JP3251028B2 - マスタースライス型半導体集積回路およびその製造方法 - Google Patents

マスタースライス型半導体集積回路およびその製造方法

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JP3251028B2 JP06900391A JP6900391A JP3251028B2 JP 3251028 B2 JP3251028 B2 JP 3251028B2 JP 06900391 A JP06900391 A JP 06900391A JP 6900391 A JP6900391 A JP 6900391A JP 3251028 B2 JP3251028 B2 JP 3251028B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マスタースライス型半
導体集積回路に利用され、特に、ROM(リードオンリ
ーメモリ)およびRAM(ランダムアクセスメモリ)等
の大規模機能ブロック(以下、大規模マクロという。)
を内蔵したマスタースライス型半導体集積回路のマクロ
の構造およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の大規模マクロを内蔵したマスター
スライス型半導体集積回路は、図3に示すように、いく
つかのトランジスタおよび抵抗等の素子からなる内部基
本セル1を一方向に多数並べたセル列を複数個配置し、
ROM、RAMおよびALU等の大規模マクロ3、4お
よび5を、内部セルアレイに平行に配置し、さらに大規
模マクロ3、4および5ならびに内部セルアレイの周辺
をI/O(入出力回路)基本セル2よりなるセル列で取
り囲んだ構成となっていた。また、従来この種のマスタ
ースライス型半導体集積回路においては、その信号の流
れおよびCADによる自動配線における配線性を考慮
し、大規模マクロ3、4および5はI/O基本セル列に
隣接した位置に置かれていた。
【0003】このようなマスタースライス型半導体集積
回路においては、一般に外部からI/O基本セル2を介
して集積回路内部に取り込まれた信号は、内部基本セル
1より構成される内部マクロによって一度処理されその
結果がRAM等の大規模マクロ3、4および5に入力さ
れ、さらにRAMおよびROM等に格納されたデータが
その内部で加工されて最終的にI/O基本セル2を介し
て集積回路の外部へ取り出される場合がほとんどであ
る。
【0004】従って、図3のように、I/O基本セル2
の入出力端子6、7、8および9は、大規模マクロ3、
4および5とは接続されず、内部基本セル1で構成され
た内部マクロの入出力端子10、11、12および13と接続さ
れる。また、一般に、このようなROMおよびRAM等
の大規模マクロ3、4および5は、その構造が複雑であ
るためマクロ上を他の配線が自由に通過することはほと
んど不可能となっているため、I/O基本セル2と内部
基本セル1とを接続する配線は、図3のように大規模マ
クロ3、4および5同士のすきまでのみ行われていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】この従来のマスタース
ライス型半導体集積回路では、内蔵された大規模マクロ
上を他の配線が通過することが不可能であるため、I/
O基本セルと内部基本セルとを接続する配線はすべてこ
の大規模マクロを避けた形で行われなければならず、そ
の結果大規模マクロ間配線長の増大ひいては信号の伝搬
遅延時間の増大を招く欠点があった。
【0006】また、通常マスタースライス型半導体集積
回路において、このような大規模マクロ間の配線処理は
CADを用いた自動化がはかられているが、前述したよ
うな配線制限のために、配線性の低下つまり多数の未配
線が発生する欠点もあった。
【0007】本発明の目的は、前記の欠点を除去するこ
とにより、大規模マクロを挟む内部基本セル間およびま
たは外部基本セル間の配線の配線長の短縮化および配線
性の向上化を図った、マスタースライス型半導体集積回
およびその製造方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、複数の基本セ
ルがアレイ状に配置された基本セル群と、前記基本セル
とは異なる構造を有する大規模機能ブロックとを備えた
マスタースライス型半導体集積回路において、前記大規
模機能ブロックは、それぞれ異なる配線層に設けられ、
かつ、前記大規模ブロックを貫通する複数の横方向およ
び縦方向の配線パターンを有し、クロックドライバの出
力端子からの信号線は、前記横方向および縦方向の配線
パターンを用いて大規模機能ブロック内で短絡させるこ
とによりトリー構造に配線されたことを特徴としてい
る。
【0009】
【作用】大規模マクロは、そのマクロを構成するための
配線パターンとは電気的に絶縁され、かつその上下辺あ
るいは左右辺を貫通する1以上の貫通配線パターンを有
、かつこの配線の端子が設けられている。
【0010】従って、例えば、大規模マクロの上辺およ
び下辺上に配置された内部基本セル同士を接続するとき
には、大規模マクロ端部の配線端子と内部基本セルとを
接続することにより、その大規模マクロの上下辺を貫通
する貫通配線パターンを用いて配線することができ、配
線長の短縮化と配線性の向上とを図ることができる。
【0011】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0012】図1は本発明の第一実施例の要部を示す模
式的レイアウト図である。本第一実施例は、集積回路内
部にアレイ状に配置された、トランジスタおよび抵抗等
の素子からなる複数の内部基本セル1と、集積回路の内
外部の信号のインタフェースを行うため集積回路の周囲
をとり囲むように配置された複数のI/O(入出力)基
本セル2と、内部基本セル1とI/O基本セル2との間
に配置されたROMおよびRAM等の大規模マクロ3、
4および5とを備えたマスタースライス型半導体集積回
路において、本発明の特徴とするところの、大規模マク
ロ3、4および5は、それぞれその内部に、マクロを構
成するための配線とは完全に独立したマクロの上下辺間
ならびに左右辺間を貫通する形で配置された貫通配線パ
ターン16a 〜16d ならびに19a 〜19d を含んでいる。な
お、14a 〜14d 、15a 〜15d 、17a 〜17d ならびに18a
〜18d は、それぞれの配線パターンが他のマクロの入出
力端子と接続される接続用の端子である。また、6、7
および8はI/O基本セル2からなるI/Oマクロの入
出力端子であり、10〜13は内部基本セル1からなる内部
マクロの入出力端子である。本第一実施例では、端子6
は10と、7は11と、8は12と、9は13とそれぞれ互いに
接続される関係にある。
【0013】ここで、I/Oマクロの入出力端子6と内
部マクロの入出力端子10との接続は、大規模マクロ3の
中に設けられた貫通配線パターン16b を用いて行われ
る。つまり入出力端子6は端子14b と入出力端子10は端
子15b と接続することで、入出力端子6と10との間の接
続が完了する。同様に入出力端子7と11、入出力端子8
と12も、それぞれ貫通配線パターン16c と16d とを用い
て行われる。さらに入出力端子9と13は大規模マクロ3
に設けられた貫通配線パターン16a 〜16d とは異なる配
線層の貫通配線パターン19b を用いて接続される。
【0014】本第一実施例1において、大規模マクロ3
の大きさを縦2mm、横1mmとすると、大規模マクロ3の
ほぼ中央の位置に対応するI/O基本セル2から大規模
マクロ3を挟んでほぼ対称の位置の内部基本セル1へ配
線を行う場合、従来例のように大規模マクロ3を迂回し
て配線しなければならない場合その配線長は4mm+α
(αはI/O基本セル2から大規模マクロ3の近傍まで
の配線長および内部基本セル1から大規模マクロ3まで
の配線長)となるが、本第一実施例によれば、大規模マ
クロ3の中を配線が通るため配線長は2mm+αですみ、
配線長を大幅に短縮することができる。
【0015】図2は本発明の第二実施例の要部を示す模
式的レイアウト図で、大規模マクロ3、4および5が内
部基本セル1に挟まれた位置に配置された場合を示した
ものである。図2において、20はI/O基本セル2で構
成されたクロックドライバであり、大規模マクロ3、4
および5の上下に配置された内部基本セル1で構成され
た内部マクロのいくつかへ信号が供給される。クロック
ドライバ20の出力端子21は大規模マクロ3、4および5
に設けられた貫通配線パターン19b および16aを介して
内部マクロの入力端子24および25に接続される。ここ
で、大規模マクロ3、4および5の内部配線パターン16
a と19b とは第一実施例と異なりマクロ内部で短絡され
ており、クロック信号等のスキューが問題となるような
信号のラインの構成に有利となる。つまり本第二実施例
では、クロックドライバ20の出力端子21からの信号が大
規模マクロ3、4および5を迂回することなく、マクロ
内に設けられた配線パターンを用いることにより配線を
リー構造とすることが可能となる。
【0016】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、マスタ
ースライス型半導体集積回路に内蔵された大規模マクロ
にその上下辺および左右辺を貫通するマクロ内配線とは
完全に独立した配線パターンを設けたので、大規模マク
ロを挟むI/O基本セルと内部基本セルとを接続する配
線、ならびに大規模マクロを挟む内部基本セル間の配線
が大規模マクロを迂回することなく大規模マクロ内に設
けられた配線パターンを用いて行うことができるため、
CADシステムを用いた自動配線におけるマクロ間配線
長の短縮および配線性の大幅な向上が可能となる効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一実施例の要部を示す模式的レイア
ウト図。
【図2】本発明の第二実施例の要部を示す模式的レイア
ウト図。
【図3】従来例の要部を示す模式的レイアウト図。
【符号の説明】
1 内部基本セル 2 I/O基本セル 3〜5 大規模マクロ 6〜13 入出力端子 14a 〜14d 、15a 〜15d 、17a 〜17d 、18a 〜18d 、2
2、23 端子 16a 〜16d 、19a 〜19d 貫通配線パターン 20 クロックドライバ 21 出力端子 24、25 入力端子
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01L 27/088

