JP2743852B2 - 積分型信号検出回路 - Google Patents
積分型信号検出回路Info
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
信号の検出に用いる電荷積分方式の信号検出回路及びそ
の駆動方法に関する。
素子自体の動作速度の他に検出回路の動作速度を高速化
させる必要がある。電荷信号の検出に一般的に用いられ
るのは、クラインフェルダーら(Stuart A.K
leinfelder etal.)による、アイイー
・イー・イー・トランザクションズ・オン・ニュークリ
ア・サイエンス(IEEE Transactions
on Nuclear Science Vol.3
5,No.1 February 1988pp.17
1−175)に示されるような演算増幅器41、積分コ
ンデンサ42、リセットスイッチ43よりなる積分器4
を1つ用いた回路である。この回路ブロック図を図3に
示す。しかし、この回路のように積分器4を1つ用いた
検出回路では、図4のタイミングチャートからわかるよ
うに画素選択期間内に積分器のリセットを行わなければ
ならず、高速動作が困難であった。
ために、特開平2−114439号公報で提案されてい
る方法がある。これは、図5に示すように、積分器4
a,4bを2つ並列に配置し、入力選択スイッチ7によ
り被測定物1を二つの積分器4a,4bのどちらかに接
続し、接続されている積分器4aもしくは4bが信号を
積分している間に、もう一方の積分器4aもしくは4b
をリセットするというものである。これにより、リセッ
トのための時間による動作速度の低下を防ぐことが可能
となる。
した検出回路は、被測定物1と積分器4a,4bとの間
に入力選択スイッチ7が入ることにより、入力選択スイ
ッチ7のフィードスルーによるノイズの発生が問題とな
る。例えば固体撮像素子の出力電荷量は1pC以下であ
り、スイッチにMOSFETを用いた場合、スイッチか
ら発生するノイズの大きさは数pC以上となる。そのた
め、この構成の検出回路では、積分器4a,4bをスイ
ッチで選択することにより、信号電荷量の数倍以上のス
イッチングノイズを一緒に検出してしまい、S/Nの低
下を招くという欠点があった。また、スイッチングノイ
ズが混入しても積分器が正常に動作するためには、積分
器のダイナミックレンジを大きく設定する必要がある。
そのために高精度で高速に動作する演算増幅器が必要と
なるという欠点もあった。
検出を行う電荷積分方式の信号検出回路を提供すること
にある。
信号検出回路は、被測定物に接続された初段アンプと、
その初段アンプに接続され、その出力を同時に受け取る
第1及び第2のアンプもしくはバッファと、前記各々の
アンプもしくはバッファの各々に接続され、コンデンサ
と演算増幅器とコンデンサに並列に接続されたスイッチ
とからなる第1及び第2の積分器と、前記各々の積分器
に接続され、それぞれの信号を一時的に保持する第1及
び第2のサンプルホールド回路と、前記第1及び第2の
サンプルホールド回路の出力を選択して1つの出力とす
る選択回路とからなることを特徴としている。
は、被測定物からの信号を初段増幅回路を介して第1及
び第2のアンプもしくはバッファに同時に送信し、第1
の積分器が信号を積分している期間に第2の積分器をリ
セットし、かつ第1の積分器が信号を積分した状態での
信号を保持するように第1のサンプルホールド回路を動
作させ、第1のサンプルホールド回路の出力と第2のサ
ンプルホールド回路の出力を交互に選択し出力するよう
に選択回路を動作させることによって駆動を行うことを
特徴としている。
を示した図である。ここでまず、初段増幅回路2は被測
定物1の出力端子に接続される。その出力は2つに分け
られて、それぞれバッファ3a及びバッファ3bに入力
されて、その信号がそれぞれ積分器4a及び積分器4b
に入力され積分される。積分器4a及び積分器4bはそ
れぞれリセットスイッチ43a,43bと積分コンデン
サ42a,42bと演算増幅器41a,41bが並列に
接続されたものである。積分器4a,4bで積分された
結果は、それぞれ、サンプルホールド回路5a,5bに
一時的に保持される。その出力を出力選択用スイッチで
選択し、一系列の出力に戻す回路構成となっている。こ
こでバッファ3a及び3bは、積分器4a及び4bのリ
セットによるノイズが他方の積分器4a及び4bに混入
することを防止している。バッファの代わりにアンプを
用いても同様な効果が得られる。また、積分器4a,4
bと被測定物1の間に一切のスイッチ素子がないのでノ
イズの混入がない構成となっている。
るタイミングチャートである。図2では、固体撮像素子
のような、あるクロックタイミングで信号が順次出力さ
れるデバイスの検出方法を示したものである。検出すべ
き信号Vinは、個々の被測定物で決まった値の時定数
で信号の変化が終わる波形であり、これを出力変化が終
