JP3235618B2 - 液晶表示パネルの製造方法 - Google Patents
液晶表示パネルの製造方法Info
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Description
製造方法及びその製造装置に関する。
0は複数の走査信号配線1aと映像信号配線2aの交差
する位置にある画素一つ一つの液晶セルに印加する電圧
を制御して画像表示をしているが、その製造工程ではダ
ストによるパターニング異常や静電気等による素子破壊
等様々な原因で不良が発生するため、製造課程で複数回
の検査を実施し、後工程への不良品の流出を防止してい
る。特に液晶セルを形成したパネル完成後の画像表示検
査は重要で、図5に示したように走査信号配線1aの駆
動用LSIを実装する電極1bの全数に検査用プローブ
電極1cを、映像信号配線2aの駆動用LSIを実装す
る電極2bの全数に検査用プローブ電極2cを、接触し
て液晶表示パネル検査用コントロール回路20からの信
号でそれぞれ走査信号配線駆動回路22と、映像信号配
線駆動回路21bを制御して液晶表示パネルを画像表示
し、その良否を判定している。こうして以降の液晶駆動
用LSI実装工程に不良パネルを流出しないことが、ロ
スコストの削減、生産性向上のため不可欠である。
位の向上のため高精細化して画素数が増加すればするほ
ど液晶駆動用LSIの実装電極間隔は狭まり、したがっ
て、検査用プローブ電極の接触間隔も狭まり、上記構成
のように映像信号配線や走査信号配線の一本一本にプロ
ーブ電極を接触することは、その作製費用が非常に高価
である。また、作製期間も長くなる上、プローブ電極の
接触の安定性やプローブ電極の保守がたいへん困難であ
る。特に、液晶駆動用LSIドライバーICを直接ガラ
ス基板上に実装するチップオングラス工法を用いた場合
は、電極パッドへの直接のコンタクトが不可能になって
くる。その中で特に映像信号配線は走査信号配線に比べ
本数が多く、製造時に不具合が生じ易い。
続することで、検査用プローブ電極および検査方法を簡
略化できるが、何らかの不具合原因で隣合う映像信号配
線の間または隣合う走査信号配線の間のショートが生じ
ると、液晶表示パネルの全面が表示異常の状態となり、
検査信号の入力による画像表示がショートのある映像信
号配線または走査信号配線に限定される液晶表示パネル
の表示異常として特定できなくなるという課題を有して
いた。そこで、上記ショートでも液晶表示パネルの全面
表示異常とならない液晶表示パネルの製造方法を提供す
ることを目的とする。
の製造方法は、液晶表示パネルに複数の映像信号配線と
複数の走査信号配線とを有し、上記走査信号配線の各々
は複数のグループに分けられ、記走査信号配線の各々に
接続される複数の共通バス配線を有する。
は映像信号配線の映像信号の入力用の電極を有し、上記
走査信号配線の各々の一端部は走査信号の入力用の電極
を有し、上記共通バス配線の各々と上記走査信号配線各
々の他端部とが同一グループごとに接続される抵抗を有
し、さらに上記共通バス配線の各々の一端部に電極パッ
ドを有し、上記映像信号の入力用の電極の各々と上記電
極パッド各々とに検査信号を入力させ液晶表示パネルに
画像表示させる。
走査信号配線のショートの時でも、上記検査信号の入力
による画像表示が上記ショートのある走査信号配線に限
定される液晶表示パネルの表示異常となる抵抗値であ
り、上記ショートで液晶表示パネルの全面表示異常とな
らない抵抗値であることを特徴とする。
その上限値が90KΩとしてもよい。
て、共通バス配線と抵抗の接続を開放状態としてもよ
い。
有する製造装置としてもよい。
のショートの時でも、検査信号の入力による画像表示が
ショートのある走査信号配線に限定される液晶表示パネ
ルの表示異常に特定でき、上記ショートでも液晶表示パ
ネルの全面表示異常とならない、ので液晶表示パネルの
画像表示の検査の際に走査信号配線の間のショートが有
っても不具合が生じることがないがなく、液晶表示パネ
ルの製造方法の品質向上ができる。
配線と複数の走査信号配線の少なくとも一方に接続する
共通バス配線を設け、この共通バス配線に検査用信号を
供給して液晶表示パネルの画像表示を制御する液晶表示
パネルの検査方法であり、共通バス配線を設けて検査用
信号を供給する。
接続する共通バス配線を設け、また、共通バス配線と、
複数の映像信号配線及び走査信号配線の少なくとも一方
との間に、電圧ドロップを制御する抵抗を接続し、共通
バス配線に検査用信号を供給して液晶表示パネルの画像
表示を制御することにより、線欠陥による、映像信号配
線の不良個所の特定ができる。
線と複数の走査信号配線の少なくとも一方に接続する共
