JP3230393B2 - Inspection method of liquid crystal panel - Google Patents
Inspection method of liquid crystal panelInfo
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Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、例えば液晶セルをＸ−
Ｙマトリクス状に配置して画像の表示を行う液晶パネル
の検査方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention
The present invention relates to a method for inspecting a liquid crystal panel that displays images by arranging them in a Y matrix.
【０００２】[0002]
【従来の技術】例えば液晶を用いてテレビ画像を表示す
ることが提案（特開昭５９−２２０７０３号公報等参
照）されている。2. Description of the Related Art For example, it has been proposed to display a television image using a liquid crystal (see Japanese Patent Application Laid-Open No. 59-220703).
【０００３】すなわち図６は、液晶ディスプレイ装置を
構成する液晶表示パネルの構成を示す。この図６におい
て、１はテレビの映像信号が供給される入力端子であ
る。この入力端子１からの信号が、それぞれ例えばＮチ
ャンネルＦＥＴからなるスイッチング素子Ｍ1 、Ｍ2 ・
・・Ｍm を通じて垂直（Ｙ軸）方向の信号線Ｌ1 、Ｌ2
・・・Ｌm に供給される。なお、ｍは水平（Ｘ軸）方向
の画素数に相当する数である。FIG. 6 shows a configuration of a liquid crystal display panel constituting a liquid crystal display device. In FIG. 6, reference numeral 1 denotes an input terminal to which a video signal of a television is supplied. The signal from the input terminal 1 is applied to switching elements M 1 , M 2.
..Signal lines L 1 and L 2 in the vertical (Y-axis) direction through M m
It is supplied to the ··· L m. Note that m is a number corresponding to the number of pixels in the horizontal (X-axis) direction.
【０００４】さらに、ｍ段のシフトレジスタからなる水
平走査回路２が設けられる。この水平走査回路２には水
平周波数のｍ倍のクロック信号Φ1H, Φ2Hが供給され、
このクロック信号Φ1H, Φ2Hによって順次走査される駆
動パルス信号φH1, φH2・・・φHmが水平走査回路２の
各出力端子から取り出される。この駆動パルス信号φ H1
〜φHmがスイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm の各制御端子に供
給される。なお水平走査回路２には低電位（ＶSS）と高
電位（ＶDD）が供給され、この２つの電位の間で駆動パ
ルスが形成される。[0004] Further, water comprising m stages of shift registers
A flat scanning circuit 2 is provided. This horizontal scanning circuit 2 has water
Clock signal Φ that is m times the normal frequency1H, Φ2HIs supplied,
This clock signal Φ1H, Φ2HDrive sequentially scanned by
Dynamic pulse signal φH1, φH2... φHmIs the horizontal scanning circuit 2
It is taken out from each output terminal. This drive pulse signal φ H1
~ ΦHmIs the switching element M1~ MmTo each control terminal
Paid. The horizontal scanning circuit 2 has a low potential (VSS) And high
Potential (VDD) Is supplied, and the driving power is applied between these two potentials.
A loose is formed.
【０００５】また各信号線Ｌ1 〜Ｌm には、それぞれ例
えばＮチャンネルＦＥＴからなるスイッチング素子
Ｍ11、Ｍ21・・・Ｍn1、Ｍ12、Ｍ22・・・Ｍn2、・・・
Ｍ1m、Ｍ 2m・・・Ｍnmの一端が接続される。なおｎは水
平走査線数に相当する数である。このスイッチング素子
Ｍ11〜Ｍnmの他端が、それぞれ液晶セルＣ11、Ｃ21・・
・Ｃnmの画素電極に接続され、この液晶セルＣ11〜Ｃnm
の対抗電極が対抗電極端子３に接続される。またこれら
の液晶セルＣ11〜Ｃnmには、並列に電圧保持用の液晶セ
ルの一部を構成するコンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmが設けら
れる。Further, each signal line L1~ LmHas an example
For example, a switching element composed of an N-channel FET
M11, Mtwenty one... Mn1, M12, Mtwenty two... Mn2...
M1m, M 2m... MnmAre connected at one end. N is water
This is a number corresponding to the number of flat scanning lines. This switching element
M11~ MnmOf the liquid crystal cell C11, Ctwenty one・ ・
・ CnmOf the liquid crystal cell C11~ Cnm
Are connected to the counter electrode terminal 3. Also these
Liquid crystal cell C11~ CnmAre connected in parallel with a liquid crystal
Capacitor Cs that constitutes a part of the11~ CsnmProvided
It is.
【０００６】さらに、ｎ段のシフトレジスタからなる垂
直走査回路４が設けられる。この垂直走査回路４には水
平周波数のクロック信号Φ1V、Φ2Vが供給され、このク
ロック信号Φ1V、Φ2Vによって順次走査される駆動パル
ス信号φV1、φV2・・・φVnが垂直走査回路４の各出力
端子から取り出される。この駆動パルス信号φV1〜φ Vn
が水平（Ｘ軸）方向のゲート線Ｇ1 、Ｇ2 ・・・Ｇn を
通じてスイッチング素子Ｍ11〜ＭnmのＸ軸方向の各列
（Ｍ11〜Ｍ1m）、（Ｍ21〜Ｍ2m）・・・（Ｍn1〜Ｍnm）
ごとの制御端子にそれぞれ供給される。なお、垂直走査
回路４にも水平走査回路２と同様に低電位（ＶSS）と高
電位（ＶDD）が供給され、この２つの電位の間で駆動パ
ルスが形成される。Further, a vertical shift register comprising n stages of shift registers
A direct scanning circuit 4 is provided. This vertical scanning circuit 4 has water
Flat frequency clock signal Φ1V, Φ2VIs supplied and this
Lock signal Φ1V, Φ2VDriving pallet sequentially scanned by
Signal φV1, ΦV2... φVnAre the outputs of the vertical scanning circuit 4.
