JP2890915B2 - ウエーハのブラシ洗浄装置 - Google Patents

ウエーハのブラシ洗浄装置

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JP2890915B2 JP22636091A JP22636091A JP2890915B2 JP 2890915 B2 JP2890915 B2 JP 2890915B2 JP 22636091 A JP22636091 A JP 22636091A JP 22636091 A JP22636091 A JP 22636091A JP 2890915 B2 JP2890915 B2 JP 2890915B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ウエーハを1枚ずつ自
動的に洗浄する毎葉式の自動洗浄装置に設けられるブラ
シ洗浄装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体素子製造において、半導体ウエー
ハの表面に付着した不純物は半導体素子の性能に悪影響
を及ぼす。
【0003】そこで、半導体ウエーハの製造工程の中に
は洗浄工程が含まれており、この洗浄工程ではウエーハ
が種々の方法によって洗浄されるが、ウエーハの洗浄方
法には大別して物理的洗浄方法と化学的洗浄方法とがあ
る。
【0004】上記前者の物理的洗浄方法としては、洗浄
ブラシ等を用いてウエーハ表面に付着した不純物を直接
除去する方法、噴射ノズルから加圧流体をウエーハの一
部又は全体に向けて噴射し、これによって不純物を除去
する方法、ウエーハを液中に浸漬してこれに超音波を当
てて該ウエーハに付着した不純物を除去する方法(超音
波洗浄法)等がある。
【0005】又、前記後者の化学的洗浄方法としては、
種々の薬剤、酵素等によってウエーハ表面に付着した不
純物を化学的に分解除去する方法等がある。尚、物理的
洗浄方法と化学的洗浄方法が併用されることもある。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、半導体の製
造分野においては、近年の半導体デバイスの高集積化の
傾向に伴って半導体ウエーハが大口径化し、複数枚のウ
エーハをキャリアに収容して洗浄する従来の方式によれ
ば、多大な労力を要する。
【0007】又、ウエーハをキャリアに収容して運搬す
る方式を採ると、ウエーハとキャリアとの接触等によっ
てウエーハにパーティクル等が付着してウエーハが汚染
されるという問題も生じる。
【0008】更に、研磨が終了したウエーハを次の洗浄
工程に移るまで一時的にストックしておくと、ウエーハ
の表面が乾燥して該表面に付着した不純物が除去されな
いという問題もあった。
【0009】そこで、ウエーハを1枚ずつ垂直に支持し
てこれを複数の洗浄槽の洗浄液中に順次浸漬せしめるこ
とによって、ウエーハを1枚ずつ洗浄する毎葉式の自動
洗浄装置が提案される。
【0010】ところで、研磨加工が終了したウエーハに
はパーティクルが付着しており、このパーティクルをブ
ラシ洗浄によって除去する場合、前記毎葉式の自動洗浄
装置ではウエーハを垂直に起立させた状態でブラシ洗浄
することが必要となる。
【0011】本発明は上記事情に基づいてなされたもの
で、その目的とする処は、毎葉式のウエーハ自動洗浄装
置において、垂直に起立するウエーハの両面を同時に、
且つ効率良くブラシ洗浄することができるウエーハのブ
ラシ洗浄装置を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく
発明(特に図5を参照)は、垂直に起立するウエーハを
一対の回転ブラシ間に挟持してこれの両面を同時にブラ
シ洗浄する装置であって、水平、且つ回転自在に配され
る一対の回転ブラシ74,75と、該回転ブラシ74,
75を回転駆動するブラシ駆動手段87,88と、ウエ
ーハを支持してこれをそのウエーハの面に直角な中心軸
の回りに回転駆動するウエーハ駆動手段とを含んで構成
され、前記各回転ブラシ74,75および前記ブラシ駆
動手段87,88は、それぞれ別々にベース部材85,
86上に設置され、該ベース部材85,86は、固定ベ
ース93上に設置されたアクチュエータ94に連結さ
