JPH08122728A - Inspecting method for liquid crystal panel - Google Patents
Inspecting method for liquid crystal panelInfo
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- JPH08122728A JPH08122728A JP26273694A JP26273694A JPH08122728A JP H08122728 A JPH08122728 A JP H08122728A JP 26273694 A JP26273694 A JP 26273694A JP 26273694 A JP26273694 A JP 26273694A JP H08122728 A JPH08122728 A JP H08122728A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、例えば液晶セルをＸ−
Ｙマトリクス状に配置して画像の表示を行う液晶パネル
の検査方法に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a liquid crystal cell, for example, an X-
The present invention relates to a method for inspecting a liquid crystal panel that is arranged in a Y matrix and displays an image.
【０００２】[0002]
【従来の技術】例えば液晶を用いてテレビ画像を表示す
ることが提案（特開昭５９−２２０７０３号公報等参
照）されている。2. Description of the Related Art For example, it has been proposed to display a television image using a liquid crystal (see Japanese Patent Laid-Open No. 59-220703).
【０００３】すなわち図６は、液晶ディスプレイ装置を
構成する液晶表示パネルの構成を示す。この図６におい
て、１はテレビの映像信号が供給される入力端子であ
る。この入力端子１からの信号が、それぞれ例えばＮチ
ャンネルＦＥＴからなるスイッチング素子Ｍ1 、Ｍ2 ・
・・Ｍm を通じて垂直（Ｙ軸）方向の信号線Ｌ1 、Ｌ2
・・・Ｌm に供給される。なお、ｍは水平（Ｘ軸）方向
の画素数に相当する数である。That is, FIG. 6 shows a structure of a liquid crystal display panel which constitutes a liquid crystal display device. In FIG. 6, reference numeral 1 is an input terminal to which a television video signal is supplied. Signals from the input terminal 1 are supplied to the switching elements M 1 and M 2 , which are N channel FETs, respectively.
..Signal lines L 1 and L 2 in the vertical (Y-axis) direction through M m
... is supplied to L m . Note that m is a number corresponding to the number of pixels in the horizontal (X axis) direction.
【０００４】さらに、ｍ段のシフトレジスタからなる水
平走査回路２が設けられる。この水平走査回路２には水
平周波数のｍ倍のクロック信号Φ1H, Φ2Hが供給され、
このクロック信号Φ1H, Φ2Hによって順次走査される駆
動パルス信号φH1, φH2・・・φHmが水平走査回路２の
各出力端子から取り出される。この駆動パルス信号φ H1
〜φHmがスイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm の各制御端子に供
給される。なお水平走査回路２には低電位（ＶSS）と高
電位（ＶDD）が供給され、この２つの電位の間で駆動パ
ルスが形成される。In addition, water consisting of m shift registers
A flat scanning circuit 2 is provided. This horizontal scanning circuit 2 has water
Clock signal Φ of m times the flat frequency1H, Φ2HIs supplied,
This clock signal Φ1H, Φ2HDriven by sequential scanning
Motion pulse signal φH1, φH2... φHmOf the horizontal scanning circuit 2
It is taken out from each output terminal. This drive pulse signal φ H1
~ ΦHmIs the switching element M1~ MmFor each control terminal of
Be paid. The horizontal scanning circuit 2 has a low potential (VSS) And high
Potential (VDD) Is supplied to drive the drive voltage between these two potentials.
Ruth is formed.
【０００５】また各信号線Ｌ1 〜Ｌm には、それぞれ例
えばＮチャンネルＦＥＴからなるスイッチング素子
Ｍ11、Ｍ21・・・Ｍn1、Ｍ12、Ｍ22・・・Ｍn2、・・・
Ｍ1m、Ｍ 2m・・・Ｍnmの一端が接続される。なおｎは水
平走査線数に相当する数である。このスイッチング素子
Ｍ11〜Ｍnmの他端が、それぞれ液晶セルＣ11、Ｃ21・・
・Ｃnmの画素電極に接続され、この液晶セルＣ11〜Ｃnm
の対抗電極が対抗電極端子３に接続される。またこれら
の液晶セルＣ11〜Ｃnmには、並列に電圧保持用の液晶セ
ルの一部を構成するコンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmが設けら
れる。Each signal line L1~ LmEach has an example
For example, switching element consisting of N-channel FET
M11, Mtwenty one... Mn1, M12, Mtwenty two... Mn2...
M1m, M 2m... MnmOne end of is connected. Note that n is water
This is a number corresponding to the number of flat scan lines. This switching element
M11~ MnmThe other ends of the liquid crystal cell C11, Ctwenty one・ ・
・ CnmThis liquid crystal cell C is connected to the pixel electrode of11~ Cnm
The counter electrode is connected to the counter electrode terminal 3. Again these
Liquid crystal cell C11~ CnmIs a liquid crystal cell for holding voltage in parallel.
Capacitor Cs forming a part of11~ CsnmIs provided
Be done.
【０００６】さらに、ｎ段のシフトレジスタからなる垂
直走査回路４が設けられる。この垂直走査回路４には水
平周波数のクロック信号Φ1V、Φ2Vが供給され、このク
ロック信号Φ1V、Φ2Vによって順次走査される駆動パル
ス信号φV1、φV2・・・φVnが垂直走査回路４の各出力
端子から取り出される。この駆動パルス信号φV1〜φ Vn
が水平（Ｘ軸）方向のゲート線Ｇ1 、Ｇ2 ・・・Ｇn を
通じてスイッチング素子Ｍ11〜ＭnmのＸ軸方向の各列
（Ｍ11〜Ｍ1m）、（Ｍ21〜Ｍ2m）・・・（Ｍn1〜Ｍnm）
ごとの制御端子にそれぞれ供給される。なお、垂直走査
回路４にも水平走査回路２と同様に低電位（ＶSS）と高
電位（ＶDD）が供給され、この２つの電位の間で駆動パ
ルスが形成される。[0006] Furthermore, a switch consisting of shift registers of n stages is used.
