JPH1186286A - 光ディスク検査装置 - Google Patents
光ディスク検査装置Info
- Publication number
- JPH1186286A JPH1186286A JP9241209A JP24120997A JPH1186286A JP H1186286 A JPH1186286 A JP H1186286A JP 9241209 A JP9241209 A JP 9241209A JP 24120997 A JP24120997 A JP 24120997A JP H1186286 A JPH1186286 A JP H1186286A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disk
- optical disk
- failure
- optical
- reflected light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 光ディスクの障害の有無を検出するだけでは
障害により記録が行えない範囲を光ディスクの直接の目
視が頼りで分かりにくかった。また、反射光量が増大す
る傷の検出に対応されていない、という問題もあった。 【解決手段】 光ディスクの検査時に光ディスクの径方
向における記録領域全域に渡って光学ヘッド４を変位さ
せる。ディスク障害判断手段２２により反射光量検出回
路９からの検出出力が光ディスクを正常状態と判断する
正常レベル範囲から低いレベル及び高いレベルのいずれ
に外れている場合であっても光ディスクの障害を判断す
る。これにより光ディスクの記録領域全域に渡って反射
光量が減少する障害及び反射光量が減少する障害の両方
を検出する。この場合、障害と判断される障害箇所を変
位量検出回路１２からの検出出力を用いて検出するよう
にして障害箇所が存在するディスク位置も分かるように
する。
障害により記録が行えない範囲を光ディスクの直接の目
視が頼りで分かりにくかった。また、反射光量が増大す
る傷の検出に対応されていない、という問題もあった。 【解決手段】 光ディスクの検査時に光ディスクの径方
向における記録領域全域に渡って光学ヘッド４を変位さ
せる。ディスク障害判断手段２２により反射光量検出回
路９からの検出出力が光ディスクを正常状態と判断する
正常レベル範囲から低いレベル及び高いレベルのいずれ
に外れている場合であっても光ディスクの障害を判断す
る。これにより光ディスクの記録領域全域に渡って反射
光量が減少する障害及び反射光量が減少する障害の両方
を検出する。この場合、障害と判断される障害箇所を変
位量検出回路１２からの検出出力を用いて検出するよう
にして障害箇所が存在するディスク位置も分かるように
する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学ヘッドから出
射される光ビームの光ディスクによる反射の反射光量を
検出して光ディスクの傷や汚れ等の障害を検出する光デ
ィスク検査装置に関し、記録用光ディスクの障害により
記録が失敗するのを防止するために光ディスクの障害を
検査するのに好適な光ディスク検査装置に関する。
射される光ビームの光ディスクによる反射の反射光量を
検出して光ディスクの傷や汚れ等の障害を検出する光デ
ィスク検査装置に関し、記録用光ディスクの障害により
記録が失敗するのを防止するために光ディスクの障害を
検査するのに好適な光ディスク検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光学ヘッドから出射される光ビームを用
いて光ディスクに記録を行う光ディスク記録装置におい
ては、光ディスクの傷や汚れ等のディスク障害が記録の
信頼性に直接関係し、ディスク障害が記録を失敗する大
きな原因となっている。
いて光ディスクに記録を行う光ディスク記録装置におい
ては、光ディスクの傷や汚れ等のディスク障害が記録の
信頼性に直接関係し、ディスク障害が記録を失敗する大
きな原因となっている。
【０００３】その為、光ディスク記録装置により記録が
行われる記録用光ディスクは、事前に傷や汚れ等の障害
を検出することが好ましい。記録用光ディスクの障害を
検出する光ディスク検査装置としては、光学ヘッドから
出射される光ビームを光ディスクに照射し、光ディスク
により反射される反射光量を検出して光ディスクの障害
を検出する光ディスク検査装置が知られている。
行われる記録用光ディスクは、事前に傷や汚れ等の障害
を検出することが好ましい。記録用光ディスクの障害を
検出する光ディスク検査装置としては、光学ヘッドから
出射される光ビームを光ディスクに照射し、光ディスク
により反射される反射光量を検出して光ディスクの障害
を検出する光ディスク検査装置が知られている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前述した光ディスク検
査装置としては、例えば、特開平５−１５９５０７号公
報に示されているが、従来は光ディスクの障害の有無を
検出するだけで障害箇所のディスク位置を検出するよう
になっておらず、光ディスクに障害があった場合におい
て記録が行えない範囲が分からなかった。
査装置としては、例えば、特開平５−１５９５０７号公
報に示されているが、従来は光ディスクの障害の有無を
検出するだけで障害箇所のディスク位置を検出するよう
になっておらず、光ディスクに障害があった場合におい
て記録が行えない範囲が分からなかった。
【０００５】また、光ディスクの障害が検出されてもそ
の障害が汚れである場合、光ディスクのクリーニングで
その汚れを除去することにより記録可能な正常状態に復
帰させることが出来るので、その障害が傷によるものと
汚れによるものとではその意味が大きく相違するが、障
害を傷と汚れとで区別して表示することは行われておら
ず、光ディスクを直接目視により確認する必要があっ
た。
の障害が汚れである場合、光ディスクのクリーニングで
その汚れを除去することにより記録可能な正常状態に復
帰させることが出来るので、その障害が傷によるものと
汚れによるものとではその意味が大きく相違するが、障
害を傷と汚れとで区別して表示することは行われておら
ず、光ディスクを直接目視により確認する必要があっ
た。
【０００６】また、傷によっては反射光量が増大する場
合があるが、従来の光ディスク検査装置においては、反
射光量の減少のみを検出して光ディスクの障害を検出す
