JP2891947B2 - Inspection device for bottle mouth and screw - Google Patents
Inspection device for bottle mouth and screwInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、製瓶又は瓶充填工場ラ
インにおいて、瓶口部・ネジ部のビリ検査において、自
動化に適した瓶口部・ネジ部ビリ検査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for inspecting a bottle mouth and a screw portion suitable for automation in a bottle mouth and a screw portion of a bottle making or bottle filling factory line.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、製瓶又は瓶充填工場ラインにおい
ては、瓶の口部・ネジ部のビリ検査は、ライン上にて、
目視検査によるか又は複数の投光器a、複数の受光器b
のa:bで検査部位毎に複数の検査ステーションを占有
して、公知のハンドリングマシン上で瓶種毎、ビリ欠陥
種毎に手動目視により投光器、受光器等を設定し、検査
を行っていた。また、もうひとつの方法としては、固定
の複数の照明を、瓶の口部・ネジ部にあて、CCDカメ
ラにて検査部位に公知のウインドウをかけて、検査を行
っている。2. Description of the Related Art Conventionally, in a bottle manufacturing or bottle filling factory line, a check of the mouth and screw portion of a bottle is performed on a line.
By visual inspection or by a plurality of projectors a, a plurality of receivers b
In a: b, a plurality of inspection stations are occupied for each inspection site, and a projector, a light receiver, and the like are set by manual visual inspection for each bottle type and each screw defect type on a known handling machine, and the inspection is performed. . As another method, a plurality of fixed lights are applied to the mouth portion and screw portion of the bottle, and a CCD camera is used to put a known window on the inspection site to perform the inspection.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
目視による方法では、高速に流れるライン上では、欠陥
の識別は困難であり、又前記の複数投光器を使用してビ
リ欠陥種別毎に手動目視により設定した検査方法では、
瓶の口部・ネジ部のどこに欠陥が発生するか判らない上
に、瓶の口部・ネジ部のビリに対しては、あらゆる型の
ビリに対応した検査を行うことができないし、公知の瓶
の型替え時には、投光器等の設定に時間を要するという
問題点を有している。前記もう一つの方法であるCCD
カメラによる検査では、縦状のビリ検出には有効である
が、瓶ネジ目に沿った横状のビリに関しては、検出感度
が低いという問題点を有している。また、型替え時には
カメラ、照明、感度等を再設定し直さなければならない
という問題点を有している。本発明は、従来容易でなか
った瓶種毎の型替え設定を自動化し、瓶の口部・ネジ部
のビリ検査を部位、欠陥種別に無関係に網羅的に行い、
且つ、欠陥種別では、泡、異物、カケ、ネジ出及び変形
等の欠陥検出感度を有し、さらに、欠陥部位の仕分け、
欠陥種別の仕分けを行い、品質管理を向上させることが
できる瓶口部・ネジ部ビリ検査装置を提供することを目
的とする。However, in the conventional visual method, it is difficult to identify a defect on a line flowing at a high speed. In the inspection method set,
In addition to knowing where the defects occur in the mouth and thread of the bottle, the bottle mouth and thread can not be inspected for any type of twist, and the well-known inspection cannot be performed. At the time of changing the bottle type, there is a problem that it takes time to set the light projector and the like. The other method, CCD
Inspection by a camera is effective for detecting vertical shaking, but has a problem that the detection sensitivity is low for horizontal shaking along the bottle thread. In addition, there is a problem that the camera, illumination, sensitivity, and the like must be reset when changing the model. The present invention automates the type change setting for each bottle type, which has been difficult so far, and performs a thorough inspection of the mouth and screw portion of the bottle irrespective of the site and the defect type,
In addition, the defect type has a defect detection sensitivity of bubbles, foreign matters, chips, screwing out, deformation, and the like.
It is an object of the present invention to provide a bottle opening / threaded part inspection apparatus capable of sorting defect types and improving quality control.
