と蛍光発光のうち、反
射光(光源1からの励起光のうち、被測定蛍光体9によ
り反射される励起光)を遮光し、蛍光発光のみを選択透
過させる励起光カットフィルタで、バンドパスフィルタ
である。15aはモニター受光器10からの光電流を電
圧信号に変換する電圧変換手段、15bは反射光受光器
13aからの光電流を電圧信号に変換する電圧変換手
段、15cは反射光受光器13bからの光電流を電圧信
号に変換する電圧変換手段で、電圧変換手段15a,1
5b,15cはいずれもデジタルボルトメータである。
源1と集光手段5および分光手段6から照射された励起
光により、被測定蛍光体9が蛍光発光し、その蛍光発光
を後記の発光スペクトル測定手段17に導くための導光
手段で、光学ファイバーである。17は導光手段16を
介して被測定蛍光体9からの蛍光発光を分光測定するた
めの発光スペクトル測定手段で、ポリクロメータ(マル
チチャンネル分光器など)である。
手段5,分光手段6,被測定蛍光体9,モニター受光器
10,蛍光体切り替え手段11,反射光受光器13a,
13b、励起光カットフィルタ14,導光手段16の入
射側を真空雰囲気にするための真空容器で、真空チャン
バである。
0ー6Torr程度の真空に保つための真空排気手段で、
ロータリポンプとオイルディフュージョンポンプの組み
合わせである。
号、シャッタ駆動手段4の駆動−停止用制御信号、フィ
ルタ切り替え手段8の駆動−停止用制御信号、回転駆動
手段12の駆動−停止用制御信号、光電変換手段15
a,15b,15cからの電気信号、発光スペクトル測
定手段17からの分光データ信号、真空排気手段19の
駆動−停止用制御信号などを後記の演算制御手段21に
伝達するための信号伝達系(GP−IBバスなど)、2
1は前記各種の機構手段を制御し、電気信号や分光デー
タ信号から量子効率を演算させるための演算制御手段
で、コンピュータから構成される。
率測定装置について、以下、その動作を述べる。なお、
本実施の形態の説明では、一例として被測定蛍光体9の
波長254nmでの励起光に対する吸収率と量子効率が
既知で、波長147nmにおける蛍光体の量子効率を、
前記の量子効率測定装置を用いて測定する方法について
説明する。
開け、蛍光体切り替え手段11に、量子効率を測定しよ
うとする被測定蛍光体9を固定する。この被測定蛍光体
9は蛍光体切り替え手段11に着脱可能な蛍光体ホルダ
ー(図示せず)内に一定の圧力で押圧して充填されてお
り、被測定蛍光体9の押圧した蛍光体面と、光源1から
シャッタ3、集光手段5、分光手段6を介して被測定蛍
光体9に照射される励起光の光軸Aとのなす角度αは約
45゜に設定されている。
真空容器18の上蓋を閉じて、真空容器18が密閉され
た状態で、演算制御手段21であるコンピュータからの
指令により、真空排気手段19であるロータリポンプと
ディフュージョンポンプを稼働させ、真空容器18の雰
囲気(大気)を排気し、真空容器18内を10ー2〜10
ー6Torrの真空に保つように制御する。
からの指令により、光源用電源2を介して光源1を点灯
させ、約30分程度、励起光が安定するまで待つ。な
お、光源1から照射される励起光が安定するまでの間
は、シャッタ3はシャッタ駆動手段4である電磁ソレノ
イドを制御手段21からの指令により閉じており、集光
手段5側に励起光が照射されないようにしている。
であるサファイアレンズの出射側に設けた分光手段6で
ある、狭帯域透過フィルタ7のうち、波長147nmの
特定波長域を透過させるフィルタを、演算制御手段21
からの指令により、フィルタ切り替え手段8を介して選
定し、光軸A上に設定する。
mの特定波長域における被測定蛍光体9の発光スペクト
ルを測定する。
により、シャッタ駆動手段4を介して、シャッタ3を開
ける。この時、被測定蛍光体9には、光源1からの励起
光が集光手段5で集光され、分光手段6を介して狭帯域
透過フィルタ7により、147nmの特定波長光(14
7nm紫外光)として照射される。
照射されると可視光として蛍光発光し、この蛍光発光を
被測定蛍光体9の近傍に配置した導光手段16である光
学ファイバーに導き、発光スペクトル測定手段17であ
るポリクロメータにより、被測定蛍光体9の発光スペク
トルデータとして信号伝達系20を介して演算制御手段
21であるコンピュータに取り込む。なお、被測定蛍光
体9と導光手段16である光学ファイバーの入射側との
なす光軸Bは、光軸Aに対して角度βに設定しており、
具体的には角度βは約90゜である。
測定蛍光体9の、反射光量と蛍光発光量を測定する。
御手段21からの指令により、被測定蛍光体9の近傍に
設けた反射光受光器13aで、被測定蛍光体9からの蛍
光発光(可視光)と147nm紫外光の反射光を受光す
るとともに、反射光受光器13bと励起光カットフィル
タ14で、被測定蛍光体9からの蛍光発光(可視光)の
