JP3089844B2 - 追記型光ディスク記録装置 - Google Patents
追記型光ディスク記録装置Info
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- JP3089844B2 JP3089844B2 JP04225995A JP22599592A JP3089844B2 JP 3089844 B2 JP3089844 B2 JP 3089844B2 JP 04225995 A JP04225995 A JP 04225995A JP 22599592 A JP22599592 A JP 22599592A JP 3089844 B2 JP3089844 B2 JP 3089844B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、追記型光ディ
スクに光ビームによりデータの書き込みを行うようにし
た追記型光ディスク記録装置に関する。
スクに光ビームによりデータの書き込みを行うようにし
た追記型光ディスク記録装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、コンパクトディスク(CD)と
同じサイズのディスクの一面に有機系記録材料を塗布
し、この一面に光ビームにより任意のデータを書き込む
ようにされた追記型光ディスクが知られている。この追
記型光ディスクでは、基本的には、最内周側に試し書き
領域(PCA;Power Control Are
a)が形成され、その外側にデータ書き込み領域が形成
されている。
同じサイズのディスクの一面に有機系記録材料を塗布
し、この一面に光ビームにより任意のデータを書き込む
ようにされた追記型光ディスクが知られている。この追
記型光ディスクでは、基本的には、最内周側に試し書き
領域(PCA;Power Control Are
a)が形成され、その外側にデータ書き込み領域が形成
されている。
【0003】このような追記型光ディスクにデータを書
き込む際には、再生信号のアシンメトリが一定となるよ
うに上記試し書き領域に試し書きを行い、その結果とし
て得られた上記アシンメトリが一定になるレーザ光の出
力を最適出力とし、この最適出力を保持しながら、デー
タ書き込み領域にデータを書き込むようにしていた。
き込む際には、再生信号のアシンメトリが一定となるよ
うに上記試し書き領域に試し書きを行い、その結果とし
て得られた上記アシンメトリが一定になるレーザ光の出
力を最適出力とし、この最適出力を保持しながら、デー
タ書き込み領域にデータを書き込むようにしていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の追記型光ディスク記録装置では、たとえ、試し
書き領域においてレーザ出力の最適出力を得て、その最
適出力によりデータ書き込み領域にデータを書き込むよ
うにしても、レーザ素子の発光出力の温度変化および追
記型光ディスクの面内における感度むら、そりなどによ
って最適となるレーザ出力が上記データ書き込みエリア
内で変化してしまい、結局、一定の、言い換えれば、最
適なアシンメトリを保持しながら書き込みを行うことが
できないという問題があった。
た従来の追記型光ディスク記録装置では、たとえ、試し
書き領域においてレーザ出力の最適出力を得て、その最
適出力によりデータ書き込み領域にデータを書き込むよ
うにしても、レーザ素子の発光出力の温度変化および追
記型光ディスクの面内における感度むら、そりなどによ
って最適となるレーザ出力が上記データ書き込みエリア
内で変化してしまい、結局、一定の、言い換えれば、最
適なアシンメトリを保持しながら書き込みを行うことが
できないという問題があった。
【0005】本発明はこのような課題に鑑みてなされた
ものであり、追記型光ディスクへのデータの最適記録を
連続して長時間安定に行うことのできる追記型光ディス
ク記録装置を提供することを目的とする。
ものであり、追記型光ディスクへのデータの最適記録を
連続して長時間安定に行うことのできる追記型光ディス
ク記録装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、例えば、図1
に示すように、追記型光ディスク5にピットを形成する
ために書き込み用光ビームの強度を目標値LP1に制御
するレーザ駆動手段7と、上記書き込み用光ビームによ
りピットを形成中にその反射光強度をピットレベルP1
として検出する第1のサンプルホールド手段18と、上
記ピット形成後にランドに照射された読みだし用光ビー
ムの反射光強度をランドレベルL1として検出する第2
のサンプルホールド手段19と、上記読みだし用光ビー
ムの強度を検出し、それをリード出力レベルとして出力
するリード出力レベル形成手段14と、レーザ駆動手段
7、第1および第2のサンプルホールド手段18,1
9、およびリード出力レベル形成手段14に接続される
制御手段2とを有し、制御手段2は、追記型光ディスク
5にデータを書き込む際に、まず、試し書き領域5aに
おいて、一定のアシンメトリになるようにしたときの目
標値LP1、ピットレベルP1およびランドレベルL
1、およびリード出力レベルR1をそれぞれ初期値LP
i,Pi,Li,Riとして記憶し、次に、データ書き
込み領域5bにおいて、データを書き込む際に、現在の
目標値LP1、ピットレベルP1およびランドレベルL
1、およびリード出力レベルR1をそれぞれ現在値LP
n,Pn,Ln,Rnとして取り込み、初期値LPi,
Pi,Li,Riおよび現在値LPn,Pn,Ln,R
nに基づき、目標値の現在値LPnを新たに決定するよ
うに制御するものである。
に示すように、追記型光ディスク5にピットを形成する
ために書き込み用光ビームの強度を目標値LP1に制御
するレーザ駆動手段7と、上記書き込み用光ビームによ
りピットを形成中にその反射光強度をピットレベルP1
として検出する第1のサンプルホールド手段18と、上
記ピット形成後にランドに照射された読みだし用光ビー
ムの反射光強度をランドレベルL1として検出する第2
のサンプルホールド手段19と、上記読みだし用光ビー
