JP2826812B2 - Data processing system - Google Patents
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- JP2826812B2 JP2826812B2 JP7353738A JP35373895A JP2826812B2 JP 2826812 B2 JP2826812 B2 JP 2826812B2 JP 7353738 A JP7353738 A JP 7353738A JP 35373895 A JP35373895 A JP 35373895A JP 2826812 B2 JP2826812 B2 JP 2826812B2
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Description
【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、ロボットなどの監
視制御を行なう監視制御システムや各種のデータ処理を
行なう情報処理システムなどとして使用されるデータ処
理システムに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a data processing system used as a monitoring control system for monitoring and controlling a robot or the like and an information processing system for performing various data processing.
【０００２】[0002]
【従来の技術】ロボットなどの監視制御を行なう監視制
御システムでは、ロボットの各部に設けられた各種セン
サから出力される信号を取り込んで、ロボット各部の動
作状態を把握しながら、指定された動作を行なわせるの
に必要な制御信号を生成し、これを前記ロボットの各ア
クチュエータに供給して、これらの各アクチュエータを
制御し、指定された動作を行なわせる。この際、監視制
御システムを構成する各ハードウェアやソフトウェアに
何らかの異常が発生すると、ロボットが暴走してしま
い、周囲にいる人などを危険な状態にさらすことになる
ので、ＣＰＵ回路のセルフチェック機能でシステム各部
の動作状態をテストさせたり、マルチＣＰＵ回路構成に
して、ＣＰＵ回路を含むシステム各部の動作を相互に監
視させたりすることより、各ハードウェアの故障やソフ
トウェアのバグなどに起因するロボットの暴走を未然に
防止するようにしている。2. Description of the Related Art A monitoring control system for monitoring and controlling a robot or the like captures signals output from various sensors provided in various parts of the robot and grasps the operation state of each part of the robot while performing a specified operation. A control signal required to perform the operation is generated and supplied to each actuator of the robot to control each of the actuators and perform a designated operation. At this time, if any abnormality occurs in each hardware or software that configures the monitoring control system, the robot runs away and exposes people around it to dangerous conditions. The robots can be used to test the operating state of each part of the system, or to monitor the operation of each part of the system including the CPU circuit by using a multi-CPU circuit configuration. To prevent runaway.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た監視制御システムなどのデータ処理システムにおいて
は、ＣＰＵ回路のセルフチェック機能では、ＣＰＵ回路
の周辺に設けられたデバイスの故障有無しか検知するこ
とができないことから、マルチＣＰＵ回路構成にして、
ＣＰＵ回路を含むシステム各部の動作を相互に監視させ
ることが多いが、このようなシステム構成にすると、複
数のＣＰＵ回路のうち、一方のＣＰＵ回路がロボットの
監視制御を行ない、他方のＣＰＵ回路がシステム内部の
動作状態を監視する動作しか行なわないので、ＣＰＵ回
路の数を増やしても、ロボットの監視制御性能を向上さ
せることができないため、システム的な無駄が多くなっ
てしまうという問題があった。そこで、このような無駄
を無くすために、１つのＣＰＵ回路によって指定された
データ処理を行ないながら、周期的にシステム各部の動
作状態を監視するようにした監視制御システムも提案さ
れているが、このようなシステム構成にしても、ＣＰＵ
回路によってシステム各部に設けられているメモリ回路
などに対して、予め設定されているデータをリード・ラ
イトして、正しいデータを読み出すことができるかどう
かなどというテストでしか、システム各部の動作状態を
チェックすることができない。However, in a data processing system such as the above-mentioned supervisory control system, the self-check function of the CPU circuit can detect only the failure of a device provided around the CPU circuit. Therefore, with a multi-CPU circuit configuration,
In many cases, the operation of each part of the system including the CPU circuit is monitored mutually. However, in such a system configuration, one of the plurality of CPU circuits performs the monitoring control of the robot and the other CPU circuit performs the monitoring control. Since only the operation of monitoring the operation state inside the system is performed, even if the number of CPU circuits is increased, the monitoring control performance of the robot cannot be improved, so that there is a problem that system waste increases. . In order to eliminate such waste, there has been proposed a monitoring control system which periodically monitors the operation state of each part of the system while performing data processing designated by one CPU circuit. Even with such a system configuration, the CPU
The operating state of each part of the system can only be determined by testing whether the correct data can be read out by reading and writing preset data to the memory circuit provided in each part of the system by the circuit. Can't check.
【０００４】このため、システム各部に設けられている
集積回路単位やこれらの各集積回路が搭載されている基
板単位で、システム各部の動作状態をテストすることが
できないので、システム各部に設けられている集積回路
単位やこれらの各集積回路が搭載されている基板単位で
動作状態を検知することができる監視制御システムの開
発が強く望まれていた。また、このような監視制御シス
テムのみならず、例えば通常のデータを処理するデータ
処理システムでも、同様な問題があり、システム各部の
動作を集積回路単位やこれらの各集積回路が搭載されて
いる基板単位で、その動作状態を検知することができる
情報処理システムの開発が強く望まれていた。For this reason, it is not possible to test the operating state of each part of the system in units of integrated circuits provided in each part of the system or on each substrate on which these integrated circuits are mounted. There has been a strong demand for the development of a monitoring and control system that can detect the operating state of each integrated circuit unit and each board on which these integrated circuits are mounted. In addition to such a monitoring control system, for example, a data processing system that processes normal data also has a similar problem, and the operation of each part of the system is controlled by an integrated circuit unit or a board on which these integrated circuits are mounted. There has been a strong demand for the development of an information processing system capable of detecting the operation state in units.
【０００５】本発明は上記の事情に鑑み、請求項１で
は、システム各部の動作を集積回路単位やこれらの各集
積回路が搭載されている基板単位で、その動作状態を検
知することができ、これによってハードウェアの故障や
ソフトウェアのバグなどに起因するトラブルの発生を未
然に防止することができるデータ処理システムを提供す
ることを目的としている。また、請求項２では、オペレ
ータ側にバウンダリスキャンテストドライバの存在を意
識させることなく、システム各部の動作を集積回路単位
やこれらの各集積回路が搭載されている基板単位で、そ
の動作状態を検知することができ、これによってハード
ウェアの故障やソフトウェアのバグなどに起因するトラ
ブルの発生を未然に防止することができるデータ処理シ
ステムを提供することを目的としている。また、請求項
３では、ＣＰＵの動作確認、Ｉ／Ｏポートの状態確認、
各種コントローラの状態確認、誤ったデータを検出、訂
正などを行なうことができ、これによってハードウェア
の故障やソフトウェアのバグなどに起因するトラブルの
発生を未然に防止することができるデータ処理システム
を提供することを目的としている。In view of the above circumstances, the present invention can detect the operation state of each part of the system in units of integrated circuits or in units of boards on which these integrated circuits are mounted, Accordingly, it is an object of the present invention to provide a data processing system capable of preventing a trouble caused by a hardware failure or a software bug from occurring. According to the second aspect of the present invention, the operation of each part of the system is detected in units of an integrated circuit or in units of a board on which each of these integrated circuits is mounted, without making the operator aware of the existence of the boundary scan test driver. An object of the present invention is to provide a data processing system which can prevent a trouble caused by a hardware failure or a software bug from occurring. In the third aspect, the operation of the CPU is confirmed, the state of the I / O port is confirmed,
Provides a data processing system that can check the status of various controllers, detect and correct erroneous data, and thereby prevent problems caused by hardware failures or software bugs from occurring. It is intended to be.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、請求項１では、ＣＰＵ回路によってシス
テム各部の動作を制御しながら、指定された処理を行な
うデータ処理システムにおいて、バウンダリスキャンテ
スト法をサポートした集積回路を搭載し、システム各部
を構成する基板と、これらの各基板を接続するバウンダ
リスキャンテスト法をサポートしたシステムバスと、こ
のシステムバスを介して、各基板またはこれらの各基板
に搭載されている各集積回路のバウンダリスキャンテス
トを行なうバウンダリスキャンテストドライバまたはバ
ウンダリスキャンテストタスクとを備えたことを特徴と
している。また、請求項２では、請求項１に記載のデー
タ処理システムにおいて、前記バウンダリスキャンテス
トドライバまたはバウンダリスキャンテストタスクは、
前記ＣＰＵ回路の動作を規定するＯＳまたは各アプリケ
ーションソフトウェアに組み込まれることを特徴として
いる。また、請求項３では、請求項１または２に記載の
データ処理システムにおいて、前記バウンダリスキャン
テストドライバまたはバウンダリスキャンテストタスク
は、ＣＰＵの動作を確認する機能、Ｉ／Ｏポートの状態
を確認する機能、各種コントローラの状態を確認する機
能、誤ったデータを検出、訂正する機能のうち、少なく
てもいずれか１つ以上の機能を持つことを特徴としてい
る。According to the present invention, there is provided a data processing system for performing specified processing while controlling the operation of each part of a system by a CPU circuit. A board that comprises an integrated circuit that supports the scan test method and configures each part of the system, a system bus that supports the boundary scan test method that connects these boards, and each board or these A boundary scan test driver or a boundary scan test task for performing a boundary scan test of each integrated circuit mounted on each substrate is provided. According to a second aspect, in the data processing system according to the first aspect, the boundary scan test driver or the boundary scan test task includes:
It is characterized in that it is incorporated in an OS or each application software that defines the operation of the CPU circuit. According to a third aspect of the present invention, in the data processing system according to the first or second aspect, the boundary scan test driver or the boundary scan test task has a function of confirming an operation of a CPU and a function of confirming a state of an I / O port. It is characterized by having at least one of a function of checking the state of various controllers and a function of detecting and correcting erroneous data.
