JP3151942B2 - チェックエリアの設定方法 - Google Patents
チェックエリアの設定方法Info
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- JP3151942B2 JP3151942B2 JP17399392A JP17399392A JP3151942B2 JP 3151942 B2 JP3151942 B2 JP 3151942B2 JP 17399392 A JP17399392 A JP 17399392A JP 17399392 A JP17399392 A JP 17399392A JP 3151942 B2 JP3151942 B2 JP 3151942B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はチェックエリアの設定方
法に係り、詳しくは、回路パターンによるノイズを除去
して円滑に設定を行うことができるチェックエリア設定
方法に関する。
法に係り、詳しくは、回路パターンによるノイズを除去
して円滑に設定を行うことができるチェックエリア設定
方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣ，ＬＳＩ，コンデンサチップ、抵抗
などのチップのリードと、基板のランドとを半田により
接着した後で、チップのリードがランドに良好に接着さ
れているか否かを検査するために、チップのリードとラ
ンドとの重合部分の近傍において、半田の外観検査が行
われている。
などのチップのリードと、基板のランドとを半田により
接着した後で、チップのリードがランドに良好に接着さ
れているか否かを検査するために、チップのリードとラ
ンドとの重合部分の近傍において、半田の外観検査が行
われている。
【０００３】従来このような外観検査は、作業者の目視
作業により行われていたが、近年カメラによる自動検査
が行なわれ始めている。このカメラによる自動検査を行
うにあたっては、カメラの視野内に、チェックエリアを
設定する必要がある。
作業により行われていたが、近年カメラによる自動検査
が行なわれ始めている。このカメラによる自動検査を行
うにあたっては、カメラの視野内に、チェックエリアを
設定する必要がある。
【０００４】ここで、上記外観検査を行うには、上記重
合部分を観察する必要があるので、チェックエリアはラ
ンド上に設定されなければならない。ところが、基板に
は、ランドのみならず、このランドに接続された配線部
などからなる回路パターンも形成されている。しかも、
回路パターンはランド同様に金属質であり、カメラで基
板を観察すると、その生画像において、回路パターンも
ランドと同様に明るく観察される。
合部分を観察する必要があるので、チェックエリアはラ
ンド上に設定されなければならない。ところが、基板に
は、ランドのみならず、このランドに接続された配線部
などからなる回路パターンも形成されている。しかも、
回路パターンはランド同様に金属質であり、カメラで基
板を観察すると、その生画像において、回路パターンも
ランドと同様に明るく観察される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】したがって、このよう
な生画像あるいはこの生画像を２値化又は多値化した画
像情報に対し、単に明るく輝く部分を手掛かりにして、
チェックエリアを自動設定しようとすると、回路パター
ンをランドと誤認し、誤った位置にチェックエリアが設
定されてしまうおそれがある。そこで現状では、オペレ
ータが生画像などの画像情報を視認し、明るい部分のう
ちのどれがランドに対応するものであるかを判断し、マ
ニュアル処理により、チェックエリアを設定している。
このように、基板観察時における回路パターンの像（ノ
イズ）が、チェックエリア設定の自動化の障害となると
いう問題点があった。
な生画像あるいはこの生画像を２値化又は多値化した画
像情報に対し、単に明るく輝く部分を手掛かりにして、
チェックエリアを自動設定しようとすると、回路パター
ンをランドと誤認し、誤った位置にチェックエリアが設
定されてしまうおそれがある。そこで現状では、オペレ
ータが生画像などの画像情報を視認し、明るい部分のう
ちのどれがランドに対応するものであるかを判断し、マ
ニュアル処理により、チェックエリアを設定している。
このように、基板観察時における回路パターンの像（ノ
イズ）が、チェックエリア設定の自動化の障害となると
いう問題点があった。
【０００６】本発明は、上述した問題点に鑑み、回路パ
ターンによるノイズを除去して、円滑にチェックエリア
を設定できるチェックエリアの設定方法を提供すること
を目的とする。
ターンによるノイズを除去して、円滑にチェックエリア