みを受光する。なお、被測定蛍光体9と反射光受光器1
3a,13b,励起光カットフィルタ14とのなす光軸
Cは、光軸Aに対して角度γに設定しており、具体的に
は角度γは約45゜である。
を、演算制御手段21からの指令により、電圧変換手段
15b,15cであるデジタルボルトメータで電圧信号
に変換し、信号伝達系20を介して反射光データおよび
蛍光発光データとして、演算制御手段21であるコンピ
ュータに取り込む。
測定蛍光体9に照射される、励起光の紫外線量を測定す
る。
により、蛍光体切り替え手段11である回転機構を、回
転駆動手段12であるモータにより回転駆動させ、蛍光
体切り替え手段11に配置した被測定蛍光体9に代えて
モニター受光器10を、光軸A上において光源1側に対
向させ、狭帯域透過フィルタ7により、147nm紫外
光となった励起光の直射光をモニター受光器10で受光
する。この時、モニター受光器10の受光面(図示せ
ず)は光軸Aに対して、法線(90゜)になるように配
置している。
制御手段21からの指令により、電圧変換手段15aで
あるデジタルボルトメータで電圧信号に変換し、信号伝
達系20を介して147nm紫外光の励起光データとし
て演算制御手段21であるコンピュータに取り込む。
域における被測定蛍光体9の発光スペクトル,反射光量
と蛍光発光量および、147nmの特定波長域における
被測定蛍光体9に照射される励起光の紫外線量の測定を
完了し、演算制御手段21からの指令により、シャッタ
駆動手段4を介して、シャッタ3を閉じる。
定蛍光体9の発光スペクトル,反射光量と蛍光発光量お
よび、254nmの特定波長域における被測定蛍光体9
に照射される励起光の紫外線量の測定を行う。
nmの特定波長域で行った測定方法および手順とほぼ同
様であり、以下にその概要を説明する。
タ7のうち、波長254nmの特定波長域を透過させる
フィルタを、演算制御手段21からの指令により、フィ
ルタ切り替え手段8を介して選定し、光軸A上に設定す
る。
定波長域における被測定蛍光体9の発光スペクトルを測
定する。
により、シャッタ駆動手段4を介して、蛍光体切り替え
手段11である回転機構を、回転駆動手段12であるモ
ータにより回転駆動させ、蛍光体切り替え手段11に配
置したモニター受光器10に代えて被測定蛍光体9を配
置した後、シャッタ3を開ける。
の励起光が集光手段5で集光され、分光手段6を介して
狭帯域透過フィルタ7により、254nmの特定波長光
(254nm紫外光)として照射される。この254n
m紫外光が被測定蛍光体9に照射されると可視光として
蛍光発光し、この蛍光発光を被測定蛍光体9の近傍に配
置した導光手段16である光学ファイバーに導き、発光
スペクトル測定手段17であるポリクロメータにより、
被測定蛍光体9の発光スペクトルデータとして信号伝達
系20を介して演算制御手段21であるコンピュータに
取り込む。
測定蛍光体9の、反射光量と蛍光発光量を測定する。
御手段21からの指令により、被測定蛍光体9の近傍に
設けた反射光受光器13aで、被測定蛍光体9からの蛍
光発光(可視光)と254nm紫外光の反射光を受光す
るとともに、反射光受光器13bと励起光カットフィル
タ14で、被測定蛍光体9からの蛍光発光(可視光)の
みを受光する。
を、演算制御手段21からの指令により、電圧変換手段
15b,15cであるデジタルボルトメータで電圧信号
に変換し、信号伝達系20を介して反射光データおよび
蛍光発光データとして演算制御手段21であるコンピュ
ータに取り込む。
測定蛍光体9に照射される、励起光の紫外線量を測定す
る。
により、蛍光体切り替え手段11である回転機構を、回
転駆動手段12であるモータにより回転駆動させ、蛍光
体切り替え手段11に配置した被測定蛍光体9に代えて
モニター受光器10を、光軸A上において光源1側に対
向させ、狭帯域透過フィルタ7により、254nm紫外
光となった励起光の直射光をモニター受光器10で受光
する。
制御手段21からの指令により、電圧変換手段15aで
あるデジタルボルトメータで電圧信号に変換し、信号伝
達系20を介して254nm紫外光の励起光データとし
て演算制御手段21であるコンピュータに取り込む。
域における被測定蛍光体9の発光スペクトル,反射光量
と蛍光発光量および、254nmの特定波長域における
被測定蛍光体9に照射される励起光の紫外線量の測定を
完了し、演算制御手段21からの指令により、シャッタ
駆動手段4を介して、シャッタ3を閉じる。
定装置の動作である。これらの動作を行った後、被測定
蛍光体9の147nm励起光における量子効率を求める
ため、演算制御手段21であるコンピュータにより、以
下の演算を行わせる。
定蛍光体9の発光スペクトルから求まる蛍光光量子数を
Rp147、254nm励起光における被測定蛍光体9の
発光スペクトルから求まる蛍光光量子数をRp254、両
