JP2945467B2 - 機械高測定装置 - Google Patents

機械高測定装置

Info

Publication number
JP2945467B2
JP2945467B2 JP32601790A JP32601790A JP2945467B2 JP 2945467 B2 JP2945467 B2 JP 2945467B2 JP 32601790 A JP32601790 A JP 32601790A JP 32601790 A JP32601790 A JP 32601790A JP 2945467 B2 JP2945467 B2 JP 2945467B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
axis
angle
telescope
reflecting member
collimating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP32601790A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH04198809A (ja
Inventor
章茂 白沢
義男 堀川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TOPUKON KK
Original Assignee
TOPUKON KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TOPUKON KK filed Critical TOPUKON KK
Priority to JP32601790A priority Critical patent/JP2945467B2/ja
Publication of JPH04198809A publication Critical patent/JPH04198809A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2945467B2 publication Critical patent/JP2945467B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は測量に用いる機械のための機械高測定装置に
関する。
[従来の技術] 測量機械を使用する作業において、機械高を知る必要
がある。この機械高とは、望遠鏡の回転中心(機械中心
点)から地盤に設けられれた基準点までの距離をいう。
この回転中心は望遠鏡の視準軸上にある。従来機械高は
巻尺、コンベックス等により測定していた。
しかし、巻尺やコンベックス等を用いる測定作業で
は、目盛りの0点を固定する人と、測定位置の目盛を読
む人の少くとも二人の作業員が必要である。
[発明が解決しようとする課題] このように、機械高の測定に巻尺、コンベックス等の
補助的手段を用いるので測定作業が煩雑になり、また作
業員の読取り誤差に起因する測定誤差が生じてしまうと
いう問題があった。このことは測定機械の高性能化、高
精度化の著しい現在において重大な問題である。
この発明の目的は高精度で容易に機械高を測定できる
機械高測定装置を提供するものである。この発明の要旨
は特許請求の範囲に記載の機械高測定装置を要旨として
いる。
[課題を解決するための手段] 第1図と第3図を参照する。
望遠鏡1は観測しようとする基準点Qを視準するため
に水平中心軸L1の回りに回動可能に支持されている。反
射部材5としての反射ミラーは、機械中心点Oからあら
かじめ定められた距離Dのところに設けられていて、望
遠鏡1の視準軸L3を反射する。そして反射部材5は、反
射された視準軸L4が機械中心点Oを通る鉛直線L2と交わ
るような角度で配置してある。
検出手段4は鉛直線L2に対する角度Aまたは望遠鏡1
の視準軸L3の水平軸L5に対する角度A1を検出する。検出
手段7は、視準軸L3に対する反射した視準軸L4がなす角
度Bを検出する。
機械中心点Oを通る鉛直線L2上に設けられた基準点Q
を反射部材5を介して望遠鏡1により視準したときに、
演算部8は、望遠鏡1の鉛直角Aまたは高度角A1と、視
準軸L3と反射部材5により反射した視準軸L4とがなす角
度Bと、そして機械の中心点Oから反射部材5までのあ
らかじめ定められた距離Dに基づき機械高Lを算出す
る。
第5図と第6図では、測量機械の望遠鏡1に光波距離
測定手段100を設けて機械高Lを自動的に測定する。
検出手段としての光波距離測定手段100は、基準点Q
と機械中心点Oとの間の距離D+D1を反射部材5を介し
て検出する。
演算部8は機械の中心点Oを通る鉛直線L2上に設けら
れたこの基準点Qを、反射部材5を介して望遠鏡1によ
り視準したときに、光波距離測定手段100による機械中
心点Oから基準点Qまでの距離D1+Dの検出値と、鉛直
軸L2と視準軸L3とがなす角度Aまたは視準軸L3と反射部
材5による反射視準軸L4とがなす角度Bと、そして機械
中心点Oからの反射部材5までのあらかじめ定められた
距離Dに基づき、機械高Lを算出するようになってい
る。
