JP2764771B2 - 感光性組成物 - Google Patents

感光性組成物

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はアルカリ可溶性樹脂、酸
により分解しアルカリ可溶性になる化合物、及び活性光
線又は放射線の照射により酸を発生する、特定の酸発生
剤からなる紫外線、遠紫外線、X線、電子線、分子線、
γ線、シンクロトロン放射線等の輻射線に感応する感光
性樹脂組成物に関するものである。就中フォトレジスト
に関するものであり、特に高い解像力と感度、更に良好
な保存安定性をそなえた微細加工用フォトレジスト組成
物に関するものである。本発明によるフォトレジストは
半導体ウエハー、またはガラス、セラミックス、金属等
の基板上にスピン塗布法またはローラー塗布法で0.5〜
3μm の厚みに塗布される。その後、加熱、乾燥し、露
光マスクを介して回路パターン等を紫外線照射などによ
り焼き付け、現像してポジ画像が得られる。更にこのポ
ジ画像をマスクとしてエッチングする事により基板にパ
ターン状の加工を施す事ができる。代表的な応用分野に
はICなどの半導体製造工程、液晶、サーマルヘッドな
どの回路基板の製造、更にその他のフォトファブリケー
ション工程などがある。
【0002】
【従来の技術】ポジ型フォトレジスト組成物としては、
一般にアルカリ可溶性樹脂と感光物としてのナフトキノ
ンジアジド化合物とを含む組成物が用いられている。例
えば、「ノボラック型フェノール樹脂/ナフトキノンジ
アジド置換化合物」として米国特許第3666473
号、米国特許第4115128号及び米国特許第417
3470号等に、また最も典型的な組成物として「クレ
ゾール−ホルムアルデヒドより成るノボラック樹脂/ト
リヒドロキシベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジ
アジドスルホン酸エステル」の例がトンプソン「イント
ロダクション・トウー・マイクロリソグラフィー」(L.
F. Thompson「Introduction to Microlithography」)
(ACS出版、No. 2 19号、p112〜121)に
記載されている。
【0003】結合剤としてのノボラック樹脂は、膨潤す
ることなくアルカリ水溶液に溶解可能であり、また生成
した画像をエッチングのマスクとして使用する際に特に
プラズマエッチングに対して高い耐性を与えるが故に本
用途に特に有用である。また、感光物に用いるナフトキ
ノンジアジド化合物は、それ自身ノボラック樹脂のアル
カリ溶解性を低下せしめる溶解阻止剤として作用する
が、光照射を受けて分解するとアルカリ可溶性物質を生
じてむしろノボラック樹脂のアルカリ溶解度を高める働
きをする点で特異であり、この光に対する大きな性質変
化の故にポジ型フォトレジストの感光物として特に有用
である。
【0004】これまで、かかる観点からノボラック樹脂
とナフトキノンジアジド系感光物を含有する数多くのポ
ジ型フォトレジストが開発、実用化され、1.5μm 〜
2μm 程度までの線幅加工に於ては充分な成果をおさめ
てきた。しかし、集積回路はその集積度を益々高めてお
り、超LSIなどの半導体基板の製造に於ては1μm 以
下の線幅から成る超微細パターンの加工が必要とされる
様になってきている。かかる用途に於ては、特に高い解
像力、露光マスクの形状を正確に写しとる高いパターン
形状再現精度及び高生産性の観点からの高感度を有し更
に保存安定性に優れたフォトレジストが要求されてい
る。
【0005】高い解像度を達成するためにキノンジアジ
ド感光基の含量を高める試みがなされている。例えば特
開昭60−158440号には高トリエステル含量の感
光物を用いる方法が記載されている。また特開昭61−
118744号には感光物1分子中に含まれるキノンジ
アジド感光基の個数を高める試みもなされている。しか
しこれらの感光物は通常用いられる溶剤に不溶性であっ
たり、また溶解した場合においてもフォトレジスト組成
物の保存中に、析出物が生成しフォトファブリケーショ
ン工程やデバイス製造工程において故障の原因となり、
得率が悪化する問題があった。このような感光物の析出
を防止するために特開昭61−260239号には溶解
性パラメータ11〜12の有機溶剤を添加する方法が記
載されている。しかしジメチルスルホキシド等の溶剤を
使用しているためにレジスト組成物の保存安定性が悪
く、感度や解像力が経過日数に従って大きく変化する欠
点を有している。
【0006】また高い解像度を達成する為に、使用する
光源の短波長化が考えられている。即ち、従来のg線
(436nm)、i線(365nm)からDeep-UV 光(20
0〜300nm)、KrF エキシマ−レーザー(248nm)
の使用が検討されているが、良好な形状のレジストパタ
ーンを形成する上で上記波長に対応する為には、この波
長領域での吸収が小さく、且つ露光の際、露光波長にお
