JP2924758B2 - 光学的情報記録消去方法 - Google Patents
光学的情報記録消去方法Info
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- JP2924758B2 JP2924758B2 JP8022267A JP2226796A JP2924758B2 JP 2924758 B2 JP2924758 B2 JP 2924758B2 JP 8022267 A JP8022267 A JP 8022267A JP 2226796 A JP2226796 A JP 2226796A JP 2924758 B2 JP2924758 B2 JP 2924758B2
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- frequency
- recording
- power
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/006—Overwriting
- G11B7/0062—Overwriting strategies, e.g. recording pulse sequences with erasing level used for phase-change media
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、書換可能な光学的
情報記録媒体上に信号を記録消去する方法、とりわけ信
号をオーバライトする方法に関する。
情報記録媒体上に信号を記録消去する方法、とりわけ信
号をオーバライトする方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】テルル、セレンをベースとするカルコゲ
ナイドガラス薄膜等のアモルファス・結晶間の相変化、
あるいはＩｎＳｂ，ＡｇＺｎ薄膜等の結晶・結晶間の相
変化を光学情報記録媒体の記録層に応用し、レーザー光
線を用いて微小信号マークを記録、再生、消去、書き換
えする、いわゆる相変化形の光記録技術は公知である。
ナイドガラス薄膜等のアモルファス・結晶間の相変化、
あるいはＩｎＳｂ，ＡｇＺｎ薄膜等の結晶・結晶間の相
変化を光学情報記録媒体の記録層に応用し、レーザー光
線を用いて微小信号マークを記録、再生、消去、書き換
えする、いわゆる相変化形の光記録技術は公知である。
【０００３】また、強磁性体薄膜の磁化方向を、外部磁
界の助けを借りながらレーザー光線を用いて反転させ、
これを磁気カー効果によって読み出す、いわゆる光磁気
記録技術もすでに公知である。
界の助けを借りながらレーザー光線を用いて反転させ、
これを磁気カー効果によって読み出す、いわゆる光磁気
記録技術もすでに公知である。
【０００４】さらに上述の内、相変化形の記録媒体上
に、図２に示すような記録レベル（ピーク値）と消去レ
ベル（バイアス値）との二つのレベルの間で、パルス変
調されたレーザー光線を照射し、既に書かれている古い
信号を消去しながら、その上に新しい信号を直接記録し
ていく方法、いわゆる単一レーザービームによるオーバ
ライト方法もまた既に公知である（特開昭５６−１４５
５３０）。
に、図２に示すような記録レベル（ピーク値）と消去レ
ベル（バイアス値）との二つのレベルの間で、パルス変
調されたレーザー光線を照射し、既に書かれている古い
信号を消去しながら、その上に新しい信号を直接記録し
ていく方法、いわゆる単一レーザービームによるオーバ
ライト方法もまた既に公知である（特開昭５６−１４５
５３０）。
【０００５】すなわち、高いレーザーパワーで照射され
た部位は、一旦メルトした後急冷されてアモルファス化
する、一方低いレーザーパワーで照射された部位は、融
点を超えることなくガラス化温度付近でアニールされて
結晶化する。このプロセスがレーザー光線を照射する前
の状態に拘らず、つまりアモルファスであったか、結晶