ムの強度を検出し、それをリード出力レベルとして出力
するリード出力レベル形成手段14と、レーザ駆動手段
7、第1および第2のサンプルホールド手段18,1
9、およびリード出力レベル形成手段14に接続される
制御手段2とを有し、制御手段2は、追記型光ディスク
5にデータを書き込む際に、まず、試し書き領域5aに
おいて、一定のアシンメトリになるようにしたときの目
標値LP1、ピットレベルP1およびランドレベルL
1、およびリード出力レベルR1をそれぞれ初期値LP
i,Pi,Li,Riとして記憶し、次に、データ書き
込み領域5bにおいて、データを書き込む際に、現在の
目標値LP1、ピットレベルP1およびランドレベルL
1、およびリード出力レベルR1をそれぞれ現在値LP
n,Pn,Ln,Rnとして取り込み、初期値LPi,
Pi,Li,Riおよび現在値LPn,Pn,Ln,R
nに基づき、目標値の現在値LPnを新たに決定するよ
うに制御するものである。
【0007】
【作用】本発明によれば、制御手段2により、追記型光
ディスク5にデータを書き込む際に、まず、試し書き領
域5aにおいて、一定のアシンメトリになるようにした
ときの目標値LP1、ピットレベルP1およびランドレ
ベルL1、およびリード出力レベルR1をそれぞれ初期
値LPi,Pi,Li,Riとして記憶し、次に、デー
タ書き込み領域5bにおいて、データを書き込む際に、
現在の目標値LP1、ピットレベルP1およびランドレ
ベルL1、およびリード出力レベルR1をそれぞれ現在
値LPn,Pn,Ln,Rnとして取り込み、初期値L
Pi,Pi,Li,Riおよび現在値LPn,Pn,L
n,Rnに基づき、目標値の現在値LPnを新たに決定
するように制御するしている。このため、追記型光ディ
スク5へのデータの最適記録を連続して長時間安定に行
うことができる。
ディスク5にデータを書き込む際に、まず、試し書き領
域5aにおいて、一定のアシンメトリになるようにした
ときの目標値LP1、ピットレベルP1およびランドレ
ベルL1、およびリード出力レベルR1をそれぞれ初期
値LPi,Pi,Li,Riとして記憶し、次に、デー
タ書き込み領域5bにおいて、データを書き込む際に、
現在の目標値LP1、ピットレベルP1およびランドレ
ベルL1、およびリード出力レベルR1をそれぞれ現在
値LPn,Pn,Ln,Rnとして取り込み、初期値L
Pi,Pi,Li,Riおよび現在値LPn,Pn,L
n,Rnに基づき、目標値の現在値LPnを新たに決定
するように制御するしている。このため、追記型光ディ
スク5へのデータの最適記録を連続して長時間安定に行
うことができる。
【0008】
【実施例】以下、本発明追記型光ディスク記録装置の一
実施例について図面を参照して説明する。
実施例について図面を参照して説明する。
【0009】図1は、一実施例の構成を示している。
【0010】図1において、EFM(Eight to
FourteenModulation)データ信号
の入力部1から各種のEFMデータ信号D1が制御手段
としてのCPU2に供給される。なお、入力部1に供給
されるEFMデータ信号D1の基となるデータ信号は、
図示しないホストコンピュータから供給され、この入力
部1でEFMデータ信号D1に変換されるようになって
いる。
FourteenModulation)データ信号
の入力部1から各種のEFMデータ信号D1が制御手段
としてのCPU2に供給される。なお、入力部1に供給
されるEFMデータ信号D1の基となるデータ信号は、
図示しないホストコンピュータから供給され、この入力
部1でEFMデータ信号D1に変換されるようになって
いる。
【0011】入力部1から出力されるEFMデータ信号
D1としては、試し書き用の固定のEFMデータ信号D
tおよび画像データなどのEFMデータ信号Dvがあ
る。
D1としては、試し書き用の固定のEFMデータ信号D
tおよび画像データなどのEFMデータ信号Dvがあ
る。
【0012】CPU2は、EFMデータ信号D1のハイ
レベル期間に追記型光ディスク5にピットを形成するた
め、書き込みレベルの現在のレーザ出力の目標値(以
下、目標値の現在値という。)LPnをD/A変換回路
6を通じて書き込み側のAPC(Automatic
Power Control)回路7の基準入力側に供
給するとともに、これに同期してレーザダイオード回路
8の入力側に配置されるスイッチ9の制御端子にスイッ
チ9の切り換え制御信号S1を供給する。
レベル期間に追記型光ディスク5にピットを形成するた
め、書き込みレベルの現在のレーザ出力の目標値(以
下、目標値の現在値という。)LPnをD/A変換回路
6を通じて書き込み側のAPC(Automatic
Power Control)回路7の基準入力側に供
給するとともに、これに同期してレーザダイオード回路
8の入力側に配置されるスイッチ9の制御端子にスイッ
チ9の切り換え制御信号S1を供給する。
【0013】図2は追記型光ディスク5の記録面の基本
的な構成を示している。図2に示すように、追記型光デ
ィスク5の内周側は、試し書き領域5aとして割り当て
られ、その外周側は、データ書き込む領域5として割り
当てられている。
的な構成を示している。図2に示すように、追記型光デ
ィスク5の内周側は、試し書き領域5aとして割り当て
られ、その外周側は、データ書き込む領域5として割り
当てられている。
【0014】スイッチ9は、切り換え制御信号S1によ
り、追記型光ディスク5にピットを形成する書き込み動
作の際(EFMデータ信号D1 のハイレベルの期間)に
は、可動接点9aが書き込み側のAPC回路7側に接続
されている固定接点9b側に切り換えられる。一方、形
成されたピットおよびランドの読みだし動作の際および
EFMデータ信号D1 のローレベル期間には、可動接点
9aが読みだし側のAPC回路10に接続されている固
定接点9c側に切り換えられる。
り、追記型光ディスク5にピットを形成する書き込み動
作の際(EFMデータ信号D1 のハイレベルの期間)に
は、可動接点9aが書き込み側のAPC回路7側に接続
されている固定接点9b側に切り換えられる。一方、形
成されたピットおよびランドの読みだし動作の際および