けるブリーチ性が大きいことが必要となる。しかし、従
来のナフトキノンジアジド感光物の場合、Deep-UV 領域
での吸収が大きく、ブリーチ性も小さい為、光源の短波
長化の要望に対応し得ないのが実状であった。
【0007】更にこれらのキノンジアジド化合物は、活
性光線の照射により分解を起こして5員環のカルボン酸
を生じ、アルカリ可溶性となる性質が利用されるもので
あるが、いずれも感光性が不十分であるという欠点を有
する。これは、キノンジアジド化合物の場合、本質的に
量子収率が1を越えないということに由来するものであ
る。
【0008】キノンジアジド化合物を含む感光性組成物
の感光性を高める方法については、今までいろいろと試
みられてきたが、現像時の現像許容性を保持したまま感
光性を高めることは非常に困難であった。一方、キノン
ジアジド化合物を用いずにポジチブに作用させる感光性
組成物に関して、いくつかの提案がされている。その1
つとして、例えば特公昭56−2696号に記載されて
いるオルトニトロカルビノールエステル基を有するポリ
マー化合物が挙げられる。しかし、この場合も、キノン
ジアジドの場合と同じ理由で感光性が十分とは言えな
い。また、これとは別に接触作用により活性化される感
光系を使用し、感光性を高める方法として、光分解で生
成する酸によって第2の反応を生起させ、それにより露
光域を可溶化する公知の原理が適用されている。
【0009】このような例として、例えば光分解により
酸を発生する化合物と、アセタール又はO、N−アセタ
ール化合物との組合せ(特開昭48−89003号)、
オルトエステル又はアミドアセタール化合物との組合せ
(特開昭51−120714号)、主鎖にアセタール又
はケタール基を有するポリマーとの組合せ(特開昭53
−133429号)、エノールエーテル化合物との組合
せ(特開昭55−12995号)、N−アシルイミノ炭
酸化合物との組合せ(特開昭55−126236号)、
主鎖にオルトエステル基を有するポリマーとの組合せ
(特開昭56−17345号)、シリルエステル化合物
との組合せ(特開昭60−10247号)及びシリルエ
ーテル化合物との組合せ(特開昭60−37549号、
特開昭60−121446号)などを挙げることができ
る。これらは原理的に量子収率が1を越える為、高い感
光性を示す。同様に室温下経時では安定であるが、酸存
在下加熱することにより分解し、アルカリ可溶化する系
として、例えば、特開昭59−45439号、同60−
3625号、同62−229242号、同63−362
40号、 Polym. Eng. Sci. ,23巻、1012頁(1
983)、 ACS. Sym.242巻、11頁(1984)、
Semiconductor World 1987年、11月号、91
頁、 Macromolecules ,21巻、1475頁(198
8)、 SPIE ,920巻、42頁(1988)、などに
記載されている露光により酸を発生する化合物と、第3
級又は2級炭素(例えばt−ブチル、2−シクロヘキセ
ニルなど)のエステル又は炭酸エステル化合物との組合
せ系が挙げられる。これらの系も、高感度を有し、且つ
ナフトキノンジアジド/ノボラック樹脂系と比べて、De
ep-UV領域での吸収が小さいことから、前記の光源短波
長化に有効な系となり得るが、一方で併用する酸発生剤
が光ブリーチしない為、良好な形状のレジストパターン
を得るには十分ではなかった。特定の酸発生剤としてジ
スルホン化合物の使用については、特開昭61−166
544号並びに***特許第3804533号に、シリル
エーテル化合物との組合せ系が記載されているが、前者
においては、Deep-UV 領域での吸収が大きく、後者では
露光部のアルカリ現像性、及び未露光部の現像液に対す
る溶解阻止性が十分ではないという問題点があった。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題点
を解決し、特に半導体デバイスの製造において、高感度
で且つ高い解像力を有するフォトレジスト組成物を提供
することを目的とする。更に詳しくはDeep-UV 領域での
吸収が小さく、更にこの領域での光ブリーチ性が大き
い、短波長光源に対応し得るフォトレジスト組成物を提
供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、上記諸特
性に留意し、鋭意検討した結果、本発明を完成させるに
至った。即ち、本発明は、(a) 酸により分解し得る基を
少なくとも1個有し、アルカリ現像液中での溶解度が酸
の作用により増大する化合物0.5〜80wt%、(b) 下記
一般式で示されるジスルホン化合物0.01〜20wt%、
及び(c) 水不溶でアルカリ水に可溶な樹脂5〜99.49
wt%からなる組成物において、上記(a) の化合物が分子
量2,000 以下の低分子化合物で沸点が150℃以上であ
り、該組成物の1μm の皮膜の光学濃度が248nmで1.
