JP3110719B2 - プラズマディスプレイ基板の厚膜パターン形成方法 - Google Patents

プラズマディスプレイ基板の厚膜パターン形成方法

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JP3110719B2 JP19522898A JP19522898A JP3110719B2 JP 3110719 B2 JP3110719 B2 JP 3110719B2 JP 19522898 A JP19522898 A JP 19522898A JP 19522898 A JP19522898 A JP 19522898A JP 3110719 B2 JP3110719 B2 JP 3110719B2
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英明 藤井
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プラズマディスプレイ
パネルの製造工程において、電極パターンが形成された
プラズマディスプレイ基板上に障壁パターンを形成する
プラズマディスプレイ基板の厚膜パターン形成方法に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、プラズマディスプレイ基板の厚膜
パターン形成方法としては、ガラスやセラミックの基板
上に導体或いは絶縁体用のペーストをスクリーン印刷に
よりパターン状に印刷を行った後にこのペーストを乾
燥、焼成する工程を繰り返して厚膜パターンを形成する
方法が知られている。また、最近では、ガラス等の基板
の上にセラミック材料で厚膜パターンを形成することが
種々の分野で行われてきているが、この場合にも、セラ
ミック材料をバインダー中に分散させてペースト状とし
たものを用い、前記したのと同様にして、スクリーン印
刷により重ね印刷を行った後に乾燥、焼成する工程を繰
り返すことにより厚膜パターンを形成するようにしてい
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来のスクリーン印刷
によりプラズマディスプレイ基板上に厚膜パターンを形
成する方法においては、上述のように複数回のスクリー
ン印刷により重ね刷りをして所定の厚さにする必要があ
るが、この方法では例えば50〜100μmの厚膜を得
るために5〜10回の重ね刷りを必要とし、そのたびご
とに乾燥工程が入ることとなり、その結果として極めて
生産性が悪く歩留りを低下させるという問題点があっ
た。さらに、ペーストの粘度、チクソトロピー等により
パターンの線幅精度が損なわれるという問題点もあっ
た。
【0004】本発明は、このような従来技術の問題点を
解消するために創案されたものであり、生産性を改善し
歩留りを向上させ、かつ良好な線幅精度を得ることので
きるプラズマディスプレイ基板の厚膜パターン形成方法
を提供することを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のプラズマディスプレイ基板の厚膜パターン
形成方法は、電極がラインパターン状に形成されたプラ
ズマディスプレイ基板上における前記電極の間に障壁を
形成する厚膜パターン形成方法であって、電極パターン
の上から基板に障壁パターン形成材料を所定の膜厚で塗
布し、基板を加熱して障壁パターン形成材料の上部にド
ライフィルムをラミネートした後、該ドライフィルムを
フォトリソグラフィー法によりパターニングして所望パ
ターンに応じたサンドブラスト用マスクを形成し、その
サンドブラスト用マスクを介してサンドブラスト処理を
ってから、最後に焼成を行って障壁を基板上で結着さ
せることにより、目的とする障壁パターンを得ることを
特徴としている。
【0006】
【作用】上記構成の厚膜パターン形成方法によれば、電
極の形成された基板上に所定の厚さで障壁パターン形成
材料を塗布した後、マスクを介してサンドブラストによ
り不要部分を除去することにより、最終的に必要とする
厚さの障壁パターンが1回の操作で形成される。
【0007】
【実施例】実施例について図面を参照して説明する。
【0008】図1及び図2は本発明に係るプラズマディ
スプレイ基板の厚膜パターン形成方法の実施例を示す工
程図であり、図1は電極パターンを形成する工程を、図
2はその電極の間に障壁を形成する工程を示している。
【0009】ここで、本実施例においては、サンドブラ
スト用マスクを構成するドライフィルムとして、光硬化
型ドライフィルム(東京応化工業製、OSBRフィル
ム)を用いた。しかしながら、この選択は本発明を限定
するものではなく、目的とするパターン寸法、パターン
形成材料の種類、サンドブラスト処理のマスクとしての
適性に応じて適切なドライフィルムを適宜選択すればよ
いものである。
【0010】以下、図1に示す各工程を順を追って説明
する。
【0011】まず、(a)に示すように、ガラス基板1
1の上に電極パターン形成材料である電極ペースト12
をスクリーン印刷により塗布しその厚みを20μmとし
た。そして、電極ペースト12中の有機バインダーに含
まれる溶剤を除去するために基板11ごと100〜16
0℃で乾燥を行って次の工程へ供した。次いで、(b)
に示すように、基板11を50〜80℃に加熱し、前記
のサンドブラスト用マスクを構成するドライフィルム1
3をラミネートした後、(c)に示すように、超高圧水
銀灯を光源とする平行光をプリンターを用い、線幅60
μm、ピッチ120μmのラインパターンマスク14を
介して紫外線15によりパターン露光を行った。露光条
