JPH04198809A - 機械高測定装置 - Google Patents
機械高測定装置Info
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- JPH04198809A JPH04198809A JP32601790A JP32601790A JPH04198809A JP H04198809 A JPH04198809 A JP H04198809A JP 32601790 A JP32601790 A JP 32601790A JP 32601790 A JP32601790 A JP 32601790A JP H04198809 A JPH04198809 A JP H04198809A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical group C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
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- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は測量に用いる機械のための機械高測定装置に関
する。
する。
[従来の技術] ゛
測量機械を使用する作業において、機械高を知る必要が
ある。この機械高とは、望遠鏡の回転中心(機械中心点
)から地盤に設けられれた基準点までの距離をいう。こ
の回転中心は望遠鏡の規準軸上にある。従来機械高は巻
尺、コンベックス等により測定していた。
ある。この機械高とは、望遠鏡の回転中心(機械中心点
)から地盤に設けられれた基準点までの距離をいう。こ
の回転中心は望遠鏡の規準軸上にある。従来機械高は巻
尺、コンベックス等により測定していた。
しかし、巻尺やコンベックス等を用いる測定作業では、
目盛りの0点を固定する人と、測定位置の目盛を読む人
の少くとも二人の作業員が必要である。
目盛りの0点を固定する人と、測定位置の目盛を読む人
の少くとも二人の作業員が必要である。
[発明が解決しようとする課題]
このように、機械高の測定に巻尺、コンベックス等の補
助的手段を用いるので測定作業が煩雑になり、また作業
員の読取り誤差に起因する測定誤差が生じてしまうとい
う問題があった。このことは測定機械の高性能化、高精
度化の著しい現在において重大な問題である。
助的手段を用いるので測定作業が煩雑になり、また作業
員の読取り誤差に起因する測定誤差が生じてしまうとい
う問題があった。このことは測定機械の高性能化、高精
度化の著しい現在において重大な問題である。
この発明の目的は高精度で容易に機械高を測定できる機
械高測定装置を提供するものである。この発明の要旨は
特許請求の範囲に記載の機械高測定装置を要旨としてい
る。
械高測定装置を提供するものである。この発明の要旨は
特許請求の範囲に記載の機械高測定装置を要旨としてい
る。
[課題を解決するための手段]
第1図と第3図を参照する。
望遠鏡1は観測しようとする基準点。を規準するために
水平中心軸Llの回りに回動可能に支持されている。反
射部材5としての反射ミラーは、機械中心点0がらあら
がじめ定められた距離りのところに設けられていて、望
遠鏡1の規準軸L3を反射する。そして反射部材5は、
反射された規準軸L4が機械中心点0を通る鉛直線L2
と交わるような角度で配置しである。
水平中心軸Llの回りに回動可能に支持されている。反
射部材5としての反射ミラーは、機械中心点0がらあら
がじめ定められた距離りのところに設けられていて、望
遠鏡1の規準軸L3を反射する。そして反射部材5は、
反射された規準軸L4が機械中心点0を通る鉛直線L2
と交わるような角度で配置しである。
検出手段4は鉛直軸L2に対する角度Aまたは望遠鏡1
の規準軸L3の水平軸L5に対する角度A1を検出する
。検出手段7は、規準軸L3に対する反射した規準軸L
4がなす角度Bを検出する。
の規準軸L3の水平軸L5に対する角度A1を検出する
。検出手段7は、規準軸L3に対する反射した規準軸L
4がなす角度Bを検出する。
機械中心点Oを通る鉛直線L2上に設けられた基準点Q
を反射部材5を介して望遠鏡1により規準したときに、
演算部8は、望遠鏡1の鉛直角Aまたは高度角AIと、
規準軸L3と反射部材5により反射した規準軸L4とが
なす角度Bと、そして機械の中心点0から反射部材5ま
でのあらがじめ定められた距離りに基づき機械高りを算
出する。
を反射部材5を介して望遠鏡1により規準したときに、
