JP2929975B2 - バスインタフェース回路の障害診断方法 - Google Patents
バスインタフェース回路の障害診断方法Info
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- JP2929975B2 JP2929975B2 JP7182319A JP18231995A JP2929975B2 JP 2929975 B2 JP2929975 B2 JP 2929975B2 JP 7182319 A JP7182319 A JP 7182319A JP 18231995 A JP18231995 A JP 18231995A JP 2929975 B2 JP2929975 B2 JP 2929975B2
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- Japan
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- data
- test data
- bidirectional
- bus
- buffer
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- Expired - Lifetime
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、バスインタフェー
ス回路の障害診断方法に係わり、詳細には半導体集積回
路装置に搭載されたバスインタフェース回路の障害を診
断するに好適なバスインタフェース回路の障害診断方法
に関する。
ス回路の障害診断方法に係わり、詳細には半導体集積回
路装置に搭載されたバスインタフェース回路の障害を診
断するに好適なバスインタフェース回路の障害診断方法
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、バスインタフェース回路を８ビッ
トの回路で構成するに際しては、図２に示すように、一
方の半導体集積回路５０に双方向バッファ５１〜５８を
設け、他方の半導体集積回路６０に双方向バッファ６１
〜６８を設け、各双方向バッファ５１〜５８をデータバ
ス７１〜７８を介してそれぞれ双方向バッファ６１〜６
８に接続する構成が採用されている。
トの回路で構成するに際しては、図２に示すように、一
方の半導体集積回路５０に双方向バッファ５１〜５８を
設け、他方の半導体集積回路６０に双方向バッファ６１
〜６８を設け、各双方向バッファ５１〜５８をデータバ
ス７１〜７８を介してそれぞれ双方向バッファ６１〜６
８に接続する構成が採用されている。
【０００３】上記バスインタフェース回路の障害を診断
するに際しては、半導体集積回路５０にテストデータ送
出回路８０を設け、他方の半導体集積回路６０に障害検
出回路８１を設け、テストデータ送出回路８０と障害検
出回路８１とを障害通知信号線８２を介して接続するよ
うになっている。
するに際しては、半導体集積回路５０にテストデータ送
出回路８０を設け、他方の半導体集積回路６０に障害検
出回路８１を設け、テストデータ送出回路８０と障害検
出回路８１とを障害通知信号線８２を介して接続するよ
うになっている。
【０００４】次に、上記バスインタフェース回路におけ
るバスの障害診断方法に説明する。まず、テストデータ
送出回路８０から双方向バッファ５１〜５８の内部側に
テストデータを入力し、このテストデータを双方向バッ
ファ５１〜５８、データバス７１〜７８を介して双方向
バッファ６１〜６８へ伝送する。そして双方向バッファ
６１〜６８から出力されるテストデータに関するテスト
としてパリティチェックなどを障害検出回路８１で行
い、データに誤りがあったときには、障害通知信号線８
２を介してテストデータ送出回路８０へ障害の内容を伝
送するようになっている。
るバスの障害診断方法に説明する。まず、テストデータ
送出回路８０から双方向バッファ５１〜５８の内部側に
テストデータを入力し、このテストデータを双方向バッ
ファ５１〜５８、データバス７１〜７８を介して双方向
バッファ６１〜６８へ伝送する。そして双方向バッファ
６１〜６８から出力されるテストデータに関するテスト
としてパリティチェックなどを障害検出回路８１で行
い、データに誤りがあったときには、障害通知信号線８
２を介してテストデータ送出回路８０へ障害の内容を伝
送するようになっている。
【０００５】また特開平２─４１５４０号公報に記載さ
れているように、受信側から送信側へデータを送信し、
送信側でデータを保持したあと、保持したデータを反転
し、反転したデータを受信側へ送信し、受信側が反転さ
れたデータを受信したか否かによって障害が発生したか
否かを判定する方法が提案されている。
れているように、受信側から送信側へデータを送信し、
送信側でデータを保持したあと、保持したデータを反転
し、反転したデータを受信側へ送信し、受信側が反転さ
れたデータを受信したか否かによって障害が発生したか
否かを判定する方法が提案されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の障害診
断方法では、送信側から送信したテストデータが受信側
で正確に受信できたか否かを判定することはできるが、
障害が発生した場合、どの箇所で障害が発生したかを特
定することが困難である。
断方法では、送信側から送信したテストデータが受信側
で正確に受信できたか否かを判定することはできるが、
障害が発生した場合、どの箇所で障害が発生したかを特
定することが困難である。