件は、365nmで測定した時に、強度200μw/c
2 、照射量70mJ/cm2 である。続いて、(d)
に示す現像工程では、無水炭酸ナトリウム0.2wt%
水溶液により液温30〜50℃でスプレー現像を行っ
た。以上の工程により線幅60μm、ピッチ120μm
のサンドブラスト用マスク16が得られた。その後、乾
燥工程を経て(e)のサンドブラスト17による不要部
分の除去処理を行った。ここでは、研磨材として褐色溶
融アルミナ#800を用い、噴出圧力1kg/cm2
サンドブラスト処理を行うことにより、線幅60μm、
ピッチ120μm、高さ20μmの電極18のパターン
を得た。
【0012】次に、図2に示す工程を順を追って説明す
る。
【0013】まず、(a)に示すように、障壁パターン
形成材料としてのセラミック材料19を図1の工程で得
られたパターンの上から基板11にブレードコート法に
より塗布し、厚みを200μmとした。そして、100
〜160℃で乾燥を行い、次の工程へ供した。次いで、
(b)に示すように、基板を50〜80℃に加熱し、前
記したのと同じドライフィルム20をラミネートした
後、(c)に示すように、線幅60μm、ピッチ120
μmのラインパターンマスク21を介して紫外線22に
よりパターン露光を行った。露光条件は、図1(c)の
場合と同様である。続いて、前記条件と同様の条件で現
像を行い、(d)に示すように、線幅60μm、ピッチ
120μmのサンドブラスト用マスク23を得た。その
後、(e)のサンドブラスト24による不要部分の除去
工程では、研磨材として褐色溶融アルミナ#400を用
い、噴出圧力3kg/cm2 でサンドブラスト処理を行
うことにより、線幅60μm、ピッチ120μm、高さ
200μmの前記セラミック材料による障壁25のパタ
ーンを得た。この際、電極18の上部には先のマスク1
6が残っており、これが電極18の表面を保護している
ため、電極18はダメージを受けない。そして、続く
(f)に示す工程では、ピーク温度585℃、保持時間
10〜20分の条件で焼成を行い、前記電極18及び障
壁25をガラス基板11上で結着させると同時にサンド
ブラスト用マスク16,23を焼失せしめた。以上の工
程により線幅60μm、ピッチ120μm、高さ18μ
mの電極18、及び線幅60μm、ピッチ120μm、
高さ180μmの障壁25の厚膜パターンが得られた
【0014】
【発明の効果】本発明は、上述のとおり構成されている
ので、次に記載する効果を奏する。
【0015】1回の操作で高さ100μm以上の厚膜パ
ターンが得られるため、これまでのスクリーン印刷法に
よる厚膜パターン形成の積層法に比べ、処理時間が短縮
されると共に、位置合わせ等の操作も1回でよいため、
工程の簡略化を図ることができる。また、サンドブラス
ト用マスクの形成にフォトリソグラフィー法を用いるこ
とにより、高精細パターン及び基板の大型化への対応が
可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】電極パターン形成の工程図である。
【図2】障壁パターン形成の工程図である。
【符号の説明】
11 ガラス基板 12 電極ペースト 13 ドライフィルム 14 ラインパターンマスク 15 紫外線 16 サンドブラスト用マスク 17 サンドブラスト 18 電極 19 セラミック材料(障壁パターン形成材料) 20 ドライフィルム 21 ラインパターンマスク 22 紫外線 23 サンドブラスト用マスク 24 サンドブラスト 25 障壁
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−242548(JP,A) 特開 平3−86477(JP,A) 特開 平3−294180(JP,A) 特開 平2−301934(JP,A) 特開 平4−123744(JP,A) (社)日本プリント回路工業会編, 「プリント回路技術便覧」,日刊工業新 聞社,昭和52年2月28日,p.480−485 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01J 9/02 H01J 17/04

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電極がラインパターン状に形成されたプ
    ラズマディスプレイ基板上における前記電極の間に障壁
    を形成する厚膜パターン形成方法であって、電極パター
    ンの上から基板に障壁パターン形成材料を所定の膜厚で
    塗布し、基板を加熱して障壁パターン形成材料の上部に
    ドライフィルムをラミネートした後、該ドライフィルム
    をフォトリソグラフィー法によりパターニングして所望
    パターンに応じたサンドブラスト用マスクを形成し、そ
    のサンドブラスト用マスクを介してサンドブラスト処理
    を行ってから、最後に焼成を行って障壁を基板上で結着
    させることにより、目的とする障壁パターンを得ること
    を特徴とするプラズマディスプレイ基板の厚膜パターン
    形成方法。
JP19522898A 1998-07-10 1998-07-10 プラズマディスプレイ基板の厚膜パターン形成方法 Expired - Lifetime JP3110719B2 (ja)

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Non-Patent Citations (1)

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