JP2743984B2 - ハニカム構造体の検査方法 - Google Patents
ハニカム構造体の検査方法Info
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- JP2743984B2 JP2743984B2 JP7047893A JP7047893A JP2743984B2 JP 2743984 B2 JP2743984 B2 JP 2743984B2 JP 7047893 A JP7047893 A JP 7047893A JP 7047893 A JP7047893 A JP 7047893A JP 2743984 B2 JP2743984 B2 JP 2743984B2
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- curved honeycomb
- curved
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】曲りハニカム構造体の内部欠陥を
検査する検査方法に関するものである。
検査する検査方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来から、多数の貫通孔を有するハニカ
ム構造体の目詰まり、隔壁の破損または変形等によるハ
ニカム構造体の内部欠陥を検査する装置として、実開昭
５６−１６７２４９号公報、特公昭６２−５３７６７号
公報、特公昭６３−５３４９５号公報等に開示されてい
るものが知られている。何れの検査装置も、真直ぐなハ
ニカム構造体の一端面から光線を照射し、ハニカム構造
体を通過した光線によりスクリーンに映し出される投影
図を直接または撮影機等で間接に目視し、ハニカム構造
体の内部欠陥を検査する。
ム構造体の目詰まり、隔壁の破損または変形等によるハ
ニカム構造体の内部欠陥を検査する装置として、実開昭
５６−１６７２４９号公報、特公昭６２−５３７６７号
公報、特公昭６３−５３４９５号公報等に開示されてい
るものが知られている。何れの検査装置も、真直ぐなハ
ニカム構造体の一端面から光線を照射し、ハニカム構造
体を通過した光線によりスクリーンに映し出される投影
図を直接または撮影機等で間接に目視し、ハニカム構造
体の内部欠陥を検査する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
検査装置で曲りハニカム構造体を検査すると、貫通孔が
曲っているので照射光線が貫通孔の隔壁に吸収され投影
図に十分な光量がないため、曲りハニカム構造体の内部
欠陥の確認が目視で困難であるという問題がある。
検査装置で曲りハニカム構造体を検査すると、貫通孔が
曲っているので照射光線が貫通孔の隔壁に吸収され投影
図に十分な光量がないため、曲りハニカム構造体の内部
欠陥の確認が目視で困難であるという問題がある。
【０００４】本発明は、上記問題点を解決するためにな
されたもので、曲りハニカム構造体の内部欠陥が目視で
高精度に検査可能な検査方法を提供することを目的とす
る。
されたもので、曲りハニカム構造体の内部欠陥が目視で
高精度に検査可能な検査方法を提供することを目的とす
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
の本発明の曲りハニカム構造体の検査方法は、多数の貫
通孔を有する曲りハニカム構造体の内部欠陥を検査する
方法であって、曲りハニカム構造体の中心曲率半径を
Ｒ、曲りハニカム構造体の貫通孔内接直径をＤ、曲りハ
ニカム構造体の両端面切断角度をθ、照射光線の直進角
度をβ、曲りハニカム構造体の曲率係数をＫ、曲りハニ
カム構造体の入口面の照度をＬｘとすると、照射光線の
直進角度βを、 β＝２ｃｏｓ-1｛（Ｒ−Ｄ／２）／Ｒ｝ 曲りハニカム構造体の中心曲率Ｋを、 Ｋ＝１００θ／βＲ で表すとき、曲りハニカム構造体の入口面の照度Ｌｘ
を、 Ｌｘ≧２００００Ｋ−１００００ の範囲で検査することを特徴とする。
の本発明の曲りハニカム構造体の検査方法は、多数の貫
通孔を有する曲りハニカム構造体の内部欠陥を検査する
方法であって、曲りハニカム構造体の中心曲率半径を
Ｒ、曲りハニカム構造体の貫通孔内接直径をＤ、曲りハ
ニカム構造体の両端面切断角度をθ、照射光線の直進角
度をβ、曲りハニカム構造体の曲率係数をＫ、曲りハニ
カム構造体の入口面の照度をＬｘとすると、照射光線の
直進角度βを、 β＝２ｃｏｓ-1｛（Ｒ−Ｄ／２）／Ｒ｝ 曲りハニカム構造体の中心曲率Ｋを、 Ｋ＝１００θ／βＲ で表すとき、曲りハニカム構造体の入口面の照度Ｌｘ
を、 Ｌｘ≧２００００Ｋ−１００００ の範囲で検査することを特徴とする。
【０００６】
【作用】本発明のハニカム構造体の検査方法は、曲りハ
ニカム構造体の一端面から適切な照度の光線を照射する
ことにより曲りハニカム構造体の内部欠陥が目視可能と
なる。
ニカム構造体の一端面から適切な照度の光線を照射する
ことにより曲りハニカム構造体の内部欠陥が目視可能と
なる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明のハニカム構造体の検査方法を
適用した曲りハニカム構造体検査装置の一実施例を図面
に基づいて説明する。図１に示す曲りハニカム構造体の
検査装置１０は、曲りハニカム構造体２０に光線を照射
する光源１１、光源１１の光線を光源１１の前方向に反
射する反射鏡１２、光源１１から放射状に照射された光
線を平行な光線にする凸レンズ１３、曲りハニカム構造
体２０と凸レンズ１３との隔壁となるガラス板１４、反
射鏡１２と凸レンズ１３とガラス板１４を内壁に固定す
る無底円筒状の筒体１５、曲りハニカム構造体２０を嵌
合固定する無底筒状の固定部材１６で構成される。
適用した曲りハニカム構造体検査装置の一実施例を図面
に基づいて説明する。図１に示す曲りハニカム構造体の
検査装置１０は、曲りハニカム構造体２０に光線を照射
する光源１１、光源１１の光線を光源１１の前方向に反
射する反射鏡１２、光源１１から放射状に照射された光
線を平行な光線にする凸レンズ１３、曲りハニカム構造
体２０と凸レンズ１３との隔壁となるガラス板１４、反
射鏡１２と凸レンズ１３とガラス板１４を内壁に固定す
る無底円筒状の筒体１５、曲りハニカム構造体２０を嵌
合固定する無底筒状の固定部材１６で構成される。
【０００８】光源１１は、例えばハロゲンランプのよう
な光束の大きいものを使用する。反射鏡１２の内壁１２
ａは、光源１１の前方以外に照射される光線を、光源１
１から直接照射される放射状の光線と同方向に反射させ
る。凸レンズ１３で平行にされた光源１１の光線は、ガ
ラス板１４を通して曲りハニカム構造体２０の入口端面
２０ａに照射される。光線は、図３に示すように、曲り
ハニカム構造体２０の貫通孔２１を隔壁２０ｃで反射し
ながら進む。
な光束の大きいものを使用する。反射鏡１２の内壁１２
ａは、光源１１の前方以外に照射される光線を、光源１
１から直接照射される放射状の光線と同方向に反射させ
る。凸レンズ１３で平行にされた光源１１の光線は、ガ
ラス板１４を通して曲りハニカム構造体２０の入口端面
２０ａに照射される。光線は、図３に示すように、曲り
ハニカム構造体２０の貫通孔２１を隔壁２０ｃで反射し
ながら進む。
【０００９】図２に示す曲りハニカム構造体の他端面２
０ｂにおいて、目の位置直径約数１０ｍｍの範囲が明る
く見え、その外側部分は斜線に示されるように暗くなっ
ている。目の位置を移動することにより、他端面２０ｂ
全体を検査する。図２に示す暗部４１は貫通孔２１の目
詰りまたは隔壁２０ｃの破損を表す。他端面２０ｂを目
視して、このように曲りハニカム構造体２０の内部欠陥
を検査できるようにするためには、曲りハニカム構造体
２０の隔壁２０ｃに光線が吸収されてもなお曲りハニカ
ム構造体２０の内部欠陥を目視可能な光束を有する光源
が必要である。
０ｂにおいて、目の位置直径約数１０ｍｍの範囲が明る
く見え、その外側部分は斜線に示されるように暗くなっ
ている。目の位置を移動することにより、他端面２０ｂ
全体を検査する。図２に示す暗部４１は貫通孔２１の目
詰りまたは隔壁２０ｃの破損を表す。他端面２０ｂを目
視して、このように曲りハニカム構造体２０の内部欠陥
を検査できるようにするためには、曲りハニカム構造体
２０の隔壁２０ｃに光線が吸収されてもなお曲りハニカ
ム構造体２０の内部欠陥を目視可能な光束を有する光源
が必要である。
【００１０】次に、曲りハニカム構造体の形状または大
きさと曲りハニカム構造体の内部欠陥を目視可能な曲り
ハニカム構造体の入口端面のの照度との関係について実
験を行った。実験に使用した曲りハニカム構造体２０
は、セル構造：６mil ／４００cpi2、隔壁の厚み：０．
１７ｍｍ、単位面積あたりのセル数：６２０００セル／
ｍ2 、横断面の長径：９５ｍｍ、横断面の短径：７０ｍ
ｍである。
きさと曲りハニカム構造体の内部欠陥を目視可能な曲り
ハニカム構造体の入口端面のの照度との関係について実
験を行った。実験に使用した曲りハニカム構造体２０
は、セル構造：６mil ／４００cpi2、隔壁の厚み：０．
１７ｍｍ、単位面積あたりのセル数：６２０００セル／
ｍ2 、横断面の長径：９５ｍｍ、横断面の短径：７０ｍ
ｍである。
【００１１】曲りハニカム構造体の形状を定義する変数
について以下に説明する。図３に示す両端面切断角度θ
は、曲りハニカム構造体２０の入口端面２０ａと他端面
２０ｂがなす角度を表し、中心曲率半径Ｒは、一点鎖線
で示す曲りハニカム構造体２０の中心線の曲率半径を表
す。図４に示す直進角度βは、曲りハニカム構造体２０
の入口端面２０ａから直角に入ってきた光線が隔壁２０
ｃで反射する隣り合う２点２０ｄと、図３に示す曲りハ
ニカム構造体２０の曲率中心５１とを結んだ直線がなす
角度を表す。図５に示す貫通孔内接直径Ｄは曲りハニカ
ム構造体２０の貫通孔２１の内径を表す。直進角度βは
中心曲率半径Ｒ、貫通孔内接直径Ｄにより次式のように
定義できる。
について以下に説明する。図３に示す両端面切断角度θ
は、曲りハニカム構造体２０の入口端面２０ａと他端面
２０ｂがなす角度を表し、中心曲率半径Ｒは、一点鎖線
で示す曲りハニカム構造体２０の中心線の曲率半径を表
す。図４に示す直進角度βは、曲りハニカム構造体２０
の入口端面２０ａから直角に入ってきた光線が隔壁２０
ｃで反射する隣り合う２点２０ｄと、図３に示す曲りハ
ニカム構造体２０の曲率中心５１とを結んだ直線がなす
角度を表す。図５に示す貫通孔内接直径Ｄは曲りハニカ
ム構造体２０の貫通孔２１の内径を表す。直進角度βは
中心曲率半径Ｒ、貫通孔内接直径Ｄにより次式のように
定義できる。
【００１２】β＝２ｃｏｓ-1｛（Ｒ−Ｄ／２）／Ｒ｝ また、両端面切断角度θ、中心曲率半径Ｒ、直進角度β
により曲率係数Ｋを次式のように定義する。 Ｋ＝１００θ／βＲ ここで、両端面切断角度θ、中心曲率半径Ｒ、直進角度
βにより定義される曲率係数Ｋと、曲率係数Ｋを変化さ
せたときの曲りハニカム構造体の内部欠陥の有無を目視
可能な曲りハニカム構造体の入口端面の照度Ｌｘとの関
係について行った実験の結果を表１に示す。表１におい
て、曲りハニカム構造体の内部欠陥の有無の検出が可能
な場合は○を、不可能な場合は×を記した。
により曲率係数Ｋを次式のように定義する。 Ｋ＝１００θ／βＲ ここで、両端面切断角度θ、中心曲率半径Ｒ、直進角度
βにより定義される曲率係数Ｋと、曲率係数Ｋを変化さ
せたときの曲りハニカム構造体の内部欠陥の有無を目視
可能な曲りハニカム構造体の入口端面の照度Ｌｘとの関
係について行った実験の結果を表１に示す。表１におい
て、曲りハニカム構造体の内部欠陥の有無の検出が可能
な場合は○を、不可能な場合は×を記した。
【００１３】
【表１】
【００１４】図６に表１の曲率係数Ｋを横軸、曲りハニ
カム構造体の入口端面の照度Ｌｘを縦軸とした特性図を
示す。直線１００は、曲りハニカム構造体の内部欠陥の
有無が目視可能か目視不可能かの境界線を表し、次式
（１）で定義される。 Ｌｘ＝２００００Ｋ−１００００ ・・・ （１） 図６と式（１）より、曲りハニカム構造体の入口端面の
照度Ｌｘが次式（２） Ｌｘ≧２００００Ｋ−１００００ ・・・ （２） の範囲であれば曲りハニカム構造体の内部欠陥の有無の
目視による判断が可能であり、式（２）を満たす照度を
有する光源を用意すれば、曲りハニカム構造体の内部欠
陥の検査が可能であることが判る。
カム構造体の入口端面の照度Ｌｘを縦軸とした特性図を
示す。直線１００は、曲りハニカム構造体の内部欠陥の
有無が目視可能か目視不可能かの境界線を表し、次式