EFMデータ信号D1 のローレベル期間には、可動接点
9aが読みだし側のAPC回路10に接続されている固
定接点9c側に切り換えられる。
【0015】読みだし側のAPC回路10の基準入力側
には、直流電源11から一定の直流電圧E1が供給され
ている。
には、直流電源11から一定の直流電圧E1が供給され
ている。
【0016】スイッチ9の出力信号は、レーザダイオー
ド回路8によりその出力信号に応じた強度の光ビームに
変換され、その光ビームは光学系15に入射される。光
学系15は、図示しないフォトダイオードを有するフロ
ントモニタ14、図示しないコリメータレンズ、ビーム
スプリッタ、対物レンズ、円筒レンズ、フォーカスアク
チュエータ、およびトラッキングアクチュエータなどを
有しており、レーザダイオード回路8から入射された光
ビームが上記コリメータレンズを通じて平行光とされた
後、上記ビームスプリッタ、上記対物レンズを通じて集
光され、集光された光ビームが追記型光ディスク5に照
射される。
ド回路8によりその出力信号に応じた強度の光ビームに
変換され、その光ビームは光学系15に入射される。光
学系15は、図示しないフォトダイオードを有するフロ
ントモニタ14、図示しないコリメータレンズ、ビーム
スプリッタ、対物レンズ、円筒レンズ、フォーカスアク
チュエータ、およびトラッキングアクチュエータなどを
有しており、レーザダイオード回路8から入射された光
ビームが上記コリメータレンズを通じて平行光とされた
後、上記ビームスプリッタ、上記対物レンズを通じて集
光され、集光された光ビームが追記型光ディスク5に照
射される。
【0017】ここで、追記型光ディスク5に照射される
光ビームの一部がフロントモニタ14によりフロントモ
ニタ出力として出力される。このフロントモニタ出力
は、書き込み用光ビームの強度と読みだし用光ビーム強
度に比例した出力であり、APC回路7は、この書き込
み用光ビームの強度に比例したフロントモニタ出力が比
較入力に供給されることで、書き込み用光ビームのAP
C制御を行う。また、APC回路10は、読みだし用光
ビーム強度に比例したフロントモニタ出力が比較入力に
供給されることで、読みだし用光ビームのAPC制御を
行う。
光ビームの一部がフロントモニタ14によりフロントモ
ニタ出力として出力される。このフロントモニタ出力
は、書き込み用光ビームの強度と読みだし用光ビーム強
度に比例した出力であり、APC回路7は、この書き込
み用光ビームの強度に比例したフロントモニタ出力が比
較入力に供給されることで、書き込み用光ビームのAP
C制御を行う。また、APC回路10は、読みだし用光
ビーム強度に比例したフロントモニタ出力が比較入力に
供給されることで、読みだし用光ビームのAPC制御を
行う。
【0018】なお、フロントモニタ出力は、A/D変換
回路16によってデジタルデータ信号に変換され、その
うち、読みだし用光ビーム強度に比例したフロントモニ
タ出力がリード出力レベルR1としてCPU2に取り込
まれる。
回路16によってデジタルデータ信号に変換され、その
うち、読みだし用光ビーム強度に比例したフロントモニ
タ出力がリード出力レベルR1としてCPU2に取り込
まれる。
【0019】追記型光ディスク5からの反射光ビーム
は、光学系15を通じて、例えば、4分割フォトダイオ
ードを有する光検出回路17に入射される。光検出回路
17の出力信号は、ピットレベル検出用のサンプルホー
ルド回路18とランドレベル検出用のサンプルホールド
回路19に供給されるとともに、再生回路20に供給さ
れる。また、光検出回路17の出力信号に基づき周知の
フォーカスサーボおよびトラッキングサーボが行われ
る。再生回路20の出力信号Soは、出力端子21を通
じて波形観測装置、例えば、オシロスコープに供給され
る。
は、光学系15を通じて、例えば、4分割フォトダイオ
ードを有する光検出回路17に入射される。光検出回路
17の出力信号は、ピットレベル検出用のサンプルホー
ルド回路18とランドレベル検出用のサンプルホールド
回路19に供給されるとともに、再生回路20に供給さ
れる。また、光検出回路17の出力信号に基づき周知の
フォーカスサーボおよびトラッキングサーボが行われ
る。再生回路20の出力信号Soは、出力端子21を通
じて波形観測装置、例えば、オシロスコープに供給され
る。
【0020】サンプルホールド回路18,19には、ク
ロック発生回路22からサンプルホールドパルスSP
1,SP2が供給される。また、クロック発生回路22
からEFMデータ信号の入力部1とCPU2とに所定の
クロック信号が供給される。
ロック発生回路22からサンプルホールドパルスSP
1,SP2が供給される。また、クロック発生回路22
からEFMデータ信号の入力部1とCPU2とに所定の
クロック信号が供給される。
【0021】サンプルホールド回路18,19の出力信
号であるピットレベルとランドレベル(内容については
それぞれ後述する)とはそれぞれ、A/D変換回路2
3,24を通じてピットレベルP1およびランドレベル
L1としてCPU2に供給される。
号であるピットレベルとランドレベル(内容については
それぞれ後述する)とはそれぞれ、A/D変換回路2
3,24を通じてピットレベルP1およびランドレベル
L1としてCPU2に供給される。
【0022】次に上記実施例の動作について、図3に示
すフローチャートをも参照して説明する。
すフローチャートをも参照して説明する。
【0023】まず、追記型光ディスクの試し書き領域5
aを利用して、書き込み用光ビームの強度が最適となる
一定のアシンメトリを得るために、EFMデータ信号の
入力部1からCPU2に試し書き用の固定のEFMデー
タ信号Dtを供給する。
aを利用して、書き込み用光ビームの強度が最適となる
一定のアシンメトリを得るために、EFMデータ信号の
入力部1からCPU2に試し書き用の固定のEFMデー
タ信号Dtを供給する。
【0024】CPU2は、この試し書き用の固定のEF
Mデータ信号Dtを取り込んだ後、これに応じて予め定
められたレーザ出力目標値LP1をD/A変換回路6に
供給する。この場合、D/A変換回路6、APC回路
7、スイッチ9およびレーザダイオード回路8を通じ
