JP2802824B2 - 磁気ディスクの突起検査装置 - Google Patents
磁気ディスクの突起検査装置Info
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- JP2802824B2 JP2802824B2 JP23663890A JP23663890A JP2802824B2 JP 2802824 B2 JP2802824 B2 JP 2802824B2 JP 23663890 A JP23663890 A JP 23663890A JP 23663890 A JP23663890 A JP 23663890A JP 2802824 B2 JP2802824 B2 JP 2802824B2
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- head
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、磁気ディスクの突起検査装置に関し、詳
しくは磁気ディスク・グライドテスターによる突起検査
中に、突起検出ヘッドの不良を検出してテストを中止す
る磁気ディスクの突起検査装置に関するものである。
しくは磁気ディスク・グライドテスターによる突起検査
中に、突起検出ヘッドの不良を検出してテストを中止す
る磁気ディスクの突起検査装置に関するものである。
［従来の技術］ 情報記録媒体の磁気ディスクはアルミニュームディス
クをベースとし、その表面に磁性膜を塗布して製作され
る。磁性膜は凹凸がない平滑な表面とすることが必要
で、このために研磨が行われる。ただし研磨によっても
なお突起が残留することがあり、突起が残留すると磁気
ヘッドが衝突して損傷し、またデータにエラーを発生す
るなどの危険ないしは欠点がある。これを避けるために
研磨につづいて突起検査を行い、その結果により再研磨
を行うか、または研磨が終了する。
クをベースとし、その表面に磁性膜を塗布して製作され
る。磁性膜は凹凸がない平滑な表面とすることが必要
で、このために研磨が行われる。ただし研磨によっても
なお突起が残留することがあり、突起が残留すると磁気
ヘッドが衝突して損傷し、またデータにエラーを発生す
るなどの危険ないしは欠点がある。これを避けるために
研磨につづいて突起検査を行い、その結果により再研磨
を行うか、または研磨が終了する。
第２図（ａ），（ｂ）および（ｃ）は、磁気ディスク
の突起検査を行う突起検出ヘッドと、キャリッジ機構を
示す。図（ａ）において、突起検出ヘッド（以下単にヘ
ッドという）３は、断面がコの字形の金属コア3bにピエ
ゾ素子3aを取り付けて構成される。図（ｂ），（ｃ）に
おいて、ヘッドはヘッドアーム4aの先端に固定され、ヘ
ッドバー4bによりキャリッジ機構５の移動部5aに取り付
けられ、ステップモータ5bにより回転するボールねじ5c
により、磁気ディスクの半径方向にステップ移動する。
突起検査においては、スピンドル２に装着された被検査
の磁気ディスク１はθ方向に回転し、これに対してヘッ
ドが半径方向に移動して磁気ディスク面を走査する。表
面に突起があると、これに金属コア3bの底面が衝突して
ピエゾ素子3aが衝突信号を出力する。突起検出回路（図
示省略）によりこの衝突信号の大きさと発生位置を検出
して突起検査が行われるものである。
の突起検査を行う突起検出ヘッドと、キャリッジ機構を
示す。図（ａ）において、突起検出ヘッド（以下単にヘ
ッドという）３は、断面がコの字形の金属コア3bにピエ
ゾ素子3aを取り付けて構成される。図（ｂ），（ｃ）に
おいて、ヘッドはヘッドアーム4aの先端に固定され、ヘ
ッドバー4bによりキャリッジ機構５の移動部5aに取り付
けられ、ステップモータ5bにより回転するボールねじ5c
により、磁気ディスクの半径方向にステップ移動する。
突起検査においては、スピンドル２に装着された被検査
の磁気ディスク１はθ方向に回転し、これに対してヘッ
ドが半径方向に移動して磁気ディスク面を走査する。表
面に突起があると、これに金属コア3bの底面が衝突して
ピエゾ素子3aが衝突信号を出力する。突起検出回路（図
