JP2856609B2 - スクライブ装置 - Google Patents
スクライブ装置Info
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P40/00—Technologies relating to the processing of minerals
- Y02P40/50—Glass production, e.g. reusing waste heat during processing or shaping
- Y02P40/57—Improving the yield, e-g- reduction of reject rates
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Re-Forming, After-Treatment, Cutting And Transporting Of Glass Products (AREA)
Description
イブ装置に関する。
り合わせたガラス基板の片面のみを切断する場合があ
り、従来、図3に示す方法が取られている。
ブ装置の超硬製もしくはダイヤモンド製カッター1でス
クライブし、ガラス基板上の切断ラインに沿って切り込
み6を入れる。
を下にして、ブレイク装置のテーブル上に置き、反対側
のガラス基板上より切り込み6の部分にスキージ7を落
とし衝撃を加える。これにより、切り込み6を起点にし
て、ガラス基板が分断(ブレイク)され、片面のみの切
断が可能となる。
歩留り良くブレイクするためには、スクライブによる切
り込み6の深さが重要となる。切り込み6が浅すぎる
と、ブレイク装置でのブレイクができず、切り込み6が
深すぎると、切り込み6に沿ってチッピング(微少クラ
ック)が発生し、ブレイク時に異常ブレイク(切断ライ
ン通りに割れない)が起こる。
況を示す。図より切り込みの深さは、カッター1の基板
2に対する押し込み圧力9に依存し、圧力が低いと浅く
なりブレイク不可となり、圧力が高いと深くなりチッピ
ングが発生しやすくなる。
ター押込み圧力がかかるようになっているが、カッター
の軸をブレを少なく支持する機構となっているために、
上下動には限度がある。従って、基板の厚さにも依存
し、カッター高さ設定値(ステージ上面からカッター先
端までの距離)8に対して、薄い基板の場合は切り込み
が浅くなり、厚い基板の場合は切り込みが深くなる。
が1.0kg/cm2 の時が、基板の厚みばらつきに対
し、一番広いマージン(カッター高さ設定値に対し±
0.08mm)を取れる条件となっている。
示素子で使用するガラス基板は、貼り合わせ状態で基板
毎に約±0.1mm(2.04mm〜2.24mm)の
範囲で厚みのばらつきがある。
め、必ずブレーク不可もしくはブレーク異常不良となる
基板が発生する。
定値を2.16mmとし、ブレーク可能範囲を2.08
mm〜2.24mmとしている。よって、2.08mm
未満の約3%の基板がブレーク不可不良として発生して
いる。
影響されないスクライブを可能としたスクライブ装置を
提供することにある。
め、本発明に係るスクライブ装置は、基板厚測定センサ
ーと、制御部とを有し、ステージ上の絶縁基板にカッタ
ーを用いて切断用のスクライブ線をえがくスクライブ装
置であって、基板厚測定センサーは、ステージ上の絶縁
基板の厚みを測定するものであり、制御部は、基板の厚
みに対応してステージからカッター刃先までの距離を調
整するものである。
め、本発明に係るスクライブ装置は、基板厚測定センサ
ーと、制御部とを有し、ステージ上の絶縁基板をカッタ
ーを用いて切断用のスクライブ線を描くスクライブ装置
であって、前記基板厚測定センサーは、前記ステージ上
の絶縁基板の厚みを測定するものであり、前記カッター
の前方をカッターと同期して走行し、基板の厚み測定値
を順次制御部にフィードバックするものであり、 前記制
御部は、前記基板厚測定センサーから順次フィードバッ
クされる基板の厚み測定値に基づいてステージーからカ
ッター刃先までの距離を調整するものである。
構成図である。
基板2の厚みを測定する基板厚測定センサー4を設置
し、さらにセンサー4からの測定値に対応してカッター
1の高さ5を調整する制御部10を装備したものであ
る。
に、基板中央部に基板厚測定センサー4を基板に突き当
て基板厚測定を行なう。この測定値に対応してカッター
1の高さ5を制御部10により調整し、スクライブを始
める。
してカッター高さ5を常時最適値に設定することがで
き、スクライブによる切り込みが一定となる。
構成図である。
あり、この1ケ所で基板全体の厚さを代表している基板
全面における厚みばらつきに対しては誤差が大きい。
ラインに沿って基板厚測定センサー4を前に、カッター
1を後にして同期して走行させ、基板の厚み測定値を順
次制御部10にフィードバックし、カッター高さ5の自
動調整を行なっている。
し、カッター高さ5を最適値に設定でき、切り込みの深
さが一定となり、ブレイク不良が低減できるという利点
を有する。
定を行ない、その測定値に対応してカッター高さを自動
設定するため、常にカッター高さが最適値に設定され、
スクライブにより切り込み深さが一定となる。これによ
りブレイク時の不良発生が3%から1%以下に低減でき
る。
ク方法を示す構成図である。
ある。
Claims (1)
- 【請求項1】 基板厚測定センサーと、制御部とを有
し、ステージ上の絶縁基板をカッターを用いて切断用の
スクライブ線を描くスクライブ装置であって、前記 基板厚測定センサーは、前記ステージ上の絶縁基板
の厚みを測定するものであり、前記カッターの前方をカ
ッターと同期して走行し、基板の厚み測定値を順次制御
部にフィードバックするものであり、 前記 制御部は、前記基板厚測定センサーから順次フィー
ドバックされる基板の厚み測定値に基づいてステージか
らカッター刃先までの距離を調整するものであることを
特徴とするスクライブ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4253201A JP2856609B2 (ja) | 1992-09-22 | 1992-09-22 | スクライブ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4253201A JP2856609B2 (ja) | 1992-09-22 | 1992-09-22 | スクライブ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06102480A JPH06102480A (ja) | 1994-04-15 |
JP2856609B2 true JP2856609B2 (ja) | 1999-02-10 |
Family
ID=17247963
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4253201A Expired - Fee Related JP2856609B2 (ja) | 1992-09-22 | 1992-09-22 | スクライブ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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-
1992
- 1992-09-22 JP JP4253201A patent/JP2856609B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JPH06102480A (ja) | 1994-04-15 |
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