Removed from terminal. This drive pulse signal φV1~ Φ Vn
Is the gate line G in the horizontal (X-axis) direction1, GTwo... GnTo
Through the switching element M11~ MnmEach column in the X-axis direction
(M11~ M1m), (Mtwenty one~ M2m) ... (Mn1~ Mnm)
Are supplied to the respective control terminals. Note that vertical scanning
The circuit 4 also has a low potential (VSS) And high
Potential (VDD) Is supplied, and the driving power is applied between these two potentials.
A loose is formed.
【０００７】すなわちこの回路において、水平走査回路
２には図７のＡに示すようなクロック信号Φ1H、Φ2Hが
供給され、垂直走査回路４には図７のＢに示すようなク
ロック信号Φ1V、Φ2Vが供給される。そして水平走査回
路２からは図７のＣに示すように各画素期間ごとにφH1
〜φHmが出力され、垂直走査回路４からは図７のＤに示
すように１水平期間ごとにφV1〜φVnが出力される。さ
らに入力端子１には図７のＥに示すような映像信号が供
給される。That is, in this circuit, the horizontal scanning circuit 2 is supplied with clock signals Φ 1H and Φ 2H as shown in FIG. 7A, and the vertical scanning circuit 4 is supplied with a clock signal Φ as shown in FIG. 1V and Φ2V are supplied. Then, the horizontal scanning circuit 2 outputs φ H1 for each pixel period as shown in FIG.
To [phi] Hm is output from the vertical scanning circuit 4 is phi V1 to [phi] Vn for each horizontal period as shown in D of FIG. 7 is output. Further, the input terminal 1 is supplied with a video signal as shown in FIG.
【０００８】そしてφV1、φH1が出力されているとき
は、スイッチング素子Ｍ1 とＭ11〜Ｍ 1mがオンされ、入
力端子１→Ｍ1 →Ｌ1 →Ｍ11→Ｃ11//Ｃｓ11→対抗電極
端子３の電流路が形成される。これによって液晶セルＣ
11及びコンデンサＣｓ11に入力端子１に供給された映像
信号と対抗電極端子３に与えられる電位との電位差が供
給される。このためコンデンサＣｓ11に１番目の画素の
信号による電位差に相当する電荷がサンプルホールドさ
れ、この電荷量に対応して液晶セルＣ11の光透過率が変
化される。And φV1, ΦH1Is output
Is the switching element M1And M11~ M 1mIs turned on and
Force terminal 1 → M1→ L1→ M11→ C11// Cs11→ Counter electrode
A current path for terminal 3 is formed. Thereby, the liquid crystal cell C
11And capacitor Cs11Supplied to input terminal 1
The potential difference between the signal and the potential applied to the counter electrode terminal 3 is provided.
Paid. Therefore, the capacitor Cs11Of the first pixel
The charge corresponding to the potential difference due to the signal is sampled and held.
And the liquid crystal cell C corresponding to this charge amount.11The light transmittance of
Be transformed into
【０００９】これと同様のことが液晶セルＣ12〜Ｃnm及
びコンデンサＣｓ12〜Ｃｓnmについて、各画素ごとに順
次行われ、さらに次のフィールドの信号が供給された時
点で各コンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmにサンプルホールドさ
れた電荷量が書き換えられる。このようにして、映像信
号の各画素に対応して液晶セルＣ11〜Ｃnmの光透過率が
変化され、これが順次繰り返されてテレビ画像の表示が
行われる。The same operation is performed for each of the liquid crystal cells C 12 to C nm and the capacitors Cs 12 to Cs nm for each pixel. When the next field signal is supplied, the capacitors Cs 11 to Cs 11 to Cs 12 The charge amount sampled and held at Cs nm is rewritten. Thus, the liquid crystal cell C 11 -C nm light transmittance is changed corresponding to each pixel of the video signal, which displays the television image is repeated sequentially.
【００１０】さらに液晶で表示を行う場合には、一般に
その信頼性、寿命を長くするために交流駆動が用いられ
る。そこで例えばテレビ画像の表示においては、上述の
図７のＥに示すように、映像信号を対抗電極の電位に対
して１フィールドまたは１フレームごとに反転させた信
号を入力端子１に供給する。また液晶ディスプレイ装置
においては表示の垂直方向のシューティング等を防止す
る目的で信号を１水平期間ごとに反転することも行われ
ている。[0010] When a liquid crystal is used for display, an AC drive is generally used in order to prolong the reliability and life of the display. Thus, for example, in the display of a television image, a signal obtained by inverting the video signal with respect to the potential of the counter electrode every field or every frame is supplied to the input terminal 1 as shown in FIG. In a liquid crystal display device, a signal is also inverted every horizontal period in order to prevent shooting in a vertical direction of display.
【００１１】[0011]
【発明が解決しようとする課題】ところで上述のような
液晶表示パネルにおいて、各画素を構成するスイッチン
グ素子Ｍ11〜Ｍnmと液晶セルＣ11〜Ｃnmは、数万〜数十
万の素子が微細に配列されたものであり、製造時に欠陥
が発生する恐れを解消することは困難である。このた
め、製造時にこれらの画素の欠陥を検出して製品の品質
を管理する必要があるが、上述のように微細に配列され
た各画素の欠陥を目視等で検査することは、極めて困難
であった。[SUMMARY OF THE INVENTION Incidentally in the liquid crystal display panel as described above, the switching element M 11 ~M nm and the liquid crystal cell C 11 -C nm constituting each pixel, tens of thousands or hundreds of thousands of devices Since they are finely arranged, it is difficult to eliminate the risk of defects occurring during manufacturing. For this reason, it is necessary to detect the defects of these pixels at the time of manufacturing and control the quality of the product, but it is extremely difficult to visually inspect the defects of each pixel arranged finely as described above. there were.
