JP3041340B2 - Monitoring and control equipment - Google Patents
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Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、ロボットなどを監
視制御する監視制御装置に係わり、特にバウンダリスキ
ャンコントローラ基板を用いて、バウンダリスキャンテ
スト法をサポートした基板の動作状態を監視しながら、
監視制御対象となっているロボットなどの監視制御を行
なう監視制御装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a monitoring control device for monitoring and controlling a robot or the like, and more particularly to a monitoring control device for monitoring the operating state of a board supporting a boundary scan test method using a boundary scan controller board.
The present invention relates to a monitoring control device that performs monitoring control of a robot or the like that is a monitoring control target.
【0002】[0002]
【従来の技術】ロボットなどを監視制御する監視制御装
置では、何らかの原因によって監視制御装置内に設けら
れているCPU基板や各種制御基板などが故障すると、
ロボットが暴走してしまったり、動作を停止したりして
しまうため、CPU基板や各種制御基板などを製造した
際、インサーキットテスト法などの方法により、基板の
良否を判定し、さらにこれらCPU基板や各種制御基板
を組み立てて、ロボットを監視制御する際にも、CPU
基板などによって各種制御基板などの良否など周期的に
チェックして、ハードウェアの故障に起因するトラブル
が発生しないようにしている。2. Description of the Related Art In a monitoring and control apparatus for monitoring and controlling a robot or the like, if a CPU board or various control boards provided in the monitoring and control apparatus fails for some reason,
Because the robot runs away or stops its operation, when manufacturing a CPU board or various control boards, the quality of the board is determined by a method such as an in-circuit test method. When monitoring and controlling the robot by assembling the
The quality of various control boards is periodically checked by a board or the like so that troubles due to hardware failure do not occur.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】ところで、監視制御装
置を構成する各基板の良否を検査するテスト方法として
は、現在、基板のパターン面に、生け花などで使用する
“剣山”のような針山を押し当てて、各基板を構成する
プリントパターンの状態などをテストするインサーキッ
トテスト法が主流である。しかし、基板に搭載されるI
Cの高集積化などによりピン数が増加しているにも係わ
らず、高密度実装などの需要から、パッケージの小型化
が進み、図13に示す如くインサーキットテスト法で使
用しているテストピン101の直径(例えば、0.8m
m)より、基板102に搭載されているIC103のピ
ン間隔(例えば、0.66mm)の方が狭くなり、イン
サーキットテスト法によるテストが事実上、できない基
板102が増えている。また、CPU基板や各種制御基
板を組み立てて、ロボットを監視制御する際にも、CP
U基板などによって各種制御基板などの良否をチェック
しながら、ロボットの監視制御を行なっているため、C
PU基板の性能の一部が犠牲になってしまうとともに、
CPU基板などに何らかの異常が発生したとき、ロボッ
トが暴走してしまうなどの問題があった。そこで、この
ような問題を解決する方法として、CPU基板と独立し
た監視専用基板を設け、この監視専用基板によってCP
U基板や各種制御基板などの動作状態を監視する方法も
提案されているが、このような監視専用基板を使用した
テスト方法では、監視専用基板の動作タイミングを正確
に設定しないと、監視専用基板の監視動作と、CPU基
板や各種制御基板の監視制御動作とが干渉して、これら
CPU基板や各種制御基板によるロボットの監視制御動
作が停止してしまうことがあった。By the way, as a test method for inspecting the quality of each board constituting the monitoring and control device, a needle mountain such as "Kenyama" used for ikebana etc. is currently provided on the pattern surface of the board. The in-circuit test method of testing the state of a printed pattern constituting each substrate by pressing against each other is mainly used. However, the I
Despite the increase in the number of pins due to the high integration of C, the demand for high-density mounting has led to the miniaturization of packages, and the test pins used in the in-circuit test method as shown in FIG. 101 diameter (for example, 0.8 m
m), the pin interval (for example, 0.66 mm) of the IC 103 mounted on the substrate 102 is narrower, and the number of the substrates 102 that cannot be practically tested by the in-circuit test method is increasing. Also, when assembling the CPU board and various control boards to monitor and control the robot, the CP
Because the robot is monitored and controlled while checking the quality of various control boards with the U board, etc.
Part of the performance of the PU substrate is sacrificed,
When any abnormality occurs in the CPU board or the like, there is a problem that the robot runs away. Therefore, as a method for solving such a problem, a monitoring-dedicated board independent of the CPU board is provided.
A method of monitoring the operating state of a U-board or various control boards has also been proposed. However, in a test method using such a monitoring-dedicated board, unless the operation timing of the monitoring-dedicated board is set accurately, Monitoring operation of the CPU board and various control boards interfere with each other, and the monitoring control operation of the robot by the CPU board and various control boards may be stopped.
【0004】本発明は上記の事情に鑑み、請求項1で
は、CPU基板や各種制御基板などを組み込んだ状態で
も、これらCPU基板や各種制御基板を動作させたま
ま、これらCPU基板や各種制御基板などの動作状態を
チェックして、その良否を判定することができる監視制
御装置を提供することを目的としている。また、請求項
2では、監視制御装置のCPU基板などが故障しても、
この監視制御装置によって制御されているロボットなど
が暴走しないしようにすることができる監視制御装置を
提供することを目的としている。また、請求項3では、
CPU基板や各種制御基板などのいずれかが故障して
も、残りの基板が正常かどうかをテストすることがで
き、これによって複数の基板が同時に故障しても、これ
を検知して異常箇所を判定することができる監視制御装
置を提供することを目的としている。請求項4ではCP
U基板や制御基板に対して、バウンダリスキャンコント
ローラ基板がセットされていても、バウンダリスキャン
コントローラ基板のプライオリティ(優先度)を切り換
えて、前記バウンダリスキャンコントローラ基板による
バウンダリスキャンテストが必要ないとき、これをオフ
状態にすることができる監視制御装置を提供することを
目的としている。SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above circumstances, the present invention is directed to claim 1 in which the CPU board and various control boards are operated while the CPU board and various control boards are operated even when the CPU board and various control boards are installed. It is an object of the present invention to provide a monitoring and control device capable of checking an operation state of the device and the like and determining the quality of the operation. Further, according to the second aspect, even if the CPU board or the like of the monitoring control device fails,
It is an object of the present invention to provide a monitoring control device that can prevent a robot or the like controlled by the monitoring control device from running away. In claim 3,
Even if one of the CPU boards or various control boards fails, it is possible to test whether the remaining boards are normal, and even if multiple boards fail at the same time, this can be detected and the abnormal part can be detected. It is an object of the present invention to provide a monitoring control device capable of making a determination. In claim 4, the CP
Even if a boundary scan controller board is set for the U board or the control board, the priority (priority) of the boundary scan controller board is switched so that when the boundary scan test by the boundary scan controller board is not necessary, It is an object to provide a monitoring control device that can be turned off.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、請求項1では、CPU基板、各種の基板
を使用して、監視制御対象物の監視制御を行なう監視制
御装置において、バウンダリスキャンテスト法をサポー
トした部品が搭載された基板と、これらの基板に電気的
に接続され、バウンダリスキャンテストを行なって前記
各基板またはこれの各基板に搭載されている各部品をテ
ストするバウンダリスキャンコントローラ基板とを備え
たことを特徴としている。また、請求項2では、請求項
1に記載の監視制御装置において、前記バウンダリスキ
ャンコントローラ基板は、前記各基板の電源装置と独立
した電源を使用し、各基板の電源装置に異常が発生して
も、前記バウンダリスキャンコントローラ基板によって
各基板のバウンダリスキャンテストを行なって、前記各
基板またはこれの各基板に搭載されている各部品をテス
トすることを特徴としている。また、請求項3では、請
求項1または2に記載の監視制御装置において、前記バ
ウンダリスキャンコントローラ基板は、前記各基板毎に
設けられた専用線によって各基板に接続され、これら各
基板を個々に、バウンダリスキャンテストすることを特
徴としている。また、請求項4では、請求項1、2、3
のいずれかに記載の監視制御装置において、前記バウン
ダリスキャンコントローラ基板は、イネーブル/ディス
イネーブルスイッチの操作内容に基づき、前記バウンダ
リスキャンコントローラ基板によるバウンダリスキャン
テストの実行、実行停止を制御することを特徴としてい
る。To achieve the above object, according to the present invention, there is provided a monitoring control apparatus for performing monitoring control of a monitoring control object using a CPU board and various boards. A board on which components supporting the boundary scan test method are mounted, and a board electrically connected to these boards, and a boundary scan test is performed to test each board or each component mounted on each board. And a boundary scan controller board. According to a second aspect of the present invention, in the monitoring control device according to the first aspect, the boundary scan controller board uses a power supply independent of a power supply of each of the boards, and an abnormality occurs in the power supply of each of the boards. Also, a boundary scan test of each board is performed by the boundary scan controller board to test each board or each component mounted on each board. According to a third aspect of the present invention, in the monitoring control apparatus according to the first or second aspect, the boundary scan controller board is connected to each board by a dedicated line provided for each board, and each board is individually connected. And a boundary scan test. In claim 4, claims 1, 2, 3
Wherein the boundary scan controller board controls the execution and stop of the boundary scan test by the boundary scan controller board based on the operation of an enable / disable switch. I have.