演算部8は、望遠鏡1の鉛直角Aまたは高度角AIと、
規準軸L3と反射部材5により反射した規準軸L4とが
なす角度Bと、そして機械の中心点0から反射部材5ま
でのあらがじめ定められた距離りに基づき機械高りを算
出する。
第5図と第6図では、測量機械の望遠鏡1に光波距離測
定手段100を設けて機械高りを自動的に測定する。
定手段100を設けて機械高りを自動的に測定する。
検出手段としての光波距離測定手段100は、基準点Q
と機械中心点Oとの間の距離D+D1を反射部材5を介
して検出する。
と機械中心点Oとの間の距離D+D1を反射部材5を介
して検出する。
演算部8は機械の中心点Oを通る鉛直線L2上に設けら
れたこの基準点Qを、反射部材5を介して望遠鏡1によ
り規準したときに、光波距離測定手段100による機械
中心点Oから基準点Qまでの距離D1+Dの検出値と、
鉛直軸L2と規準軸L3とがなす角度Aまたは規準軸L
3と反射部材5による反射規準軸L4とがなす角度Bと
、そして機械中心点Oからの反射部材5までのあらかじ
め定められた距離りに基づき、機械高りを算出するよう
になっている。
れたこの基準点Qを、反射部材5を介して望遠鏡1によ
り規準したときに、光波距離測定手段100による機械
中心点Oから基準点Qまでの距離D1+Dの検出値と、
鉛直軸L2と規準軸L3とがなす角度Aまたは規準軸L
3と反射部材5による反射規準軸L4とがなす角度Bと
、そして機械中心点Oからの反射部材5までのあらかじ
め定められた距離りに基づき、機械高りを算出するよう
になっている。
[作 用]
測量作業時に、機械高りの測定が、望遠鏡1で基準点Q
を規準するという単純作業だけで行える。
を規準するという単純作業だけで行える。
[実 施 例]
第1図に示す測量機械は、本発明の機械高測定装置の実
施例を有するデジタルトランシットである。
施例を有するデジタルトランシットである。
デジタルトランシットは、望遠鏡1と、托架部2と、基
盤3とから構成されている。托架部2は支柱2a、2b
を有する。支柱2a。
盤3とから構成されている。托架部2は支柱2a、2b
を有する。支柱2a。
2bには望遠鏡1が水平中心軸L1を中心にインデック
ス可能に回動自在に支持されている。基盤3は托架部2
を鉛直軸L2に関してインデックス可能に回動自在に支
持している。
ス可能に回動自在に支持されている。基盤3は托架部2
を鉛直軸L2に関してインデックス可能に回動自在に支
持している。
水平中心軸L1には機械中心点Oがある。基盤3は図示
しない通常の三脚に支持されている。
しない通常の三脚に支持されている。
支柱2bには、望遠鏡1の回転角度から望遠鏡1の鉛直
角A(第3図参照)あるいは高度角Al(第4図参照)
を読み取るためのエンコーダ4が内蔵されている。この
エンコーダ4は、インデックスコート板4bと、主コー
ド板4aと、発光部4dと、受光部4cとから構成され
る。
角A(第3図参照)あるいは高度角Al(第4図参照)
を読み取るためのエンコーダ4が内蔵されている。この
エンコーダ4は、インデックスコート板4bと、主コー
ド板4aと、発光部4dと、受光部4cとから構成され
る。
インデックスコート板4bは望遠鏡1に設けられており
、望遠鏡1の回転とともに回る。
、望遠鏡1の回転とともに回る。
主コード板4aは支柱2bに固定されている。
発光部4dは主コード板4aとインデックスコード板4
bを照射する。主コード板4aとインデックスコード板
4bを通った光は受光部4cに受光される。
bを照射する。主コード板4aとインデックスコード板
4bを通った光は受光部4cに受光される。
望遠鏡1には支持部6が固定されている。
支持部6は望遠鏡1の光軸ともいう規準軸L3に平行に
延びている。この支持部6の先端にはエンコーダ7が設
けられている。このエンコーダ7も上述したエンコーダ
4と同様に主コード板、インデックスコード板、発光部
および受光部を有する。反射部材5が支持部6の先端側
に設けられている。反射部材5は、規準軸3に対して自
動または手動により軸L7を中心にして傾き角度を変え
ることかできる。なお、各エンコーダはたとえばインク
リメンタルエンコーダである。
延びている。この支持部6の先端にはエンコーダ7が設
けられている。このエンコーダ7も上述したエンコーダ
4と同様に主コード板、インデックスコード板、発光部
および受光部を有する。反射部材5が支持部6の先端側
に設けられている。反射部材5は、規準軸3に対して自
動または手動により軸L7を中心にして傾き角度を変え
ることかできる。なお、各エンコーダはたとえばインク