【００１２】そこで液晶セルに液晶が注入される以前ま
たは注入された後の上述の液晶表示パネルに対して、入
力端子１に所定の検査信号を供給してスイッチング素子
Ｍ1〜Ｍm 及びＭ11〜Ｍnmを駆動し、コンデンサＣｓ11
〜Ｃｓnmに検査信号を書き込む。その後に再びスイッチ
ング素子Ｍ1 〜Ｍm 及びＭ11〜Ｍnmを駆動し、コンデン
サＣｓ11〜Ｃｓnmに書き込まれた検査信号を読み出す。
そしてこの読み出された信号の変動を検出して、各画素
の欠陥を検出する液晶パネルの検査方法が提案された。Therefore, a predetermined inspection signal is supplied to the input terminal 1 of the above-mentioned liquid crystal display panel before or after the liquid crystal is injected into the liquid crystal cell to switch the switching elements M 1 to M m and M 11. ~ M nm and the capacitor Cs 11
Write an inspection signal to ~ Cs nm . Then again drive the switching element M 1 ~M m and M 11 ~M nm, reading the test signals written in the capacitor Cs 11 ~Cs nm.
Then, there has been proposed a method of inspecting a liquid crystal panel which detects a change in the read signal and detects a defect of each pixel.
【００１３】ところがこのような方法を採用した場合
に、上述の液晶表示パネルでは、入力端子１から液晶セ
ルＣ11〜Ｃnm及びコンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmに到るまで
には、スイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm 、Ｍ11〜Ｍnmの容量
成分や信号線Ｌ1 〜Ｌm の配線容量等の容量成分が寄生
している。従ってコンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmに書き込ま
れた検査信号を入力端子１の側に読み出す際には、これ
らのスイッチング素子や信号線の寄生容量が読み出され
る信号に影響を与えることになる。However, when such a method is adopted, in the above-mentioned liquid crystal display panel, the switching element M 1 is required before the input terminal 1 reaches the liquid crystal cells C 11 to C nm and the capacitors Cs 11 to Cs nm. -M m , M 11 -M nm , and capacitance components such as the wiring capacitance of the signal lines L 1 -L m . Therefore, when reading out the inspection signal written in the capacitors Cs 11 to Cs nm to the input terminal 1 side, the parasitic capacitance of these switching elements and signal lines affects the signal to be read out.
【００１４】そしてこの場合に、これらの寄生容量はコ
ンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmに比べて値が大きく、さらに不
安定である。このため読み出される検査信号がこれらの
寄生容量の影響を受け易く、特にその値が不安定である
ことから、画素欠陥判定の誤差要因となるものであっ
た。In this case, the values of these parasitic capacitances are larger than those of the capacitors Cs 11 to Cs nm and are more unstable. For this reason, the inspection signal to be read is easily affected by the parasitic capacitance, and its value is particularly unstable, which causes an error factor in pixel defect determination.
【００１５】この出願はこのような点に鑑みてなされた
ものであって、解決しようとする問題点は、従来の方法
では、読み出される検査信号が液晶セルを構成する容量
成分以外の容量成分の影響を受け易く、画素欠陥判定の
誤差要因となるというものである。The present application has been made in view of such a point, and the problem to be solved is that, in the conventional method, the inspection signal to be read out has a capacitance component other than the capacitance component constituting the liquid crystal cell. This is liable to be affected and causes an error in pixel defect determination.
【００１６】[0016]
【課題を解決するための手段】本発明による第１の手段
は、垂直方向に平行に複数の垂直信号線Ｌ1 〜Ｌm と、
水平方向に平行に複数のゲート線Ｇ1 〜Ｇn とが配設さ
れ、これらの垂直信号線とゲート線との各交点にそれぞ
れ画素を構成する選択素子（スイッチング素子Ｍ11〜Ｍ
nm）と液晶セルＣ11〜Ｃnmが設けられて成り、映像信号
が水平走査手段（水平走査回路２及びスイッチング素子
Ｍ1 〜Ｍm ）を介して上記垂直信号線に供給され、駆動
信号（垂直走査回路４）が上記ゲート線を介して上記選
択素子に供給されるようにした液晶パネルに対して、上
記液晶セルに液晶が注入される以前または注入された後
に、所定の検査信号を供給して上記水平走査手段及び上
記選択素子を駆動し、上記液晶セルを構成する容量成分
（コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ nm）に上記検査信号を書き込
み、その後に上記水平走査手段及び上記選択素子を駆動
し、上記液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた上
記検査信号を読み出して、上記画素の欠陥を検出するよ
うにした液晶パネルの検査方法において、上記所定の検
査信号を供給して上記水平走査手段及び上記選択素子を
駆動し、上記液晶セルを構成する容量成分に上記検査信
号を書き込んだ後に、上記水平走査手段を駆動すると共
に、上記選択素子への上記駆動信号の供給を遮断して上
記選択素子の駆動を停止させて、上記液晶セルを構成す
る容量成分以外の配線及び回路素子の容量成分に書き込
まれた上記検査信号を読み出す期間を設け、その後に上
記水平走査手段及び上記選択素子を駆動し、上記液晶セ
ルを構成する容量成分に書き込まれた上記検査信号を読
み出して、上記画素の欠陥を検出するようにした液晶パ
ネルの検査方法である。Means for Solving the Problems First means according to the present invention
Represents a plurality of vertical signal lines L parallel to the vertical direction.1~ LmWhen,
A plurality of gate lines G parallel to the horizontal direction1~ GnAnd is arranged
At the intersections of these vertical signal lines and gate lines.
Selection element (switching element M11~ M
nm) And liquid crystal cell C11~ CnmIs provided, and the video signal
Are horizontal scanning means (horizontal scanning circuit 2 and switching element
M1~ Mm) Is supplied to the vertical signal line via
The signal (vertical scanning circuit 4) is transmitted through the gate line to the selection.