であったかには拘らず生じれば、単一のレーザースポッ
トでオーバライトができることが報告されている。
た部位は、一旦メルトした後急冷されてアモルファス化
する、一方低いレーザーパワーで照射された部位は、融
点を超えることなくガラス化温度付近でアニールされて
結晶化する。このプロセスがレーザー光線を照射する前
の状態に拘らず、つまりアモルファスであったか、結晶
であったかには拘らず生じれば、単一のレーザースポッ
トでオーバライトができることが報告されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、単一レ
ーザースポットでのオーバーライト機能は、光学系を簡
単に出来る、書き換えのためのアクセス時間を（もし回
転数が同じならば）１／２に短縮出来る等のメリットを
有しているが、一方では、記録マークの長さがオーバー
ライトしないで単に記録を行なう場合に比べて長くなっ
てしまうという課題が見られた。
ーザースポットでのオーバーライト機能は、光学系を簡
単に出来る、書き換えのためのアクセス時間を（もし回
転数が同じならば）１／２に短縮出来る等のメリットを
有しているが、一方では、記録マークの長さがオーバー
ライトしないで単に記録を行なう場合に比べて長くなっ
てしまうという課題が見られた。
【０００７】このことは、記録マークの記録位置に、ジ
ッターが発生しやすいことを意味する。すなわち、従来
のオーバーライト方法では、特にＰＷＭ記録方式のよう
に記録マークの立ち上がり・立ち下がりの位置の何れも
を厳しく決定する必要のある記録方式には、まだ充分に
対応しきれていない。
ッターが発生しやすいことを意味する。すなわち、従来
のオーバーライト方法では、特にＰＷＭ記録方式のよう
に記録マークの立ち上がり・立ち下がりの位置の何れも
を厳しく決定する必要のある記録方式には、まだ充分に
対応しきれていない。
【０００８】従って、本発明は、記録マークにジッタを
抑制する光学的情報記録消去方法を提供することを目的
とする。
抑制する光学的情報記録消去方法を提供することを目的
とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は、光の強度を、
情報信号に対応した周波数ｆ1でパワーレベルＰ1とパワ
ーレベルＰ2との間でパルス変調するとともに（但し、
Ｐ1は光を変調しつつ照射した場合においても照射部を
瞬時溶融させることが可能なパワーレベル、Ｐ2は光を
無変調で照射しても照射部を溶融することが不可能なパ
ワーレベルで、Ｐ1＞Ｐ2）、少なくともパワーレベルＰ
1の照射を行って記録マークを形成する部分では、上記
レーザ光線を上記周波数ｆ1よりも高く、上記情報信号
とは独立した周波数ｆ2を重畳したパルス列として、レ
ーザーパワーをパワーレベルＰ1とパワーレベルＰ0（但
し、Ｐ2＞Ｐ0）との間で変調して照射し、その際、パワ
ーレベルをＰ1からＰ 2 に変換する際には、必ずパワーレ
ベルＰ0を経由させ、周波数ｆ 2 に対応するパルス幅が、
照射パワーを周波数ｆ 1 に対応してＰ 1 からＰ 2 へ、ある
いはＰ 2 からＰ 1 へ切り換えた直後が最も長いという光学
的情報記録消去方法の構成を有する。
情報信号に対応した周波数ｆ1でパワーレベルＰ1とパワ
ーレベルＰ2との間でパルス変調するとともに（但し、
Ｐ1は光を変調しつつ照射した場合においても照射部を
瞬時溶融させることが可能なパワーレベル、Ｐ2は光を
無変調で照射しても照射部を溶融することが不可能なパ
ワーレベルで、Ｐ1＞Ｐ2）、少なくともパワーレベルＰ
1の照射を行って記録マークを形成する部分では、上記
レーザ光線を上記周波数ｆ1よりも高く、上記情報信号
とは独立した周波数ｆ2を重畳したパルス列として、レ
ーザーパワーをパワーレベルＰ1とパワーレベルＰ0（但
し、Ｐ2＞Ｐ0）との間で変調して照射し、その際、パワ
ーレベルをＰ1からＰ 2 に変換する際には、必ずパワーレ
ベルＰ0を経由させ、周波数ｆ 2 に対応するパルス幅が、