【０００７】上記の構成により、請求項１では、ＣＰＵ
回路によってシステム各部の動作を制御しながら、指定
された処理を行なうデータ処理システムにおいて、バウ
ンダリスキャンテスト法をサポートした集積回路を搭載
し、システム各部を構成する基板と、ＣＰＵ回路基板と
をバウンダリスキャンテスト法をサポートしたシステム
バスで接続し、バウンダリスキャンテストドライバまた
はバウンダリスキャンテストタスクによって前記システ
ムバスを介し、各基板またはこれらの各基板に搭載され
ている各集積回路のバウンダリスキャンテストを行なう
ことにより、システム各部の動作を集積回路単位やこれ
らの各集積回路が搭載されている基板単位で、その動作
状態を検知し、これによってハードウェアの故障やソフ
トウェアのバグなどに起因するトラブルの発生を未然に
防止する。According to the above configuration, the CPU according to the first aspect has the CPU
In a data processing system that performs specified processing while controlling the operation of each part of the system by a circuit, an integrated circuit that supports a boundary scan test method is mounted, and a board that constitutes each part of the system and a CPU circuit board are boundary-scanned. By connecting with a system bus supporting a test method, and performing a boundary scan test of each board or each integrated circuit mounted on each of these boards via the system bus by a boundary scan test driver or a boundary scan test task. The operation of each part of the system is detected on an integrated circuit basis or on a board on which each of these integrated circuits is mounted, and the operating state is detected, thereby preventing the occurrence of troubles due to hardware failures or software bugs. To prevent.
【０００８】また、請求項２では、請求項１に記載のデ
ータ処理システムにおいて、前記バウンダリスキャンテ
ストドライバまたはバウンダリスキャンテストタスク
を、前記ＣＰＵ回路の動作を規定するＯＳまたは各アプ
リケーションソフトウェアに組み込むことにより、オペ
レータ側にバウンダリスキャンテストドライバの存在を
意識させることなく、システム各部の動作を集積回路単
位やこれらの各集積回路が搭載されている基板単位で、
その動作状態を検知し、これによってハードウェアの故
障やソフトウェアのバグなどに起因するトラブルの発生
を未然に防止する。According to a second aspect of the present invention, in the data processing system according to the first aspect, the boundary scan test driver or the boundary scan test task is incorporated in an OS or each application software that defines an operation of the CPU circuit. Without making the operator aware of the existence of the boundary scan test driver, the operation of each part of the system is performed in units of integrated circuits or in units of boards on which these integrated circuits are mounted.
The operation state is detected, thereby preventing the occurrence of troubles caused by hardware failures, software bugs, and the like.
【０００９】また、請求項３では、請求項１または２に
記載のデータ処理システムにおいて、前記バウンダリス
キャンテストドライバまたはバウンダリスキャンテスト
タスクに、ＣＰＵの動作を確認する機能、Ｉ／Ｏポート
の状態を確認する機能、各種コントローラの状態を確認
する機能、誤ったデータを検出、訂正する機能のうち、
少なくてもいずれか１つ以上の機能を持たせることによ
り、ＣＰＵの動作確認、Ｉ／Ｏポートの状態確認、各種
コントローラの状態確認、誤ったデータを検出、訂正な
どを行ない、これによってハードウェアの故障やソフト
ウェアのバグなどに起因するトラブルの発生を未然に防
止する。According to a third aspect of the present invention, in the data processing system according to the first or second aspect, the boundary scan test driver or the boundary scan test task has a function of confirming an operation of a CPU and a state of an I / O port. Among the functions to check, the status of various controllers, and the function to detect and correct incorrect data,
By providing at least one or more functions, the operation of the CPU, the state of the I / O port, the state of various controllers, the detection and correction of erroneous data, and the like are performed. It prevents the occurrence of troubles caused by software failures or software bugs.
【００１０】[0010]
《発明の基本原理》まず、本発明によるデータ処理シス
テムの詳細な説明に先だって、本発明の基本原理となる
バウンダリスキャンテスト法について説明する。本発明
で使用するバウンダリスキャンテスト法は、このテスト
法をサポートしている集積回路（ＩＣチップ）、例えば
図５に示す如く集積回路１１０本来の機能を実現する内
部ロジック回路１１１の入出力端子と、集積回路１１０
の入力端子１１２、出力端子１１３との間に、これら入
力端子１１２、出力端子１１３と１対１で対応するセル
１１４を設けるとともに、バイパスレジスタ１１５、Ｉ
ＤＣＯＤＥレジスタ１１６、インストラクションレジス
タ１１７などを設け、さらにこれら各セル１１４、バイ
パスレジスタ１１５〜インストラクションレジスタ１１
７によって構成されるバウンダリスキャンレジスタ１１
８を制御するＴＡＰコントローラ１１９を設けた集積回
路１１０の動作状態およびこの集積回路１１０と外部機
器との接続関係をテストする方法であり、次に述べる手
順で、集積回路１１０のテストを行なう。<< Basic Principle of the Invention >> First, prior to a detailed description of a data processing system according to the present invention, a boundary scan test method serving as a basic principle of the present invention will be described. The boundary scan test method used in the present invention includes an input / output terminal of an integrated circuit (IC chip) that supports the test method, for example, an internal logic circuit 111 for realizing the original function of the integrated circuit 110 as shown in FIG. , Integrated circuit 110
Are provided between the input terminal 112 and the output terminal 113 of the input terminal 112 and the output terminal 113 in a one-to-one correspondence.
A DCODE register 116, an instruction register 117, and the like are provided. These cells 114, a bypass register 115 to an instruction register 11
Boundary scan register 11 constituted by 7
This is a method for testing the operation state of the integrated circuit 110 provided with the TAP controller 119 for controlling the IC 8 and the connection relation between the integrated circuit 110 and an external device. The integrated circuit 110 is tested according to the following procedure.
【００１１】まず、集積回路１１０自体の良否をチェッ
クする際には、ＴＤＩ端子１２０、ＴＤＯ端子１２１、
ＴＣＫ端子１２２、ＴＭＳ端子１２３、ＴＲＳＴ端子１
２４を図６に示す如く制御して、集積回路１１０のＴＤ
Ｉ端子１２０にシリアルデータ（テストデータ）を入力
しながら、これをシフトさせて、各入力端子１１２に対
応する各セル１１４にテストデータをセットし、この状
態で、集積回路１１０を動作させた後、各出力端子１１
４に対応する各セル１１４にセットされているデータを
シフトさせて、本来、各出力端子１１４から出力される
データを集積回路１１０のＴＤＯ端子１２１から出力さ
せ、これによって得られたシリアルデータ（テスト結果
データ）と、この集積回路１１０に入力させたテストデ
ータとの対応関係に基づき、集積回路１１０の内部ロジ
ック１１１が良好かどうかをテストする。First, when checking the quality of the integrated circuit 110 itself, the TDI terminal 120, the TDO terminal 121,
TCK terminal 122, TMS terminal 123, TRST terminal 1
24 is controlled as shown in FIG.
While serial data (test data) is input to the I terminal 120 and shifted, the test data is set in each cell 114 corresponding to each input terminal 112. In this state, the integrated circuit 110 is operated. , Each output terminal 11
4 is shifted, and the data output from each output terminal 114 is output from the TDO terminal 121 of the integrated circuit 110, and the serial data (test Based on the correspondence between the result data) and the test data input to the integrated circuit 110, whether or not the internal logic 111 of the integrated circuit 110 is good is tested.
【００１２】また、図７に示す如く基板１２６などに形
成されたプリントパターンを利用して、このようなバウ
ンダリスキャンテスト法をサポートしている集積回路１
１０を複数個、接続しているときには、１つ目の集積回
路１１０のＴＤＯ端子１２１と、２つの目の集積回路１
１０のＴＤＩ端子１２０とを接続するとともに、ホスト
コンピュータ装置１２７などに設けられたバウンダリス
キャンコントローラボード１２８の出力端子１２９と、
１つ目の集積回路１１０のＴＤＩ端子１２０とを接続
し、さらにバウンダリスキャンコントローラボード１２
８の入力端子１３０と、２つ目の集積回路１１０のＴＤ
Ｏ端子１２１とを接続する。そして、テストデータ作成
ツール１３１などを使用してテストデータ（シリアルデ
ータ）を作成し、これをバウンダリスキャンコントロー
ラボード１２８の出力端子１２９から出力させ、１つ目
の集積回路１１０のＴＤＩ端子１２０に入力させながら
これをシフトさせて、この集積回路１１０の各出力端子
１１３に対応する各セル１１４にセットさせる。この状
態で、図８に示す如く１つ目の集積回路１１０に設けら
れている各出力端子１１３から、これら各セル１１４に
格納されているデータを出力させるとともに、システム
バスなどを構成する各プリントパターン１３３を介し
て、２つ目の集積回路１１０の各入力端子１１２に入力
させ、これらの各入力端子１１２に対応する各セル１１
４に取り込ませる。An integrated circuit 1 supporting such a boundary scan test method using a printed pattern formed on a substrate 126 or the like as shown in FIG.