【０００７】そこで本発明の目的は、バスインタフェー
ス回路で障害が発生したときに、テストデータを用いて
障害の箇所を判定することができるバスインタフェース
回路の障害診断方法を提供することにある。
ス回路で障害が発生したときに、テストデータを用いて
障害の箇所を判定することができるバスインタフェース
回路の障害診断方法を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明で
は、（イ）一方の双方向バッファと他方の双方向バッフ
ァとを結ぶデータバスの異常時に、一方の双方向バッフ
ァの内部側にテストデータを入力し、（ロ）このテスト
データと一方の双方向バッファのデータバス側から出力
されたテストデータとを比較し、（ハ）さらにテストデ
ータの発生タイミングとは異なるタイミングで他方の双
方向バッファの内部側にテストデータを入力し、（ニ）
このテストデータと他方の双方向バッファのデータバス
側から出力されたテストデータとを比較し、（ホ）各比
較結果を判定し、（ヘ）これらの比較結果が全て正常で
あるときには、データバスの切断と診断し、これらの比
較結果が全て異常であるときにはデータバスの短絡と診
断するバスインタフェース回路の障害診断方法を採用す
る。
は、（イ）一方の双方向バッファと他方の双方向バッフ
ァとを結ぶデータバスの異常時に、一方の双方向バッフ
ァの内部側にテストデータを入力し、（ロ）このテスト
データと一方の双方向バッファのデータバス側から出力
されたテストデータとを比較し、（ハ）さらにテストデ
ータの発生タイミングとは異なるタイミングで他方の双
方向バッファの内部側にテストデータを入力し、（ニ）
このテストデータと他方の双方向バッファのデータバス
側から出力されたテストデータとを比較し、（ホ）各比
較結果を判定し、（ヘ）これらの比較結果が全て正常で
あるときには、データバスの切断と診断し、これらの比
較結果が全て異常であるときにはデータバスの短絡と診
断するバスインタフェース回路の障害診断方法を採用す
る。
【０００９】すなわち請求項１記載の発明では、データ
バスに異常が発生したときには、一方の双方向バッファ
と他方の双方向バッファの内部側にそれぞれタイミング
をずらしてテストデータを入力し、各双方向バッファの
内部側のテストデータとデータバス側のテストデータと
を比較し、この比較結果を判定し、各判定結果が全て正
常であるときには、データバスの切断と診断し、各判定
結果が全て異常であるときにはデータバスの短絡と診断
することを特徴としている。
バスに異常が発生したときには、一方の双方向バッファ
と他方の双方向バッファの内部側にそれぞれタイミング
をずらしてテストデータを入力し、各双方向バッファの
内部側のテストデータとデータバス側のテストデータと
を比較し、この比較結果を判定し、各判定結果が全て正
常であるときには、データバスの切断と診断し、各判定
結果が全て異常であるときにはデータバスの短絡と診断
することを特徴としている。
【００１０】
【００１１】
【００１２】
【００１３】
【００１４】
【００１５】
【発明の実施の形態】以下実施例につき本発明を詳細に
説明する。
説明する。
【００１６】図１は本発明の一実施例におけるバスイン
タフェース回路の全体構成図である。図１において、８
ビットで構成されたバスインタフェース回路は、半導体
集積回路１０に搭載された双方向バッファ１１〜１８、
半導体集積回路２０に搭載された双方向バッファ２１〜
２８を備えており、各双方向１１〜１８がデータバス３
１〜３８を介して双方向バッファ２１〜２８にそれぞれ
接続されている。さらに半導体集積回路１０には方向制
御回路４０と障害検出回路４１が設けられており、半導
体集積回路２０には方向制御回路４２と障害検出回路４
４が設けられている。方向制御回路４０は双方向バッフ
ァ１１〜１８の方向性を制御し、方向制御回路４２は双
方向バッファ２１〜２８の方向性を制御するようになっ
ている。
タフェース回路の全体構成図である。図１において、８
ビットで構成されたバスインタフェース回路は、半導体
集積回路１０に搭載された双方向バッファ１１〜１８、
半導体集積回路２０に搭載された双方向バッファ２１〜
２８を備えており、各双方向１１〜１８がデータバス３
１〜３８を介して双方向バッファ２１〜２８にそれぞれ
接続されている。さらに半導体集積回路１０には方向制
御回路４０と障害検出回路４１が設けられており、半導
体集積回路２０には方向制御回路４２と障害検出回路４
４が設けられている。方向制御回路４０は双方向バッフ
ァ１１〜１８の方向性を制御し、方向制御回路４２は双
方向バッファ２１〜２８の方向性を制御するようになっ
ている。
【００１７】障害検出回路４１は双方向バッファ１１〜
１８の内部側とデータバス側にそれぞれ接続されてお
り、双方向バッファ１１〜１８の内部側またはデータバ
ス側へテストデータを送出し、送出したデータの内容を
比較し、比較結果を判定し、この判定結果から障害箇所
を診断するようになっている。また障害検出回路４４は
双方向バッハ２１〜２８の内部側とデータバス側にそれ
ぞれ接続されており、内部側またはデータバス側へテス
トデータを送出し、送出したデータと受信したデータと
を比較し、比較結果を判定し、判定結果から障害箇所を
診断するようになっている。さらに障害検出回路４１と
障害検出回路４４とは障害通知信号線４５を介して接続
されており、一方の双方向バッファから他方の双方向バ
ッファへデータバス３１〜３８を介してデータが伝送さ
れないときには、データバス３１〜３８で異常が発生し
