JP2835250B2 - 光ディスク記録再生装置における光量制御装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は光磁気ディスク等を記録
媒体として用いる光ディスク記録再生装置における光量
制御装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】光磁気ディスク装置では、垂直磁化され
た磁性膜に高出力のレーザー光を照射し、その熱により
外部磁界の方向に磁化反転させて情報の記録又は消去を
行なっているが、一般的に、半導体レーザーは温度によ
る影響を受けやすいため、レーザーに供給する駆動電流
を一定に保っても、Ｉ−Ｐ（駆動電流−出射光量）特性
の変化により、安定した出射光量が得られない。

【０００３】又、ディスク状記録媒体を一定角速度で回
転させた場合には、レーザー光の照射位置が外周に向か
うほど相対線速度が速くなり、磁性膜に与える照射エネ
ルギーが、ディスク状記録媒体の内周側と外周側では違
ってくるという不都合があり、記録媒体の全域に亘って
一定の駆動電流を半導体レーザーに供給したのでは、情
報の記録、消去が正常に行なえないことがあった。

【０００４】そのため、従来光磁気ディスク装置ではデ
ィスク状記録媒体の半径位置に対応した記録、消去用の
最適な出射光量を得るための手段として、あらかじめ、
Ｉ−Ｐ特性をテストし、その後は得られたテストデータ
に基づいて通常の記録、消去の光量制御を行なってい
た。つまり半導体レーザーに供給する駆動電流の大きさ
を変え、あらかじめ決められた複数の半径位置に対応し
た出射光量が得られる電流値をテストしていた。

【０００５】このような光量制御を行なう従来の方法と
しては、特開平２−３３７３７号公報に記載された発明
等があった。

【０００６】さらに従来は、プリフォーマットされた光
磁気ディスク上のセクタ単位のタイミングを基にして、
セクタ毎に上記制御が行なわれていた。たとえば特開昭
６２−６６４２４号に開示された制御方法は、ヘッダー
部の再生によって得られた、セクタ単位のタイミングを
基にして、ヘッダー部とデータ部に挟まれたギャップに
おいて、上記制御を行なっていた。さらに上記セクタ毎
のタイミングの制御は、例えば特開平３−１００９２号
に開示された方法により実行されていた。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上記プリフォーマット
方式は、光磁気ディスク製造時にヘッダー部を凹凸で刻
みこんでフォーマットする方式であるが、これ以外にデ
ィスクの製造後に光磁気記録よってヘッダー部のフォー
マットを行なう方式（これを以後「ソフトフォーマット
方式」と呼ぶ）がある。

【０００８】この方式を採用すると、フォーマット前の
ヘッダー部を設けていない未使用の記録媒体と、ＭＯ
（光磁気）信号でヘッダー部を設けた記録媒体の２種類
の光磁気ディスクが存在する。

【０００９】たとえば前者のディスクに対する光量制御
は、セクタ単位のタイミング制御を行なうことは不可能
であり、連続的に光量制御する必要がある。一方、同じ
方法で後者のディスク（ヘッダー部を設けた記録媒体）
を光量制御すると、既に記録媒体上に設けてあるヘッダ
ー部を破壊してしまう恐れがある。したがって、後者の
ディスクに対する光量制御は、逆にセクタ単位のタイミ
ング制御を行なう必要がある。

【００１０】すなわち、同じ方法で前記２種類のディス
クをテスト動作させることは不可能であった。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明に係る情報記録再
生装置は、上記課題を解決するために、フォーマット化
されていない記録媒体に対して、連続的に光源の出射光
量を制御する第１の光量制御手段と、フォーマット化さ
れた記録媒体に対して、セクタ単位の区間で光源の出射
光量を制御する第２の光量制御手段と、装填された記録
媒体がフォーマット化された記録媒体かまたはそうでな
いかを判別する判別手段と、上記第１の光量制御手段と
上記第２の光量制御手段とを切り替えるスイッチ手段と
を具備し、上記判別手段に基づいて、上記第１の光量制
御手段と上記第２の光量制御手段とを選択的に切り替え
て、光量のテスト動作を行なう光ディスク記録再生装置
における光量制御装置を提供するものである。

【００１２】

【作用】判別手段により記録媒体上のフォーマット状態
を判断し、フォーマット化されていなければ、連続的に
高出力のレーザー光の出射光量を制御する第１の光量制
御手段に、フォーマット化されていれば、ヘッダー部で
高出力のレーザー光が発せられないようセクタ単位の区
間でレーザー光の出射光量を制御する第２の光量制御手
段に、夫々スイッチ手段を用いて切り替え、光量テスト
動作を行なう。