4以下であり、且つ248nm光照射により248nmの光
学濃度が未照射時の値よりも低下することを特徴とする
ポジ型感光性組成物を提供するものである。
【0012】 R1 −SO2 −SO2 −R2 (I) 式中R1 、R2 は同一でも相異していてもよく、置換又
は未置換のアルキル、アルケニル、又はアリール基を示
す。以下、本発明の感光性組成物の各成分について説明
する。成分(a) (酸により分解し得る化合物) 本発明の成分(a) は、酸により分解し得る基を少なくと
も1個有し、アルカリ現像液中での溶解度が酸の作用に
より増大する化合物である。
【0013】本発明の好ましい実施態様においては、酸
により分解し得る基としては、 −COO−A、又は
−Ar−O−Bで示される基が挙げられる。ここでAは
−C(R)(R)(R)、−Si(R)(R
)(R)又は−C(R)(R)−OR基を示
す。BはA又は−CO−O−A基を示す。R、R
、R及びRは、それぞれ同一でも相異していて
もよく、水素原子、アルキル、シクロアルキル、アルケ
ニル、又はアリール基を示し、Rはアルキル、又はア
リール基を示す。但し、R〜Rのうち、少なくとも
2つは水素原子以外の基であり、またR〜R、及び
〜Rのうちの2つの基が結合して環を形成しても
よい。−Ar−は単環、又は多環の2価の芳香族基を示
す。
【0014】好ましくは、シリルエーテル基、クミルエ
ステル基、アセタール基、エノールエーテル基、エノー
ルエステル基、第3級のアルキルエーテル基、第3級の
アルキルエステル基、第3級のアルキルカーボネート基
などである。更に該化合物(a) の分子量は2,000 以下、
好ましくは1,200 以下であり、且つ沸点が150℃以上
の化合物である。
【0015】具体的には特開昭60−37549号、特
開平1−106038号記載のシリルエーテル化合物、
特開昭51−120714号、特開平1−106040
号、並びに特開平1−106041号記載のアセタール
化合物、特開昭60−3625号記載のクミルエステル
化合物、特開昭55−12995号記載のエノールエー
テル化合物が挙げられる。
【0016】この他、特開平2−177031号記載の
β−ジカルボニル化合物のモノケタール体、特開平2−
181150号記載のβ−ケト酸エステル化合物、特開
平2−181151号記載のマロン酸エステル化合物、
特開平3−107163号記載のスピロオルソカーボネ
ート化合物、特開平3−153257号記載のカルバメ
ート化合物、ヨーロッパ特許412457号記載のアン
モニウム塩基を有する化合物、ヨーロッパ特許4241
24号記載のテロラヒドロピラニルエーテル化合物並び
に特開平3−17653号記載の化合物なども本発明の
酸分解性基を有する化合物(a) として使用できる。
【0017】本発明の成分(a) の好ましい化合物例を以
下に示すが、本発明の化合物がこれに限定されるもので
はない。
【0018】
【化1】
【0019】
【化2】
【0020】
【化3】
【0021】
【化4】
【0022】
【化5】
【0023】
【化6】
【0024】
【化7】
【0025】
【化8】
【0026】
【化9】
【0027】また、本発明の感光性組成物における成分
(a) の含有量は、固型分で0.5 〜80wt%、好ましくは
3〜70wt%、更に好ましくは5〜50wt%である。成分(b) (ジスルホン化合物) 本発明に使用される成分(b) は一般式(I)で表わされ
るジスルホン化合物である。この一般式(I)におい
て、アルキル基としては直鎖、分枝または環状のもので
あり、好ましくは炭素原子数が約1ないし約10のもの
である。具体的には、例えばメチル基、エチル基、プロ
ピル基、ブチル基、ヘキシル基、オクチル基、デシル
基、イソプロピル基、イソブチル基、tert−ブチル基、
2−エチルヘキシル基、シクロヘキシル基などが含まれ
る。また、置換アルキル基は、上記のようなアルキル基
に例えば塩素原子のようなハロゲン原子、例えばメトキ
シ基のような炭素原子数1〜6個のアルコキシ基、例え
ばフェニル基のようなアリール基、例えばフェノキシ基
のようなアリールオキシ基などの置換したものが含ま
れ、具体的にはモノクロロメチル基、ジクロロメチル
基、トリクロロメチル基、ブロモメチル基、2−クロロ
エチル基、2′−ブロモエチル基、2−メトキシエチル
基、2−エトキシエチル基、フェニルメチル基、ナフチ
ルメチル基、フェノキシメチル基などが挙げられる。
【0028】アルケニル基は例えばビニル基であり、置
換アルケニル基は、ビニル基に例えばメチル基のような
アルキル基、例えばフェニル基のようなアリール基など
の置換したものが含まれ、具体的には1−メチルビニル
基、2−メチルビニル基、1,2−ジメチルビニル基、
2−フェニルビニル基、2−(p−メチルフェニル)ビ
ニル基、2−(p−メトキシフェニル)ビニル基、2−
(p−クロロフェニル)ビニル基、2−(o−クロロフ
ェニル)ビニル基などが挙げられる。
【0029】また、アリール基は単環あるいは2環のも
のが好ましく、例えばフェニル基、α−ナフチル基、β
−ナフチル基などが挙げられる。置換アリール基は上記
のようなアリール基に、例えばメチル基、エチル基など
の炭素原子数1〜6個のアルキル基、例えばメトキシ
基、エトキシ基などの炭素原子数1〜6個のアルコキシ
基、例えば塩素原子などのハロゲン原子、ニトロ基、フ
ェニル基、カルボキシ基、ヒドロキシ基、アミド基、イ
ミド基、シアノ基などが置換したものが含まれ、具体的