照射パワーを周波数ｆ 1 に対応してＰ 1 からＰ 2 へ、ある
いはＰ 2 からＰ 1 へ切り換えた直後が最も長いという光学
的情報記録消去方法の構成を有する。
【００１０】記録周波数ｆ1に高周波を重畳し、レーザ
ーパワーをＰ1とＰ2との間で切り換える際に、一旦再生
光レベルにまで低下させることによって、照射による昇
温・冷却プロファイルを、より精密に制御することがで
きる。
ーパワーをＰ1とＰ2との間で切り換える際に、一旦再生
光レベルにまで低下させることによって、照射による昇
温・冷却プロファイルを、より精密に制御することがで
きる。
【００１１】つまり、照射光をパルス列化することで、
熱が記録マークの後部で蓄積されることに起因して発生
する「マークの形状が涙滴状の歪を呈する」という現象
を抑制することができる。
熱が記録マークの後部で蓄積されることに起因して発生
する「マークの形状が涙滴状の歪を呈する」という現象
を抑制することができる。
【００１２】また、パワーレベルを切り換える際に、一
旦Ｐ0レベルを経由させることで、熱伝導の影響を低減
させ、マーク間の熱的な干渉効果によりマーク形状が変
化することを抑制する。すなわち、記録マークを望む位
置に望む長さで形成することが可能となる。
旦Ｐ0レベルを経由させることで、熱伝導の影響を低減
させ、マーク間の熱的な干渉効果によりマーク形状が変
化することを抑制する。すなわち、記録マークを望む位
置に望む長さで形成することが可能となる。
【００１３】
【発明の実施の形態】まず、従来方法における問題点を
分析し、続いて本発明を説明する。
分析し、続いて本発明を説明する。
【００１４】上記従来法における問題点は、いわゆる
「ヒートモード記録」に特有の現象である。すなわち、
アモルファス・結晶、結晶・結晶間の相変化を応用した
相変化形記録媒体、強磁性体薄膜の磁気カー効果を応用
した光磁気記録媒体は、いずれも吸収した光がいったん
熱に変換され、この熱によって変態を生じさせている。
従って、熱の発生と熱の拡散とのバランスが、照射光の
照射時間（パルス幅）または／及び照射光強度等によっ
て異なれば、当然記録マークの大きさも変わってしま
う。
「ヒートモード記録」に特有の現象である。すなわち、
アモルファス・結晶、結晶・結晶間の相変化を応用した
相変化形記録媒体、強磁性体薄膜の磁気カー効果を応用
した光磁気記録媒体は、いずれも吸収した光がいったん
熱に変換され、この熱によって変態を生じさせている。
従って、熱の発生と熱の拡散とのバランスが、照射光の
照射時間（パルス幅）または／及び照射光強度等によっ
て異なれば、当然記録マークの大きさも変わってしま
う。
【００１５】図３(a)に示すモデルで、昇温冷却の時間
的変化を計算した。さらに、実際に記録を行い、記録マ
ークの観察を行った。記録媒体１の構造は、通常書き換
え型光ディスクに用いられる構造である。直径１３０m
m，厚さ１．２mmのポリカーボネイト基板上に、上下各
１００および２００nmのＺｎＳ薄膜でサンドイッチされ
た厚さ９０nmのＧｅＴｅ薄膜が形成されている。その上
には、基材と同じ板を接着剤を用いて貼り合わせてい
る。
的変化を計算した。さらに、実際に記録を行い、記録マ
ークの観察を行った。記録媒体１の構造は、通常書き換
え型光ディスクに用いられる構造である。直径１３０m
m，厚さ１．２mmのポリカーボネイト基板上に、上下各
１００および２００nmのＺｎＳ薄膜でサンドイッチされ
た厚さ９０nmのＧｅＴｅ薄膜が形成されている。その上
には、基材と同じ板を接着剤を用いて貼り合わせてい
る。
【００１６】記録媒体１は、毎秒２２．５ｍの速度で回
転している。この記録媒体１のトラック２上に、パルス
光３（バイアス光の無い場合）またはパルス光４（バイ
アス光のある場合）を照射する。ピークパワーは２０ｍ
Ｗ，バイアスパワーは１０ｍＷである。また、照射パル
ス幅は８８．８ｎｓｅｃである。パルス光３または４の
照射中に、記録媒体１は微少距離２．０μｍ移動する。