10 are connected, the TDO terminal 121 of the first integrated circuit 110 and the second integrated circuit 1
10 TDI terminal 120, an output terminal 129 of a boundary scan controller board 128 provided in a host computer 127 or the like,
The TDI terminal 120 of the first integrated circuit 110 is connected, and the boundary scan controller board 12
8 and the TD of the second integrated circuit 110
The O terminal 121 is connected. Then, test data (serial data) is created by using a test data creation tool 131 and the like, output from the output terminal 129 of the boundary scan controller board 128, and input to the TDI terminal 120 of the first integrated circuit 110. This is shifted while being set in each cell 114 corresponding to each output terminal 113 of the integrated circuit 110. In this state, the data stored in each of the cells 114 is output from each of the output terminals 113 provided on the first integrated circuit 110 as shown in FIG. The input is made to each input terminal 112 of the second integrated circuit 110 via the pattern 133, and each cell 11 corresponding to each of these input terminals 112 is
4
【００１３】この後、これらの各集積回路１１０の各セ
ル１１４に格納されているデータをシフトさせて、バウ
ンダリスキャンコントローラボード１２８の入力端子１
３０で、これを取込みながら、テスト解析ツール１３２
などを使用して、これを解析することにより、これらの
各集積回路１１０を接続するプリントパターン１３３な
どのテスト範囲１３５が正常かどうかをテストする。ま
た、バウンダリスキャンコントローラボード１２８によ
って、２つ目の集積回路１１０を図９に示す如くパイパ
ス状態にした後、テストデータ作成ツール１３１などを
使用して作成したテストデータをバウンダリスキャンコ
ントローラボード１２８の出力端子１２９から出力さ
せ、１つ目の集積回路１１０のＴＤＩ端子１２０に入力
させながらこれをシフトさせて、図１０に示す如くこの
集積回路１１０の各入力端子１１２に対応する各セル１
１４にセットさせる。次いで、この集積回路１１０を動
作させて、これによって得られたデータを各出力端子１
１３に対応する各セル１１４に取り込ませた後、これら
の各セル１１４に格納されているデータをシフトさせ
て、１つの目の集積回路１１０のＴＤＯ端子１２１から
出力させるともに、２つ目の集積回路１１０をバイパス
させて、バウンダリスキャンコントローラボード１２８
の入力端子１３０で、これを取込みながら、テスト解析
ツール１３２などを使用して、これを解析することによ
り、１つ目の集積回路１１０が正しく動作するかどうか
をテストする。Thereafter, the data stored in each cell 114 of each of these integrated circuits 110 is shifted and the input terminal 1 of the boundary scan controller board 128 is shifted.
In step 30, the test analysis tool 132
By analyzing this using, for example, it is tested whether the test range 135 such as the printed pattern 133 connecting these integrated circuits 110 is normal. Further, after the second integrated circuit 110 is put into the bypass state by the boundary scan controller board 128 as shown in FIG. 9, the test data created by using the test data creation tool 131 or the like is output to the boundary scan controller board 128. The signal is output from the terminal 129 and is shifted while being input to the TDI terminal 120 of the first integrated circuit 110, so that each cell 1 corresponding to each input terminal 112 of the integrated circuit 110 is shifted as shown in FIG.
Set to 14. Next, the integrated circuit 110 is operated, and data obtained thereby is output to each output terminal 1.
13, the data stored in each of the cells 114 is shifted and output from the TDO terminal 121 of the first integrated circuit 110 and the second integrated circuit By bypassing the circuit 110, the boundary scan controller board 128
The input terminal 130 is used to test whether or not the first integrated circuit 110 operates properly by analyzing the data using a test analysis tool 132 while taking in the data.
【００１４】同様に、バウンダリスキャンコントローラ
ボード１２８によって、１つ目の集積回路１１０を、図
９に示す如くパイパス状態にした後、テストデータ作成
ツール１３１などを使用して作成したテストデータをバ
ウンダリスキャンコントローラボード１２８の出力端子
１２９から出力させ、１つ目の集積回路１１０をバイパ
スさせた状態で、２つ目の集積回路１１０のＴＤＩ端子
１２０に入力させながらこれをシフトさせ、図１０に示
す如くこの集積回路１１０の各入力端子１１２に対応す
る各セル１１４にセットさせる。次いで、この集積回路
１１０を動作させて、これによって得られたデータを各
出力端子１１３に対応する各セル１１４に取り込ませた
後、これらの各セル１１４に格納されているデータをシ
フトさせて、バウンダリスキャンコントローラボード１
２８の入力端子１３０で、これを取込みながら、テスト
解析ツール１３２などを使用して、これを解析すること
により、２つ目の集積回路１１０が正しく動作するかど
うかをテストする。Similarly, after the first integrated circuit 110 is brought into a bypass state as shown in FIG. 9 by the boundary scan controller board 128, the test data created by using the test data creation tool 131 or the like is subjected to the boundary scan. The signal is shifted from the output terminal 129 of the controller board 128 while being input to the TDI terminal 120 of the second integrated circuit 110 in a state where the first integrated circuit 110 is bypassed, as shown in FIG. Each cell 114 corresponding to each input terminal 112 of the integrated circuit 110 is set. Next, the integrated circuit 110 is operated, and the data obtained thereby is taken into each cell 114 corresponding to each output terminal 113. Then, the data stored in each cell 114 is shifted, Boundary scan controller board 1
By using the test analysis tool 132 or the like to analyze this while taking in the input terminal 130 of the 28, whether or not the second integrated circuit 110 operates correctly is tested.
【００１５】このように、バウンダリスキャンテスト法
をサポートしている集積回路１１０を使用している基板
１２６であれば、バウンダリスキャンテスト法を使用し
て、各集積回路１１０自体の良否、各集積回路１１０同
士の接続関係などをテストすることができる。本発明
は、データ処理システムの各基板として、このようなバ
ウンダリスキャンテスト法をサポートしている集積回路
１１０を使用している基板１２６を組み込み、バウンダ
リスキャンテストを実行するバウンダリスキャンテスト
ドライバにより、バウンダリスキャンテスト法を使用し
たテストを行なって、データ処理システム内に装着され
ているＣＰＵ基板や各種基板などをテストし、これらＣ
ＰＵ基板や各種基板などに何らかの異常があれば、異常
の内容を上位コンピュータ装置に知らせたり、データ処
理システムによって制御されるロボットの主電源を切っ
て、これが暴走したりしないようようにしている。As described above, if the substrate 126 uses the integrated circuit 110 that supports the boundary scan test method, the quality of each integrated circuit 110 itself and the quality of each integrated circuit 110 can be determined using the boundary scan test method. It is possible to test a connection relationship between the 110s. The present invention incorporates a substrate 126 using an integrated circuit 110 that supports such a boundary scan test method as each substrate of the data processing system, and uses a boundary scan test driver for performing a boundary scan test. A test using a scan test method is performed to test CPU boards and various boards mounted in the data processing system.
If there is any abnormality in the PU substrate or various substrates, the contents of the abnormality are reported to the host computer device, or the main power of the robot controlled by the data processing system is turned off to prevent runaway.
【００１６】《形態例の構成》以下、本発明を図面に示
した形態例に基づいて詳細に説明する。図１は本発明に
よるデータ処理システムの一形態例を使用したロボット
の監視制御システムの一例を示すブロック図である。こ
の図に示す監視制御システム１は、各種の文字キーなど
を有し、オペレータなどによって操作されたとき、この
操作内容に応じたキー信号を生成するキーボード装置２
と、複数のキーやボールなどを使用した位置検出機構な
どを有し、オペレータなどによって操作されたき、この
操作内容に応じたスイッチ信号や位置データなどを生成
するマウス装置３と、このマウス装置３や前記キーボー
ド装置２から出力されるスイッチ信号や位置データ、キ
ー信号、予め登録されている各種のプログラムに基づい
て各種の表示データ、制御データや指示データなどを生
成する処理、制御データ、指示データなどをロボットな
どに伝送する通信処理、前記ロボットから伝送される各
種の検知データを取り込む入出力処理などを行なうデー
タ処理装置４と、このデータ処理装置４によって生成さ
れた表示データを取り込んで、前記ロボットの動作を監
視、制御するのに必要な画面を表示するＣＲＴ装置５と
を備えている。<< Structure of Embodiment >> The present invention will be described in detail below based on an embodiment shown in the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an example of a robot monitoring and control system using an embodiment of a data processing system according to the present invention. The monitoring control system 1 shown in FIG. 1 has various character keys and the like, and when operated by an operator or the like, a keyboard device 2 that generates a key signal corresponding to the operation content.
And a mouse device 3 having a position detection mechanism using a plurality of keys, balls, and the like, and generating a switch signal, position data, and the like according to the operation content when operated by an operator or the like; For generating various display data, control data, instruction data, and the like based on various kinds of programs registered in advance, such as switch signals and position data, key signals output from the keyboard device 2, control data, and instruction data. And a data processing device 4 for performing input / output processing for capturing various kinds of detection data transmitted from the robot, and display data generated by the data processing device 4. A CRT device 5 for displaying a screen necessary for monitoring and controlling the operation of the robot.