【００１３】上記作用により、記録媒体のフォーマット
状態に関係なく、光量テストを行なうことができ、記
録、消去を行なう場合の最適な出射光量をテストするこ
とができる。

【００１４】

【実施例】図１は本発明における光量制御装置の実施例
を示すブロック図である。以下に光量テスト時と通常の
光量制御時に分けて説明する。まず光量テスト時につい
て説明する。第１の光量制御手段１０１と第２の光量制
御手段１０２からそれぞれ出力された２つのテスト電流
信号ｉとｊをスイッチ回路１０３で選択し、選択された
テスト電流信号ｇを半導体レーザ１０４へ導く。第１の
光量制御手段１０１は、光磁気ディスク１０５がフォー
マットされてない場合に半導体レーザ１０４の光量をテ
ストし、第２の光量制御手段１０２はフォーマットされ
ている場合に光量をテストする。フォーマット済判別手
段１０６は、光磁気ディスク１０５がフォーマット済み
か否かを判別し、切り替え信号ｆをスイッチ回路１０３
へ出力し、これによって前記２つのテスト電流信号ｉと
ｊのどちらか一方を選択する。半導体レーザ１０４から
発射されたレーザビーム１０７をハーフミラー１０８を
介して、光磁気ディスク１０５へ照射し、データを記
録、再生する。その反射光をハーフミラー１０８により
光検出器１０９へ導き、電気信号ｈへ変換する。その光
量信号ｈはレーザビーム１０７の光量に比例した信号で
ある。これを第１の光量制御手段１０１と第２の光量制
御手段１０２へ帰還することで、テスト電流信号ｇに対
して半導体レーザ１０８の光量をテストすることがで
き、電流値を決定することが可能となる。

【００１５】次に通常の光量制御時は、上記のテスト時
に決定されたテストデータを基に、以後は第１の光量制
御手段１０１または第２の光量制御手段１０２によって
通常動作時の光量制御を行なう。

【００１６】図２は図１の光量制御装置を更に具体的に
説明する図である。上記と同様にまず光量テスト時から
説明する。尚、図１と重複する部分の説明は省略する。
第１の制御データ発生回路２０１と第２の制御データ発
生回路２０２から８ビットのテスト電流データｉとｊを
出力し、８ビットの信号を切り替えるスイッチアレイ１
０３によってこれらのどちらか一方を選択し、テスト電
流データｋをＤ／Ａ変換器２０３へ導く。アナログ信号
に変換されたテスト電流信号Ｌを駆動電流供給回路２０
４へ送り、これに比例した駆動電流ｇを半導体レーザ１
０４へ送る。その時の光検出器１０９で得た光量信号ｈ
をＡ／Ｄ変換器２０５へ導き、光量データｍを第１の制
御データ発生回路２０１と第２の制御データ発生回路２
０２へ帰還することで、半導体レーザ１０４の光量をテ
ストでき、電流データを決定することが可能となる。

【００１７】また、第１の制御データ発生回路２０１と
第２の制御データ発生回路２０２は、テスト時の目標光
量データＰｎをＲＯＭ２０６から取り出すが、このデー
タＰｎを図６を用いて説明する。前述のように外周ほど
相対線速度が速いため、磁性膜の単位面積に与える照射
エネルギーを一定にするには、外周側ほど光量を大きく
する必要がある。そこで光磁気ディスク１０５を半径位
置で複数の領域Ｚ₁〜Ｚ₅に分け、各領域毎に最適な目標
光量データＰ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５を予め決めて
おけばよい。

【００１８】またテスト終了後の決定データＤｎはＲＡ
Ｍ２０７へ格納しておき、後述のように通常の光量制御
時にこのデータを基にして制御することができる。

【００１９】また光量テスト動作と通常の光量制御動作
との切り替えは、ＣＰＵ２０８からのテスト命令信号ｄ
により行なう。

【００２０】さて、光検出器１０９からの光量信号ｈ
を、再生回路２０９にて再生信号ａへ再生し、ヘッダー
検出回路２１０とデータ検出回路２１１へ送る。ヘッダ
ー検出信号ｂをフォーマット済判別回路１０６と論理回
路２１２へ送る。データ検出信号ｃも論理回路２１２へ
送る。論理回路２１２は、テスト命令信号ｄが真（１）
かつ、ヘッダー検出信号ｂが偽（０）かつ、データ検出
信号ｃが偽（０）の時だけテスト区間信号ｅが真（１）
を発生し、第２の制御データ発生回路２０２を動作させ
ることができる。それ以外では、偽（０）を発生し、動
作を停止させることができる。またフォーマット済検出
回路１０６は、ヘッダーが一度検出されると、それ以後
光磁気ディスク１０５を交換しない限り切り替え信号ｆ
を真（１）とし、検出されない場合は偽（０）とするこ
とができる。スイッチアレイ１０３は、切り替え信号ｆ
が偽（０）の時は第１のテスト電流データｉを選択し、
真（１）の時は第２のテスト電流データｊを選択するこ
とができる。