転している。この記録媒体１のトラック２上に、パルス
光３（バイアス光の無い場合）またはパルス光４（バイ
アス光のある場合）を照射する。ピークパワーは２０ｍ
Ｗ，バイアスパワーは１０ｍＷである。また、照射パル
ス幅は８８．８ｎｓｅｃである。パルス光３または４の
照射中に、記録媒体１は微少距離２．０μｍ移動する。
【００１７】図３(b)は、記録開始点（照射開始点）お
よび記録終了点（照射終了点）ならびにその中間点で
の、トラック中心の温度変化の計算結果である。
よび記録終了点（照射終了点）ならびにその中間点で
の、トラック中心の温度変化の計算結果である。
【００１８】これより次のことが示される。すなわち、 １）バイアスパワーが有る場合は、バイアスパワーが無
い場合に比較して、照射開始点での昇温が速く、到達温
度が高い。従って、照射開始点より前の部分（バイアス
光が当たっていた部分）をかなり広く溶融させている。
い場合に比較して、照射開始点での昇温が速く、到達温
度が高い。従って、照射開始点より前の部分（バイアス
光が当たっていた部分）をかなり広く溶融させている。
【００１９】これは、バイアス光で照射された部分から
熱が伝導する結果、まさにこれから記録マークを形成し
ようとする部分（ピークパワーで照射しようとする部
分）の温度が、予め昇温されているためと考えられる。
熱が伝導する結果、まさにこれから記録マークを形成し
ようとする部分（ピークパワーで照射しようとする部
分）の温度が、予め昇温されているためと考えられる。
【００２０】２）但し、中間点では、両者間で昇温冷却
のプロファイルは殆ど差が無い。これは、照射部の中間
部では昇温が飽和に近づくことから、バイアス光での予
備加熱の影響が小さくなってしまうことに対応してい
る。
のプロファイルは殆ど差が無い。これは、照射部の中間
部では昇温が飽和に近づくことから、バイアス光での予
備加熱の影響が小さくなってしまうことに対応してい
る。
【００２１】３）次に、記録終了点（照射終了点）で
は、バイアス光の有る場合には、バイアス光の無い場合
に比較して温度が下がり難い、言い換えれば冷却速度が
遅く、相対的に長い間溶融した状態に保持されている。
は、バイアス光の有る場合には、バイアス光の無い場合
に比較して温度が下がり難い、言い換えれば冷却速度が
遅く、相対的に長い間溶融した状態に保持されている。
【００２２】これは、バイアス光の有る場合には、ピー
クレベルでの照射後も、引続きバイアスレベルでの照射
を受けるためである。
クレベルでの照射後も、引続きバイアスレベルでの照射
を受けるためである。
【００２３】上記のことから、以下のことが言える。よ
うするに、バイアス光の有る場合には、バイアス光の無
い場合に比べて、前後に引き延ばされた記録マークが形
成されること。これを解消するために、単純にピークパ
ワーを下げると、中心部の温度が低下しマーク幅が減少
してしまう。
うするに、バイアス光の有る場合には、バイアス光の無
い場合に比べて、前後に引き延ばされた記録マークが形
成されること。これを解消するために、単純にピークパ
ワーを下げると、中心部の温度が低下しマーク幅が減少
してしまう。
【００２４】図４は、実際にトラック５上に記録したマ
ーク１２の形状を、電子顕微鏡を用いて観察した結果で
ある。(a)はバイアス光の無い場合、(b)はバイアス光成
分を有し、ピークパワーを(a)と揃えた場合、(c)は(b)
と同様にバイアス光成分を有するが、ピークパワーを
(b)よりも下げた場合である。
ーク１２の形状を、電子顕微鏡を用いて観察した結果で
ある。(a)はバイアス光の無い場合、(b)はバイアス光成
分を有し、ピークパワーを(a)と揃えた場合、(c)は(b)
と同様にバイアス光成分を有するが、ピークパワーを
(b)よりも下げた場合である。
【００２５】図中、点６はレーザ光線７がオフからオン
に、またはバイアスレベル１０からピークレベル９へと
切り換わった点を表し、点８は逆にオンからオフに、ま
たはピークレベルからバイアスレベルへと換わった点を
