JP3008850U - メンテナンスフリー濁度測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光源の強度、検出器感度の変化および光学窓
の汚れの影響を受けない、長期間、無保守で連続測定す
ることができる濁度測定装置を実現する。 【構成】 濁りを測定する２台の光源と、散乱光を同時
に検出する２台の検出器と、光源を駆動する駆動回路
と、検出信号を駆動回路の同期信号と同期して分離復調
する同期検波回路と、同期検波出力の比を演算する除算
回路と、除算回路出力を乗算する乗算回路からなり、光
源の変化、検出器感度の変化ならびに光学窓の汚れの影
響を自動的に消去するよう光学機構を配置することを特
徴としたメンテナンスフリーの濁度測定装置である。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本実用新案は、河川、ダム、湖沼、海域等における濁りを測定する装置に関す るものである。特に、洪水時の一般河川、都市河川、ダムや工事水域等では、短 時間のうちに濁りが急激に変化する。このため、長期間無保守で測定できる濁度 測定装置が必要となる。また、これらの水域では、濁度測定装置そのものが汚染 され易いため、測定のたびに装置を清掃し校正する必要がない優れた機能をもつ 濁りの測定装置が要求される。

【０００２】

【従来の技術】

従来の濁りの測定方式には、測定する光が測定試料を透過する際に濁りにより 吸収、散乱され減衰した透過光強度を測定する透過光方式、散乱された散乱光強 度を測定する散乱光方式、透過光強度と散乱光強度を同時に測定する透過・散乱 光方式がある。

【０００３】 それぞれの方式の測定原理を表す光学構成を、透過光方式を図４、散乱光方式 を図５、透過・散乱光方式を図６に表す。

【０００４】 透過光方式の図４の符号３５は濁りを測定する試料、符号３６は試料を入れる セル、符号３７は光源、符号３８は光源の放射する光を集光レンズで平行な光束 にした測定光束、符号３９は光源の測定光束が試料に入射する光源光学窓、符号 ４０は試料を透過した測定光束が通過する受光光学窓、符号４１は透過光の光強 度を検出する検出器である。

【０００５】 透過光方式の濁りの濃度と透過光強度の関係は、ランバートベールの法則に従 い次式で表される。

【０００６】

【数１】

【０００７】 上記の数式において、Ｉ_Ｏは光源の光強度、Ｉ_Ｔは透過光強度、ｋは比例定数 、ｍは濁りの濃度、ｄは測定する試料の厚みである。ｗ_１は光源光学窓の透過率 、ｗ_２は受光光学窓の透過率、ｓは検出器の感度、Ｅは透過光強度の信号出力で ある。この数式のｅｘｐ（−ｋｍｄ）は試料そのものの透過率（Ｉ_Ｔ／Ｉ_Ｏ）を 表す。

【０００８】 透過光方式は、上記の数式から明らかなように信号出力は光源の強度、検出器 の感度の変化ならびに光学窓の汚れの影響を受ける。このため、測定のたびに光 学窓を清掃し、計器の校正を行う必要がある。

【０００９】 散乱光方式の、図５の符号４２は濁りを測定する試料、符号４３は試料を入れ るセル、符号４４は光源、符号４５は光源の放射する光を集光レンズで平行な光 束にした測定光束、符号４６は検出器の受光視野、符号４７は光源の測定光束を 試料に入射する光源光学窓、符号４８は検出器の受光視野での散乱光を受光する 受光光学窓、符号４９は散乱光の光強度を検出する検出器である。

【００１０】 散乱光方式の濁りの濃度と散乱光強度の関係は、次式で表される。

【００１１】

【数２】

【００１２】 上記の数式において、Ｉ_Ｏは光源光強度、Ｉ_Ｓは散乱光強度、ｋは比例定数、 ｍは濁りの濃度、ｄは測定する試料の厚みである。ｗ_１は光源光学窓の透過率、 ｗ_２は受光光学窓の透過率、ｓは検出器の感度、Ｅは散乱光強度の信号出力であ る。この数式において１−ｅｘｐ（−ｋｍｄ）は透過率１．０（１００％）から 試料の厚みｄの透過率を減算したもので、試料の散乱率を表す。

【００１３】 散乱光方式も、上記の数式から明らかなように透過光方式と同様に信号出力は 光源強度、検出器感度の変化ならびに光学窓の汚れの影響を受ける。このため、 透過光方式と同様の欠陥が生じる。