LCD panel that is supplied to the selection element
Before or after liquid crystal is injected into the liquid crystal cell
A predetermined inspection signal to supply the horizontal scanning means and
A capacitance component that drives the selection element and composes the liquid crystal cell.
(Capacitor Cs11~ Cs nmWrite the inspection signal above
And then drive the horizontal scanning means and the selection element
Then, after being written in the capacitance component constituting the liquid crystal cell,
The inspection signal is read to detect a defect of the pixel.
In the inspection method for a liquid crystal panel, the predetermined inspection is performed.
To supply the scanning signal to the horizontal scanning means and the selection element.
The test signal is supplied to the capacitance component constituting the liquid crystal cell by driving.
After writing the signal, drive the horizontal scanning means.
In addition, the supply of the drive signal to the selection element is interrupted.
The driving of the selection element is stopped to configure the liquid crystal cell.
To the wiring and circuit element capacitance components other than the
A period for reading out the inspection signal is provided.
The horizontal scanning means and the selection element are driven to drive the liquid crystal cell.
Read the inspection signal written to the capacitance component that composes the
Liquid crystal panel which detects the defect of the pixel
This is the inspection method of the flannel.
【００１７】本発明による第２の手段は、第１の手段記
載の液晶パネルの検査方法において、上記画素の欠陥の
検出される液晶パネルには、上記液晶セルを構成する容
量成分に書き込まれた上記検査信号を読み出す手段（切
替えスイッチ１１、Ｉ／Ｖアンプ１２）と、上記選択素
子への上記駆動信号の供給を遮断する手段（アンド回路
Ａ1 〜Ａn 、イネーブル端子５）とを有するようにした
液晶パネルの検査方法である。According to a second aspect of the present invention, in the method of inspecting a liquid crystal panel according to the first aspect, the liquid crystal panel on which the pixel defect is detected is written with a capacitance component constituting the liquid crystal cell. Means for reading the inspection signal (switch 11, I / V amplifier 12) and means for interrupting the supply of the drive signal to the selected element (AND circuits A 1 -A n , enable terminal 5) This is a method for inspecting a liquid crystal panel.
【００１８】本発明による第３の手段は、第１の手段記
載の液晶パネルの検査方法において、上記検査信号の上
記液晶セルを構成する容量成分への書き込み、上記液晶
セルを構成する容量成分以外の配線及び回路素子の容量
成分に書き込まれた上記検査信号の読み出し、その後の
上記液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた上記検
査信号の読み出しは、水平期間ごとに順次に行うか、垂
直期間ごとに行われるようにした液晶パネルの検査方法
である。According to a third aspect of the present invention, in the method for inspecting a liquid crystal panel according to the first aspect, the inspection signal is written into a capacitance component constituting the liquid crystal cell, and the test signal is written to a capacitor other than the capacitance component constituting the liquid crystal cell. The reading of the inspection signal written in the capacitance component of the wiring and the circuit element, and the subsequent reading of the inspection signal written in the capacitance component forming the liquid crystal cell are sequentially performed every horizontal period or performed in the vertical period. This is a method of inspecting a liquid crystal panel to be performed every time.
【００１９】[0019]
【作用】これによれば、液晶セルを構成する容量成分に
検査信号を書き込んだ後に、選択素子を遮断して液晶セ
ルを構成する容量成分以外の配線及び回路素子の容量成
分に書き込まれた検査信号を読み出す期間を設け、その
後に液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた検査信
号を読み出して画素の欠陥を検出するようにしたので、
読み出される検査信号への液晶セルを構成する容量成分
以外の容量成分の影響を少なくして、良好な画素欠陥判
定を行うことができる。According to this, after the test signal is written to the capacitance component forming the liquid crystal cell, the selection element is cut off and the test written to the wiring components other than the capacitance component forming the liquid crystal cell and the capacitance component of the circuit element is performed. Since a signal reading period is provided, and then a test signal written to a capacitance component constituting a liquid crystal cell is read to detect a pixel defect,
Good pixel defect determination can be performed by reducing the influence of a capacitance component other than the capacitance component constituting the liquid crystal cell on the inspection signal to be read.
【００２０】[0020]
【実施例】図１において、１０は本発明の適用された液
晶表示パネルを示す。なお図１において、上述の図６と
対応する部分には同一の符号を付して詳細な説明は省略
する。この液晶表示パネル１０に対して、検査装置２０
からの検査信号の出力が切替えスイッチ１１の一方の固
定接点ａを介して入力端子１に接続される。また、切替
えスイッチ１１の他方の固定接点ｂがＩ／Ｖアンプ１２
を介して検査装置２０の検査入力に接続される。さらに
検査装置２０の制御出力が切替えスイッチ１１の制御端
子に接続される。1 shows a liquid crystal display panel 10 to which the present invention is applied. In FIG. 1, portions corresponding to those in FIG. 6 described above are denoted by the same reference numerals, and detailed description is omitted. An inspection device 20 is provided for the liquid crystal display panel 10.
Is output to the input terminal 1 via one fixed contact a of the changeover switch 11. The other fixed contact b of the changeover switch 11 is connected to the I / V amplifier 12
Is connected to the inspection input of the inspection device 20 via the. Further, the control output of the inspection device 20 is connected to the control terminal of the changeover switch 11.
【００２１】また、この液晶表示パネル１０において、
垂直走査回路４からのゲート線Ｇ1〜Ｇn にそれぞれア
ンド回路Ａ1 〜Ａn が設けられる。さらにこれらのアン
ド回路Ａ1 〜Ａn がイネーブル端子５に接続され、この
イネーブル端子５が検査装置２０に接続される。さらに
検査装置２０からのクロック信号Φ1H、Φ2H、Φ1V、Φ
2V等の制御信号が液晶表示パネル１０に供給される。In the liquid crystal display panel 10,
AND circuits A 1 to An are provided for gate lines G 1 to G n from the vertical scanning circuit 4, respectively. Further, these AND circuits A 1 to An are connected to the enable terminal 5, and the enable terminal 5 is connected to the inspection device 20. Further, clock signals Φ 1H , Φ 2H , Φ 1V , Φ 1
A control signal such as 2 V is supplied to the liquid crystal display panel 10.