通バス配線を設け、この共通バス配線に検査用信号を供
給して液晶表示パネルの検査をした後、共通バス配線と
映像信号配線や走査信号配線とを接続させている抵抗の
抵抗体を切断してする。共通バス配線と映像信号配線や
走査信号配線との接続を切断手段で切断して断ってい
る。抵抗の切断手段は、レ−ザ−光等を抵抗の抵抗体に
照射することで行う。
とによって切断して、共通バス配線と映像信号配線や走
査信号配線とを接続を断つようにしてもよい。基板(ガ
ラスパネル)の端部が切り離れるため、液晶パネルをよ
り小型にする場合に適している。
て説明する。図1は検査用液晶表示パネルの構成概略図
を示す。なお、図3に示した液晶表示パネルと、同一構
成部分には同一番号を付して詳細な説明を省略する。
ィブマトリクス駆動方式の液晶表示パネルを用いた場合
の例であり、一対のガラス基板間に液晶が封入され、ガ
ラス基板間の一方に備えた対向電極と、ガラス基板間の
他方に備えた複数の走査信号配線1a及び複数の映像信
号配線2aと、上記複数の走査信号配線1aと複数の映
像信号配線2aが交差する部分に設けた画素電極と、複
数の映像信号配線2aまたは複数の走査信号配線1aに
接続する共通バス配線3a、4a、5aとを備える。
1aを備えるガラス基板を説明すると、複数の映像信号
配線2aの駆動用LSIの実装するための電極と反対の
端にある共通バス配線3a、4a、5aはそれぞれが赤
(R)、緑(G)、青(B)の画素配列を持つ映像信号
配線2aと接続して形成する。すなわち、3本毎に共通
バス配線に映像信号配線2aを接続し、それぞれの共通
バス配線3a、4a、5aは検査用電極パッド3b、4
b、5bに接続している。このような構成により、各映
像信号配線2aの駆動用LSIの実装電極2bにブロー
ブを接続しなくても、各映像信号配線2aに接続した共
通バス配線3a、4a、5aと対局電極にブローブを接
続することにより画像検査が可能であるので、画像表示
の検査を容易に行うことができる。
図であり、これについて説明する。検査信号となす映像
信号R、G、Bを共通バス配線駆動回路21aで発生さ
せ、3本の検査用プローブ電極3c、4c、5cから入
力させ、検査信号となす走査信号を通常の画像表示の場
合と同様1本ずつ入力する。そして、対向電極にも検査
信号を入力して。通常の液晶駆動方法と同一の方法で
白、黒、R、G、Bのそれぞれの画像表示をし、画像異
常を検出し、良否判定検査を実施する。
完了後の時点であり、その後の工程で、最終検査前に図
1に示した画素領域11の外側で、映像信号配線2aを
これらと共通バス配線3a、4a、5aの間に設けた切
断部分6でレーザー光により切断することで1本1本の
映像信号配線2aが分離した最終の液晶表示パネルを形
成する。ここでは、レーザー光を用いて配線のみを切断
することにより簡素に液晶表示パネルを形成することが
できる。
ル工程完了後の検査以降なら、どの工程で実施してもよ
い。また、本実施例では1本の映像信号配線は同一の色
を表示する画素に接続するストライプ配列であるが、複
数の色の繰り返しとなるデルタ配列等においても同様の
構成で同様の画像表示が可能であることは言うまでもな
い。
はレーザー光を用いてあるが、バス配線位置をパネルシ
ール材の外側に配置することでガラス基板の割断等によ
る配線の切断および除去をしてもよい。このように、ガ
ラス割断を行うことにより、パネルの端部は削られるの
で、液晶表示パネルの小型化が図られる。このようにし
て、本発明はR、G、Bそれぞれの色の画素に接続する
映像信号配線2aを同一の共通バス配線3a、4a、5
aに接続することで、パネル工程完了後の検査は液晶表
示パネル8の検査を映像信号入力がR、G、Bの3入力
だけにすることができ、簡易な検査回路およびプローブ
での検査が可能となる。つまり、共通バス配線3a、4
a、5aの電極パッド3a、4a、5aにブローブ21
aを接続して液晶表示パネルを画像表示し、その良否を
判定することが可能である。
型用の検査用ブローブを開発する必要もなく、検査用プ
ローブの開発費用の削減、開発期間の短縮、プローブコ
ンタクトの安定性が確保でき、プローブの保守も容易に
なる。また、COG工法(チップ・オン・グラス工法)
になどの、液晶駆動用LSIチップをガラス基板上へ直
接実装する実装電極は、駆動用LSIチップと接続する
ためのLSI実装するための電極2bが密なため、特に
ブローブを接触させて、検査することは困難である。本
発明は、COG工法などで駆動用LSIチップが実装さ
れる液晶表示パネルの画素の検査に適していることはい
うまでもない。
a、4a、5aの切断を液晶表示パネルの製造工程の最
終検査直前に実施することで共通バス配線を静電気破壊
防止のショートリングとしても利用でき、静電気による