【0006】上記の構成により、請求項1では、CPU
基板、各種の基板を使用して、監視制御対象物の監視制
御を行なう監視制御装置において、バウンダリスキャン
テスト法をサポートした部品が搭載された基板と、バウ
ンダリスキャンコントローラ基板とを電気的に接続し、
前記バウンダリスキャンコントローラ基板により、前記
基板のバウンダリスキャンテストを行なって前記基板ま
たはこの基板に搭載されている各部品をテストすること
により、CPU基板や各種制御基板などを組み込んだ状
態でも、これらCPU基板や各種制御基板を動作させた
まま、これらCPU基板や各種制御基板などの動作状態
をチェックして、その良否を判定する。また、請求項2
では、請求項1に記載の監視制御装置において、前記バ
ウンダリスキャンコントローラ基板の電源装置、前記基
板の電源装置とを独立させ、前記基板の電源装置に異常
が発生しても、前記バウンダリスキャンコントローラ基
板によって前記基板のバウンダリスキャンテストを行な
って、前記基板またはこの基板に搭載されている各部品
をテストすることにより、監視制御装置のCPU基板な
どが故障しても、この監視制御装置によって制御されて
いるロボットなどが暴走しないしようにする。また、請
求項3では、請求項1または2に記載の監視制御装置に
おいて、前記バウンダリスキャンコントローラ基板を、
前記各基板毎に設けられた専用線によって各基板に接続
し、これら各基板を個々に、バウンダリスキャンテスト
することにより、CPU基板や各種制御基板などのいず
れかが故障しても、残りの基板が正常かどうかをテスト
し得るようにし、これによって複数の基板が同時に故障
しても、これを検知して異常箇所を判定する。また、請
求項4では、請求項1、2、3のいずれかに記載の監視
制御装置において、前記バウンダリスキャンコントロー
ラ基板は、イネーブル/ディスイネーブルスイッチの操
作内容に基づき、前記バウンダリスキャンコントローラ
基板によるバウンダリスキャンテストの実行、実行停止
を制御することにより、バウンダリスキャンコントロー
ラ基板がセットされていても、バウンダリスキャンコン
トローラ基板のプライオリティ(優先度)を切り換え
て、バウンダリスキャンコントローラ基板によるバウン
ダリスキャンテストが必要ない時、これをオフ状態にす
る。According to the first aspect of the present invention, the CPU
In a monitoring control device that performs monitoring control of a monitoring control object using a board and various boards, a board on which components supporting the boundary scan test method are mounted and a boundary scan controller board are electrically connected. ,
The boundary scan controller board performs a boundary scan test on the board to test the board or each component mounted on the board, so that the CPU board and various control boards can be used. While operating the CPU board and various control boards, the operating states of the CPU board and the various control boards are checked to determine the quality of the operation. Claim 2
In the monitoring control apparatus according to claim 1, the power supply device of the boundary scan controller substrate and the power supply device of the substrate are made independent, and even if an abnormality occurs in the power supply device of the substrate, the boundary scan controller substrate By performing a boundary scan test of the board, and testing the board or each component mounted on the board, even if a CPU board or the like of the monitoring control apparatus fails, the board is controlled by the monitoring control apparatus. Try to avoid runaway robots. According to a third aspect, in the monitoring control device according to the first or second aspect, the boundary scan controller board is
Each of the boards is connected to each board by a dedicated line provided for each of the boards, and each board is individually subjected to a boundary scan test. Can be tested for normality, so that even if a plurality of substrates fail at the same time, this can be detected to determine an abnormal location. According to a fourth aspect of the present invention, in the monitoring and control device according to any one of the first to third aspects, the boundary scan controller board is configured to be operated by the boundary scan controller board based on an operation of an enable / disable switch. By controlling the execution and stop of the scan test, even if the boundary scan controller board is set, the priority (priority) of the boundary scan controller board is switched so that the boundary scan test by the boundary scan controller board is not necessary. , Turn it off.
【0007】[0007]
《発明の基本原理》まず、本発明による監視制御装置の
詳細な説明に先だって、本発明の基本原理となるバウン
ダリスキャンテスト法について説明する。本発明で使用
するバウンダリスキャンテスト法は、このテスト法をサ
ポートしている集積回路(ICチップ)、例えば図7に
示す如く集積回路110本来の機能を実現する内部ロジ
ック回路111の入出力端子と、集積回路110の入力
端子112、出力端子113との間に、これら入力端子
112、出力端子113と1対1で対応するセル114
を設けるとともに、バイパスレジスタ115、IDCO
DEレジスタ116、インストラクションレジスタ11
7などを設け、さらにこれら各セル114、バイパスレ
ジスタ115〜インストラクションレジスタ117によ
って構成されるバウンダリスキャンレジスタ118を制
御するTAPコントローラ119を設けた集積回路11
0の動作状態およびこの集積回路110と外部機器との
接続関係をテストする方法であり、次に述べる手順で、
集積回路110のテストを行なう。まず、集積回路11
0自体の良否をチェックする際には、TDI端子12
0、TDO端子121、TCK端子122、TMS端子
123、TRST端子124を図8に示す如く制御し
て、集積回路110のTDI端子120にシリアルデー
タ(テストデータ)を入力しながら、これをシフトさせ
て、各入力端子112に対応する各セル114にテスト
データをセットし、この状態で、集積回路110を動作
させた後、各出力端子114に対応する各セル114に
セットされているデータをシフトさせて、本来、各出力
端子114から出力されるデータを集積回路110のT
DO端子121から出力させ、これによって得られたシ
リアルデータ(テスト結果データ)と、この集積回路1
10に入力させたテストデータとの対応関係に基づき、
集積回路110の内部ロジック111が良好かどうかを
テストする。<< Basic Principle of the Invention >> First, prior to a detailed description of the monitoring and control apparatus according to the present invention, a boundary scan test method as a basic principle of the present invention will be described. The boundary scan test method used in the present invention includes an input / output terminal of an integrated circuit (IC chip) that supports this test method, for example, an internal logic circuit 111 that realizes an original function of the integrated circuit 110 as shown in FIG. , Between the input terminal 112 and the output terminal 113 of the integrated circuit 110, the cell 114 corresponding to the input terminal 112 and the output terminal 113 on a one-to-one basis.