The direct scanning circuit 4 is provided. This vertical scanning circuit 4 has water
Flat frequency clock signal Φ1V, Φ2VIs supplied by this
Lock signal Φ1V, Φ2VDrive pulse sequentially scanned by
Signal φV1, ΦV2... φVnIs each output of the vertical scanning circuit 4
It is taken out from the terminal. This drive pulse signal φV1~ Φ Vn
Is the gate line G in the horizontal (X-axis) direction1, G2... GnTo
Through switching element M11~ MnmEach column in the X-axis direction
(M11~ M1m), (Mtwenty one~ M2m) ・ ・ ・ (Mn1~ Mnm)
Is supplied to each control terminal. Vertical scanning
Similarly to the horizontal scanning circuit 2, the circuit 4 has a low potential (VSS) And high
Potential (VDD) Is supplied to drive the drive voltage between these two potentials.
Ruth is formed.
【０００７】すなわちこの回路において、水平走査回路
２には図７のＡに示すようなクロック信号Φ1H、Φ2Hが
供給され、垂直走査回路４には図７のＢに示すようなク
ロック信号Φ1V、Φ2Vが供給される。そして水平走査回
路２からは図７のＣに示すように各画素期間ごとにφH1
〜φHmが出力され、垂直走査回路４からは図７のＤに示
すように１水平期間ごとにφV1〜φVnが出力される。さ
らに入力端子１には図７のＥに示すような映像信号が供
給される。That is, in this circuit, the horizontal scanning circuit 2 is supplied with the clock signals Φ 1H and Φ 2H as shown in A of FIG. 7, and the vertical scanning circuit 4 is supplied with the clock signal Φ as shown in B of FIG. 1V and Φ2V are supplied. And from the horizontal scanning circuit 2 for each pixel period, as shown in C of FIG. 7 phi H1
To [phi] Hm is output from the vertical scanning circuit 4 is phi V1 to [phi] Vn for each horizontal period as shown in D of FIG. 7 is output. Further, a video signal as shown by E in FIG. 7 is supplied to the input terminal 1.
【０００８】そしてφV1、φH1が出力されているとき
は、スイッチング素子Ｍ1 とＭ11〜Ｍ 1mがオンされ、入
力端子１→Ｍ1 →Ｌ1 →Ｍ11→Ｃ11//Ｃｓ11→対抗電極
端子３の電流路が形成される。これによって液晶セルＣ
11及びコンデンサＣｓ11に入力端子１に供給された映像
信号と対抗電極端子３に与えられる電位との電位差が供
給される。このためコンデンサＣｓ11に１番目の画素の
信号による電位差に相当する電荷がサンプルホールドさ
れ、この電荷量に対応して液晶セルＣ11の光透過率が変
化される。And φV1, ΦH1Is output
Is the switching element M1And M11~ M 1mIs turned on,
Power terminal 1 → M1→ L1→ M11→ C11// Cs11→ Counter electrode
A current path for terminal 3 is formed. As a result, the liquid crystal cell C
11And capacitor Cs11Video supplied to input terminal 1
The potential difference between the signal and the potential applied to the counter electrode terminal 3 is
Be paid. Therefore, the capacitor Cs11Of the first pixel
The charge corresponding to the potential difference due to the signal is sampled and held.
Liquid crystal cell C corresponding to this charge amount.11The light transmittance of
Be converted.
【０００９】これと同様のことが液晶セルＣ12〜Ｃnm及
びコンデンサＣｓ12〜Ｃｓnmについて、各画素ごとに順
次行われ、さらに次のフィールドの信号が供給された時
点で各コンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmにサンプルホールドさ
れた電荷量が書き換えられる。このようにして、映像信
号の各画素に対応して液晶セルＣ11〜Ｃnmの光透過率が
変化され、これが順次繰り返されてテレビ画像の表示が
行われる。[0009] For this and the same is a liquid crystal cell C 12 -C nm and the capacitor Cs 12 to CS nm, sequentially performed for each pixel, further the capacitors Cs 11 ~ when the signal is supplied in the next field The amount of charge sampled and held in Cs nm is rewritten. In this way, the light transmittance of the liquid crystal cells C 11 to C nm is changed corresponding to each pixel of the video signal, and this is repeated sequentially to display a television image.
【００１０】さらに液晶で表示を行う場合には、一般に
その信頼性、寿命を長くするために交流駆動が用いられ
る。そこで例えばテレビ画像の表示においては、上述の
図７のＥに示すように、映像信号を対抗電極の電位に対
して１フィールドまたは１フレームごとに反転させた信
号を入力端子１に供給する。また液晶ディスプレイ装置
においては表示の垂直方向のシューティング等を防止す
る目的で信号を１水平期間ごとに反転することも行われ
ている。Further, in the case of displaying with a liquid crystal, an AC drive is generally used in order to extend its reliability and life. Therefore, for example, in the case of displaying a television image, as shown in E of FIG. 7 described above, a signal obtained by inverting the video signal with respect to the potential of the counter electrode every field or frame is supplied to the input terminal 1. Further, in a liquid crystal display device, a signal is also inverted every horizontal period in order to prevent shooting in the vertical direction of display.
【００１１】[0011]
【発明が解決しようとする課題】ところで上述のような
液晶表示パネルにおいて、各画素を構成するスイッチン
グ素子Ｍ11〜Ｍnmと液晶セルＣ11〜Ｃnmは、数万〜数十
万の素子が微細に配列されたものであり、製造時に欠陥
が発生する恐れを解消することは困難である。このた
め、製造時にこれらの画素の欠陥を検出して製品の品質
を管理する必要があるが、上述のように微細に配列され
た各画素の欠陥を目視等で検査することは、極めて困難
であった。In the liquid crystal display panel as described above, the switching elements M 11 to M nm and the liquid crystal cells C 11 to C nm constituting each pixel are composed of tens of thousands to hundreds of thousands of elements. Since they are finely arranged, it is difficult to eliminate the risk of defects occurring during manufacturing. For this reason, it is necessary to detect defects of these pixels at the time of manufacturing to control the quality of the product, but it is extremely difficult to visually inspect the defects of the pixels that are finely arrayed as described above. there were.