リメンタルエンコーダである。
支柱2aには、演算部8と、表示器9が配置される。演
算部8は、エンコーダ4.7から読取信号を受けて演算
処理してそれぞれ角度値にする。すなわち、エンコーダ
4からの読取信号により、演算部8は第3図のような望
遠鏡1の規準軸L3の鉛直角Aを得る。またエンコーダ
7からの読取信号により、演算部8は規準軸L3と反射
した規準軸L4とのなす角度Bを得る。この反射した規
準軸L4とは反射部材5により反射された規準軸L3を
いう。
算部8は、エンコーダ4.7から読取信号を受けて演算
処理してそれぞれ角度値にする。すなわち、エンコーダ
4からの読取信号により、演算部8は第3図のような望
遠鏡1の規準軸L3の鉛直角Aを得る。またエンコーダ
7からの読取信号により、演算部8は規準軸L3と反射
した規準軸L4とのなす角度Bを得る。この反射した規
準軸L4とは反射部材5により反射された規準軸L3を
いう。
距離りは、第1図と第3図に示すように反射部材5にお
ける規準軸L3の反射点P1と機械中心点0との間の距
離である。距離りはあらかじめ定められている。この機
械中心点Oは水平中心軸L1にある。
ける規準軸L3の反射点P1と機械中心点0との間の距
離である。距離りはあらかじめ定められている。この機
械中心点Oは水平中心軸L1にある。
さらに演算部8は上述した鉛直角A1角度Bおよび距離
りに基づいて機械高りを算出する。第1図の表示器9は
少くとも機械高りの値をデジタル表示する。この他に鉛
直角A1角度Bおよび距離りも望ましくは表示できる。
りに基づいて機械高りを算出する。第1図の表示器9は
少くとも機械高りの値をデジタル表示する。この他に鉛
直角A1角度Bおよび距離りも望ましくは表示できる。
第2図には、2つのエンコーダ4,7に接続された演算
部8と表示器9を示している。
部8と表示器9を示している。
演算部8は2つの角度計数部50.51と処理部63を
有する。処理部63には表示器9が接続されている。角
度計数部50と51は同じ構成であり、角度計数部50
はエンコーダ4に、角度計数部51はエンコーダ7にそ
れぞれ接続されている。各角度計数部50゜51は方向
弁別回路60、パルス発生器61および計数回路62を
有する。
有する。処理部63には表示器9が接続されている。角
度計数部50と51は同じ構成であり、角度計数部50
はエンコーダ4に、角度計数部51はエンコーダ7にそ
れぞれ接続されている。各角度計数部50゜51は方向
弁別回路60、パルス発生器61および計数回路62を
有する。
エンコーダ4,7からは、それぞれ互いに90°位相差
を有する信号が出力される。方向弁別回路60によりそ
のエンコーダ4.7での回転方向情報を知り、パルス発
生器61によりそのパルス数の情報を知る。これらの方
向とパルス数の情報により、計数回路62で計数されて
処理部63において高度角Aあるいは角度Bを知るので
ある。
を有する信号が出力される。方向弁別回路60によりそ
のエンコーダ4.7での回転方向情報を知り、パルス発
生器61によりそのパルス数の情報を知る。これらの方
向とパルス数の情報により、計数回路62で計数されて
処理部63において高度角Aあるいは角度Bを知るので
ある。
第2図の角度Bの値は、第3図に示す反射部材5の法線
■の高度角とは異なるが、エンコーダ7または計数回路
62自体に法線■の規準軸L3に対する高度角から角度
Bを得る機能を持たせることによって角度Bを得ること
ができる。つまり角度Bは法線Vの高度角の2倍である
。または演算部において算出するようにしてもよい。ま
た、前述の鉛直角Aに代わって第4図に示す高度角A1
を採用したとしても、本発明の機能を損なうものではな
い。この第4図の場合は規準軸L3と水平線L5が一致
している場合である。当然第4図の角度Bは第3図の角
度Bに比べて小さくなる。
■の高度角とは異なるが、エンコーダ7または計数回路
62自体に法線■の規準軸L3に対する高度角から角度
Bを得る機能を持たせることによって角度Bを得ること
ができる。つまり角度Bは法線Vの高度角の2倍である
。または演算部において算出するようにしてもよい。ま
た、前述の鉛直角Aに代わって第4図に示す高度角A1
を採用したとしても、本発明の機能を損なうものではな
い。この第4図の場合は規準軸L3と水平線L5が一致
している場合である。当然第4図の角度Bは第3図の角
度Bに比べて小さくなる。
第3図〜第6図は機械高りを測定する例を示している。
第3図では、望遠鏡1が基準点Qを見るように向けられ
ている。基準点Qは機械中心点0の真下に位置されてい