た旨を障害通知信号線４５を介して伝送するようになっ
ている。
１８の内部側とデータバス側にそれぞれ接続されてお
り、双方向バッファ１１〜１８の内部側またはデータバ
ス側へテストデータを送出し、送出したデータの内容を
比較し、比較結果を判定し、この判定結果から障害箇所
を診断するようになっている。また障害検出回路４４は
双方向バッハ２１〜２８の内部側とデータバス側にそれ
ぞれ接続されており、内部側またはデータバス側へテス
トデータを送出し、送出したデータと受信したデータと
を比較し、比較結果を判定し、判定結果から障害箇所を
診断するようになっている。さらに障害検出回路４１と
障害検出回路４４とは障害通知信号線４５を介して接続
されており、一方の双方向バッファから他方の双方向バ
ッファへデータバス３１〜３８を介してデータが伝送さ
れないときには、データバス３１〜３８で異常が発生し
た旨を障害通知信号線４５を介して伝送するようになっ
ている。
【００１８】次に図１に示すバスインタフェース回路の
障害診断方法について説明する。
障害診断方法について説明する。
【００１９】ここで、データバス３１〜３８に故障が生
じたときに、例えば、データバス３１〜３８を介して正
確なデータが伝送されなかったことを例に説明する。す
なわちデータバス３１〜３８の異常時には、障害検出回
路４１は、双方向バッファ１１〜１８の内部側にテスト
データを送出し、各双方向バッファ１１〜１８のデータ
バス側から出力されるテストデータを入力し、送出した
データと入力したデータとを比較する。
じたときに、例えば、データバス３１〜３８を介して正
確なデータが伝送されなかったことを例に説明する。す
なわちデータバス３１〜３８の異常時には、障害検出回
路４１は、双方向バッファ１１〜１８の内部側にテスト
データを送出し、各双方向バッファ１１〜１８のデータ
バス側から出力されるテストデータを入力し、送出した
データと入力したデータとを比較する。
【００２０】次に、障害検出回路４１からテストデータ
を送出したタイミングとは異なるタイミングで、障害検
出回路４４から双方向バッファ２１〜２８の内部側へテ
ストデータを送出し、双方向バッファ２１〜２８のデー
タバス側から出力されるテストデータを入力する。そし
て送出したデータと入力したデータとを比較する。そし
て障害検出回路４１、４４でそれぞれ比較結果を判定
し、一方の判定結果を障害通知信号線４５を介して他方
の信号検出回路へ伝送し、各判定結果から障害箇所を診
断する。このとき、各障害検出回路４１、４４の判定結
果が全て正常であればデータバス３１〜３８が切断され
ていると診断することができる。また障害検出回路４
１、４４の全ての比較結果が異常となったときにはデー
タバス３１〜３８が短絡であると診断することができ
る。
を送出したタイミングとは異なるタイミングで、障害検
出回路４４から双方向バッファ２１〜２８の内部側へテ
ストデータを送出し、双方向バッファ２１〜２８のデー
タバス側から出力されるテストデータを入力する。そし
て送出したデータと入力したデータとを比較する。そし
て障害検出回路４１、４４でそれぞれ比較結果を判定
し、一方の判定結果を障害通知信号線４５を介して他方
の信号検出回路へ伝送し、各判定結果から障害箇所を診
断する。このとき、各障害検出回路４１、４４の判定結
果が全て正常であればデータバス３１〜３８が切断され
ていると診断することができる。また障害検出回路４
１、４４の全ての比較結果が異常となったときにはデー
タバス３１〜３８が短絡であると診断することができ
る。
【００２１】一方、データバス３１〜３８が正常時に、
双方向バッファ１１〜１８と双方向バッファ２１〜２８
との間でデータの授受が正確にできないときには、前述
したと同じ方法で各双方向バッファ１１〜１８、２１〜
２８にそれぞれテストデータを入力し、入力したテスト
データに基づいたデータの判定を行う。そして障害検出
回路４１、４４の判定結果が異常と判定されたときに
は、異常の判定された双方向バッファの故障であること
を診断することができる。
双方向バッファ１１〜１８と双方向バッファ２１〜２８
との間でデータの授受が正確にできないときには、前述
したと同じ方法で各双方向バッファ１１〜１８、２１〜
２８にそれぞれテストデータを入力し、入力したテスト
データに基づいたデータの判定を行う。そして障害検出
回路４１、４４の判定結果が異常と判定されたときに
は、異常の判定された双方向バッファの故障であること
を診断することができる。
【００２２】データバス３１〜３８の正常時に、障害検
出回路４１、４４からそれぞれ異なるタイミングで双方
向バッファ１１〜１８、２１〜２８のデータバス側から
内部側へテストデータを送出し、送出したデータと内部
側へ伝送されたテストデータとを比較し、各比較結果を
判定し、いずれかの判定結果が異常となったときには、
異常と判定された双方向バッファの内部側に障害がある
ことを診断することができる。
出回路４１、４４からそれぞれ異なるタイミングで双方
向バッファ１１〜１８、２１〜２８のデータバス側から
内部側へテストデータを送出し、送出したデータと内部
側へ伝送されたテストデータとを比較し、各比較結果を
判定し、いずれかの判定結果が異常となったときには、
異常と判定された双方向バッファの内部側に障害がある
ことを診断することができる。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように請求項１記載の発明
によれば、データバスに異常が発生したときには、一方
の双方向バッファと他方の双方向バッファの内部側にそ