【００１２】そこで液晶セルに液晶が注入される以前ま
たは注入された後の上述の液晶表示パネルに対して、入
力端子１に所定の検査信号を供給してスイッチング素子
Ｍ1〜Ｍm 及びＭ11〜Ｍnmを駆動し、コンデンサＣｓ11
〜Ｃｓnmに検査信号を書き込む。その後に再びスイッチ
ング素子Ｍ1 〜Ｍm 及びＭ11〜Ｍnmを駆動し、コンデン
サＣｓ11〜Ｃｓnmに書き込まれた検査信号を読み出す。
そしてこの読み出された信号の変動を検出して、各画素
の欠陥を検出する液晶パネルの検査方法が提案された。Therefore, a predetermined inspection signal is supplied to the input terminal 1 of the above-mentioned liquid crystal display panel before or after the liquid crystal is injected into the liquid crystal cell, and the switching elements M 1 to M m and M 11 are supplied. ~ M nm drive capacitor Cs 11
Write the test signal to ~ Cs nm . After that, the switching elements M 1 to M m and M 11 to M nm are driven again to read the inspection signal written in the capacitors Cs 11 to Cs nm .
Then, a method of inspecting a liquid crystal panel has been proposed, which detects a variation of the read signal to detect a defect of each pixel.
【００１３】ところがこのような方法を採用した場合
に、上述の液晶表示パネルでは、入力端子１から液晶セ
ルＣ11〜Ｃnm及びコンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmに到るまで
には、スイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm 、Ｍ11〜Ｍnmの容量
成分や信号線Ｌ1 〜Ｌm の配線容量等の容量成分が寄生
している。従ってコンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmに書き込ま
れた検査信号を入力端子１の側に読み出す際には、これ
らのスイッチング素子や信号線の寄生容量が読み出され
る信号に影響を与えることになる。However, when such a method is adopted, in the above-mentioned liquid crystal display panel, the switching element M 1 is provided from the input terminal 1 to the liquid crystal cells C 11 to C nm and the capacitors Cs 11 to Cs nm. ˜M m , M 11 ˜M nm , and wiring components of the signal lines L 1 ˜L m are parasitic. Therefore, when the inspection signals written in the capacitors Cs 11 to Cs nm are read out to the input terminal 1 side, the parasitic capacitances of these switching elements and signal lines affect the read out signals.
【００１４】そしてこの場合に、これらの寄生容量はコ
ンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmに比べて値が大きく、さらに不
安定である。このため読み出される検査信号がこれらの
寄生容量の影響を受け易く、特にその値が不安定である
ことから、画素欠陥判定の誤差要因となるものであっ
た。In this case, these parasitic capacitances have larger values than the capacitors Cs 11 to Cs nm and are more unstable. Therefore, the read inspection signal is easily affected by these parasitic capacitances, and in particular, the value thereof is unstable, which causes an error in the pixel defect determination.
【００１５】この出願はこのような点に鑑みてなされた
ものであって、解決しようとする問題点は、従来の方法
では、読み出される検査信号が液晶セルを構成する容量
成分以外の容量成分の影響を受け易く、画素欠陥判定の
誤差要因となるというものである。This application has been made in view of such a point, and the problem to be solved is that in the conventional method, the inspection signal read out has a capacitance component other than the capacitance component constituting the liquid crystal cell. It is easily affected and becomes an error factor in the pixel defect determination.
【００１６】[0016]
【課題を解決するための手段】本発明による第１の手段
は、垂直方向に平行に複数の垂直信号線Ｌ1 〜Ｌm と、
水平方向に平行に複数のゲート線Ｇ1 〜Ｇn とが配設さ
れ、これらの垂直信号線とゲート線との各交点にそれぞ
れ画素を構成する選択素子（スイッチング素子Ｍ11〜Ｍ
nm）と液晶セルＣ11〜Ｃnmが設けられて成り、映像信号
が水平走査手段（水平走査回路２及びスイッチング素子
Ｍ1 〜Ｍm ）を介して上記垂直信号線に供給され、駆動
信号（垂直走査回路４）が上記ゲート線を介して上記選
択素子に供給されるようにした液晶パネルに対して、上
記液晶セルに液晶が注入される以前または注入された後
に、所定の検査信号を供給して上記水平走査手段及び上
記選択素子を駆動し、上記液晶セルを構成する容量成分
（コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ nm）に上記検査信号を書き込
み、その後に上記水平走査手段及び上記選択素子を駆動
し、上記液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた上
記検査信号を読み出して、上記画素の欠陥を検出するよ
うにした液晶パネルの検査方法において、上記所定の検
査信号を供給して上記水平走査手段及び上記選択素子を
駆動し、上記液晶セルを構成する容量成分に上記検査信
号を書き込んだ後に、上記水平走査手段を駆動すると共
に、上記選択素子への上記駆動信号の供給を遮断して上
記選択素子の駆動を停止させて、上記液晶セルを構成す
る容量成分以外の配線及び回路素子の容量成分に書き込
まれた上記検査信号を読み出す期間を設け、その後に上
記水平走査手段及び上記選択素子を駆動し、上記液晶セ
ルを構成する容量成分に書き込まれた上記検査信号を読
み出して、上記画素の欠陥を検出するようにした液晶パ
ネルの検査方法である。[Means for Solving the Problems] First means according to the present invention
Is a plurality of vertical signal lines L parallel to the vertical direction.1~ LmWhen,
Multiple gate lines G parallel to the horizontal direction1~ GnAnd arranged
At each intersection of these vertical signal lines and gate lines.
Selection element (switching element M11~ M
nm) And liquid crystal cell C11~ CnmVideo signal
Is a horizontal scanning means (horizontal scanning circuit 2 and switching element
M1~ Mm) Is supplied to the vertical signal line via
The signal (vertical scanning circuit 4) receives the above selection via the gate line.
Selectable from the liquid crystal panel that is supplied to the selection element.