【0004】[0004]
【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成するために、瓶口部・ネジ部ビリ検査装置において、
検査位置におかれた被検査瓶を回転させる公知の回転手
段と、瓶口部及びネジ部を中心として周囲に配置したN
個、好ましくは2以上、より好ましくは2〜30個の、
最も好ましくは20個前後の投光器と、M個、好ましく
は2以上、より好ましくは2〜120個の、最も好まし
くは60〜70個前後の受光器を、被検査瓶を中心とし
て好ましくは略半球形状に配置し、被検査瓶の各検査ポ
イントに対して、NXMの回数の受光器による明度処理
を行い、瓶口部・ネジ部全周にわたって、一定間隔、例
えば、1〜10mm間隔程度で明度処理を行う。ここ
で、明度処理とは、受光輝度の採取処理をいう。検査ポ
イントとは、1スキャンにおいて、投受光される瓶上の
エリアのことである。その時、全周分の検査スキャン数
をLとすると、LXNXMの数の明度処理データが採取さ
れる。次に、公知のデータ並替処理手段により、各投光
器毎、受光器毎のデータをチャンネル単位で並替を行う
と、並替られたデータが得られる。これをデータ並替処
理という。その後、前記Lに対して、NXMの受光それ
ぞれについて、受光データの微分処理を行う。この微分
処理とは、公知の差分処理であり、公知の微分手段を用
いて実行される。この微分処理により、明暗の変化点と
受光データの変化量が検出され、 1)良品瓶の場合には、検出された前記変化量のいずれ
かのデータが、しきい値設定を越えないよう、微分レベ
ル判定値をNXMチャンネルに対して、それぞれ自動設
定しているため、ビリ欠陥として検出されない。 2)ビリ欠陥瓶の場合には、NXMチャンネルでいずれ
かの微分レベルデータが微分レベル判定値を越えるた
め、ビリ欠陥として検出され、排出信号が出力され、排
出される。ここで、微分レベル判定値とは、微分処理さ
れ、一定のマージンを持って設定される値のことであ
る。この場合、本発明では、各投光器からの投光が同時
点灯でないため、複数の投受光間の干渉現象が発生せ
ず、ビリ検出を正確に且つ網羅的に行うことができる。SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, there is provided an apparatus for inspecting a bottle mouth portion and a screw portion to achieve the above object.
A known rotation means for rotating the bottle to be inspected placed at the inspection position, and N arranged around the bottle mouth and the screw portion
, Preferably 2 or more, more preferably 2 to 30,
Most preferably around 20 light emitters and M, preferably 2 or more, more preferably 2 to 120, most preferably around 60 to 70 light receivers, preferably approximately a hemisphere around the bottle under test It is arranged in a shape, and the brightness processing is performed for each inspection point of the bottle to be inspected by the number of NXM light receivers, and the brightness at a constant interval, for example, at an interval of about 1 to 10 mm, over the entire periphery of the bottle mouth and the screw. Perform processing. Here, the brightness process refers to a process of collecting received light luminance. The inspection point is an area on the bottle where light is transmitted and received in one scan. At this time, assuming that the number of inspection scans for the entire circumference is L, lightness processing data of the number LXNXM is collected. Next, when the data for each light emitter and each light receiver are rearranged for each channel by a known data rearrangement processing means, the rearranged data is obtained. This is called data rearrangement processing. After that, for the L, the light receiving data is differentiated for each of the NXM light receptions. This differentiation processing is a known difference processing, and is executed using a known differentiation means. By this differentiation process, the light-dark change point and the amount of change in the received light data are detected. 1) In the case of a non-defective bottle, any data of the detected amount of change does not exceed the threshold setting. Since the differential level determination value is automatically set for each of the NXM channels, it is not detected as a chattering defect. 2) In the case of a screw defect bottle, one of the differential level data exceeds the differential level judgment value in the NXM channel, so that it is detected as a screw defect and a discharge signal is output and discharged. Here, the differential level determination value is a value that is differentiated and set with a certain margin. In this case, according to the present invention, since the light emitted from each of the light projectors is not turned on at the same time, an interference phenomenon between a plurality of light emitted and received does not occur, and it is possible to accurately and comprehensively detect the vibration.
【0005】同様に、本発明にかかる装置では、投光の
反射光の検出ができること、且つ光の反射方向が変わる
のを検出できるので、欠陥種別では、泡、異物、カケ、
ネジ出及び変形等の欠陥を検出することができる。ま
た、口部のうち、特に天面部に関しては、天スジ、天流
れ、天カミダシ、天泡を検出することができる。Similarly, the apparatus according to the present invention can detect the reflected light of the projected light and can detect the change in the direction of the reflected light.