[作 用] 測量作業中に、機械高Lの測定が、望遠鏡1で基準点
Qを視準するという単純作業だけで行える。
[実 施 例] 第1図に示す測量機械は、本発明の機械高測定装置の
実施例を有するデジタルトランシットである。
デジタルトランシットは、望遠鏡1と、托架部2と、
基盤3とから構成されている。托架部2は支柱2a,2bを
有する。支柱2a,2bには望遠鏡1が水平中心軸L1を中心
にインデックス可能に回動自在に支持されている。基盤
3は托架部2を鉛直軸L2に関してインデックス可能に回
動自在に支持している。水平中心軸L1には機械中心点O
がある。基盤3は図示しない通常の三脚に支持されてい
る。
支柱2bには、望遠鏡1の回転角度から望遠鏡1の鉛直
角A(第3図参照)あるいは高度角A1(第4図参照)を
読み取るためのエンコーダ4が内蔵されている。このエ
ンコーダ4は、インデックスコード板4bと、主コード板
4aと、発光部4dと、受光部4cとから構成される。
インデックスコード板4bは望遠鏡1に設けられてお
り、望遠鏡1の回転とともに回る。主コード板4aは支柱
2bに固定されている。発光部4dは主コード板4aとインデ
ックスコード板4bを照射する。主コード板4aとインデッ
クスコード板4bを通った光は受光部4cに受光される。
望遠鏡1には支持部6が固定されている。支持部6は
望遠鏡1の光軸ともいう視準軸L3に平行に延びている。
この支持部6の先端にはエンコーダ7が設けられてい
る。このエンコーダ7も上述したエンコーダ4と同様に
主コード板、インデックスコード板、発光部および受光
部を有する。反射部材5が支持部6の先端側に設けられ
ている。反射部材5は、視準軸3に対して自動または手
動により軸L7を中心にして傾き角度を変えることができ
る。なお、各エンコーダはたとえばインクリメンタルエ
ンコーダである。
支柱2aには、演算部8と、表示器9が配置される。演
算部8は、エンコーダ4,7から読取信号を受けて演算処
理してそれぞれ角度値にする。すなわち、エンコーダ4
からの読取信号により、演算部8は第3図のような望遠
鏡1の視準軸L3の鉛直角Aを得る。またエンコーダ7か
らの読取信号により、演算部8は視準軸L3と反射した視
準軸L4とのなす角度Bを得る。この反射した視準軸L4と
は反射部材5により反射された視準軸L3をいう。
距離Dは、第1図と第3図に示すように反射部材5に
おける視準軸L3の反射点P1と機械中心点Oとの間の距離
である。距離Dはあらかじめ定められている。この機械
中心点Oは水平中心軸L1にある。
さらに演算部8は上述した鉛直角A、角度Bおよび距
離Dに基づいて機械高Lを算出する。第1図の表示器9
は少くとも機械高Lの値をデジタル表示する。この他に
鉛直角A、角度Bおよび距離Dも望ましくは表示でき
る。
第2図には、2つのエンコーダ4,7に接続された演算
部8と表示器9を示している。演算部8は2つの角度計
数部50,51と処理部63を有する。処理部63には表示器9
が接続されている。角度計数部50と51は同じ構成であ
り、角度計数部50はエンコーダ4に、角度計数部51はエ
ンコーダ7にそれぞれ接続されている。各角度計数部5
0,51は方向弁別回路60、パルス発生器61および計数回路
62を有する。
エンコーダ4,7からは、それぞれ互いに90゜位相差を
有する信号が出力される。方向弁別回路60によりそのエ
ンコーダ4,7での回転方向情報を知り、パルス発生器61
によりそのパルス数の情報を知る。これらの方向とパル
ス数の情報により、計数回路62で計数されて処理部63に
おいて高度角Aあるいは角度Bを知るのである。
第2図の角度Bの値は、第3図に示す反射部材5の法
線Vの高度角とは異なるが、エンコーダ7または計数回
路62自体に法線Vの視準軸L3に対する高度角から角度B
を得る機能を持たせることによって角度Bを得ることが
できる。つまり角度Bは法線Vの高度角の2倍である。
または演算部において算出するようにしてもよい。ま
た、前述の鉛直角Aに代わって第4図に示す高度角A1を
採用したとしても、本発明の機能を損なうものではな
い。この第4図の場合は視準軸L3と水平線L5が一致して
いる場合である。当然第4図の角度Bは第3図の角度B
に比べて小さくなる。
第3図〜第6図は機械高Lを測定する例を示してい
る。
第3図では、望遠鏡1が基準点Qを見るように向けら
れている。基準点Qは機械中心点Oの真下に位置されて
いる。反射部材5の反射面の法線Vが、視準軸L3を含む
鉛直面内において視準軸L3に対して45度の角度になって
いる。つまり反射した視準軸L4と視準軸L3の角度Bは90
度となっており、反射した視準軸L4は基準点Qに向かう
ように設定されている。
この反射部材5上での視準軸L3の反射点P1と機械中心
点Oとの間の所定距離はDである。機械とは第1図の測
量機械すなわち測距儀自体のことをいい、機械中心点O
とは第1図に示すように望遠鏡1の視準点L3と水平中心
軸L1との交点をいう。
測量作業上定められた測量の基準点Qを観察できるよ
うに標的70を設置し、錘球等を用いて機械中心点Oが前
記測量の基準点Qの鉛直上方になるように機械を設置す
る。その後、機械の水平をとる。
この標的70は観測点ともいう基準点Qの位置が容易に
確認可能な形状を持つ。たとえば第7図〜第12図のよう
に、設置時において上面に点、円、あるいは交わった直
線などを表示している。とくに第8図と第12図の標的70
は細長く、三脚(図示せず)に収納が容易である。な
お、標的70の代わりにコーナーキューブ等の反射部材に
よる代用も可能である。
まず、第3図の場合には、望遠鏡1における視準軸L3
の高度角Aを調整して、望遠鏡1で反射部材5を介して
基準点Qを観察する。角度Bは90度である。視準軸L3と
標的70側の基準点Qとを合致させる。エンコーダ4によ
り知った鉛直角Aと、90度の角B、およびあらかじめわ
かっている距離Dとから、機械高Lを斜辺する直角3角
形O,P1,Qが定まる。つまり機械高Lが特定される。
視準軸L3の鉛直角Aの値と機械高Lとの関係におい
て、機械高Lは、所定距離Dと、鉛直角Aに関する余弦
値の逆数との積として、後掲の式1により得られる。
第3図では視準軸L3が水平軸L5と一致していない場合
を示しているが、第4図では両者が一致している。
つまり望遠鏡1の視準軸L3は鉛直角A(=90度)で水
平に向けられた状態で固定されている。反射部材5の傾
きを変えて反射部材5の法線Vの視準軸L3に対する角度
は視準軸L3を含む鉛直面内において45度より小さい任意
の角度にして、望遠鏡1によって基準点Qが視準する。
つまり反射視準軸L4と基準点Qとを合致させる。このと
きの反射部材5の傾きによって角度の値を得ることによ
り、鉛直角A1と所定距離Dとから機械高Lが算出され
る。
反射部材5の傾きと機械高Lとの関係は、後掲の式2
として得られる。よって、機械高Lは所定の距離Dと角
度Bに関する正接値との積として得られる。
第5図と第6図は第1図に示した測量機械にさらに光
波距離測定手段を付加したものを用いた例を示してい
る。
第5図は、光波距離測定手段100を有する望遠鏡1を
用いた場合である。この光波距離測定手段100の投光光
軸は、望遠鏡1のレンズ系と同軸である。この光波距離
測定手段100はレーザ光を射出して標的70で反射して測
定手段100の受光部で受光するものである。反射部材5
の法線Vが視準軸L3を含む鉛直面内で視準軸L3に対して
45度の角度をなす。反射視準軸L4の方向が視準軸L3に対
して下方に90度の角度をなすように設定する。
またこの反射部材5における視準軸L3の反射点P1と機
械中心点Oとの所定距離をDとする。
測量作業上定められた位置に標的70を設置し、錘球等
を用いて機械の中心点Oが基準点Qの鉛直上方になるよ
うに機械を設置する。その後、機械の水平をとる。
反射部材5および標的70を設置後、視準軸L3の鉛直角
Aを調整し、基準点Qを視準する。このときの反射部材
5を介した距離D+D1の検出値Dが機械中心点Oと基準
点Qとの距離である。
機械高Lは、三平方の定理より、後掲の式3のよう
に、光波距離測定手段100より得た距離(D+D1)から
所定距離Dを差し引いた値D1の自乗と、所定距離Dの値
の自乗との和の平方根の値として得られる。
第6図では第5図と同様に光波距離測定手段100を有
する望遠鏡1を用いる。
第6図では、望遠鏡1は基準点Qを視準し、視準軸L3
が水平に固定されている。
反射部材5および標的70を設置した後、視準軸Lを水
平に固定してから、反射部材5の角度を変化させ標的70
の上の基準点Qを望遠鏡1で反射部材5を介して視準す
る。これにより機械高Lが算出される。つまり機械高L
は三平方の定理より、光波距離測定手段100から得た距
離(D+D1)から所定距離Dを差し引いた値D1の自乗
と、所定距離Dの値の自乗との差の平方根の値として得
られる。
[発明の効果] 記述したごとく請求項1または2の発明によれば、作
業者の熟練を必要とせず、このことにより作業の容易性
が向上し、加えて作業手順の簡素化によって作業時間も
短縮される。
また機械高として与えられる測定値を人間の視覚によ
る読取の値でなく、機械的な検出値に基づき算出するの
で、測定精度の向上が可能である。
請求項1によれば、所定距離と、高度角または鉛直角
と、視準軸と反射視準軸の成す角度とにより機械高を1
人でかんたんにかつ高精度に測定できる。
請求項2によれば所定距離と、視準軸と反射視準軸の
成す角度と、反射部材を介した機械中心点から、基準点
までの距離を用いて機械高を1人でかんたんにかつ高精
度に測定できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の機械高測定装置を含む光波測距儀を
示す図、第2図はエンコーダと演算部および記録部を示
す図、第3図〜第6図は機械高の測定側を示す図、第7
図〜第12図は各種標的の例を示す図である。 L1……水平中心軸 L2……鉛直軸 L3……視準軸 L4……反射軸 L5……水平軸 L……距離 A……鉛直角 B……角度 L……機械高 Q……基準点 V……法線 1……望遠鏡 5……反射部材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01C 15/00 G01C 1/00 - 1/06 G01C 5/00

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】観測しようとする基準点(Q)を視準する
    ために水平中心軸(L1)の回りに回動可能に支持された
    望遠鏡(1)と、 機械中心点(O)から所定の距離(D)のところに設け
    られて望遠鏡(1)の視準軸(L3)を反射する反射部材
    (5)であり、この反射した視準軸(L4)が機械中心点
    (O)を通る鉛直線(L2)に交わるような角度で配置さ
    れた反射部材(5)と、 水平軸(L5)に対する望遠鏡(1)の角度(A、A1)の
    検出手段(4)と、 視準軸(L3)に対する反射した視準軸(L4)がなす角度
    (B)の検出手段(7)と、 機械中心点(O)を通る鉛直線(L2)上に設けられた基
    準点(Q)を反射部材(5)を介して望遠鏡(1)によ
    り視準したときに、望遠鏡(1)の鉛直角(A)または
    高度角(A1)と、視準軸(L3)と反射部材(5)により
    反射した視準軸(L4)とがなす角度(B)と、および機
    械中心点(O)から反射部材(5)までの所定の距離
    (D)と、に基づき機械高(L)を算出する演算部
    (8)と、を有する機械高測定装置。
  2. 【請求項2】観測しようとする基準点(Q)を視準する
    ために水平軸(L1)の回りに回動可能に支持された望遠
    鏡(1)と、 機械中心点(O)から所定の距離(D)のところに設け
    られて望遠鏡(1)の視準軸(L3)を反射する反射部材
    (5)であり、この反射した視準軸(L4)が機械中心点
    (O)を通る鉛直線(L2)に交わるような角度で配置さ
    れた反射部材(5)と、 基準点(Q)と機械中心点(O)とを結ぶ反射部材
    (5)を介した距離(D+D1)の検出手段(100)と、 機械中心点(O)を通る鉛直線(L2)上に設けられた基
    準点(Q)を反射部材(5)を介して望遠鏡(1)によ
    り視準したときに、検出手段(100)による機械中心点
    (O)から基準点(Q)までの距離(D+D1)の検出値
    と、視準軸(L3)と反射部材(5)により反射した視準
    軸(L4)とがなす角度(B)と、および機械中心点
    (O)からの反射部材(5)までの所定の距離(D)
    と、に基づき機械高(L)を算出する演算部(8)と、 を有する機械高測定装置。
JP32601790A 1990-11-29 1990-11-29 機械高測定装置 Expired - Fee Related JP2945467B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32601790A JP2945467B2 (ja) 1990-11-29 1990-11-29 機械高測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32601790A JP2945467B2 (ja) 1990-11-29 1990-11-29 機械高測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04198809A JPH04198809A (ja) 1992-07-20
JP2945467B2 true JP2945467B2 (ja) 1999-09-06

Family

ID=18183165

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32601790A Expired - Fee Related JP2945467B2 (ja) 1990-11-29 1990-11-29 機械高測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2945467B2 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3481324B2 (ja) * 1994-10-17 2003-12-22 株式会社ソキア 測量機の機械高測定方法および測定器
US5949548A (en) * 1997-01-22 1999-09-07 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Height sensing measurement device
DE19941638C1 (de) 1999-08-27 2000-12-14 Zeiss Carl Jena Gmbh Geodätisches Gerät mit Laseranordnung
WO2009106141A1 (en) 2008-02-29 2009-09-03 Trimble Ab Determining coordinates of a target in relation to a survey instrument having at least two cameras
CN101932906B (zh) 2008-02-12 2013-12-18 特林布尔公司 相对于地面标志来定位勘测仪器
US8625086B2 (en) 2008-02-12 2014-01-07 Trimble Ab Determining coordinates of a target in relation to a survey instrument having a camera

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04198809A (ja) 1992-07-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5137354A (en) Computer aided three dimensional positioning sensing system and method
US4330212A (en) Triaxis laser alignment system and method
EP0457548B1 (en) Computer aided positioning system and method
JP3965593B2 (ja) 測量機の求心位置測定装置及び測量機
CN100580374C (zh) 激光测定方法及激光测定***
EP1493990B1 (en) Surveying instrument and electronic storage medium
JP2846950B2 (ja) 測定点の位置を形成又は画成するための装置
JP2001082960A (ja) レーザ装置付測地機器
JPS5953484B2 (ja) 地形上の諸点を測量するための水準測量装置
JP2945467B2 (ja) 機械高測定装置
JPS5829844B2 (ja) 望遠鏡付き角度測定装置
JP3300998B2 (ja) 三次元座標測定装置
CN111580127B (zh) 具有旋转反射镜的测绘***
KR101291451B1 (ko) 반사장치를 구비한 수준측량용 스타프
Walker et al. Total station: measurements and computations
JP3165987B2 (ja) アライメント測定系及びその測定方法
JP2694647B2 (ja) 測距経緯儀
JP2001174261A (ja) 反射プリズム等を利用する入隅等の測定装置
JPH01184411A (ja) 測高測距計
JPH03167404A (ja) 大型対象物の寸法計測方法
US3049963A (en) Optical instrument in the nature of a surveying transit
JP3314363B2 (ja) 三次元座標測定方法
JP3594118B2 (ja) 鉛直検知出力装置及び計測地点指示ユニット及び測量設備
JP3476268B2 (ja) 測角器
JP3000450B2 (ja) 電子測板

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees