JP3089844B2 - 追記型光ディスク記録装置 - Google Patents
追記型光ディスク記録装置Info
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- JP3089844B2 JP3089844B2 JP04225995A JP22599592A JP3089844B2 JP 3089844 B2 JP3089844 B2 JP 3089844B2 JP 04225995 A JP04225995 A JP 04225995A JP 22599592 A JP22599592 A JP 22599592A JP 3089844 B2 JP3089844 B2 JP 3089844B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、追記型光ディ
スクに光ビームによりデータの書き込みを行うようにし
た追記型光ディスク記録装置に関する。
スクに光ビームによりデータの書き込みを行うようにし
た追記型光ディスク記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば、コンパクトディスク（ＣＤ）と
同じサイズのディスクの一面に有機系記録材料を塗布
し、この一面に光ビームにより任意のデータを書き込む
ようにされた追記型光ディスクが知られている。この追
記型光ディスクでは、基本的には、最内周側に試し書き
領域（ＰＣＡ；Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ Ａｒｅ
ａ）が形成され、その外側にデータ書き込み領域が形成
されている。
同じサイズのディスクの一面に有機系記録材料を塗布
し、この一面に光ビームにより任意のデータを書き込む
ようにされた追記型光ディスクが知られている。この追
記型光ディスクでは、基本的には、最内周側に試し書き
領域（ＰＣＡ；Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ Ａｒｅ
ａ）が形成され、その外側にデータ書き込み領域が形成
されている。
【０００３】このような追記型光ディスクにデータを書
き込む際には、再生信号のアシンメトリが一定となるよ
うに上記試し書き領域に試し書きを行い、その結果とし
て得られた上記アシンメトリが一定になるレーザ光の出
力を最適出力とし、この最適出力を保持しながら、デー
タ書き込み領域にデータを書き込むようにしていた。
き込む際には、再生信号のアシンメトリが一定となるよ
うに上記試し書き領域に試し書きを行い、その結果とし
て得られた上記アシンメトリが一定になるレーザ光の出
力を最適出力とし、この最適出力を保持しながら、デー
タ書き込み領域にデータを書き込むようにしていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の追記型光ディスク記録装置では、たとえ、試し
書き領域においてレーザ出力の最適出力を得て、その最
適出力によりデータ書き込み領域にデータを書き込むよ
うにしても、レーザ素子の発光出力の温度変化および追
記型光ディスクの面内における感度むら、そりなどによ
って最適となるレーザ出力が上記データ書き込みエリア
内で変化してしまい、結局、一定の、言い換えれば、最
適なアシンメトリを保持しながら書き込みを行うことが
できないという問題があった。
た従来の追記型光ディスク記録装置では、たとえ、試し
書き領域においてレーザ出力の最適出力を得て、その最
適出力によりデータ書き込み領域にデータを書き込むよ
うにしても、レーザ素子の発光出力の温度変化および追
記型光ディスクの面内における感度むら、そりなどによ
って最適となるレーザ出力が上記データ書き込みエリア
内で変化してしまい、結局、一定の、言い換えれば、最
適なアシンメトリを保持しながら書き込みを行うことが
できないという問題があった。
【０００５】本発明はこのような課題に鑑みてなされた
ものであり、追記型光ディスクへのデータの最適記録を
連続して長時間安定に行うことのできる追記型光ディス
ク記録装置を提供することを目的とする。
ものであり、追記型光ディスクへのデータの最適記録を
連続して長時間安定に行うことのできる追記型光ディス
ク記録装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、例えば、図１
に示すように、追記型光ディスク５にピットを形成する
ために書き込み用光ビームの強度を目標値ＬＰ１に制御
するレーザ駆動手段７と、上記書き込み用光ビームによ
りピットを形成中にその反射光強度をピットレベルＰ１
として検出する第１のサンプルホールド手段１８と、上
記ピット形成後にランドに照射された読みだし用光ビー
ムの反射光強度をランドレベルＬ１として検出する第２
のサンプルホールド手段１９と、上記読みだし用光ビー
ムの強度を検出し、それをリード出力レベルとして出力
するリード出力レベル形成手段１４と、レーザ駆動手段
７、第１および第２のサンプルホールド手段１８，１
９、およびリード出力レベル形成手段１４に接続される
制御手段２とを有し、制御手段２は、追記型光ディスク
５にデータを書き込む際に、まず、試し書き領域５ａに
おいて、一定のアシンメトリになるようにしたときの目
標値ＬＰ１、ピットレベルＰ１およびランドレベルＬ
１、およびリード出力レベルＲ１をそれぞれ初期値ＬＰ
ｉ，Ｐｉ，Ｌｉ，Ｒｉとして記憶し、次に、データ書き
込み領域５ｂにおいて、データを書き込む際に、現在の
目標値ＬＰ１、ピットレベルＰ１およびランドレベルＬ
１、およびリード出力レベルＲ１をそれぞれ現在値ＬＰ
ｎ，Ｐｎ，Ｌｎ，Ｒｎとして取り込み、初期値ＬＰｉ，
Ｐｉ，Ｌｉ，Ｒｉおよび現在値ＬＰｎ，Ｐｎ，Ｌｎ，Ｒ
ｎに基づき、目標値の現在値ＬＰｎを新たに決定するよ
うに制御するものである。
に示すように、追記型光ディスク５にピットを形成する
ために書き込み用光ビームの強度を目標値ＬＰ１に制御
するレーザ駆動手段７と、上記書き込み用光ビームによ
りピットを形成中にその反射光強度をピットレベルＰ１
として検出する第１のサンプルホールド手段１８と、上
記ピット形成後にランドに照射された読みだし用光ビー
ムの反射光強度をランドレベルＬ１として検出する第２
のサンプルホールド手段１９と、上記読みだし用光ビー
ムの強度を検出し、それをリード出力レベルとして出力
するリード出力レベル形成手段１４と、レーザ駆動手段
７、第１および第２のサンプルホールド手段１８，１
９、およびリード出力レベル形成手段１４に接続される
制御手段２とを有し、制御手段２は、追記型光ディスク
５にデータを書き込む際に、まず、試し書き領域５ａに
おいて、一定のアシンメトリになるようにしたときの目
標値ＬＰ１、ピットレベルＰ１およびランドレベルＬ
１、およびリード出力レベルＲ１をそれぞれ初期値ＬＰ
ｉ，Ｐｉ，Ｌｉ，Ｒｉとして記憶し、次に、データ書き
込み領域５ｂにおいて、データを書き込む際に、現在の
目標値ＬＰ１、ピットレベルＰ１およびランドレベルＬ
１、およびリード出力レベルＲ１をそれぞれ現在値ＬＰ
ｎ，Ｐｎ，Ｌｎ，Ｒｎとして取り込み、初期値ＬＰｉ，
Ｐｉ，Ｌｉ，Ｒｉおよび現在値ＬＰｎ，Ｐｎ，Ｌｎ，Ｒ
ｎに基づき、目標値の現在値ＬＰｎを新たに決定するよ
うに制御するものである。
【０００７】
【作用】本発明によれば、制御手段２により、追記型光
ディスク５にデータを書き込む際に、まず、試し書き領
域５ａにおいて、一定のアシンメトリになるようにした
ときの目標値ＬＰ１、ピットレベルＰ１およびランドレ
ベルＬ１、およびリード出力レベルＲ１をそれぞれ初期
値ＬＰｉ，Ｐｉ，Ｌｉ，Ｒｉとして記憶し、次に、デー
タ書き込み領域５ｂにおいて、データを書き込む際に、
現在の目標値ＬＰ１、ピットレベルＰ１およびランドレ
ベルＬ１、およびリード出力レベルＲ１をそれぞれ現在
値ＬＰｎ，Ｐｎ，Ｌｎ，Ｒｎとして取り込み、初期値Ｌ
Ｐｉ，Ｐｉ，Ｌｉ，Ｒｉおよび現在値ＬＰｎ，Ｐｎ，Ｌ
ｎ，Ｒｎに基づき、目標値の現在値ＬＰｎを新たに決定
するように制御するしている。このため、追記型光ディ
スク５へのデータの最適記録を連続して長時間安定に行
うことができる。
ディスク５にデータを書き込む際に、まず、試し書き領
域５ａにおいて、一定のアシンメトリになるようにした
ときの目標値ＬＰ１、ピットレベルＰ１およびランドレ
ベルＬ１、およびリード出力レベルＲ１をそれぞれ初期
値ＬＰｉ，Ｐｉ，Ｌｉ，Ｒｉとして記憶し、次に、デー
タ書き込み領域５ｂにおいて、データを書き込む際に、
現在の目標値ＬＰ１、ピットレベルＰ１およびランドレ
ベルＬ１、およびリード出力レベルＲ１をそれぞれ現在
値ＬＰｎ，Ｐｎ，Ｌｎ，Ｒｎとして取り込み、初期値Ｌ
Ｐｉ，Ｐｉ，Ｌｉ，Ｒｉおよび現在値ＬＰｎ，Ｐｎ，Ｌ
ｎ，Ｒｎに基づき、目標値の現在値ＬＰｎを新たに決定
するように制御するしている。このため、追記型光ディ
スク５へのデータの最適記録を連続して長時間安定に行
うことができる。
【０００８】
【実施例】以下、本発明追記型光ディスク記録装置の一
実施例について図面を参照して説明する。
実施例について図面を参照して説明する。
【０００９】図１は、一実施例の構成を示している。
【００１０】図１において、ＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ ｔｏ
ＦｏｕｒｔｅｅｎＭｏｄｕｌａｔｉｏｎ）データ信号
の入力部１から各種のＥＦＭデータ信号Ｄ１が制御手段
としてのＣＰＵ２に供給される。なお、入力部１に供給
されるＥＦＭデータ信号Ｄ１の基となるデータ信号は、
図示しないホストコンピュータから供給され、この入力
部１でＥＦＭデータ信号Ｄ１に変換されるようになって
いる。
ＦｏｕｒｔｅｅｎＭｏｄｕｌａｔｉｏｎ）データ信号
の入力部１から各種のＥＦＭデータ信号Ｄ１が制御手段
としてのＣＰＵ２に供給される。なお、入力部１に供給
されるＥＦＭデータ信号Ｄ１の基となるデータ信号は、
図示しないホストコンピュータから供給され、この入力
部１でＥＦＭデータ信号Ｄ１に変換されるようになって
いる。
【００１１】入力部１から出力されるＥＦＭデータ信号
Ｄ１としては、試し書き用の固定のＥＦＭデータ信号Ｄ
ｔおよび画像データなどのＥＦＭデータ信号Ｄｖがあ
る。
Ｄ１としては、試し書き用の固定のＥＦＭデータ信号Ｄ
ｔおよび画像データなどのＥＦＭデータ信号Ｄｖがあ
る。
【００１２】ＣＰＵ２は、ＥＦＭデータ信号Ｄ１のハイ
レベル期間に追記型光ディスク５にピットを形成するた
め、書き込みレベルの現在のレーザ出力の目標値（以
下、目標値の現在値という。）ＬＰｎをＤ／Ａ変換回路
６を通じて書き込み側のＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ
Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）回路７の基準入力側に供
給するとともに、これに同期してレーザダイオード回路
８の入力側に配置されるスイッチ９の制御端子にスイッ
チ９の切り換え制御信号Ｓ１を供給する。
レベル期間に追記型光ディスク５にピットを形成するた
め、書き込みレベルの現在のレーザ出力の目標値（以
下、目標値の現在値という。）ＬＰｎをＤ／Ａ変換回路
６を通じて書き込み側のＡＰＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ
Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）回路７の基準入力側に供
給するとともに、これに同期してレーザダイオード回路
８の入力側に配置されるスイッチ９の制御端子にスイッ
チ９の切り換え制御信号Ｓ１を供給する。
【００１３】図２は追記型光ディスク５の記録面の基本
的な構成を示している。図２に示すように、追記型光デ
ィスク５の内周側は、試し書き領域５ａとして割り当て
られ、その外周側は、データ書き込む領域５として割り
当てられている。
的な構成を示している。図２に示すように、追記型光デ
ィスク５の内周側は、試し書き領域５ａとして割り当て
られ、その外周側は、データ書き込む領域５として割り
当てられている。
【００１４】スイッチ９は、切り換え制御信号Ｓ１によ
り、追記型光ディスク５にピットを形成する書き込み動
作の際（ＥＦＭデータ信号Ｄ1 のハイレベルの期間）に
は、可動接点９ａが書き込み側のＡＰＣ回路７側に接続
されている固定接点９ｂ側に切り換えられる。一方、形
成されたピットおよびランドの読みだし動作の際および
ＥＦＭデータ信号Ｄ1 のローレベル期間には、可動接点
９ａが読みだし側のＡＰＣ回路１０に接続されている固
定接点９ｃ側に切り換えられる。
り、追記型光ディスク５にピットを形成する書き込み動
作の際（ＥＦＭデータ信号Ｄ1 のハイレベルの期間）に
は、可動接点９ａが書き込み側のＡＰＣ回路７側に接続
されている固定接点９ｂ側に切り換えられる。一方、形
成されたピットおよびランドの読みだし動作の際および
ＥＦＭデータ信号Ｄ1 のローレベル期間には、可動接点
９ａが読みだし側のＡＰＣ回路１０に接続されている固
定接点９ｃ側に切り換えられる。
【００１５】読みだし側のＡＰＣ回路１０の基準入力側
には、直流電源１１から一定の直流電圧Ｅ１が供給され
ている。
には、直流電源１１から一定の直流電圧Ｅ１が供給され
ている。
【００１６】スイッチ９の出力信号は、レーザダイオー
ド回路８によりその出力信号に応じた強度の光ビームに
変換され、その光ビームは光学系１５に入射される。光
学系１５は、図示しないフォトダイオードを有するフロ
ントモニタ１４、図示しないコリメータレンズ、ビーム
スプリッタ、対物レンズ、円筒レンズ、フォーカスアク
チュエータ、およびトラッキングアクチュエータなどを
有しており、レーザダイオード回路８から入射された光
ビームが上記コリメータレンズを通じて平行光とされた
後、上記ビームスプリッタ、上記対物レンズを通じて集
光され、集光された光ビームが追記型光ディスク５に照
射される。
ド回路８によりその出力信号に応じた強度の光ビームに
変換され、その光ビームは光学系１５に入射される。光
学系１５は、図示しないフォトダイオードを有するフロ
ントモニタ１４、図示しないコリメータレンズ、ビーム
スプリッタ、対物レンズ、円筒レンズ、フォーカスアク
チュエータ、およびトラッキングアクチュエータなどを
有しており、レーザダイオード回路８から入射された光
ビームが上記コリメータレンズを通じて平行光とされた
後、上記ビームスプリッタ、上記対物レンズを通じて集
光され、集光された光ビームが追記型光ディスク５に照
射される。
【００１７】ここで、追記型光ディスク５に照射される
光ビームの一部がフロントモニタ１４によりフロントモ
ニタ出力として出力される。このフロントモニタ出力
は、書き込み用光ビームの強度と読みだし用光ビーム強
度に比例した出力であり、ＡＰＣ回路７は、この書き込
み用光ビームの強度に比例したフロントモニタ出力が比
較入力に供給されることで、書き込み用光ビームのＡＰ
Ｃ制御を行う。また、ＡＰＣ回路１０は、読みだし用光
ビーム強度に比例したフロントモニタ出力が比較入力に
供給されることで、読みだし用光ビームのＡＰＣ制御を
行う。
光ビームの一部がフロントモニタ１４によりフロントモ
ニタ出力として出力される。このフロントモニタ出力
は、書き込み用光ビームの強度と読みだし用光ビーム強
度に比例した出力であり、ＡＰＣ回路７は、この書き込
み用光ビームの強度に比例したフロントモニタ出力が比
較入力に供給されることで、書き込み用光ビームのＡＰ
Ｃ制御を行う。また、ＡＰＣ回路１０は、読みだし用光
ビーム強度に比例したフロントモニタ出力が比較入力に
供給されることで、読みだし用光ビームのＡＰＣ制御を
行う。
【００１８】なお、フロントモニタ出力は、Ａ／Ｄ変換
回路１６によってデジタルデータ信号に変換され、その
うち、読みだし用光ビーム強度に比例したフロントモニ
タ出力がリード出力レベルＲ１としてＣＰＵ２に取り込
まれる。
回路１６によってデジタルデータ信号に変換され、その
うち、読みだし用光ビーム強度に比例したフロントモニ
タ出力がリード出力レベルＲ１としてＣＰＵ２に取り込
まれる。
【００１９】追記型光ディスク５からの反射光ビーム
は、光学系１５を通じて、例えば、４分割フォトダイオ
ードを有する光検出回路１７に入射される。光検出回路
１７の出力信号は、ピットレベル検出用のサンプルホー
ルド回路１８とランドレベル検出用のサンプルホールド
回路１９に供給されるとともに、再生回路２０に供給さ
れる。また、光検出回路１７の出力信号に基づき周知の
フォーカスサーボおよびトラッキングサーボが行われ
る。再生回路２０の出力信号Ｓｏは、出力端子２１を通
じて波形観測装置、例えば、オシロスコープに供給され
る。
は、光学系１５を通じて、例えば、４分割フォトダイオ
ードを有する光検出回路１７に入射される。光検出回路
１７の出力信号は、ピットレベル検出用のサンプルホー
ルド回路１８とランドレベル検出用のサンプルホールド
回路１９に供給されるとともに、再生回路２０に供給さ
れる。また、光検出回路１７の出力信号に基づき周知の
フォーカスサーボおよびトラッキングサーボが行われ
る。再生回路２０の出力信号Ｓｏは、出力端子２１を通
じて波形観測装置、例えば、オシロスコープに供給され
る。
【００２０】サンプルホールド回路１８，１９には、ク
ロック発生回路２２からサンプルホールドパルスＳＰ
１，ＳＰ２が供給される。また、クロック発生回路２２
からＥＦＭデータ信号の入力部１とＣＰＵ２とに所定の
クロック信号が供給される。
ロック発生回路２２からサンプルホールドパルスＳＰ
１，ＳＰ２が供給される。また、クロック発生回路２２
からＥＦＭデータ信号の入力部１とＣＰＵ２とに所定の
クロック信号が供給される。
【００２１】サンプルホールド回路１８，１９の出力信
号であるピットレベルとランドレベル（内容については
それぞれ後述する）とはそれぞれ、Ａ／Ｄ変換回路２
３，２４を通じてピットレベルＰ１およびランドレベル
Ｌ１としてＣＰＵ２に供給される。
号であるピットレベルとランドレベル（内容については
それぞれ後述する）とはそれぞれ、Ａ／Ｄ変換回路２
３，２４を通じてピットレベルＰ１およびランドレベル
Ｌ１としてＣＰＵ２に供給される。
【００２２】次に上記実施例の動作について、図３に示
すフローチャートをも参照して説明する。
すフローチャートをも参照して説明する。
【００２３】まず、追記型光ディスクの試し書き領域５
ａを利用して、書き込み用光ビームの強度が最適となる
一定のアシンメトリを得るために、ＥＦＭデータ信号の
入力部１からＣＰＵ２に試し書き用の固定のＥＦＭデー
タ信号Ｄｔを供給する。
ａを利用して、書き込み用光ビームの強度が最適となる
一定のアシンメトリを得るために、ＥＦＭデータ信号の
入力部１からＣＰＵ２に試し書き用の固定のＥＦＭデー
タ信号Ｄｔを供給する。
【００２４】ＣＰＵ２は、この試し書き用の固定のＥＦ
Ｍデータ信号Ｄｔを取り込んだ後、これに応じて予め定
められたレーザ出力目標値ＬＰ１をＤ／Ａ変換回路６に