れぞれタイミングをずらしてテストデータを入力し、各
双方向バッファの内部側のテストデータとデータバス側
のテストデータとを比較し、この比較結果を判定し、各
判定結果が全て正常であるときには、データバスの切断
と診断し、各判定結果が全て異常であるときにはデータ
バスの短絡と診断することにしたため、データバスの異
常時にインタフェース回路の障害箇所を診断することが
できる。
によれば、データバスに異常が発生したときには、一方
の双方向バッファと他方の双方向バッファの内部側にそ
れぞれタイミングをずらしてテストデータを入力し、各
双方向バッファの内部側のテストデータとデータバス側
のテストデータとを比較し、この比較結果を判定し、各
判定結果が全て正常であるときには、データバスの切断
と診断し、各判定結果が全て異常であるときにはデータ
バスの短絡と診断することにしたため、データバスの異
常時にインタフェース回路の障害箇所を診断することが
できる。
【００２４】
【００２５】
【００２６】
【００２７】
【図１】本発明の一実施例におけるバスインタフェース
回路の全体構成図である。
回路の全体構成図である。
【図２】従来例のバスインタフェース回路の全体構成図
である。
である。
１０、２０ 半導体集積回路 １１〜１８、２１〜２８ 双方向バッファ ３１〜３８ データバス ４０、４２ 方向制御回路 ４１、４４ 障害検出回路
Claims (1)
- 【請求項１】 一方の双方向バッファと他方の双方向バ
ッファとを結ぶデータバスの異常時に、前記一方の双方
向バッファの内部側にテストデータを入力し、 このテストデータと前記一方の双方向バッファのデータ
バス側から出力されたテストデータとを比較し、 さらに前記テストデータの発生タイミングとは異なるタ
イミングで前記他方の双方向バッファの内部側にテスト
データを入力し、 このテストデータと前記他方の双方向バッファのデータ
バス側から出力されたテストデータとを比較し、 前記各比較結果を判定し、これらの比較結果が全て正常であるときには、前記デー
タバスの切断と診断し、これらの比較結果が全て異常で
あるときには前記データバスの短絡と診断する ことを特
徴とするバスインタフェース回路の障害診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7182319A JP2929975B2 (ja) | 1995-07-19 | 1995-07-19 | バスインタフェース回路の障害診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7182319A JP2929975B2 (ja) | 1995-07-19 | 1995-07-19 | バスインタフェース回路の障害診断方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0934749A JPH0934749A (ja) | 1997-02-07 |
| JP2929975B2 true JP2929975B2 (ja) | 1999-08-03 |
Family
ID=16116235
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7182319A Expired - Lifetime JP2929975B2 (ja) | 1995-07-19 | 1995-07-19 | バスインタフェース回路の障害診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2929975B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7610526B2 (en) * | 2005-01-24 | 2009-10-27 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | On-chip circuitry for bus validation |
| JP5467925B2 (ja) * | 2010-05-10 | 2014-04-09 | 株式会社日立製作所 | パラレルバスの健全性チェック機能を備えた保安装置 |
| JP6243145B2 (ja) * | 2013-06-12 | 2017-12-06 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | 高密度実装を実現するパターン配線における重要回線を救済する方法及び高密度実装装置 |
| JP2019096960A (ja) | 2017-11-20 | 2019-06-20 | 富士通株式会社 | 伝送装置及び伝送方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5996610U (ja) * | 1982-12-21 | 1984-06-30 | 日本電気株式会社 | バス異常検出回路 |
| JPH0241540A (ja) * | 1988-08-02 | 1990-02-09 | Nec Corp | インタフェース診断方式 |
-
1995
- 1995-07-19 JP JP7182319A patent/JP2929975B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0934749A (ja) | 1997-02-07 |
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