Before or after the liquid crystal is injected into the liquid crystal cell
To the above horizontal scanning means and the above
Capacitance component which drives the selection element and constitutes the liquid crystal cell
(Capacitor Cs11~ Cs nm) Write the above inspection signal
And then drive the horizontal scanning means and the selection element
Then, the data is written in the capacitance component that constitutes the above liquid crystal cell.
The inspection signal is read to detect the above-mentioned pixel defect.
In the method for inspecting a liquid crystal panel as described above,
A scanning signal to supply the horizontal scanning means and the selection element.
It is driven and the above-mentioned inspection signals
It is common to drive the horizontal scanning means after writing the
To shut off the drive signal supply to the select element.
The driving of the selection element is stopped to configure the liquid crystal cell.
Write to the capacitance component of wiring and circuit elements other than the capacitance component
Set a period for reading the above inspection signal, and then
The horizontal scanning means and the selection element are driven to drive the liquid crystal cell.
Read the inspection signal written in the capacitive component
A liquid crystal pattern that is projected to detect defects in the above pixels.
This is a flannel inspection method.
【００１７】本発明による第２の手段は、第１の手段記
載の液晶パネルの検査方法において、上記画素の欠陥の
検出される液晶パネルには、上記液晶セルを構成する容
量成分に書き込まれた上記検査信号を読み出す手段（切
替えスイッチ１１、Ｉ／Ｖアンプ１２）と、上記選択素
子への上記駆動信号の供給を遮断する手段（アンド回路
Ａ1 〜Ａn 、イネーブル端子５）とを有するようにした
液晶パネルの検査方法である。According to a second aspect of the present invention, in the liquid crystal panel inspection method according to the first aspect, the liquid crystal panel in which a defect of the pixel is detected is written in the capacitive component constituting the liquid crystal cell. A means for reading the inspection signal (changeover switch 11, I / V amplifier 12) and a means for cutting off the supply of the drive signal to the selection element (AND circuits A 1 to An , enable terminal 5) are provided. This is the inspection method for the liquid crystal panel.
【００１８】本発明による第３の手段は、第１の手段記
載の液晶パネルの検査方法において、上記検査信号の上
記液晶セルを構成する容量成分への書き込み、上記液晶
セルを構成する容量成分以外の配線及び回路素子の容量
成分に書き込まれた上記検査信号の読み出し、その後の
上記液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた上記検
査信号の読み出しは、水平期間ごとに順次に行うか、垂
直期間ごとに行われるようにした液晶パネルの検査方法
である。According to a third aspect of the present invention, in the method for inspecting a liquid crystal panel according to the first aspect, the inspection signal is written in a capacitance component forming the liquid crystal cell, and a component other than the capacitance component forming the liquid crystal cell is excluded. The reading of the inspection signal written in the capacitance component of the wiring and the circuit element and the reading of the inspection signal written in the capacitance component forming the liquid crystal cell thereafter are performed sequentially in each horizontal period or in the vertical period. This is a method of inspecting a liquid crystal panel that is performed every time.
【００１９】[0019]
【作用】これによれば、液晶セルを構成する容量成分に
検査信号を書き込んだ後に、選択素子を遮断して液晶セ
ルを構成する容量成分以外の配線及び回路素子の容量成
分に書き込まれた検査信号を読み出す期間を設け、その
後に液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた検査信
号を読み出して画素の欠陥を検出するようにしたので、
読み出される検査信号への液晶セルを構成する容量成分
以外の容量成分の影響を少なくして、良好な画素欠陥判
定を行うことができる。According to this, after the inspection signal is written in the capacitance component forming the liquid crystal cell, the selection element is shut off to inspect the wiring components other than the capacitance component forming the liquid crystal cell and the capacitance component of the circuit element. Since a period for reading out a signal is provided, and after that, the inspection signal written in the capacitive component forming the liquid crystal cell is read out to detect a pixel defect,
It is possible to make a good pixel defect determination by reducing the influence of the capacitance components other than the capacitance components that form the liquid crystal cell on the read inspection signal.
【００２０】[0020]
【実施例】図１において、１０は本発明の適用された液
晶表示パネルを示す。なお図１において、上述の図６と
対応する部分には同一の符号を付して詳細な説明は省略
する。この液晶表示パネル１０に対して、検査装置２０
からの検査信号の出力が切替えスイッチ１１の一方の固
定接点ａを介して入力端子１に接続される。また、切替
えスイッチ１１の他方の固定接点ｂがＩ／Ｖアンプ１２
を介して検査装置２０の検査入力に接続される。さらに
検査装置２０の制御出力が切替えスイッチ１１の制御端
子に接続される。1 shows a liquid crystal display panel to which the present invention is applied. In FIG. 1, parts corresponding to those in FIG. 6 described above are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. For the liquid crystal display panel 10, the inspection device 20
The output of the inspection signal from is connected to the input terminal 1 through one fixed contact a of the changeover switch 11. Further, the other fixed contact b of the changeover switch 11 is the I / V amplifier 12
Is connected to the inspection input of the inspection device 20 via. Further, the control output of the inspection device 20 is connected to the control terminal of the changeover switch 11.
【００２１】また、この液晶表示パネル１０において、
垂直走査回路４からのゲート線Ｇ1〜Ｇn にそれぞれア
ンド回路Ａ1 〜Ａn が設けられる。さらにこれらのアン
ド回路Ａ1 〜Ａn がイネーブル端子５に接続され、この
イネーブル端子５が検査装置２０に接続される。さらに
検査装置２０からのクロック信号Φ1H、Φ2H、Φ1V、Φ
2V等の制御信号が液晶表示パネル１０に供給される。Further, in this liquid crystal display panel 10,
AND circuits A 1 to A n are provided on the gate lines G 1 to G n from the vertical scanning circuit 4, respectively. Further, the AND circuits A 1 to A n are connected to the enable terminal 5, and the enable terminal 5 is connected to the inspection device 20. Further, the clock signals Φ 1H , Φ 2H , Φ 1V , Φ from the inspection device 20
A control signal such as 2V is supplied to the liquid crystal display panel 10.