表している。
に、またはバイアスレベル１０からピークレベル９へと
切り換わった点を表し、点８は逆にオンからオフに、ま
たはピークレベルからバイアスレベルへと換わった点を
表している。
【００２６】これよりバイアス光のある(b)の場合に
は、ピークパワーがオンの期間に比較して前後に長い記
録マークが形成されていること、すなわち、位置決めが
困難なことが分かった。また、ピークパワーを下げた
(c)の場合には、全体に細ったマークしか形成されない
ことが確かめられた。
は、ピークパワーがオンの期間に比較して前後に長い記
録マークが形成されていること、すなわち、位置決めが
困難なことが分かった。また、ピークパワーを下げた
(c)の場合には、全体に細ったマークしか形成されない
ことが確かめられた。
【００２７】図１に、本発明の光学的情報記録消去方法
を実施したときの照射光の変調波形の一例を示す。特徴
は以下の１から３の通りである。
を実施したときの照射光の変調波形の一例を示す。特徴
は以下の１から３の通りである。
【００２８】１．レーザーパワーは、記録すべき情報信
号に対応した周波数ｆ1で、ピークレベルＰ1とバイアス
レベルＰ2との間でパルス変調される。
号に対応した周波数ｆ1で、ピークレベルＰ1とバイアス
レベルＰ2との間でパルス変調される。
【００２９】２．さらに情報信号とは独立し、上記周波
数ｆ1よりも十分に高い周波数ｆ2が重畳される。従っ
て、レーザパワーは、ピークレベルＰ1またはバイアス
レベルＰ2と、再生光レベルＰ0との間でパルス変調され
る。
数ｆ1よりも十分に高い周波数ｆ2が重畳される。従っ
て、レーザパワーは、ピークレベルＰ1またはバイアス
レベルＰ2と、再生光レベルＰ0との間でパルス変調され
る。
【００３０】３．周波数ｆ2によって生じたパルス列の
時間幅（パルスデュレーション）は、上記周波数ｆ1に
対応してレーザパワーが変化した直後において最大であ
って、順次減少して一定値に収束する。すなわち、ピー
クパワーＰ1からバイアスパワーＰ2、あるいは逆に、バ
イアスパワーＰ2からピークパワーＰ1に変化した直後が
最も大きく、また、バイアスパワーＰ2からピークパワ
ーＰ1、あるいはピークパワーＰ1からバイアスパワーＰ
2に復帰する直前において最も小さくなる。
時間幅（パルスデュレーション）は、上記周波数ｆ1に
対応してレーザパワーが変化した直後において最大であ
って、順次減少して一定値に収束する。すなわち、ピー
クパワーＰ1からバイアスパワーＰ2、あるいは逆に、バ
イアスパワーＰ2からピークパワーＰ1に変化した直後が
最も大きく、また、バイアスパワーＰ2からピークパワ
ーＰ1、あるいはピークパワーＰ1からバイアスパワーＰ
2に復帰する直前において最も小さくなる。
【００３１】４．ピークパワーＰ1からバイアスパワー
Ｐ2へと切り替わる場合、また、バイアスパワーＰ2から
ピークパワーＰ1へと切り替わる場合には、パワーレベ
ルは一度Ｐ0を経由している。
Ｐ2へと切り替わる場合、また、バイアスパワーＰ2から
ピークパワーＰ1へと切り替わる場合には、パワーレベ
ルは一度Ｐ0を経由している。
【００３２】一度Ｐ0を経由させることで、バイアス光
の影響を最小限度に抑制する。図７は参考図である。
の影響を最小限度に抑制する。図７は参考図である。
【００３３】この方法によれば、以下に示すように、記
録マークの長さを所定の長さに精度良く決定することが
できる。すなわち、記録時において信号の立ち上がりの
位置および立ち下がりの位置に厳密に決定することが可
能となる。
録マークの長さを所定の長さに精度良く決定することが
できる。すなわち、記録時において信号の立ち上がりの
位置および立ち下がりの位置に厳密に決定することが可
能となる。
【００３４】図５は、図１に示した本発明の光学的情報
記録消去方法によってオーバライトを行った場合に、照
射終了部でのトラック上での温度変化を、図３と同じ系
を用いてモデル計算した一例である。周波数ｆ2はｆ1の