And the bypass register 115 and the IDCO
DE register 116, instruction register 11
Integrated circuit 11 provided with a TAP controller 119 for controlling a boundary scan register 118 composed of these cells 114, a bypass register 115 and an instruction register 117.
This is a method for testing the operating state of the integrated circuit 110 and the connection relationship between the integrated circuit 110 and an external device.
A test of the integrated circuit 110 is performed. First, the integrated circuit 11
When checking the quality of 0 itself, the TDI terminal 12
0, the TDO terminal 121, the TCK terminal 122, the TMS terminal 123, and the TRST terminal 124 are controlled as shown in FIG. 8 to shift serial data (test data) while inputting the serial data (test data) to the TDI terminal 120 of the integrated circuit 110. Then, test data is set in each cell 114 corresponding to each input terminal 112, and after operating the integrated circuit 110 in this state, the data set in each cell 114 corresponding to each output terminal 114 is shifted. In this case, the data output from each output terminal 114 is
The serial data (test result data) obtained from the output from the DO terminal 121 and the integrated circuit 1
Based on the correspondence with the test data input to 10,
It tests whether the internal logic 111 of the integrated circuit 110 is good.
【0008】また、図9に示す如く基板126などに形
成されたプリントパターンを利用して、このようなバウ
ンダリスキャンテスト法をサポートしている集積回路1
10を複数個、接続しているときには、1つ目の集積回
路110のTDO端子121と、2つの目の集積回路1
10のTDI端子120とを接続するとともに、ホスト
コンピュータ装置127などに設けられたバウンダリス
キャンコントローラボード128の出力端子129と、
1つ目の集積回路110のTDI端子120とを接続
し、さらにバウンダリスキャンコントローラボード12
8の入力端子130と、2つ目の集積回路110のTD
O端子121とを接続する。そして、テストデータ作成
ツール131などを使用してテストデータ(シリアルデ
ータ)を作成し、これをバウンダリスキャンコントロー
ラボード128の出力端子129から出力させ、1つ目
の集積回路110のTDI端子120に入力させながら
これをシフトさせて、この集積回路110の各出力端子
113に対応する各セル114にセットさせる。この状
態で、図10に示す如く1つ目の集積回路110に設け
られている各出力端子113から、これら各セル114
に格納されているデータを出力させるとともに、システ
ムバスなどを構成する各プリントパターン133を介し
て、2つ目の集積回路110の各入力端子112に入力
させ、これらの各入力端子112に対応する各セル11
4に取り込ませる。この後、これらの各集積回路110
の各セル114に格納されているデータをシフトさせ
て、バウンダリスキャンコントローラボード128の入
力端子130で、これを取込みながら、テスト解析ツー
ル132などを使用して、これを解析することにより、
これらの各集積回路110を接続するプリントパターン
133などのテスト範囲135が正常かどうかをテスト
する。Further, an integrated circuit 1 supporting such a boundary scan test method using a printed pattern formed on a substrate 126 or the like as shown in FIG.
10 are connected, the TDO terminal 121 of the first integrated circuit 110 and the second integrated circuit 1
10 TDI terminal 120, an output terminal 129 of a boundary scan controller board 128 provided in a host computer 127 or the like,
The TDI terminal 120 of the first integrated circuit 110 is connected, and the boundary scan controller board 12
8 and the TD of the second integrated circuit 110
The O terminal 121 is connected. Then, test data (serial data) is created by using a test data creation tool 131 and the like, output from the output terminal 129 of the boundary scan controller board 128, and input to the TDI terminal 120 of the first integrated circuit 110. This is shifted while being set in each cell 114 corresponding to each output terminal 113 of the integrated circuit 110. In this state, as shown in FIG. 10, these cells 114 are output from the output terminals 113 provided on the first integrated circuit 110.
Of the second integrated circuit 110 via the respective print patterns 133 constituting the system bus and the like, and the data corresponding to each of these input terminals 112 is output. Each cell 11
4 Thereafter, each of these integrated circuits 110
The data stored in each cell 114 is shifted and the input data is taken in at the input terminal 130 of the boundary scan controller board 128, and analyzed by using a test analysis tool 132 or the like.
A test is performed to determine whether a test range 135 such as a printed pattern 133 connecting these integrated circuits 110 is normal.
【0009】また、バウンダリスキャンコントローラボ
ード128によって、2つ目の集積回路110を図11
に示す如くパイパス状態にした後、テストデータ作成ツ
ール131などを使用して作成したテストデータをバウ
ンダリスキャンコントローラボード128の出力端子1
29から出力させ、1つ目の集積回路110のTDI端
子120に入力させながらこれをシフトさせて、図12
に示す如くこの集積回路110の各入力端子112に対
応する各セル114にセットさせる。次いで、この集積
回路110を動作させて、これによって得られたデータ
を各出力端子113に対応する各セル114に取り込ま
せた後、これらの各セル114に格納されているデータ
をシフトさせて、1つの目の集積回路110のTDO端
子121から出力させるともに、2つ目の集積回路11
0をバイパスさせて、バウンダリスキャンコントローラ
ボード128の入力端子130で、これを取込みなが
ら、テスト解析ツール132などを使用して、これを解
析することにより、1つ目の集積回路110が正しく動
作するかどうかをテストする。Further, the second integrated circuit 110 is moved by the boundary scan controller board 128 in FIG.
Then, the test data created by using the test data creation tool 131 or the like is output to the output terminal 1 of the boundary scan controller board 128, as shown in FIG.
29, the signal is shifted while being input to the TDI terminal 120 of the first integrated circuit 110.
As shown in (1), each cell 114 corresponding to each input terminal 112 of the integrated circuit 110 is set. Next, the integrated circuit 110 is operated, and the data obtained thereby is taken into each cell 114 corresponding to each output terminal 113. Then, the data stored in each cell 114 is shifted, Output from the TDO terminal 121 of the first integrated circuit 110 and the second integrated circuit 11
The first integrated circuit 110 operates correctly by using a test analysis tool 132 or the like to analyze the data by using the test analysis tool 132 or the like while inputting the input signal to the input terminal 130 of the boundary scan controller board 128 while bypassing 0. Test whether or not.
【0010】同様に、バウンダリスキャンコントローラ
ボード128によって、1つ目の集積回路110を、図
11に示す如くパイパス状態にした後、テストデータ作
成ツール131などを使用して作成したテストデータを
バウンダリスキャンコントローラボード128の出力端
子129から出力させ、1つ目の集積回路110をバイ
パスさせた状態で、2つ目の集積回路110のTDI端
子120に入力させながらこれをシフトさせ、図12に
示す如くこの集積回路110の各入力端子112に対応
する各セル114にセットさせる。次いで、この集積回
路110を動作させて、これによって得られたデータを
各出力端子113に対応する各セル114に取り込ませ
た後、これらの各セル114に格納されているデータを
シフトさせて、バウンダリスキャンコントローラボード
128の入力端子130で、これを取込みながら、テス
ト解析ツール132などを使用して、これを解析するこ
とにより、2つ目の集積回路110が正しく動作するか
どうかをテストする。このように、バウンダリスキャン
テスト法をサポートしている集積回路110を使用して
いる基板126であれば、バウンダリスキャンテスト法
を使用して、各集積回路110自体の良否、各集積回路
110同士の接続関係などをテストすることができる。
本発明は、監視制御装置の各基板として、このようなバ
ウンダリスキャンテスト法をサポートしている集積回路
110を使用している基板126を組み込むことによ
り、バウンダリスキャンテスト法を使用して、監視制御
装置内に装着されているCPU基板や各種制御基板など
をテストし、これらCPU基板や各種制御基板などに何
らかの異常があれば、異常の内容を上位コンピュータ装
置に知らせたり、制御監視装置によって制御されるロボ
ットの主電源を切って、これが暴走したりしないようよ
うにしている。Similarly, after the first integrated circuit 110 is put into the bypass state as shown in FIG. 11 by the boundary scan controller board 128, the test data created by using the test data creation tool 131 or the like is subjected to the boundary scan. The output is shifted from the output terminal 129 of the controller board 128 while being input to the TDI terminal 120 of the second integrated circuit 110 in a state where the first integrated circuit 110 is bypassed, as shown in FIG. Each cell 114 corresponding to each input terminal 112 of the integrated circuit 110 is set. Next, the integrated circuit 110 is operated, and the data obtained thereby is taken into each cell 114 corresponding to each output terminal 113. Then, the data stored in each cell 114 is shifted, At the input terminal 130 of the boundary scan controller board 128, while taking it in, it is analyzed by using a test analysis tool 132 or the like to test whether the second integrated circuit 110 operates properly. As described above, if the substrate 126 uses the integrated circuit 110 that supports the boundary scan test method, the quality of each integrated circuit 110 itself and the quality of each integrated circuit 110 are determined using the boundary scan test method. You can test connection relationships.
