JP3187128B2 - 誘導性負荷のためのクロック制御された電力出力段 - Google Patents
誘導性負荷のためのクロック制御された電力出力段Info
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Description
備えた誘導性負荷のためのクロック制御された電力出力
段であって、該電力出力段は、電圧源の2つの極に接続
された直列回路と、制御回路とを有しており、前記直列
回路は、負荷と、例えばバイポーラトランジスタ又はM
OS−トランジスタ等の、投入状態と遮断状態との間で
連続的に移行するスイッチング特性付きの切換装置とか
らなっており、前記制御回路は、前記切換装置に対する
制御クロック信号を生成するものである、誘導性負荷の
ためのクロック制御された電力出力段に関する。
が少ないため例えばMOSFET等のトランジスタを有
する、クロック制御された電力出力段が頻繁に使用され
る。この種のクロック制御された電力出力段は、著しい
電磁的障害を惹起するという欠点を有する。
点における急速な電圧変化が周知である。この急激な電
圧変化はクロック制御により惹起される。この原因に対
しては例えば、MOSFETを有する切換装置の場合、
抵抗を用いての制御端子の高抵抗制御により対向手段が
講じられる。
装置を通って流れる電流のクロック制御により生じる急
速な変化である。
列に接続されるフライホイールダイオードの急峻度に依
存し、さらに前記した、負荷と切換装置との接続点にお
ける電圧変化速度に依存する。
いのに対して、既に述べられたように、切換装置の高抵
抗な制御を用いての電圧変化速度の制御は可能である。
しかしながら電流変化速度の所要の低減を生じさせるた
めには、電圧変化速度自体によって惹起される電磁的な
障害の低減に必要な程度よりも、電圧変化速度を格段に
大きく低減させなければならないことになる。しかしな
がらその際には切換装置に生じる損失電力が、クロック
制御によって得られる利点も失なうくらい高まるもので
ある。
の電力出力段を、損出電力を著しく高めることなく、電
圧変化速度によって惹起される電磁的障害を更に低減さ
せるように改良することである。
は、電流測定装置と、所定の時定数を有する第1の微分
装置と、電圧測定装置と、所定の時定数を有する第2の
微分装置と、結合素子とが設けられており、前記電流測
定装置は、切換装置を通って流れる電流か又は該電流に
比例する信号を測定するものであり、前記第1の微分装
置は、前記電流測定装置の出力信号の時間的な変更によ
り配分される出力信号を生成するものであり、前記電圧
測定装置は、負荷と切換装置との間の接続点に印加され
る電圧か又は該電圧に比例する信号を測定するものであ
り、前記第2の微分装置は、前記電圧測定装置の出力信
号の時間的な変更により配分される出力信号を生成する
ものであり、前記結合素子は、負荷電流と負荷電圧の変
化速度を制限するために、前記微分装置の出力信号を、
制御クロック信号に重畳させるように構成されて解決さ
れる。
を、電圧変化速度に依存させずに調節することができ、
さらに2つの変化速度の大きさを、実質的な障害が現わ
れない程度だけ急峻にさせればよいという利点が得られ
る。
明する。
は、図1と図2に示された本発明の実施例中に含まれて
いる。該公知回路は、誘導性の負荷Lと、MOSFET
によって構成される切換装置Tとの直列回路からなって
いる。この直列回路は図示されていない電圧源の電極+
U,−Uに接続されている。この場合負荷Lは、切換装
置Tのドレイン端子Dと電圧源の正極+Uの間に設けら
れる。ソース端子Sは、負極−Uに直接接続される。矩
形の制御クロック信号stを発生する制御クロック発生
器の出力側は、図示されていない抵抗を介してスイッチ
ングトランジスタTのゲート端子Gに直接接続されてい
る。負荷Lに対して並列に、フリーホイールダイオード
DIが接続されている。
る。図3bには、スイッチングトランジスタT(Id,
破線)と、フライホイールダイオードDI(If、一点
鎖線)と、負荷L(Il,実線)とを通る電流が示され
ている。該電流は制御クロック信号stによって生起さ