るようにしているので、反射光量が増大する傷における
光ディスクの障害を検出することが出来なかった。
合があるが、従来の光ディスク検査装置においては、反
射光量の減少のみを検出して光ディスクの障害を検出す
るようにしているので、反射光量が増大する傷における
光ディスクの障害を検出することが出来なかった。
【０００７】本発明は、前述の点を解決することを課題
とする。
とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は、光ディスクの
検査時に光ディスクの径方向における記録領域全域に渡
って光学ヘッドを変位させるようにすると共に、反射光
量検出回路からの検出出力が光ディスクを正常状態と判
断する判断基準となる正常レベル範囲から低いレベル及
び高いレベルのいずれに外れている場合であっても光デ
ィスクの障害を判断するようにし、光ディスクの径方向
における記録領域全域に渡って反射光量が減少する障害
及び反射光量が増大する障害の両方を判断している。
検査時に光ディスクの径方向における記録領域全域に渡
って光学ヘッドを変位させるようにすると共に、反射光
量検出回路からの検出出力が光ディスクを正常状態と判
断する判断基準となる正常レベル範囲から低いレベル及
び高いレベルのいずれに外れている場合であっても光デ
ィスクの障害を判断するようにし、光ディスクの径方向
における記録領域全域に渡って反射光量が減少する障害
及び反射光量が増大する障害の両方を判断している。
【０００９】また、反射光量検出回路からの検出出力に
より光ディスクの障害を判断すると共に、その障害と判
断される障害箇所を変位量検出回路からの検出出力を用
いて検出するようにし、光ディスクの障害箇所が存在す
るディスク位置を分かるようにして記録が行えない範囲
を分かるようにしている。
より光ディスクの障害を判断すると共に、その障害と判
断される障害箇所を変位量検出回路からの検出出力を用
いて検出するようにし、光ディスクの障害箇所が存在す
るディスク位置を分かるようにして記録が行えない範囲
を分かるようにしている。
【００１０】この場合、障害箇所が検出されるディスク
位置の分布により光ディスクの障害が汚れである場合に
その旨を表示するようにし、汚れを除去すべきディスク
位置を容易に認識できるようにしている。
位置の分布により光ディスクの障害が汚れである場合に
その旨を表示するようにし、汚れを除去すべきディスク
位置を容易に認識できるようにしている。
【００１１】
【実施例】図１は本発明に係る光ディスク検査装置の一
実施例を示す回路ブロック図であり、図１の光ディスク
検査装置はパソコンＡとその外部記憶装置として接続さ
れるＣＤ−ＲドライブＢとにより構成されている。
実施例を示す回路ブロック図であり、図１の光ディスク
検査装置はパソコンＡとその外部記憶装置として接続さ
れるＣＤ−ＲドライブＢとにより構成されている。
【００１２】図１において、１はＣＤ−Ｒディスク、２
はディスク１を回転駆動するスピンドルモータ、３は該
スピンドルモータ２の駆動制御を行うスピンドルサーボ
回路である。
はディスク１を回転駆動するスピンドルモータ、３は該
スピンドルモータ２の駆動制御を行うスピンドルサーボ
回路である。
【００１３】４はディスク１に照射するレーザービーム
を出射し、ディスク１により反射される反射ビームを受
光する光検出器（図示せず）を有する光学ヘッド、５は
ディスク１に照射するレーザービームのフォーカシング
制御及びトラッキング制御を行うと共に、送りモータ６
を駆動して光学ヘッド４自体をディスク１の径方向に送
るスレッド送り制御を行うヘッドサーボ回路、７はスピ
ンドルサーボ回路３及びヘッドサーボ回路５を制御する
サーボ制御回路である。
を出射し、ディスク１により反射される反射ビームを受
光する光検出器（図示せず）を有する光学ヘッド、５は
ディスク１に照射するレーザービームのフォーカシング
制御及びトラッキング制御を行うと共に、送りモータ６
を駆動して光学ヘッド４自体をディスク１の径方向に送
るスレッド送り制御を行うヘッドサーボ回路、７はスピ
ンドルサーボ回路３及びヘッドサーボ回路５を制御する
サーボ制御回路である。
【００１４】８は光学ヘッド４の光検出器からディスク
１の記録信号であるＲＦ信号を生成するべく光検出器を
構成する特定の受光素子から得られる各受光出力を加算
してメイン信号出力を生成するＲＦ信号生成回路、９は
該ＲＦ信号生成回路８により生成されるメイン信号出力
のレベル検出をしてディスク１の反射光量を検出する反
射光量検出回路である。
１の記録信号であるＲＦ信号を生成するべく光検出器を
構成する特定の受光素子から得られる各受光出力を加算
してメイン信号出力を生成するＲＦ信号生成回路、９は
該ＲＦ信号生成回路８により生成されるメイン信号出力
のレベル検出をしてディスク１の反射光量を検出する反
射光量検出回路である。
【００１５】前記ＲＦ信号生成回路８により生成される
メイン信号出力は、前記反射光量検出回路９に供給され
る他にＲＦ信号を２値化してそのデジタルデータを復号
するメイン信号処理系の回路に供給される。
メイン信号出力は、前記反射光量検出回路９に供給され
る他にＲＦ信号を２値化してそのデジタルデータを復号
するメイン信号処理系の回路に供給される。
【００１６】１０は送りモータ６の回転に伴う検出出力
を発生するセンサー、１１は光学ヘッド４のディスク１
の最内周側における初期設定位置を検出するためのスイ
ッチ、１２は該スイッチ１１が切り換えられる位置を基
点として前記センサー１０の検出出力により光学ヘッド
４のディスク１の径方向における変位量を検出する変位
量検出回路、１３は反射光量検出回路９からの検出出力
及び変位量検出回路１２からの検出出力を後述するホス
トとなるパソコンＡにより解釈が可能なデジタルデータ
として作成するデータ作成回路、１４はパソコンＡとの
整合を行うインタフェースである。
を発生するセンサー、１１は光学ヘッド４のディスク１
の最内周側における初期設定位置を検出するためのスイ
ッチ、１２は該スイッチ１１が切り換えられる位置を基
点として前記センサー１０の検出出力により光学ヘッド
４のディスク１の径方向における変位量を検出する変位
量検出回路、１３は反射光量検出回路９からの検出出力
及び変位量検出回路１２からの検出出力を後述するホス
トとなるパソコンＡにより解釈が可能なデジタルデータ
として作成するデータ作成回路、１４はパソコンＡとの