The present invention incorporates a board 126 using an integrated circuit 110 that supports such a boundary scan test method as each board of the monitoring and control apparatus. The CPU board and various control boards mounted in the device are tested, and if there is any abnormality in these CPU boards or various control boards, the contents of the abnormality are notified to the host computer device or controlled by the control monitoring device. The main power of the robot is turned off to prevent it from running away.
【0011】《形態例の構成》以下、本発明を図面に示
した形態例に基づいて詳細に説明する。図1は本発明に
よる監視制御装置の一形態例を示すブロック図である。
この図に示す監視制御装置1は、バウンダリスキャンテ
スト法をサポートした集積回路を搭載し、PCIバスな
どによって構成されるシステムバス2に接続され、監視
制御対象となるロボット3などを監視制御するCPU基
板4と、バウンダリスキャンテスト法をサポートした集
積回路を搭載し、前記システムバス2を介して前記CP
U基板4に接続され、前記CPU基板4の制御内容に基
づいて、前記ロボット3などを監視したり、制御したり
する制御基板5と、前記システムバス2から供給される
電源電圧を使用して、前記CPU基板4、制御基板5な
どをバウンダリスキャンテストして、これらCPU基板
4や制御基板5などに何らかの異常があるとき、上位コ
ンピュータ装置などに対して、異常の内容を知らせた
り、前記ロボット2の主電源装置6を切って、ロボット
3が暴走しないようようにしたりするバウンダリスキャ
ンコントローラ基板7と、このバウンダリスキャンコン
トローラ基板7と前記CPU基板4、制御基板5とを各
々、接続する専用線8とを備えている。そして、バウン
ダリスキャンコントローラ基板7によって、専用線8を
介し、CPU基板4や制御基板5に搭載されているバウ
ンダリスキャンテスト法をサポートした各集積回路自体
のテスト、これら各集積回路の接続関係などをテスト
し、これらCPU基板4や制御基板5などに異常があれ
ば、上位コンピュータ装置に対して、異常の内容を伝え
るとともに、警報装置9を動作させて、警報を出させ、
さらに異常の内容が監視制御対象となっているロボット
3の動作に重大な影響を及ぼす恐れがある内容であれ
ば、フェールセーフの観点から、前記ロボット2の主電
源装置6を遮断させて、ロボット3の暴走を未然に防止
する。<< Structure of Embodiment >> The present invention will be described below in detail based on an embodiment shown in the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the monitoring control apparatus according to the present invention.
The supervisory control device 1 shown in FIG. 1 includes an integrated circuit that supports the boundary scan test method, is connected to a system bus 2 such as a PCI bus, and monitors and controls a robot 3 to be monitored and controlled. A substrate 4 and an integrated circuit supporting the boundary scan test method are mounted, and the CP
A control board 5 connected to the U board 4 for monitoring and controlling the robot 3 and the like based on the control contents of the CPU board 4 and a power supply voltage supplied from the system bus 2 are used. The CPU board 4, the control board 5 and the like are subjected to a boundary scan test, and if there is any abnormality in the CPU board 4 or the control board 5, the content of the abnormality is notified to a host computer device or the like. And a dedicated line for connecting the boundary scan controller board 7 to the CPU board 4 and the control board 5, respectively. 8 is provided. Then, the boundary scan controller board 7 tests, via the dedicated line 8, the test of each integrated circuit itself that supports the boundary scan test method mounted on the CPU board 4 and the control board 5, and the connection relation of these integrated circuits. The test is performed, and if there is an abnormality in the CPU board 4 or the control board 5, etc., the contents of the abnormality are transmitted to the host computer device, and the alarm device 9 is operated to issue an alarm.
Further, if the contents of the abnormality may have a serious effect on the operation of the robot 3 to be monitored and controlled, the main power supply device 6 of the robot 2 is shut off from the viewpoint of fail-safe. Prevent runaway of 3.
【0012】この場合、前記バウンダリスキャンコント
ローラ基板7は、図2に示す如く前記システムバス2の
電源ラインから供給される電源電圧を使用して動作する
マイクロプロセッサなどによって構成され、バウンダリ
スキャンテストで必要な各種のデータ処理を行なう中央
処理回路10と、この中央処理回路10で使用されるデ
ータなどの格納場所となり、前記中央処理回路10によ
る読み出し、書込みが行われるEEPROM回路11
と、前記システムバス2の電源ラインから供給される電
源電圧を使用して動作し、前記中央処理回路10から出
力される各種の指示に基づいて、各専用線8を介し、前
記CPU基板4、制御基板5を各々、バウンダリスキャ
ンテストする複数のバウンダリスキャン通信回路12と
を備えている。In this case, the boundary scan controller board 7 is constituted by a microprocessor or the like which operates using a power supply voltage supplied from a power supply line of the system bus 2 as shown in FIG. 2, and is required for a boundary scan test. A central processing circuit 10 for performing various data processing, and an EEPROM circuit 11 which serves as a storage location for data and the like used by the central processing circuit 10 and is read and written by the central processing circuit 10
Operates using a power supply voltage supplied from a power supply line of the system bus 2, and, based on various instructions output from the central processing circuit 10, via the dedicated lines 8, the CPU board 4, Each of the control boards 5 includes a plurality of boundary scan communication circuits 12 for performing a boundary scan test.