て、そのレーザ出力目標値LP1に応じた強度の光ビー
ムが光学系15から追記型光ディスク5の試し書き領域
5aに照射され、EFMデータ信号Dtに応じた所定長
のピットが形成されるとともに、ピットが形成されなか
った部分がランドになる。
Mデータ信号Dtを取り込んだ後、これに応じて予め定
められたレーザ出力目標値LP1をD/A変換回路6に
供給する。この場合、D/A変換回路6、APC回路
7、スイッチ9およびレーザダイオード回路8を通じ
て、そのレーザ出力目標値LP1に応じた強度の光ビー
ムが光学系15から追記型光ディスク5の試し書き領域
5aに照射され、EFMデータ信号Dtに応じた所定長
のピットが形成されるとともに、ピットが形成されなか
った部分がランドになる。
【0025】この場合、この試し書き用の固定のEFM
データ信号Dtに基づいて形成されるピットとランド
は、それぞれ3Tピット〜11Tピットと3Tランド〜
11Tランドであり、また、ピットとランドの個数は同
数になっている。したがって、読みだし用光ビームによ
って読みだされ、光検出回路17を通じて再生回路20
の出力側に得られる再生信号Soのアシンメトリは一定
値になる。例えば、その一定値がゼロ値のときには、再
生信号Soの振幅値の中央レベルが直流のゼロレベルに
一致することになる。言い換えれば、再生信号Soの振
幅が、ゼロレベルの上下に同振幅になるときがアシンメ
トリがゼロ値であるといえる。このアシンメトリは、再
生信号Soをオシロスコープによって観測することによ
り分かる。
データ信号Dtに基づいて形成されるピットとランド
は、それぞれ3Tピット〜11Tピットと3Tランド〜
11Tランドであり、また、ピットとランドの個数は同
数になっている。したがって、読みだし用光ビームによ
って読みだされ、光検出回路17を通じて再生回路20
の出力側に得られる再生信号Soのアシンメトリは一定
値になる。例えば、その一定値がゼロ値のときには、再
生信号Soの振幅値の中央レベルが直流のゼロレベルに
一致することになる。言い換えれば、再生信号Soの振
幅が、ゼロレベルの上下に同振幅になるときがアシンメ
トリがゼロ値であるといえる。このアシンメトリは、再
生信号Soをオシロスコープによって観測することによ
り分かる。
【0026】図4は、オシロスコープで観測される再生
信号Soの波形を概略的に示しており、ゼロレベルの上
下における振幅Aと振幅Bとの値から、アシンメトリ
は、次の式で求められる。
信号Soの波形を概略的に示しており、ゼロレベルの上
下における振幅Aと振幅Bとの値から、アシンメトリ
は、次の式で求められる。
【0027】アシンメトリ=(1/2)・{(B−A)
/(B+A)}×100 [%]
/(B+A)}×100 [%]
【0028】そこで、オシロスコープの管面波形を観測
しながら、レーザ出力目標値LP1をCPU2により可
変することにより、試し書き領域5aにおいて、一定の
アシンメトリが得られるレーザ出力目標値LP1を決定
することができる。なお、一定のアシンメトリが得られ
るレーザ出力目標値LP1は、自動的に得るように構成
を変更することもできる。また、一定のアシンメトリの
値としては、実験的に、ゼロ値よりも−4%〜−7%の
間の値にすることがデータエラーなどが最も少なくなる
アシンメトリ値であることが発明者などによって確認さ
れている。
しながら、レーザ出力目標値LP1をCPU2により可
変することにより、試し書き領域5aにおいて、一定の
アシンメトリが得られるレーザ出力目標値LP1を決定
することができる。なお、一定のアシンメトリが得られ
るレーザ出力目標値LP1は、自動的に得るように構成
を変更することもできる。また、一定のアシンメトリの
値としては、実験的に、ゼロ値よりも−4%〜−7%の
間の値にすることがデータエラーなどが最も少なくなる
アシンメトリ値であることが発明者などによって確認さ
れている。
【0029】そこで、試し書き領域5aにおいて、その
一定のアシンメトリ値、言い換えれば、最適のアシンメ
トリ値が得られたときのレーザ出力目標値LP1をレー
ザ出力目標値の初期値LPi(最適値)としてCPU2
に記憶する(フローチャート中、ステップS11)。
一定のアシンメトリ値、言い換えれば、最適のアシンメ
トリ値が得られたときのレーザ出力目標値LP1をレー
ザ出力目標値の初期値LPi(最適値)としてCPU2
に記憶する(フローチャート中、ステップS11)。
【0030】次に、このようにして決定された書き込み
用レーザ出力目標値の初期値LPiとその時点における
読みだし用レーザ出力値、すなわち、フロントモニタ1
4からのフロントモニタ出力としてA/D変換回路16
からCPU2に供給されるリード出力レベルR1が、リ
ード出力レベルの初期値RiとしてCPU2に記憶され
る(ステップS12)。
用レーザ出力目標値の初期値LPiとその時点における
読みだし用レーザ出力値、すなわち、フロントモニタ1
4からのフロントモニタ出力としてA/D変換回路16
からCPU2に供給されるリード出力レベルR1が、リ
ード出力レベルの初期値RiとしてCPU2に記憶され
る(ステップS12)。
【0031】さらに、書き込み用レーザ出力目標値LP
iによってピットが形成されている間に4Tピット位置
の反射光強度がサンプルホールド回路18によってサン
プルホールドパルスSP1に基づきサンプルホールドさ
れ、そのサンプルホールドされた値がA/D変換回路2
3を介して、ピットレベルの初期値PiとしてCPU2
に記憶される(ステップS12)。
iによってピットが形成されている間に4Tピット位置
の反射光強度がサンプルホールド回路18によってサン
プルホールドパルスSP1に基づきサンプルホールドさ
れ、そのサンプルホールドされた値がA/D変換回路2
3を介して、ピットレベルの初期値PiとしてCPU2
に記憶される(ステップS12)。
【0032】さらにまた、上記リード出力レベルの初期
値Riを記憶したときに、ランドに照射された読みだし
用光ビームの反射光強度がサンプルホールド回路19に
よってサンプルホールドパルスSP2に基づきサンプル
ホールドされ、そのサンプルホールドされた値がA/D