整合を行うインタフェースである。
【００１７】ホストとなるパソコンＡには、接続端子１
６に接続される外部記憶装置に対して要求するコマンド
を発生するコマンド発生手段１７と、外部記憶装置との
整合を行うインタフェース１８が備えられている。
６に接続される外部記憶装置に対して要求するコマンド
を発生するコマンド発生手段１７と、外部記憶装置との
整合を行うインタフェース１８が備えられている。
【００１８】前記コマンド発生手段１７は、ディスク１
を駆動する回転速度、反射光量検出回路９及び変位量検
出回路１２による検出タイミング、及び光学ヘッド４に
よるディスク１のスレッド送り速度の各検査条件をそれ
ぞれ設定するコマンドを発生し、その各検査条件は設定
手段１９により設定され、キーボード等の入力手段２０
により任意に変更できるようにしている。
を駆動する回転速度、反射光量検出回路９及び変位量検
出回路１２による検出タイミング、及び光学ヘッド４に
よるディスク１のスレッド送り速度の各検査条件をそれ
ぞれ設定するコマンドを発生し、その各検査条件は設定
手段１９により設定され、キーボード等の入力手段２０
により任意に変更できるようにしている。
【００１９】また、前記パソコンＡには、データ作成回
路１３により作成されたデジタルデータから反射光量検
出回路９により得られた検出出力の反射光量情報、及び
変位量検出回路１２により得られた検出出力のディスク
位置情報をそれぞれ反射光量データ及び位置データとし
て抽出するデータ抽出手段２１と、該データ抽出手段２
１により抽出される反射光量データからディスク１の障
害を判断するディスク障害判断手段２２と、該データ抽
出手段２１により抽出される位置データ及びディスク１
が駆動される回転速度を考慮してディスク位置を検出す
る位置検出手段２３と、前記ディスク障害判断手段２２
による判断出力及び前記位置検出手段２３によるディス
ク位置検出出力に応じてパソコンＡに接続されるディス
プレイ２５を制御する表示制御手段２４とが備えられて
いる。
路１３により作成されたデジタルデータから反射光量検
出回路９により得られた検出出力の反射光量情報、及び
変位量検出回路１２により得られた検出出力のディスク
位置情報をそれぞれ反射光量データ及び位置データとし
て抽出するデータ抽出手段２１と、該データ抽出手段２
１により抽出される反射光量データからディスク１の障
害を判断するディスク障害判断手段２２と、該データ抽
出手段２１により抽出される位置データ及びディスク１
が駆動される回転速度を考慮してディスク位置を検出す
る位置検出手段２３と、前記ディスク障害判断手段２２
による判断出力及び前記位置検出手段２３によるディス
ク位置検出出力に応じてパソコンＡに接続されるディス
プレイ２５を制御する表示制御手段２４とが備えられて
いる。
【００２０】前記位置検出手段２３は、入力される位置
データにより前記ディスク障害判断手段２２によるディ
スク障害の判断が行われる反射光量データを取り込んだ
ディスク１の径方向におけるディスク位置を検出すると
共に、ディスク１が駆動される回転速度を算出してその
回転速度から前記反射光量データを取り込んだディスク
１の回転方向におけるディスク位置を検出する。
データにより前記ディスク障害判断手段２２によるディ
スク障害の判断が行われる反射光量データを取り込んだ
ディスク１の径方向におけるディスク位置を検出すると
共に、ディスク１が駆動される回転速度を算出してその
回転速度から前記反射光量データを取り込んだディスク
１の回転方向におけるディスク位置を検出する。
【００２１】前記ディスク障害判断手段２２は、ディス
ク１を正常状態と判断できる反射光量の正常レベル範囲
の平均レベルとしてあらかじめ基準光量レベルデータが
設定され、入力される反射光量データをその基準光量レ
ベルデータと比較し、その比較によるレベル差がディス
ク１を正常状態と判断できる反射光量の正常レベル範囲
を外れることを検出してディスク１の障害を判断する。
そして、前記ディスク障害判断手段２２は、前記位置検
出手段２３により検出されるディスク位置データを取り
込んで障害と判断された時点におけるディスク位置を検
出して障害箇所を特定する。
ク１を正常状態と判断できる反射光量の正常レベル範囲
の平均レベルとしてあらかじめ基準光量レベルデータが
設定され、入力される反射光量データをその基準光量レ
ベルデータと比較し、その比較によるレベル差がディス
ク１を正常状態と判断できる反射光量の正常レベル範囲
を外れることを検出してディスク１の障害を判断する。
そして、前記ディスク障害判断手段２２は、前記位置検
出手段２３により検出されるディスク位置データを取り
込んで障害と判断された時点におけるディスク位置を検
出して障害箇所を特定する。
【００２２】２７はパソコンＡから発生されたコマンド
の解釈を行うコマンド解釈回路、２８は該コマンド解釈
回路２７により解釈されたコマンドに応じて光学ヘッド
４によるディスクのトレース位置を変位させるアクセス
動作を制御するアクセス制御回路である。
の解釈を行うコマンド解釈回路、２８は該コマンド解釈
回路２７により解釈されたコマンドに応じて光学ヘッド
４によるディスクのトレース位置を変位させるアクセス
動作を制御するアクセス制御回路である。
【００２３】このように構成された光ディスク検査装置
において、ディスクの障害を検査する場合、検査するデ
ィスクをＣＤ−ＲドライブＢに装着し、パソコンＡに検
査時の各測定条件を設定して検査を開始させる指示を与
える。
において、ディスクの障害を検査する場合、検査するデ
ィスクをＣＤ−ＲドライブＢに装着し、パソコンＡに検
査時の各測定条件を設定して検査を開始させる指示を与
える。
【００２４】パソコンＡに設定される検査時の各測定条
件は、入力手段２０を用いてディスク１を駆動する回転
速度、反射光量検出回路９及び変位量検出回路１２によ
る検出タイミング、及び光学ヘッド４によるスレッド送
り速度がそれぞれあらかじめ設定された数段階の選択肢
の中から選択して設定手段１９に設定される。
件は、入力手段２０を用いてディスク１を駆動する回転
速度、反射光量検出回路９及び変位量検出回路１２によ
る検出タイミング、及び光学ヘッド４によるスレッド送
り速度がそれぞれあらかじめ設定された数段階の選択肢
の中から選択して設定手段１９に設定される。
【００２５】入力手段２０を用いて各検査条件を設定し
ない場合は、標準設定として設定される各検査条件が自