【0013】さらに、このバウンダリスキャンコントロ
ーラ基板7は、デジタルI/Oやリレーまたはスイッチ
などによって構成され、前記システムバス2の電源ライ
ンから供給される電源電圧を使用して動作し、前記中央
処理回路10と外部に設けられた警報装置9、前記主電
源装置6の投入遮断回路などとを電気的に接続する入出
力インタフェース回路13と、前記システムバス2の電
源ラインから供給される電源電圧を使用して動作し、前
記中央処理回路10と上位コンピュータ装置などの間の
通信をサポートするデジタル通信回路14と、前記シス
テムバス2からの電源電圧供給が停止したとき、前記中
央処理回路10〜デジタル通信回路14などに電源電圧
を供給するバックアップ用のバッテリィ回路15と、こ
のバウンダリスキャンコントローラ基板7を動作させた
くないとき、オフ状態にセットされるイネーブル/ディ
スイネーブル切換スイッチ16とを備えている。そし
て、上位コンピュータ装置からの指示に基づき、中央処
理回路10によって各バウンダリスキャン通信回路12
を動作させて、CPU基板4、制御基板5などをバウン
ダリスキャンテストさせ、これによって得られたデータ
を解析して、何らかの異常が検知されたとき、上位コン
ピュータ装置に異常の内容を知らせるとともに、警報装
置9から警報を出させ、さらに異常の内容がロボット3
の動作に重大な影響を及ぼす恐れがある内容であれば、
フェールセーフの観点から、前記ロボット3に給電して
いる主電源装置6をオフ状態にさせて、ロボット3の暴
走を未然に防止する。Further, the boundary scan controller board 7 is constituted by digital I / O, a relay or a switch, operates using a power supply voltage supplied from a power supply line of the system bus 2, and operates the central processing circuit. 10 uses an input / output interface circuit 13 for electrically connecting an alarm device 9 provided on the outside, an on / off circuit of the main power supply device 6, and the like, and a power supply voltage supplied from a power supply line of the system bus 2. And a digital communication circuit 14 that operates to support communication between the central processing circuit 10 and a host computer device, and the central processing circuit 10 to digital communication when power supply from the system bus 2 is stopped. A backup battery circuit 15 for supplying a power supply voltage to the circuit 14 and the like; If you do not want to operate the down controller board 7, and a enable / disenable changeover switch 16 is set to the OFF state. Then, based on an instruction from the host computer, the central processing circuit 10 controls each boundary scan communication circuit 12.
Is operated to perform a boundary scan test on the CPU board 4, the control board 5, and the like. The data obtained thereby is analyzed, and when any abnormality is detected, the contents of the abnormality are notified to the host computer device and an alarm is issued. A warning is issued from the device 9 and the contents of the abnormality
Content that could seriously affect the operation of
From the viewpoint of fail-safe, the main power supply 6 supplying power to the robot 3 is turned off to prevent the robot 3 from running away.
【0014】《形態例の動作》次に、図1、図2に示す
ブロック図を参照しながら、この形態例の動作を説明す
る。まず、監視制御装置1を動作させる前に、図3に示
す如く上位コンピュータ装置によって、パターンジェネ
レータ22が起動されて、CPU基板4、制御基板5で
使用されている各集積回路などのコンポーネントデータ
シート21、監視制御装置1を設計する際に使用された
ネットリスト20などに基づき、前記各集積回路の動作
状態、監視制御装置1を構成するケーブルなどの接続内
容、プリントパターンの内容などをチェックするのに必
要なテストデータが作成され、これがテストデータファ
イル23にファイルされるとともに、テスト結果を判定
するのに必要な解析データが作成され、これがファイル
される。この後、イネーブル/ディスイネーブル切換ス
イッチ16がイネーブル側にセットされていれば、デジ
タル通信回路14を介して、中央処理回路10と上位コ
ンピュータ装置とが通信を行ない、上位コンピュータ装
置にファイルされている新たなテストデータや解析デー
タが供給されるとともに、中央処理回路10によって、
これが取り込まれて、EEPROM回路11内に格納さ
れているテストデータや解析データが更新される。<< Operation of Embodiment >> Next, the operation of this embodiment will be described with reference to the block diagrams shown in FIGS. First, before operating the monitoring and control apparatus 1, the pattern generator 22 is started by the host computer apparatus as shown in FIG. 3, and a component data sheet such as each integrated circuit used in the CPU board 4 and the control board 5 is formed. 21, based on the netlist 20 used when designing the monitoring and control apparatus 1, check the operation state of each integrated circuit, the connection contents of cables and the like constituting the monitoring and control apparatus 1, the contents of the print pattern, and the like. Is created in the test data file 23, and the analysis data necessary for determining the test result is created and filed. Thereafter, if the enable / disable switch 16 is set to the enable side, the central processing circuit 10 communicates with the host computer via the digital communication circuit 14 and the file is stored in the host computer. New test data and analysis data are supplied, and the central processing circuit 10
This is taken in, and the test data and analysis data stored in the EEPROM circuit 11 are updated.
【0015】そして、監視制御装置1によってロボット
3の監視制御が行われていないときには、中央処理回路
10によって前記EEPROM回路11に格納されてい
るテストデータが読み出されて、これが各バウンダリス
キャン通信回路12にセットされるとともに、各専用線
8を介して、CPU基板4、制御基板5に前記テストデ
ータが供給され、バウンダリスキャンテスト法で、これ
らCPU基板4、制御基板5に搭載されている各集積回
路自体の動作状態、各集積回路の接続状態などがテスト
されるとともに、このテストで得られたデータ(テスト
結果データ)が取り込まれた後、中央処理回路10によ
ってEEPROM回路11内に格納されている解析デー
タが使用されて、これらの各テスト結果が解析される。
また、監視制御装置1によってロボット3の監視制御が
行われているときには、中央処理回路10によって各バ
ウンダリスキャン通信回路12が制御されて、バウンダ
リスキャンテスト法で、CPU基板4、制御基板5上に
搭載されている各集積回路の入出力データが取り込まれ
るとともに、EEPROM回路11内に格納されている
解析データが使用されて、これらの各テスト結果が解析
される。When the monitoring and control of the robot 3 is not performed by the monitoring and control device 1, the test data stored in the EEPROM circuit 11 is read out by the central processing circuit 10 and is read by each boundary scan communication circuit. The test data is supplied to the CPU board 4 and the control board 5 via the dedicated line 8 and set on the CPU board 4 and the control board 5 by the boundary scan test method. The operation state of the integrated circuit itself, the connection state of each integrated circuit, and the like are tested, and data (test result data) obtained by this test is fetched and stored in the EEPROM circuit 11 by the central processing circuit 10. The analysis data is used to analyze each of these test results.
Further, when the monitoring control of the robot 3 is performed by the monitoring control device 1, each boundary scan communication circuit 12 is controlled by the central processing circuit 10, so that the boundary scan communication method is applied to the CPU board 4 and the control board 5 by the boundary scan test method. The input / output data of each integrated circuit is taken in, and the test results are analyzed by using the analysis data stored in the EEPROM circuit 11.
【0016】そして、これらの各テスト結果の中に何ら
かの異常が見つかれば、中央処理回路10によってデジ
タル通信回路12が制御されて、上位コンピュータ装置
に異常の内容が知らされるとともに、入出力インタフェ
ース回路13が制御されて、警報装置9から警報が出さ
れて、ユーザーなどに監視制御装置1に異常が発生した
ことが知らされ、さらに異常の内容がロボット3の制御
に重大な影響を与えるような異常であれば、前記ロボッ
ト3に電源を供給する主電源装置6の投入/遮断回路が
制御されて、この主電源装置6が切られ、ロボット3が
停止させられる。更に、入出力インタフェース回路13
に対して外部から信号を入力することにより、監視制御
装置自身の動作を制御したり、CPU基板4、制御基板
5に搭載されている各集積回路の動作状態等を強制的に
制御することが可能となる。また、イネーブル/ディス
イネーブル切換スイッチ16がディスイネーブル側にセ
ットされていれば、バウンダリスキャンコントローラ基
板7がシステムバス2に接続されていても、バウンダリ
スキャンコントローラ基板7を使用したバウンダリスキ
ャンテストが停止状態にされて、CPU基板4が持つ通
常のテスト法、例えばセルフチェックによるテストなど
が行われて、CPU基板4自体や制御基板5などに異常
があるかどうかがテストされる。If any abnormality is found in the test results, the central processing circuit 10 controls the digital communication circuit 12 to notify the host computer of the content of the abnormality and to input / output an interface circuit. 13 is controlled and an alarm is issued from the alarm device 9 to notify a user or the like that an abnormality has occurred in the monitoring and control device 1, and furthermore, the content of the abnormality has a serious influence on the control of the robot 3. If abnormal, the turning on / off circuit of the main power supply 6 for supplying power to the robot 3 is controlled, the main power supply 6 is turned off, and the robot 3 is stopped. Further, the input / output interface circuit 13
By inputting a signal from the outside to control the operation of the monitoring and control device itself, and forcibly control the operation state and the like of each integrated circuit mounted on the CPU board 4 and the control board 5. It becomes possible. If the enable / disable switch 16 is set to the disable state, the boundary scan test using the boundary scan controller board 7 is stopped even if the boundary scan controller board 7 is connected to the system bus 2. Then, a normal test method of the CPU board 4 such as a self-check test is performed to test whether the CPU board 4 itself or the control board 5 has an abnormality.