れる。ドレイン端子Dと負極−Uの間に存在する電圧U
Dは、図3cに示されている。
る電圧UDの急峻な電圧エッジと、スイッチングトラン
ジスタTの電流IdとフリーホイールダイオードDI
(並びに電圧源の両極+U,−U)の電流Ifの急峻な
電流エッジが見てとれる。この急峻な電圧エッジと電流
エッジは、不所望の電磁的障害を引き起こす。
による第1実施例装置の回路図が該略して示されてい
る。公知の素子に対して付加的に、スイッチングトラン
ジスタTを通って流れる電流Idに対する電流測定装置
MIが設けられている。この電流測定装置MIは、この
実施例中では、スイッチングトランジスタTのソース端
子Sと電圧源の負極−Uとの間に配置されている。
接続されており、この反転素子Vには、微分素子DIF
1が後置接続されている。この微分素子DIF1では、
電流測定装置MIの出力信号が微分される。この電流測
定装置MIの出力信号は、電流Id(図3b)に比例す
るが、反転されている。この微分素子DIF1の出力信
号d1は、図3eに示されている。
る。この電圧測定装置MUは、ドレイン端子Dに印加さ
れる電圧UDを測定する。この電圧測定装置MUにも同
じように微分素子DIF2が後置接続されている。この
微分素子DIF2は、測定された電圧UDを微分する。
この微分素子DIF2の出力信号d2は、図3dに示さ
れている。
(図3d)は、制御クロック信号stの変化速度を低減
ないし制限するために、結合素子Uにおいて該制御クロ
ック信号st(図3a)に重畳(例えば加算)される。
る。この制御信号gは、制御クロック信号stの代わり
にスイッチングトランジスタTのゲート端子Gに供給さ
れる。
いる。この制御信号gに基づいて、スイッチングトラン
ジスタTにおける電圧(図3h)ないし負荷Lにおける
電圧の上昇速度及び下降速度が低減されたり、スイッチ
ングトランジスタTを通る電流(Id,図3g)及びフ
ライホイールダイオードDIを通る電流(If,図3
g)並びに電圧源からのもしくは電圧源への電流の上昇
速度及び下降速度が低減される。この低減により前記し
た障害がほぼ取り除かれる。前記上昇速度及び下降速度
は、微分素子によってあらかじめ与えられる時定数に相
応する。
れている。この実施例は、図1による実施例と次の点、
すなわち電流測定装置MIが、スイッチングトランジス
タTと電圧源の負極−Uとの間ではなく、フライホイー
ル分岐に配置されている点で異なっている。そのためス
イッチングトランジスタTを通って流れる電流Idは測
定されず、フライホイールDIを通って流れる電流が測
定される。この手段により、電流測定装置MIと微分素
子DIF1との間の反転素子Vを省くことができる。な
ぜなら図3bから明らかなように、電流Ifは反転電流
Idに著しく相応しているからである。この変形実施例
回路の機能は、図1による実施例の機能に相応してお
り、電圧及び電流の経過特性も、図3に示された経過特
性に著しく相応する。図3のダイヤグラムb〜g及びc
〜hの対比から次のことが見てとれる。すなわち図1及
び図2による本発明の回路では、ドレイン電圧UDの変
化速度も、スイッチングトランジスタTを流れる負荷電
流Id及びそれに伴うフライホイール電流Ifの変化速
度も、公知回路装置の場合の図3b及びcの経過特性に
比べて著しく小さく調節することが可能である。公知装
置では変化速度はトランジスタT自体のスイッチング特
性から生じる。
能である。(例えばnpn型トランジスタや、pnp型
トランジスタ、あるいは相応するMOSFET等を用い
て構成したり、電圧源の極性を逆にして構成する等)。
化速度を電圧変化速度に依存させずに調節することがで
き、さらに2つの変化速度の大きさを、実質的な障害が
現われない程度だけ急峻にさせればよいという利点が得
られる。
ラムである。
Claims (5)
- 【請求項1】 フリーホイール回路(DI)を備えた誘
導性負荷(L)のためのクロック制御された電力出力段
であって、 該電力出力段は、 −電圧源の2つの極(+U;−U)に接続された直列回
路と、 −制御回路(ST)とを有しており、 前記直列回路は、負荷(L)と、例えばバイポーラトラ