Defects such as screwing and deformation can be detected. In addition, a top line, a top stream, a top dash, and a top bubble can be detected particularly in the top portion of the mouth.
【0006】又、その場合、欠陥部位の仕分け、欠陥種
別の仕分けを行うことにより、品質管理を向上させ、生
産性を高めることができる。即ち、前記NXMの各チャ
ネルを使用者が任意に欠陥種別を設定することにより、
仕分けを各カウンターにより読みとることができる。[0006] In this case, the quality control can be improved and the productivity can be improved by sorting the defective portions and the defect types. That is, the user can arbitrarily set the defect type for each of the NXM channels,
Sorting can be read by each counter.
【0007】[0007]
【作用】本発明によれば、瓶口部・ネジ部のビリ欠陥検
出を網羅的に行うことができ、かつ、投受光器の配列が
固定化され、感度も自動設定のため、繁忙な瓶種毎の型
替作業を迅速に行うことができる。また、同時に泡、異
物、カケ、ネジ出及び変形欠陥等も検出でき、欠陥部位
の仕分け、欠陥種別の仕分けを行うことにより、品質管
理を向上させ、品質管理面の向上が計れる。According to the present invention, it is possible to comprehensively detect a screw defect in a bottle mouth portion and a screw portion, and the arrangement of the light emitting and receiving devices is fixed, and the sensitivity is automatically set. The type change operation for each type can be performed quickly. At the same time, bubbles, foreign matter, chips, unraveling, deformation defects, and the like can be detected, and by performing sorting of defective portions and sorting of defect types, quality control can be improved and quality control can be improved.
【0008】本発明で使用できる投光器としては、高速
点灯できるとの理由で、LED投光器が好ましいが、こ
れに限定されるものではなく、レーザー光でも可能であ
る。[0008] The light projector that can be used in the present invention is preferably an LED light projector because it can be turned on at high speed, but is not limited to this, and laser light is also possible.
【0009】本発明で使用できる受光器としては、投光
器からの光量の変化を採取できれば良く、フォト受光器
が好ましいが、これに限定されるものではなく、受光デ
バイスであれば足りる。A photo-receiver that can be used in the present invention is preferably a photo-receiver, as long as it can sample the change in the amount of light from the light-emitter, but is not limited to this. Any photo-receiver is sufficient.
【0010】本発明で用いられる投光器及び受光器は、
好ましくは、略半球状の検査治具ベットによって、被検
査瓶の周囲に固定、または半固定で用いられる。The projector and the receiver used in the present invention are:
Preferably, it is fixed or semi-fixed around the bottle to be inspected by a substantially hemispherical inspection jig bet.
【0011】本発明において良品瓶を良品と判定するた
めの感度設定は、微分レベル判定値の増減によって行わ
れる。In the present invention, the sensitivity setting for judging a non-defective bottle as a non-defective item is performed by increasing or decreasing a differential level judgment value.
【0012】本発明において、欠陥部位、欠陥種別の仕
分けはチャンネルの位置の検出によって行われる。In the present invention, the sorting of the defect portion and the defect type is performed by detecting the position of the channel.
【0013】[0013]
【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
以下に詳細に説明する。図1は、本発明の一実施例の概
略で、投受光センサと瓶の配置と投受光エリアを示す説
明図である。図2は、検査治具上における投受光センサ
の詳細配置図である。図3は、ハンドリングマシン上に
おける検査治具の取付側面図である。図4は、本発明の
一実施例の概略を示すシステムブロック図である。図5
は、投受光タイミングと検査エリアを示す説明図であ
る。図6は、実機オンライン時における検査処理タイミ
ング図である。図7は、本発明の一実施例の処理手段を
示すシステムのフローチャートである。図8は、実機オ
ンライン時における動作処理のフローチャートである。
図9は、微分処理の説明図である。図1に示すように、
検査位置におかれた被検査瓶7は、回転方向8のように
回転し、投光器配置位置1には、複数の投光器を配置
し、受光器配置位置2には、複数の受光器を配置し、投
光線3、受光線4のエリアで投受光を行う。Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic view of an embodiment of the present invention, and is an explanatory diagram showing the arrangement of light emitting / receiving sensors and bottles and light emitting / receiving areas. FIG. 2 is a detailed arrangement diagram of the light emitting / receiving sensor on the inspection jig. FIG. 3 is a mounting side view of the inspection jig on the handling machine. FIG. 4 is a system block diagram schematically showing an embodiment of the present invention. FIG.
FIG. 4 is an explanatory diagram showing light emission / reception timings and inspection areas. FIG. 6 is a timing chart of the inspection processing when the actual machine is online. FIG. 7 is a flowchart of the system showing the processing means of one embodiment of the present invention. FIG. 8 is a flowchart of the operation processing when the actual device is online.
FIG. 9 is an explanatory diagram of the differentiation processing. As shown in FIG.
The inspection bottle 7 placed at the inspection position rotates in the rotation direction 8, a plurality of light emitters are arranged at the light emitter arrangement position 1, and a plurality of light receivers are arranged at the light receiver arrangement position 2. , The light beam 3 and the light receiving line 4 are projected and received.
【0009】図1に示すように、検査位置におかれた被
検査瓶7は、回転方向8のように回転し、投光器配置位
置1には、複数の投光器を配置し、受光器配置位置2に
は、複数の受光器を配置し、投光線3、受光線4のエリ
アで投受光を行う。As shown in FIG. 1, the bottle 7 to be inspected at the inspection position is rotated in the rotation direction 8, a plurality of light emitters are arranged at the light emitter arrangement position 1, and the light receiver arrangement position 2 is arranged. , A plurality of light receivers are arranged, and light is projected and received in the area of the light beam 3 and the light receiving line 4.
【0014】図2に示すように、検査位置の被検査瓶7
は、ハンドリングマシン上のスターホイル13上に位置
し、投受光のセンサは検査治具ヘッド9上に位置し、投
光器11は10個、受光器12は64個配置する。As shown in FIG. 2, the bottle 7 to be inspected at the inspection position
Is located on the star wheel 13 on the handling machine, the light emitting / receiving sensor is located on the inspection jig head 9, 10 light emitting devices 11 and 64 light receiving devices 12 are arranged.
【0015】図3に示したのは、検査治具の側面図で、
高さ位置可変ノブ14、左右方向位置可変ノブ15、前
後方向位置可変ノブ16により、治具ヘッド9を被検査
瓶7に対して、検査最適位置に設定する。FIG. 3 shows a side view of the inspection jig.
The jig head 9 is set to the inspection optimum position with respect to the bottle 7 to be inspected by the height position variable knob 14, the left-right position variable knob 15, and the front-rear direction variable knob 16.
【0016】図4に、本システムのシステムブロック構
成図を示す。図5、図6を参考して説明する。投光レン
ズ25、投光素子26、投光ケーブル27で構成する投
光器NO.1〜NO.10の投光タイミング(図5に示
す)を28〜37(図4)のようにコントロールロジッ
ク回路21により制御した。受光レンズ17、受光素子
18、受光アンプ19、受光ケーブル20で構成する受
光器NO.1からNO.64は、受光タイミング38の
タイミングで、一投光毎に受光スキャンを行い、投光
器NO.1〜NO.10までそれぞれ受光スキャンを行
う。コントロールロジック回路21により、受光スキャ
ンのマルチプレックスタイミングを制御し、マルチプレ
ックスA/D変換を行い、コントロールロジック21を
通して、CPU23に受光データを読み込み、投受光一
スキャン分のデータ採取が完了する。この投受光一スキ
ャンを瓶一周分にわたって、データ採取処理を行う。1
スキャン目の受光タイミング39、2スキャン目の受光
タイミング40であり、その時の1スキャン目の検査エ
リア42、2スキャン目の検査エリア43、3スキャン
目の検査エリア44、Nスキャン目の検査エリア41で
ある。被検査瓶7が回転方向8のように回転するため、
全周にわたってデータ採取処理が行われる。FIG. 4 shows a system block diagram of the present system. This will be described with reference to FIGS. A light emitting device No. composed of a light emitting lens 25, a light emitting element 26, and a light emitting cable 27. 1 to NO. The 10 light emission timings (shown in FIG. 5) were controlled by the control logic circuit 21 as shown at 28 to 37 (FIG. 4). A light receiving device No. consisting of a light receiving lens 17, a light receiving element 18, a light receiving amplifier 19, and a light receiving cable 20. 1 to NO. Numeral 64 denotes a light receiving timing at which the light receiving scan is performed for each light emission, and the light emitter NO. 1 to NO. Light receiving scans are performed up to 10 respectively. The control logic circuit 21 controls the multiplex timing of the light-receiving scan, performs multiplex A / D conversion, reads the light-receiving data into the CPU 23 through the control logic 21, and completes the data collection for one scan of light-emitting and light-receiving. The data collection processing is performed for one scan of the light emission / reception over one round of the bottle. 1
The light receiving timing 39 of the scan is the light receiving timing 40 of the second scan. At that time, the inspection area 42 of the first scan, the inspection area 43 of the second scan, the inspection area 44 of the third scan, and the inspection area 41 of the N scan. It is. Since the bottle 7 to be inspected rotates in the rotation direction 8,
Data collection processing is performed over the entire circumference.