には4−クロロフェニル基、2−クロロフェニル基、4
−ブロモフェニル基、4−ニトロフェニル基、4−ヒド
ロキシフェニル基、4−フェニルフェニル基、4−メチ
ルフェニル基、2−メチルフェニル基、4−エチルフェ
ニル基、4−メトキシフェニル基、2−メトキシフェニ
ル基、4−エトキシフェニル基、2−カルボキシフェニ
ル基、4−シアノフェニル基、4−メチル−1−ナフチ
ル基、4−クロロ−1−ナフチル基、5−ニトロ−1−
ナフチル基、5−ヒドロキシ−1−ナフチル基、6−ク
ロロ−2−ナフチル基、4−ブロモ−2−ナフチル基、
5−ヒドロキシ−2−ナフチル基などがあげられる。
【0030】本発明で用いられる一般式(I)で表わさ
れるジスルホン化合物は、ジー.シー.デンサー,ジュ
ニア.ら著「ジャーナル オブ オルガニックケミスト
リー」(G. C. Denser, Jr ら著、「Journal of Organ
ic Chemistry」)31、3418〜3419(196
6)記載の方法、テー.ピー.ヒルドイッチ著「ジャー
ナル オブ ザ ケミカル ソサイアテイ」(T. P. Hi
lditch著「Journal of the Chemical Society 」)
、1524〜1527(1908)記載の方法、ある
いはオー.ヒンズベルク著「ベリヒテ デア ドイチエ
ン ヘミシエ ゲゼルシヤフト」(O. Hinsberg 著、
「Berichte der Deutschen Chemischen Gesellschaf
t」)49、2593〜2594(1916)記載の方
法等にしたがい合成できる。すなわち、硫酸水溶液中に
おいて、硫酸コバルトを用い、一般式(II)で示される
スルフィン酸より合成する方法、キサントゲン酸エチル
を用い、一般式(III)で示されるスルホン酸クロリドよ
り合成する方法、あるいは塩基性条件下、一般式(II)
で示されるスルフィン酸と一般式(III)で示されるスル
ホン酸クロリドとを反応させ合成する方法等が挙げられ
る。
【0031】 R1 −SO2 H (II) R2 −SO2 Cl (III) (ここで、R1 およびR2 は一般式(I)で定義された
1 およびR2 と同一の意味である。) 以下に本発明に使用される一般式(I)で示される具体
的な化合物を例示する。
【0032】
【化10】
【0033】
【化11】
【0034】
【化12】
【0035】
【化13】
【0036】
【化14】
【0037】
【化15】
【0038】
【化16】
【0039】
【化17】
【0040】
【化18】
【0041】
【化19】
【0042】
【化20】
【0043】本発明の感光性組成物における、一般式
(I)のジスルホン化合物の含有量は固型分で0.01〜
20wt%、好ましくは0.5〜15wt%、更に好ましく
は1〜10wt%である。成分(c) (アルカリ可溶性樹脂) 本発明のポジ型感光性組成物に使用されるアルカリ可溶
性樹脂は、好ましくはフェノール性水酸基、カルボン酸
基、スルホン酸基、イミド基、スルホンアミド基、N−
スルホニルアミド基、N−スルホニルウレタン基、活性
メチレン基等のpKa 11以下の酸性水素原子を有するポ
リマーである。好適なアルカリ可溶性ポリマーとして
は、ノボラック型フェノール樹脂、具体的にはフェノー
ルホルムアルデヒド樹脂、o−クレゾール−ホルムアル
デヒド樹脂、m−クレゾール−ホルムアルデヒド樹脂、
p−クレゾール−ホルムアルデヒド樹脂、キシレノール
−ホルムアルデヒド樹脂、またこれらの共縮合物などが
ある。更に特開昭50−125806号公報に記されて
いる様に上記のようなフェノール樹脂と共に、t−ブチ
ルフェノールホルムアルデヒド樹脂のような炭素数3〜
8のアルキル基で置換されたフェノールまたはクレゾー
ルとホルムアルデヒドとの縮合物とを併用してもよい。
またN−(4−ヒドロキシフェニル)メタクリルアミド
のようなフェノール性ヒドロキシ基含有モノマーを共重
合成分とするポリマー、p−ヒドロキシスチレン、o−
ヒドロキシスチレン、m−イソプロペニルフェノール、
p−イソプロペニルフェノール等の単独又は共重合のポ
リマー、更にまたはこれらのポリマーを部分エーテル
化、部分エステル化したポリマーも使用できる。
【0044】更に、アクリル酸、メタクリル酸等のカル
ボキシル基含有モノマーを共重合成分とするポリマー、
特開昭61−267042号公報記載のカルボキシル基
含有ポリビニルアセタール樹脂、特開昭63−1240
47号公報記載のカルボキシル基含有ポリウレタン樹脂
も好適に使用される。更にまた、N−(4−スルファモ
イルフェニル)メタクリルアミド、N−フェニルスルホ
ニルメタクリルアミド、マレイミドを共重合成分とする
ポリマー、特開昭63−127237号公報記載の活性
メチレン基含有モノマーも使用できる。
【0045】これらのアルカリ可溶性ポリマーは単一で
使用できるが、数種の混合物として使用してもよい。本
発明の感光性組成物における成分(c) の含有量は、感光
性組成物全固形分に対し、5 〜99.49wt%、好ましく
は10〜95wt%、更に好ましくは30〜90wt%の範
囲である。(a) 、(b) 、及び(c) の化合物からなる本発
明の感光性組成物は、上記(a) 、(b) 、及び(c) の含有
量の範囲で使用されるが、該組成物の1μm の皮膜の光
学濃度が、248nmで1.4以下、好ましくは1.3以
下、更に好ましくは1.0以下になるように組み合わさ
れ、且つ248nm光照射により248nmの光学濃度が未