素子破壊を防止、歩留り向上を実現できる。
号配線と走査信号配線を形成する薄膜トランジスタ等を
利用したアクティブマトリクス駆動方式の液晶表示パネ
ルを用いる場合の説明であるが、これらの配線を別々の
ガラス基板に形成する単純マトリクス駆動方式の液晶表
示パネルにも同様に適用することができる。
様な方法で複数の映像信号配線または複数の走査信号配
線に接続する共通バス配線とを設ければ、共通バス配線
にブローブを接続をすることが容易となる。そして、映
像信号配線及び走査信号配線に検査信号を入力して検査
用液晶表示パネルを画像表示し、その良否を判定するこ
とが可能である。
を説明する。図3に示す液晶表示パネルは、図1に示し
た検査用液晶表示パネル8と基本的に同じ構成であるの
で、同一構成部分には同一番号を付して詳細な説明を省
略する。映像信号配線2aと共通バス配線間3a、4
a、5aに数KΩから数十KΩの抵抗7を有している。
抵抗7の抵抗値は、1Kから90KΩであるが、TFT
(薄膜トランジスタ)などを有するアクティブマトリク
ス型の液晶表示パネルの一部には、抵抗7の抵抗値が数
百KΩから数MΩと高い値の場合もある。
ターン異常等によるショート不良箇所30および31が
ある場合、前者は共通バス配線3aと4aのショートで
あり、検査用液晶表示パネル全面で表示異常が生じる
が、後者は映像信号配線2a間のショートであり、付加
抵抗7を介しての共通バス配線のショートであるため、
共通バス配線上付加の電圧ドロップが制限され液晶表示
パネル10の全面表示異常には至らず、ショート不良が
発生している映像信号配線1aに限定された表示異常が
起こる。
良箇所の特定ができる。そして、不良箇所のレーザーカ
ット等による液晶表示パネルの不具合箇所の手直し作業
が可能となる。
マトリクス駆動方式の液晶表示パネルにおいて、複数の
走査信号配線の駆動用LSIの実装電極の反対側に、複
数の走査信号配線に接続する共通バス配線を形成する。
そして、この共通バス配線に設けた電極パッドにブロー
ブを接続すれば、一本一本の走査信号配線に接続するブ
ローブを接続しなくても、各走査線信号配線に接続した
共通バス配線にブローブを接続することにより画像検査
が可能である。
合う映像信号配線の間または隣合う走査信号配線の間の
ショートの時でも、検査信号の入力による画像表示がシ
ョートのある映像信号配線または走査信号配線に限定さ
れる液晶表示パネルの表示異常に特定でき、上記ショー
トでも液晶表示パネルの全面表示異常とならない、ので
液晶表示パネルの画像表示の検査の際に映像信号配線の
間のショートが有っても不具合が生じることがない、と
いう顕著な作用効果を奏し、液晶表示パネルの製造方法
の品質向上が図れ、産業的価値が大きい。
図
路を示す図
を示す図
Claims (1)
- 【請求項1】 液晶表示パネルに複数の映像信号配線と
複数の走査信号配線とを有し、前記走査信号配線の各々
は複数のグループに分けられ、記走査信号配線の各々に
接続される複数の共通バス配線を有し、前記映像信号配
線の各々の一端部は映像信号配線の映像信号の入力用の
電極を有し、前記走査信号配線の各々の一端部は走査信
号の入力用の電極を有し、前記共通バス配線の各々と前
記走査信号配線各々の他端部とが同一グループごとに接
続される抵抗を有し、さらに前記共通バス配線の各々の
一端部に電極パッドを有し、前記映像信号の入力用の電
極の各々と前記電極パッド各々とに検査信号を入力させ
液晶表示パネルに画像表示させ、 前記抵抗の抵抗値は、隣合う前記走査信号配線のショー
トの時でも、前記検査信号の入力による画像表示が前記
ショートのある走査信号配線に限定される液晶表示パネ
ルの表示異常となる抵抗値であり、前記ショートで液晶
表示パネルの全面表示異常とならない抵抗値であること
を特徴とする液晶表示パネルの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000208113A JP3235618B2 (ja) | 1995-12-28 | 2000-07-10 | 液晶表示パネルの製造方法 |
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---|---|---|---|
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2000
- 2000-07-10 JP JP2000208113A patent/JP3235618B2/ja not_active Expired - Fee Related
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