【００１７】そして、キーボード装置２などの操作内容
に基づき、データ処理装置４により、ロボットから出力
される検知データを取り込んで、前記ロボットの動作を
監視しながら、制御データ、指示データを作成して、前
記ロボットの動作を制御するとともに、データ処理装置
４内に収納されているバウンダリスキャンテストを実行
するバウンダリスキャンテストドライバ６（図２参照）
により、バウンダリスキャンテスト法をサポートした各
集積回路自体のテスト、これら各集積回路の接続関係な
どをバウンダリスキャンテスト法でテストし、これら集
積回路自体やこれら各集積回路の接続関係などに異常が
あれば、上位コンピュータ装置に対して、異常の内容を
伝えるとともに、ＣＲＴ装置５上に警報表示を出し、さ
らに異常の内容が監視制御対象となっているロボットの
動作に重大な影響を及ぼす恐れがある内容であれば、フ
ェールセーフの観点から、前記ロボットの主電源装置を
遮断させて、ロボットの暴走を未然に防止する。Based on the operation contents of the keyboard device 2 and the like, the data processing device 4 fetches detection data output from the robot and creates control data and instruction data while monitoring the operation of the robot. A boundary scan test driver 6 for controlling the operation of the robot and executing a boundary scan test housed in the data processing device 4 (see FIG. 2).
The test of each integrated circuit that supports the boundary scan test method and the connection relation of each integrated circuit are tested by the boundary scan test method, and if there is any abnormality in these integrated circuits themselves or the connection relation of each integrated circuit, etc. For example, the contents of the abnormality are transmitted to the host computer device, an alarm is displayed on the CRT device 5, and the contents of the abnormality may seriously affect the operation of the robot to be monitored and controlled. If it is the content, from the viewpoint of fail-safe, the main power supply of the robot is shut off to prevent runaway of the robot.
【００１８】前記キーボード装置２は薄箱状に形成され
るキーボード匡体と、このキーボード匡体上に配置され
る文字キー、テンキーなど各種のキーと、前記キーボー
ド匡体内に配置され、前記各キーが操作されたとき、こ
の操作内容に応じたキー信号を生成するエンコーダ回路
などとを備えており、オペレータなどによって各キーが
操作されたとき、この操作内容に応じたキー信号を生成
して、これをデータ処理装置４に供給する。また、マウ
ス装置３はオペレータの手に納まる程度の大きさに形成
される箱状のマウス匡体と、このマウス匡体の上部側に
設けられる複数のキーと、前記マウス匡体の底面に形成
された穴から一部が突出するように、前記マウス匡体内
に回転自在に配置されるボールと、前記マウス匡体内に
配置され、前記ボールの回転量および回転方向を検出し
てマウス匡体の移動方向および移動量に応じた位置デー
タを生成する回転検出機構などとを備えており、オペレ
ータによって卓上またはマウスパッド上で動かされたと
き、その移動方向および移動量に応じた位置データを生
成し、これを前記データ処理装置４に供給し、また各キ
ーのいずれかが操作されたとき、操作されたキーに応じ
たキー信号を生成し、これを前記データ処理装置４に供
給する。The keyboard device 2 includes a keyboard housing formed in a thin box shape, various keys such as character keys and numeric keys arranged on the keyboard housing, and the keyboard device 2 is disposed in the keyboard housing. Is operated, an encoder circuit or the like that generates a key signal according to the operation content is provided.When each key is operated by an operator or the like, a key signal according to the operation content is generated. This is supplied to the data processing device 4. Further, the mouse device 3 has a box-shaped mouse housing formed to be large enough to fit in the hand of the operator, a plurality of keys provided on an upper side of the mouse housing, and a mouse housing 3 formed on the bottom surface of the mouse housing. A ball that is rotatably arranged in the mouse housing so that a part of the ball protrudes from the hole, and a ball that is arranged in the mouse housing, and detects the amount and direction of rotation of the ball and detects the rotation of the ball. It has a rotation detection mechanism that generates position data according to the movement direction and movement amount, and when moved by an operator on a table or a mouse pad, generates position data according to the movement direction and movement amount. Is supplied to the data processing device 4, and when any one of the keys is operated, a key signal corresponding to the operated key is generated and supplied to the data processing device 4.
【００１９】また、ＣＲＴ装置５は前記データ処理装置
４上に配置される箱状のＣＲＴ匡体と、このＣＲＴ匡体
の前面からその一部が露出するように、前記ＣＲＴ匡体
内に配置されるＣＲＴと、前記ＣＲＴ匡体内に配置さ
れ、前記データ処理装置４から出力される表示信号に基
づいて前記ＣＲＴを駆動し、前記表示信号に対応する内
容を画面表示させる信号処理回路などとを備えており、
前記データ処理装置４によって生成された表示信号を取
り込んで、ロボットの動作を監視するのに必要な画面、
前記ロボットの動作を制御するのに必要な画面などを表
示する。Further, the CRT device 5 is arranged in a box-shaped CRT housing disposed on the data processing device 4 and in the CRT housing such that a part thereof is exposed from the front surface of the CRT housing. A CRT, a signal processing circuit disposed in the CRT housing, and a signal processing circuit that drives the CRT based on a display signal output from the data processing device 4 and displays a content corresponding to the display signal on a screen. And
A screen required to capture the display signal generated by the data processing device 4 and monitor the operation of the robot;
A screen necessary for controlling the operation of the robot is displayed.
【００２０】また、データ処理装置４は前記キーボード
装置２から出力されるキー信号を取込み、各種の指令や
各種のデータなどを生成するキーボードインタフェース
回路７と、前記マウス装置３から出力されるスイッチ信
号や位置データなどを取込み、各種の指令や各種のデー
タなどを生成するマウスインタフェース回路８と、これ
らマウスインタフェース回路８やキーボードインタフェ
ース回路７によって生成された各種の指令や各種のデー
タなどに基づいて各種の情報処理を行なうＣＰＵ回路９
と、このＣＰＵ回路９によって生成された表示データを
取り込んで表示信号を生成し、これを前記ＣＲＴ装置５
に供給するＣＲＴインタフェース回路１０と、前記ＣＰ
Ｕ回路９の動作を規定する基本プログラムや各種の定数
データなどが格納されるＲＯＭ回路１１と、前記ＣＰＵ
回路９の作業エリアなどとして使用されるＲＡＭ回路１
２と、前記ＣＰＵ回路９と外部装置などに設けられてい
るロボット、このロボットに給電する主電源装置との間
の信号授受をサポートする入出力インタフェース回路１
３と、前記ＣＰＵ回路９と上位コンピュータ装置などと
の間の通信をサポートする通信回路１４とを備えてい
る。The data processing device 4 receives a key signal output from the keyboard device 2 and generates various commands and various data. A switch signal output from the mouse device 3 is generated. Mouse interface circuit 8 that captures data and position data and generates various commands and various data. Various mouse commands are generated based on various commands and various data generated by the mouse interface circuit 8 and the keyboard interface circuit 7. CPU circuit 9 that performs information processing of
And display data generated by the CPU circuit 9 to generate a display signal.
CRT interface circuit 10 for supplying to the
A ROM circuit 11 for storing a basic program for defining the operation of the U circuit 9 and various constant data;
RAM circuit 1 used as a work area of circuit 9
2, an input / output interface circuit 1 for supporting a signal exchange between the CPU circuit 9 and a robot provided in an external device or the like, and a main power supply device for supplying power to the robot.
3 and a communication circuit 14 that supports communication between the CPU circuit 9 and a host computer device or the like.
【００２１】さらに、データ処理装置４はハードディス
ク装置などによって構成され、前記ＣＰＵ回路９で使用
されるマルチタスク機能を持つＯＳ、例えばＵＮＩＸ、
ＯＳ／２（ＩＢＭ社製）、ウインドウズＮＴ（マイクロ
ソフト社製）などのＯＳ本体１９（図２参照）、バウン
ダリスキャンテストを実行するバウンダリスキャンテス
トドライバ６、このバウンダリスキャンテストドライバ
６で使用されるテストデータ、解析データ、各種アプリ
ケーションソフトウェアなどが格納される大容量記憶機
構１５と、フロッピーディスク１６を介して、外部装置
に対する情報の授受を行なうフロッピーディスク機構１
７と、これらキーボードインタフェース回路７〜フロッ
ピーディスク機構１７を接続するＰＣＩバス、ＩＳＡバ
スなどバウンダリスキャンテスト用のピンが割当られた
システムバス２３とを備えている。Further, the data processing device 4 is constituted by a hard disk device or the like, and has an OS having a multitasking function used in the CPU circuit 9, for example, UNIX,
OS / 2 (manufactured by IBM Corporation), Windows NT (manufactured by Microsoft Corporation), etc., an OS main body 19 (see FIG. 2), a boundary scan test driver 6 for executing a boundary scan test, and a test used in the boundary scan test driver 6 A large-capacity storage mechanism 15 for storing data, analysis data, various application software, and the like, and a floppy disk mechanism 1 for exchanging information with external devices via a floppy disk 16
And a system bus 23 to which pins for a boundary scan test, such as a PCI bus and an ISA bus, for connecting the keyboard interface circuit 7 to the floppy disk mechanism 17 are assigned.
