JP2985056B2 - Ic試験装置 - Google Patents
Ic試験装置Info
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
(以下、DUTという。)によりICの試験を行なう場
合のIC試験装置の概念を示したブロック図、図5はそ
の動作を示したタイミングチャートである。以下、被試
験ICとしてカウンタを想定して説明を行なう。
からクロック信号aが入力され、所定のカウント値に達
すると被試験IC21の出力信号bが反転する。記憶回
路23には、被試験IC21が正常であれば被試験IC
21から出力されるであろう値(以下、期待値とい
う。)が、クロック信号aの発生タイミング毎に記憶さ
れている。比較回路24では、被試験IC21の出力信
号bと記憶回路23に記憶されている期待値とが、クロ
ック信号aに同期したタイミングc毎に比較される。比
較結果は制御回路25に送られ、上記すべてのタイミン
グで上記出力信号bと上記期待値とが一致すれば、被試
験IC21は正常であると判断される。
置では、クロック信号aに同期したすべてのタイミング
cで被試験IC21からの出力信号bと記憶回路23か
らの期待値とを比較しなければならない。したがって、
このような試験をソフトウエア的に行なう場合には多大
な時間が必要となる。また、ハードウエア的に行う場合
には試験回路の規模が膨大なものとなる。
しかも短時間で試験を行なうことが可能なIC試験装置
を提供することである。
置は、被試験ICの被試験出力の出力状態の反転に応答
して反転検出を示す出力を発生、保持するものであり、
当該保持された出力状態をリセット可能な検出回路と、
上記被試験ICの上記被試験出力の出力状態が反転する
ためのクロック数よりも一つ少ない数のクロックを上記
被試験ICに入力したときの上記被試験出力の出力状態
および上記検出回路の出力状態を予め設定された値と比
較する第1の比較動作を行うとともに、上記被試験IC
の上記被試験出力の出力状態が反転するためのクロック
数と同数のクロックを上記被試験ICに入力したときの
上記被試験出力の出力状態および上記検出回路の出力状
態を予め設定された値と比較する第2の比較動作を行う
比較回路と、上記比較回路における上記第1及び第2の
比較動作の比較結果に基いて上記被試験ICの良否を判
定するとともに、上記第1の比較動作の後及び第2の比
較動作の後に上記検出回路をリセットする判定回路とを
有する。
に係わるIC試験装置の実施の形態について説明する。
を行なう場合のIC試験装置の概念を示したブロック図
である。以下の説明では、被試験IC11としてカウン
タを想定し、このカウンタはn個のクロックが入力され
る毎にその出力状態が反転するものとする。
らの制御信号を受けて被試験IC11へクロック信号a
を出力するものである。検出回路13は、被試験IC1
1から出力される出力信号bの反転の有無を検出するも
のであり、被試験IC11での正常なカウント動作に基
く出力信号bの反転動作の他、グリッジノイズ等の瞬間
的な反転動作も検出する。この検出回路13の詳細は図
2に示した通りであり、D型フリップフロップおよびゲ
ートから構成されている。なお、図2に示した信号b1
およびb2は論理的には全く同一のものであり、したが
って図1ではこれらの信号b1およびb2を特に区別を
せずに信号bとしている。記憶回路14は、被試験IC
11が正常であれば被試験IC11から出力されるであ
ろう値(B値という。)および検出回路13から出力さ
れるであろう値(D値という。以下、B値およびD値を
合わせて期待値という。)を記憶するものである。比較
回路15は、被試験IC11からの出力信号bおよび検
出回路13からの出力信号dと記憶回路14に記憶され
ている期待値BおよびDとを所定のタイミングで比較
し、その比較結果を制御回路16に送出するものであ
る。制御回路16は、例えばパーソナルコンピュータ等
で構成され、クロック発生回路12、検出回路13およ
び記憶回路14に所定の制御信号を送出するとともに、
比較回路15からの比較結果を受けて被試験IC11の
良否を判定するものである。
装置の動作を図3に示したタイミングチャートを参照し
て説明する。
6からの制御信号により(n−1)個のクロック信号a
が連続的に発生し、このクロック信号aは被試験IC1
1に入力される。すなわち、被試験IC11の出力状態
が反転するクロック数nよりも一つ少ない数のクロック
が被試験IC11に入力されるわけである。この段階
で、被試験IC11からの出力信号bおよび検出回路1
3からの出力信号dと記憶回路14に記憶されている期
待値BおよびDとの異同を比較回路15で比較し(以
下、この段階の比較動作を反転前の比較動作とい
う。)、その比較結果が制御回路16に送られる。被試
験IC11の動作が正常であれば、図3に示すように信
号bおよびdはともに論理値“0”であり、記憶回路1
4に記憶されている期待値BおよびDと一致する。被試
験IC11の動作が正常でなく、例えば被試験IC11
の出力がすでに反転している場合やグリッジノイズが発
生した場合には、信号bの値と期待値Bとの間あるいは
信号dの値と期待値Dとの間において、少なくとも一方
は不一致となる。比較動作が終了すると、制御回路16
からの制御信号cにより検出回路13がリセットされる
(図2に示した二つのD型フリップフロップがリセット
される。)。リセット動作終了後、制御回路16からの
制御信号によりクロック発生回路12からクロック信号
aが1クロックだけ生じ、このクロック信号aが被試験
IC11に入力される。被試験IC11の動作が正常で
あれば、このクロック信号により被試験IC11の出力
信号bが論理値“0”から“1”へと反転する。この段
階で再び、被試験IC11からの出力信号bおよび検出
回路13からの出力信号dと記憶回路14に記憶されて
いる期待値BおよびDとの異同を比較回路15で比較し
(以下、この段階の比較動作を反転後の比較動作とい
う。)、その比較結果が制御回路16に送られる。被試
験IC11の動作が正常であれば、図3に示すように信
号bおよびdはともに論理値“1”であり、記憶回路1
4に記憶されている期待値BおよびDと一致する。被試
験IC11の動作が正常でなく、例えば被試験IC11
の出力が反転していない場合には、信号bの値と期待値
Bとの間および信号dの値と期待値Dとの間で不一致が
生じる。比較動作が終了すると、制御回路16からの制
御信号cにより検出回路13が再びリセットされる。
発生回路12から(n−1)個のクロック信号aが生
じ、上記と同様のシーケンスが行なわれる。そして、反
転前の比較動作において、被試験IC11の動作が正常
であれば、図3に示すように信号bおよびdはそれぞれ
論理値“1”および“0”であり、記憶回路14に記憶
されている期待値BおよびDと一致する。また、反転後
の比較動作において、被試験IC11の動作が正常であ
れば、図3に示すように信号bおよびdはそれぞれ論理
値“0”および“1”であり、記憶回路14に記憶され
ている期待値BおよびDと一致する。
動作が行なわれ、信号bおよびdの値と期待値Bおよび
Dとが比較される。そして、制御回路16により、すべ
ての比較動作において信号bおよびdの値と期待値Bお
よびDとが一致すればその被試験IC11は正常すなわ
ち良品と判定され、一つでも不一致があればその被試験
IC11は不良品と判定される。
装置では、(n−1)個のクロックを連続して発生さ
せ、その間は期待値との比較動作は行なわない。したが
って、n個のクロックのうち(n−1)個のクロックを
高速で発生させることができ、簡単なハードウエア構成
であるにもかかわらず、短時間で試験を行なうことが可
能となる。また、検出回路13により、グリッジノイズ
が発生する不良も発見することができる。
ウンタを想定したが、特に順序回路を多く含む被試験I
Cに対して本IC試験装置は好適である。
の出力状態の反転が予測されるクロック及びその1つ前
のクロックにおける実際の被試験出力の出力状態がそれ
ぞれの予測値と比較される。このため、簡単なハードウ
エア構成であるにもかかわらず、短時間で試験を行なう
ことが可能となる。さらに、反転が予測されるクロック
タイミングの前後における被試験出力の出力状態の反転
の有無が検出回路に保存され、これらについても予測値
と比較される。このため、実際に被試験出力の出力状態
の比較動作が行われない期間における異常をも判定可能
であり、しかもクロックに同期した被試験出力の出力状
態と予測値の比較では検出不可能なグリッジノイズをも
検出可能となる。
ック図
ト
たブロック図
ト
Claims (1)
- 【請求項1】 被試験ICの被試験出力の出力状態の反
転に応答して反転検出を示す出力を発生、保持するもの
であり、当該保持された出力状態をリセット可能な検出
回路と、 上記被試験ICの上記被試験出力の出力状態が反転する
ためのクロック数よりも一つ少ない数のクロックを上記
被試験ICに入力したときの上記被試験出力の出力状態
および上記検出回路の出力状態を予め設定された値と比
較する第1の比較動作を行うとともに、上記被試験IC
の上記被試験出力の出力状態が反転するためのクロック
数と同数のクロックを上記被試験ICに入力したときの
上記被試験出力の出力状態および上記検出回路の出力状
態を予め設定された値と比較する第2の比較動作を行う
比較回路と、 上記比較回路における上記第1及び第2の比較動作の比
較結果に基いて上記被試験ICの良否を判定するととも
に、上記第1の比較動作の後及び第2の比較動作の後に
上記検出回路をリセットする判定回路とを有することを
特徴とするIC試験装置。
Priority Applications (2)
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---|---|---|---|
JP7253479A JP2985056B2 (ja) | 1995-09-29 | 1995-09-29 | Ic試験装置 |
US08/721,428 US5818849A (en) | 1995-09-29 | 1996-09-27 | IC testing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7253479A JP2985056B2 (ja) | 1995-09-29 | 1995-09-29 | Ic試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0997196A JPH0997196A (ja) | 1997-04-08 |
JP2985056B2 true JP2985056B2 (ja) | 1999-11-29 |
Family
ID=17251963
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7253479A Expired - Fee Related JP2985056B2 (ja) | 1995-09-29 | 1995-09-29 | Ic試験装置 |
Country Status (2)
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- 1995-09-29 JP JP7253479A patent/JP2985056B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-09-27 US US08/721,428 patent/US5818849A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
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