【００２２】そしてこの液晶表示パネル１０に対して、
例えば水平走査回路２には通常と同じクロック信号
Φ1H、Φ2Hが供給されると共に、垂直走査回路４には、
通常の３倍の周期とされたクロック信号Φ1V、Φ2Vが供
給される。これによって垂直走査回路４からは、例えば
図２のＡに示すような駆動パルス信号φV1が取り出さ
れ、一方、水平走査回路２からは、例えば図２のＢに示
すような駆動パルス信号φ1H〜φHmが取り出される。す
なわち１つの駆動パルス信号φV1の期間に、駆動パルス
信号φ1H〜φHmが３回繰り返して取り出される。With respect to the liquid crystal display panel 10,
For example, the horizontal scanning circuit 2 is supplied with the same clock signals Φ 1H and Φ 2H as usual, and the vertical scanning circuit 4 is
Clock signals Φ 1V and Φ 2V having a cycle three times as long as the normal period are supplied. As a result, the drive pulse signal φ V1 shown in FIG. 2A, for example, is extracted from the vertical scanning circuit 4, while the drive pulse signal φ 1H shown in FIG. 2B, for example, is output from the horizontal scanning circuit 2. ~ Φ Hm is taken out. That is, the drive pulse signals φ 1H to φ Hm are repeatedly extracted three times during the period of one drive pulse signal φ V1 .
【００２３】さらに、上述の切替えスイッチ１１が図２
のＣに示すような検査装置２０からの制御信号によっ
て、駆動パルス信号φV1の最初の１回の駆動パルス信号
φ1H〜φHmの繰り返しの期間に検査装置２０からの検査
信号の出力側とされ、残りの２回の期間に検査入力側に
される。また、検査装置２０からの図２のＤに示すよう
なイネーブル信号がイネーブル端子５に供給される。す
なわちこのイネーブル端子５には、駆動パルス信号φV1
の中央の駆動パルス信号φ1H〜φHmの繰り返しの期間に
低電位となるイネーブル信号が供給される。Further, the above-mentioned changeover switch 11 is shown in FIG.
In accordance with the control signal from the inspection device 20 as shown in C of FIG. 1, the inspection signal is output from the inspection device 20 during the repetition period of the first drive pulse signal φ 1H to φ Hm of the drive pulse signal φ V1. The inspection input side is set for the remaining two periods. Further, the enable signal as shown by D in FIG. 2 from the inspection device 20 is supplied to the enable terminal 5. That is, the drive pulse signal φ V1 is connected to the enable terminal 5.
An enable signal having a low potential is supplied during the repetition period of the central drive pulse signals φ 1H to φ Hm .
【００２４】これによって、上述の液晶表示パネル１０
に対して、駆動パルス信号φV1の中の最初の駆動パルス
信号φ1H〜φHmの期間に、検査装置２０からの検査信号
が切替えスイッチ１１の固定接点ａを介して入力端子１
に供給される。そしてこの入力端子１に供給された検査
信号がスイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm を通じて信号線Ｌ 1
〜Ｌm に供給され、対応するスイッチング素子Ｍ11〜Ｍ
1mを通じてコンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1mに書き込まれる。
それと共にこの検査信号は、スイッチング素子Ｍ1 〜Ｍ
m 、Ｍ11〜Ｍnmの容量成分や信号線Ｌ1 〜Ｌm の配線容
量等のコンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1m以外の配線及び回路素
子の寄生容量成分にも書き込まれるAs a result, the liquid crystal display panel 10 described above is used.
Drive pulse signal φV1First drive pulse in
Signal φ1H~ ΦHmInspection signal from the inspection device 20 during the period
Via the fixed contact a of the changeover switch 11 to the input terminal 1
Is supplied to. And the inspection supplied to this input terminal 1
Signal is switching element M1~ MmThrough signal line L 1
~ LmIs supplied to the corresponding switching element M11~ M
1mThrough capacitor Cs11~ Cs1mIs written to.
At the same time, this inspection signal is transmitted to the switching element M.1~ M
m, M11~ MnmCapacitance component and signal line L1~ LmWiring
Capacitor Cs such as quantity11~ Cs1mOther wiring and circuit elements
It is also written in the parasitic capacitance component of the child
【００２５】次に駆動パルス信号φV1の中の２番目の駆
動パルス信号φ1H〜φHmの期間に、スイッチング素子Ｍ
11〜Ｍnmがオフされた状態でスイッチング素子Ｍ1 〜Ｍ
m が順次オンされる。これによって上述のコンデンサＣ
ｓ11〜Ｃｓ1m以外の配線及び回路素子の寄生容量成分
が、切替えスイッチ１１の固定接点ｂを介してＩ／Ｖア
ンプ１２に接続される。そしてこのＩ／Ｖアンプ１２で
信号の読み出し動作が行われることによって、これらの
コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1m以外の配線及び回路素子の寄
生容量成分の電位レベルがＩ／Ｖアンプ１２の読み出し
レベルとなり、検査信号の成分が除去される。Next, during the period of the second drive pulse signal φ 1H to φ Hm in the drive pulse signal φ V1 , the switching element M is
Switching elements M 1 to M with 11 to M nm turned off
m are turned on sequentially. This allows the above-mentioned capacitor C
Parasitic capacitance components of wirings and circuit elements other than s 11 to Cs 1m are connected to the I / V amplifier 12 via the fixed contact b of the changeover switch 11. Then, the signal read operation is performed by the I / V amplifier 12, so that the potential level of the parasitic capacitance component of the wirings and circuit elements other than the capacitors Cs 11 to Cs 1m becomes the read level of the I / V amplifier 12. The components of the test signal are removed.
【００２６】そして駆動パルス信号φV1の中の最後の駆
動パルス信号φ1H〜φHmの期間に、再びスイッチング素
子Ｍ11〜Ｍ1mがオンされると、コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ
1mに書き込まれた検査信号がスイッチング素子Ｍ11〜Ｍ
1mを通じて信号線Ｌ1 〜Ｌmに取り出され、スイッチン
グ素子Ｍ1 〜Ｍm を通じて入力端子１の側に取り出され
る。そしてこの取り出された信号が、切替えスイッチ１
１の固定接点ｂを介してＩ／Ｖアンプ１２に供給され、
このＩ／Ｖアンプ１２を通じて検査装置２０の検査入力
に供給される。When the switching elements M 11 to M 1m are turned on again during the last drive pulse signal φ 1H to φ Hm in the drive pulse signal φ V1 , the capacitors Cs 11 to Cs are turned on.