者の比から求まる蛍光光量子数をRpとすると、Rpは
(数1)式より求まる。
光体9に照射される励起光の紫外線量から求まる励起光
量子数をRe147、254nm励起光における被測定蛍
光体9に照射される励起光の紫外線量から求まる励起光
量子数をRe254、両者の比から求まる励起光量子数を
Reとすると、Reは(数2)式より求まる。
光体への励起光の紫外線量、および反射光量と蛍光発光
量とから求まる吸収光量子数をε147、254nm励起
光における被測定蛍光体への励起光の紫外線量、および
反射光量と蛍光発光量とから求まる吸収光量子数をε25
4とし、被測定蛍光体9の254nm励起光における量
子効率η254(これは既知である)とすると、最終的に
求めようとする被測定蛍光体9の、147nm励起光に
おける量子効率η147は(数3)式より求めることがで
きる。
54nm励起光における量子効率が既知で、一例として
147nm励起光における量子効率を求めるものである
が、特定波長域(147nm)以外の量子効率を求める
場合においても、前記の動作および方法と同様にして求
めることができるものである。
法および装置において、最小1回の真空雰囲気の形成
で、すべての測定が行えるとともに、励起用光源も点灯
させたままで、量子効率の測定を行うことができるた
め、測定方法が簡略化されるとともに測定時間が短縮さ
れ、かつ励起用光源の点滅による負担が軽減できる。
ンプで構成した例で説明したが、重水素ランプ以外の光
源として、キセノンランプ、水銀ランプ、メタルハライ
ドランプなど紫外域から真空紫外域における励起光を発
生する光源であればよい。
過フィルタ7をフィルタ切り替え手段8で切り替えるこ
とにより、特定の波長域を選定したが、分光光度計(モ
ノクロメータなど)を用いたり、重水素ランプの代わり
に狭帯域発光が可能なエキシマランプなどを、特定の波
長域ごとに複数用いて、これを切り替えて特定の波長域
の放射束(励起光)を照射させてもよい。
イドを、またフィルタ切り替え手段8と回転駆動手段1
2にモータをそれぞれ用いて、切り替えや駆動を行った
が、これらに代えて、カムやレバー、回転軸などを組み
合わせて、真空容器18の外部より、手動により切り替
えや駆動を行ってもよい。
率の測定開始時から終了までの間、最小1回の真空雰囲
気を形成するのみでよく、何度も真空排気を行うことに
よる時間的なロスを低減することができる。
間、励起用光源を点灯させたままの状態で、量子効率の
測定を行うことができるため、励起用光源の数度の点滅
による励起光の光量不安定や、点滅による負担が軽減で
きる。
に、測定時間が短縮されるという顕著な効果が得られ
る。
定流れ図
Claims (9)
- 【請求項1】 紫外域から真空紫外域までの放射束を発
生する光源と、 前記光源からの放射束を、少なくとも2つ以上の波長域
に分光するための分光手段と、 前記分光手段により複数の波長域に分光された第1の波
長域において、前記第1の波長域での放射束に対する吸
収率と量子効率が既知で、複数の波長域のうち前記第1
の波長域とは別の分光された1つ以上の測定波長域にお
ける量子効率を測定する被測定蛍光体と、 前記光源および前記分光手段から照射される放射束をモ
ニターし、前記被測定蛍光体と同一位置に交互に設定さ
れたモニター受光器と、 前記被測定蛍光体と前記モニター受光器とを測定条件に
応じて、交互に切り替える蛍光体切り替え手段と、 前記被測定蛍光体の近傍でかつ、前記光源および前記分
光手段から前記被測定蛍光体に対して照射される放射束
を遮らない位置に配置され、前記光源および前記分光手
段から前記被測定蛍光体に照射された放射束の内、被測
定蛍光体で反射された放射束と前記被測定蛍光体からの
蛍光発光とを受光する反射光受光器と、前記被測定蛍光
体の近傍に配置し、前記光源および前記分光手段から照
射された放射束により、被測定蛍光体が蛍光発光し、そ
の蛍光発光の発光スペクトルを分光測定する発光スペク
トル測定手段と、 前記光源の出射側,分光手段,被測定蛍光体,モニター
受光器,蛍光体切り替え手段,反射光受光器,発光スペ
クトル測定手段の入射側を同一の容器内に収容し、真空
雰囲気にするための真空容器と、 前記真空容器内の雰囲気を真空雰囲気に保つための真空
排気手段と、 前記光源の点灯用制御および消灯用制御、前記分光手段
の分光用制御、前記蛍光体切り替え手段の駆動−停止用
制御、前記真空排気手段の駆動および停止用制御を含む
機構手段を制御するとともに、前記モニター受光器や前
記反射光受光器からの光電変換信号、前記発光スペクト
ル測定手段からの分光データ信号から、量子効率を演算
する演算制御手段とから構成し、前記第1の波長域および前記1つ以上の測定 波長域にお
いて、前記モニター受光器から得られる、前記被測定蛍
光体に入射する前記光源および前記分光手段からの放射