供給する。この場合、Ｄ／Ａ変換回路６、ＡＰＣ回路
７、スイッチ９およびレーザダイオード回路８を通じ
て、そのレーザ出力目標値ＬＰ１に応じた強度の光ビー
ムが光学系１５から追記型光ディスク５の試し書き領域
５ａに照射され、ＥＦＭデータ信号Ｄｔに応じた所定長
のピットが形成されるとともに、ピットが形成されなか
った部分がランドになる。
Ｍデータ信号Ｄｔを取り込んだ後、これに応じて予め定
められたレーザ出力目標値ＬＰ１をＤ／Ａ変換回路６に
供給する。この場合、Ｄ／Ａ変換回路６、ＡＰＣ回路
７、スイッチ９およびレーザダイオード回路８を通じ
て、そのレーザ出力目標値ＬＰ１に応じた強度の光ビー
ムが光学系１５から追記型光ディスク５の試し書き領域
５ａに照射され、ＥＦＭデータ信号Ｄｔに応じた所定長
のピットが形成されるとともに、ピットが形成されなか
った部分がランドになる。
【００２５】この場合、この試し書き用の固定のＥＦＭ
データ信号Ｄｔに基づいて形成されるピットとランド
は、それぞれ３Ｔピット〜１１Ｔピットと３Ｔランド〜
１１Ｔランドであり、また、ピットとランドの個数は同
数になっている。したがって、読みだし用光ビームによ
って読みだされ、光検出回路１７を通じて再生回路２０
の出力側に得られる再生信号Ｓｏのアシンメトリは一定
値になる。例えば、その一定値がゼロ値のときには、再
生信号Ｓｏの振幅値の中央レベルが直流のゼロレベルに
一致することになる。言い換えれば、再生信号Ｓｏの振
幅が、ゼロレベルの上下に同振幅になるときがアシンメ
トリがゼロ値であるといえる。このアシンメトリは、再
生信号Ｓｏをオシロスコープによって観測することによ
り分かる。
データ信号Ｄｔに基づいて形成されるピットとランド
は、それぞれ３Ｔピット〜１１Ｔピットと３Ｔランド〜
１１Ｔランドであり、また、ピットとランドの個数は同
数になっている。したがって、読みだし用光ビームによ
って読みだされ、光検出回路１７を通じて再生回路２０
の出力側に得られる再生信号Ｓｏのアシンメトリは一定
値になる。例えば、その一定値がゼロ値のときには、再
生信号Ｓｏの振幅値の中央レベルが直流のゼロレベルに
一致することになる。言い換えれば、再生信号Ｓｏの振
幅が、ゼロレベルの上下に同振幅になるときがアシンメ
トリがゼロ値であるといえる。このアシンメトリは、再
生信号Ｓｏをオシロスコープによって観測することによ
り分かる。
【００２６】図４は、オシロスコープで観測される再生
信号Ｓｏの波形を概略的に示しており、ゼロレベルの上
下における振幅Ａと振幅Ｂとの値から、アシンメトリ
は、次の式で求められる。
信号Ｓｏの波形を概略的に示しており、ゼロレベルの上
下における振幅Ａと振幅Ｂとの値から、アシンメトリ
は、次の式で求められる。
【００２７】アシンメトリ＝（１／２）・｛（Ｂ−Ａ）
／（Ｂ＋Ａ）｝×１００ ［％］
／（Ｂ＋Ａ）｝×１００ ［％］
【００２８】そこで、オシロスコープの管面波形を観測
しながら、レーザ出力目標値ＬＰ１をＣＰＵ２により可
変することにより、試し書き領域５ａにおいて、一定の
アシンメトリが得られるレーザ出力目標値ＬＰ１を決定
することができる。なお、一定のアシンメトリが得られ
るレーザ出力目標値ＬＰ１は、自動的に得るように構成
を変更することもできる。また、一定のアシンメトリの
値としては、実験的に、ゼロ値よりも−４％〜−７％の
間の値にすることがデータエラーなどが最も少なくなる
アシンメトリ値であることが発明者などによって確認さ
れている。
しながら、レーザ出力目標値ＬＰ１をＣＰＵ２により可
変することにより、試し書き領域５ａにおいて、一定の
アシンメトリが得られるレーザ出力目標値ＬＰ１を決定
することができる。なお、一定のアシンメトリが得られ
るレーザ出力目標値ＬＰ１は、自動的に得るように構成
を変更することもできる。また、一定のアシンメトリの
値としては、実験的に、ゼロ値よりも−４％〜−７％の
間の値にすることがデータエラーなどが最も少なくなる
アシンメトリ値であることが発明者などによって確認さ
れている。
【００２９】そこで、試し書き領域５ａにおいて、その
一定のアシンメトリ値、言い換えれば、最適のアシンメ
トリ値が得られたときのレーザ出力目標値ＬＰ１をレー
ザ出力目標値の初期値ＬＰｉ（最適値）としてＣＰＵ２
に記憶する（フローチャート中、ステップＳ１１）。
一定のアシンメトリ値、言い換えれば、最適のアシンメ
トリ値が得られたときのレーザ出力目標値ＬＰ１をレー
ザ出力目標値の初期値ＬＰｉ（最適値）としてＣＰＵ２
に記憶する（フローチャート中、ステップＳ１１）。
【００３０】次に、このようにして決定された書き込み
用レーザ出力目標値の初期値ＬＰｉとその時点における
読みだし用レーザ出力値、すなわち、フロントモニタ１
４からのフロントモニタ出力としてＡ／Ｄ変換回路１６
からＣＰＵ２に供給されるリード出力レベルＲ１が、リ
ード出力レベルの初期値ＲｉとしてＣＰＵ２に記憶され
る（ステップＳ１２）。
用レーザ出力目標値の初期値ＬＰｉとその時点における
読みだし用レーザ出力値、すなわち、フロントモニタ１
４からのフロントモニタ出力としてＡ／Ｄ変換回路１６
からＣＰＵ２に供給されるリード出力レベルＲ１が、リ
ード出力レベルの初期値ＲｉとしてＣＰＵ２に記憶され
る（ステップＳ１２）。
【００３１】さらに、書き込み用レーザ出力目標値ＬＰ
ｉによってピットが形成されている間に４Ｔピット位置
の反射光強度がサンプルホールド回路１８によってサン
プルホールドパルスＳＰ１に基づきサンプルホールドさ
れ、そのサンプルホールドされた値がＡ／Ｄ変換回路２
３を介して、ピットレベルの初期値ＰｉとしてＣＰＵ２
に記憶される（ステップＳ１２）。
ｉによってピットが形成されている間に４Ｔピット位置
の反射光強度がサンプルホールド回路１８によってサン
プルホールドパルスＳＰ１に基づきサンプルホールドさ
れ、そのサンプルホールドされた値がＡ／Ｄ変換回路２
３を介して、ピットレベルの初期値ＰｉとしてＣＰＵ２
に記憶される（ステップＳ１２）。
【００３２】さらにまた、上記リード出力レベルの初期
値Ｒｉを記憶したときに、ランドに照射された読みだし
用光ビームの反射光強度がサンプルホールド回路１９に
よってサンプルホールドパルスＳＰ２に基づきサンプル
ホールドされ、そのサンプルホールドされた値がＡ／Ｄ
変換回路２４を介して、ランドレベルの初期値Ｌｉとし
てＣＰＵ２に記憶される（ステップＳ１２）。
値Ｒｉを記憶したときに、ランドに照射された読みだし
用光ビームの反射光強度がサンプルホールド回路１９に
よってサンプルホールドパルスＳＰ２に基づきサンプル
ホールドされ、そのサンプルホールドされた値がＡ／Ｄ
変換回路２４を介して、ランドレベルの初期値Ｌｉとし
てＣＰＵ２に記憶される（ステップＳ１２）。
【００３３】図５は、サンプルホールド回路１８，１９
に供給される上記した反射光強度の波形を概略的に示し
ている。
に供給される上記した反射光強度の波形を概略的に示し
ている。
【００３４】図５中、０Ｔピット位置から１１Ｔピット
位置間は、書き込み用光ビームの出力期間ＴＷであり、
その他の区間が読みだし用光ビームの出力期間ＴＲであ
る。反射光強度が０Ｔピット位置の直後にピーク値とな
るのは、追記型光ディスク５が鏡面になっているからで
あり、光ビームが連続して照射されることにより、反射
光強度が小さくなる。
位置間は、書き込み用光ビームの出力期間ＴＷであり、
その他の区間が読みだし用光ビームの出力期間ＴＲであ
る。反射光強度が０Ｔピット位置の直後にピーク値とな
るのは、追記型光ディスク５が鏡面になっているからで
あり、光ビームが連続して照射されることにより、反射
光強度が小さくなる。
【００３５】この実施例において、ピットレベルは４Ｔ
ピット位置のピットレベルＰ１がサンプルホールド回路
１８によってサンプルホールドされるようになってい
る。４Ｔピット位置のピットレベルＰ１をサンプルホー
ルドすることにより、安定してピットレベルＰ１を検出
できることが発明者などによって確認されている。ま
た、ランドレベルは、反射光強度が安定した時点のラン
ドレベルＬ１がサンプルホールドされるようになってい
る。なお、サンプルホールド位置（時点）は、クロック
発生回路２２から供給されるサンプルホールドパルスＳ
Ｐ１，ＳＰ２の発生時点を制御することによって変化さ
せることができるので、４Ｔピット位置に限らず、３Ｔ
ピット位置または５Ｔピット位置など適宜変更すること
ができる。
ピット位置のピットレベルＰ１がサンプルホールド回路
１８によってサンプルホールドされるようになってい
る。４Ｔピット位置のピットレベルＰ１をサンプルホー
ルドすることにより、安定してピットレベルＰ１を検出
できることが発明者などによって確認されている。ま
た、ランドレベルは、反射光強度が安定した時点のラン
ドレベルＬ１がサンプルホールドされるようになってい
る。なお、サンプルホールド位置（時点）は、クロック
発生回路２２から供給されるサンプルホールドパルスＳ
Ｐ１，ＳＰ２の発生時点を制御することによって変化さ
せることができるので、４Ｔピット位置に限らず、３Ｔ
ピット位置または５Ｔピット位置など適宜変更すること
ができる。
【００３６】この実施例において、ステップＳ１２にお
いては、ピットレベルの初期値Ｐｉとランドレベルの初
期値Ｌｉとリード出力レベルの初期値Ｒｉとは、それぞ
れ、１分間に、約７５回取り込まれ、それらの平均値
が、ピットレベルの初期値Ｐｉ、ランドレベルの初期値
Ｌｉ、およびリード出力レベルの初期値ＲｉとしてＣＰ
Ｕ２に記憶される。
いては、ピットレベルの初期値Ｐｉとランドレベルの初
期値Ｌｉとリード出力レベルの初期値Ｒｉとは、それぞ
れ、１分間に、約７５回取り込まれ、それらの平均値
が、ピットレベルの初期値Ｐｉ、ランドレベルの初期値
Ｌｉ、およびリード出力レベルの初期値ＲｉとしてＣＰ
Ｕ２に記憶される。
【００３７】このようにして、ステップＳ１１とステッ
プＳ１２の結果、ＣＰＵ２には、試し書き領域５ａに試
し書きを行うことにより、一定のアシンメトリが得られ
る、すなわち、最適書き込みが行われるレーザ出力目標
値の初期値ＬＰｉと平均値であるピットレベルの初期値
Ｐｉとランドレベルの初期値Ｌｉとリード出力レベルの
初期値Ｒｉが記憶されることになる。
プＳ１２の結果、ＣＰＵ２には、試し書き領域５ａに試
し書きを行うことにより、一定のアシンメトリが得られ
る、すなわち、最適書き込みが行われるレーザ出力目標
値の初期値ＬＰｉと平均値であるピットレベルの初期値
Ｐｉとランドレベルの初期値Ｌｉとリード出力レベルの
初期値Ｒｉが記憶されることになる。
【００３８】次に、追記型光ディスク５のデータ書き込
み領域５ｂの内周側から外周側に向かって、順次、デー
タを最適に、すなわち、上記一定のアシンメトリになる
ように書き込む過程、いわゆるランニングＯＰＣ（Ｏｐ
ｔｉｍｕｍ ＰｏｗｅｒＣｏｎｔｒｏｌ）動作について
説明する。
み領域５ｂの内周側から外周側に向かって、順次、デー
タを最適に、すなわち、上記一定のアシンメトリになる
ように書き込む過程、いわゆるランニングＯＰＣ（Ｏｐ
ｔｉｍｕｍ ＰｏｗｅｒＣｏｎｔｒｏｌ）動作について
説明する。
【００３９】なお、次に説明するランニングＯＰＣ動作
は、１トラックずつ行ってもよく、複数トラックずつ行
ってもよい。
は、１トラックずつ行ってもよく、複数トラックずつ行
ってもよい。
【００４０】そこで、最初のトラックにデータを書き込
む際には、上記のようにして得たレーザ出力目標値の初
期値ＬＰｉを現在のレーザ出力目標値（以下、レーザ出
力目標値の現在値という。）ＬＰｎとしてＣＰＵ２から
Ｄ／Ａ変換回路６に供給する。
む際には、上記のようにして得たレーザ出力目標値の初
期値ＬＰｉを現在のレーザ出力目標値（以下、レーザ出
力目標値の現在値という。）ＬＰｎとしてＣＰＵ２から
Ｄ／Ａ変換回路６に供給する。
【００４１】そしてその時のピットレベルＰ１，ランド
レベルＬ１およびリード出力レベルＲ１をそれぞれピッ
トレベルの現在値Ｐｎ、ランドレベルの現在値Ｌｎおよ
びリード出力レベルの現在値Ｒｎとしてサンプルホール
ド回路１８，１９でサンプルホールドした後、ＣＰＵ２
に取り込み記憶する（ステップＳ１３）。
レベルＬ１およびリード出力レベルＲ１をそれぞれピッ
トレベルの現在値Ｐｎ、ランドレベルの現在値Ｌｎおよ
びリード出力レベルの現在値Ｒｎとしてサンプルホール
ド回路１８，１９でサンプルホールドした後、ＣＰＵ２
に取り込み記憶する（ステップＳ１３）。
【００４２】次に数１に基づき正規化したピットレベル
の現在値（以下、正規化ピットレベルの現在値とい
う。）Ｐｎｏｒｍを求める（ステップＳ１４）。
の現在値（以下、正規化ピットレベルの現在値とい
う。）Ｐｎｏｒｍを求める（ステップＳ１４）。
【００４３】
【数１】正規化ピットレベルの現在値Ｐｎｏｒｍ＝ピッ
トレベルの現在値Ｐｎ／（レーザ出力目標値比×反射率
比）
トレベルの現在値Ｐｎ／（レーザ出力目標値比×反射率
比）
【００４４】数１において、レーザ出力目標値比は、数
２のように定義される。
２のように定義される。
【００４５】
【数２】レーザ出力目標値比＝レーザ出力目標値の現在
値／レーザ出力目標値の初期値＝ＬＰｎ／ＬＰｉ
値／レーザ出力目標値の初期値＝ＬＰｎ／ＬＰｉ
【００４６】数１において、反射率比は、数３のように
定義される。
定義される。
【００４７】
【数３】反射率比＝反射率の現在値／反射率の初期値＝
（ランドレベルの現在値／リード出力レベルの現在値）
／（ランドレベルの初期値／リード出力レベルの初期
値）＝（Ｌｎ／Ｒｎ）／（Ｌｉ／Ｒｉ）
（ランドレベルの現在値／リード出力レベルの現在値）
／（ランドレベルの初期値／リード出力レベルの初期
値）＝（Ｌｎ／Ｒｎ）／（Ｌｉ／Ｒｉ）
【００４８】したがって、数１は、数４に示す文字式で
表される。
表される。
【００４９】
【数４】Ｐｎｏｒｍ＝Ｐｎ／［（ＬＰｎ／ＬＰｉ）×
｛（Ｌｎ／Ｒｎ）／（Ｌｉ／Ｒｉ）｝］
｛（Ｌｎ／Ｒｎ）／（Ｌｉ／Ｒｉ）｝］
【００５０】次に、このようにしてデータ書き込み領域
５ｂの最初のトラックについて求めた正規化ピットレベ
ルの現在値Ｐｎｏｒｍと、一定のアシンメトリが得られ
る最適値として試し書き領域５ａを利用して求めておい
たピットレベルの初期値Ｐｉとの大小を比較する（ステ
ップＳ１５）。
５ｂの最初のトラックについて求めた正規化ピットレベ
ルの現在値Ｐｎｏｒｍと、一定のアシンメトリが得られ
る最適値として試し書き領域５ａを利用して求めておい
たピットレベルの初期値Ｐｉとの大小を比較する（ステ
ップＳ１５）。
【００５１】それらが等しい値であった場合には、上記
最初のトラックには一定のアシンメトリで最適に書き込
みが行われたものとする。その場合には、次に全てのト
ラックへの書き込み動作が終了したかどうかが判定され
（ステップＳ１８）、まだ、未書き込みのトラックが残
っている場合には、レーザ出力目標値の現在値Ｐｎを変
更することなく、再びステップＳ１３からステップＳ１
８までの処理を行う。
最初のトラックには一定のアシンメトリで最適に書き込
みが行われたものとする。その場合には、次に全てのト
ラックへの書き込み動作が終了したかどうかが判定され
（ステップＳ１８）、まだ、未書き込みのトラックが残
っている場合には、レーザ出力目標値の現在値Ｐｎを変
更することなく、再びステップＳ１３からステップＳ１
８までの処理を行う。
【００５２】ステップＳ１５の判定において、Ｐｎｏｒ
ｍ＞Ｐｉの場合には、反射光強度が最適の反射光強度よ
りも大きいのであるから、レーザ出力目標値の現在値Ｌ
Ｐｎを一単位（例えば、フルスケールが２５６レベルで
ある場合には、例えば、１／２５６レベル）増加させ
て、反射光強度が小さくなるようにする（ステップＳ１
６）。
ｍ＞Ｐｉの場合には、反射光強度が最適の反射光強度よ
りも大きいのであるから、レーザ出力目標値の現在値Ｌ
Ｐｎを一単位（例えば、フルスケールが２５６レベルで
ある場合には、例えば、１／２５６レベル）増加させ
て、反射光強度が小さくなるようにする（ステップＳ１
６）。
【００５３】また、ステップＳ１５の判定において、Ｐ
ｎｏｒｍ＜Ｐｉの場合には、反射光強度が最適の反射光
強度よりも小さいのであるから、レーザ出力目標値の現
在値ＬＰｎを一単位（同様に、１／２５６レベル）減少
させて、反射光強度が大きくなるようにする（ステップ
Ｓ１７）。
ｎｏｒｍ＜Ｐｉの場合には、反射光強度が最適の反射光
強度よりも小さいのであるから、レーザ出力目標値の現
在値ＬＰｎを一単位（同様に、１／２５６レベル）減少
させて、反射光強度が大きくなるようにする（ステップ
Ｓ１７）。
【００５４】このようにして、次の書き込み領域（トラ
ック）に照射される光ビームの出力強度が最適値、すな
わち、一定のアシンメトリが得られるように決定される
ことで、追記型光ディスク５のデータ書き込み領域５ｂ
の全面にわたって均一に書き込むことができるようにな
る。
ック）に照射される光ビームの出力強度が最適値、すな
わち、一定のアシンメトリが得られるように決定される
ことで、追記型光ディスク５のデータ書き込み領域５ｂ
の全面にわたって均一に書き込むことができるようにな
る。
【００５５】結局、決定しようとする光ビーム出力強
度、言い換えれば、レーザ出力目標値の現在値ＬＰｎ
は、上記数２において、レーザ出力目標値の現在値ＬＰ
ｎについて解くことにより、次の数５のように表すこと
ができる。
度、言い換えれば、レーザ出力目標値の現在値ＬＰｎ
は、上記数２において、レーザ出力目標値の現在値ＬＰ
ｎについて解くことにより、次の数５のように表すこと
ができる。
【００５６】
【数５】ＬＰｎ＝（Ｐｎ／Ｐｎｏｒｍ）×（Ｌｉ／Ｒ
ｉ）×（Ｒｎ／Ｌｎ）×Ｌｐｉ＝（Ｐｎ／Ｐｉ）×（Ｌ
ｉ／Ｒｉ）×（Ｒｎ／Ｌｎ）×Ｌｐｉ
ｉ）×（Ｒｎ／Ｌｎ）×Ｌｐｉ＝（Ｐｎ／Ｐｉ）×（Ｌ
ｉ／Ｒｉ）×（Ｒｎ／Ｌｎ）×Ｌｐｉ
【００５７】このように上記した実施例によれば、ＣＰ
Ｕ２により、追記型光ディスク５にデータを書き込む際
に、まず、試し書き領域５ａにおいて、一定のアシンメ
トリになるようにしたときのレーザ出力目標値の初期値
ＬＰｉ、ピットレベルの初期値Ｐｉ、ランドレベルの初
期値Ｌｉおよびリード出力レベルの初期値Ｒｉをそれぞ
れ記憶し、次に、データ書き込み領域５ｂにデータを書
き込む際に、レーザ出力目標値の現在値Ｐｎ、ピットレ
ベルの現在値Ｐｎ、ランドレベルの現在値Ｌｎ、および
リード出力レベルの現在値Ｒｎをそれぞれ取り込み、新
たなレーザ出力目標値Ｐｎが数５を満足するように決定
している。このため、試し書き領域５ａに書き込みを開
始してから、追記型光ディスク５の全面への書き込みが
終了するまでの間に、刻々と変化するレーザダイオード
の温度変化、追記型光ディスク５のそり・感度むらなど
の変化要因に追従してレーザ光の発光出力強度を変化さ
せることができることになり、追記型光ディスク５への
データの最適記録を連続して長時間安定に行うことがで
きる。
Ｕ２により、追記型光ディスク５にデータを書き込む際
に、まず、試し書き領域５ａにおいて、一定のアシンメ
トリになるようにしたときのレーザ出力目標値の初期値
ＬＰｉ、ピットレベルの初期値Ｐｉ、ランドレベルの初