【００２２】そしてこの液晶表示パネル１０に対して、
例えば水平走査回路２には通常と同じクロック信号
Φ1H、Φ2Hが供給されると共に、垂直走査回路４には、
通常の３倍の周期とされたクロック信号Φ1V、Φ2Vが供
給される。これによって垂直走査回路４からは、例えば
図２のＡに示すような駆動パルス信号φV1が取り出さ
れ、一方、水平走査回路２からは、例えば図２のＢに示
すような駆動パルス信号φ1H〜φHmが取り出される。す
なわち１つの駆動パルス信号φV1の期間に、駆動パルス
信号φ1H〜φHmが３回繰り返して取り出される。Then, for this liquid crystal display panel 10,
For example, the horizontal scanning circuit 2 is supplied with the same clock signals Φ 1H and Φ 2H as usual, and the vertical scanning circuit 4
Clock signals Φ 1V and Φ 2V having a period three times the normal period are supplied. Thus, a driving pulse signal φ V1 as shown in FIG. 2A is extracted from the vertical scanning circuit 4, while a driving pulse signal φ 1H as shown in FIG. ~φ Hm is taken out. That is, the drive pulse signals φ 1H to φ Hm are repeatedly extracted three times during one drive pulse signal φ V1 .
【００２３】さらに、上述の切替えスイッチ１１が図２
のＣに示すような検査装置２０からの制御信号によっ
て、駆動パルス信号φV1の最初の１回の駆動パルス信号
φ1H〜φHmの繰り返しの期間に検査装置２０からの検査
信号の出力側とされ、残りの２回の期間に検査入力側に
される。また、検査装置２０からの図２のＤに示すよう
なイネーブル信号がイネーブル端子５に供給される。す
なわちこのイネーブル端子５には、駆動パルス信号φV1
の中央の駆動パルス信号φ1H〜φHmの繰り返しの期間に
低電位となるイネーブル信号が供給される。Further, the above-mentioned changeover switch 11 is arranged as shown in FIG.
3C, the output side of the inspection signal from the inspection apparatus 20 during the first one repetition of the driving pulse signal φ 1H to φ Hm of the driving pulse signal φ V1. The test input is made during the remaining two periods. An enable signal as shown in FIG. 2D from the inspection device 20 is supplied to the enable terminal 5. That is, the enable terminal 5 has a drive pulse signal φ V1
During the repetition of the central drive pulse signals φ 1H to φ Hm , an enable signal which becomes a low potential is supplied.
【００２４】これによって、上述の液晶表示パネル１０
に対して、駆動パルス信号φV1の中の最初の駆動パルス
信号φ1H〜φHmの期間に、検査装置２０からの検査信号
が切替えスイッチ１１の固定接点ａを介して入力端子１
に供給される。そしてこの入力端子１に供給された検査
信号がスイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm を通じて信号線Ｌ 1
〜Ｌm に供給され、対応するスイッチング素子Ｍ11〜Ｍ
1mを通じてコンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1mに書き込まれる。
それと共にこの検査信号は、スイッチング素子Ｍ1 〜Ｍ
m 、Ｍ11〜Ｍnmの容量成分や信号線Ｌ1 〜Ｌm の配線容
量等のコンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1m以外の配線及び回路素
子の寄生容量成分にも書き込まれるThus, the above-described liquid crystal display panel 10
For the drive pulse signal φV1First drive pulse in
Signal φ1H~ ΦHmDuring the period of the inspection signal
Is the input terminal 1 via the fixed contact a of the changeover switch 11.
Supplied to And the inspection supplied to this input terminal 1
Signal is switching element M1~ MmThrough the signal line L 1
~ LmAnd the corresponding switching element M11~ M
1mThrough the capacitor Cs11~ Cs1mIs written to.
At the same time, this test signal1~ M
m, M11~ MnmAnd the signal line L1~ LmWiring volume
Amount of capacitor Cs11~ Cs1mWiring and circuit elements other than
Also written to the parasitic capacitance component of the child
【００２５】次に駆動パルス信号φV1の中の２番目の駆
動パルス信号φ1H〜φHmの期間に、スイッチング素子Ｍ
11〜Ｍnmがオフされた状態でスイッチング素子Ｍ1 〜Ｍ
m が順次オンされる。これによって上述のコンデンサＣ
ｓ11〜Ｃｓ1m以外の配線及び回路素子の寄生容量成分
が、切替えスイッチ１１の固定接点ｂを介してＩ／Ｖア
ンプ１２に接続される。そしてこのＩ／Ｖアンプ１２で
信号の読み出し動作が行われることによって、これらの
コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1m以外の配線及び回路素子の寄
生容量成分の電位レベルがＩ／Ｖアンプ１２の読み出し
レベルとなり、検査信号の成分が除去される。Next, during the period of the second drive pulse signal φ 1H to φ Hm in the drive pulse signal φ V1 , the switching element M
11 a switching element in a state where ~M nm is turned off M 1 ~M
m is sequentially turned on. Thereby, the above-mentioned capacitor C
Parasitic capacitance components of wiring and circuit elements other than s 11 to Cs 1m are connected to the I / V amplifier 12 via the fixed contact b of the changeover switch 11. And by the signal reading operation is performed in the I / V amplifier 12, the potential level of the parasitic capacitance component of the wiring and circuit elements other than these capacitors Cs 11 to CS 1 m becomes the read level of the I / V amplifier 12, The components of the test signal are removed.