ンジスタ又はMOS−トランジスタ等の、投入状態と遮
断状態との間で連続的に移行するスイッチング特性付き
の切換装置(T)とからなっており、 前記制御回路(ST)は、前記切換装置(T)に対する
制御クロック信号(st)を生成するものである、誘導
性負荷のためのクロック制御された電力出力段におい
て、 −電流測定装置(MI)と、 −所定の時定数を有する第1の微分装置(DIF1)
と、 −電圧測定装置(MU)と、 −所定の時定数を有する第2の微分装置(DIF2)
と、 −結合素子(U)とが設けられており、 前記電流測定装置(MI)は、前記切換装置(T)を通
って流れる電流(負荷電流Id)か又は該電流に比例す
る信号を測定するものであり、 前記第1の微分装置(DIF1)は、前記電流測定装置
(MI)の出力信号の時間的な変化に関連する出力信号
(d1)を生成するものであり、 前記電圧測定装置(MU)は、負荷(L)と切換装置
(T)との間の接続点に印加される電圧(UD)か又は
該電圧(UD)に比例する信号を測定するものであり、 前記第2の微分装置(DIF2)は、前記電圧測定装置
(MU)の出力信号の時間的な変化に関連する出力信号
(d2)を生成するものであり、 前記結合素子(U)は、負荷電流(Id)と負荷電圧
(UD)の変化速度を制限するために、前記微分装置
(DIF1,DIF2)の出力信号(d1,d2)を、
制御クロック信号(st)に重畳させるものであること
を特徴とする、誘導性負荷のためのクロック制御された
電力出力段。 - 【請求項2】 前記電流測定装置(MI)は、前記切換
装置(T)又はフリーホイール回路(DI)を通って流
れる電流(Id;If)に比例する電圧を測定するよう
に構成されている、請求項1記載の電力出力段。 - 【請求項3】 前記微分装置(DIF1)の入力側の前
か又は該微分装置(DIF1)の出力側の後に反転増幅
器(V)が配置されている、請求項1記載の電力出力
段。 - 【請求項4】 フリーホイール回路(DI)を備えた誘
導性負荷(L)のためのクロック制御された電力出力段
であって、 該電力出力段は、 −電圧源の2つの極(+U;−U)に接続された直列回
路と、 −制御回路(ST)とを有しており、 前記直列回路は、負荷(L)と、例えばバイポーラトラ
ンジスタ又はMOS−トランジスタ等の、投入状態と遮
断状態との間で連続的に移行するスイッチング特性付き
の切換装置(T)とからなっており、 前記制御回路(ST)は、前記切換装置(T)に対する
制御クロック信号(st)を生成するものである、誘導
性負荷のためのクロック制御された電力出力段におい
て、 −電流測定装置(MI)と、 −所定の時定数を有する第1の微分装置(DIF1)
と、 −電圧測定装置(MU)と、 −所定の時定数を有する第2の微分装置(DIF2)
と、 −結合素子(U)とが設けられており、 前記電流測定装置(MI)は、フリーホイール回路(D
I)を通って流れる電流(フリーホイール電流If)か
又は該電流に比例する信号を測定するものであり、 前記第1の微分装置(DIF1)は、前記電流測定装置
(MI)の出力信号の時間的な変化に関連する出力信号
(d1)を生成するものであり、 前記電圧測定装置(MU)は、負荷(L)と切換装置
(T)との間の接続点に印加される電圧(UD)か又は
該電圧に比例する信号を測定するものであり、 前記第2の微分装置(DIF2)は、前記電圧測定装置
(MU)の出力信号の時間的な変化に関連する出力信号
(d2)を生成するものであり、 前記結合素子(U)は、負荷電流(Id)と負荷電圧
(UD)の変化速度を制限するために、前記微分装置
(DIF1,DIF2)の出力信号(d1,d2)を、
制御クロック信号(st)に重畳させるものであること
を特徴とする、誘電性負荷のためのクロック制御された
電力出力段。 - 【請求項5】 前記電流測定装置(MI)は、前記切換
装置(T)又はフリーホイール回路(DI)を通って流
れる電流(Id;If)に比例する電圧を測定するよう
に構成されている、請求項4記載の電力出力段。
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