【００２１】従って、第１の制御データ発生回路２０１
は図１における第１の光量制御手段１０１に相当し、ヘ
ッダー検出回路２１０とデータ検出回路２１１と論理回
路２１２と第２の制御データ発生回路２０２が図１にお
ける第２の光量制御手段１０２に相当する。

【００２２】次に通常の光量制御時は、上記テスト時に
ＲＡＭ２０７に格納しておいた決定データＤｎに基づい
て第１の制御データ発生回路２０１あるいは第２の制御
データ発生回路２０２から制御データｉ又はｊを発生さ
せ、光量の制御を行なう。

【００２３】図３は図２においてフォーマットとされて
いない光磁気ディスクに対するテスト制御時の波形を示
す図である。再生信号ａは、ヘッダー部やデータ部の信
号を含まない。参考のためフォーマットされた場合のヘ
ッダー信号ａｈを破線で示す。従ってヘッダー検出信号
ｂ及びデータ検出信号ｃもロウレベルになり、ヘッダー
検出信号ｂから発生させるフォーマット済判別信号ｄも
ロウレベルになる。従って図２において、テスト電流デ
ータｉが選択され、テスト命令信号ｄに従って第１の制
御データ発生回路２０１により光量テスト動作が実行さ
れる。

【００２４】図７において、テスト命令信号ｄをハイレ
ベルにすると、その期間にテスト電流データｉを増加さ
せていく。これに比例して光量データｍも増加するが、
同時に予めＲＯＭ２０６に格納していた目標データ値Ｐ
１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５と比較し、それぞれ一致し
た時のテスト電流データ値Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４、Ｄ
５をＲＡＭ２０７へ格納する。これにより電流データを
決定することが可能となる。

【００２５】図４は今度は既にフォーマットされた光磁
気ディスク１０５に対するテスト制御時の波形を示す図
である。再生信号ａは、ヘッダー部４０１やデータ部４
０２の信号を含み、これらを対にしてセクタ４０３を構
成する。従ってヘッダー検出信号ｂ及びデータ検出信号
ｃは、その期間でハイレベルになり、それ以外ではロウ
レベルになる。ヘッダー信号ｂから発生させるフォーマ
ット済判別信号ｆは、一度ヘッダー検出信号ｂがハイレ
ベルになるとそれ以後はハイレベルになる。従って図２
において、テスト電流データｊが選択される。一方図４
のテスト命令信号ｄがハイレベルになると、論理回路２
１２によって光量テスト区間信号ｅがヘッダーとデータ
が記録されている期間以外だけハイレベルになる。従っ
て第２の制御データ発生回路２１２により、ヘッダーと
データが記録されている部分以外において光量テスト動
作を実行することが可能となる。

【００２６】図８において、テスト区間信号ｅがハイレ
ベルの期間だけテスト電流データｉを増加させ、ロウレ
ベルの期間では停止させる。これに比例して光量データ
ｍも増加するが、同時に予めＲＯＭ２０６に格納してい
た目標データ値Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５と比較
し、それぞれ一致した時のテスト電流データ値Ｄ１、Ｄ
２、Ｄ３、Ｄ４、Ｄ５をＲＡＭ２０７へ格納する。これ
により電流データを決定することが可能となる。

【００２７】図５は、上記のテスト動作を示す流れ図で
ある。まずＣＰＵからテスト命令を出し、テスト動作を
スタートする（Ｓ１）。次にヘッダーの検出を行ない
（Ｓ２）、フォーマット済みのディスクであるか否かを
判別する（Ｓ３）。フォーマット済みであれば第２のテ
スト手段を選択し（Ｓ４）、そうでなければさらに予め
決められた時間をオーバーしているか否かを判定する
（Ｓ７）。さて第２のテスト手段を選択すると（Ｓ
４）、第２のテストデータが選択され（Ｓ５）、ヘッダ
ー部及びデータ部以外でテスト電流値ｄを増加させる。