【００２６】そして駆動パルス信号φV1の中の最後の駆
動パルス信号φ1H〜φHmの期間に、再びスイッチング素
子Ｍ11〜Ｍ1mがオンされると、コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ
1mに書き込まれた検査信号がスイッチング素子Ｍ11〜Ｍ
1mを通じて信号線Ｌ1 〜Ｌmに取り出され、スイッチン
グ素子Ｍ1 〜Ｍm を通じて入力端子１の側に取り出され
る。そしてこの取り出された信号が、切替えスイッチ１
１の固定接点ｂを介してＩ／Ｖアンプ１２に供給され、
このＩ／Ｖアンプ１２を通じて検査装置２０の検査入力
に供給される。[0026] Finally the drive pulse signal phi period IH to [phi] Hm in the driving pulse signal phi V1, when it is turned on again the switching element M 11 ~M 1m, capacitor Cs 11 to CS
Test signal written to 1m switching element M 11 ~M
The signals are taken out to signal lines L 1 to L m through 1 m and taken out to the input terminal 1 side through switching elements M 1 to M m . The extracted signal is supplied to the changeover switch 1
Supplied to the I / V amplifier 12 via one fixed contact b,
The signal is supplied to the inspection input of the inspection device 20 through the I / V amplifier 12.
【００２７】従ってこの装置において、上述の２番目の
駆動パルス信号φ1H〜φHmの期間に、コンデンサＣｓ11
〜Ｃｓ1m以外の配線及び回路素子の寄生容量成分の電位
レベルがＩ／Ｖアンプ１２の読み出しレベルにされる。
これによって最後の駆動パルス信号φ1H〜φHmの期間に
は、コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1mに書き込まれた検査信号
がスイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm 、Ｍ11〜Ｍnmの容量成分
や信号線Ｌ1 〜Ｌm の配線容量等の寄生容量成分の影響
を受けること無く入力端子１の側に取り出され、この取
り出された信号が検査装置２０の検査入力に供給され
る。Therefore, in this device, during the period of the second drive pulse signal φ 1H to φ Hm , the capacitor Cs 11
The potential levels of the parasitic capacitance components of the wirings and circuit elements other than Cs 1m are set to the read level of the I / V amplifier 12.
As a result, during the period of the last drive pulse signals φ 1H to φ Hm , the inspection signal written to the capacitors Cs 11 to Cs 1m includes the capacitance components of the switching elements M 1 to M m , M 11 to M nm and the signal line L. retrieved 1 ~L side without input terminal 1 to receive the influence of the parasitic capacitance component of the wiring capacitance of m, the extracted signal is supplied to the test patterns of the test device 20.
【００２８】すなわち従来の検査方法では、図３に示す
ように入力端子１に供給された検査信号がコンデンサＣ
ｓ11〜Ｃｓ1mに書き込まれた直後に、コンデンサＣｓ11
〜Ｃｓ1mに書き込まれた検査信号の読み出しが行われて
いた。この場合に、読み出される検査信号には、例えば
図４のＡに網点で示すような、コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ
1m以外の配線及び回路素子の寄生容量成分による影響が
発生していた。That is, in the conventional test method, as shown in FIG.
s 11 immediately written to to CS 1 m, the capacitor Cs 11
Inspection of the inspection signal written to Cs 1m was performed. In this case, the read inspection signals include capacitors Cs 11 to Cs 11 , for example, as shown by halftone dots in FIG.
The influence by the parasitic capacitance component of the wiring and circuit element other than 1 m occurred.
【００２９】これに対して本願の発明では、上述のよう
に検査信号がコンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1mに書き込まれた
後にスイッチング素子Ｍ11〜Ｍnmがオフされた状態で、
スイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm 、Ｍ11〜Ｍnmの容量成分や
信号線Ｌ1 〜Ｌm の配線容量等の寄生容量成分に書き込
まれた検査信号を読み出す期間を設ける。これによって
最後の期間に読み出される検査信号から、例えば図４の
Ｂに示すようにコンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1m以外の配線及
び回路素子の寄生容量成分による影響が除去される。[0029] In the present invention the contrary, in a state where the switching element M 11 ~M nm is turned off after the test signal as described above is written in the capacitor Cs 11 to CS 1 m,
A period is provided for reading out a test signal written in a parasitic capacitance component such as a capacitance component of the switching elements M 1 to M m and M 11 to M nm and a wiring capacitance of the signal lines L 1 to L m . Thus the test signal to be read at the end of the period, for example, influence of parasitic capacitance components of the wiring and circuit elements other than capacitors Cs 11 to CS 1 m as shown in B of FIG. 4 is removed.
【００３０】従ってこのように液晶セルを構成する容量
成分以外の配線及び回路素子の寄生容量成分による影響
が除去されることによって、例えば図４のＢ中のａに示
すように、欠陥部分の信号の変動が明瞭になる。そして
このような検査信号を用いることによって、良好な画素
欠陥判定を行うことができるようになる。Accordingly, by removing the influence of the parasitic capacitance component of the wiring and circuit elements other than the capacitance component constituting the liquid crystal cell, as shown in a of FIG. Fluctuation becomes clear. By using such an inspection signal, it becomes possible to perform a good pixel defect determination.
【００３１】こうして上述の方法によれば、液晶セルを
構成する容量成分に検査信号を書き込んだ後に、選択素
子を遮断して液晶セルを構成する容量成分以外の配線及
び回路素子の寄生容量成分に書き込まれた検査信号を読
み出す期間を設け、その後に液晶セルを構成する容量成
分に書き込まれた検査信号を読み出して画素の欠陥を検
出するようにしたので、読み出される検査信号へを構成
する容量成分以外の寄生容量成分の影響を少なくして、
良好な画素欠陥判定を行うことができるものである。Thus, according to the above-described method, after writing the inspection signal to the capacitance component forming the liquid crystal cell, the selection element is cut off to remove the parasitic capacitance component of the wiring and circuit element other than the capacitance component forming the liquid crystal cell. A period for reading the written inspection signal is provided, and thereafter, the inspection signal written to the capacitance component forming the liquid crystal cell is read to detect a pixel defect. Therefore, the capacitance component forming the inspection signal to be read is provided. To reduce the effect of parasitic capacitance components other than
This makes it possible to perform good pixel defect determination.