照射時の値よりも低下することを特徴としている。(その他の好ましい成分) 本発明のポジ型感光性組成物
には必要に応じて、更に染料、顔料、可塑剤及び光分解
効率を増大させる化合物(所謂増感剤)などを含有させ
ることができる。
【0046】このような増感剤としては、ベンゾイン、
ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテ
ル、9−フルオレノン、2−クロロ−9−フルオレノ
ン、2−メチル−9−フルオレノン、9−アントロン、
2−ブロモ−9−アントロン、2−エチル−9−アント
ロン、9,10−アントラキノン、2−エチル−9,1
0−アントラキノン、2−t−ブチル−9,10−アン
トラキノン、2,6−ジクロロ−9,10−アントラキ
ノン、キサントン、2−メチルキサントン、2−メトキ
シキサントン、チオキサントン、ベンジル、ジベンザル
アセトン、p−(ジメチルアミノ)フェニルスチリルケ
トン、p−(ジメチルアミノ)フェニルp−メチルスチ
リルケトン、ベンゾフェノン、p−(ジメチルアミノ)
ベンゾフェノン(またはミヒラーケトン)、p−(ジエ
チルアミノ)ベンゾフェノン、ベンズアントロンなどを
あげることができる。これらの化合物のうち、ミヒラー
ケトンを用いた場合が特に好ましい。
【0047】さらに、本発明における好ましい増感剤と
しては、特公昭51−48516号公報中に記載されて
いる下記一般式(IV)で表わされる化合物があげられ
る。
【0048】
【化21】
【0049】式中、R3 はアルキル基(例えば、メチル
基、エチル基、プロピル基など)、または置換アルキル
基(例えば、2−ヒドロキシエチル基、2−メトキシエ
チル基、カルボキシメチル基、2−カルボキシエチル基
など)を表わす。R4 はアルキル基(例えば、メチル
基、エチル基など)、またはアリール基(例えば、フェ
ニル基、p−ヒドロキシフェニル基、ナフチル基、チエ
ニル基など)を表わす。
【0050】Dは通常シアニン色素で用いられる窒素を
含む複素環核を形成するのに必要な非金属原子群、例え
ば、ベンゾチアゾール類(ベンゾチアゾール、5−クロ
ロベンゾチアゾール、6−クロロベンゾチアゾールな
ど)、ナフトチアゾール類(α−ナフトチアゾール、β
−ナフトチアゾールなど)、ベンゾセレナゾール類(ベ
ンゾセレナゾール、5−クロロベンゾセレナゾール、6
−メトキシベンゾセレナゾールなど)、ナフトセレナゾ
ール類(α−ナフトセレナゾール、β−ナフトセレナゾ
ールなど)、ベンゾオキサゾール類(ベンゾオキサゾー
ル、5−メチルベンゾオキサゾール、5−フェニルベン
ゾオキサゾールなど)、ナフトオキサゾール類(α−ナ
フトオキサゾール、β−ナフトオキサゾールなど)を表
わす。
【0051】一般式(IV)で表わされる化合物の具体例
としては、これらD、R3 およびR 4 を組合せた化学構
造を有するものであり、多くのものが公知物質として存
在する。従って、これら公知のものから適宜選択して使
用することができる。更に、本発明における好ましい増
感剤としては、米国特許第4,062,686 号記載の増感剤、
例えば、2−〔ビス(2−フロイル)メチレン〕−3−
メチルベンゾチアゾリン、2−〔ビス(2−チエノイ
ル)メチレン〕−3−メチルベンゾチアゾリン、2−
〔ビス(2−フロイル)メチレン〕−3−メチルナフト
〔1,2−d〕チアゾリンなどが挙げられる。
【0052】また、着色剤として染料を用いることがで
きるが、好適な染料としては油溶性染料及び塩基性染料
がある。具体的には、オイルイエロー#101、オイル
イエロー#130、オイルピンク#312、オイルグリ
ーンBG、オイルブルーBOS、オイルブルー#60
3、オイルブラックBY、オイルブラックBS、オイル
ブラックT−505(以上、オリエント化学工業株式会
社製)クリスタルバイオレット(CI42555)、メチルバイ
オレット(CI42535)、ローダミンB(CI45170B)、マラ
カイトグリーン(CI42000)、メチレンブルー(CI52015)
などをあげることができる。
【0053】本発明の組成物中には、更に感度を高める
ために環状酸無水物、露光後直ちに可視像を得るための
焼出し剤、その他のフィラーなどを加えることができ
る。環状酸無水物としては米国特許第4,115,128 号明細
書に記載されているように無水フタル酸、テトラヒドロ
無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、3,6−エ
ンドオキシ−Δ4 −テトラヒドロ無水フタル酸、テトラ
クロル無水フタル酸、無水マレイン酸、クロル無水マレ
イン酸、α−フェニル無水マレイン酸、無水コハク酸、
ピロメリット酸等がある。これらの環状酸無水物を全組
成物中の固形分に対して1から15重量%含有させるこ
とによって感度を最大3倍程度に高めることができる。
露光後直ちに可視像を得るための焼出し剤としては露光
によって酸を放出する感光性化合物と塩を形成し得る有
機染料の組合せを代表として挙げることができる。具体
的には特開昭50−36209号公報、特開昭53−8
128号公報に記載されているo−ナフトキノンジアジ
ド−4−スルホン酸ハロゲニドと塩形成有機染料の組合
せや特開昭53−36223号公報、特開昭54−74
728号公報に記載されているトリハロメチル化合物と
塩形成性有機染料の組合せを挙げることができる。(溶媒) 本発明のポジ型感光性組成物を、半導体等のレ