６倍に、パワーレベルＰ1はＰ2の２倍に設定した。ま
た、パルス幅のデューティーは、第１のパルスから順に
９０％、８０％、７０％、６０％、６０％、６０％に設
定した。
記録消去方法によってオーバライトを行った場合に、照
射終了部でのトラック上での温度変化を、図３と同じ系
を用いてモデル計算した一例である。周波数ｆ2はｆ1の
６倍に、パワーレベルＰ1はＰ2の２倍に設定した。ま
た、パルス幅のデューティーは、第１のパルスから順に
９０％、８０％、７０％、６０％、６０％、６０％に設
定した。
【００３５】溶融時間が図３の例に比べて短縮され、後
部にまで影響を及ぼし難いことが予想される。図６は記
録マークの観察結果である。所定の長さの記録マークが
形成されていることが分かる。
部にまで影響を及ぼし難いことが予想される。図６は記
録マークの観察結果である。所定の長さの記録マークが
形成されていることが分かる。
【００３６】ｆ2の値はｆ1に比べて少なくとも２倍、望
むらくは４倍以上である方が昇温が滑らかになり好まし
い。また、その際の各パルスの幅は、温度分布の勾配を
均一にする必要から、最初は広く序々に狭くなるほうが
好ましい。但し、ある一定のパルス照射の後はある温度
に保つ必要性から、パルス幅もまた、一定値に収束す
る。
むらくは４倍以上である方が昇温が滑らかになり好まし
い。また、その際の各パルスの幅は、温度分布の勾配を
均一にする必要から、最初は広く序々に狭くなるほうが
好ましい。但し、ある一定のパルス照射の後はある温度
に保つ必要性から、パルス幅もまた、一定値に収束す
る。
【００３７】
【発明の効果】本発明によって信号品質の高い、すなわ
ち記録マークの位置にジッターの少ないオーバライト方
法が実現できた。
ち記録マークの位置にジッターの少ないオーバライト方
法が実現できた。
【図１】本発明の光学的情報記録消去方法に適用される
レーザー光の変調パルス列の様子を示す図
レーザー光の変調パルス列の様子を示す図
【図２】従来のオーバライト方法の変調方式を示す図
【図３】 (ａ)は、従来のオーバーライト方法または記録方法によ
る昇温冷却の時間的変化の検討に用いた記録媒体の斜視
図及び照射パルス波形図 (ｂ)は、従来のオーバライト方法または記録方法によっ
て光を照射した場合の照射部が受ける時間的温度変化を
示す図
る昇温冷却の時間的変化の検討に用いた記録媒体の斜視
図及び照射パルス波形図 (ｂ)は、従来のオーバライト方法または記録方法によっ
て光を照射した場合の照射部が受ける時間的温度変化を
示す図
【図４】従来のオーバライト方法または記録方法によっ
て光を照射した場合に場合の形成される記録マークの観
察結果を示した図
て光を照射した場合に場合の形成される記録マークの観
察結果を示した図
【図５】本発明の光学情報記録消去方法を適用したとき
の消去率と消去光パワーとの関係を示す図
の消去率と消去光パワーとの関係を示す図
【図６】本発明の光学情報記録消去方法を適用したとき
の照射部が受ける時間的温度変化ならびに形成される記
録マークの形状を観察した結果を示す図
の照射部が受ける時間的温度変化ならびに形成される記
録マークの形状を観察した結果を示す図
【図７】レーザー光の変調パルス列の様子を示す参考図
Claims (6)
- 【請求項１】 光の強度を、情報信号に対応した周波数
ｆ1でパワーレベルＰ1とパワーレベルＰ2（但し、Ｐ1＞
Ｐ2）の間でパルス変調して、光学的情報記録媒体に情
報信号をオーバライト記録する方法であって、パワーレ
ベルＰ1は、光を変調しつつ照射した場合においても、
照射部を瞬時溶融させることが可能なパワーレベルに設
定し、パワーレベルＰ2は、光を無変調で照射しても、
照射部を溶融することが不可能なパワーレベルに設定
し、記録マークを形成する際には、上記周波数ｆ1より
も高く、上記情報信号に独立した周波数ｆ2を重畳した
パルス列として、レーザーパワーをパワーレベルＰ1と
パワーレベルＰ0（但し、Ｐ2＞Ｐ0）の間で変調して照