【００３２】なお上述の例では、画素欠陥判定を行うた
めの検査信号の液晶セルを構成する容量成分への書き込
み、液晶セルを構成する容量成分以外の配線及び回路素
子の寄生容量成分に書き込まれた検査信号の読み出し、
その後の液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた検
査信号の読み出しは、水平期間ごとに順次に行うように
したが、これは垂直期間ごとに行うようにしてもよい。
その場合に液晶セルを構成する容量成分以外の配線及び
回路素子の寄生容量成分からの検査信号の読み出しは、
１水平期間の時間で足りるので、全体の検査に要する時
間を短縮できる。In the above-described example, an inspection signal for judging a pixel defect is written into a capacitance component constituting a liquid crystal cell, and is written into a parasitic capacitance component of a wiring and a circuit element other than the capacitance component constituting a liquid crystal cell. Read out the inspection signal
The subsequent reading of the inspection signal written to the capacitance component constituting the liquid crystal cell is performed sequentially in each horizontal period. However, this may be performed in each vertical period.
In that case, the reading of the inspection signal from the wiring other than the capacitance component constituting the liquid crystal cell and the parasitic capacitance component of the circuit element is performed as follows.
Since the time of one horizontal period is sufficient, the time required for the entire inspection can be reduced.
【００３３】また上述の方法は、例えば図５に示すよう
に、コンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmの他端がそれぞれ前段の
ゲート線に接続されているような液晶表示パネルについ
ても、同様に実施することができる。すなわちこの場合
に、コンデンサＣｓ21〜Ｃｓ nmの他端がそれぞれ前段の
ゲート線に接続されると共に、最初の水平走査線のコン
デンサＣｓ11〜Ｃｓ1mが接続される前段のゲート線Ｇ0
にもアンド回路Ａ0 を設けて、他のゲート線と同様にイ
ネーブル信号によって信号の遮断を行うことによって、
上述と同様の画素欠陥判定を行うことができる。The above-described method is, for example, as shown in FIG.
And the capacitor Cs11~ CsnmThe other end of the
LCD panels that are connected to gate lines
However, the present invention can be similarly implemented. Ie in this case
And the capacitor Cstwenty one~ Cs nmThe other end of the
Connected to the gate line and connected to the first horizontal scan line.
Densa Cs11~ Cs1mGate line G before the gate is connected0
Also AND circuit A0In the same way as other gate lines.
By interrupting the signal with the enable signal,
The same pixel defect determination as described above can be performed.
【００３４】さらに上述の図１、図５の例において、検
査信号の信号源及び検査信号からの欠陥の判別を行う処
理回路は、それぞれ検査装置２０とは別体の回路で構成
してもよい。また、液晶表示パネル１０に設けられるア
ンド回路Ａ1 〜Ａn 及びイネーブル端子５は、インター
レース表示等の目的で設けられている回路を流用するこ
とができる。Further, in the examples shown in FIGS. 1 and 5 described above, the signal source of the inspection signal and the processing circuit for determining a defect from the inspection signal may be constituted by a circuit separate from the inspection apparatus 20, respectively. . Further, as the AND circuits A 1 to An and the enable terminal 5 provided in the liquid crystal display panel 10, a circuit provided for the purpose of interlace display or the like can be used.
【００３５】また上述の本発明による液晶パネルの検査
方法によれば、液晶セルＣ11〜Ｃnmに液晶が注入される
以前または注入された後のいずれであっても、同様に検
査を行うことができる。According to the above-described method for inspecting a liquid crystal panel according to the present invention, the inspection is similarly performed before or after the liquid crystal is injected into the liquid crystal cells C 11 to C nm. Can be.
【００３６】[0036]
【発明の効果】この発明によれば、液晶セルを構成する
容量成分に検査信号を書き込んだ後に、選択素子を遮断
して液晶セルを構成する容量成分以外の配線及び回路素
子の容量成分に書き込まれた検査信号を読み出す期間を
設け、その後に液晶セルを構成する容量成分に書き込ま
れた検査信号を読み出して画素の欠陥を検出するように
したので、読み出される検査信号への液晶セルを構成す
る容量成分以外の容量成分の影響を少なくして、良好な
画素欠陥判定を行うことができるようになった。According to the present invention, after a test signal is written to a capacitance component forming a liquid crystal cell, a selection element is cut off and written to a wiring and a capacitance component of a circuit element other than the capacitance component forming a liquid crystal cell. A period for reading the read inspection signal is provided, and thereafter, the inspection signal written to the capacitance component constituting the liquid crystal cell is read to detect a pixel defect. Therefore, the liquid crystal cell for the read inspection signal is configured. It has become possible to perform favorable pixel defect determination by reducing the influence of a capacitance component other than the capacitance component.
【図１】本発明による液晶パネルの検査方法を適用した
装置の一例の構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of an example of an apparatus to which a liquid crystal panel inspection method according to the present invention is applied.
【図２】その説明のためのタイミングチャート図であ
る。FIG. 2 is a timing chart for the explanation.
【図３】その説明のためのタイミングチャート図であ
る。FIG. 3 is a timing chart for the explanation.
【図４】その説明のための波形図である。FIG. 4 is a waveform chart for the explanation.
【図５】本発明による液晶パネルの検査方法を適用した
装置の他の例の構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram of another example of an apparatus to which the liquid crystal panel inspection method according to the present invention is applied.
【図６】液晶表示パネルの説明のための構成図である。FIG. 6 is a configuration diagram for explaining a liquid crystal display panel.