ジスト材料用として使用する場合は、溶媒に溶解したま
まで使用する。ここで使用する溶媒としては、エチレン
ジクロライド、シクロヘキサノン、メチルエチルケト
ン、メタノール、エタノール、プロパノール、エチレン
グリコールモノメチルエーテル、1−メトキシ−2−プ
ロパノール、エチレングリコールモノエチルエーテル、
2−メトキシエチルアセテート、2−エトキシエチルア
セテート、1−メトキシ−2−プロピルアセテート、ジ
メトキシエタン、乳酸メチル、乳酸エチル、N,N−ジ
メチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、
テトラメチルウレア、N−メチルピロリドン、ジメチル
スルホキシド、スルホラン、γ−ブチロラクトン、トル
エン、酢酸エチルなどがあり、これらの溶媒を単独ある
いは混合して使用する。そして上記成分中の濃度(添加
物を含む全固形分)は、2〜50重量%である。(活性光線又は放射線) 本発明の感光性組成物の露光に
用いられる活性光線の光源としては例えば、水銀灯、メ
タルハライドランプ、キセノンランプ、ケミカルラン
プ、カーボンアーク灯などがある。放射線としては電子
線、X線、イオンビーム、遠紫外線などがある。好まし
くはフォトレジスト用の光源として、g線、i線、Deep
-UV 光が使用される。また高密度エネルギービーム(レ
ーザービーム又は電子線)による走査又はパルス露光も
本発明の感光性組成物の露光に使用することができる。
このようなレーザービームとしてはヘリウム・ネオンレ
ーザー、アルゴンレーザー、クリプトンイオンレーザ
ー、ヘリウム・カドミウムレーザー、 KrFエキシマレー
ザーなどが挙げられる。(現像液) 本発明のポジ型感光性組成物に対する現像液
としては、珪酸ナトリウム、珪酸カリウム、水酸化ナト
リウム、水酸化カリウム、水酸化リチウム、第三リン酸
ナトリウム、第二リン酸ナトリウム、第三リン酸アンモ
ニウム、第二リン酸アンモニウム、メタ珪酸ナトリウ
ム、重炭酸ナトリウム、アンモニア水などのような無機
アルカリ剤及びテトラアルキルアンモニウムOH塩など
のような有機アルカリ剤の水溶液が適当であり、それら
の濃度が0.1〜10重量%、好ましくは0.5〜5重量%
になるように添加される。
【0054】また、該アルカリ性水溶液には、必要に応
じ界面活性剤やアルコールなどのような有機溶媒を加え
ることもできる。
【0055】
【発明の効果】本発明のポジ型感光性組成物は、高感度
を有し、Deep-UV 硫酸の短波長光源に対する適性があ
り、解像力に優れている。
【0056】
【実施例】以下、本発明を実施例により更に詳細に説明
するが、本発明の内容がこれにより限定されるものでは
ない。実施例1(参考) 分子量が3380でメタ/パラ(m/p)仕込比が50
/50であるメターパラクレゾールノボラック樹脂2g
とI−14で示される構造を有するジスルホン化合物
0.2gを6.0gのジメチルアセトアミド(以後DM
Acと略記する)に溶解したのち、0.4μmのポアサ
イズをもつメンブランフィルターで濾過し、感光性組成
物を得た。この組成物の光学濃度を測定したところ、2
48nmの波長において未露光時は約1.2μm−1
度であるが、露光後は約0.9μm−1に低下してい
た。前記感光性組成物をヘキサメチルジシラザン処理を
施した3インチベアシリコン上に塗布し、100℃に保
持したホットプレート上で90秒間プリベークを行な
い、約8000Åの膜厚を有する塗膜を形成した。露光
には低圧水銀灯を光源とし254nmの波長の遠紫外光
を透過するバンドパスフィルターを取り付けたキャノン
製PLA501Fコンタクトアライナを用いた。コンタ
クトモードで露光後、濃度が約1.43%のテトラメチ
ルアンモニウムハイドロオキサイド水溶液(以後TMA
Hと略記する)で60秒間パドル現像を行なった。この
結果、残膜率が95%のポジ画像が得られた。
【0057】Eta感度はおよそ50mj/cmであ
り、解像力は0.75μmL/Sであった。実施例2(参考) 分子量が3400のm/p仕込比が50/50であるメ
ターパラクレゾールノボラック樹脂と分子量約8000
【0058】
【化22】
【0059】なるアルカリ可溶性樹脂とを、60:40
の割合で混合し、(それぞれ、1.2g及び0.8g)、I
−7で示される構造を有するジスルホン化合物を0.2g
(樹脂に対し10%)添加した。溶剤には、7.9gのD
MAcを用いた。完全に溶解したのち実施例1と同様に0.
4μm のメンブランフィルターで濾過して感光性組成物
を得た。この組成物の光学濃度は、248nmの波長にお
いては、未露光時約1.0μm -1、露光後0.8μm -1に低
下した。実施例1と同様にしてシリコンウェハー上に約
8000Åの塗膜を形成した。露光後、濃度が1.19%
のTMAH水溶液を現像液として45秒のパドル現像を
行なった。この結果残膜率が約90%のポジ画像が得ら
れた。
【0060】解像力は0.75μm L/Sで、Eta感度は
約30mj/cm2 であった。 実施例3 分子量が約6000のm/p=60/40仕込比のメタ
−パラクレゾールノボラック樹脂1.8と、化合物例(a
−4)(A= -C(CH3)2(C6H5) )の化合物0.8g及びI
−16で示される構造を有するジスルホン化合物0.12
gを7.5gのDMAcに溶解し、0.4μm のメンブランフ
ィルターで濾過して感光性組成物を得た。この組成物の
光学濃度は248nmで未露光時約0.93μm-1露光時0.