れ、該アクチュエータ94により回転ブラシの軸直角方
向に一体的に、かつ互いに逆方向に移動して接離自在と
されているとともに、該ベース部材85,86はスプリ
ング99,99によって互いに離反する方向に付勢さ
れ、前記固定ベース93上にはストッパ支持部材10
0,100が立設され、該ストッパ支持部材100,1
00には前記ベース部材85,86の移動量を規制する
ためのストッパ101,101が進退自在に螺合されて
いることをその特徴とする。
【0013】
【作用】本発明によれば、回転ブラシ74,75がスプ
リング99,99の弾発力によって互いに離間した状態
において、ウエーハが回転ブラシ74,75間に垂直に
挿入され、その外周部がウエーハ駆動手段で(例えば駆
動ローラ60,61により)支持される。ついで、アク
チュエータ94の駆動により、スプリング99,99の
弾発力に抗して回転ブラシ74,75が互いに近づいて
これらの間でウエーハが挟持される。この状態でウエー
ハ駆動手段で(例えば駆動モータ65による駆動ローラ
60,61の回転により)ウエーハを所定の速度で回転
駆動するとともに、ブラシ駆動手段87,88を駆動し
て回転ブラシ74,75を互いに逆方向に回転駆動すれ
ば、回転ブラシ74,75間に挟持されたウエーハはそ
の両面を回転ブラシ74,75によって洗浄され、表面
に付着したパーティクル等が機械的に除去される。この
洗浄操作では、ストッパ支持部材100,100に対す
るストッパ101,101の螺合位置を、これら支持部
材の進退操作により適宜に設定することによって、回転
ブラシ74,75をウエーハの洗浄面に押し付ける圧力
を適正値に制御することができるので、ウエーハ洗浄面
にダメージを与えることなく、効率良くその汚れを除去
することができる。
【0014】
【実施例】以下に本発明の一実施例を添付図面に基づい
て説明する。
【0015】図6、図7、図8は本発明に係るブラシ洗
浄装置を備えるウエーハ自動洗浄装置の正面図、平面
図、側面図であり、該自動洗浄装置は、ローダ部A、ウ
エーハ受槽B、予備洗浄槽C、ブラシ洗浄槽D、洗浄槽
E,F,G,H,I、2つの予備槽J,K、乾燥槽L及
びアンローダ部Mを有している。
【0016】而して、前工程である研磨工程においてそ
の表面を鏡面研磨されたウエーハWは、図7に示すよう
に、そのまま継続してローダ部Aに1枚ずつ搬入され、
純水の流れに沿ってウエーハ受槽B内に送られる。
【0017】ところで、ウエーハ受槽Bには不図示のウ
エーハ起立装置が設けられており、ウエーハ受槽Bに搬
入されたウエーハWは、ウエーハ起立装置によって垂直
に起立せしめられる。そして、垂直に起立せしめられた
ウエーハWは、搬送ロボット20によって垂直に支持さ
れてウエーハ受槽Bから予備洗浄槽Cまで自動的に搬送
され、予備洗浄槽Cでは洗浄液中に浸漬されてその背面
に付着したワックスが除去される。
【0018】而して、予備洗浄槽Cにてワックスを除去
されたウエーハWは、搬送ロボット20によって再びハ
ンドリングされてブラシ洗浄槽Dに送られ、このブラシ
洗浄槽Dにてその両面を同時にブラシ洗浄される。
【0019】ここで、ブラシ洗浄槽Dに設けられるブラ
シ洗浄装置50の構成を図1乃至図5に基づいて説明す
る。尚、図1はブラシ洗浄装置50の破断側面図、図2
は図1の矢視d方向の図、図3は同ブラシ洗浄装置50
の破断平面図、図4は図3のe−e線断面図、図5は図
3の矢視f方向の図である。
【0020】図1及び図2において、51は垂直に回転
自在に支承されたボールネジであって、このボールネジ
51にはガイド52,52に沿って上下動するスライダ
53が螺合しており、このスライダ53にはベース部材
54が支持されている。そして、ボールネジ51の上端
部にはギヤ55が結着されており、該ギヤ55は駆動モ
ータ56の出力軸端に結着されたギヤ57に噛合してい
る。
【0021】又、前記ベース部材54には、図3に示す
ように、2本の回転軸58,59が水平、且つ回転自在
に支承されており、これらの回転軸58,59の先部に
は駆動ローラ60,61が結着されている。そして、回
転軸58,59の先部に結着されたプレート62には2
つのガイドローラ63,64が回転自在に支承されてお
り、これらのガイドローラ63,64と前記駆動ローラ
60,61とは、図4に示すように、ウエーハWの外周