【００２２】そして、マウス装置３から出力されるスイ
ッチ信号や位置データ、キーボード装置２から出力され
るキー信号に基づき、ロボットから出力される検知デー
タを取り込んで、前記ロボットの動作状態を監視しなが
ら、制御データ、指示データを作成して、前記ロボット
の動作を制御する。また、この動作と並行して、バウン
ダリスキャンテストドライバ６により、バウンダリスキ
ャンテスト法をサポートした各集積回路自体、各集積回
路に入出力されるデータ、これら各集積回路の接続関係
などをバウンダリスキャンテスト法でテストし、これら
集積回路自体、各集積回路に入出力されるデータやこれ
ら各集積回路の接続関係などに異常があれば、上位コン
ピュータ装置に対して、異常の内容を伝えるとともに、
ＣＲＴ装置５上に警報表示を出し、さらに異常の内容が
監視制御対象となっているロボットの動作に重大な影響
を及ぼす恐れがある内容であれば、フェールセーフの観
点から、前記ロボットの主電源装置を遮断させて、ロボ
ットの暴走を未然に防止する。Based on switch signals and position data output from the mouse device 3 and key signals output from the keyboard device 2, detection data output from the robot is fetched to monitor the operation state of the robot. , Control data and instruction data are created to control the operation of the robot. In parallel with this operation, the boundary scan test driver 6 examines each integrated circuit itself that supports the boundary scan test method, data input / output to / from each integrated circuit, and the connection relationship between these integrated circuits. If there is an abnormality in these integrated circuits themselves, data input to and output from each integrated circuit, and the connection relationship between these integrated circuits, the details of the abnormality are reported to the host computer,
If a warning is displayed on the CRT device 5 and the content of the abnormality may seriously affect the operation of the robot being monitored and controlled, the main power supply of the robot is considered from a fail-safe viewpoint. Shut off the device to prevent runaway of the robot.
【００２３】この場合、前記ＣＰＵ回路９は、マイクロ
プロセッサなどによって構成され、各種の処理を行なう
ＣＰＵと、ＣＰＵ回路９内に設けられたバウンダリスキ
ャンテスト法をサポートした各集積回路をバウンダリス
キャンテスト法でテストするとともに、前記システムバ
ス２３を介してキーボードインタフェース回路７〜フロ
ッピーディスク機構１７内のバウンダリスキャンテスト
法をサポートした各集積回路をバウンダリスキャンテス
ト法でテストするバウンダリスキャン通信回路とを備え
ており、前記大容量記憶機構１５に格納されているバウ
ンダリスキャンテストドライバ６で規定されているテス
ト手順に基づき、ＣＰＵによってバウンダリスキャン通
信回路を制御し、バウンダリスキャンテスト法をサポー
トした各集積回路自体、各集積回路に入出力されるデー
タ、各集積回路の接続関係などをバウンダリスキャンテ
スト法でテストする。In this case, the CPU circuit 9 is constituted by a microprocessor or the like, and executes a CPU for performing various processes and each integrated circuit provided in the CPU circuit 9 which supports the boundary scan test method. And a boundary scan communication circuit for testing each integrated circuit supporting the boundary scan test method in the keyboard interface circuit 7 to the floppy disk mechanism 17 via the system bus 23 by the boundary scan test method. An integrated circuit that controls a boundary scan communication circuit by a CPU based on a test procedure defined by a boundary scan test driver 6 stored in the mass storage device 15 and supports a boundary scan test method; Body, data input and output to each integrated circuit, to test the connection relation and at the boundary scan test method of each integrated circuit.
【００２４】また、前記大容量記憶機構１５に格納され
ているバウンダリスキャンテストドライバ６は、図２に
示す如くマルチタスク機能を持つＯＳ、例えばＵＮＩ
Ｘ、ＯＳ／２（ＩＢＭ社製）、ウインドウズＮＴ（マイ
クロソフト社製）などののＯＳ本体１９に組み込まれ、
ＯＳ１８として使用されるドライバであり、ＯＳ本体が
起動されたとき、同時に起動して、ＣＰＵ回路９、キー
ボードインタフェース回路７、マウスインタフェース回
路８、ＣＲＴインタフェース回路１０、ＲＯＭ回路１
１、ＲＡＭ回路１２、入出力インタフェース回路１３、
通信回路１４、フロッピーディスク機構１７、大容量記
憶機構１５などのハードウェア２８を構成している、バ
ウンダリスキャンテスト法をサポートしている各集積回
路自体、各集積回路に入出力されるデータ、各集積回路
の接続関係などをバウンダリスキャンテスト法でテスト
して、前記ＯＳ１８によって起動されている各アプリケ
ーションソフトウェア２９で使用されているロボット監
視タスク２０、ロボット制御タスク２１、画面表示タス
ク２２などの動作状態を監視する。そして、何らかの異
常が見つかったとき、上位コンピュータ装置に対して、
異常の内容を伝えるとともに、ＣＲＴ装置５上に警報表
示を出し、さらに異常の内容が監視制御対象となってい
るロボットの動作に重大な影響を及ぼす恐れがある内容
であれば、フェールセーフの観点から、前記ロボットの
主電源装置を遮断させて、ロボットの暴走を未然に防止
する。The boundary scan test driver 6 stored in the mass storage unit 15 is an OS having a multitasking function as shown in FIG.
X, OS / 2 (manufactured by IBM), Windows NT (manufactured by Microsoft), etc.
This driver is used as the OS 18. When the OS itself is started, it is started at the same time as the CPU circuit 9, the keyboard interface circuit 7, the mouse interface circuit 8, the CRT interface circuit 10, and the ROM circuit 1.
1, RAM circuit 12, input / output interface circuit 13,
Each integrated circuit that supports the boundary scan test method, which constitutes the hardware 28 such as the communication circuit 14, the floppy disk mechanism 17, and the large-capacity storage mechanism 15, data input / output to / from each integrated circuit, The connection relation of the integrated circuit is tested by the boundary scan test method, and the operation states of the robot monitoring task 20, the robot control task 21, the screen display task 22, etc. used in each application software 29 started by the OS 18 are described. To monitor. When any abnormality is found, the host computer
In addition to notifying the contents of the abnormality, an alarm display is displayed on the CRT device 5, and if the contents of the abnormality may seriously affect the operation of the robot to be monitored and controlled, a fail-safe viewpoint is used. Therefore, the main power supply of the robot is shut off to prevent runaway of the robot.
【００２５】《形態例の動作》次に、図１に示すブロッ
ク図、図２に示す模式図を参照しながら、この形態例の
動作を説明する。まず、監視制御システム１を動作させ
る前に、図３に示す如く上位コンピュータ装置によっ
て、パターンジェネレータ２７が起動されて、データ処
理装置４で使用されている各集積回路などのコンポーネ
ントデータシート２６、データ処理装置４を設計する際
に使用されたネットリスト２５などに基づき、前記各集
積回路の動作状態、データ処理装置４を構成するケーブ
ルなどの接続内容、プリントパターンの内容などをチェ
ックするのに必要なテストデータが作成され、これがテ
ストデータファイルにファイルされるとともに、テスト
結果を判定するのに必要な解析データが作成され、これ
がファイルされる。この後、監視制御システム１の通信
回路１４やフロッピーディスク１６を介して、上位コン
ピュータ装置で作成されたテストデータファイル、解析
データファイルの内容が取り込まれて、大容量記憶機構
１５に格納される。そして、キーボード装置２やマウス
装置３などが操作されて、ロボットの監視制御指示が入
力されれば、ＣＰＵ回路９によって大容量記憶機構１５
に格納されているＯＳ１８に基づき、各アプリケーショ
ンソフトウェアなどのうち、ロボットの監視制御を行な
うのに必要なアプリケーションソフトウェアが選択され
て、ロボット監視タスク２０、ロボット制御タスク２
１、画面表示タスク２２などが起動させられる。これに
よって、これらロボット監視タスク２０、ロボット制御
タスク２１、画面表示タスク２２などにより、入出力イ
ンタフェース回路１３を介して、ロボットの各部に設け
られた各種センサから出力される検知データが取り込ま
れて、ロボットの動作状態が監視されるとともに、この
監視内容に基づき、制御データや指示データが作成され
て、これが入出力インタフェース回路１３を介して、ロ
ボットの各アクチュエータに供給され、ロボットの動作
が制御される。<< Operation of Embodiment >> Next, the operation of this embodiment will be described with reference to the block diagram shown in FIG. 1 and the schematic diagram shown in FIG. First, before operating the monitoring and control system 1, the pattern generator 27 is started by the host computer device as shown in FIG. 3, and the component data sheet 26 such as each integrated circuit used in the data processing device 4, Necessary to check the operation state of each integrated circuit, the connection contents of cables and the like constituting the data processing device 4, the contents of the print pattern, etc., based on the netlist 25 used when designing the processing device 4. Test data is created and filed in a test data file, and analysis data necessary to determine the test result is created and filed. After that, the contents of the test data file and the analysis data file created by the host computer are taken in via the communication circuit 14 and the floppy disk 16 of the monitoring control system 1 and stored in the mass storage device 15. When the keyboard device 2 and the mouse device 3 are operated to input a robot monitoring control instruction, the CPU circuit 9 causes the large-capacity storage mechanism 15 to operate.
Based on the OS 18 stored in the application software, application software necessary for monitoring and controlling the robot is selected from the application software and the like, and the robot monitoring task 20 and the robot control task 2 are selected.
1. The screen display task 22 and the like are activated. As a result, the robot monitoring task 20, the robot control task 21, the screen display task 22, etc., capture the detection data output from various sensors provided in each part of the robot via the input / output interface circuit 13, The operation state of the robot is monitored, and control data and instruction data are created based on the monitored contents. You.