る。反射部材5の反射面の法線■が、規準軸L3を含む
鉛直面内において規準軸L3に対して45度の角度にな
っている。つまり反射した規準軸L4と規準軸L3の角
度Bは90度となっており、反射した規準軸L4は基準
点Qに向かうように設定されている。
ている。基準点Qは機械中心点0の真下に位置されてい
る。反射部材5の反射面の法線■が、規準軸L3を含む
鉛直面内において規準軸L3に対して45度の角度にな
っている。つまり反射した規準軸L4と規準軸L3の角
度Bは90度となっており、反射した規準軸L4は基準
点Qに向かうように設定されている。
この反射部材5上での規準軸L3の反射点P1と機械中
心点Oとの間の所定距離はDである。機械とは第1図の
測量機械すな・ゎち測距儀自体のことをいい、機械中心
点0とは第1図に示すように望遠鏡1の規準軸L3と水
平中心軸L1との交点をいう。
心点Oとの間の所定距離はDである。機械とは第1図の
測量機械すな・ゎち測距儀自体のことをいい、機械中心
点0とは第1図に示すように望遠鏡1の規準軸L3と水
平中心軸L1との交点をいう。
測量作業止定められた測量の基準点Qを観察できるよう
に標的70を設置し、錘球等を用いて機械中心点Oが前
記測量の基準点Qの鉛直上方になるように機械を設置す
る。その後、機械の水平をとる。
に標的70を設置し、錘球等を用いて機械中心点Oが前
記測量の基準点Qの鉛直上方になるように機械を設置す
る。その後、機械の水平をとる。
この標的70は観測点ともいう基準点Qの位置が容易に
確認可能な形状を持つ。たとえば第7図〜第12図のよ
うに、設置時において上面に点、円、あるいは交わった
直線などを表示している。とくに第8図と第12図の標
的70は細長く、三脚(図示せず)に収納が容易である
。なお、標的70の代わりにコーナーキューブ等の反射
部材による代用も可能である。
確認可能な形状を持つ。たとえば第7図〜第12図のよ
うに、設置時において上面に点、円、あるいは交わった
直線などを表示している。とくに第8図と第12図の標
的70は細長く、三脚(図示せず)に収納が容易である
。なお、標的70の代わりにコーナーキューブ等の反射
部材による代用も可能である。
まず、第3図の場合には、望遠鏡1における規準軸L3
の高度角Aを調整して、望遠鏡1で反射部材5を介して
基準点Qを観察する。
の高度角Aを調整して、望遠鏡1で反射部材5を介して
基準点Qを観察する。
角度Bは90度である。規準軸L3と標的70側の基準
点Qとを合致させる。エンコーダ4により知った鉛直角
Aと、90度の角度B、およびあらかじめわかっている
距離りとから、機械高りを斜辺する直角3角形0.PL
、Qが定まる。つまり機械高りが特定される。
点Qとを合致させる。エンコーダ4により知った鉛直角
Aと、90度の角度B、およびあらかじめわかっている
距離りとから、機械高りを斜辺する直角3角形0.PL
、Qが定まる。つまり機械高りが特定される。
規準軸L3の鉛直角Aの値と機械高しとの関係において
、機械高りは、所定距離りと、鉛直角Aに関する余弦値
の逆数との積として、後掲の式1により得られる。
、機械高りは、所定距離りと、鉛直角Aに関する余弦値
の逆数との積として、後掲の式1により得られる。
第3図では規準軸L3が水平軸L5と一致していない場
合を示しているが、第4図では両者が一致している。
合を示しているが、第4図では両者が一致している。
つまり望遠鏡1の規準軸L3は鉛直角A(=90度)で
水平に向けられた状態で固定されている。反射部材5の
傾きを変えて反射部材5の法線Vの規準軸L3に対する
角度は規準軸L3を含む鉛直面内において45度より小
さい任意の角度にして、望遠鏡1によって基準点Qが規
準する。つまり反射規準軸L4と基準点Qとを合致させ
る。このときの反射部材5の傾きによって角度Bの値を
得ることにより、鉛直角A1と所定距離りとから機械高
しが算出される。
水平に向けられた状態で固定されている。反射部材5の
傾きを変えて反射部材5の法線Vの規準軸L3に対する
角度は規準軸L3を含む鉛直面内において45度より小
さい任意の角度にして、望遠鏡1によって基準点Qが規
準する。つまり反射規準軸L4と基準点Qとを合致させ
る。このときの反射部材5の傾きによって角度Bの値を
得ることにより、鉛直角A1と所定距離りとから機械高
しが算出される。
反射部材5の傾きと機械高しとの関係は、後掲の式2と
して得られる。よって、機械高しは所定の距離りと角度
Bに関する正接値との積として得られる。
して得られる。よって、機械高しは所定の距離りと角度
Bに関する正接値との積として得られる。