【００１４】 透過・散乱光方式の、図６の符号５０は濁りを測定する試料、符号５１は試料 を入れるセル、符号５２は光源、符号５３は光源の放射する光を集光レンズで平 行な光束にした測定光束、符号５４は散乱光検出器の受光視野、符号５５は光源 の測定光束を試料に入射する光源光学窓、符号５６は透過光検出器および散乱光 検出器の受光光学窓、符号５７は透過光の光強度を検出する検出器、符号５８は 散乱光の光強度を検出する検出器である。

【００１５】 透過・散乱光方式は、一般に検出する散乱光信号と透過光信号の比を演算して 濁りを測定する。濁りの濃度との関係は、次式で表される。

【００１６】

【数３】

【００１７】 上記の数式において、Ｉ_Ｏは光源強度、Ｉ_Ｔは透過光強度、Ｉ_Ｓは散乱強度、 ｋは透過、散乱の比例定数、ｍは濁りの濃度、ｄは測定する試料の厚みである。 ｗ_１は光源光学窓の透過率、ｗ_２は受光光学窓の透過率、ｓ_Ｔ、ｓ_Ｓは透過光検 出器と散乱光検出器の感度、Ｅは散乱光強度と透過光強度の比が演算された濁度 信号出力である。

【００１８】 透過・散乱光方式は、上記の数式から明らかなように共通の光源と厳密には透 過光と散乱光の光路が異なるがほぼ共通の光学窓を持つとみなし、測定される結 果は光源の強度の変化や光学窓の汚れの影響を受けない濁度計となる。しかしな がら、透過光、散乱光を受光する検出器の感度の変化が測定誤差となる。

【００１９】

【考案が解決しようとする課題】

本考案は、光源の強度の変化、検出器感度の変化ならびに光学窓の汚れの影響 を受けない長期間、無保守で連続測定することができる優れた機能をもった濁度 測定装置を実現するのが目的である。

【００２０】

【課題を解決するための手段】

本考案は、濁りを測定するための測定光束を作る２台の光源と、測定する試料 の濁りが測定光束を散乱した散乱光を同時に受光し光強度を検出する２台の検出 器と、光源を交互に駆動して２本の測定光束をつくる駆動回路と、２本の測定光 束に対する２台の検出器の信号を光源の駆動信号と同期して４系統の信号に分離 復調する同期検波回路と、４系統の同期検波出力の同一測定光束による同期検波 出力の比を演算する除算回路と、２本の測定光束の除算回路出力を乗算する乗算 回路からなり、さらに、光学機構を、２台の検出器の受光視野の位置が異なり、 かつ、２本の測定光束が２台の検出器の受光視野を透過するように構成して、乗 算回路の出力から濁度を得るようにした濁度測定装置である。

【００２１】 さらに、必要に応じて２台の検出器の間に測定光束の前方散乱光を制限するた めの光束制限板を設ける。

【００２２】 また、除算回路、乗算回路の代わりに、同期検波回路出力をアナログーデジタ ル変換するアナログーデジタル変換回路を付加して、デジタル変換したデータを コンピュータで比および乗算の演算を行うことができようにする。

【００２３】 光源は電子的に高速で駆動できる半導体レーザ等を利用し、光学系で平行光束 にして測定光束をつくる。光束制限板は光遮蔽板に測定光束の光束径とほぼ同等 の測定光束の通過孔を設けた構造にする。

【００２４】

【作用】

１本の測定光束の散乱光を２台の検出器で同時に検出し、得られる信号の比を 演算することで光束の光強度の変化が消去された濁度の関数を得ることができる 。２本の測定光束で得る各測定光束の濁度の関数を乗算することで検出器の感度 の相違、変化ならびに光学窓の透過率の相違、変化が消去された試料の濁度の関 数を得ることができる。このため、光源の光強度の変化、検出器感度の相違、変 化ならびに光学窓の汚れに影響されない濁りの測定が可能となり、長期間、無保 守で濁度を連続測定することのできる優れた機能をもつ濁度測定装置が実現でき る。

【００２５】

【実施例】

以下、図面により本考案の実施例を説明する。図１、図２は本考案の測定原理 を表す光学機構の具体例を示すものであって、図１は測定試料を入れる試料セル を側面から見たときの光学機構の構成であり、図２は試料セル２を上面から見た ときの光学機構の構成を表すものである。

【００２６】 野外で携帯使用する濁度測定装置には試料セルは必要でなく、防水構造に設計 、製作した機器を、直接、測定試料に浸潜して測定する。

【００２７】 図１の符号１〜１２は図２と同様である。符号１は濁りを測定する試料、符号 ２は試料を入れるセル、符号３〜４は光源、符号５〜６は光源３と光源４の放射 する光を集光レンズ１１と集光レンズ１２で平行な光束にした各々の測定光束、 符号７〜８は測定光束５および測定光束６の散乱光を検出する検出器１７と検出 器１８の各々の受光視野、符号９〜１０は光源３の測定光束５と光源４の測定光 束６が試料１に入射する各々の光学窓、符号１１〜１２は光源３、光源４の放射 する光を平行な測定光束５と測定光束６を作るための各々の集光レンズ、符号１ ３〜１４は検出器１７と検出器１８の受光視野の散乱光を受光する各々の光学窓 、符号１５〜１６は検出器１７と検出器１８の受光視野の散乱光を集光する各々 の集光レンズ、符号１７〜１８は散乱光を受光する検出器、符号１９は光束制限 板である。

【００２８】 図１の記号ｄは図２と同様である。記号ｄは、測定光束５線上における光学窓 ９と受光視野７の中央位置までの光束距離（光路長）と光束制限板と受光視野８ の中央位置までの光路長を表し、同様に、測定光束６線上における光学窓１０と 受光視野８の中央位置までの光路長と光束制限板と受光視野７の中央位置までの 光路長を表すもので全て等しい光路長を表す。また、図１のｈは、光学窓１３、 光学窓１４から測定光束５、測定光束６への鉛直距離を表し全て等しい距離を表 す。

【００２９】 光源３の測定光束５と光源４の測定光束６は、入射方向が互いに対向し、かつ 、互いに平行となるよう定めてある。検出器１７の受光視野７と検出器１８の受 光視野８は、集光レンズ１５と集光レンズ１６で同等の視野を形成する。受光視 野７の中心線ならびに受光視野８の中心線は、測定光束５と測定光束６に対する 距離が常に等しくなる位置に定めてある。測定光束５が光学窓９から入射し、受 光視野７の透過中央に到る距離はｄであり受光視野８の透過中央に到る距離は３ ｄである。同様に、測定光束６が光学窓１０から入射し受光視野８の透過中央に 到る距離はｄであり受光視野７の透過中央に到る距離は３ｄである。光学窓１３ 、光学窓１４から測定光束５と測定光束６への鉛直距離は全て等しい距離（ｈ） である。光束制限板１９は、光の遮蔽板に測定光束５および測定光束６の光束径 とほぼ同等の２個の測定光束の通過孔を設けて使用する。光束制限板１９は受光 視野７の中心と受光視野８の中心から等しい位置に測定光束が遮蔽されないで通 過できるよう配置してある。

【００３０】 以上の光学機構の構成により、測定光束５が受光視野７と受光視野８を透過す る試料の体積は等しく、同様に、測定光束６が受光視野８と受光視野７を透過す る試料の体積も等しくしなる。また、測定光束５の受光視野７における散乱光が 受光光学窓１３に到る試料の厚みは同光束の受光視野８における散乱光が受光光 学窓１４に到る厚みに等しく、かつ、測定光束６についても同様となる。光束制 限板１９は測定光束の入射する光学窓から光束制限板までの測定光束長の間に発 生する前方散乱光を遮蔽する機能をもち、かつ、測定光束が入射した光学窓から 最初に透過する受光視野と光束制限板を通過した後に透過する受光視野への前方 散乱光強度の割合を等しくする機能をもつが、前方散乱による誤差が許容できる 濁度測定装置には使用しない。

【００３１】 図３は本考案の実施例の電子回路構成であって、符号３〜４は図１、図２と同 様の光源である。符号１７〜１８は図１、図２と同様の検出器である。符号２０ 〜２１は光源３と光源４の各々の駆動回路、符号２２〜２３は光源３の測定光束 ５による受光視野７と受光視野８におけるの各々の散乱光、符号２４〜２５は光 源４の測定光束６による受光視野８と受光視野７におけるの各々の散乱光、符号 ２６〜２７は検出器１７と検出器１８の各々の信号増幅回路、符号２８〜２９は 光源３が駆動された時の検出器１７と検出器１８の散乱光信号を駆動回路２０の 同期信号で同期検波する各々の同期検波回路、符号３０〜３１は光源４が駆動さ れた時の検出器１７と検出器１８の散乱信号を駆動回路２１の同期信号で同期検 波する各々の同期検波回路、符号３２は同期検波回路２８と同期検波回路２９の 信号の比を演算出力する除算回路、符号３３は同期検波回路３１と同期検波回路 ３０の信号の比を演算出力する除算回路、符号３４は除算回路３２と除算回路 ３３の信号を乗算出力する乗算回路である。

【００３２】 同期検波回路２８〜３１には、検波信号を時間積分する回路が付加してあり、 散乱光強度に比例する平均化した信号を連続出力する。

【００３３】 また、除算回路３２〜３３、乗算回路３４の代わりに同期検波回路２８〜３１ の信号を直接アナログーデジタル変換し、除算、乗算をデジタル演算して出力す ることもできる。

【００３４】 図３の構成のもとで同期検波回路、除算回路、乗算回路の出力は以下のように なる。

【００３５】 以下に示す数式４〜数式１０における変数ｆ、Ｌ、ｒは、次のように定義する 。

【００３６】 受光視野７と受光視野８の試料を透過する測定光束５の厚みは等しく、この試 料の厚みをｆ_５とする。また、測定光束６についても同様とし、この試料の厚み をｆ_６とする。

【００３７】 測定光束５についての受光視野７と受光視野８の間の光路長（２ｄ）は、測定 光束６についての受光視野８と受光視野７の間の光路長（２ｄ）と等しい。この 光路長をＬとする。

【００３８】 測定光束５の受光視野７における散乱光が受光光学窓１３に到る試料の厚みは 同光束の受光視野８における散乱光が受光光学窓１４に到る厚みに等しく、かつ 、測定光束６についても同様である。この試料の厚みをｒとする。

【００３９】 光源３が駆動されている時の検出器１７が受光する散乱光強度信号を出力する 同期検波回路２８の出力は次式で表される。

【００４０】

【数４】

【００４１】 上記の数式において、Ｉ_Ｏ３は光源３の光放射強度、Ｉ_Ｓ７は受光視野７での 測定光束５の散乱光強度、ｋ_１は透過比例定数、ｋ_２は散乱比例定数、ｍは濁り の濃度、ｄ_７は測定光束５が受光視野７の透過中央に到達するまでの試料の厚み である。 ｆ_５は受光視野７の中を透過する測定光束５の試料の厚み、ｒは散乱光Ｉ_Ｓ７が 光学窓１３に到達するまでの試料の厚み、ｗ_１３は光学窓１３の透過率、ｓ_１７ は検出器１７の感度、Ｅ_２８は同期検波回路２８の信号出力である。上記の数式 における、Ｉ_Ｏ［ｅｘｐ｛−ｋ_１ｍｄ_７｝］の項は測定光束５が受光視野７の透 過中央に到達した測定光束の光強度を表し、［１−ｅｘｐ｛−ｋ_２ｍｆ_５｝］の 項は透過中央の測定光束の散乱率を表す。また、［ｅｘｐ｛−ｋ_１ｍｒ｝］の項 は散乱光Ｉ_Ｓ７が光学窓１３に到達する透過率を表す。以下に表す数式５、数式 ６、数式７の同じ項は、それぞれの測定光束、受光視野、光路長および光学窓に おいて同様の意味を表す。

【００４２】 同様に、光源３が駆動されている時の検出器１８が受光する散乱光強度信号を 出力する同期検波回路２９の出力は次式で表される。

【００４３】

【数５】

【００４４】 上記の数式において、Ｉ_Ｏ３は光源３の光放射強度、Ｉ_Ｓ８は受光視野８での 測定光束５の散乱光強度、ｋ_１は透過比例定数、ｋ_２は散乱比例定数、ｍは濁り の濃度、ｄ_７は測定光束５が受光視野７の透過中央に到達するまでの試料の厚み である。Ｌは受光視野７の透過中央から受光視野８の透過中央までの距離（光路 長）、ｆ_５は受光視野８の中を透過する測定光束５の試料の厚み、ｒは散乱光Ｉ_Ｓ８ が光学窓１４に到達するまでの試料の厚み、ｗ_１４は光学窓１４の透過率、 ｓ_１８は検出器１８の感度、Ｅ_２９は同期検波回路２９の信号出力である。

【００４５】 光源４が駆動されている時の検出器１８が受光する散乱光強度信号を出力する 同期検波回路３１の出力は次式で表される。

【００４６】

【数６】

【００４７】 上記の数式において、Ｉ_Ｏ４は光源４の光放射強度、Ｉ_Ｓ８は受光視野８での 測定光束６の散乱光強度、ｋ_１は透過比例定数、ｋ_２は散乱比例定数、ｍは濁り の濃度、ｄ_８は測定光束６が受光視野８の透過中央に到達するまでの試料の厚み である。ｆ_６は受光視野８の中を透過する測定光束６の試料の厚み、ｒは散乱光 Ｉ_Ｓ８が光学窓１４に到達するまでの試料の厚み、ｗ_１４は光学窓１４の透過率 、ｓ_１８は検出器１８の感度、Ｅ_３１は同期検波回路３１の信号出力である。

【００４８】 同様に、光源４が駆動されている時の検出器１７が受光する散乱光強度信号を 出力する同期検波回路３０の出力は次式で表される。

【００４９】

【数７】

【００５０】 上記の数式において、Ｉ_Ｏ４は光源３の光放射強度、Ｉ_Ｓ７は受光視野７での 測定光束６の散乱光強度、ｋ_１とｋ_２は比例定数、ｍは濁りの濃度、ｄ_８は測定 光束６が受光視野８の透過中央に到達するまでの試料の厚みである。Ｌは受光視 野８の透過中央から受光視野７の透過中央までの距離（光路長）、ｆ_６は受光視 野７の中を透過する測定光束６の試料の厚み、ｒは散乱光Ｉ_Ｓ７が光学窓１３に 到達するまでの試料の厚み、ｗ_１３は光学窓１３の透過率、ｓ_１７は検出器１７ の感度、Ｅ_３０は同期検波回路３０の信号出力である。

【００５１】 除算回路３２の出力となる、同期検波回路２８と同期検波回路２９の信号の比 は、次式で表される。

【００５２】

【数８】

【００５３】 上記の演算過程で、光源の光強度の変動と散乱光が光学窓に到達する透過率が 消去される。次に示す数式９の演算過程においても同様の効果が得られる。

【００５４】 除算回路３３の出力となる、同期検波回路３１と同期検波回路３０の信号の比 は、次式で表される。

【００５５】

【数９】

【００５６】 乗算器３４の出力となる、除算回路３２と除算回路３３の信号の乗算結果は、 次式で表される。

【００５７】

【数１０】

【００５８】 上記の数式において、Ｅ_Ｏは濁度の測定信号出力である。濁度測定信号出力とな る数式１０の演算結果から、受光視野７の中心と受光視野８の中心間の光路長（ Ｌ）の２倍の厚みの試料に相当する透過率の逆数のみで表される濁りの濃度の関 数が得られることとなる。この関数には、光源の光強度、検出器の感度の相違お よび変化ならびに光学窓の透過率の変化に関する変数は、全て、消去されて含ま れていない。このため、光源の光強度、検出器の感度の相違および変化ならびに 光学窓の透過率の変化に影響されない、濁りの濃度（濁度）の測定信号を得るこ とができることとなる。

【００５９】

【考案の効果】

従来の透過光方式、散乱光方式、ならびに透過・散乱光方式の濁度計は、光源 の変化、検出器感度の変化ならびに光学窓の汚れによる測定誤差が生じた。特に 、光学窓の汚れは大きな測定誤差の原因となることから、従来の装置は、長期間 の濁度の連続測定を行うために、大掛かりな洗浄機構や複雑な付加装置を必要と した。このため、測定のための装置、施設の費用が非常に高価になった。

【００６０】 本考案の濁度測定装置は、光源の放射強度の変化、検出器の温度係数等による 感度の変化ならびに光学窓の汚れに影響されない濁度の測定を行うことができる 。

【００６１】 このため、本考案の濁度測定装置による濁度測定作業は、測定のたびに光学窓 を清掃し計器を校正するための作業を必要としない、簡易な濁度の測定を可能に した。さらに、濁度の自動測定においては、光学窓を自動洗浄するための複雑な 機構装置を必要としないで長期間、無保守で濁度を連続測定することのできるメ ンテナンスフリーの濁度測定装置を製作することができた。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の光学機構の構成、構造、系統を示した
説明図であり、試料セルを側面からた見たときを表す。

【図２】本考案の光学機構の構成、構造、系統を示した
説明図であり、試料セルを上面から見たときを表す。

【図３】本考案の電子回路の構成、系統を示した説明図
である。

【図４】従来の透過光方式の測定原理を示した説明図で
ある。

【図５】従来の散乱光方式の測定原理を示した説明図で
ある。

【図６】従来の透過・散乱光方式の測定原理を示した説
明図である。

【符号の説明】

１‥‥‥試料、 ２‥‥‥試料セル、 ３
‥‥‥光源、４‥‥‥光源、 ５‥‥‥測定光
束、 ６‥‥‥測定光束、７‥‥‥受光視野
８‥‥‥受光視野、 ９‥‥‥光学窓、１０‥‥
‥光学窓、 １１‥‥‥光学レンズ、 １２‥‥‥
光学レンズ、１３‥‥‥光学窓、 １４‥‥‥光学
窓、 １５‥‥‥集光レンズ、１６‥‥‥集光レン
ズ、 １７‥‥‥検出器、 １８‥‥‥検出器、１
９‥‥‥光束制限板、 ２０‥‥‥駆動回路、 ２１
‥‥‥駆動回路、２２‥‥‥散乱光、 ２３‥‥‥
散乱光、 ２４‥‥‥散乱光、２５‥‥‥散乱光、
２６‥‥‥増幅回路 ２７‥‥‥増幅回路、
２８‥‥‥同期検波回路、２９‥‥‥同期検波回路、３
０‥‥‥同期検波回路、３１‥‥‥同期検波回路、３２
‥‥‥除算回路、 ３３‥‥‥除算回路、３４‥‥‥
乗算回路、 ３５‥‥‥試料、 ３６‥‥‥試
料セル、３７‥‥‥光源、 ３８‥‥‥測定光
束、 ３９‥‥‥光源光学窓、４０‥‥‥受光光学
窓、 ４１‥‥‥検出器、 ４２‥‥‥試料、４３
‥‥‥試料セル、 ４４‥‥‥光源、 ４５‥
‥‥測定光束、４６‥‥‥受光視野、 ４７‥‥‥光
源光学窓、 ４８‥‥‥受光光学窓、４９‥‥‥検出
器、 ５０‥‥‥試料、 ５１‥‥‥試料セ
ル、５２‥‥‥光源、 ５３‥‥‥測定光束、
５４‥‥‥受光視野、５５‥‥‥光源光学窓、 ５６
‥‥‥受光光学窓、 ５７‥‥‥検出器、５８‥‥‥検
出器、

Claims (3)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 濁りを測定するための測定光束を作る２
   台の光源と、測定する試料の濁りが測定光束を散乱した
   散乱光を同時に受光し光強度を検出する２台の検出器
   と、光源を交互に駆動して２本の測定光束をつくる駆動
   回路と、２本の測定光束に対する２台の検出器の信号を
   光源の駆動信号と同期して４系統の信号に分離復調する
   同期検波回路と、４系統の同期検波出力の同一測定光束
   による２系統の同期検波出力の比を演算する除算回路
   と、２本の測定光束の除算回路出力を乗算する乗算回路
   からなり、さらに、光学機構を、２台の検出器の受光視
   野の位置が異なり、かつ、２本の測定光束が２台の検出
   器の受光視野を透過するように構成して、乗算回路の出
   力から濁度を得るようにした濁度測定装置。
2. 【請求項２】 ２台の検出器の間に測定光束の前方散乱
   光を制限する光束制限板を設けた実用新案登録請求の範
   囲第１項記載の濁度測定装置。
3. 【請求項３】 除算回路、乗算回路の代わりに、同期検
   波回路出力をアナログーデジタル変換するアナログーデ
   ジタル変換回路を付加して、デジタル変換したデータを
   コンピュータで比および乗算の演算を行う実用新案登録
   請求の範囲第１項記載の濁度測定装置。