動的に選択され、その標準設定が設定手段１９に設定さ
れるようになっている。
ない場合は、標準設定として設定される各検査条件が自
動的に選択され、その標準設定が設定手段１９に設定さ
れるようになっている。
【００２６】ディスクの検査を開始する指示が与えられ
ると、設定手段１９に設定された各検査条件を含んだデ
ィスク検査を実行するコマンドがコマンド発生手段１７
から発生され、そのコマンドがインタフェース１８を介
してＣＤ−ＲドライブＢに供給され、インタフェース１
４を介してコマンド解釈回路２７に供給される。
ると、設定手段１９に設定された各検査条件を含んだデ
ィスク検査を実行するコマンドがコマンド発生手段１７
から発生され、そのコマンドがインタフェース１８を介
してＣＤ−ＲドライブＢに供給され、インタフェース１
４を介してコマンド解釈回路２７に供給される。
【００２７】コマンド解釈手段２７にコマンドが供給さ
れ、そのコマンドが該コマンド解釈手段２７により解釈
されると、その解釈に応じてサーボ制御回路７によるス
ピンドルサーボ回路３の制御によりディスク１の回転速
度が設定され、反射光量検出回路９及び変位量検出回路
１２による検出タイミングが設定され、かつアクセス制
御回路２８の制御により光学ヘッド４によるディスク１
のスレッド送り速度が設定されてディスクの検査が開始
される。
れ、そのコマンドが該コマンド解釈手段２７により解釈
されると、その解釈に応じてサーボ制御回路７によるス
ピンドルサーボ回路３の制御によりディスク１の回転速
度が設定され、反射光量検出回路９及び変位量検出回路
１２による検出タイミングが設定され、かつアクセス制
御回路２８の制御により光学ヘッド４によるディスク１
のスレッド送り速度が設定されてディスクの検査が開始
される。
【００２８】ディスクの検査時において、光学ヘッド４
は、フォーカスサーボがオン状態とされ、トラッキング
サーボがオフ状態とされてディスク１をトレースする。
この場合、前述のコマンド解釈に応じたスレッド送り速
度でスレッド送り制御が行われ、このスレッド送り制御
はディスク１の径方向における記録領域全域に渡って行
われる。
は、フォーカスサーボがオン状態とされ、トラッキング
サーボがオフ状態とされてディスク１をトレースする。
この場合、前述のコマンド解釈に応じたスレッド送り速
度でスレッド送り制御が行われ、このスレッド送り制御
はディスク１の径方向における記録領域全域に渡って行
われる。
【００２９】光学ヘッド４によりディスク１がトレース
されると、光学ヘッド４の光検出器にディスク１により
反射された反射光が受光されるので、ＲＦ信号生成回路
８によりメイン信号出力が生成され、反射光量検出回路
９はそのメイン信号出力のレベル検出を行う。
されると、光学ヘッド４の光検出器にディスク１により
反射された反射光が受光されるので、ＲＦ信号生成回路
８によりメイン信号出力が生成され、反射光量検出回路
９はそのメイン信号出力のレベル検出を行う。
【００３０】一方、光学ヘッド４がスレッド送りされる
と、送りモータ６の回転に応じてセンサー１０から発生
されるパルス出力が変位量検出回路１２に供給され、該
変位量検出回路１２はスイッチ１１の切り換えによりリ
セットされ、前記センサー１０からのパルス出力をカウ
ントして光学ヘッド４のディスク径方向におけるディス
ク位置を示すカウント出力を発生する。
と、送りモータ６の回転に応じてセンサー１０から発生
されるパルス出力が変位量検出回路１２に供給され、該
変位量検出回路１２はスイッチ１１の切り換えによりリ
セットされ、前記センサー１０からのパルス出力をカウ
ントして光学ヘッド４のディスク径方向におけるディス
ク位置を示すカウント出力を発生する。
【００３１】反射光量検出回路９によりレベル検出が行
われるタイミング及び変位量検出回路１２によりカウン
ト出力が発生されるタイミングは、コマンド解釈回路２
７に供給されたコマンドにより要求される特定の指定時
間毎に設定され、反射光量検出回路９によりレベル検出
された検出出力及び変位量検出回路１２により発生され
るカウント出力はそれぞれデータ作成回路１３に供給さ
れる。
われるタイミング及び変位量検出回路１２によりカウン
ト出力が発生されるタイミングは、コマンド解釈回路２
７に供給されたコマンドにより要求される特定の指定時
間毎に設定され、反射光量検出回路９によりレベル検出
された検出出力及び変位量検出回路１２により発生され
るカウント出力はそれぞれデータ作成回路１３に供給さ
れる。
【００３２】前記データ作成回路１３は、反射光量検出
回路９によりレベル検出された検出出力を反射光量情報
を示す反射光量データに変換すると共に、変位量検出回
路１２により発生されるカウント出力をディスク位置情
報を示す位置データとし、それらの反射光量データ及び
位置データを含むデジタルデータを作成する。そのデジ
タルデータはインタフェース１４を介してパソコンＡに
供給される。
回路９によりレベル検出された検出出力を反射光量情報
を示す反射光量データに変換すると共に、変位量検出回
路１２により発生されるカウント出力をディスク位置情
報を示す位置データとし、それらの反射光量データ及び
位置データを含むデジタルデータを作成する。そのデジ
タルデータはインタフェース１４を介してパソコンＡに
供給される。
【００３３】パソコンＡに供給されたデジタルデータは
インタフェース１８を介してデータ抽出手段２１に供給
され、該データ抽出手段２１はそのデジタルデータから
反射光量データ及び位置データを抽出する。
インタフェース１８を介してデータ抽出手段２１に供給
され、該データ抽出手段２１はそのデジタルデータから
反射光量データ及び位置データを抽出する。
【００３４】データ抽出手段２１により抽出される反射
光量データは、ディスク障害判断手段２２により基準光
量レベルデータと比較され、該ディスク障害判断手段２
２はその比較によるレベル差がディスク１を正常状態と
判断できる反射光量の正常レベル範囲を外れることを検
出してディスク１の障害を判断する。
光量データは、ディスク障害判断手段２２により基準光
量レベルデータと比較され、該ディスク障害判断手段２
２はその比較によるレベル差がディスク１を正常状態と
判断できる反射光量の正常レベル範囲を外れることを検
出してディスク１の障害を判断する。
【００３５】一方、データ抽出手段２１により抽出され
る位置データは、位置検出手段２３によりディスク位置
を検出するのに用いられ、該位置検出手段２３は入力さ