（１）で定義される。 Ｌｘ＝２００００Ｋ−１００００ ・・・ （１） 図６と式（１）より、曲りハニカム構造体の入口端面の
照度Ｌｘが次式（２） Ｌｘ≧２００００Ｋ−１００００ ・・・ （２） の範囲であれば曲りハニカム構造体の内部欠陥の有無の
目視による判断が可能であり、式（２）を満たす照度を
有する光源を用意すれば、曲りハニカム構造体の内部欠
陥の検査が可能であることが判る。
【００１５】
【発明の効果】本発明のハニカム構造体の検査方法によ
ると、曲率係数に応じて光源の照度を特定の範囲に設定
することで、曲りハニカム構造体の内部欠陥を容易に検
査できるという効果がある。
ると、曲率係数に応じて光源の照度を特定の範囲に設定
することで、曲りハニカム構造体の内部欠陥を容易に検
査できるという効果がある。
【図１】本発明のハニカム構造体の検査方法を適用した
曲りハニカム構造体の検査装置の模式的断面図である。
曲りハニカム構造体の検査装置の模式的断面図である。
【図２】図１に示すII方向矢視図である。
【図３】検査対象の曲りハニカム構造体の模式的縦断面
図である。
図である。
【図４】光線の進路を示す説明図である。
【図５】検査対象の曲りハニカム構造体の模式的部分拡
大横断面図である。
大横断面図である。
【図６】曲りハニカム構造体の曲率係数と曲りハニカム
構造体の入口端面の照度との関係を表す特性図である。
構造体の入口端面の照度との関係を表す特性図である。
１０ 曲りハニカム構造体の検査装置 １１ 光源 １２ 反射鏡 １３ 凸レンズ ２０ 曲りハニカム構造体
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 21/84 - 21/90
Claims (1)
- 【請求項１】 多数の貫通孔を有する曲りハニカム構造
体の内部欠陥を検査する方法であって、 曲りハニカム構造体の中心曲率半径をＲ、曲りハニカム
構造体の貫通孔内接直径をＤ、曲りハニカム構造体の両
端面切断角度をθ、照射光線の直進角度をβ、曲りハニ
カム構造体の曲率係数をＫ、曲りハニカム構造体の入口
面の照度をＬｘとすると、照射光線の直進角度βを、 β＝２ｃｏｓ-1｛（Ｒ−Ｄ／２）／Ｒ｝ 曲りハニカム構造体の中心曲率Ｋを、 Ｋ＝１００θ／βＲ で表すとき、曲りハニカム構造体の入口面の照度Ｌｘ
を、 Ｌｘ≧２００００Ｋ−１００００ の範囲で検査することを特徴とするハニカム構造体の検
査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7047893A JP2743984B2 (ja) | 1993-03-29 | 1993-03-29 | ハニカム構造体の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7047893A JP2743984B2 (ja) | 1993-03-29 | 1993-03-29 | ハニカム構造体の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06281583A JPH06281583A (ja) | 1994-10-07 |
| JP2743984B2 true JP2743984B2 (ja) | 1998-04-28 |
Family
ID=13432678
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7047893A Expired - Fee Related JP2743984B2 (ja) | 1993-03-29 | 1993-03-29 | ハニカム構造体の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2743984B2 (ja) |
-
1993
- 1993-03-29 JP JP7047893A patent/JP2743984B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06281583A (ja) | 1994-10-07 |
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