【００２８】一方、時間をオーバーしているか否かを判
定し（Ｓ７）、オーバーしていれば第１のテスト手段を
選択し（Ｓ８）、そうでなければもう一度ヘッダーの検
出へ戻る（Ｓ２）。さて第１のテスト手段を選択すると
（Ｓ８）、第１のテストデータが選択され（Ｓ９）、連
続でテスト電流値ｄを増加させる（Ｓ１０）。

【００２９】このように第１のテスト手段または第２の
テスト手段においてテスト電流値ｄを増加させながら
（Ｓ６またはＳ１０）、まずｎに１を代入し（Ｓ１
１）、テスト電流値ｉに比例して徐々に増加する光量デ
ータｍと、予めＲＡＭに格納しておいた目標データＰｎ
を比較する（Ｓ１２）。一致していれば、その時のテス
ト電流データｉを決定データＤｎに代入し（Ｓ１３）、
そうでなければ再度比較へ戻る（Ｓ１２）。データが決
定したら（Ｓ１３）、すべてのデータが決定されたか、
すなわちｎ＝５かどうかを判断し（Ｓ１４）、そうであ
れば決定データＤｎをすべてＲＯＭへ格納し（Ｓ１
５）、そうでなければｎに１を加えて（Ｓ１６）、再度
比較へ戻る（Ｓ１２）。決定データを総てＲＯＭに格納
すれば（Ｓ１５）、テスト動作を終了し（Ｓ１７）、以
後はディスクが交換されるまで上記の決定データＤｎに
基づいて通常の制御動作を実行することができる。

【００３０】尚、図２における第１のテスト手段２０
１、第２のテスト手段２０２、フォーマット済判別手段
１０６およびスイッチ手段１０３をＣＰＵで置き換え、
前記図５の流れ図に従って動作させてもよい。

【００３１】また、図２のフォーマット済判別回路１０
６はこれ以外に、光磁気ディスク装置の表面に取り付け
たスイッチに置き換えて、このオンまたはオフによって
判別してもよい。

【００３２】

【発明の効果】以上、本発明の光量制御によれば、先ず
フォーマット化されていない記録媒体であって、セクタ
単位のタイミングが得られなくても、任意に出力するタ
イミングにより光量テストを行なうことができる。一
方、既にフォーマット化された記録媒体についても、ヘ
ッダー部を破壊しないようなタイミングで光量テストが
できる。これらによって、ヘッダー部及びデータ部への
記録、消去を実行する以前に本発明の光量テストを行な
うことで、記録、消去に最適な出射光量を得ることがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の光ディスク記録再生装置における光
量制御装置の一実施例を示すブロック的電気回路図。

【図２】 上記電気回路図の具体例を示すブロック的電
気回路図。

【図３】 上記光量制御装置の動作説明に供された波形
図。

【図４】 上記光量制御装置の動作説明に供された波形
図。

【図５】 本発明の光量制御装置の動作説明に供された
フローチャートを示す図。

【図６】 記録媒体の半径位置で分けられた領域での最
適な目標光量を説明する図。

【図７】 フォーマット化されていない記録媒体上で光
量制御をした場合の光量データの状態を示す図。

【図８】 フォーマット化された記録媒体上で光量制御
をした場合の光量データの状態を示す図。

【符号の説明】

１０１ 第１の光量制御手段 １０２ 第２の光量制御手段 １０３ スイッチ回路 １０５ 光磁気ディスク １０６ フォーマット済判別手段 ２１０ ヘッダー検出回路

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 フォーマット化されていない記録媒体に
   対して、連続的に光源の出射光量を制御する第１の光量
   制御手段と、 フォーマット化された記録媒体に対して、セクタ単位の
   区間で光源の出射光量を制御する第２の光量制御手段
   と、 装填された記録媒体がフォーマット化されたものか、フ
   ォーマット化されていないものかを判別する判別手段
   と、 上記第１の光量制御手段と第２の光量制御手段とを切り
   替えるスイッチ手段とを具備し、 上記判別手段による判別結果に基づいて上記第１の光量
   制御手段と、第２の光量制御手段を選択的に切り替え
   て、光量制御をテストすることを特徴とする光ディスク
   記録再生装置における光量制御装置。
2. 【請求項２】 上記判別手段は記録媒体上のヘッダー部
   を検出するヘッダー部検出回路と、記録媒体が一定の移
   動をする間に上記ヘッダー部検出回路からのヘッダー部
   検出信号の有無を確認する手段とから構成される上記請
   求項１に記載された光ディスク記録再生装置における光
   量制御装置。