The inspection signal written in 1 m is the switching element M 11 to M
It is taken out to the signal lines L 1 to L m through 1 m, and taken out to the input terminal 1 side through the switching elements M 1 to M m . Then, the extracted signal is the changeover switch 1
Is supplied to the I / V amplifier 12 via the fixed contact b of 1.
It is supplied to the inspection input of the inspection device 20 through this I / V amplifier 12.
【００２７】従ってこの装置において、上述の２番目の
駆動パルス信号φ1H〜φHmの期間に、コンデンサＣｓ11
〜Ｃｓ1m以外の配線及び回路素子の寄生容量成分の電位
レベルがＩ／Ｖアンプ１２の読み出しレベルにされる。
これによって最後の駆動パルス信号φ1H〜φHmの期間に
は、コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1mに書き込まれた検査信号
がスイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm 、Ｍ11〜Ｍnmの容量成分
や信号線Ｌ1 〜Ｌm の配線容量等の寄生容量成分の影響
を受けること無く入力端子１の側に取り出され、この取
り出された信号が検査装置２０の検査入力に供給され
る。Therefore, in this device, the capacitor Cs 11 is supplied during the above-mentioned second drive pulse signals φ 1H to φ Hm.
The potential level of the parasitic capacitance component of wirings and circuit elements other than .about.Cs 1m is set to the read level of the I / V amplifier 12.
As a result, during the last drive pulse signals φ 1H to φ Hm , the inspection signals written in the capacitors Cs 11 to Cs 1m are the capacitance components of the switching elements M 1 to M m and M 11 to M nm and the signal line L. The signal is taken out to the input terminal 1 side without being affected by the parasitic capacitance component such as the wiring capacitance of 1 to L m , and the taken out signal is supplied to the inspection input of the inspection device 20.
【００２８】すなわち従来の検査方法では、図３に示す
ように入力端子１に供給された検査信号がコンデンサＣ
ｓ11〜Ｃｓ1mに書き込まれた直後に、コンデンサＣｓ11
〜Ｃｓ1mに書き込まれた検査信号の読み出しが行われて
いた。この場合に、読み出される検査信号には、例えば
図４のＡに網点で示すような、コンデンサＣｓ11〜Ｃｓ
1m以外の配線及び回路素子の寄生容量成分による影響が
発生していた。That is, in the conventional inspection method, the inspection signal supplied to the input terminal 1 is the capacitor C as shown in FIG.
Immediately after being written in s 11 to Cs 1m , the capacitor Cs 11
The inspection signal written in Cs 1m was read. In this case, the inspection signal to be read includes capacitors Cs 11 to Cs as shown by the dots in FIG.
The influence was caused by the parasitic capacitance components of wiring and circuit elements other than 1 m .
【００２９】これに対して本願の発明では、上述のよう
に検査信号がコンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1mに書き込まれた
後にスイッチング素子Ｍ11〜Ｍnmがオフされた状態で、
スイッチング素子Ｍ1 〜Ｍm 、Ｍ11〜Ｍnmの容量成分や
信号線Ｌ1 〜Ｌm の配線容量等の寄生容量成分に書き込
まれた検査信号を読み出す期間を設ける。これによって
最後の期間に読み出される検査信号から、例えば図４の
Ｂに示すようにコンデンサＣｓ11〜Ｃｓ1m以外の配線及
び回路素子の寄生容量成分による影響が除去される。On the other hand, in the invention of the present application, in the state where the switching elements M 11 to M nm are turned off after the inspection signal is written in the capacitors Cs 11 to Cs 1m as described above,
A period is provided for reading the inspection signal written in the parasitic components such as the capacitance components of the switching elements M 1 to M m and M 11 to M nm and the wiring capacitance of the signal lines L 1 to L m . As a result, the influence of the parasitic capacitance components of the wirings and circuit elements other than the capacitors Cs 11 to Cs 1m is removed from the inspection signal read in the last period, as shown in FIG. 4B, for example.
【００３０】従ってこのように液晶セルを構成する容量
成分以外の配線及び回路素子の寄生容量成分による影響
が除去されることによって、例えば図４のＢ中のａに示
すように、欠陥部分の信号の変動が明瞭になる。そして
このような検査信号を用いることによって、良好な画素
欠陥判定を行うことができるようになる。Therefore, by removing the influence of the parasitic capacitance components of the wiring and the circuit elements other than the capacitance component which constitutes the liquid crystal cell in this way, for example, as shown by a in FIG. The fluctuation of becomes clear. Then, by using such an inspection signal, it becomes possible to perform good pixel defect determination.
【００３１】こうして上述の方法によれば、液晶セルを
構成する容量成分に検査信号を書き込んだ後に、選択素
子を遮断して液晶セルを構成する容量成分以外の配線及
び回路素子の寄生容量成分に書き込まれた検査信号を読
み出す期間を設け、その後に液晶セルを構成する容量成
分に書き込まれた検査信号を読み出して画素の欠陥を検
出するようにしたので、読み出される検査信号へを構成
する容量成分以外の寄生容量成分の影響を少なくして、
良好な画素欠陥判定を行うことができるものである。Thus, according to the above-mentioned method, after the inspection signal is written in the capacitance component which constitutes the liquid crystal cell, the selection element is cut off and the parasitic capacitance component of the wiring and the circuit element other than the capacitance component which constitutes the liquid crystal cell. Since a period for reading the written inspection signal is provided and then the inspection signal written in the capacitance component forming the liquid crystal cell is read to detect a pixel defect, the capacitance component forming the readout inspection signal is detected. By reducing the influence of parasitic capacitance components other than
It is possible to make a good pixel defect determination.