【図７】その説明のための波形図である。FIG. 7 is a waveform chart for the explanation.
１０ 液晶表示パネル ２０ 検査装置 １ 入力端子 ２ 水平走査回路 ３ 対向電極端子 ４ 垂直走査回路 ５ イネーブル端子 １１ 切替えスイッチ １２ Ｉ／Ｖアンプ Ｍ1 〜Ｍm スイッチング素子 Ｌ1 〜Ｌm 信号線 Ｍ11〜Ｍnm スイッチング素子 Ｃ11〜Ｃnm 液晶セル Ｃｓ11〜Ｃｓnm コンデンサ Ｇ1 〜Ｇn ゲート線 Ａ1 〜Ａn アンド回路10 liquid crystal display panel 20 inspection apparatus 1 switching input terminal 2 horizontal scanning circuit 3 counter electrode terminal 4 vertical scanning circuit 5 enable terminal 11 switch 12 I / V amplifier M 1 ~M m switching elements L 1 ~L m signal lines M 11 ~ M nm switching element C 11 to C nm liquid crystal cell Cs 11 to Cs nm capacitor G 1 to G n gate line A 1 to An AND circuit
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G02F 1/13 101 G02F 1/133 550 G02F 1/1343 G02F 1/1368 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G02F 1/13 101 G02F 1/133 550 G02F 1/1343 G02F 1/1368
Claims (3)
水平方向に平行に複数のゲート線とが配設され、これら
の垂直信号線とゲート線との各交点にそれぞれ画素を構
成する選択素子と液晶セルが設けられて成り、 映像信号が水平走査手段を介して上記垂直信号線に供給
され、駆動信号が上記ゲート線を介して上記選択素子に
供給されるようにした液晶パネルに対して、 上記液晶セルに液晶が注入される以前または注入された
後に、 所定の検査信号を供給して上記水平走査手段及び上記選
択素子を駆動し、上記液晶セルを構成する容量成分に上
記検査信号を書き込み、 その後に上記水平走査手段及び上記選択素子を駆動し、
上記液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた上記検
査信号を読み出して、上記画素の欠陥を検出するように
した液晶パネルの検査方法において、 上記所定の検査信号を供給して上記水平走査手段及び上
記選択素子を駆動し、上記液晶セルを構成する容量成分
に上記検査信号を書き込んだ後に、 上記水平走査手段を駆動すると共に、上記選択素子への
上記駆動信号の供給を遮断して上記選択素子の駆動を停
止させて、上記液晶セルを構成する容量成分以外の配線
及び回路素子の容量成分に書き込まれた上記検査信号を
読み出す期間を設け、 その後に上記水平走査手段及び上記選択素子を駆動し、
上記液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた上記検
査信号を読み出して、上記画素の欠陥を検出するように
した液晶パネルの検査方法。A plurality of vertical signal lines parallel to a vertical direction;
A plurality of gate lines are provided in parallel with the horizontal direction, and a selection element and a liquid crystal cell forming a pixel are provided at each intersection of the vertical signal lines and the gate lines, and the video signal is horizontally scanned. The liquid crystal is supplied to the vertical signal line via the gate line, and the drive signal is supplied to the selection element via the gate line. Thereafter, a predetermined inspection signal is supplied to drive the horizontal scanning unit and the selection element, and the inspection signal is written into a capacitance component forming the liquid crystal cell. Thereafter, the horizontal scanning unit and the selection element are driven. ,
In the inspection method of a liquid crystal panel, wherein the inspection signal written in the capacitance component constituting the liquid crystal cell is read to detect a defect of the pixel, the predetermined scanning signal is supplied to the horizontal scanning unit, and After driving the selection element and writing the inspection signal to the capacitance component constituting the liquid crystal cell, the horizontal scanning means is driven, and the supply of the drive signal to the selection element is cut off to select the selection element. Is stopped to provide a period for reading out the inspection signal written in the wiring component other than the capacitance component constituting the liquid crystal cell and the capacitance component of the circuit element, and thereafter, the horizontal scanning means and the selection element are driven. ,
An inspection method for a liquid crystal panel, wherein the inspection signal written in a capacitance component constituting the liquid crystal cell is read to detect a defect of the pixel.
おいて、 上記画素の欠陥の検出される液晶パネルには、上記液晶
セルを構成する容量成分に書き込まれた上記検査信号を
読み出す手段と、上記選択素子への上記駆動信号の供給
を遮断する手段とを有するようにした液晶パネルの検査
方法。2. The liquid crystal panel inspection method according to claim 1, wherein the liquid crystal panel on which a defect of the pixel is detected includes means for reading the inspection signal written in a capacitance component constituting the liquid crystal cell; Means for shutting off the supply of the drive signal to the selection element.
おいて、 上記検査信号の上記液晶セルを構成する容量成分への書
き込み、上記液晶セルを構成する容量成分以外の配線及
び回路素子の容量成分に書き込まれた上記検査信号の読
み出し、その後の上記液晶セルを構成する容量成分に書
き込まれた上記検査信号の読み出しは、水平期間ごとに
順次に行うか、垂直期間ごとに行われるようにした液晶
パネルの検査方法。3. The liquid crystal panel inspection method according to claim 1, wherein the inspection signal is written into a capacitance component constituting the liquid crystal cell, and a capacitance component of a wiring and a circuit element other than the capacitance component constituting the liquid crystal cell. The reading of the inspection signal written in the liquid crystal and the subsequent reading of the inspection signal written in the capacitance component constituting the liquid crystal cell are sequentially performed every horizontal period, or performed every vertical period. Panel inspection method.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP26273694A JP3230393B2 (en) | 1994-10-26 | 1994-10-26 | Inspection method of liquid crystal panel |
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- 1994-10-26 JP JP26273694A patent/JP3230393B2/en not_active Expired - Fee Related
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