変換回路24を介して、ランドレベルの初期値Liとし
てCPU2に記憶される(ステップS12)。
値Riを記憶したときに、ランドに照射された読みだし
用光ビームの反射光強度がサンプルホールド回路19に
よってサンプルホールドパルスSP2に基づきサンプル
ホールドされ、そのサンプルホールドされた値がA/D
変換回路24を介して、ランドレベルの初期値Liとし
てCPU2に記憶される(ステップS12)。
【0033】図5は、サンプルホールド回路18,19
に供給される上記した反射光強度の波形を概略的に示し
ている。
に供給される上記した反射光強度の波形を概略的に示し
ている。
【0034】図5中、0Tピット位置から11Tピット
位置間は、書き込み用光ビームの出力期間TWであり、
その他の区間が読みだし用光ビームの出力期間TRであ
る。反射光強度が0Tピット位置の直後にピーク値とな
るのは、追記型光ディスク5が鏡面になっているからで
あり、光ビームが連続して照射されることにより、反射
光強度が小さくなる。
位置間は、書き込み用光ビームの出力期間TWであり、
その他の区間が読みだし用光ビームの出力期間TRであ
る。反射光強度が0Tピット位置の直後にピーク値とな
るのは、追記型光ディスク5が鏡面になっているからで
あり、光ビームが連続して照射されることにより、反射
光強度が小さくなる。
【0035】この実施例において、ピットレベルは4T
ピット位置のピットレベルP1がサンプルホールド回路
18によってサンプルホールドされるようになってい
る。4Tピット位置のピットレベルP1をサンプルホー
ルドすることにより、安定してピットレベルP1を検出
できることが発明者などによって確認されている。ま
た、ランドレベルは、反射光強度が安定した時点のラン
ドレベルL1がサンプルホールドされるようになってい
る。なお、サンプルホールド位置(時点)は、クロック
発生回路22から供給されるサンプルホールドパルスS
P1,SP2の発生時点を制御することによって変化さ
せることができるので、4Tピット位置に限らず、3T
ピット位置または5Tピット位置など適宜変更すること
ができる。
ピット位置のピットレベルP1がサンプルホールド回路
18によってサンプルホールドされるようになってい
る。4Tピット位置のピットレベルP1をサンプルホー
ルドすることにより、安定してピットレベルP1を検出
できることが発明者などによって確認されている。ま
た、ランドレベルは、反射光強度が安定した時点のラン
ドレベルL1がサンプルホールドされるようになってい
る。なお、サンプルホールド位置(時点)は、クロック
発生回路22から供給されるサンプルホールドパルスS
P1,SP2の発生時点を制御することによって変化さ
せることができるので、4Tピット位置に限らず、3T
ピット位置または5Tピット位置など適宜変更すること
ができる。
【0036】この実施例において、ステップS12にお
いては、ピットレベルの初期値Piとランドレベルの初
期値Liとリード出力レベルの初期値Riとは、それぞ
れ、1分間に、約75回取り込まれ、それらの平均値
が、ピットレベルの初期値Pi、ランドレベルの初期値
Li、およびリード出力レベルの初期値RiとしてCP
U2に記憶される。
いては、ピットレベルの初期値Piとランドレベルの初
期値Liとリード出力レベルの初期値Riとは、それぞ
れ、1分間に、約75回取り込まれ、それらの平均値
が、ピットレベルの初期値Pi、ランドレベルの初期値
Li、およびリード出力レベルの初期値RiとしてCP
U2に記憶される。
【0037】このようにして、ステップS11とステッ
プS12の結果、CPU2には、試し書き領域5aに試
し書きを行うことにより、一定のアシンメトリが得られ
る、すなわち、最適書き込みが行われるレーザ出力目標
値の初期値LPiと平均値であるピットレベルの初期値
Piとランドレベルの初期値Liとリード出力レベルの
初期値Riが記憶されることになる。
プS12の結果、CPU2には、試し書き領域5aに試
し書きを行うことにより、一定のアシンメトリが得られ
る、すなわち、最適書き込みが行われるレーザ出力目標
値の初期値LPiと平均値であるピットレベルの初期値
Piとランドレベルの初期値Liとリード出力レベルの
初期値Riが記憶されることになる。
【0038】次に、追記型光ディスク5のデータ書き込
み領域5bの内周側から外周側に向かって、順次、デー
タを最適に、すなわち、上記一定のアシンメトリになる
ように書き込む過程、いわゆるランニングOPC(Op
timum PowerControl)動作について
説明する。
み領域5bの内周側から外周側に向かって、順次、デー
タを最適に、すなわち、上記一定のアシンメトリになる
ように書き込む過程、いわゆるランニングOPC(Op
timum PowerControl)動作について
説明する。
【0039】なお、次に説明するランニングOPC動作
は、1トラックずつ行ってもよく、複数トラックずつ行
ってもよい。
は、1トラックずつ行ってもよく、複数トラックずつ行
ってもよい。
【0040】そこで、最初のトラックにデータを書き込
む際には、上記のようにして得たレーザ出力目標値の初
期値LPiを現在のレーザ出力目標値(以下、レーザ出
力目標値の現在値という。)LPnとしてCPU2から
D/A変換回路6に供給する。
む際には、上記のようにして得たレーザ出力目標値の初
期値LPiを現在のレーザ出力目標値(以下、レーザ出
力目標値の現在値という。)LPnとしてCPU2から
D/A変換回路6に供給する。
【0041】そしてその時のピットレベルP1,ランド
レベルL1およびリード出力レベルR1をそれぞれピッ
トレベルの現在値Pn、ランドレベルの現在値Lnおよ
びリード出力レベルの現在値Rnとしてサンプルホール
ド回路18,19でサンプルホールドした後、CPU2
に取り込み記憶する(ステップS13)。
レベルL1およびリード出力レベルR1をそれぞれピッ
トレベルの現在値Pn、ランドレベルの現在値Lnおよ
びリード出力レベルの現在値Rnとしてサンプルホール
ド回路18,19でサンプルホールドした後、CPU2
に取り込み記憶する(ステップS13)。
【0042】次に数1に基づき正規化したピットレベル