【００３２】なお上述の例では、画素欠陥判定を行うた
めの検査信号の液晶セルを構成する容量成分への書き込
み、液晶セルを構成する容量成分以外の配線及び回路素
子の寄生容量成分に書き込まれた検査信号の読み出し、
その後の液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた検
査信号の読み出しは、水平期間ごとに順次に行うように
したが、これは垂直期間ごとに行うようにしてもよい。
その場合に液晶セルを構成する容量成分以外の配線及び
回路素子の寄生容量成分からの検査信号の読み出しは、
１水平期間の時間で足りるので、全体の検査に要する時
間を短縮できる。In the above example, the inspection signal for judging the pixel defect is written in the capacitance component forming the liquid crystal cell, and is written in the parasitic capacitance component of the wiring and the circuit element other than the capacitance component forming the liquid crystal cell. Read out inspection signal,
The subsequent reading of the inspection signal written in the capacitance component of the liquid crystal cell is performed sequentially for each horizontal period, but this may be performed for each vertical period.
In that case, the reading of the inspection signal from the parasitic capacitance component of the wiring and the circuit element other than the capacitance component forming the liquid crystal cell is
Since the time for one horizontal period is sufficient, the time required for the entire inspection can be shortened.
【００３３】また上述の方法は、例えば図５に示すよう
に、コンデンサＣｓ11〜Ｃｓnmの他端がそれぞれ前段の
ゲート線に接続されているような液晶表示パネルについ
ても、同様に実施することができる。すなわちこの場合
に、コンデンサＣｓ21〜Ｃｓ nmの他端がそれぞれ前段の
ゲート線に接続されると共に、最初の水平走査線のコン
デンサＣｓ11〜Ｃｓ1mが接続される前段のゲート線Ｇ0
にもアンド回路Ａ0 を設けて、他のゲート線と同様にイ
ネーブル信号によって信号の遮断を行うことによって、
上述と同様の画素欠陥判定を行うことができる。The above-mentioned method is, for example, as shown in FIG.
And capacitor Cs11~ CsnmThe other end of
For LCD panels that are connected to the gate line
However, it can be implemented in the same manner. Ie in this case
And capacitor Cstwenty one~ Cs nmThe other end of
It is connected to the gate line and connected to the first horizontal scan line.
Densa Cs11~ Cs1mIs connected to the previous gate line G0
Also AND circuit A0Is provided, and the gate is
By blocking the signal with the Navel signal,
The pixel defect determination similar to the above can be performed.
【００３４】さらに上述の図１、図５の例において、検
査信号の信号源及び検査信号からの欠陥の判別を行う処
理回路は、それぞれ検査装置２０とは別体の回路で構成
してもよい。また、液晶表示パネル１０に設けられるア
ンド回路Ａ1 〜Ａn 及びイネーブル端子５は、インター
レース表示等の目的で設けられている回路を流用するこ
とができる。Further, in the examples of FIGS. 1 and 5 described above, the signal source of the inspection signal and the processing circuit for discriminating the defect from the inspection signal may be configured as circuits separate from the inspection device 20, respectively. . Further, as the AND circuits A 1 to A n and the enable terminal 5 provided in the liquid crystal display panel 10, circuits provided for the purpose of interlaced display or the like can be used.
【００３５】また上述の本発明による液晶パネルの検査
方法によれば、液晶セルＣ11〜Ｃnmに液晶が注入される
以前または注入された後のいずれであっても、同様に検
査を行うことができる。According to the above-described liquid crystal panel inspection method of the present invention, the same inspection is performed before or after the liquid crystal is injected into the liquid crystal cells C 11 to C nm. You can
【００３６】[0036]
【発明の効果】この発明によれば、液晶セルを構成する
容量成分に検査信号を書き込んだ後に、選択素子を遮断
して液晶セルを構成する容量成分以外の配線及び回路素
子の容量成分に書き込まれた検査信号を読み出す期間を
設け、その後に液晶セルを構成する容量成分に書き込ま
れた検査信号を読み出して画素の欠陥を検出するように
したので、読み出される検査信号への液晶セルを構成す
る容量成分以外の容量成分の影響を少なくして、良好な
画素欠陥判定を行うことができるようになった。According to the present invention, after the inspection signal is written in the capacitance component forming the liquid crystal cell, the selection element is cut off to write in the capacitance component of the wiring and the circuit element other than the capacitance component forming the liquid crystal cell. Since a period for reading out the read inspection signal is provided and then the inspection signal written in the capacitive component forming the liquid crystal cell is read to detect the pixel defect, the liquid crystal cell for the read inspection signal is formed. It has become possible to perform good pixel defect determination by reducing the influence of the capacitive component other than the capacitive component.
【図１】本発明による液晶パネルの検査方法を適用した
装置の一例の構成図である。FIG. 1 is a configuration diagram of an example of an apparatus to which a liquid crystal panel inspection method according to the present invention is applied.
【図２】その説明のためのタイミングチャート図であ
る。FIG. 2 is a timing chart diagram for the explanation.
【図３】その説明のためのタイミングチャート図であ
る。FIG. 3 is a timing chart diagram for explaining the explanation.
【図４】その説明のための波形図である。FIG. 4 is a waveform diagram for the explanation.
【図５】本発明による液晶パネルの検査方法を適用した
装置の他の例の構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram of another example of an apparatus to which the liquid crystal panel inspection method according to the present invention is applied.
【図６】液晶表示パネルの説明のための構成図である。FIG. 6 is a configuration diagram for explaining a liquid crystal display panel.
【図７】その説明のための波形図である。FIG. 7 is a waveform diagram for the explanation.