期値Ｌｉおよびリード出力レベルの初期値Ｒｉをそれぞ
れ記憶し、次に、データ書き込み領域５ｂにデータを書
き込む際に、レーザ出力目標値の現在値Ｐｎ、ピットレ
ベルの現在値Ｐｎ、ランドレベルの現在値Ｌｎ、および
リード出力レベルの現在値Ｒｎをそれぞれ取り込み、新
たなレーザ出力目標値Ｐｎが数５を満足するように決定
している。このため、試し書き領域５ａに書き込みを開
始してから、追記型光ディスク５の全面への書き込みが
終了するまでの間に、刻々と変化するレーザダイオード
の温度変化、追記型光ディスク５のそり・感度むらなど
の変化要因に追従してレーザ光の発光出力強度を変化さ
せることができることになり、追記型光ディスク５への
データの最適記録を連続して長時間安定に行うことがで
きる。
【００５８】なお、上記実施例においては、リード出力
レベルＲ１についても考慮して制御しているが、リード
出力レベルＲ１が変化しない場合には、上記数５中、Ｒ
ｎ＝Ｒｉとなり、リード出力レベルＲ１を考慮する必要
がなくなる。
レベルＲ１についても考慮して制御しているが、リード
出力レベルＲ１が変化しない場合には、上記数５中、Ｒ
ｎ＝Ｒｉとなり、リード出力レベルＲ１を考慮する必要
がなくなる。
【００５９】さらにまた、本発明は上記の実施例に限ら
ず本発明の要旨を逸脱することなく種々の構成を採り得
ることはもちろんである。
ず本発明の要旨を逸脱することなく種々の構成を採り得
ることはもちろんである。
【００６０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
制御手段により、追記型光ディスクにデータを書き込む
際に、まず、試し書き領域において、一定のアシンメト
リになるようにしたときの書き込み用光ビームの目標
値、ピットレベルおよびランドレベル、およびリード出
力レベルをそれぞれ初期値として記憶し、次に、データ
書き込み領域において、データを書き込む際に、現在の
上記目標値、上記ピットレベルおよびランドレベル、お
よび上記リード出力レベルをそれぞれ現在値として取り
込み、上記初期値および上記現在値に基づき、上記目標
値の現在値を新たに決定するように制御するしている。
このため、追記型光ディスクへのデータの最適記録を連
続して長時間安定に行うことのできるできる。
制御手段により、追記型光ディスクにデータを書き込む
際に、まず、試し書き領域において、一定のアシンメト
リになるようにしたときの書き込み用光ビームの目標
値、ピットレベルおよびランドレベル、およびリード出
力レベルをそれぞれ初期値として記憶し、次に、データ
書き込み領域において、データを書き込む際に、現在の
上記目標値、上記ピットレベルおよびランドレベル、お
よび上記リード出力レベルをそれぞれ現在値として取り
込み、上記初期値および上記現在値に基づき、上記目標
値の現在値を新たに決定するように制御するしている。
このため、追記型光ディスクへのデータの最適記録を連
続して長時間安定に行うことのできるできる。
【００６１】したがって、本発明を利用して作成された
書き込み済みの光ディスクは、エラ−の少ない高品質な
ものになる。
書き込み済みの光ディスクは、エラ−の少ない高品質な
ものになる。
【図１】本発明による追記型光ディスク記録装置の一実
施例の構成を示すブロック図である。
施例の構成を示すブロック図である。
【図２】追記型光ディスクの説明のための線図である。
【図３】図１例の動作説明に供されるフローチャートで
ある。
ある。
【図４】アシンメトリの説明に供される線図である。
【図５】レーザ光の反射光強度とピットレベルなどとの
関係の説明に供される線図である。
関係の説明に供される線図である。
１ ＥＦＭデータ信号の入力部 ５ 追記型光ディスク ７、１０ ＡＰＣ回路 ８ レーザダイオード回路 １４ フロントモニタ １５ 光学系 １８、１９ サンプルホールド回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−239441（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−292726（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−83234（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−250427（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−16042（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−44565（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−78126（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−44564（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−10237（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 7/00 - 7/005 G11B 7/125 ＪＯＩＳ
Claims (3)
- 【請求項１】 追記型光ディスクにピットを形成するた
めに書き込み用光ビームの強度を目標値に制御するレー
ザ駆動手段と、 上記書き込み用光ビームによりピットを形成中にその反
射光強度をピットレベルとして検出する第１のサンプル
ホールド手段と、 上記ピット形成後にランドに照射された読みだし用光ビ
ームの反射光強度をランドレベルとして検出する第２の
サンプルホールド手段と、 上記読みだし用光ビームの強度を検出し、それをリード
出力レベルとして出力するリード出力レベル形成手段
と、 上記レーザ駆動手段、上記第１および第２のサンプルホ
ールド手段および上記リード出力レベル形成手段に接続
される制御手段とを有し、 上記制御手段は、上記追記型光ディスクにデータを書き
込む際に、まず、試し書き領域において、一定のアシン
メトリになるようにしたときの上記目標値、上記ピット
レベルおよびランドレベル、および上記リード出力レベ
ルをそれぞれ初期値として記憶し、次に、データ書き込
み領域において、データを書き込む際に、現在の上記目