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の基本セルがアレイ状に配置された
    基本セル群と、 前記基本セルとは異なる構造を有する大規模機能ブロッ
    クとを備えたマスタースライス型半導体集積回路におい
    て、前記大規模機能ブロックは、それぞれ異なる配線層に設
    けられ、かつ、前記大規模ブロックを貫通する複数の横
    方向および縦方向 の配線パターンを有し、 クロックドライバの出力端子からの信号線は、前記横方
    向および縦方向の配線パターンを用いて大規模機能ブロ
    ック内で短絡されることによりトリー構造に配線された
    ことを特徴とするマスタースライス型半導体集積回路。
  2. 【請求項2】 複数の基本セルがアレイ状に配置された
    基本セル群と、前記基本セルとは異なる構造を有する大
    規模機能ブロックとを備えたマスタースライス型半導体
    集積回路の製造方法において、 前記大規模機能ブロッ
    クの機能を実現するための配線パターンとは電気的に絶
    縁され、かつ大規模機能ブロックの上下辺あるいは左右
    辺を、それぞれ異なる配線層により縦、横に貫通する
    れぞれ複数本の配線パターンをあらかじめ配線しておく
    とともに、前記縦、横に貫通する配線パターンを大規模機能ブロッ
    ク内で短絡する工程を有すると共に、 前記大規模機能ブロック端部に接続端子を用意してお
    き、 前記接続端子と前記基本セル群とを自動配線し、
    スキューが問題となる信号配線に対して前記大規模機
    能ブロックの上下辺あるいは左右辺を貫通したトリー状
    自動配線を行うことを特徴とするマスタースライス型
    半導体集積回路の製造方法。
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