示省略）によりこの衝突信号の大きさと発生位置を検出
して突起検査が行われるものである。
［解決しようとする課題］ 以上のヘッド３の目的は衝突による突起の検出であ
り、これに対してピエゾ素子3aとその配線は、かならず
しも強靭でないので検査中に故障がしばしば発生する。
故障が発生すると衝突信号が出力されず、突起が存在す
るに拘らず見逃されて不良な磁気ディスクが良品と判定
される不都合が生ずる。これに対してヘッド３の良否を
検査中に絶えずチェックし、不良と判定されたときは直
ちに検査を中止することが望ましい。
り、これに対してピエゾ素子3aとその配線は、かならず
しも強靭でないので検査中に故障がしばしば発生する。
故障が発生すると衝突信号が出力されず、突起が存在す
るに拘らず見逃されて不良な磁気ディスクが良品と判定
される不都合が生ずる。これに対してヘッド３の良否を
検査中に絶えずチェックし、不良と判定されたときは直
ちに検査を中止することが望ましい。
この発明は、以上に鑑みてなされたもので、磁気ディ
スク・グライドテスターにおける突起検査中、常にヘッ
ドの良否をチェックし、不良となった時点で直ちにテス
トを中止する磁気ディスクの突起検査装置を提供するこ
とを目的とするものである。
スク・グライドテスターにおける突起検査中、常にヘッ
ドの良否をチェックし、不良となった時点で直ちにテス
トを中止する磁気ディスクの突起検査装置を提供するこ
とを目的とするものである。
［課題を解決するための手段］ このような目的を達成するためのこの発明の磁気ディ
スクの突起検査装置の特徴は、回転する磁気ディスクの
表面をキャリッジ機構により半径方向に移動し、回転に
より該表面に生ずるエアフローにより浮上して表面に存
在する突起に衝突する突起検出ヘッドを有し、この突起
検出ヘッドの衝突による振動に応じて発生する電気信号
に基づいて突起を検出する磁気ディスクの突起検査装置
において、電気信号に含まれ、キャリッジ機構の動作に
応じて発生する振動ノイズを電気信号の中から抽出する
抽出手段と、この抽出手段から得られる振動ノイズのレ
ベルと所定の基準値とを比較するコンパレータと、この
コンパレータの比較結果に応じてレベルが基準値未満の
ときに突起検出ヘッドを不良と判定しかつ判定が不良の
ときに磁気ディスクの突起検査を中止する制御手段とを
備えるものである。
スクの突起検査装置の特徴は、回転する磁気ディスクの
表面をキャリッジ機構により半径方向に移動し、回転に
より該表面に生ずるエアフローにより浮上して表面に存
在する突起に衝突する突起検出ヘッドを有し、この突起
検出ヘッドの衝突による振動に応じて発生する電気信号
に基づいて突起を検出する磁気ディスクの突起検査装置
において、電気信号に含まれ、キャリッジ機構の動作に
応じて発生する振動ノイズを電気信号の中から抽出する
抽出手段と、この抽出手段から得られる振動ノイズのレ
ベルと所定の基準値とを比較するコンパレータと、この
コンパレータの比較結果に応じてレベルが基準値未満の
ときに突起検出ヘッドを不良と判定しかつ判定が不良の
ときに磁気ディスクの突起検査を中止する制御手段とを
備えるものである。
［作用］ 以上の構成による突起検出ヘッドの不良検出処理方式
においては、キャリッジ機構の動作により発生し、ヘッ
ドにより検出される振動ノイズについて予めレベルと周
波数が測定され、レベルの基準値が定められる。これに
対して、磁気ディスクの検査中絶えずこの振動ノイズの
レベルが監視され、これが基準値以上のとき、ヘッドは
良好と判定される。基準値未満のときは不良と判定され
てテストが中止される。このように、ヘッドの不良は、
自身が検出する振動ノイズのレベルにより判定されるも
ので、格別の検出手段を必要とせず甚だ効率的である。
においては、キャリッジ機構の動作により発生し、ヘッ
ドにより検出される振動ノイズについて予めレベルと周
波数が測定され、レベルの基準値が定められる。これに
対して、磁気ディスクの検査中絶えずこの振動ノイズの
レベルが監視され、これが基準値以上のとき、ヘッドは
良好と判定される。基準値未満のときは不良と判定され
てテストが中止される。このように、ヘッドの不良は、
自身が検出する振動ノイズのレベルにより判定されるも
ので、格別の検出手段を必要とせず甚だ効率的である。
特に、前記抽出手段の具体例として、振動ノイズの周
波数を通過するローパスフィルタにより、ヘッドの出力
信号より振動ノイズを選択抽出して行うことができる。
この場合には、特に、突起の検出は、ハイパスフィルタ
により、突起との衝突による高周波数の減衰振動を抽出
することで行うことができる。
波数を通過するローパスフィルタにより、ヘッドの出力
信号より振動ノイズを選択抽出して行うことができる。
この場合には、特に、突起の検出は、ハイパスフィルタ
により、突起との衝突による高周波数の減衰振動を抽出
することで行うことができる。
［実施例］ 第１図（ａ），（ｂ）は、この発明による磁気ディス
クの突起検査装置の実施例における、ブロック構成図と
ヘッドの出力信号の波形図を示す。図（ａ）において、
ヘッド３は制御回路5dにより制御されるキャリッジ機構
５に取り付けられ、マイクロプロセッサ（MPU）10の制
御の下に被検査の磁気ディスク１の表面をシーク移動す
る。なお、ヘッド３とキャリッジ機構５の詳細は前記し
た第２図（ａ），（ｂ）と同一であるのでこれらを参照
して説明する。回転する磁気ディスク１に対してヘッド
３による走査が行われ、突起が存在するとこれに金属コ
ア3bの底面が衝突し、ピエゾ素子3aより衝突信号Ssが出
力される。一方、キャリッジ機構５に設けられたステッ
プモータ5bとボールねじ5cは、動作に伴って多かれ少な
かれ必ず振動ノイズＳVを発生し、ヘッドバー4bなどを
介してピエゾ素子3aに伝達されて検出される。図（ｂ）
は衝突信号Ssと振動ノイズＳVの１例を示し、衝突信号S
sはピエゾ素子が有する固有振動数の減衰振動で、その
周波数は比較的に高い。一方、振動ノイズＳVはキャリ
ッジ機構のステップモータの回転などによる比較的に低
い周波数の振動であって、両者は明らかに相違するので
フィルタにより容易に分離することができる。再び、図
（ａ）において、ピエゾ素子3aの出力信号はアンプ６に
より適当なレベルに調整され、衝突信号Ssはハイパスフ
ィルタ（HPF）7aを通過し、突起検出回路８に入力され
て突起の大きさと位置のデータが検出され、MPU10の制
御によりインタフェース（I/F）９を経由してメモリ（M
EM）10aに記憶される。一方、振動ノイズＳVは予め測定
された振動ノイズの周波数を通すローパスフィルタ（LP
F）7bを通過し、整流回路11により整流され、コンパレ
ータ12に入力されて基準電圧Ｅと比較される。基準電圧
Ｅは、予め測定された振動ノイズのレベルを参照して定
められる。ピエゾ素子に異常がない間は、コンパレータ
より振動ノイズＳVに対する検出信号がI/F9を介してMPU
10に与えられ、突起検査が継続される。突起検査中にピ
エゾ素子またはその配線に故障が発生すると、振動ノイ
ズＳVがヘッドから出力されず、従って検出信号がMPUに
与えられないので、MPUはヘッドが故障したものと判定
し、以後、突起検出回路８よりのデータの取り込みや磁
気ディスク１の回転などを停止してテストが中止され
る。
クの突起検査装置の実施例における、ブロック構成図と
ヘッドの出力信号の波形図を示す。図（ａ）において、
ヘッド３は制御回路5dにより制御されるキャリッジ機構
５に取り付けられ、マイクロプロセッサ（MPU）10の制
御の下に被検査の磁気ディスク１の表面をシーク移動す
る。なお、ヘッド３とキャリッジ機構５の詳細は前記し
た第２図（ａ），（ｂ）と同一であるのでこれらを参照
して説明する。回転する磁気ディスク１に対してヘッド
３による走査が行われ、突起が存在するとこれに金属コ
ア3bの底面が衝突し、ピエゾ素子3aより衝突信号Ssが出
力される。一方、キャリッジ機構５に設けられたステッ
プモータ5bとボールねじ5cは、動作に伴って多かれ少な
かれ必ず振動ノイズＳVを発生し、ヘッドバー4bなどを
介してピエゾ素子3aに伝達されて検出される。図（ｂ）
は衝突信号Ssと振動ノイズＳVの１例を示し、衝突信号S
sはピエゾ素子が有する固有振動数の減衰振動で、その
周波数は比較的に高い。一方、振動ノイズＳVはキャリ
ッジ機構のステップモータの回転などによる比較的に低
い周波数の振動であって、両者は明らかに相違するので
フィルタにより容易に分離することができる。再び、図
（ａ）において、ピエゾ素子3aの出力信号はアンプ６に
より適当なレベルに調整され、衝突信号Ssはハイパスフ
ィルタ（HPF）7aを通過し、突起検出回路８に入力され
て突起の大きさと位置のデータが検出され、MPU10の制
御によりインタフェース（I/F）９を経由してメモリ（M
EM）10aに記憶される。一方、振動ノイズＳVは予め測定
された振動ノイズの周波数を通すローパスフィルタ（LP
F）7bを通過し、整流回路11により整流され、コンパレ
ータ12に入力されて基準電圧Ｅと比較される。基準電圧
Ｅは、予め測定された振動ノイズのレベルを参照して定
められる。ピエゾ素子に異常がない間は、コンパレータ
より振動ノイズＳVに対する検出信号がI/F9を介してMPU
10に与えられ、突起検査が継続される。突起検査中にピ
エゾ素子またはその配線に故障が発生すると、振動ノイ
ズＳVがヘッドから出力されず、従って検出信号がMPUに
与えられないので、MPUはヘッドが故障したものと判定
し、以後、突起検出回路８よりのデータの取り込みや磁
気ディスク１の回転などを停止してテストが中止され
る。
［発明の効果］ 以上の説明により明らかなように、この発明による磁
気ディスクの突起検査装置は、ヘッドに対するキャリッ
ジ機構が、その動作に伴って振動ノイズを発生し、これ
がヘッドにより検出されることに着目したもので、突起
検査中にこの振動ノイズを常に監視し、そのレベルが基
準値以下に低下したときヘッドに不良が発生したものと
判定してテストを中止するもので、格別な検査機構を必
要とせずヘッドの不良を確実簡便に検出して必要な処理
を行い、突起が残留した不良な磁気ディスクを良品と誤
判断する危険が排除され、磁気磁気ディスクの突起検査
装置のテストの信頼性の向上に寄与する効果には大きい
ものがある。
気ディスクの突起検査装置は、ヘッドに対するキャリッ
ジ機構が、その動作に伴って振動ノイズを発生し、これ
がヘッドにより検出されることに着目したもので、突起
検査中にこの振動ノイズを常に監視し、そのレベルが基
準値以下に低下したときヘッドに不良が発生したものと
判定してテストを中止するもので、格別な検査機構を必
要とせずヘッドの不良を確実簡便に検出して必要な処理
を行い、突起が残留した不良な磁気ディスクを良品と誤
判断する危険が排除され、磁気磁気ディスクの突起検査
装置のテストの信頼性の向上に寄与する効果には大きい
ものがある。
第１図（ａ）および（ｂ）は、この発明による磁気ディ
スクの突起検査装置の実施例におけるブロック構成図
と、突起検出ヘッドが検出する衝突信号と振動ノイズの
波形図、第２図（ａ），（ｂ）および（ｃ）は、磁気デ
ィスク・グライドテスターの突起検出ヘッドの構造を示
す斜視外観図、および突起検出ヘッドに対するキャリッ
ジ機構の構成図である。 １……磁気ディスク、２……スピンドル、 ３……突起検出ヘッド、3a……ピエゾ素子、 3b……金属コア、4a……ヘッドアーム、 4b……ヘッドバー、５……キャリッジ機構、 5a……移動部、5b……モータ、 5c……ボールねじ、5d……制御回路、 ６……アンプ、7a……ローパスフィルタ、 7b……ハイパスフィルタ、８……突起検出回路、 ９……インタフェース（I/F）、 10……マイクロプロセッサ（MPU）、10a……メモリ、 11……整流回路、12……コンパレータ。
スクの突起検査装置の実施例におけるブロック構成図
と、突起検出ヘッドが検出する衝突信号と振動ノイズの
波形図、第２図（ａ），（ｂ）および（ｃ）は、磁気デ
ィスク・グライドテスターの突起検出ヘッドの構造を示
す斜視外観図、および突起検出ヘッドに対するキャリッ