第5図と第6図は第1図に示した測量機械にさらに光波
距離測定手段を付加したものを用いた例を示している。
距離測定手段を付加したものを用いた例を示している。
第5図は、光波距離測定手段100を有する望遠鏡1を
用いた場合である。この光波距離測定手段100の投光
光軸は、望遠鏡1のレンズ系と同軸である。この光波距
離測定手段100はレーザ光を射出して標的70で反射
して測定手段100の受光部で受光するものである。反
射部材5の法線Vか規準軸L3を含む鉛直面内で規準軸
L3に対して45度の角度をなす。反射規準軸L4の方
向か規準軸L3に対して下方に90度の角度をなすよう
に設定する。
用いた場合である。この光波距離測定手段100の投光
光軸は、望遠鏡1のレンズ系と同軸である。この光波距
離測定手段100はレーザ光を射出して標的70で反射
して測定手段100の受光部で受光するものである。反
射部材5の法線Vか規準軸L3を含む鉛直面内で規準軸
L3に対して45度の角度をなす。反射規準軸L4の方
向か規準軸L3に対して下方に90度の角度をなすよう
に設定する。
またこの反射部材5における規準軸L3の反射点P1と
機械中心点Oとの所定距離をDとする。
機械中心点Oとの所定距離をDとする。
測量作業止定められた位置に標的70を設置し、錘球等
を用いて機械の中心点Oが基準点Qの鉛直上方になるよ
うに機械を設置する。
を用いて機械の中心点Oが基準点Qの鉛直上方になるよ
うに機械を設置する。
その後、機械の水平をとる。
反射部材5および標的70を設置後、規準軸L3の鉛直
角Aを調整し、基準点Qを規準する。このときの反射部
材5を介した距離D+DIの検出値りが機械中心点Oと
基準点Qとの距離である。
角Aを調整し、基準点Qを規準する。このときの反射部
材5を介した距離D+DIの検出値りが機械中心点Oと
基準点Qとの距離である。
機械高しは、三平方の定理より、後掲の式3のように、
光波距離測定手段100より得た距離(D+D1)から
所定距離りを差し引いた値D1の自乗と、所定距離りの
値の自乗との和の平方根の値として得られる。
光波距離測定手段100より得た距離(D+D1)から
所定距離りを差し引いた値D1の自乗と、所定距離りの
値の自乗との和の平方根の値として得られる。
第6図では第5図と同様に光波距離測定手段100を有
する望遠鏡1を用いる。
する望遠鏡1を用いる。
第6図では、望遠鏡1は基準点Qを規準し、規準軸L3
が水平に固定されている。
が水平に固定されている。
反射部材5および標的70を設置した後、規準軸りを水
平に固定してから、反射部材5の角度を変化させ標的7
0の上の基準点Qを望遠鏡1で反射部材5を介して規準
する。これにより機械高りか算出される。つまり機械高
しは三平方の定理より、光波距離測定手段100から得
た距離(D+D1)から所定距離りを差し引いた値D1
の自乗と、所定距離Dの値の自乗との差の平方根の値と
して得られる。
平に固定してから、反射部材5の角度を変化させ標的7
0の上の基準点Qを望遠鏡1で反射部材5を介して規準
する。これにより機械高りか算出される。つまり機械高
しは三平方の定理より、光波距離測定手段100から得
た距離(D+D1)から所定距離りを差し引いた値D1
の自乗と、所定距離Dの値の自乗との差の平方根の値と
して得られる。
[発明の効果コ
記述したごとく請求項1または2の発明によれば、作業
者の熟練を必要とせず、このことにより作業の容易性が
向上し、加えて作業手順の簡素化によって作業時間も短
縮される。
者の熟練を必要とせず、このことにより作業の容易性が
向上し、加えて作業手順の簡素化によって作業時間も短
縮される。
また機械高として与えられる測定値を人間の視覚による
読取の値でなく、機械的な検出値に基づき算出するので
、測定精度の向上が可能である。
読取の値でなく、機械的な検出値に基づき算出するので
、測定精度の向上が可能である。
請求項1によれば、所定距離と、高度角または鉛直角と
、規準軸と反射規準軸の成す角度とにより機械高を1人
でかんたんにかつ高精度に測定できる。
、規準軸と反射規準軸の成す角度とにより機械高を1人
でかんたんにかつ高精度に測定できる。
請求項2によれば所定距離と、規準軸七反射規準軸の成
す角度と、反射部材を介した機械中心点から、基準点ま
での距離を用いて機械高を1人でかんたんにかつ高精度
に測定できる。
す角度と、反射部材を介した機械中心点から、基準点ま
での距離を用いて機械高を1人でかんたんにかつ高精度
に測定できる。
第1図はこの発明の機械高測定装置を含む光波測距儀を
示す図、第2図はエンコーダと演算部および記録部を示