を設定できるチェックエリアの設定方法を提供すること
を目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、基板のランド
にチップを半田付けする半田の外観検査のためのチェッ
クエリアの設定方法であって、カメラにより基板を観察
して、画像情報を得るステップと、この画像情報を設定
された回数収縮させて収縮画像情報を得るステップと、
この収縮画像情報を前記回数膨張させて回路パターンの
ノイズが除去された補修画像情報を得るステップと、こ
の補修画像情報における明部に基づいてチェックエリア
を設定するステップとを有するものである。
にチップを半田付けする半田の外観検査のためのチェッ
クエリアの設定方法であって、カメラにより基板を観察
して、画像情報を得るステップと、この画像情報を設定
された回数収縮させて収縮画像情報を得るステップと、
この収縮画像情報を前記回数膨張させて回路パターンの
ノイズが除去された補修画像情報を得るステップと、こ
の補修画像情報における明部に基づいてチェックエリア
を設定するステップとを有するものである。
【０００８】
【作用】上記構成によれば、カメラの観察により得られ
た画像情報が、収縮することにより、回路パターンによ
るノイズが除去される。そして、膨張して、ランドの像
がもとの大きさに復元された補修画像情報が得られる。
そして、このノイズが除去された補修画像情報につい
て、チェックエリアが設定される。したがって、回路パ
ターンをランドと誤認する可能性が小さくなり、チェッ
クエリア設定の自動化を促進できる。
た画像情報が、収縮することにより、回路パターンによ
るノイズが除去される。そして、膨張して、ランドの像
がもとの大きさに復元された補修画像情報が得られる。
そして、このノイズが除去された補修画像情報につい
て、チェックエリアが設定される。したがって、回路パ
ターンをランドと誤認する可能性が小さくなり、チェッ
クエリア設定の自動化を促進できる。
【０００９】
【実施例】次に図面を参照しながら本発明の一実施例を
説明する。
説明する。
【００１０】図１は本実施例に係る画像取込状態を示す
斜視図、図２は本実施例のチェックエリア設定方法を実
現する画像処理装置の機能ブロック図、図３は同チェッ
クエリア設定方法によるフローチャート、図４は収縮、
膨張の説明図、図５は同チェックエリア設定方法による
画像情報（生画像）の説明図、図６は同収縮画像情報の
説明図、図７は補修画像情報の説明図である。
斜視図、図２は本実施例のチェックエリア設定方法を実
現する画像処理装置の機能ブロック図、図３は同チェッ
クエリア設定方法によるフローチャート、図４は収縮、
膨張の説明図、図５は同チェックエリア設定方法による
画像情報（生画像）の説明図、図６は同収縮画像情報の
説明図、図７は補修画像情報の説明図である。
【００１１】さて、図１において、１は基板、２はラン
ド、３はこのランドに接続する回路パターンである。４
はカメラ、５は光源である。
ド、３はこのランドに接続する回路パターンである。４
はカメラ、５は光源である。
【００１２】このカメラ４により取込まれた生画像は、
図２に示すインターフェース６を介して、ＣＰＵなどの
制御部７により、生画像記憶部１１に格納される。８は
キーボードなどの入力手段、９はＣＲＴなどの表示手
段、１０は図３のフローチャートに沿ったソフトウェア
などを記憶するＲＯＭである。１２は、第１の２値画像
記憶部、１３は第２の２値化画像記憶部、１４は入力手
段８から入力された収縮／膨張回数を記憶する収縮／膨
張回数記憶部である。そして、本手段は、カメラ４によ
り取込まれた生画像情報について、制御部７がＲＯＭ１
０内に記憶されているソフトウェアの各ステップを実行
することにより実現される。もちろんＲＯＭ１０にかえ
て、ＲＡＭ（図外）としてもよい。
図２に示すインターフェース６を介して、ＣＰＵなどの
制御部７により、生画像記憶部１１に格納される。８は
キーボードなどの入力手段、９はＣＲＴなどの表示手
段、１０は図３のフローチャートに沿ったソフトウェア
などを記憶するＲＯＭである。１２は、第１の２値画像
記憶部、１３は第２の２値化画像記憶部、１４は入力手
段８から入力された収縮／膨張回数を記憶する収縮／膨
張回数記憶部である。そして、本手段は、カメラ４によ
り取込まれた生画像情報について、制御部７がＲＯＭ１
０内に記憶されているソフトウェアの各ステップを実行
することにより実現される。もちろんＲＯＭ１０にかえ
て、ＲＡＭ（図外）としてもよい。
【００１３】ここで図４を参照しながら、収縮と膨張に
ついて簡単に説明する。図４（ａ），（ｂ）は収縮の説
明図、図４（ｃ），（ｄ）は膨張の説明図である。な
お、本実施例では収縮・膨張はランド２の幅方向にのみ
行うものとする。
ついて簡単に説明する。図４（ａ），（ｂ）は収縮の説
明図、図４（ｃ），（ｄ）は膨張の説明図である。な
お、本実施例では収縮・膨張はランド２の幅方向にのみ
行うものとする。
【００１４】まず収縮とは、図４（ｂ）に示すように、
２値化画像において、ある点Ｐ（ｎ）の隣接点Ｐ（ｎ−
１），Ｐ（ｎ＋１）の値のうち、少なくとも一方が、０
（暗）であれば、点Ｐ（ｎ）の値を０（暗）とすること
をいう。したがって、図４（ａ）に示すように、ランド
２の幅方向について画像情報を１回収納すると、収縮前
（破線）と収縮後（実線）において、画像情報におい
て、１（明）の部分が、１画素分細くなる。
２値化画像において、ある点Ｐ（ｎ）の隣接点Ｐ（ｎ−
１），Ｐ（ｎ＋１）の値のうち、少なくとも一方が、０
（暗）であれば、点Ｐ（ｎ）の値を０（暗）とすること
をいう。したがって、図４（ａ）に示すように、ランド
２の幅方向について画像情報を１回収納すると、収縮前
（破線）と収縮後（実線）において、画像情報におい
て、１（明）の部分が、１画素分細くなる。
【００１５】また、膨張とは、図４（ｄ）に示すよう
に、２値化画像において、ある点Ｑ（ｎ）の隣接点Ｑ
（ｎ−１），Ｑ（ｎ＋１）の値のうち、少なくとも一方
が、１（明）であれば、点Ｑ（ｎ）の値を１（明）とす
ることをいう。したがってランド２の幅方向について画
像情報を１回膨張すると、膨張前（破線）と膨張後（実
線）とにおいて、画像情報において、１（明）の部分が
１画素分太くなる。
に、２値化画像において、ある点Ｑ（ｎ）の隣接点Ｑ
（ｎ−１），Ｑ（ｎ＋１）の値のうち、少なくとも一方
が、１（明）であれば、点Ｑ（ｎ）の値を１（明）とす
ることをいう。したがってランド２の幅方向について画
像情報を１回膨張すると、膨張前（破線）と膨張後（実
線）とにおいて、画像情報において、１（明）の部分が
１画素分太くなる。
【００１６】次に、図３のフローチャートに沿って、本
実施例に係るチェックエリアの設定方法を説明する。
実施例に係るチェックエリアの設定方法を説明する。
【００１７】まずカメラ４により基板１を観察し、その
生画像をインターフェイス６、制御部７を介して、生画
像記憶部１１に格納する（ステップ１）。次に、この生
画像を２値化して第１の２値画像記憶部１２に格納する
（ステップ２）。図５はこの状態における画像情報を示
す。図５中、Ｖはカメラ４の視野、ｘ，ｙはこの視野Ｖ
における横軸と縦軸であり、斜線部の値が１（明）であ
り、それ以外は０（暗）である。このうち、２ａ，２
ｂ，２ｃ…，２ｍ，２ｎ，２ｏは、ランドの像、Ｃは回
路パターンの像である。ここで、基板１に形成されてい
るランド２や回路パターン３の形状、寸法などは、基板
１形成時の設計データとして既知である。また、図示し
ているように、一般にランド２よりも回路パターン３は
ランド２の幅方向についても細密に形成される。しか
し、ランド２には回路パターン３が複雑に接続されるも
のであり、この画像情報において、明るい部分（ランド
２と回路パターン３とからなる斜線部）を手掛かりにチ
ェックエリアを自動設定しようとすると、発明が解決し
ようとする課題の項でも述べたように、誤設定しやす
い。
生画像をインターフェイス６、制御部７を介して、生画
像記憶部１１に格納する（ステップ１）。次に、この生
画像を２値化して第１の２値画像記憶部１２に格納する
（ステップ２）。図５はこの状態における画像情報を示
す。図５中、Ｖはカメラ４の視野、ｘ，ｙはこの視野Ｖ
における横軸と縦軸であり、斜線部の値が１（明）であ
り、それ以外は０（暗）である。このうち、２ａ，２
ｂ，２ｃ…，２ｍ，２ｎ，２ｏは、ランドの像、Ｃは回
路パターンの像である。ここで、基板１に形成されてい
るランド２や回路パターン３の形状、寸法などは、基板
１形成時の設計データとして既知である。また、図示し
ているように、一般にランド２よりも回路パターン３は
ランド２の幅方向についても細密に形成される。しか
し、ランド２には回路パターン３が複雑に接続されるも
のであり、この画像情報において、明るい部分（ランド
２と回路パターン３とからなる斜線部）を手掛かりにチ
ェックエリアを自動設定しようとすると、発明が解決し
ようとする課題の項でも述べたように、誤設定しやす
い。
【００１８】次に、収縮／膨張回数ｎを設定する（ステ
ップ３）。上述のように、回路パターン３は、ランド２
の幅方向（視野Ｖにおけるｙ軸方向）について、ランド
２よりも細く形成されている。したがって、この細い回
路パターン３の像を、ランド２の幅方向について、収縮
により消去しうると共に、ランド２の像が消去されない
回数を上記回数ｎとして設定する。この設定回数ｎは、
基板１の設計データにより計算して求めるか、あるいは
経験則により定めるとよい。
ップ３）。上述のように、回路パターン３は、ランド２