【0017】《形態例の効果》このように、この形態例
では、バウンダリスキャンコントローラ基板7によって
バウンダリスキャンテスト法をサポートしているCPU
基板4、制御基板5などをバウンダリスキャンテストす
るようにしているので、次に述べる効果を得ることがで
きる。まず、ロボット3の監視制御装置1に用いられて
いる各種電子回路基板上にバウンダリスキャンテスト用
回路を用意していても、通常の使用形態では、基板製造
時の検査工程でこれが使用されて、その使命を終えてし
まうが、この形態例では、システムバス2にバウンダリ
スキャンコントローラ基板7を接続するだけで、CPU
基板4、制御基板5上に残っているバウンダリスキャン
テスト用回路をそのまま使用することができ、これによ
ってロボット3の監視制御を行なっているCPU基板
4、制御基板5が稼動している最中でも、新たな監視用
の回路などを追加することなく、ロボット3の動作を監
視制御することができる。<< Effects of Embodiment >> As described above, in this embodiment, the CPU supporting the boundary scan test method by the boundary scan controller board 7.
Since the boundary scan test is performed on the substrate 4, the control substrate 5, and the like, the following effects can be obtained. First, even if a circuit for a boundary scan test is prepared on various electronic circuit boards used in the monitoring control device 1 of the robot 3, in a normal use form, it is used in an inspection process at the time of manufacturing a board, Although the mission is terminated, in this embodiment, the CPU is connected only to the boundary scan controller board 7 on the system bus 2.
The circuit for the boundary scan test remaining on the board 4 and the control board 5 can be used as it is, so that the CPU board 4 and the control board 5 that monitor and control the robot 3 are in operation. The operation of the robot 3 can be monitored and controlled without adding a new monitoring circuit or the like.
【0018】また、ロボット3の監視制御装置1にも、
ロボット3の動作を監視制御する機能が装備されている
が、同一の処理装置で制御と、監視の両方を行なうと、
安全性や信頼性など点で、あまり好ましくない。これに
対し、この形態例では、バウンダリスキャンコントロー
ラ基板7によってCPU基板4、制御基板5などに搭載
されている各集積回路に入出力されるデータを監視し
て、ロボット3の動作状況を監視するようにしているの
で、CPU基板4などによるロボット3の監視を緩くし
ても、ロボット3の動作状態を確実に監視しながら、こ
れを制御することができる。この際、監視対象となる1
つのロボット3について、CPU基板4や制御基板5に
よる監視と、バウンダリスキャンコントローラ基板7に
よる監視とが干渉しないので、効率的な監視制御を行な
うことができる。また、システムバス2の電源ラインの
みをバウンダリスキャンコントローラ基板7に接続し、
システムバス2側の電源電圧をバウンダリスキャンコン
トローラ基板7に供給するだけの構成にしているので、
専用コネクタやシステムバス2の一部を使用してバウン
ダリスキャンコントローラ基板7を動作させることがで
きる。これによって、ロボット3の監視制御装置1とし
て多用されている拡張VMEバスやPCIバスなど、バ
ウンダリスキャンテスト用の専用ピン割当が行われてい
るシステムバス2のみならず、このようなバウンダリス
キャンテスト用の専用ピン割当が行われていないシステ
ムバスを使用している監視制御装置1でも、バウンダリ
スキャンコントローラ基板7を装着するだけで、CPU
基板4や制御基板5などのバウンダリスキャンテストを
行なうことができる。The monitoring control device 1 of the robot 3 also has
Although the function of monitoring and controlling the operation of the robot 3 is provided, if both the control and the monitoring are performed by the same processing device,
It is not very desirable in terms of safety and reliability. On the other hand, in this embodiment, the operation status of the robot 3 is monitored by monitoring data input to and output from each integrated circuit mounted on the CPU board 4, the control board 5, and the like by the boundary scan controller board 7. Thus, even if the monitoring of the robot 3 by the CPU board 4 or the like is loosened, it is possible to control the robot 3 while reliably monitoring the operating state thereof. At this time, 1
The monitoring by the CPU board 4 or the control board 5 and the monitoring by the boundary scan controller board 7 do not interfere with each other, so that efficient monitoring and control can be performed. Also, only the power supply line of the system bus 2 is connected to the boundary scan controller board 7,
Since the configuration is such that the power supply voltage on the system bus 2 side is only supplied to the boundary scan controller board 7,
The boundary scan controller board 7 can be operated using a dedicated connector or a part of the system bus 2. As a result, not only the system bus 2 on which dedicated pins are allocated for the boundary scan test, such as an extended VME bus and a PCI bus, which are frequently used as the monitoring control device 1 of the robot 3, but also such a boundary scan test Even if the monitoring and control device 1 uses a system bus in which dedicated pins are not allocated, the CPU can be mounted simply by mounting the boundary scan controller board 7.
A boundary scan test of the board 4 and the control board 5 can be performed.
【0019】この際、バウンダリスキャンコントローラ
基板7にバッテリィ回路15を搭載して、このバウンダ
リスキャンコントローラ基板7上に搭載されている中央
処理回路10〜デジタル通信回路14などをバックアッ
プしているので、監視制御装置1側の電源が途絶えたと
しても、バウンダリスキャンコントローラ基板7を動作
させ続けて、主電源装置6の遮断や他の制御装置の起動
指令操作など、ロボット3の安全を確保するのに必要な
処理を行なうことができる。また、バウンダリスキャン
コントローラ基板7に複数のバウンダリスキャン通信回
路12を搭載し、各専用線8によってこれらバウンダリ
スキャン通信回路12と、CPU基板4、制御基板5な
どとを個々に、接続するようにしているので、これらC
PU基板4、制御基板5などに搭載されている集積回路
の1つが故障して、動作しなくなっても、他の集積回路
の動作状態をバウンダリスキャンテストすることがで
き、これによってCPU基板4、制御基板5などのいず
れかが完全に動作しなくなっても、動作している他の基
板をバウンダリスキャンテストすることができる。At this time, the battery circuit 15 is mounted on the boundary scan controller board 7, and the central processing circuit 10 to the digital communication circuit 14 mounted on the boundary scan controller board 7 are backed up. Even if the power supply of the control device 1 is cut off, it is necessary to keep the boundary scan controller board 7 operating and to ensure the safety of the robot 3 such as shutting off the main power supply device 6 or performing a start command operation of another control device. Processing can be performed. Further, a plurality of boundary scan communication circuits 12 are mounted on the boundary scan controller board 7, and these boundary scan communication circuits 12 are individually connected to the CPU board 4, the control board 5, and the like by each dedicated line 8. Because these C
Even if one of the integrated circuits mounted on the PU board 4, the control board 5, etc. fails and does not operate, the operation state of the other integrated circuits can be subjected to the boundary scan test. Even if one of the control boards 5 and the like does not operate completely, a boundary scan test can be performed on another operating board.