す図、第3図〜第6図は機械高の測定側を示す図、第7
図〜第12図は各種標的の例を示す図である。 Ll・・・・・・水平中心軸 L2・・・・・・鉛直軸 L3・・・・・・規準軸 L4・・・・・・反射軸 L5・・・・・・水平軸 L・・・・・・・・・距 離 A・・・・・・・・・鉛直角 B・・・・・・・・・角 度 L・・・・・・・・・機械高 Q・・・・−・・・・基準点 ■・・・・・・・・・法 線 l・・・・・・・・・望遠鏡 5・・・・・・・・・反射部材 代 理 人 弁理士 田辺 徹 式1:L= D cosAl Fig、4 A Fig、8 n Fig、10 Fig、12
示す図、第2図はエンコーダと演算部および記録部を示
す図、第3図〜第6図は機械高の測定側を示す図、第7
図〜第12図は各種標的の例を示す図である。 Ll・・・・・・水平中心軸 L2・・・・・・鉛直軸 L3・・・・・・規準軸 L4・・・・・・反射軸 L5・・・・・・水平軸 L・・・・・・・・・距 離 A・・・・・・・・・鉛直角 B・・・・・・・・・角 度 L・・・・・・・・・機械高 Q・・・・−・・・・基準点 ■・・・・・・・・・法 線 l・・・・・・・・・望遠鏡 5・・・・・・・・・反射部材 代 理 人 弁理士 田辺 徹 式1:L= D cosAl Fig、4 A Fig、8 n Fig、10 Fig、12
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、観測しようとする基準点(Q)を視準 するために水平中心軸(L1)の回りに回動可能に支持
された望遠鏡(1)と、 機械中心点(O)から所定の距離(D)の ところに設けられて望遠鏡(1)の視準軸 (L3)を反射する反射部材(5)であり、この反射し
た規準軸(L4)が機械中心点 (O)を通る鉛直線(L2)に交わるような角度で配置
された反射部材(5)と、 水平軸(L5)に対する望遠鏡(1)の角 度(A、A1)の検出手段(4)と、 規準軸(L3)に対する反射した視準軸 (L4)がなす角度(B)の検出手段(7)と、 機械中心点(O)を通る鉛直線(L2)上 に設けられた基準点(Q)を反射部材(5)を介して望
遠鏡(1)により視準したときに、望遠鏡(1)の鉛直
角(A)または高度角 (A1)と、規準軸(L3)と反射部材(5)により反
射した規準軸(L4)とがなす角度(B)と、および機
械中心点(O)から反射部材(5)までの所定の距離(
D)と、に基づき機械高(L)を算出する演算部(8)
と、を有する機械高測定装置。 2、観測しようとする基準点(Q)を視準 するために水平軸(L1)の回りに回動可能に支持され
た望遠鏡(1)と、 機械中心点(O)から所定の距離(D)の ところに設けられて望遠鏡(1)の規準軸 (L3)を反射する反射部材(5)であり、この反射し
た視準軸(L4)が機械中心点 (O)を通る鉛直線(L2)に交わるような角度で配置
された反射部材(5)と、 基準点(Q)と機械中心点(O)とを結ぶ 反射部材(5)を介した距離(D+D1)の検出手段(
100)と、 機械中心点(O)を通る鉛直線(L2)上 に設けられた基準点(Q)を反射部材(5)を介して望
遠鏡(1)により視準したときに、検出手段(100)
による機械中心点(O)から基準点(Q)までの距離(
D+D1)の検出値と、規準軸(L3)と反射部材(5
)により反射した規準軸(L4)とがなす角度(B)と
、および機械中心点(O)からの反射部材(5)までの
所定の距離(D)と、に基づき機械高(L)を算出する
演算部(8)と、 を有する機械高測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32601790A JP2945467B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 機械高測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32601790A JP2945467B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 機械高測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH04198809A true JPH04198809A (ja) | 1992-07-20 |
JP2945467B2 JP2945467B2 (ja) | 1999-09-06 |
Family
ID=18183165