１０ 液晶表示パネル ２０ 検査装置 １ 入力端子 ２ 水平走査回路 ３ 対向電極端子 ４ 垂直走査回路 ５ イネーブル端子 １１ 切替えスイッチ １２ Ｉ／Ｖアンプ Ｍ1 〜Ｍm スイッチング素子 Ｌ1 〜Ｌm 信号線 Ｍ11〜Ｍnm スイッチング素子 Ｃ11〜Ｃnm 液晶セル Ｃｓ11〜Ｃｓnm コンデンサ Ｇ1 〜Ｇn ゲート線 Ａ1 〜Ａn アンド回路10 liquid crystal display panel 20 inspection apparatus 1 switching input terminal 2 horizontal scanning circuit 3 counter electrode terminal 4 vertical scanning circuit 5 enable terminal 11 switch 12 I / V amplifier M 1 ~M m switching elements L 1 ~L m signal lines M 11 ~ M nm switching element C 11 to C nm liquid crystal cell Cs 11 to Cs nm capacitor G 1 to G n gate line A 1 to A n AND circuit
Claims (3)
水平方向に平行に複数のゲート線とが配設され、これら
の垂直信号線とゲート線との各交点にそれぞれ画素を構
成する選択素子と液晶セルが設けられて成り、 映像信号が水平走査手段を介して上記垂直信号線に供給
され、駆動信号が上記ゲート線を介して上記選択素子に
供給されるようにした液晶パネルに対して、 上記液晶セルに液晶が注入される以前または注入された
後に、 所定の検査信号を供給して上記水平走査手段及び上記選
択素子を駆動し、上記液晶セルを構成する容量成分に上
記検査信号を書き込み、 その後に上記水平走査手段及び上記選択素子を駆動し、
上記液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた上記検
査信号を読み出して、上記画素の欠陥を検出するように
した液晶パネルの検査方法において、 上記所定の検査信号を供給して上記水平走査手段及び上
記選択素子を駆動し、上記液晶セルを構成する容量成分
に上記検査信号を書き込んだ後に、 上記水平走査手段を駆動すると共に、上記選択素子への
上記駆動信号の供給を遮断して上記選択素子の駆動を停
止させて、上記液晶セルを構成する容量成分以外の配線
及び回路素子の容量成分に書き込まれた上記検査信号を
読み出す期間を設け、 その後に上記水平走査手段及び上記選択素子を駆動し、
上記液晶セルを構成する容量成分に書き込まれた上記検
査信号を読み出して、上記画素の欠陥を検出するように
した液晶パネルの検査方法。1. A plurality of vertical signal lines parallel to the vertical direction,
A plurality of gate lines are arranged in parallel to the horizontal direction, and a selection element and a liquid crystal cell that form a pixel are provided at each intersection of the vertical signal line and the gate line. Before the liquid crystal is injected into the liquid crystal cell, or before the liquid crystal is injected into the liquid crystal panel, in which the drive signal is supplied to the vertical signal line via the gate line and the drive signal is supplied to the selection element via the gate line. After that, a predetermined inspection signal is supplied to drive the horizontal scanning means and the selection element, the inspection signal is written to the capacitive component forming the liquid crystal cell, and then the horizontal scanning means and the selection element are driven. ,
A method for inspecting a liquid crystal panel, wherein the inspection signal written in a capacitive component forming the liquid crystal cell is read out to detect a defect in the pixel, wherein the predetermined inspection signal is supplied to the horizontal scanning means and the horizontal scanning means. The selection element is driven by driving the selection element and writing the inspection signal in the capacitance component forming the liquid crystal cell, then driving the horizontal scanning means and cutting off the supply of the drive signal to the selection element. Is stopped to provide a period for reading out the inspection signal written in the capacitance components of the wiring and the circuit element other than the capacitance component forming the liquid crystal cell, and then driving the horizontal scanning means and the selection element. ,
A method for inspecting a liquid crystal panel, wherein the inspection signal written in a capacitive component forming the liquid crystal cell is read to detect a defect in the pixel.
おいて、 上記画素の欠陥の検出される液晶パネルには、上記液晶
セルを構成する容量成分に書き込まれた上記検査信号を
読み出す手段と、上記選択素子への上記駆動信号の供給
を遮断する手段とを有するようにした液晶パネルの検査
方法。2. The liquid crystal panel inspecting method according to claim 1, wherein the liquid crystal panel in which the defect of the pixel is detected has a unit for reading out the inspecting signal written in a capacitive component forming the liquid crystal cell, A method of inspecting a liquid crystal panel, comprising means for cutting off the supply of the drive signal to the selection element.
おいて、 上記検査信号の上記液晶セルを構成する容量成分への書
き込み、上記液晶セルを構成する容量成分以外の配線及
び回路素子の容量成分に書き込まれた上記検査信号の読
み出し、その後の上記液晶セルを構成する容量成分に書
き込まれた上記検査信号の読み出しは、水平期間ごとに
順次に行うか、垂直期間ごとに行われるようにした液晶
パネルの検査方法。3. The liquid crystal panel inspecting method according to claim 1, wherein the inspecting signal is written into a capacitance component of the liquid crystal cell, and the capacitance components of wirings and circuit elements other than the capacitance component of the liquid crystal cell. The reading of the inspection signal written in the liquid crystal cell and the reading of the inspection signal written in the capacitance component of the liquid crystal cell thereafter are sequentially performed in each horizontal period or in each vertical period. Panel inspection method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26273694A JP3230393B2 (en) | 1994-10-26 | 1994-10-26 | Inspection method of liquid crystal panel |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26273694A JP3230393B2 (en) | 1994-10-26 | 1994-10-26 | Inspection method of liquid crystal panel |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08122728A true JPH08122728A (en) | 1996-05-17 |
| JP3230393B2 JP3230393B2 (en) | 2001-11-19 |
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ID=17379876
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26273694A Expired - Fee Related JP3230393B2 (en) | 1994-10-26 | 1994-10-26 | Inspection method of liquid crystal panel |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3230393B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006189608A (en) * | 2005-01-06 | 2006-07-20 | Sharp Corp | Display apparatus, inspection method of same, and inspection system of display apparatus |
-
1994
- 1994-10-26 JP JP26273694A patent/JP3230393B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006189608A (en) * | 2005-01-06 | 2006-07-20 | Sharp Corp | Display apparatus, inspection method of same, and inspection system of display apparatus |
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| JP3230393B2 (en) | 2001-11-19 |
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