の現在値(以下、正規化ピットレベルの現在値とい
う。)Pnormを求める(ステップS14)。
の現在値(以下、正規化ピットレベルの現在値とい
う。)Pnormを求める(ステップS14)。
【0043】
【数1】正規化ピットレベルの現在値Pnorm=ピッ
トレベルの現在値Pn/(レーザ出力目標値比×反射率
比)
トレベルの現在値Pn/(レーザ出力目標値比×反射率
比)
【0044】数1において、レーザ出力目標値比は、数
2のように定義される。
2のように定義される。
【0045】
【数2】レーザ出力目標値比=レーザ出力目標値の現在
値/レーザ出力目標値の初期値=LPn/LPi
値/レーザ出力目標値の初期値=LPn/LPi
【0046】数1において、反射率比は、数3のように
定義される。
定義される。
【0047】
【数3】反射率比=反射率の現在値/反射率の初期値=
(ランドレベルの現在値/リード出力レベルの現在値)
/(ランドレベルの初期値/リード出力レベルの初期
値)=(Ln/Rn)/(Li/Ri)
(ランドレベルの現在値/リード出力レベルの現在値)
/(ランドレベルの初期値/リード出力レベルの初期
値)=(Ln/Rn)/(Li/Ri)
【0048】したがって、数1は、数4に示す文字式で
表される。
表される。
【0049】
【数4】Pnorm=Pn/[(LPn/LPi)×
{(Ln/Rn)/(Li/Ri)}]
{(Ln/Rn)/(Li/Ri)}]
【0050】次に、このようにしてデータ書き込み領域
5bの最初のトラックについて求めた正規化ピットレベ
ルの現在値Pnormと、一定のアシンメトリが得られ
る最適値として試し書き領域5aを利用して求めておい
たピットレベルの初期値Piとの大小を比較する(ステ
ップS15)。
5bの最初のトラックについて求めた正規化ピットレベ
ルの現在値Pnormと、一定のアシンメトリが得られ
る最適値として試し書き領域5aを利用して求めておい
たピットレベルの初期値Piとの大小を比較する(ステ
ップS15)。
【0051】それらが等しい値であった場合には、上記
最初のトラックには一定のアシンメトリで最適に書き込
みが行われたものとする。その場合には、次に全てのト
ラックへの書き込み動作が終了したかどうかが判定され
(ステップS18)、まだ、未書き込みのトラックが残
っている場合には、レーザ出力目標値の現在値Pnを変
更することなく、再びステップS13からステップS1
8までの処理を行う。
最初のトラックには一定のアシンメトリで最適に書き込
みが行われたものとする。その場合には、次に全てのト
ラックへの書き込み動作が終了したかどうかが判定され
(ステップS18)、まだ、未書き込みのトラックが残
っている場合には、レーザ出力目標値の現在値Pnを変
更することなく、再びステップS13からステップS1
8までの処理を行う。
【0052】ステップS15の判定において、Pnor
m>Piの場合には、反射光強度が最適の反射光強度よ
りも大きいのであるから、レーザ出力目標値の現在値L
Pnを一単位(例えば、フルスケールが256レベルで
ある場合には、例えば、1/256レベル)増加させ
て、反射光強度が小さくなるようにする(ステップS1
6)。
m>Piの場合には、反射光強度が最適の反射光強度よ
りも大きいのであるから、レーザ出力目標値の現在値L
Pnを一単位(例えば、フルスケールが256レベルで
ある場合には、例えば、1/256レベル)増加させ
て、反射光強度が小さくなるようにする(ステップS1
6)。
【0053】また、ステップS15の判定において、P
norm<Piの場合には、反射光強度が最適の反射光
強度よりも小さいのであるから、レーザ出力目標値の現
在値LPnを一単位(同様に、1/256レベル)減少
させて、反射光強度が大きくなるようにする(ステップ
S17)。
norm<Piの場合には、反射光強度が最適の反射光
強度よりも小さいのであるから、レーザ出力目標値の現
在値LPnを一単位(同様に、1/256レベル)減少
させて、反射光強度が大きくなるようにする(ステップ
S17)。
【0054】このようにして、次の書き込み領域(トラ
ック)に照射される光ビームの出力強度が最適値、すな
わち、一定のアシンメトリが得られるように決定される
ことで、追記型光ディスク5のデータ書き込み領域5b
の全面にわたって均一に書き込むことができるようにな
る。
ック)に照射される光ビームの出力強度が最適値、すな
わち、一定のアシンメトリが得られるように決定される
ことで、追記型光ディスク5のデータ書き込み領域5b
の全面にわたって均一に書き込むことができるようにな
る。
【0055】結局、決定しようとする光ビーム出力強
度、言い換えれば、レーザ出力目標値の現在値LPn
は、上記数2において、レーザ出力目標値の現在値LP
nについて解くことにより、次の数5のように表すこと
ができる。
度、言い換えれば、レーザ出力目標値の現在値LPn
は、上記数2において、レーザ出力目標値の現在値LP
nについて解くことにより、次の数5のように表すこと
ができる。
【0056】
【数5】LPn=(Pn/Pnorm)×(Li/R
i)×(Rn/Ln)×Lpi=(Pn/Pi)×(L
i/Ri)×(Rn/Ln)×Lpi
i)×(Rn/Ln)×Lpi=(Pn/Pi)×(L
i/Ri)×(Rn/Ln)×Lpi
【0057】このように上記した実施例によれば、CP
U2により、追記型光ディスク5にデータを書き込む際
に、まず、試し書き領域5aにおいて、一定のアシンメ
トリになるようにしたときのレーザ出力目標値の初期値
LPi、ピットレベルの初期値Pi、ランドレベルの初
期値Liおよびリード出力レベルの初期値Riをそれぞ
れ記憶し、次に、データ書き込み領域5bにデータを書
き込む際に、レーザ出力目標値の現在値Pn、ピットレ
ベルの現在値Pn、ランドレベルの現在値Ln、および
リード出力レベルの現在値Rnをそれぞれ取り込み、新
たなレーザ出力目標値Pnが数5を満足するように決定
している。このため、試し書き領域5aに書き込みを開
始してから、追記型光ディスク5の全面への書き込みが
終了するまでの間に、刻々と変化するレーザダイオード