束の測定値と、前記反射光受光器から得られる、前記被
測定蛍光体からの反射光と蛍光発光の測定値と、前記発
光スペクトル測定手段から得られる、前記被測定蛍光体
からの蛍光発光の発光スペクトル値とから、前記被測定
蛍光体の量子効率を求めることを特徴とする蛍光体の量
子効率測定装置。 - 【請求項2】光源が重水素ランプであることを特徴とす
る請求項1記載の蛍光体の量子効率測定装置。 - 【請求項3】分光手段が、少なくとも2つ以上の狭帯域
透過フィルタであり、前記狭帯域透過フィルタを相互に
選択するように構成したことを特徴とする請求項1記載
の蛍光体の量子効率測定装置。 - 【請求項4】モニター受光器と、反射光受光器がシリコ
ンホトダイオードであることを特徴とする請求項1記載
の蛍光体の量子効率測定装置。 - 【請求項5】反射光受光器が2つの受光器からなり、い
ずれかの一方の受光器の受光面に、前記光源および前記
分光手段から前記被測定蛍光体に照射される放射束のう
ち、被測定蛍光体からの反射光を遮光し、蛍光発光のみ
を透過させるバンドパスフィルタ装着したことを特徴と
する請求項1記載の蛍光体の量子効率測定装置。 - 【請求項6】発光スペクトル測定手段が、複数の波長域
の発光スペクトルを同時に測定するポリクロメータであ
ることを特徴とする請求項1記載の蛍光体の量子効率測
定装置。 - 【請求項7】分光手段により選択分光される、複数の波
長域の中心波長が、147nm,172nm,185n
m,254nmのいずれかの組み合わせであることを特
徴とする請求項1または3記載の蛍光体の量子効率測定
装置。 - 【請求項8】光源と被測定蛍光体とのなす光軸上に、前
記光源からの放射束を照射または遮光させるシャッタを
配置したことを特徴とする請求項1記載の蛍光体の量子
効率測定装置。 - 【請求項9】第1の励起光と、前記第1の励起光とは異
なる第2の励起光とを用い、前記第2の励起光における
蛍光体の量子効率を測定する方法であって、 被測定蛍光体の周囲雰囲気を真空雰囲気にする工程と、 真空雰囲気としたあとで、前記第2の励起光を前記被測
定蛍光体に照射して、前記第2の励起光における被測定
蛍光体の発光スペクトル,反射光量と蛍光発光量およ
び、前記第2の励起光の紫外線量の測定を行う工程と、 前記第1の励起光における前記被測定蛍光体の発光スペ
クトル,反射光量と蛍光発光量および、第1の励起光の
紫外線量の測定を行う工程と、 前記各測定を行う工程で得られたデータを演算して、前
記被測定蛍光体の前記第2の励起光での量子効率を算出
する工程とを少なくとも含み、 前記測定を行う工程における測定開始から終了までの
間、1回の真空雰囲気を形成したままの状態で測定を行
うことを特徴とする蛍光体の量子効率測定方法。
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---|---|---|---|
JP10295897A JP3266046B2 (ja) | 1997-04-21 | 1997-04-21 | 蛍光体の量子効率測定装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP10295897A JP3266046B2 (ja) | 1997-04-21 | 1997-04-21 | 蛍光体の量子効率測定装置 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10293063A JPH10293063A (ja) | 1998-11-04 |
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ID=14341316
Family Applications (1)
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JP10295897A Expired - Lifetime JP3266046B2 (ja) | 1997-04-21 | 1997-04-21 | 蛍光体の量子効率測定装置 |
Country Status (1)
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-
1997
- 1997-04-21 JP JP10295897A patent/JP3266046B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (2)
Title |
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MOL.CRYST.LIQ.CRYST.,VOL.283(1996),p51−56 |
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