標値、上記ピットレベルおよびランドレベル、および上
記リード出力レベルをそれぞれ現在値として取り込み、
上記初期値および上記現在値に基づき、上記目標値の現
在値を新たに決定するように制御する追記型光ディスク
装置。 - 【請求項２】 上記制御手段における上記目標値の現在
値が 目標値の初期値×（ピットレベルの現在値／ピットレベ
ルの初期値）××（ランドレベルの初期値／リード出力
レベルの初期値）×（リード出力レベルの現在値／ラン
ドレベルの現在値） として決定されるようにした請求項１記載の追記型光デ
ィスク装置。 - 【請求項３】 上記ピットレベルの現在値および初期値
が、ＥＦＭデータのうち４Ｔピット位置の現在値および
初期値である請求項１または請求項２記載の追記型光デ
ィスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04225995A JP3089844B2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 追記型光ディスク記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04225995A JP3089844B2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 追記型光ディスク記録装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0676288A JPH0676288A (ja) | 1994-03-18 |
| JP3089844B2 true JP3089844B2 (ja) | 2000-09-18 |
Family
ID=16838147
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04225995A Expired - Fee Related JP3089844B2 (ja) | 1992-08-25 | 1992-08-25 | 追記型光ディスク記録装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3089844B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7209419B2 (en) | 2002-08-23 | 2007-04-24 | Ricoh Company, Ltd. | Recording condition compensation method, program, recording medium, and information recording apparatus |
| US7639575B2 (en) | 2002-08-23 | 2009-12-29 | Ricoh Company, Ltd. | Recording condition setting method, program, recording medium, and information recording apparatus |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6618334B1 (en) | 1999-11-04 | 2003-09-09 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Optical disk recording/reproducing device employing waveform correction of laser output signal |
| JP2001134974A (ja) | 1999-11-09 | 2001-05-18 | Sanyo Electric Co Ltd | 光ディスク記録再生装置のレーザー出力制御回路 |
| US6775216B2 (en) * | 2000-08-29 | 2004-08-10 | Zoran Corporation | Method and apparatus for restarting a write operation in a disk drive system |
| JP3768089B2 (ja) | 2000-11-15 | 2006-04-19 | 三洋電機株式会社 | 光ディスク記録再生装置のレーザー出力設定方法 |
| JP3815438B2 (ja) * | 2003-01-07 | 2006-08-30 | ソニー株式会社 | 光記録方法及び光記録装置 |
| JP4403385B2 (ja) * | 2004-03-23 | 2010-01-27 | ソニー株式会社 | 記録装置、記録方法 |
| JP2012014777A (ja) | 2010-06-30 | 2012-01-19 | Sony Corp | 制御装置、制御方法および制御プログラム |
-
1992
- 1992-08-25 JP JP04225995A patent/JP3089844B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7209419B2 (en) | 2002-08-23 | 2007-04-24 | Ricoh Company, Ltd. | Recording condition compensation method, program, recording medium, and information recording apparatus |
| US7639575B2 (en) | 2002-08-23 | 2009-12-29 | Ricoh Company, Ltd. | Recording condition setting method, program, recording medium, and information recording apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0676288A (ja) | 1994-03-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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