【0020】この際、CPU基板4、制御基板5単位で
なく、機能ブロック単位(例えば、制御軸単位)で専用
線8と、バウンダリスキャン通信回路12とを設けれ
ば、機能ブロック単位でバウンダリスキャンテストを行
なうことができ、これによって各集積回路のいずれかが
完全に動作しなくなっても、被害を最少限に留めて、効
果的な監視を行なうことができるとともに、監視プログ
ラムの開発を容易にすることができる。また、バウンダ
リスキャンテストによって得られた検知結果が異常でな
いときでも、デジタル通信回路14を介して上位コンピ
ュータ装置、中央監視室などの必要な箇所に検知結果を
通知するようにしているので、監視表示情報の一部とし
て、検知結果を利用させることができるとともに、有用
な保守用情報として、これを蓄積させることができる。At this time, if the dedicated line 8 and the boundary scan communication circuit 12 are provided not for the CPU board 4 and the control board 5 but for each functional block (for example, for each control axis), the boundary scan communication circuit 12 is provided for each functional block. Tests can be performed so that if one of the integrated circuits fails completely, the damage can be minimized, effective monitoring can be performed, and monitoring programs can be easily developed. can do. Further, even when the detection result obtained by the boundary scan test is not abnormal, the detection result is notified to necessary places such as a host computer device and a central monitoring room via the digital communication circuit 14, so that the monitor display is performed. The detection result can be used as part of the information, and can be stored as useful maintenance information.
【0021】また、ロボット3本体や監視制御装置1に
何らかの異常が発生し、危険な動作や誤ったデータを出
力する恐れがある場合には、バウンダリスキャンコント
ローラ基板7から安全性が高い模範データを出力させ
て、CPU基板4や制御基板5上に搭載されている各集
積回路の出力端子に対応する各セルに前記模範データを
セットし、これを各集積回路内のロジック回路から出力
されるデータに優先させて、各集積回路の出力端子から
出力させることができるので、集積回路に重大なトラブ
ルが発生して、ロボット3が危険な状態になる恐れがあ
るとき、トラブルを起こした集積回路やこの集積回路の
出力を取り込んで処理する集積回路から異常なデータが
出力されないよにして、ロボット3が異常な動作を行な
わないようにすることができる。さらに、このような処
理を行なうことができないとき、バウンダリスキャンコ
ントローラ基板7によって警報装置9から警報(パトラ
イトなど)を出すとともに、前記ロボット3の主電源装
置6を切ったり、モータの電源を遮断したりするように
しているので、CPU基板4や制御基板5に搭載されて
いる各集積回路に故障が発生し、これが完全に動作しな
くなっても、ロボット3が危険な動きをしないようにす
ることができる。If any abnormality occurs in the main body of the robot 3 or the monitoring and control device 1 and there is a possibility that dangerous operation or erroneous data may be output, model data having high security is transmitted from the boundary scan controller board 7. The model data is set in each cell corresponding to the output terminal of each integrated circuit mounted on the CPU board 4 or the control board 5 and the data is output from the logic circuit in each integrated circuit. Can be output from the output terminal of each integrated circuit in priority to the integrated circuit. When a serious trouble occurs in the integrated circuit and the robot 3 may be in a dangerous state, the troubled integrated circuit By preventing abnormal data from being output from the integrated circuit that takes in and processes the output of the integrated circuit, the robot 3 is prevented from performing an abnormal operation. Can. Further, when such processing cannot be performed, an alarm (a patrol light or the like) is issued from the alarm device 9 by the boundary scan controller board 7, and the main power device 6 of the robot 3 is turned off, or the power of the motor is turned off. If the integrated circuit mounted on the CPU board 4 or the control board 5 breaks down and does not operate completely, the robot 3 does not move dangerously. Can be.
【0022】《他の形態例》また、上述した形態例にお
いては、バウンダリスキャンコントローラ基板7と、C
PU基板4、制御基板5とを専用線8によって接続する
ようにしているが、図4に示す如くPCIバスなどによ
って構成されているシステムバス2に割り当てられてい
るバウンダリスキャンテスト用ピンによってバウンダリ
スキャンコントローラ基板7と、CPU基板4、制御基
板5とを接続するようにしても良い。この場合、図5に
示す如くバウンダリスキャンコントローラ基板7のバウ
ンダリスキャン通信回路12をシステムバス2のバウン
ダリスキャンテスト用ピンに接続するだけで、上述した
形態例と同様な効果を得ることができる。また、上述し
た形態例においては、バウンダリスキャンコントローラ
基板7をシステムバス2に接続して、電源電圧を取り込
むようにしているが、図6に示す如くシステムバス2
と、バウンダリスキャンコントローラ基板7とを完全に
分離するようにしても良い。このようにしても、バウン
ダリスキャンコントローラ基板7上にバッテリィ回路1
5を搭載しているので、バウンダリスキャンコントロー
ラ基板7によるCPU基板4、制御基板5などのバウン
ダリスキャンテストを行なわせることができる。これに
より、システムバス2が配線されている部分にコネクタ
などを設ける余裕が無いときでも、監視制御装置1内に
バウンダリスキャンコントローラ基板7を配置して、上
述した形態例と同様な効果を得ることができる。<< Other Embodiments >> In the above embodiment, the boundary scan controller board 7 and the C
Although the PU board 4 and the control board 5 are connected by the dedicated line 8, as shown in FIG. 4, the boundary scan is performed by the boundary scan test pins assigned to the system bus 2 configured by a PCI bus or the like. The controller board 7 may be connected to the CPU board 4 and the control board 5. In this case, an effect similar to that of the above-described embodiment can be obtained only by connecting the boundary scan communication circuit 12 of the boundary scan controller board 7 to the boundary scan test pin of the system bus 2 as shown in FIG. Further, in the above-described embodiment, the boundary scan controller board 7 is connected to the system bus 2 so as to take in the power supply voltage, but as shown in FIG.
And the boundary scan controller board 7 may be completely separated. Even in this case, the battery circuit 1 is placed on the boundary scan controller board 7.
5, the boundary scan test of the CPU board 4, the control board 5, and the like by the boundary scan controller board 7 can be performed. Thus, even when there is no room to provide a connector or the like in a portion where the system bus 2 is wired, the same effect as that of the above-described embodiment can be obtained by arranging the boundary scan controller board 7 in the monitoring control device 1. Can be.
【0023】[0023]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、請
求項1では、CPU基板や各種制御基板などを組み込ん
だ状態でも、これらCPU基板や各種制御基板を動作さ
せたまま、これらCPU基板や各種制御基板などの動作
状態をチェックして、その良否を判定することができ
る。また、請求項2では、監視制御装置のCPU基板な
どが故障しても、この監視制御装置によって制御されて
いるロボットなどが暴走しないしようにすることができ
る。また、請求項3では、CPU基板や各種制御基板な
どのいずれかが故障しても、残りの基板が正常かどうか
をテストすることができ、これによって複数の基板が同
時に故障しても、これを検知して異常箇所を判定するこ
とができる。また、請求項4では、CPU基板や制御基
板に対して、バウンダリスキャンコントローラ基板がセ
ットされていても、バウンダリスキャンコントローラ基
板のプライオリティ(優先度)を切り換えて、前記バウ
ンダリスキャンコントローラ基板によるバウンダリスキ
ャンテストが必要ないとき、これをオフ状態にすること
ができる。As described above, according to the present invention, according to the first aspect of the present invention, even when the CPU board and various control boards are installed, the CPU board and various control boards are operated while the CPU board and various control boards are operated. It is possible to check the operation state of the control board and various control boards and determine the quality of the operation. Further, according to the present invention, even if the CPU board or the like of the monitoring and control device breaks down, it is possible to prevent a robot or the like controlled by the monitoring and control device from running away. According to the third aspect, even if one of the CPU board and various control boards fails, it is possible to test whether or not the remaining boards are normal. Can be detected to determine an abnormal location. According to a fourth aspect of the present invention, even when the boundary scan controller board is set on the CPU board or the control board, the priority (priority) of the boundary scan controller board is switched to perform the boundary scan test by the boundary scan controller board. Can be turned off when not needed.