れる位置データにより前記ディスク障害判断手段２２に
よるディスク障害の判断が行われる反射光量データを取
り込んだディスク１の径方向におけるディスク位置を検
出すると共に、ディスク１が駆動される設定された回転
速度からの設定速度を考慮してその回転速度から前記反
射光量データを取り込んだディスク１の回転方向におけ
るディスク位置を検出する。
る位置データは、位置検出手段２３によりディスク位置
を検出するのに用いられ、該位置検出手段２３は入力さ
れる位置データにより前記ディスク障害判断手段２２に
よるディスク障害の判断が行われる反射光量データを取
り込んだディスク１の径方向におけるディスク位置を検
出すると共に、ディスク１が駆動される設定された回転
速度からの設定速度を考慮してその回転速度から前記反
射光量データを取り込んだディスク１の回転方向におけ
るディスク位置を検出する。
【００３６】この位置検出手段２３により検出されたデ
ィスク位置データは、ディスク障害判断手段２２に取り
込まれ、障害と判断された時点におけるディスク位置が
検出されて障害箇所が特定される。
ィスク位置データは、ディスク障害判断手段２２に取り
込まれ、障害と判断された時点におけるディスク位置が
検出されて障害箇所が特定される。
【００３７】ところで、前記ディスク障害判断手段２２
によりディスク障害の判断が行われる反射光量データを
取り込むタイミングは、設定手段１９に設定された反射
光量検出回路９及び変位量検出回路１２による検出タイ
ミングにより決定され、設定手段１９に設定された検出
タイミングに応じてコマンド発生手段１７からディスク
１の障害を測定するコマンドが発生される。
によりディスク障害の判断が行われる反射光量データを
取り込むタイミングは、設定手段１９に設定された反射
光量検出回路９及び変位量検出回路１２による検出タイ
ミングにより決定され、設定手段１９に設定された検出
タイミングに応じてコマンド発生手段１７からディスク
１の障害を測定するコマンドが発生される。
【００３８】また、位置検出手段２３に入力される位置
データの元となる変位量検出回路１２から発生されたカ
ウント出力に対応するディスク位置は、設定手段１９に
より設定されたディスク１を駆動する回転速度及び光学
ヘッド４によるスレッド送り速度により決定される。
データの元となる変位量検出回路１２から発生されたカ
ウント出力に対応するディスク位置は、設定手段１９に
より設定されたディスク１を駆動する回転速度及び光学
ヘッド４によるスレッド送り速度により決定される。
【００３９】その為、前記ディスク障害判断手段２２に
より障害と判断された時点におけるディスク位置の特定
は、設定手段１９により設定される反射光量検出回路９
及び変位量検出回路１２による検出タイミングとディス
ク１を駆動する回転速度及び光学ヘッド４によるスレッ
ド送り速度とによりディスク１の障害を測定する測定間
隔が変化する。
より障害と判断された時点におけるディスク位置の特定
は、設定手段１９により設定される反射光量検出回路９
及び変位量検出回路１２による検出タイミングとディス
ク１を駆動する回転速度及び光学ヘッド４によるスレッ
ド送り速度とによりディスク１の障害を測定する測定間
隔が変化する。
【００４０】この測定間隔を密にすれば、測定時間が長
くなるが、精密な測定が可能となり、一方、その測定間
隔を粗くすれば、測定精度が低下するものの測定時間の
短縮が図れるので、状況に合わせて設定手段１９に設定
する各測定条件を選択する。
くなるが、精密な測定が可能となり、一方、その測定間
隔を粗くすれば、測定精度が低下するものの測定時間の
短縮が図れるので、状況に合わせて設定手段１９に設定
する各測定条件を選択する。
【００４１】ディスク障害判断手段２２による判断出力
は表示制御手段２４に入力され、ディスプレイ２５には
前記ディスク障害判断手段２２による判断出力を表現す
る表示が行われる。
は表示制御手段２４に入力され、ディスプレイ２５には
前記ディスク障害判断手段２２による判断出力を表現す
る表示が行われる。
【００４２】ディスプレイ２５には、例えば図２に示す
如く、ディスクを示す図形２９が表示され、ディスク障
害判断手段２２により障害であると判断された時点にお
けるディスク位置、すなわち障害箇所がその図形２９上
の対応位置に描かれる。
如く、ディスクを示す図形２９が表示され、ディスク障
害判断手段２２により障害であると判断された時点にお
けるディスク位置、すなわち障害箇所がその図形２９上
の対応位置に描かれる。
【００４３】また、ディスプレイ２５には、図形２９の
他に前記ディスク障害判断手段２２により障害と判断さ
れた際の反射光量の正常レベル範囲とのレベル差を示す
数値データの表示を行う表示領域３０が用意され、障害
の度合を推測するのに役立てられる表示が行われるよう
になっている。
他に前記ディスク障害判断手段２２により障害と判断さ
れた際の反射光量の正常レベル範囲とのレベル差を示す
数値データの表示を行う表示領域３０が用意され、障害
の度合を推測するのに役立てられる表示が行われるよう
になっている。
【００４４】ところで、前記ディスク障害判断手段２２
は、ディスクを正常状態と判断する正常レベル範囲から
低いレベル及び高いレベルのいずれに外れている場合で
あってもディスク１の障害を判断するので、反射光量が
減少する汚れや傷の障害及び反射光量が増大する傷の障
害の両方を判断することが出来、この場合、汚れによる
障害において反射光量が増大することはまずないので、
前記正常レベル範囲から高いレベルで外れている場合は
傷であると判断する。
は、ディスクを正常状態と判断する正常レベル範囲から
低いレベル及び高いレベルのいずれに外れている場合で
あってもディスク１の障害を判断するので、反射光量が
減少する汚れや傷の障害及び反射光量が増大する傷の障
害の両方を判断することが出来、この場合、汚れによる
障害において反射光量が増大することはまずないので、
前記正常レベル範囲から高いレベルで外れている場合は
傷であると判断する。
【００４５】また、前記ディスク障害判断手段２２によ
りディスク１の障害と判断される障害箇所がどのディス
ク位置かが検出されているが、該ディスク障害判断手段
２２は正常レベル範囲から低いレベルで外れている場合
にその障害箇所が検出されるディスク位置の分布を判断
して検出されたディスク１の障害が汚れであるか傷であ
るかを判断する。