【００２６】また、この動作と並行して、バウンダリス
キャンテストドライバ６により、ＣＰＵ回路９のＣＰＵ
が制御されて、ＣＰＵ回路９、キーボードインタフェー
ス回路７、マウスインタフェース回路８、ＣＲＴインタ
フェース回路１０、ＲＯＭ回路１１、ＲＡＭ回路１２、
入出力インタフェース回路１３、通信回路１４、フロッ
ピーディスク機構１７、大容量記憶機構１５などを構成
している、バウンダリスキャンテスト法をサポートして
いる各集積回路に入出力されるデータ（検知データ）が
取り込まれるともに、大容量記憶機構１５に格納されて
いる解析データに基づき、前記検知データが解析され
て、前記ＯＳ１８によって起動された各アプリケーショ
ンソフトウェアで使用されているロボット監視タスク２
０、ロボット制御タスク２１、画面表示タスク２２など
の動作状態が監視される。In parallel with this operation, the boundary scan test driver 6 causes the CPU
Are controlled, a CPU circuit 9, a keyboard interface circuit 7, a mouse interface circuit 8, a CRT interface circuit 10, a ROM circuit 11, a RAM circuit 12,
Data (detection data) input / output to / from each integrated circuit that supports the boundary scan test method, which constitutes the input / output interface circuit 13, the communication circuit 14, the floppy disk mechanism 17, the mass storage mechanism 15, and the like. At the same time, the detection data is analyzed based on the analysis data stored in the large-capacity storage mechanism 15, and the robot monitoring task 2 used in each application software started by the OS 18 is executed.
0, the operation state of the robot control task 21, the screen display task 22, and the like are monitored.
【００２７】また、予め設定されている詳細テスト周期
で、バウンダリスキャンテストドライバ６の詳細テスト
処理が起動されて、ＣＰＵ回路９のＣＰＵが制御され、
ＣＰＵ回路９、キーボードインタフェース回路７、マウ
スインタフェース回路８、ＣＲＴインタフェース回路１
０、ＲＯＭ回路１１、ＲＡＭ回路１２、入出力インタフ
ェース回路１３、通信回路１４、フロッピーディスク機
構１７、大容量記憶機構１５などを構成している、バウ
ンダリスキャンテスト法をサポートしている各集積回路
に対して、大容量記憶機構１５に格納されているテスト
データがセットされた後、これらの各集積回路が動作状
態にされて、その出力データ（検知データ）が取り込ま
れるともに、大容量記憶機構１５に格納されている解析
データに基づき、前記検知データが解析されて、前記Ｏ
Ｓ１８によって起動された各アプリケーションソフトウ
ェアで使用されているロボット監視タスク２０、ロボッ
ト制御タスク２１、画面表示タスク２２などの動作内容
が監視される。そして、何らかの異常が見つかったと
き、上位コンピュータ装置に対して、異常の内容が伝え
られるとともに、ＣＲＴ装置５上に警報表示が出され、
さらに異常の内容が監視制御対象となっているロボット
の動作に重大な影響を及ぼす恐れがある内容であれば、
フェールセーフの観点から、前記ロボットの主電源装置
が遮断されて、ロボットの暴走が未然に防止される。Further, a detailed test process of the boundary scan test driver 6 is started at a preset detailed test cycle, and the CPU of the CPU circuit 9 is controlled.
CPU circuit 9, keyboard interface circuit 7, mouse interface circuit 8, CRT interface circuit 1
0, a ROM circuit 11, a RAM circuit 12, an input / output interface circuit 13, a communication circuit 14, a floppy disk mechanism 17, a large-capacity storage mechanism 15, etc., each of the integrated circuits supporting the boundary scan test method. On the other hand, after the test data stored in the large-capacity storage mechanism 15 is set, each of these integrated circuits is put into an operating state, the output data (detection data) is taken in, and the large-capacity storage mechanism 15 is taken. The detection data is analyzed based on the analysis data stored in
The operation contents of the robot monitoring task 20, the robot control task 21, the screen display task 22, and the like used in each application software started in S18 are monitored. When any abnormality is found, the contents of the abnormality are notified to the host computer, and an alarm display is given on the CRT device 5,
In addition, if the content of the abnormality may seriously affect the operation of the robot being monitored and controlled,
From a fail-safe point of view, the main power supply of the robot is shut off to prevent runaway of the robot.
【００２８】《形態例の効果》このように、この形態例
では、データ処理装置４を構成する大容量記憶機構１５
内にバウンダリスキャンテストドライバ６を格納し、こ
のバウンダリスキャンテストドライバ６によってＣＰＵ
回路９のＣＰＵを制御して、データ処理装置４を構成す
る、バウンダリスキャンテスト法をサポートしている各
集積回路自体、各集積回路の入出力データ、各集積回路
の接続関係などをバウンダリスキャンテスト法でテスト
するようにしているので、次に述べる機能を得ることが
できる。<< Effects of Embodiment >> As described above, in this embodiment, the large-capacity storage mechanism 15 constituting the data processing device 4 is used.
The boundary scan test driver 6 is stored in the CPU.
The CPU of the circuit 9 is controlled to configure the data processing device 4. Each of the integrated circuits supporting the boundary scan test method, the input / output data of each integrated circuit, the connection relation of each integrated circuit, and the like are tested by the boundary scan test. Since the test is performed by the method, the following functions can be obtained.
【００２９】＜ＣＰＵの動作を確認する機能＞まず、デ
バイスピンから出力されるステータス信号をチェックす
る際、集積回路内のセルにセットされている内容を確認
することにより、ＣＰＵの通常処理を中断させることな
く、ＣＰＵの動作状態を確認することができる。また、
バウンダリスキャンテストで予約されている専用命令に
よって、ＣＰＵ内部のステータスレジスタの内容を直
接、確認することができ、これによってＣＰＵの通常処
理を中断させることなく、ＣＰＵの動作状態を確認する
ことができる。さらに、バウンダリスキャンテストで予
約されている専用命令によって、ＣＰＵの自己診断機能
が実現できるとき、ＣＰＵの通常処理を一時的に中断さ
せなければならないものの、この専用命令を使用して、
ＣＰＵの動作状態をほぼ完全に確認することができる。<Function for Checking CPU Operation> First, when checking the status signal output from the device pin, the normal processing of the CPU is interrupted by checking the contents set in the cells in the integrated circuit. The operating state of the CPU can be confirmed without causing the CPU to operate. Also,
The contents of the status register inside the CPU can be directly confirmed by the dedicated instruction reserved in the boundary scan test, whereby the operation state of the CPU can be confirmed without interrupting the normal processing of the CPU. . Further, when the self-diagnosis function of the CPU can be realized by the dedicated instruction reserved in the boundary scan test, the normal processing of the CPU must be temporarily interrupted.
The operation state of the CPU can be almost completely confirmed.
【００３０】＜Ｉ／Ｏポートの状態を確認する機能＞ま
た、このような監視制御システム１においては、Ｉ／Ｏ
ポートの状態がシステムに直接的な影響を及ぼすことに
つながることから、バウンダリスキャンレジスタを用い
て、各基板のコネクタなど、Ｉ／Ｏポートの状態を確認
することにより、システムに対して、重大な影響を及ぼ
す恐れがあるとき、これを前もって検知することができ
る。この際、出力ポートについては、プログラム的に正
しいデータが出力されるようにされていても、ハードウ
ェア的な問題から誤ったデータが出力されてしまうこと
が予想されることから、パリティチェック符号やＣＲＣ
符号などの誤り検出符号を用いるなどの方法を使用し
て、各出力ポート毎のデータ単位で、特定のルール化を
行なうことにより、最終出力段に設けられた集積回路の
バウンダリスキャンレジスタの内容をサンプリングし、
これがルールに適合しているかどうかをチェックするこ
とにより、出力ポートの故障などを検知することができ
る。<Function for Checking I / O Port Status> In such a monitoring and control system 1, the I / O port
Since the status of the port has a direct effect on the system, checking the status of the I / O port, such as the connector of each board, using the boundary scan register can have a serious effect on the system. This can be detected in advance when there is a risk of affecting it. At this time, regarding the output port, even if correct data is output programmatically, it is expected that erroneous data will be output due to a hardware problem. CRC
By using a method such as using an error detection code such as a code, and performing a specific rule on a data unit basis for each output port, the contents of the boundary scan register of the integrated circuit provided at the final output stage can be obtained. Sampling,
By checking whether this satisfies the rule, it is possible to detect a failure of the output port or the like.
【００３１】そして、出力データに何らかの誤りがあっ
ても、誤り訂正符号を利用する方法などで、誤りを訂正
できたときには、バウンダリスキャンテストで用意され
ているＰＲＥＬＯＡＤ命令と、ＥＸＴＥＳＴ命令とを用
いて、最終出力段の集積回路のバウンダリスキャンレジ
スタに正しい出力データをセットして、これを出力ポー
トから出力させることができる。これにより、最終出力
段に設けられた集積回路から誤ったデータが出力される
のを防止して、システムの動作に影響を与えることな
く、ロボットが異常な動作を行なわないようにすること
ができる。また、ＣＰＵ回路９に設けられているＣＰＵ
をマルチＣＰＵボードにしているときには、一方のＣＰ
Ｕボードを使用して、他方のＣＰＵボードの出力ポート
状態を調べることができることから、各ＣＰＵボードが
正常に動作しているかどうかを相互にチェックさせるこ
とができる。Even if there is any error in the output data, if the error can be corrected by using an error correction code or the like, a PRELOAD instruction and an EXTEST instruction prepared in the boundary scan test are used. The correct output data can be set in the boundary scan register of the integrated circuit at the final output stage and output from the output port. This can prevent erroneous data from being output from the integrated circuit provided in the final output stage, and can prevent the robot from performing abnormal operations without affecting the operation of the system. . The CPU provided in the CPU circuit 9
Is a multi-CPU board, one CP
Since the output port status of the other CPU board can be checked using the U board, it is possible to mutually check whether each CPU board is operating normally.