【図1】本発明による監視制御装置の一形態例を示すブ
ロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of a monitoring control device according to the present invention.
【図2】図1に示すバウンダリスキャンコントローラ基
板の詳細な回路構成例を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a detailed circuit configuration example of a boundary scan controller board shown in FIG. 1;
【図3】図1に示すバウンダリスキャンコントローラ基
板によるバウンダリスキャンテストの動作例を示す模式
図である。FIG. 3 is a schematic diagram showing an operation example of a boundary scan test using the boundary scan controller board shown in FIG. 1;
【図4】本発明による監視制御装置の他の形態例を示す
ブロック図である。FIG. 4 is a block diagram showing another embodiment of the monitoring control apparatus according to the present invention.
【図5】図4に示すバウンダリスキャンコントローラ基
板の詳細な回路構成例を示すブロック図である。FIG. 5 is a block diagram showing a detailed circuit configuration example of a boundary scan controller board shown in FIG. 4;
【図6】本発明による監視制御装置の他の形態例を示す
ブロック図である。FIG. 6 is a block diagram showing another embodiment of the monitoring control apparatus according to the present invention.
【図7】本発明による監視制御装置で使用されるバウン
ダリスキャンテスト法をサポートしている集積回路の一
例を示すブロック図である。FIG. 7 is a block diagram showing an example of an integrated circuit supporting a boundary scan test method used in the monitoring control apparatus according to the present invention.
【図8】 図7に示す集積回路に設けられているTDI
端子、TDO端子、TCK端子、TMS端子、TRST
端子の制御例を示す図表である。FIG. 8 shows a TDI provided in the integrated circuit shown in FIG.
Terminal, TDO terminal, TCK terminal, TMS terminal, TRST
4 is a chart showing an example of terminal control.
【図9】図7に示す集積回路を複数個、使用した基板に
対するバウンダリスキャンテスト例を示すブロック図で
ある。9 is a block diagram showing an example of a boundary scan test for a substrate using a plurality of the integrated circuits shown in FIG. 7;
【図10】図9に示す基板上に搭載されている各集積回
路の接続内容をバウンダリスキャンテストする際の動作
例を示す模式図である。10 is a schematic diagram showing an operation example when performing a boundary scan test on the connection content of each integrated circuit mounted on the substrate shown in FIG. 9;
【図11】図9に示す基板上に搭載されている各集積回
路を個々にバウンダリスキャンテストする際の動作例を
示す模式図である。11 is a schematic diagram showing an operation example when individually performing a boundary scan test on each integrated circuit mounted on the substrate shown in FIG. 9;
【図12】図9に示す基板上に搭載されている各集積回
路を個々にバウンダリスキャンテストする際の動作例を
示す模式図である。12 is a schematic diagram showing an operation example when individually performing a boundary scan test on each integrated circuit mounted on the substrate shown in FIG. 9;
【図13】従来から行われているインサーキットテスト
法による基板および基板上に搭載されている集積回路の
テスト例を示す斜視図である。FIG. 13 is a perspective view showing a test example of a substrate and an integrated circuit mounted on the substrate by a conventional in-circuit test method.
1 監視制御装置、2 システムバス、3 ロボット、
4 CPU基板、5 制御基板、6 主電源装置、7
バウンダリスキャンコントローラ基板、8 専用線、9
警報装置、10 中央処理回路、11 EEPROM
回路、12 バウンダリスキャン通信回路、13 入出
力インタフェース回路、14 デジタル通信回路、15
バッテリィ回路、16 イネーブル/ディスイネーブ
ル切換スイッチ1 supervisory control device, 2 system bus, 3 robot,
4 CPU board, 5 control board, 6 main power supply, 7
Boundary scan controller board, 8 dedicated line, 9
Alarm device, 10 central processing circuit, 11 EEPROM
Circuit, 12 boundary scan communication circuit, 13 input / output interface circuit, 14 digital communication circuit, 15
Battery circuit, 16 enable / disable switch
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06F 11/22 - 11/26 G01R 31/28 - 31/30 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G06F 11/22-11/26 G01R 31/28-31/30
Claims (4)
すると共に、該各制御基板を使用して、監視制御対象物
の監視制御を行う監視制御装置において、前記各制御基板には、 バウンダリスキャンテスト法をサ
ポートする集積回路部品を搭載し、 前記監視制御装置には、前記各制御基板またはこの各制
御基板上に搭載されている各部品に対してバウンダリス
キャンテストを実行することができると共に、前記各制
御基板と信号線により電気的に接続したバウンダリスキ
ャンコントローラ基板を備えることにより、 前記各制御基板が動作中であるか非動作中であるかに関
わらず、該各制御基板に対するバウンダリスキャンテス
トを実行することができ、該バウンダリスキャンテスト
の実行結果により、前記監視制御対象物の監視制御を行
う ことを特徴とする監視制御装置。1. Built-in various control boards including CPU board
While, by using the respective control board, the monitoring control apparatus that monitors control of the supervisory control object, wherein each control board is equipped with an integrated circuit component that supports boundary scan test method, the monitoring control The apparatus includes the control boards or the control boards.
Boundary search for each component mounted on the control board
Cantest can be executed, and
Boundary key electrically connected to control board and signal line
By providing a scan controller board, it is possible to determine whether each of the control boards is operating or not operating.
However, the boundary scan test for each control board
Can execute the boundary scan test
Monitoring control of the monitoring control object is performed based on the execution result of
Cormorant that monitor control apparatus according to claim.
て、 前記バウンダリスキャンコントローラ基板は、前記各制
御基板の電源装置と独立した電源を有し、前記各制御基
板の電源装置に異常が発生した時であっても、前記バウ
ンダリスキャンコントローラ基板によって、前記各制御
基板またはこの各制御基板上に搭載されている各部品に
対してバウンダリスキャンテストを実行することができ
ることを特徴とする監視制御装置。2. The monitoring and control device according to claim 1, wherein the boundary scan controller board is configured to control each of the control units.
A power supply independent of the power supply control board, wherein each of the control group
Even when an abnormality occurs in the power supply device of the board, the control of each of the above-described components is performed by the boundary scan controller board.
Board or each component mounted on each control board
Boundary scan test can be performed for
Monitoring control device, characterized in that that.
において、 前記バウンダリスキャンコントローラ基板は、各制御基
板毎に設けられた専用線によって前記各制御基板に接続
され、これら各制御基板に対して個々にバウンダリスキ
ャンテストを実施することができることを特徴とする監
視制御装置。3. The monitoring and control device according to claim 1, wherein the boundary scan controller board includes a control board.
It is connected by a dedicated line provided for each of the plate to the respective control boards, monitoring and control device, characterized in that the individual boundary scan test for these respective control board can be carried out.
視制御装置において、 前記バウンダリスキャンコントローラ基板は、前記バウ
ンダリスキャンコントローラ基板によるバウンダリスキ
ャンテストの実行及び実行停止について、操作内容によ
って制御することができるイネーブル/ディスイネーブ
ルスイッチを備えることを特徴とする監視制御装置。4. The monitoring and control device according to claim 1, wherein the boundary scan controller board includes the bow.
Boundary scan using a scan controller board
The execution and stop of the run test depend on the operation.
Enable / disable can be controlled by
A supervisory control device comprising a switch .
Priority Applications (9)
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---|---|---|---|
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EP96942641A EP0813151A4 (en) | 1995-12-27 | 1996-12-25 | Monitoring control device |
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