部を支持すべく円弧状に配されている。
【0022】更に、前記ベース部材54上には駆動モー
タ65が設置されており、図2に示すように、該駆動モ
ータ65の出力軸端に結着されたプーリ66と前記回転
軸58に結着されたプーリ67間にはベルト68が巻装
されている。又、回転軸58の中間部にはもう一方のプ
ーリ69が結着されており、該プーリ69と前記回転軸
59に結着されたプーリ70間にはベルト71が巻装さ
れている。尚、ベルト71には、図2に示すように、軸
72を中心に回動するテンションプーリ73によって所
定の張力が付与されている。
【0023】一方、図3に示すように、前記回転軸5
8,59の軸方向と直交する方向には2本の回転ブラシ
74,75が回転自在に配されており、これらの回転ブ
ラシ74,75は回転軸58,59の軸方向(図3の左
右方向)に移動自在に支持されている。即ち、回転ブラ
シ74,75を支持する回転軸76,77は、平行に敷
設されたガイドレール78,78に沿って移動自在な軸
受部材79,79,80,80によて回転自在に支承さ
れている。尚、回転軸76,77は、これらの外周に縮
装されたスプリング81,82によって一方向に付勢さ
れており、その一端にはプーリ83,84が各々結着さ
れている。
【0024】又、前記各一方の軸受部材79,80を支
持するベース部材85,86上には、駆動モータ87,
88が各々設置されており、これらの駆動モータ87,
88の各出力軸端にはプーリ89,90が結着されてい
る。そして、プーリ89とプーリ83間、プーリ90と
プーリ84間にはベルト91,92がそれぞれ巻装され
ている。
【0025】更に、図5に示すように、固定ベース93
上にはアクチュエータ94が設置されており、該アクチ
ュエータ94の左右に延出するロッド95…にはジョイ
ント96,96,97,97を介して前記ベース部材8
5,86が連結されている。尚、各ベース部材85,8
6は、各ジョイント96,96と固定ベース93上に立
設されたリテーナ98,98間に介設されたスプリング
99,99によって互いに離反する方向に付勢されてい
る。又、固定ベース93上にはストッパ支持部材10
0,100が立設されており、これらのストッパ支持部
材100,100にはベース部材85,86の移動量を
規制するためのストッパ101,101が進退自在に螺
合している。
【0026】ここで、ブラシ洗浄装置50の作用を図1
乃至図5に従って説明する。
【0027】ブラシ洗浄装置50においては、ウエーハ
Wが投入される以前は図5に示すアクチュエータ94の
ロッド95…はスプリング99,99の弾発力を受けて
伸長しており、従って回転ブラシ74,75は図1に鎖
線にて示すように互いに離間しており、両者の間には所
定の隙間が形成されている。
【0028】而して、前記搬送ロボット20(図1乃至
図3参照)によってハンドリングされたウエーハWは回
転ブラシ74,75間の隙間に垂直に嵌め込まれ、その
下半部外周が前記駆動ローラ60,61及びガイドロー
ラ63,64によって受けられる。
【0029】その後、アクチュエータ94が駆動されて
ロッド95…が縮められると、回転ブラシ74,75は
互いに近づいてこれらの間でウエーハWを挟持する。
【0030】上記状態において駆動モータ65を駆動す
れば、これの回転はプーリ66、ベルト68及びプーリ
67を経て回転軸58に伝達されるとともに、更にプー
リ69、ベルト71及びプーリ70を経て回転軸59に
伝達され、これによって両回転軸58,59が回転駆動
され、これらに支持されたウエーハWが所定の速度で回
転駆動される。尚、このとき、ウエーハWには洗浄液が
供給される。
【0031】又、駆動モータ87,88を駆動すれば、
これらの回転はプーリ89,90、ベルト91,92及
びプーリ83,84を経て回転軸76,77に伝達さ
れ、該回転軸76,77及びこれらに各々支持された回
転ブラシ74,75が互いに逆方向(ウエーハWを駆動
ローラ60,61及びガイドローラ63,64に押し付
ける方向)に回転し、ウエーハWの両面は回転ブラシ7
4,75によって洗浄されてパーティクルが除去され
る。そして、このブラシ洗浄時においては、駆動モータ
56が周期的に正逆転駆動され、これの回転はギヤ5
7,55を経てボールネジ51に伝達され、このボール
ネジ51の正逆の回転によってこれに螺合するスライダ
53がベース部材54と共に上下動するため、駆動ロー
ラ60,61及びガイドローラ63,64とこれらに支
持されたウエーハWも一体的に上下動し、ウエーハWの
中心部も回転ブラシ74,75によってムラ無く洗浄さ
れる。
【0032】上記のようにしてブラシ洗浄されたウエー
ハWは、搬送ロボット20によってハンドリングされて
次の洗浄槽E,F,G,H,Iに順次搬送されて洗浄処
理される。
【0033】そして、予備洗浄槽C乃至洗浄槽Iによっ
て洗浄処理されたウエーハWは、搬送ロボット20によ
って前記乾燥槽Lに搬送されて速成乾燥され、最後にア
ンローダ部Mに搬送されて収納される。
【0034】以上のように、本実施例に係るウエーハ自
動洗浄装置は毎葉式であって、ウエーハWは搬送ロボッ
ト20によって1枚ずつ支持されて搬送され、且つ連続
的に処理されるため、従来用いられていたキャリアが不
要となって、所謂キャリアレスを実現することができ、
キャリアでの搬送に伴うウエーハWの汚染の問題が解消
され、省力化が実現される。
【0035】
【発明の効果】以上の説明で明らかな如く、本発明に係
るウエーハのブラシ洗浄装置では、垂直に起立するウエ
ーハを一対の回転ブラシ間に挟持してこれの両面を同時
にブラシ洗浄する装置であって、水平、且つ回転自在に
配される一対の回転ブラシと、該回転ブラシを回転駆動
するブラシ駆動手段と、ウエーハを支持してこれをその
ウエーハの面に直角な中心軸の回りに回転駆動するウエ
ーハ駆動手段とを含んで構成され、前記各回転ブラシと
これを回転駆動する前記ブラシ駆動手段はそれぞれ別々
のベース部材上に設置され、これらのベース部材は、固
定ベース上に設置されたアクチュエータにより回転ブラ
シの軸直角方向に一体的に、かつ互いに逆方向に移動し
て接離自在とされているとともに、該ベース部材はスプ
リングによって互いに離反する方向に付勢され、前記固
定ベース上にはストッパ支持部材が立設され、該ストッ
パ支持部材には前記ベース部材の移動量を規制するため
のストッパが進退自在に螺合されていることにより、
葉式のウエーハ自動洗浄装置において、垂直に起立する
ウエーハの両面を同時に効率良く、且つウエーハ洗浄面
にダメージを与えることなくブラシ洗浄することができ
るという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るブラシ洗浄装置の破断側面図であ
る。
【図2】図1の矢視d方向の図である。
【図3】本発明に係るブラシ洗浄装置の破断平面図であ
る。
【図4】図3のe−e線断面図である。
【図5】図3の矢視f方向の図である。
【図6】ウエーハ自動洗浄装置の正面図である。
【図7】ウエーハ自動洗浄装置の平面図である。
【図8】ウエーハ自動洗浄装置の側面図である。
【符号の説明】
50 ブラシ洗浄装置 51 ボールネジ(ボールネジ機構) 56 駆動モータ(ボールネジ機構) 60,61 駆動ローラ(ウエーハ駆動手段) 65 駆動モータ(ウエーハ駆動手段) 74,75 回転ブラシ85,86 ベース部材 87,88 駆動モータ(ブラシ駆動手段)93 固定ベース 94 アクチュエータ(移動手段)99 スプリング 100 ストッパ支持部材 101 ストッパ W ウエーハ
フロントページの続き (72)発明者 木村 嘉晴 福島県西白河郡西郷村大字小田倉字大平 150番地信越半導体株式会社 半導体白 河研究所内 (72)発明者 鈴木 盛江 福島県西白河郡西郷村大字小田倉字大平 150番地信越半導体株式会社 半導体白 河研究所内 (56)参考文献 特開 昭60−143634(JP,A) 特開 昭61−179529(JP,A) 特開 平2−135777(JP,A) 特開 平2−263437(JP,A) 実開 昭51−84371(JP,U) 実開 平2−142527(JP,U) 実開 昭63−119236(JP,U)

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 垂直に起立するウエーハを一対の回転ブ
    ラシ間に挟持してこれの両面を同時にブラシ洗浄する装
    置であって、水平、且つ回転自在に配される一対の回転
    ブラシと、該回転ブラシを回転駆動するブラシ駆動手段
    と、ウエーハを支持してこれをそのウエーハの面に直角
    な中心軸の回りに回転駆動するウエーハ駆動手段とを含
    んで構成され、前記各回転ブラシとこれを回転駆動する
    前記ブラシ駆動手段はそれぞれ別々のベース部材上に設
    置され、これらのベース部材は、固定ベース上に設置さ
    れたアクチュエータにより回転ブラシの軸直角方向に一
    体的に、かつ互いに逆方向に移動して接離自在とされて
    いるとともに、該ベース部材はスプリングによって互い
    に離反する方向に付勢され、前記固定ベース上にはスト
    ッパ支持部材が立設され、該ストッパ支持部材には前記
    ベース部材の移動量を規制するためのストッパが進退自
    在に螺合されていることを特徴とするウエーハのブラシ
    洗浄装置。
  2. 【請求項2】 前記ウエーハ駆動手段は、ウエーハの外
    周部を支持する駆動ローラと、該駆動ローラを回転駆動
    する駆動モータを含んで構成されることを特徴とする請
    求項1記載のウエーハのブラシ洗浄装置。
  3. 【請求項3】 前記ウエーハ駆動手段は、上下動手段に
    よって周期的に上下動せしめられることを特徴とする請
    求項1又は2記載のウエーハのブラシ洗浄装置。
  4. 【請求項4】 前記上下動手段は、前記ウエーハ駆動手
    段を上下動させるボールネジ機構と、該ボールネジ機構
    を周期的に正逆転させる駆動モータを含んで構成される
    ことを特徴とする請求項3記載のウエーハのブラシ洗浄
    装置。
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EP92307019A EP0526245B1 (en) 1991-07-31 1992-07-31 An automatic cleaning apparatus for wafers
DE69203407T DE69203407T2 (de) 1991-07-31 1992-07-31 Automatische Reinigungseinrichtung für Halbleiterscheibe.
US08/189,679 US5547515A (en) 1991-07-31 1994-02-01 Method for handling or processing semiconductor wafers

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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3393016B2 (ja) * 1996-04-15 2003-04-07 大日本スクリーン製造株式会社 基板洗浄装置および方法
JP4007677B2 (ja) * 1998-04-22 2007-11-14 信越半導体株式会社 ブラシ洗浄装置及びワーク洗浄システム
CN112474462B (zh) * 2020-12-02 2022-06-24 浙江汇隆晶片技术有限公司 一种半导体晶圆表面清理装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5184371U (ja) * 1974-12-26 1976-07-06
JPS60143634A (ja) * 1983-12-29 1985-07-29 Fujitsu Ltd ウエ−ハ処理方法及び装置
JPS61179529A (ja) * 1985-02-04 1986-08-12 Toshiba Corp ソフトランデイング装置
JPS63119236U (ja) * 1987-01-28 1988-08-02
JPH02135777A (ja) * 1988-11-17 1990-05-24 Sony Corp 半導体メモリ
JP2534210B2 (ja) * 1989-04-03 1996-09-11 三菱電機株式会社 ウエハ剥し装置
JPH0617283Y2 (ja) * 1989-04-29 1994-05-02 日本コロムビア株式会社 スクラバー洗浄機

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