【0017】これをハンドリングマシンとのタイミング
で説明すると、マシン回転クロック45の一周期分が瓶
1本のハンドリングとすると、検査中46の期間内に瓶
全周分のデータ採取処理が行われ、次の瓶の検査中ま
での間、検査処理48が行われ、検査中の先頭で検査
結果47を出力する。この場合、不良瓶の時は排出信号
を出力する。To explain this in terms of timing with the handling machine, assuming that one cycle of the machine rotation clock 45 is for handling one bottle, data collection processing for the entire circumference of the bottle is performed during the period 46 during the inspection. The inspection process 48 is performed until the next bottle is being inspected, and the inspection result 47 is output at the beginning of the inspection. In this case, in the case of a defective bottle, a discharge signal is output.
【0018】図7にCPU部23におけるソフトウェア
の処理の概要を示し、その説明を行うと、POWER ON58
で初期設定59の処理により、システム動作の準備を行
う。次に、選択が、オフライン60の場合は、オフライ
ンの初期設定62の処理によりオフライン処理の準備を
行い、処理選択を待つ。オフライン処理には個別投光画
面処理63、欠陥検出モニター処理64、ファイル処理
65があり、選択により実行する。又、選択がオンライ
ンの場合には、ON LINE処理61を実行する。FIG. 7 shows an outline of software processing in the CPU section 23.
Then, by the processing of the initial setting 59, the system operation is prepared. Next, when the selection is offline 60, preparation for offline processing is performed by the processing of offline initialization 62, and the processing selection is awaited. The offline processing includes an individual light projection screen processing 63, a defect detection monitoring processing 64, and a file processing 65, which are executed by selection. If the selection is online, an ON LINE process 61 is executed.
【0019】図8にON LINE処理61のフローチャート
を示して説明すると、ON LINEスタート70により処理
が開始され、検査中、信号比較手段71により検査中4
6(図6)を認識し、投受光のスキャンが開始される。
その時、CPUは受光データ採取処理手段72により、
一投光器当たり60受光データ、1スキャン10投光器
分のデータを読み込み、瓶一周分以上、瓶回転速度に対
応したスキャン数、およそ約100スキャン分のデータ
を読み込む作業を行う。次に、データ並替処理手段74
により、各投光器毎、受光器毎のデータを約100スキ
ャンのデータとして、チャンネル単位で並替を行うと、
10X60スキャンの並び替えられたデータとして成立
する。その後、それらのスキャンデータを各スキャン毎
に微分処理手段75により公知の微分処理を行うことに
より、受光データの変化量を算出する。そして、良品瓶
の場合には、検出された前記変化量のいずれかのデータ
ががしきい値設定を越えないよう、微分レベル判定値を
NXMチャンネルに対して、それぞれ自動設定している
ため、ビリ欠陥として検出されないが、ビリ欠陥瓶の場
合には、NXMチャンネルでいずれかの微分レベルデー
タが微分レベル判定値を越えるため、ビリ欠陥として検
出され、排出信号が出力され、排出される。そして、し
きい値比較処理手段76により設定されたしきい値を越
えた場合は、口部・ネジ部の欠陥として認識され、欠陥
分類処理手段77により、投光器と受光器の関係によっ
て、あらかじめ決められた欠陥分類によって分類され
る。そして、検査結果処理手段78により、NG信号が
出力され、被検査瓶は排出され、画面表示処理手段79
でNG検出を表示し、ループ80で次の被検査瓶を待
つ。FIG. 8 shows a flow chart of the ON LINE processing 61. The processing is started by an ON LINE start 70, during the inspection, and during the inspection by the signal comparing means 71.
6 (FIG. 6) is recognized, and scanning for light emission / reception is started.
At that time, the CPU uses the received light data
An operation of reading 60 received light data per one light emitter, data of 10 light emitters per scan, and data of about 100 scans corresponding to the rotation speed of the bottle over one round of the bottle is performed. Next, the data rearrangement processing means 74
Therefore, when the data for each projector and each light receiver are rearranged in units of channels as data of about 100 scans,
This is realized as rearranged data of 10 × 60 scans. Thereafter, a known differential process is performed on the scan data by the differential processing unit 75 for each scan, thereby calculating the amount of change in the received light data. In the case of a non-defective bottle, the differential level judgment value is automatically set for each of the NXM channels so that any data of the detected change amount does not exceed the threshold value setting. Although it is not detected as a biling defect, in the case of a biling defect bottle, any differential level data exceeds the differential level determination value in the NXM channel, so that it is detected as a biling defect, and a discharge signal is output and discharged. If the threshold value exceeds the threshold value set by the threshold value comparison processing means 76, it is recognized as a defect of the mouth and the screw part, and is determined in advance by the defect classification processing means 77 based on the relationship between the projector and the light receiver. It is classified according to the defect classification. Then, an NG signal is output by the inspection result processing means 78, the bottle to be inspected is discharged, and the screen display processing means 79
Displays NG detection, and waits for the next bottle to be inspected in loop 80.
【0020】図9に微分処理と、しきい値比較処理の説
明の為の図を示し、説明すると、スキャンデータ83
は、前記10個の投光器、64個の受光器のうちの一投
光器、一受光器における約100スキャン分のデータの
並替後のデータである。欠陥時レベルデータ68、受光
センサベースデータ66のような場合、微分比較幅であ
るCPパラメータ67は、設定値1〜10程度の数値で
設定し、何スキャン前のデータと差分をとるかを設定す
るパラメータである。スライスパラメータ69は設定値
5〜100程度の数値で設定し、しきい値として使用さ
れ、このしきい値を越えると欠陥と判定される。FIG. 9 is a diagram for explaining the differentiation process and the threshold value comparison process.
Is data obtained by rearranging data for about 100 scans in one of the ten light emitters and one of the 64 light receivers. In the case of the defect-time level data 68 and the light-receiving sensor base data 66, the CP parameter 67, which is the differential comparison width, is set to a numerical value of about 1 to 10 and the number of scans before the data is set. Parameter. The slice parameter 69 is set with a set value of about 5 to 100 and is used as a threshold value. If the slice parameter value exceeds the threshold value, it is determined that the slice is defective.
【0021】ON LINE時の画面を説明すると、良
品本数、欠陥本数、トータル処理本数をモニターし、欠
陥本数の内分として、横ビリ本数、縦ビリ本数を表示
し、さらに、欠陥検出の内分を投受光器毎に表示され
る。投光器番号、受光器番号、欠陥検出比較は、製瓶に
おける欠陥部位のデータを集計すると共に、ライン上に
フィードバックすることにより、欠陥原因を究明するた
めに重要なデータとなる。The screen at the time of ON LINE will be described. The number of non-defective products, the number of defects, and the total number of processed lines are monitored, and the number of horizontal and vertical deviations is displayed as an integral part of the number of defects. Is displayed for each emitter and receiver. The projector number, the light receiver number, and the defect detection comparison are important data for determining the cause of the defect by totalizing the data of the defective part in the bottle and feeding it back on the line.
【発明の効果】本発明によれば、製瓶工場において、瓶
口部・ネジ部ビリ検査精度を向上させる事ができ、又、
ビン種毎の型替作業時間の大幅な短縮を謀れる。又、欠
陥種別の情報を適格に表現することにより、欠陥原因の
分析と対策を迅速に講ずることができる。これらによっ
て、生産性の向上、省力化を推進することができる。According to the present invention, it is possible to improve the accuracy of the inspection of bottle opening and screw portion in a bottle factory.
Significantly shortens the type change work time for each bin type. In addition, by appropriately expressing the information of the defect type, it is possible to quickly analyze the cause of the defect and take a countermeasure. With these, improvement in productivity and labor saving can be promoted.
【図1】 投受光センサと瓶の配置と投受光エリアを示
す説明図。FIG. 1 is an explanatory diagram showing the arrangement of light emitting / receiving sensors, bottles, and light emitting / receiving areas.
【図2】 投受光センサの詳細配置図。FIG. 2 is a detailed layout diagram of a light emitting / receiving sensor.
【図3】 検査治具の取付側面図。FIG. 3 is a mounting side view of an inspection jig.
【図4】 本発明の一実施例のシステムブロック図。FIG. 4 is a system block diagram of one embodiment of the present invention.
【図5】 投受光タイミングと検査エリアを示す説明
図。FIG. 5 is an explanatory diagram showing light emission / reception timing and an inspection area.
【図6】 実機オンライン時における検査処理タイミン
グ図。FIG. 6 is a timing chart of an inspection process when the actual machine is online.
【図7】 本発明の一実施例のソフトウェアの概略を示
すシステムのフローチャート。FIG. 7 is a system flowchart showing an outline of software according to an embodiment of the present invention.
【図8】 実機オンライン時における動作処理のフロー
チャート。FIG. 8 is a flowchart of operation processing when the actual device is online.
【図9】 微分処理の説明図。FIG. 9 is an explanatory diagram of a differentiation process.
1 投光器配置位置 2 受光器配置位置 3 投光線 4 受光線 5 瓶回転受ローラー 6 瓶回転ローラー 7 被検査瓶 8 瓶回転方向 9 治具ヘッド 10 欠 11 投光器 12 受光器 13 スターホイル 14 高さ可変ツマミ 15 左右可変ツマミ 16 前後方向可変ツマミ 17 受光レンズ 18 受光素子 19 受光アンプ 20 受光ケーブル 21 マルチプレックスA/D変換回路 22 コントロールロジック回路 23 CPU部 24 表示部 25 投光レンズ 26 投光素子 27 投光ケーブル 28〜37 投光器NO,1〜NO.10投光タイミン
グ 38 受光タイミング 39 1スキャン目の受光タイミング 40 2スキャン目の受光タイミング 41 Nスキャン目の検査エリア 42 1スキャン目の検査エリア 43 2スキャン目の検査エリア 44 3スキャン目の検査エリア 45 マシン回転クロック 46 検査中 47 検査結果 48 検査処理 49 瓶静止回転タイミング 50 瓶静止回転終了タイミング 51 検査結果出力タイミング 58 POWER ON 59 初期設定 60 OFF LINE 61 ON LINE処理 62 初期設定2 63 個別投光画面処理手段 64 欠陥検出モニタ処理手段 65 ファイル処理手段 66 受光センサベースデータ 67 CPパラメータ 68 欠陥時レベルデータ 69 スライスパラメータ 70 ON LINEスタート 71 検査中信号比較手段1 72 受光データ採取処理手段 73 検査中信号比較手段2 74 データ並替処理手段 75 微分処理手段 76 しきい値比較処理手段 77 欠陥分類処理手段 78 検査結果処理手段 79 画面表示処理手段 80 ループ1 81 ループ2 82 ループ3 83 スキャンデータREFERENCE SIGNS LIST 1 Projector arrangement position 2 Receiver arrangement position 3 Emitter beam 4 Light receiving line 5 Bottle rotation receiving roller 6 Bottle rotation roller 7 Inspection bottle 8 Bottle rotation direction 9 Jig head 10 Missing 11 Projector 12 Receiver 13 Star wheel 14 Height variable Knob 15 Left / right variable knob 16 Front / rear variable knob 17 Light receiving lens 18 Light receiving element 19 Light receiving amplifier 20 Light receiving cable 21 Multiplex A / D conversion circuit 22 Control logic circuit 23 CPU section 24 Display section 25 Light emitting lens 26 Light emitting element 27 Light emitting element 27 Optical cable 28-37 Floodlight NO, 1-NO. 10 Light-emitting timing 38 Light-receiving timing 39 Light-receiving timing of first scan 40 Light-receiving timing of second scan 41 Inspection area of N-scan 42 Inspection area of first scan 43 Inspection area of second scan 44 Inspection area of third scan 45 Machine rotation clock 46 Inspection 47 Inspection result 48 Inspection processing 49 Bottle still rotation timing 50 Bottle still rotation end timing 51 Inspection result output timing 58 POWER ON 59 Initial setting 60 OFF LINE 61 ON LINE processing 62 Initial setting 2 63 Individual projection screen Processing means 64 Defect detection monitor processing means 65 File processing means 66 Light receiving sensor base data 67 CP parameter 68 Defect level data 69 Slice parameter 70 ON LINE start 71 Signal ratio during inspection Means 1 72 Light reception data collection processing means 73 Inspection signal comparison means 2 74 Data rearrangement processing means 75 Differentiation processing means 76 Threshold value comparison processing means 77 Defect classification processing means 78 Inspection result processing means 79 Screen display processing means 80 Loop 1 81 Loop 2 82 Loop 3 83 Scan data
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−294262(JP,A) 特開 昭54−63790(JP,A) 特開 昭57−161611(JP,A) 特開 平5−157707(JP,A) 実開 昭59−168152(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01B 11/00 - 11/30 102 G01N 21/84 - 21/91 Continuation of front page (56) References JP-A-4-294262 (JP, A) JP-A-54-63790 (JP, A) JP-A-57-161611 (JP, A) JP-A-5-157707 (JP) , A) Real opening 59-168152 (JP, U) (58) Fields investigated (Int. Cl. 6 , DB name) G01B 11/00-11/30 102 G01N 21/84-21/91
Claims (4)
検査位置におかれた被検査瓶を回転させる回転手段と、
瓶口部及びネジ部を中心として周囲に、略半円球状の取
付治具に複数個の投光器と、複数個の受光器を配置し、
前記投光器の数をN、受光器の数をMとすると、前記被
検査瓶に対して1スキャン当たりNXMのデータを採取
するデータ採取手段と、採取されたデータを並替るデー
タ並替処理手段及び並替られたデータを微分する微分手
段とからなることを特徴とする瓶口部・ネジ部ビリ検査
装置。1. A bottle opening / screw part inspection apparatus,
Rotating means for rotating the bottle to be inspected placed at the inspection position;
Around the bottle mouth and the screw part, a plurality of light emitters and a plurality of light receivers are arranged in a substantially semi-spherical mounting jig,
Assuming that the number of the light emitters is N and the number of the light receivers is M, data collection means for collecting NXM data per scan for the bottle to be inspected, data rearrangement processing means for rearranging the collected data, and A bottle mouth and screw part inspection apparatus comprising a differentiating means for differentiating the rearranged data.
に対して、1スキャン当たりNXMのデータを瓶口部・
ネジ部全周にわたって実施したとき、良品となるように
受光の感度を自動設定し、不良サンプルに対しては、前
記感度設定状態で瓶口部・ネジ部ビリ欠陥の検出を行う
ことを特徴とする前記請求項1記載の瓶口部・ネジ部ビ
リ検査装置。2. For non-defective samples, NXM data per scan is applied to the bottle to be inspected.
When performed over the entire circumference of the screw portion, the sensitivity of light reception is automatically set so as to be a non-defective product, and for a defective sample, detection of a bottle mouth portion and screw portion defect in the sensitivity setting state is performed. 2. The bottle opening / screw part squeezing inspection device according to claim 1, wherein
おける泡、異物、カケ、ネジ出及び変形の欠陥を検出す
ることができる前記請求項1ないし2記載の瓶口部・ネ
ジ部ビリ検査装置。3. The bottle mouth portion and screw portion according to claim 1 or 2, wherein a defect such as a bubble, a foreign substance, a chip, a screw-out and a deformation in the bottle mouth portion or screw portion which is a known defect type can be detected. Blister inspection device.
行い、表示及びモニターすることができる前記請求項1
乃至3記載の瓶口部・ネジ部ビリ検査装置。4. The method according to claim 1, wherein sorting of a defective portion and sorting of a defect type are performed, and display and monitoring are possible.
4. A bottle mouth and screw part inspection apparatus according to any one of claims 1 to 3.
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Applications Claiming Priority (1)
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1996
- 1996-09-05 JP JP25560496A patent/JP2891947B2/en not_active Expired - Fee Related
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