の幅方向（視野Ｖにおけるｙ軸方向）について、ランド
２よりも細く形成されている。したがって、この細い回
路パターン３の像を、ランド２の幅方向について、収縮
により消去しうると共に、ランド２の像が消去されない
回数を上記回数ｎとして設定する。この設定回数ｎは、
基板１の設計データにより計算して求めるか、あるいは
経験則により定めるとよい。
【００１９】次に、図５の画像情報に対し、ランド２の
幅方向に１画素分収縮処理を施し、その結果を第２の２
値画像記憶部１３に格納する。またこの第２の２値画像
記憶部１３内の画像情報に対し、同様の処理を施し、そ
の結果を第１の２値画像記憶部１２へ格納する。このよ
うに、第１、第２の２値画像記憶部１２，１３の間を交
互に、１画素ずつ収縮処理した画像情報を格納し、この
収縮処理が上記設定回数ｎ回行われたとき、収縮処理を
終了し、その結果得られた画像情報を収縮画像情報とす
る（ステップ４〜５）。
幅方向に１画素分収縮処理を施し、その結果を第２の２
値画像記憶部１３に格納する。またこの第２の２値画像
記憶部１３内の画像情報に対し、同様の処理を施し、そ
の結果を第１の２値画像記憶部１２へ格納する。このよ
うに、第１、第２の２値画像記憶部１２，１３の間を交
互に、１画素ずつ収縮処理した画像情報を格納し、この
収縮処理が上記設定回数ｎ回行われたとき、収縮処理を
終了し、その結果得られた画像情報を収縮画像情報とす
る（ステップ４〜５）。
【００２０】図６は、この収縮画像情報を図示したもの
である。図５と比べると、斜線部がランド２の幅方向に
ついて、かなり細くなっており、回路パターンの像Ｃは
ほとんど消去されている。なお、回路パターンＣの像の
うち、この幅方向に長い部分は、一部残存しているが、
ランドの像２ａ，２ｂ，…，２ｎ，２ｏからは離れてお
り、これらの像から明瞭に区別でき、実質的に不都合を
生じない。
である。図５と比べると、斜線部がランド２の幅方向に
ついて、かなり細くなっており、回路パターンの像Ｃは
ほとんど消去されている。なお、回路パターンＣの像の
うち、この幅方向に長い部分は、一部残存しているが、
ランドの像２ａ，２ｂ，…，２ｎ，２ｏからは離れてお
り、これらの像から明瞭に区別でき、実質的に不都合を
生じない。
【００２１】次に、この収縮画像情報を前記設定回数ｎ
回膨張させて補修画像情報を得る。具体的には、上記収
縮処理とほぼ逆の処理を施すものである。図６に示す収
縮画像情報が、第２の２値化画像記憶部１３に格納され
ていたものとすると、この収縮画像情報に対し、１画素
分の膨張処理を施し、その結果を第１の２値画像記憶部
１２に格納する。そして膨張処理を施しながら、第１、
第２の２値化画像記憶部１２，１３交互に格納し、膨張
処理の回数が上記設定回数ｎになった時点で膨張処理を
終了し、得られた画像情報を補修画像情報とし、この補
修画像情報を生画像記憶部１１に格納する（ステップ６
〜８）。
回膨張させて補修画像情報を得る。具体的には、上記収
縮処理とほぼ逆の処理を施すものである。図６に示す収
縮画像情報が、第２の２値化画像記憶部１３に格納され
ていたものとすると、この収縮画像情報に対し、１画素
分の膨張処理を施し、その結果を第１の２値画像記憶部
１２に格納する。そして膨張処理を施しながら、第１、
第２の２値化画像記憶部１２，１３交互に格納し、膨張
処理の回数が上記設定回数ｎになった時点で膨張処理を
終了し、得られた画像情報を補修画像情報とし、この補
修画像情報を生画像記憶部１１に格納する（ステップ６
〜８）。
【００２２】図７はこの補修画像情報を図示している。
ランドの像２ａ，２ｂ，…，２ｎ，２ｏは、図６の状態
から図５のもとの形状へ戻っている。しかしながら、回
路パターンの像Ｃの大部分は、収縮画像情報となった時
点（図６）で、ほとんど消去されてしまっているので、
ランドの像２ａ，２ｂ，…，２ｎ，２ｏがもとの形状に
復元されても、ほとんどあらわれることはない。したが
って、ランドの像２ａ，２ｂ，…，２ｎ，２ｏの輪郭線
は、明瞭にあらわれ、その形状も設計上のデータと一致
するものとなるため、この設計上のデータと補修画像情
報の明るい部分とを手がかりにすれば、チェックエリア
ＣＡを正しく自動設定できるものである（ステップ
９）。
ランドの像２ａ，２ｂ，…，２ｎ，２ｏは、図６の状態
から図５のもとの形状へ戻っている。しかしながら、回
路パターンの像Ｃの大部分は、収縮画像情報となった時
点（図６）で、ほとんど消去されてしまっているので、
ランドの像２ａ，２ｂ，…，２ｎ，２ｏがもとの形状に
復元されても、ほとんどあらわれることはない。したが
って、ランドの像２ａ，２ｂ，…，２ｎ，２ｏの輪郭線
は、明瞭にあらわれ、その形状も設計上のデータと一致
するものとなるため、この設計上のデータと補修画像情