【００３２】この際、個々のビットデータに関しても、
何らかのルール（例えば、最大持続時間など）を明確に
しておけば、アプリケーションソフトウェアで規定され
ている動作手順の内容にかかわらず、全く別の次元で、
各ビットデータのチェックを行なうことができる。ま
た、入力ポートについても、出力ポートのときと同様な
処理を行なうことにより、入力ポートに入力されるデー
タの監視を行なうことができる。この際、ポート単位で
データをルール化したり、ビット単位での特性を用いた
各種チェックを行なうことにより、アプリケーションソ
フトウェアで規定されている動作手順の内容にかかわら
ず、全く別の次元で、各ビットデータのチェックを行な
うことができる。そして、入力データに何らかの誤りが
あっても、誤り訂正符号を利用する方法などで、誤りを
訂正できたときには、バウンダリスキャンテストで用意
されている命令を用いて、集積回路のバウンダリスキャ
ンレジスタに正しい入力データをセットして、これを処
理させることにより、アプリケーションソフトウェアに
一切、手を加えることなく、処理を継続させることがで
きる。また、入力データが正しいにもかかわらず、集積
回路が故障している場合には、この集積回路の入力端子
側に設けられたセルの内容を出力端子側のセルに移すこ
とにより、集積回路の故障をマスクすることができる。
この際、この集積回路が何らかの演算処理を行なうもの
であっても、その内容が明らかであれば、集積回路の入
力端子側に設けられたセルの内容をＣＰＵ回路９側に転
送して、必要な演算処理を行なわせ、これによって得ら
れたデータを前記集積回路の出力端子側に設けられたセ
ルにセットすることにより、この集積回路が何らかの演
算処理を行なうように設定されているときでも、これに
対処することができる。At this time, for each bit data,
If some rules (for example, maximum duration) are clarified, regardless of the content of the operation procedure specified in the application software, in a completely different dimension,
Each bit data can be checked. Also, the data input to the input port can be monitored for the input port by performing the same processing as that for the output port. At this time, by making data into rules on a port basis and performing various checks using the characteristics on a bit basis, regardless of the contents of the operation procedure specified by the application software, each bit is completely different. Data can be checked. Then, even if there is any error in the input data, if the error can be corrected by a method using an error correction code or the like, the correct data is stored in the boundary scan register of the integrated circuit by using an instruction prepared in the boundary scan test. By setting the input data and processing the input data, the processing can be continued without any modification to the application software. Also, if the integrated circuit is faulty even though the input data is correct, the contents of the cell provided on the input terminal side of this integrated circuit are transferred to the cells on the output terminal side, thereby making the integrated circuit Failures can be masked.
At this time, even if this integrated circuit performs some kind of arithmetic processing, if the contents are clear, the contents of the cell provided on the input terminal side of the integrated circuit are transferred to the CPU circuit 9 side, and By setting the obtained data in a cell provided on the output terminal side of the integrated circuit, even when this integrated circuit is set to perform some arithmetic processing, This can be addressed.
【００３３】＜各種コントローラの状態を確認する機能
＞また、フロッピーディスク機構１７や大容量記憶機構
１５などに設けられているＦＤＣやＣＲＴインタフェー
ス回路１０に設けられているＣＲＴＣなどのＡＳＩＣデ
バイスは、バウンダリスキャンテスト法をサポートして
いることが多いことから、システムによって使用されて
いないとき、自己診断命令（ＲＵＮＢＩＳＴ命令）など
を使用して、これらＡＳＩＣデバイスの自己診断を行な
わせ、故障の有無をチェックすることができる。そし
て、ＡＳＩＣデバイスに何らかの故障が見つかったと
き、ＴＲＡＰなどにより、システムに故障が見つかった
ことを知らせるとともに、アプリケーションソフトウェ
ア上でのエラー発生を未然に防ぐことができる。<Function to Check the Status of Various Controllers> An ASIC device such as an FDC provided in the floppy disk mechanism 17 or the large-capacity storage mechanism 15 or a CRTC provided in the CRT interface circuit 10 has a boundary. Since it often supports the scan test method, when it is not used by the system, the self-diagnosis of these ASIC devices is performed using a self-diagnosis instruction (RUNBIST instruction) or the like, and the presence or absence of a failure is checked. can do. When any failure is found in the ASIC device, the fact that the failure is found in the system can be notified by TRAP or the like, and the occurrence of an error in the application software can be prevented.
【００３４】《他の形態例》また、上述した形態例にお
いては、バウンダリスキャンテストドライバ６をＯＳ１
８のドライバとして、大容量記憶機構１５に格納し、Ｏ
Ｓ１８の一部として、これを使用するようにしている
が、図４に示す如く、ＯＳ本体１９によって起動される
バウンダリスキャンテストタスク３０に上述したバウン
ダリスキャンテストドライバ６の機能を持たせるように
しても良い。このようにしても、ＯＳ本体１９が起動さ
れて、ロボットの制御に必要なアプリケーションプログ
ラム２９が動作したとき、バウンダリスキャンテストタ
スク３０によってＣＰＵ回路９のＣＰＵを制御して、デ
ータ処理装置４を構成する、バウンダリスキャンテスト
法をサポートしている各集積回路自体、各集積回路の入
出力データ、各集積回路の接続関係などをバウンダリス
キャンテスト法でテストすることができる。また、上述
した各形態例においては、バウンダリスキャンテストド
ライバ６をＯＳ１８のドライバとして、大容量記憶機構
１５に格納し、ＯＳ１８の一部として、これを使用した
り、ＯＳ１８によってバウンダリスキャンテストタスク
３０を起動させたりするようにしているが、バウンダリ
スキャンテストドライバ６やバウンダリスキャンテスト
タスク３０を各アプリケーションソフトウェアに個別に
組み込むようようにしても良い。<< Other Embodiments >> In the above embodiment, the boundary scan test driver 6 is connected to the OS 1
8 is stored in the mass storage 15 and
This is used as a part of S18, but as shown in FIG. 4, the boundary scan test task 30 started by the OS main body 19 has the function of the boundary scan test driver 6 described above. Is also good. Even in this case, when the OS main body 19 is started and the application program 29 required for controlling the robot operates, the boundary scan test task 30 controls the CPU of the CPU circuit 9 to configure the data processing device 4. In addition, each integrated circuit that supports the boundary scan test method, input / output data of each integrated circuit, connection relations between the integrated circuits, and the like can be tested by the boundary scan test method. Further, in each of the above-described embodiments, the boundary scan test driver 6 is stored in the large-capacity storage mechanism 15 as a driver of the OS 18, and may be used as a part of the OS 18, or the boundary scan test task 30 may be executed by the OS 18. In this case, the boundary scan test driver 6 and the boundary scan test task 30 may be individually incorporated in each application software.
【００３５】このとき、システムの種類により、オーバ
ーヘッドが余り大きくならない程度の周期で、タイマ割
込みなどにより、バウンダリスキャンテストドライバ６
やバウンダリスキャンテストタスク３０を定期的に起動
させように設定しておけば、バウンダリスキャンテスト
ドライバ６バウンダリスキャンテストタスク３０の存在
をオペレータに意識させることなく、各集積回路などの
バウンダリスキャンテストを行なうことができる。ま
た、上述した形態例においては、ＣＰＵ回路９に設けら
れているＣＰＵと、バウンダリスキャン通信回路とを使
用して、バウンダリスキャンテストを行なうようにして
いるが、バウンダリスキャンテストを行なうバウンダリ
スキャンテストプログラムを登録した専用ＣＰＵと、バ
ウンダリスキャン通信回路とによってバウンダリスキャ
ンコントローラ基板を作成し、これをシステムバス２３
に組み込んで、バウンダリスキャンテスト法によるテス
トを行なわせるようにしても良い。また、上述した形態
例においては、上位コンピュータ装置で作成されたテス
トデータファイル、解析データファイルの内容をフロッ
ピーディスク１６によってデータ処理装置４に渡すよう
にしているが、これらテストデータファイル、解析デー
タファイルの内容やバウンダリスキャンテストプログラ
ムを含むアプリケーションプログラムなどを光磁気ディ
スク、相変化型光ディスクなどによってデータ処理装置
４に渡すようにしても良い。At this time, depending on the type of the system, the boundary scan test driver 6 is activated by a timer interrupt or the like at such a period that the overhead does not become too large.
And the boundary scan test task 30 are set to be started periodically, and the boundary scan test of each integrated circuit is performed without making the operator aware of the existence of the boundary scan test task 30. be able to. Further, in the above-described embodiment, the boundary scan test is performed using the CPU provided in the CPU circuit 9 and the boundary scan communication circuit. However, the boundary scan test program for performing the boundary scan test is used. A boundary scan controller board is created by the dedicated CPU in which the data is registered and the boundary scan communication circuit.