の温度変化、追記型光ディスク5のそり・感度むらなど
の変化要因に追従してレーザ光の発光出力強度を変化さ
せることができることになり、追記型光ディスク5への
データの最適記録を連続して長時間安定に行うことがで
きる。
U2により、追記型光ディスク5にデータを書き込む際
に、まず、試し書き領域5aにおいて、一定のアシンメ
トリになるようにしたときのレーザ出力目標値の初期値
LPi、ピットレベルの初期値Pi、ランドレベルの初
期値Liおよびリード出力レベルの初期値Riをそれぞ
れ記憶し、次に、データ書き込み領域5bにデータを書
き込む際に、レーザ出力目標値の現在値Pn、ピットレ
ベルの現在値Pn、ランドレベルの現在値Ln、および
リード出力レベルの現在値Rnをそれぞれ取り込み、新
たなレーザ出力目標値Pnが数5を満足するように決定
している。このため、試し書き領域5aに書き込みを開
始してから、追記型光ディスク5の全面への書き込みが
終了するまでの間に、刻々と変化するレーザダイオード
の温度変化、追記型光ディスク5のそり・感度むらなど
の変化要因に追従してレーザ光の発光出力強度を変化さ
せることができることになり、追記型光ディスク5への
データの最適記録を連続して長時間安定に行うことがで
きる。
【0058】なお、上記実施例においては、リード出力
レベルR1についても考慮して制御しているが、リード
出力レベルR1が変化しない場合には、上記数5中、R
n=Riとなり、リード出力レベルR1を考慮する必要
がなくなる。
レベルR1についても考慮して制御しているが、リード
出力レベルR1が変化しない場合には、上記数5中、R
n=Riとなり、リード出力レベルR1を考慮する必要
がなくなる。
【0059】さらにまた、本発明は上記の実施例に限ら
ず本発明の要旨を逸脱することなく種々の構成を採り得
ることはもちろんである。
ず本発明の要旨を逸脱することなく種々の構成を採り得
ることはもちろんである。
【0060】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
制御手段により、追記型光ディスクにデータを書き込む
際に、まず、試し書き領域において、一定のアシンメト
リになるようにしたときの書き込み用光ビームの目標
値、ピットレベルおよびランドレベル、およびリード出
力レベルをそれぞれ初期値として記憶し、次に、データ
書き込み領域において、データを書き込む際に、現在の
上記目標値、上記ピットレベルおよびランドレベル、お
よび上記リード出力レベルをそれぞれ現在値として取り
込み、上記初期値および上記現在値に基づき、上記目標
値の現在値を新たに決定するように制御するしている。
このため、追記型光ディスクへのデータの最適記録を連
続して長時間安定に行うことのできるできる。
制御手段により、追記型光ディスクにデータを書き込む
際に、まず、試し書き領域において、一定のアシンメト
リになるようにしたときの書き込み用光ビームの目標
値、ピットレベルおよびランドレベル、およびリード出
力レベルをそれぞれ初期値として記憶し、次に、データ
書き込み領域において、データを書き込む際に、現在の
上記目標値、上記ピットレベルおよびランドレベル、お
よび上記リード出力レベルをそれぞれ現在値として取り
込み、上記初期値および上記現在値に基づき、上記目標
値の現在値を新たに決定するように制御するしている。
このため、追記型光ディスクへのデータの最適記録を連
続して長時間安定に行うことのできるできる。
【0061】したがって、本発明を利用して作成された
書き込み済みの光ディスクは、エラ−の少ない高品質な
ものになる。
書き込み済みの光ディスクは、エラ−の少ない高品質な
ものになる。
【図1】本発明による追記型光ディスク記録装置の一実
施例の構成を示すブロック図である。
施例の構成を示すブロック図である。
【図2】追記型光ディスクの説明のための線図である。
【図3】図1例の動作説明に供されるフローチャートで
ある。
ある。
【図4】アシンメトリの説明に供される線図である。
【図5】レーザ光の反射光強度とピットレベルなどとの
関係の説明に供される線図である。
関係の説明に供される線図である。
1 EFMデータ信号の入力部 5 追記型光ディスク 7、10 APC回路 8 レーザダイオード回路 14 フロントモニタ 15 光学系 18、19 サンプルホールド回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−239441(JP,A) 特開 平2−292726(JP,A) 特開 昭60−83234(JP,A) 特開 平3−250427(JP,A) 特開 昭61−16042(JP,A) 特開 平6−44565(JP,A) 特開 平3−78126(JP,A) 特開 平6−44564(JP,A) 特開 平4−10237(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 7/00 - 7/005 G11B 7/125 JOIS
Claims (3)
- 【請求項1】 追記型光ディスクにピットを形成するた
めに書き込み用光ビームの強度を目標値に制御するレー
ザ駆動手段と、 上記書き込み用光ビームによりピットを形成中にその反
射光強度をピットレベルとして検出する第1のサンプル
ホールド手段と、 上記ピット形成後にランドに照射された読みだし用光ビ
ームの反射光強度をランドレベルとして検出する第2の
サンプルホールド手段と、 上記読みだし用光ビームの強度を検出し、それをリード
出力レベルとして出力するリード出力レベル形成手段
と、 上記レーザ駆動手段、上記第1および第2のサンプルホ
ールド手段および上記リード出力レベル形成手段に接続
される制御手段とを有し、 上記制御手段は、上記追記型光ディスクにデータを書き
込む際に、まず、試し書き領域において、一定のアシン
メトリになるようにしたときの上記目標値、上記ピット
レベルおよびランドレベル、および上記リード出力レベ
ルをそれぞれ初期値として記憶し、次に、データ書き込
み領域において、データを書き込む際に、現在の上記目
標値、上記ピットレベルおよびランドレベル、および上
記リード出力レベルをそれぞれ現在値として取り込み、