射し、パワーレベルをＰ1からＰ 2 に変換する際には、必
ずパワーレベルＰ0を経由させ、周波数ｆ 2 に対応するパ
ルス幅が、照射パワーを周波数ｆ 1 に対応してＰ 1 からＰ
2 へ、あるいはＰ 2 からＰ 1 へ切り換えた直後が最も長い
ことを特徴とする光学的情報記録消去方法。 - 【請求項２】 周波数ｆ2に相当するパルス列の先頭パ
ルスの幅が、後続するパルスの幅とは異なることを特徴
とする請求項１記載の光学的情報記録消去方法。 - 【請求項３】 周波数ｆ2に対応するパルス幅が、照射
パワーを周波数ｆ1に対応して上記Ｐ1からＰ2へ、ある
いはＰ2からＰ1へ切り換える直前が最も短いことを特徴
とする請求項１または２何れかに記載の光学的情報記録
消去方法。 - 【請求項４】 周波数ｆ2に対応するパルス幅が、一方
向的に徐々に変化することを特徴とする請求項３に記載
の光学的情報記録消去方法。 - 【請求項５】 周波数ｆ2に対応するパルス幅が、所定
のパルス幅の後は一定幅に収束することを特徴とする請
求項４記載の光学的情報記録消去方法。 - 【請求項６】 記録マークを形成しない部分では、レー
ザーパワーをパワーレベルＰ2とパワーレベルＰ0（但
し、Ｐ2＞Ｐ0）の間で変調して照射することを特徴とす
る請求項１記載の光学的情報記録消去方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8022267A JP2924758B2 (ja) | 1996-02-08 | 1996-02-08 | 光学的情報記録消去方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8022267A JP2924758B2 (ja) | 1996-02-08 | 1996-02-08 | 光学的情報記録消去方法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63080839A Division JP2574379B2 (ja) | 1988-03-28 | 1988-03-31 | 光学的情報記録消去方法 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04123399A Division JP3223907B2 (ja) | 1999-02-19 | 1999-02-19 | 光学的情報記録方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08235587A JPH08235587A (ja) | 1996-09-13 |
| JP2924758B2 true JP2924758B2 (ja) | 1999-07-26 |
Family
ID=12078005
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8022267A Expired - Lifetime JP2924758B2 (ja) | 1996-02-08 | 1996-02-08 | 光学的情報記録消去方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2924758B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| KR100911140B1 (ko) | 2002-06-03 | 2009-08-06 | 삼성전자주식회사 | 광 기록매체에 데이터를 기록하는 방법 및 그 장치 |
-
1996
- 1996-02-08 JP JP8022267A patent/JP2924758B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08235587A (ja) | 1996-09-13 |
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