りディスク１の障害と判断される障害箇所がどのディス
ク位置かが検出されているが、該ディスク障害判断手段
２２は正常レベル範囲から低いレベルで外れている場合
にその障害箇所が検出されるディスク位置の分布を判断
して検出されたディスク１の障害が汚れであるか傷であ
るかを判断する。
【００４６】この場合、傷による障害は線状分布である
ことが多いので、このような分布であることが判断され
ると、傷であると判断し、一方、汚れによる障害は指紋
によることがほとんどであり、隣接位置に広がった分布
であることが多いので、このような分布であることが判
断されると、汚れであると判断する。
ことが多いので、このような分布であることが判断され
ると、傷であると判断し、一方、汚れによる障害は指紋
によることがほとんどであり、隣接位置に広がった分布
であることが多いので、このような分布であることが判
断されると、汚れであると判断する。
【００４７】そして、前記ディスク障害判断手段２２に
よりディスク１の障害が汚れであると判断された場合
は、表示制御手段２４によりディスプレイ２５に示す表
示が汚れを表現する表示となり、ディスク１の障害が傷
であると判断された場合は、表示制御手段２４によりデ
ィスプレイ２５に示す表示が傷を表現する表示となる。
よりディスク１の障害が汚れであると判断された場合
は、表示制御手段２４によりディスプレイ２５に示す表
示が汚れを表現する表示となり、ディスク１の障害が傷
であると判断された場合は、表示制御手段２４によりデ
ィスプレイ２５に示す表示が傷を表現する表示となる。
【００４８】すなわち、ディスプレイ２５には、汚れを
表現する表示３１と傷を表現する表示３２とが色や濃度
等を変えて表示されるようになっている。したがって、
ディスク１の障害箇所が存在するディスク位置がディス
プレイ２５による表示で一目瞭然で判明し、かつ、障害
が傷によるものか汚れによるものかが分かる。その為、
記録が行えないディスク位置が分かると共に、障害が汚
れによる場合は汚れを除去すべきディスク位置を容易に
認識できる。
表現する表示３１と傷を表現する表示３２とが色や濃度
等を変えて表示されるようになっている。したがって、
ディスク１の障害箇所が存在するディスク位置がディス
プレイ２５による表示で一目瞭然で判明し、かつ、障害
が傷によるものか汚れによるものかが分かる。その為、
記録が行えないディスク位置が分かると共に、障害が汚
れによる場合は汚れを除去すべきディスク位置を容易に
認識できる。
【００４９】また、正常レベル範囲から外れているレベ
ル差に応じて数段階に分類することにより障害の度合を
表現することも可能である。ところで、ディスクの検査
時にディスク１の径方向における記録領域全域に渡って
光学ヘッド４をスレッド送りにより変位させるのにトラ
ッキングサーボをオフとしているので、ディスクの障害
によりディスクにトラッキングが採れない箇所が存在し
ても、トラッキングが採れないことにより光学ヘッド４
のトレースが阻害されることがなく、ディスク障害に拘
わらずディスク１の記録領域全域に渡って光学ヘッド４
によりトレースさせることが可能である。
ル差に応じて数段階に分類することにより障害の度合を
表現することも可能である。ところで、ディスクの検査
時にディスク１の径方向における記録領域全域に渡って
光学ヘッド４をスレッド送りにより変位させるのにトラ
ッキングサーボをオフとしているので、ディスクの障害
によりディスクにトラッキングが採れない箇所が存在し
ても、トラッキングが採れないことにより光学ヘッド４
のトレースが阻害されることがなく、ディスク障害に拘
わらずディスク１の記録領域全域に渡って光学ヘッド４
によりトレースさせることが可能である。
【００５０】
【発明の効果】以上のように、本発明は、光ディスクの
検査時に光ディスクの径方向における記録領域全域に渡
って光学ヘッドを変位させるようにすると共に、反射光
量検出回路からの検出出力が光ディスクを正常状態と判
断する判断基準となる正常レベル範囲から低いレベル及
び高いレベルのいずれに外れている場合であっても光デ
ィスクの障害を判断するようにしているので、光ディス
クの径方向における記録領域全域に渡って反射光量が減
少する障害及び反射光量が増大する障害の両方の検出を
行うことが出来る。
検査時に光ディスクの径方向における記録領域全域に渡
って光学ヘッドを変位させるようにすると共に、反射光
量検出回路からの検出出力が光ディスクを正常状態と判
断する判断基準となる正常レベル範囲から低いレベル及
び高いレベルのいずれに外れている場合であっても光デ
ィスクの障害を判断するようにしているので、光ディス
クの径方向における記録領域全域に渡って反射光量が減
少する障害及び反射光量が増大する障害の両方の検出を
行うことが出来る。
【００５１】この場合、光学ヘッドのスレッド送りによ
る変位をトラッキングサーボをオフ状態として行ってい
るので、ディスク障害により光ディスクにトラッキング
が採れない箇所が存在しても、トラッキングが採れない
ことにより光学ヘッドのトレースが阻害されることがな
く、ディスク障害に拘わらずディスクの記録領域全域に
渡って光学ヘッドによりトレースさせることが可能であ
る。
る変位をトラッキングサーボをオフ状態として行ってい
るので、ディスク障害により光ディスクにトラッキング
が採れない箇所が存在しても、トラッキングが採れない
ことにより光学ヘッドのトレースが阻害されることがな
く、ディスク障害に拘わらずディスクの記録領域全域に
渡って光学ヘッドによりトレースさせることが可能であ
る。
【００５２】また、本発明は、反射光量検出回路からの
検出出力により光ディスクの障害を判断すると共に、そ
の障害と判断される障害箇所を変位量検出回路からの検
出出力を用いて検出するようにしているので、光ディス
クの障害箇所が存在するディスク位置が分かり、目視に
よる確認を行う際に光ディスクの障害箇所を探し易く、
容易に光ディスクの障害状況の確認が出来る。
検出出力により光ディスクの障害を判断すると共に、そ
の障害と判断される障害箇所を変位量検出回路からの検
出出力を用いて検出するようにしているので、光ディス
クの障害箇所が存在するディスク位置が分かり、目視に
よる確認を行う際に光ディスクの障害箇所を探し易く、
容易に光ディスクの障害状況の確認が出来る。
【００５３】そして、光ディスクの障害箇所が存在する
ディスク位置を表示して表現するようにしているので、