報の明るい部分とを手がかりにすれば、チェックエリア
ＣＡを正しく自動設定できるものである（ステップ
９）。
【００２３】
【発明の効果】本発明は、カメラにより基板を観察し
て、画像情報を得るステップと、この画像情報を設定さ
れた回数収縮させて収縮画像情報を得るステップと、こ
の収縮画像情報を前記回数膨張させて補修画像情報を得
るステップと、この補修画像情報における明部に基づい
てチェックエリアを設定するステップとを有する。した
がって、収縮により回路パターンによるノイズを除去
し、膨張によりランドの像が復元された補修画像情報に
対し、チェックエリアを設定することができるので、チ
ェックエリアを自動設定する際のチェックエリアの設定
ミスを削減することができる。
て、画像情報を得るステップと、この画像情報を設定さ
れた回数収縮させて収縮画像情報を得るステップと、こ
の収縮画像情報を前記回数膨張させて補修画像情報を得
るステップと、この補修画像情報における明部に基づい
てチェックエリアを設定するステップとを有する。した
がって、収縮により回路パターンによるノイズを除去
し、膨張によりランドの像が復元された補修画像情報に
対し、チェックエリアを設定することができるので、チ
ェックエリアを自動設定する際のチェックエリアの設定
ミスを削減することができる。
【図１】本発明の一実施例に係る画像取込状態を示す斜
視図
視図
【図２】本発明の一実施例に係る画像処理装置の機能ブ
ロック図
ロック図
【図３】本発明の一実施例に係るフローチャート
【図４】本発明の一実施例に係る収縮・膨張の説明図
【図５】本発明の一実施例に係る画像処理情報（生画
像）の説明図
像）の説明図
【図６】本発明の一実施例に係る収縮画像情報の説明図
【図７】本発明の一実施例に係る補修画像情報の説明図
１ 基板 ４ カメラ
Claims (2)
- 【請求項１】基板のランドにチップを半田付けする半田
の外観検査のためのチェックエリアの設定方法であっ
て、カメラにより基板を観察して、画像情報を得るステ
ップと、この画像情報を設定された回数収縮させて収縮
画像情報を得るステップと、この収縮画像情報を前記回
数膨張させて回路パターンのノイズが除去された補修画
像情報を得るステップと、この補修画像情報における明
部に基づいてチェックエリアを設定するステップとを有
することを特徴とするチェックエリアの設定方法。 - 【請求項２】前記収縮及び前記膨張が、基板に形成され
たランドの幅方向に行われることを特徴とする請求項１
記載のチェックエリアの設定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17399392A JP3151942B2 (ja) | 1992-07-01 | 1992-07-01 | チェックエリアの設定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17399392A JP3151942B2 (ja) | 1992-07-01 | 1992-07-01 | チェックエリアの設定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0618434A JPH0618434A (ja) | 1994-01-25 |
| JP3151942B2 true JP3151942B2 (ja) | 2001-04-03 |
Family
ID=15970779
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17399392A Expired - Fee Related JP3151942B2 (ja) | 1992-07-01 | 1992-07-01 | チェックエリアの設定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3151942B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63302885A (ja) * | 1987-06-01 | 1988-12-09 | 日産自動車株式会社 | 一体成形シ−ト |
| WO2012164655A1 (ja) * | 2011-05-28 | 2012-12-06 | 株式会社メガトレード | 自動検査装置および自動検査方法 |
-
1992
- 1992-07-01 JP JP17399392A patent/JP3151942B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0618434A (ja) | 1994-01-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |