JP3001361B2 - ダイボンダーのチップ認識位置決め機構 - Google Patents
ダイボンダーのチップ認識位置決め機構Info
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
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Description
用するダイボンダーのチップ認識位置決め機構に関す
る。
め機構は主なものとして下記の3方式があった。
チップ5を保持する粘着シート4を貼り付けた金属又は
プラスチック製のリング3を載せ、モーター8,8a,
8bにより駆動されるX−Y−θテーブル2と、X−Y
−θテーブル上方に配置されたカメラ1と、カメラで認
識した画像を処理する画像処理装置6と、認識したチッ
プと、あらかじめ入力していたチップとのズレ量を算出
する演算処理装置7を有している。
図5に示すフローチャートの様に、まずX−Y−θテー
ブルに載せられた金属又はプラスチック製のリングによ
り保持される粘着シート上のチップをX−Y−θテーブ
ル上方に設置されたカメラにより認識し、画像処理を行
なった後あらかじめ入力していたチップとのズレ量を演
算処理装置にて算出し、X−Y−θテーブルを駆動させ
るモーターをフィードバック制御することにより位置決
めを行なう。
認識し画像処理を行なった際、位置決めを行なうチップ
の隣接する位置のチップを図6の認識画像図に示すよう
に演算処理装置にて位置を認識し、そのチップの外形位
置より良,不良マーク判定用エリア9,9aを算出し
良,不良マークの判定を行なう。
位置決めを現在位置決めを行なっているチップに引き続
き行ない、不良と判定した場合はこの隣接するチップの
位置決め動作を行なわないという制御を行なっていた。
ップ5を保持する粘着シート4を貼り付けた金属又はプ
ラスチック製のリング3を載せモーター8,8a,8b
により駆動されるX−Y−θテーブル2と、X−Y−θ
テーブル上方に配置された複数のカメラ1,1aと、認
識した画像を処理する画像処理装置6と、認識したチッ
プとあらかじめ入力していたチップとのズレ量を算出す
る演算処理装置7を有している。
8に示すフローチャートの様に、まずX−Y−θテーブ
ルに載せられた金属又はプラスチック製のリングにより
保持される粘着シート上のチップをX−Y−θテーブル
上方に設置されたカメラ1により認識し、画像処理を行
なった後あらかじめ入力していたチップとのズレ量を演
算処理装置にて算出しX−Y−θテーブルを駆動させる
モーターをフィードバック制御することにより位置決め
を行なう。
り認識し画像処理を行なった際、位置決めを行なうチッ
プの隣接する位置のチップを別のカメラ1aで認識し画
像処理を行なった後演算処理装置にて位置を認識し、そ
のチップの外形位置より良,不良マーク判定用エリアを
算出し良、不良マークの判定を行なう。
様の制御を行なっていた。
チップ5を保持する粘着シート4を貼り付けた金属又は
プラスチック製のリング3を載せモーター8,8a,8
bにより駆動されるX−Y−θテーブル2と、X−Y−
θテーブル上方に設置されたカメラ1と、認識した画像
を処理する画像処理装置6と、認識したチップとあらか
じめ入力していたチップとのズレ量を算出する演算処理
装置7と、前工程でのチップの良,不良の結果を入力し
たフロッピーディスク又はメモリーカードより結果を読
み取るフロッピーディスクドライブ又はメモリーカード
リーダー10と、フロッピーディスクの結果とリングの
照合を行なう為のバーコードを読み取るバーコードリー
ダー11を有している。
10に示すフローチャートの様に、フロッピーディスク
ドライブ又はメモリーカードリーダーにより前工程での
チップの良、不良の結果を読み取る。次にリングのバー
コードをバーコードリーダーで読みとり、これに対応す
る良、不良の結果を先に読み取っていた結果より抽出
し、良の情報を得たペレットの場所にX−Y−θテーブ
ルを動作させ、金属又はプラスチック製のリングにより
保持される粘着シート上のチップをX−Y−θテーブル
上方に設置されたカメラにより認識し、画像処理を行な
った後あらかじめ入力していたチップとのズレ量を演算
処理装置にて算出し、X−Y−θテーブルを駆動させる
モーターをフィードバック制御することにより位置決め
を行なっていた。
位置決め機構のうち、第1の方式ではカメラにより認識
した位置決めを行なうチップと隣接するチップとの画像
処理を同時に行なっていた為、照度ムラ等により隣接す
るチップの画像処理後の像が歪み位置決めができない
為、良、不良マーク判定用エリアが算出できず、この結
果、良、不良マークの判定ができないので装置の処理能
力が低下するという欠点があった。
接するペレットの間隔に対しX−Y−θテーブル上方に
設置されたカメラ1、カメラ1aの間隔が広い為、隣接
するペレットを斜めから認識する様になり位置決め正確
にできないという欠点があった。
ー,フロッピーディスクユニット又はメモリカードリー
ダーを有していなくてはならず、装置が高額になる。
又、情報の処理照合時間が必要な為、装置の製品処理ス
ピードが低下するという欠点があった。
チップ認識位置決め機構は、チップを保持する粘着シー
トを貼り付けた金属又はプラスチック製のリングを載せ
モーターにより駆動されるX−Y−θテーブルと、X−
Y−θテーブル上方に設置されたカメラと、認識した画
像を処理する画像処理装置と、認識したチップとあらか
じめ入力していたチップとのズレ量を算出する演算処理
装置を有するダイボンダーのチップ認識位置決め機構に
おいて、画像処理装置は、カメラにより位置決め対象の
位置決めチップ及び位置決めチップと隣接した隣接チッ
プを同時に認識された画像を受け、その画像の位置決め
チップ及び隣接チップの画像処理を別々に且つ同時に行
ない、隣接チップの良、不良マークの判定用エリアに対
する判定を位置決めチップの外形認識と独立して認定す
ることを特徴とする。
る。図1は本発明の実施例1のフローチャートである。