And a test by the boundary scan test method may be performed. In the above-described embodiment, the contents of the test data file and the analysis data file created by the host computer are transferred to the data processing device 4 by the floppy disk 16. Or an application program including a boundary scan test program may be passed to the data processing device 4 using a magneto-optical disk, a phase-change optical disk, or the like.
【００３６】[0036]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、請
求項１では、システム各部の動作を集積回路単位やこれ
らの各集積回路が搭載されている基板単位で、その動作
状態を検知することができ、これによってハードウェア
の故障やソフトウェアのバグなどに起因するトラブルの
発生を未然に防止することができる。また、請求項２で
は、オペレータ側にバウンダリスキャンテストドライバ
の存在を意識させることなく、システム各部の動作を集
積回路単位やこれらの各集積回路が搭載されている基板
単位で、その動作状態を検知することができ、これによ
ってハードウェアの故障やソフトウェアのバグなどに起
因するトラブルの発生を未然に防止することができる。
また、請求項３では、ＣＰＵの動作確認、Ｉ／Ｏポート
の状態確認、各種コントローラの状態確認、誤ったデー
タを検出、訂正などを行なうことができ、これによって
ハードウェアの故障やソフトウェアのバグなどに起因す
るトラブルの発生を未然に防止することができる。As described above, according to the present invention, according to the first aspect, the operation of each part of the system is detected in the unit of an integrated circuit or in the unit of a board on which each of these integrated circuits is mounted. Thus, it is possible to prevent troubles caused by hardware failures, software bugs, and the like from occurring. According to the second aspect of the present invention, the operation of each part of the system is detected in units of an integrated circuit or in units of a board on which each of these integrated circuits is mounted, without making the operator aware of the existence of the boundary scan test driver. Thus, it is possible to prevent troubles caused by hardware failures or software bugs from occurring.
According to the third aspect of the present invention, it is possible to check the operation of the CPU, check the status of the I / O port, check the status of various controllers, and detect and correct erroneous data. It is possible to prevent the occurrence of troubles caused by the above.
【図１】本発明によるデータ処理システムの一形態例を
使用したロボットの監視制御システムの一例を示すブロ
ック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an example of a robot monitoring and control system using an embodiment of a data processing system according to the present invention.
【図２】図１に示す大容量記憶機構に格納されているＯ
Ｓなどの構成例を示す模式図である。FIG. 2 shows O stored in the mass storage mechanism shown in FIG.
It is a schematic diagram which shows the example of a structure of S.
【図３】図１に示す監視制御システムで行われるバウン
ダリスキャンテストの動作例を示す模式図である。FIG. 3 is a schematic diagram showing an operation example of a boundary scan test performed by the monitoring control system shown in FIG. 1;
【図４】本発明によるデータ処理システムの他の形態例
を使用したロボットの監視制御システムで使用されるＯ
Ｓなどの構成例を示す模式図である。FIG. 4 is a diagram illustrating an O used in a supervisory control system for a robot using another embodiment of the data processing system according to the present invention.
It is a schematic diagram which shows the example of a structure of S.
【図５】本発明によるデータ処理システムで使用される
バウンダリスキャンテスト法をサポートしている集積回
路の一例を示すブロック図である。FIG. 5 is a block diagram illustrating an example of an integrated circuit supporting a boundary scan test method used in a data processing system according to the present invention.
【図６】図５に示す集積回路に設けられているＴＤＩ端
子、ＴＤＯ端子、ＴＣＫ端子、ＴＭＳ端子、ＴＲＳＴ端
子の制御例を示す表である。FIG. 6 is a table showing a control example of a TDI terminal, a TDO terminal, a TCK terminal, a TMS terminal, and a TRST terminal provided in the integrated circuit shown in FIG.
【図７】図５に示す集積回路を複数個、使用した基板に
対するバウンダリスキャンテスト例を示すブロック図で
ある。FIG. 7 is a block diagram showing an example of a boundary scan test for a substrate using a plurality of the integrated circuits shown in FIG. 5;
【図８】図７に示す基板上に搭載されている各集積回路
の接続内容をバウンダリスキャンテストする際の動作例
を示す模式図である。8 is a schematic diagram showing an operation example when performing a boundary scan test on the connection content of each integrated circuit mounted on the substrate shown in FIG. 7;
【図９】図７に示す基板上に搭載されている各集積回路
を個々にバウンダリスキャンテストする際の動作例を示
す模式図である。9 is a schematic diagram illustrating an operation example when individually performing a boundary scan test on each integrated circuit mounted on the substrate illustrated in FIG. 7;
【図１０】図７に示す基板上に搭載されている各集積回
路を個々にバウンダリスキャンテストする際の動作例を
示す模式図である。FIG. 10 is a schematic diagram illustrating an operation example when individually performing a boundary scan test on each integrated circuit mounted on the substrate illustrated in FIG. 7;
１ 監視制御システム、２ キーボード装置、３ マウ
ス装置、４ データ処理装置、５ ＣＲＴ装置、６ バ
ウンダリスキャンテストドライバ、７ キーボードイン
タフェース回路（基板）、８ マウスインタフェース回
路（基板）、９ＣＰＵ回路（基板）、１０ ＣＲＴイン
タフェース回路（基板）、１１ ＲＯＭ回路（基板）、
１２ ＲＡＭ回路（基板）、１３ 入出力インタフェー
ス回路（基板）、１４ 通信回路（基板）、１５ 大容
量記憶機構（基板）、１６ フロッピーディスク、１７
フロッピーディスク機構（基板）、１８ ＯＳ、１９
ＯＳ本体、２０ ロボット監視タスク、２１ ロボット
制御タスク、２２ 画面表示タスク、２３ システムバ
ス、２５ ネットリスト、２６ コンポーネントデータ
シート、２７ パターンジェネレータ、２８ ハードウ
ェア、２９ アプリケーションソフトウェア1 monitoring control system, 2 keyboard device, 3 mouse device, 4 data processing device, 5 CRT device, 6 boundary scan test driver, 7 keyboard interface circuit (board), 8 mouse interface circuit (board), 9 CPU circuit (board), 10 CRT interface circuit (substrate), 11 ROM circuit (substrate),
12 RAM circuit (substrate), 13 input / output interface circuit (substrate), 14 communication circuit (substrate), 15 large-capacity storage mechanism (substrate), 16 floppy disk, 17
Floppy disk mechanism (board), 18 OS, 19
OS main unit, 20 robot monitoring task, 21 robot control task, 22 screen display task, 23 system bus, 25 netlist, 26 component data sheet, 27 pattern generator, 28 hardware, 29 application software
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G06F 11/22 - 11/26 G01R 31/28 - 31/30──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) G06F 11/22-11/26 G01R 31/28-31/30
Claims (3)
を制御しながら、指定された処理を行なうデータ処理シ
ステムにおいて、 バウンダリスキャンテスト法をサポートした集積回路を
搭載し、システム各部を構成する基板と、 これらの各基板を接続するバウンダリスキャンテスト法
をサポートしたシステムバスと、 このシステムバスを介して、各基板またはこれらの各基
板に搭載されている各集積回路のバウンダリスキャンテ
ストを行なうバウンダリスキャンテストドライバまたは
バウンダリスキャンテストタスクと、 を備えたことを特徴とするデータ処理システム。1. A data processing system which performs specified processing while controlling the operation of each part of a system by a CPU circuit, on which an integrated circuit supporting a boundary scan test method is mounted, and a substrate constituting each part of the system, A system bus supporting a boundary scan test method for connecting the respective substrates, and a boundary scan test driver or a boundary scan test for performing a boundary scan test of each substrate or each integrated circuit mounted on each of the substrates via the system bus. A data processing system comprising: a boundary scan test task;
おいて、 前記バウンダリスキャンテストドライバまたはバウンダ
リスキャンテストタスクは、前記ＣＰＵ回路の動作を規
定するＯＳまたは各アプリケーションソフトウェアに組
み込まれる、 ことを特徴とするデータ処理システム。2. The data processing system according to claim 1, wherein the boundary scan test driver or the boundary scan test task is incorporated in an OS or each application software that defines an operation of the CPU circuit. Data processing system.
ステムにおいて、 前記バウンダリスキャンテストドライバまたはバウンダ
リスキャンテストタスクは、ＣＰＵの動作を確認する機
能、Ｉ／Ｏポートの状態を確認する機能、各種コントロ
ーラの状態を確認する機能、誤ったデータを検出、訂正
する機能のうち、少なくてもいずれか１つ以上の機能を
持つ、 ことを特徴とするデータ処理システム。3. The data processing system according to claim 1, wherein the boundary scan test driver or the boundary scan test task has a function of confirming an operation of a CPU, a function of confirming a state of an I / O port, and various functions. A data processing system having at least one of a function of checking a state of a controller and a function of detecting and correcting erroneous data.
Priority Applications (9)
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|---|---|---|---|
| JP7353738A JP2826812B2 (en) | 1995-12-27 | 1995-12-27 | Data processing system |
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| KR1019970705951A KR100339865B1 (en) | 1995-12-27 | 1996-12-25 | Monitoring control device |
| EP96942641A EP0813151A4 (en) | 1995-12-27 | 1996-12-25 | Monitoring control device |
| US08/894,630 US6243665B1 (en) | 1995-12-27 | 1996-12-25 | Monitoring and control apparatus incorporating run-time fault detection by boundary scan logic testing |
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