そのディスク位置の把握がし易く、特に、ホストコンピ
ュータにより制御されるディスプレイに光ディスクを示
すディスク形状の図形を表示し、その図形上に障害箇所
を示す表示を行うようにしているので、障害箇所のディ
スク位置が一目瞭然で認識できる。
ディスク位置を表示して表現するようにしているので、
そのディスク位置の把握がし易く、特に、ホストコンピ
ュータにより制御されるディスプレイに光ディスクを示
すディスク形状の図形を表示し、その図形上に障害箇所
を示す表示を行うようにしているので、障害箇所のディ
スク位置が一目瞭然で認識できる。
【００５４】また、反射光量検出回路からの検出出力及
び障害箇所が検出されるディスク位置の分布により光デ
ィスクの障害が傷によるものか汚れによるものかを判別
し、その障害の種類によって異なる表現で表示を行うよ
うにしているので、記録が行えない理由が分かり易いと
共に、障害が汚れによる場合は汚れを除去すべきディス
ク位置を容易に認識できる。
び障害箇所が検出されるディスク位置の分布により光デ
ィスクの障害が傷によるものか汚れによるものかを判別
し、その障害の種類によって異なる表現で表示を行うよ
うにしているので、記録が行えない理由が分かり易いと
共に、障害が汚れによる場合は汚れを除去すべきディス
ク位置を容易に認識できる。
【００５５】また、本発明は、ホストコンピュータによ
り光学ヘッドによるスレッド送り速度、及び、あるいは
光ディスクを駆動する回転速度の切り換えが行えるよう
にしているので、ディスク障害を測定する測定間隔が切
り換えられ、この測定間隔を密にして精密な測定とした
り、その測定間隔を粗くして測定時間の短縮を図った
り、状況に合わせて光ディスクの障害を判断するための
測定条件を選択することが出来る。
り光学ヘッドによるスレッド送り速度、及び、あるいは
光ディスクを駆動する回転速度の切り換えが行えるよう
にしているので、ディスク障害を測定する測定間隔が切
り換えられ、この測定間隔を密にして精密な測定とした
り、その測定間隔を粗くして測定時間の短縮を図った
り、状況に合わせて光ディスクの障害を判断するための
測定条件を選択することが出来る。
【図１】本発明に係る光ディスク検査装置の一実施例を
示す回路ブロック図である。
示す回路ブロック図である。
【図２】光ディスクの障害を表示する表示例を示す説明
図である。
図である。
３ スピンドルサーボ回路 ４ 光学ヘッド ７ サーボ制御回路 ９ 反射光量検出回路 １２ 変位量検出回路 １３ データ作成回路 １７ コマンド発生手段 １９ 設定手段 ２２ ディスク障害判断手段 ２３ 位置検出手段 ２４ 表示制御手段 ２５ ディスプレイ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｆ
Claims (7)
- 【請求項１】 光学ヘッドから出射される光ビームを光
ディスクに照射し、光ディスクにより反射される反射光
量を検出して光ディスクの障害を検出する光ディスク検
査装置であって、光学ヘッドのトレース位置を光ディス
クの径方向に変位させるアクセス動作を制御するアクセ
ス制御回路と、光学ヘッドから得られる反射光量を所定
時間ごとに検出する反射光量検出回路とを備え、前記ア
クセス制御手段は光ディスクの検査時に光ディスクの径
方向における記録領域全域に渡って光学ヘッドを変位さ
せると共に、前記反射光量検出回路からの検出出力が光
ディスクを正常状態と判断する判断基準となる正常レベ
ル範囲から低いレベル及び高いレベルのいずれに外れて
いる場合であっても光ディスクの障害を判断するように
したことを特徴とする光ディスク検査装置。 - 【請求項２】 前記反射光量検出回路からの検出出力が
前記正常レベル範囲から高いレベルで外れている場合は
傷であると判断し、傷を示す表示を行うことを特徴とす
る請求項１記載の光ディスク装置。 - 【請求項３】 光学ヘッドから出射される光ビームを光
ディスクに照射し、光ディスクにより反射される反射光
量を検出して光ディスクの障害を検出する光ディスク検
査装置であって、光ディスクの検査時に光学ヘッドのト
レース位置を光ディスクの径方向に変位させるアクセス
動作を制御するアクセス制御回路と、光学ヘッドの変位
位置を検出する変位量検出回路と、光学ヘッドから得ら
れる反射光量を所定時間ごとに検出する反射光量検出回
路とを備え、該反射光量検出回路からの検出出力により
光ディスクの障害を判断すると共に、前記変位量検出回
路からの検出出力を用いてその障害と判断される障害箇
所の特定を行うようにしたことを特徴とする光ディスク
検査装置。 - 【請求項４】 ディスク検査時において、光学ヘッドの
トラッキングサーボをオフ状態として光学ヘッドのトレ
ース位置を光ディスクの径方向に変位させるようにした
ことを特徴とする請求項１または請求項３記載の光ディ
スク装置。 - 【請求項５】 前記アクセス制御回路、及び、あるいは
光ディスクを駆動する回転速度を制御するサーボ制御回
路を作動させるコマンドをホストコンピュータから発生
させるようにし、そのコマンドに応じて光学ヘッドによ
るスレッド送り速度、及び、あるいは光ディスクを駆動
する回転速度の切り換えを行うようにしたことを特徴と
する請求項１または請求項３記載の光ディスク検査装
置。 - 【請求項６】 前記変位量検出回路からの検出出力を用
いて検出される光学ヘッドの変位位置及び光ディスクが
駆動されている回転速度から光学ヘッドによりトレース
されるディスク位置を把握するようにし、光ディスクの
障害と判断される障害箇所がどのディスク位置かを検出
するようにすると共に、その障害箇所が検出されるディ
スク位置の分布により光ディスクの障害が汚れであると
判断し、その汚れを示す表示を行うことを特徴とする請
求項３記載の光ディスク検査装置。 - 【請求項７】 ホストコンピュータにより制御されるデ
ィスプレイに光ディスクを示すディスク形状の図形を表
示し、その図形上に障害箇所を示す表示を行うようにし
たことを特徴とする請求項２または請求項６記載の光デ