なお、本発明を適用し得るダイボンダーの構成図は、従
来技術を示す図4と同様である。図1のフローチャート
のごとく、カメラ1にてX−Y−θテーブル2に載せら
れた金属又はプラスチック製のリング3により保持され
る粘着シート4上の位置決めを行なうチップ5とこの位
置決めを行なうチップに隣接するチップとを認識する。
認識した影像を画像処理装置6に取り込み、位置決めを
行なうチップと隣接するチップの画像処理を個々に同時
に実施する。
チップの現在の位置とあらかじめ入力していたチップと
のズレ量を演算処理装置7にて算出し、そのズレ量をX
−Y−θテーブルを駆動するモーター8,8a,8bに
伝達しフィードバック制御を行なうと同時に、位置決め
を行なうチップに隣接するチップの画像処理を行なった
像のあらかじめ設定しておいた良、不良マークの判定用
エリアに対する判定を実施する。
後、次のチップの位置決め動作を行なう際、先に実施し
た良、不良マークの判定結果より不良と判定したチップ
は位置決めを行なわず、次チップの位置決め動作を行な
う。
して説明する。図2は本発明の実施例2のフローチャー
トである。図3は本発明の実施例2の構成図である。カ
メラ1にてX−Y−θテーブル2に載せられた金属又は
プラスチック製のリング3により保持される粘着シート
4上の位置決めを行なうチップ5と、この位置決めを行
なうチップに隣接する複数のチップ5a,5bとを認識
する。認識した影像を画像処理装置6に取り込み、位置
決めを行なうチップと隣接する複数のチップとの画像処
理を個々に同時に実施する。
チップの現在の位置とあらかじめ入力していたチップと
のズレ量を演算処理装置7にて算出し、そのズレ量をX
−Y−θテーブルを駆動するモーター8,8a,8bに
伝達しフィードバック制御を行なうと同時に、位置決め
を行なうチップに隣接する複数のチップの画像処理を行
なった像についてあらかじめ設定しておいたそれぞれの
良、不良マークの判定用エリアに対する判定を実施す
る。
後次のチップの位置決め動作を行なう際、先に実施した
カメラの一視野で認識できる複数個のチップに対する
良、不良マークの判定結果により不良と判定したチップ
の位置決めは行なわず、次チップの位置決め動作を行な
う。
て認識した位置決めするチップと隣接するチップとの画
像処理を別々に実施し、且つ隣接するチップの良、不良
マークの判定用エリアに対する判定が位置決めチップの
外形認識と独立してできるので、照度ムラ等により発生
する良、不良マークの判定結果の信頼性を向上させ、装
置の処理能力の低下を防止できるという効果がある。ま
た、装置の処理スピードは、粘着シート上のチップの良
品率により異なるが、図11に示す良品率と装置の処理
スピードの関係の様に良品率が同じならば処理時間が短
かくなるという効果を有する。
構成図である。
図である。
の方式1のフローチャートである。
図である。
図である。
比較したグラフである。
ドリーダー
Claims (1)
- 【請求項1】 チップを保持する粘着シートを貼り付け
た金属又はプラスチック製のリングを載せモーターによ
り駆動されるX−Y−θテーブルと、X−Y−θテーブ
ル上方に設置されたカメラと、認識した画像を処理する
画像処理装置と、認識したチップとあらかじめ入力して
いたチップとのズレ量を算出する演算処理装置を有する
ダイボンダーのチップ認識位置決め機構において、前記
画像処理装置は、前記カメラにより位置決め対象の位置
決めチップ及び前記位置決めチップと隣接した隣接チッ
プが同時に認識された画像を受け、その画像の前記位置
決めチップ及び前記隣接チップの画像処理を別々に且つ
同時に行ない、前記隣接チップの良、不良マークの判定
用エリアに対する判定を前記位置決めチップの外形認識
と独立して認定することを特徴とするダイボンダーのチ
ップ認識位置決め機構。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31862693A JP3001361B2 (ja) | 1993-12-17 | 1993-12-17 | ダイボンダーのチップ認識位置決め機構 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31862693A JP3001361B2 (ja) | 1993-12-17 | 1993-12-17 | ダイボンダーのチップ認識位置決め機構 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07176554A JPH07176554A (ja) | 1995-07-14 |
JP3001361B2 true JP3001361B2 (ja) | 2000-01-24 |
Family
ID=18101239
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31862693A Expired - Fee Related JP3001361B2 (ja) | 1993-12-17 | 1993-12-17 | ダイボンダーのチップ認識位置決め機構 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3001361B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4979989B2 (ja) * | 2006-06-07 | 2012-07-18 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | チップの実装装置及び実装方法 |
-
1993
- 1993-12-17 JP JP31862693A patent/JP3001361B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07176554A (ja) | 1995-07-14 |
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