ジ機構の構成図である。 １……磁気ディスク、２……スピンドル、 ３……突起検出ヘッド、3a……ピエゾ素子、 3b……金属コア、4a……ヘッドアーム、 4b……ヘッドバー、５……キャリッジ機構、 5a……移動部、5b……モータ、 5c……ボールねじ、5d……制御回路、 ６……アンプ、7a……ローパスフィルタ、 7b……ハイパスフィルタ、８……突起検出回路、 ９……インタフェース（I/F）、 10……マイクロプロセッサ（MPU）、10a……メモリ、 11……整流回路、12……コンパレータ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G11B 5/84 G11B 21/21
Claims (2)
- 【請求項１】回転する磁気ディスクの表面をキャリッジ
機構により半径方向に移動し、前記回転により前記表面
に生ずるエアフローにより浮上して前記表面に存在する
突起に衝突する突起検出ヘッドを有し、この突起検出ヘ
ッドの衝突による振動に応じて発生する電気信号に基づ
いて前記突起を検出する磁気ディスクの突起検査装置に
おいて、前記電気信号に含まれ、前記キャリッジ機構の
動作に応じて発生する振動ノイズを前記電気信号の中か
ら抽出する抽出手段と、この抽出手段から得られる前記
振動ノイズのレベルと所定の基準値とを比較するコンパ
レータと、このコンパレータの比較結果に応じて前記レ
ベルが前記基準値未満のときに前記突起検出ヘッドを不
良と判定しかつ判定が不良のときに前記磁気ディスクの
突起検査を中止する制御手段とを備えることを特徴とす
る、磁気ディスクの突起検査装置。 - 【請求項２】前記抽出手段は、予めの測定により求めら
れた前記振動ノイズの周波数を通過させるローパスフィ
ルタを有している請求項１記載の磁気ディスクの突起検
査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23663890A JP2802824B2 (ja) | 1990-09-06 | 1990-09-06 | 磁気ディスクの突起検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23663890A JP2802824B2 (ja) | 1990-09-06 | 1990-09-06 | 磁気ディスクの突起検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04117623A JPH04117623A (ja) | 1992-04-17 |
| JP2802824B2 true JP2802824B2 (ja) | 1998-09-24 |
Family
ID=17003593
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23663890A Expired - Lifetime JP2802824B2 (ja) | 1990-09-06 | 1990-09-06 | 磁気ディスクの突起検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2802824B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006260618A (ja) * | 2005-03-15 | 2006-09-28 | Hitachi Maxell Ltd | 磁気記録媒体の評価方法および評価装置 |
| US8477455B2 (en) * | 2010-11-16 | 2013-07-02 | HGST Netherlands B.V. | Noise and particle shield for contact sensor in a slider |
-
1990
- 1990-09-06 JP JP23663890A patent/JP2802824B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04117623A (ja) | 1992-04-17 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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