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32601790A Expired - Fee Related JP2945467B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 機械高測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2945467B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5639966A (en) * | 1994-10-17 | 1997-06-17 | Sokkia Co., Ltd. | Machine height measuring method and machine height measuring device for surveying machines |
US5949548A (en) * | 1997-01-22 | 1999-09-07 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Height sensing measurement device |
US6411372B1 (en) | 1999-08-27 | 2002-06-25 | Zsp Geodaetische Systeme Gmbh | Geodetic instrument with laser arrangement |
WO2009100773A1 (en) * | 2008-02-12 | 2009-08-20 | Trimble Ab | Localization of a surveying instrument in relation to a ground mark |
US8625086B2 (en) | 2008-02-12 | 2014-01-07 | Trimble Ab | Determining coordinates of a target in relation to a survey instrument having a camera |
US9189858B2 (en) | 2008-02-29 | 2015-11-17 | Trimble Ab | Determining coordinates of a target in relation to a survey instrument having at least two cameras |
-
1990
- 1990-11-29 JP JP32601790A patent/JP2945467B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2009100773A1 (en) * | 2008-02-12 | 2009-08-20 | Trimble Ab | Localization of a surveying instrument in relation to a ground mark |
US8345928B2 (en) | 2008-02-12 | 2013-01-01 | Trimble Ab | Localizing a surveying instrument in relation to a ground mark |
US8625086B2 (en) | 2008-02-12 | 2014-01-07 | Trimble Ab | Determining coordinates of a target in relation to a survey instrument having a camera |
US8629905B2 (en) | 2008-02-12 | 2014-01-14 | Trimble Ab | Localization of a surveying instrument in relation to a ground mark |
US9189858B2 (en) | 2008-02-29 | 2015-11-17 | Trimble Ab | Determining coordinates of a target in relation to a survey instrument having at least two cameras |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2945467B2 (ja) | 1999-09-06 |
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