81μm -1に減少した。実施例1と同様にして、シリコ
ンウェハー上に塗膜形成を行ない、8000Åの膜を得
た。実施例1で述べた露光装置を使い露光後、1.19%
のTMAH水溶液を現像液として45秒のパドル現像を
行なった。この結果残膜率が92%のポジ画像を得た。
0.7μm L/Sを解像した。Eta感度は25mj/cm 2
あった。 実施例4 実施例3で用いたジスルホン化合物I−16のかわりに
I−13で示される構造を有するジスルホン化合物を使
い、添加量を0.3gとして、感光性組成物を得た。24
8nmでの光学濃度を測定したところ、未露光時、約1.1
μm -1であったが、露光により0.92μm -1に減力し
た。
【0061】画像形成能を、実施例1と同様の操作で1.
19%のTMAH水溶液を現像液として評価した。0.8
μm L/Sを解像しEta感度は75mj/cm2 であった。 実施例5〜10 化合物例(a−27)(B= -COO-C4H9 t ) の化合物
(B)を、表1に示すような組成で、m/pクレゾール
ノボラック樹脂(A)(m/p=50/50、重量平均
分子量=6000)及びジスルホン化合物(C)と混合
し感光性組成物を調製した。実施例1に示すような手順
で塗布、露光を行い、露光後90℃で90秒間ポストベ
ークを行った。更に実施例1と同様に現像を行ない画像
形成能を調べた。
【0062】その結果下表に記すような結果が得られ
た。いずれの場合も、マスクの最小寸法0.7μm を解像
した。 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 実施例 Eta(mj/cm2) 解像度(μm ) 残膜率(%) ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 5 20 0.7 91.0 6 35 0.7 92.0 7 40 0.7 93.0 8 25 0.7 89.0 9 30 0.7 89.0 10 35 0.7 91.0 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 実 (C) 組成比 光学濃度μm -1 現 像 施 ジスルホン━━━━━━━━━━━━━━━━━ 現像液 時 間 例 化合物 (A)/(B) (B)/(C) 未露光 露光 (秒) ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 5 I−11 80/20 8/1 1.05 0.99 TMAH 2.38% 30 6 〃 70/30 〃 0.95 0.88 〃 30 7 〃 60/40 〃 0.88 0.78 〃 40 8 I−15 80/20 〃 1.07 1.01 TMAH 1.67% 30 9 〃 70/30 〃 0.99 0.90 〃 40 10 〃 60/40 〃 0.90 0.78 〃 40 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G03F 7/004 - 7/18

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (a)酸により分解し得る基を少なくと
    も1個有し、アルカリ現像液中での溶解度が酸の作用に
    より増大する化合物 0.5〜80wt%、 (b)下記一般式(I)で示されるジスルホン化合物
    0.01〜20wt%、 R−SO−SO−R (I) (式中、R、Rは同一でも相異していてもよく、置
    換又は未置換のアルキル、アルケニル、又はアリール基
    を示す。)、及び (c)水不溶でアルカリ水に可溶な樹脂 5〜99.4
    9wt%、 からなるポジ型感光性組成物にして、前記(a)の化合
    物が、分子量2,000以下の低分子化合物でかつ沸点
    が150℃以上であり、前記ポジ型感光性組成物の1μ
    mの皮膜の光学濃度が248nmで1.4以下であり、
    且つ248nm光照射により248nmの光学濃度が未
    照射時の値よりも低下するポジ型感光性組成物を、24
    8nm光で照射するパターン形成方法であって、前記酸
    で分解し得る基が、以下の基:−COO−A、又は−A
    r−O−B基(式中、Aは、−C(R)(R)(R
    )、−Si(R)(R)(R)又は−C
    (R)(R)−OR基を示し、Bは、A又は−C
    OO−A基を示す。R、R、R、R及びR
    は、それぞれ同一でも相異していてもよく、水素原
    子、アルキル、シクロアルキル、アルケニル、又はアリ
    ール基を示す。Rは、アルキル、又はアリール基を示
    す。但し、R〜Rのうち、少なくとも2つは、水素
    原子以外の基であり、また、R〜R、及びR〜R
    のうちの2つの基が結合して環を形成してもよい。−
    Ar−は、単環又は多環の2価の芳香族基を示す。)で
    示されることを特徴とするパターン形成方法。
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Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3826363A1 (de) * 1988-08-03 1990-02-08 Merck Patent Gmbh Saeurehaertbare bindemittelsysteme mit 1,2-disulfonen
JP2838335B2 (ja) * 1992-02-03 1998-12-16 富士写真フイルム株式会社 感光性組成物
EP0588544A3 (en) * 1992-09-14 1994-09-28 Wako Pure Chem Ind Ltd Fine pattern forming material and pattern formation process
US5892906A (en) * 1996-07-19 1999-04-06 Chou; Wayne W. Apparatus and method for preventing theft of computer devices
US5945248A (en) * 1996-07-24 1999-08-31 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Chemical-sensitization positive-working photoresist composition
EP1452335A1 (en) 1997-10-17 2004-09-01 Fuji Photo Film Co., Ltd. A positive type photosensitive image-forming material for an infrared laser and a positive type photosensitive composition for an infrared laser
US7090958B2 (en) * 2003-04-11 2006-08-15 Ppg Industries Ohio, Inc. Positive photoresist compositions having enhanced processing time
US7358408B2 (en) * 2003-05-16 2008-04-15 Az Electronic Materials Usa Corp. Photoactive compounds
US7955159B2 (en) * 2003-08-07 2011-06-07 Ivoclar Vivadent Ag Machining of ceramic materials
DE10336913C9 (de) 2003-08-07 2019-02-21 Ivoclar Vivadent Ag Verwendung eines Lithiumsilicatmaterials
US9220576B2 (en) 2003-08-07 2015-12-29 Ivoclar Vivadent Ag Machining of ceramic materials
US8444756B2 (en) 2003-08-07 2013-05-21 Ivoclar Vivadent Ag Lithium silicate materials
DK1688398T3 (da) 2005-02-08 2014-07-21 Ivoclar Vivadent Ag Lithiumsilikat-glaskeramik
US20100290157A1 (en) * 2009-05-14 2010-11-18 Western Digital (Fremont), Llc Damascene coil processes and structures
US8865606B2 (en) 2010-04-16 2014-10-21 Ivoclar Vivadent Ag Process for the preparation of dental restorations
EP2377830B1 (de) 2010-04-16 2016-04-13 Ivoclar Vivadent AG Lithiumsilikat-Glaskeramik und -Glas mit Übergangsmetalloxid
EP2765977B1 (de) 2011-10-14 2015-12-30 Ivoclar Vivadent AG Lithiumsilikat-glaskeramik und -glas mit einwertigem metalloxid
ES2570935T3 (es) 2011-10-14 2016-05-23 Ivoclar Vivadent Ag Vitrocerámica y vidrio de silicato de litio con óxido metálico trivalente
KR20140075778A (ko) 2011-10-14 2014-06-19 이보클라 비바덴트 아게 4가 금속 산화물을 포함하는 리튬 실리케이트 유리 세라믹 및 리튬 실리케이트 유리
RU2017112372A (ru) 2011-10-14 2019-01-24 Ивоклар Вивадент Аг Литиево-силикатные стеклокерамика и стекло с оксидом двухвалентного металла
KR20140077949A (ko) 2011-10-14 2014-06-24 이보클라 비바덴트 아게 6가 금속 산화물을 포함하는 리튬 실리케이트 유리 세라믹 및 리튬 실리케이트 유리
US10227255B2 (en) 2011-10-14 2019-03-12 Ivoclar Vivadent Ag Lithium silicate glass ceramic and lithium silicate glass comprising a pentavalent metal oxide
WO2013164256A1 (de) 2012-05-04 2013-11-07 Ivoclar Vivadent Ag Lithiumdisilikat-apatit-glaskeramik
KR20170007535A (ko) 2012-05-11 2017-01-18 이보클라 비바덴트 아게 치과용 예비-소결된 블랭크
US10470854B2 (en) 2012-05-11 2019-11-12 Ivoclar Vivadent Ag Pre-sintered blank for dental purposes
EP2765119B1 (de) 2013-02-12 2021-07-28 Ivoclar Vivadent AG Rohling für dentale Zwecke
US9245545B1 (en) 2013-04-12 2016-01-26 Wester Digital (Fremont), Llc Short yoke length coils for magnetic heads in disk drives
EP2792649B1 (de) 2013-04-15 2019-11-27 Ivoclar Vivadent AG Lithiumsilikat-Glaskeramik und -Glas mit Gehalt an Rubidiumoxid
ES2954898T3 (es) 2014-05-13 2023-11-27 Ivoclar Vivadent Ag Procedimiento para la producción de vidrios de silicato de litio y materiales vitrocerámicos de silicato de litio
EP3050856B1 (de) 2015-01-30 2019-05-29 Ivoclar Vivadent AG Lithiumsilikat-Diopsid-Glaskeramik

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5280022A (en) * 1975-12-26 1977-07-05 Fuji Photo Film Co Ltd Light solubilizable composition
JPH0617991B2 (ja) * 1983-06-22 1994-03-09 富士写真フイルム株式会社 光可溶化組成物
DE3473359D1 (de) * 1983-06-29 1988-09-15 Fuji Photo Film Co Ltd Photosolubilizable composition
JPS6037549A (ja) * 1983-08-10 1985-02-26 Fuji Photo Film Co Ltd 光可溶化組成物
JP2525568B2 (ja) * 1985-01-18 1996-08-21 富士写真フイルム株式会社 光可溶化組成物
JPS62266537A (ja) * 1986-05-14 1987-11-19 Fuji Photo Film Co Ltd マイクロカプセル及びそれを使用した感光性記録材料
EP0249139B2 (en) * 1986-06-13 1998-03-11 MicroSi, Inc. (a Delaware corporation) Resist compositions and use
JPS63265242A (ja) * 1987-04-23 1988-11-01 Fuji Photo Film Co Ltd 多色画像形成方法
JPS6457777A (en) * 1987-08-28 1989-03-06 Komatsu Mfg Co Ltd Excimer laser
DE3804533A1 (de) * 1988-02-13 1989-08-24 Ciba Geigy Ag Siliziumhaltige positiv-fotoresistzusammensetzungen mit 1,2-disulfonen
DE3808927A1 (de) * 1988-03-17 1989-10-05 Ciba Geigy Ag Negativ-fotoresists von polyimid-typ mit 1,2-disulfonen
JPH01300250A (ja) * 1988-05-30 1989-12-04 Tosoh Corp フォトレジスト組成物
DE3837438A1 (de) * 1988-11-04 1990-05-10 Basf Ag Strahlungsempfindliches gemisch
JPH02248953A (ja) * 1989-03-22 1990-10-04 Toshiba Corp 感光性組成物
GB8923459D0 (en) * 1989-10-18 1989-12-06 Minnesota Mining & Mfg Positive-acting photoresist compositions
JP2632066B2 (ja) * 1990-04-06 1997-07-16 富士写真フイルム株式会社 ポジ画像の形成方法

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