上記初期値および上記現在値に基づき、上記目標値の現
在値を新たに決定するように制御する追記型光ディスク
装置。 - 【請求項2】 上記制御手段における上記目標値の現在
値が 目標値の初期値×(ピットレベルの現在値/ピットレベ
ルの初期値)××(ランドレベルの初期値/リード出力
レベルの初期値)×(リード出力レベルの現在値/ラン
ドレベルの現在値) として決定されるようにした請求項1記載の追記型光デ
ィスク装置。 - 【請求項3】 上記ピットレベルの現在値および初期値
が、EFMデータのうち4Tピット位置の現在値および
初期値である請求項1または請求項2記載の追記型光デ
ィスク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04225995A JP3089844B2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 追記型光ディスク記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP04225995A JP3089844B2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 追記型光ディスク記録装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0676288A JPH0676288A (ja) | 1994-03-18 |
JP3089844B2 true JP3089844B2 (ja) | 2000-09-18 |
Family
ID=16838147
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP04225995A Expired - Fee Related JP3089844B2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 追記型光ディスク記録装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3089844B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7209419B2 (en) | 2002-08-23 | 2007-04-24 | Ricoh Company, Ltd. | Recording condition compensation method, program, recording medium, and information recording apparatus |
US7639575B2 (en) | 2002-08-23 | 2009-12-29 | Ricoh Company, Ltd. | Recording condition setting method, program, recording medium, and information recording apparatus |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6618334B1 (en) | 1999-11-04 | 2003-09-09 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Optical disk recording/reproducing device employing waveform correction of laser output signal |
JP2001134974A (ja) | 1999-11-09 | 2001-05-18 | Sanyo Electric Co Ltd | 光ディスク記録再生装置のレーザー出力制御回路 |
US6775216B2 (en) * | 2000-08-29 | 2004-08-10 | Zoran Corporation | Method and apparatus for restarting a write operation in a disk drive system |
JP3768089B2 (ja) | 2000-11-15 | 2006-04-19 | 三洋電機株式会社 | 光ディスク記録再生装置のレーザー出力設定方法 |
JP3815438B2 (ja) * | 2003-01-07 | 2006-08-30 | ソニー株式会社 | 光記録方法及び光記録装置 |
JP4403385B2 (ja) * | 2004-03-23 | 2010-01-27 | ソニー株式会社 | 記録装置、記録方法 |
JP2012014777A (ja) | 2010-06-30 | 2012-01-19 | Sony Corp | 制御装置、制御方法および制御プログラム |
-
1992
- 1992-08-25 JP JP04225995A patent/JP3089844B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7209419B2 (en) | 2002-08-23 | 2007-04-24 | Ricoh Company, Ltd. | Recording condition compensation method, program, recording medium, and information recording apparatus |
US7639575B2 (en) | 2002-08-23 | 2009-12-29 | Ricoh Company, Ltd. | Recording condition setting method, program, recording medium, and information recording apparatus |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0676288A (ja) | 1994-03-18 |
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