ィスク検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9241209A JPH1186286A (ja) | 1997-09-05 | 1997-09-05 | 光ディスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9241209A JPH1186286A (ja) | 1997-09-05 | 1997-09-05 | 光ディスク検査装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002112028A Division JP2002358696A (ja) | 2002-04-15 | 2002-04-15 | 光ディスク検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1186286A true JPH1186286A (ja) | 1999-03-30 |
Family
ID=17070831
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9241209A Pending JPH1186286A (ja) | 1997-09-05 | 1997-09-05 | 光ディスク検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1186286A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002286431A (ja) * | 2001-03-27 | 2002-10-03 | Hirose Technology Kk | 表面凹凸検査方法および検査装置 |
| US7365228B2 (en) | 2005-02-01 | 2008-04-29 | Lg Chem, Ltd. | Method for producing unsaturated fatty acids |
| US8270274B2 (en) | 2008-10-15 | 2012-09-18 | Teac Corporation | Optical disk inspection device and inspection method |
-
1997
- 1997-09-05 JP JP9241209A patent/JPH1186286A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002286431A (ja) * | 2001-03-27 | 2002-10-03 | Hirose Technology Kk | 表面凹凸検査方法および検査装置 |
| US7365228B2 (en) | 2005-02-01 | 2008-04-29 | Lg Chem, Ltd. | Method for producing unsaturated fatty acids |
| US8270274B2 (en) | 2008-10-15 | 2012-09-18 | Teac Corporation | Optical disk inspection device and inspection method |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6747931B1 (en) | Method for discriminating type of optical recording medium | |
| US7079462B2 (en) | Optical disk data erasing apparatus and optical disk data erasing method | |
| EP0089020B1 (en) | Data processing apparatus with means for recording data by moving a head to a plurality of tracks | |
| US7149169B2 (en) | Distinguishing optical disc types | |
| EP1195759B1 (en) | Optical disc playback apparatus and method of judging disc type | |
| JPH1186286A (ja) | 光ディスク検査装置 | |
| US20040013066A1 (en) | Unbalance disc detection apparatus and unbalance disc detection method | |
| JP2002358696A (ja) | 光ディスク検査装置 | |
| KR980011124A (ko) | 광학식디스크 재생시템의 씨디/디브이디 판별장치 | |
| JPH08171751A (ja) | テープの走行制御方法 | |
| CN1652219A (zh) | 在写录时侦测光盘片瑕疵区块的装置与方法 | |
| CN1279529C (zh) | 判别盘类型的方法和装置 | |
| US5745456A (en) | Disk sensing apparatus for discriminating disk type in a dual purpose disk player | |
| JP2768798B2 (ja) | 光ディスク検査装置 | |
| EP1376549A1 (en) | Method of detecting imbalanced disk in disk drive apparatus and disk drive apparatus | |
| JPH05159507A (ja) | 光ディスクの検査装置および方法 | |
| JP4569604B2 (ja) | 光ディスク検査装置及び光ディスク検査方法 | |
| KR200148566Y1 (ko) | 광디스크 기록 장치의 디스크 종류 판별 장치 | |
| JP4591476B2 (ja) | 光ディスクの記録層検出装置及び記録層検出方法 | |
| JP2856159B2 (ja) | ディスク装置 | |
| JPS63268159A (ja) | デイスク判別装置 | |
| JP3277400B2 (ja) | 光ディスク欠陥検査装置 | |
| KR100189940B1 (ko) | 디스크의 편심량 측정 방법과 이를 이용한 회전 속도 결정장치 및 방법 | |
| JP2801667B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
| JP2007317330A (ja) | 光ディスクのレーザフォーカス制御方法及びそれを利用した光ディスク装置 |