了するまでの間積分することにより出力が得られる。ま
ずこの信号Vinは初段増幅回路により増幅され、バッ
ファ3a及び3bに入力され、その出力が積分器4a及
び4bに入力される。
作について説明する。
線状態であるので、積分器4aは画素信号の積分を行
う。画素2nの信号の変化が終了した後、SW3(サン
プリングスイッチ52a)を断線状態にすることによ
り、積分器の出力がサンプルホールド回路1(5a)に
保持される。
通状態であるため、積分器4bでは画素2nの信号は積
分されず、積分コンデンサ42bの電荷が放電されるこ
とにより回路がリセットされる。画素2nの信号の変化
が終わった後、SW2(リセットスイッチ43b)が断
線状態に変わり、回路は初期状態を保持する。サンプル
ホールド回路5bには画素2n−1の信号を積分した値
が保持されている。
接続されており、サンプルホールド回路5bの出力を選
択している。
画素2n+1の信号を検出する際の動作について説明す
る。
ッチ43a)が導通状態なることによりリセットされ、
画素2n+1の信号の変化が終了した後にSW1を断線
状態とすることにより、初期状態を維持する。サンプル
ホールド回路5aには画素2nの信号を積分した値が出
力されている。
チ43b)が断線状態となっているため信号の積分が行
われ、画素2n+1の信号の変化が終了した後SW4
(サンプリングスイッチ52b)を断線状態とすること
により積分器4bの出力がサンプルホールド回路5bに
保持される。
接続されており、サンプルホールド回路5aの出力を選
択している。
より、この回路の出力は画素信号と1画素分遅れた信号
が順次積分され出力されることになり、見かけ上従来の
積分器を一つ用いた検出回路と同様の信号が得られる。
例えば、MOSイメージセンサの検出回路を個別部品で
作製した場合、積分器を一つ用いる構成によりリセット
時間に要していた100nsec程度の時間を短縮でき
1.5倍以上の高速化が実現できた。また、積分器を2
つ用いたことによるS/Nの低下は現れないことを確認
した。
された積分器と被測定物の間に一切のスイッチング素子
を配置しない構成を実現したこと、また、2つの積分器
はそれぞれ専用のバッファ回路に接続させていることに
よって、前者によって従来の方法では必然的に生じてい
た積分器を選択するためのスイッチによるノイズの混入
を防ぐことが可能となり、後者により積分器のリセット
時のノイズの混入を防ぐことが可能となった。この効果
により、高いS/Nと高速動作を同時に実現でき、固体
撮像素子のような出力電荷量が1pC以下の信号検出を
高速に行うことが可能となった。
ている演算増幅器としてスルーレートの低いもの、リセ
ットスイッチ素子として動作速度の遅いもの、あるいは
素子サイズの小さいものも使用可能となり、個別素子で
作製する際、集積化する際にもコスト的な効果が得られ
る。
図である。
ートを表す図である。
る。
ートを表す図である。
図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 被測定物に接続された初段アンプと、そ
の初段アンプの出力に接続され、その出力を同時に受け
取る第1及び第2のアンプもしくはバッファと、前記各
々のアンプもしくはバッファの出力に接続されたそれぞ
れリセットスイッチ付きの第1及び第2の積分器と、前
記各々の積分器の出力に接続されそれぞれの積分出力を
一時的に保持する第1及び第2のサンプルホールド回路
と、前記第1及び第2のサンプルホールド回路の出力を
交互に選択して1つの出力とする選択回路と、前記選択
回路の選択動作に同期してこの選択回路の出力にその積
分出力が現れない期間に相応する前記第1及び第2の積
分器について交互にそのリセットスイッチをリセット状
態に制御する手段とを備えたことを特徴とする積分型信
号検出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7000306A JP2743852B2 (ja) | 1995-01-05 | 1995-01-05 | 積分型信号検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7000306A JP2743852B2 (ja) | 1995-01-05 | 1995-01-05 | 積分型信号検出回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08186764A JPH08186764A (ja) | 1996-07-16 |
JP2743852B2 true JP2743852B2 (ja) | 1998-04-22 |
Family
ID=11470228
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7000306A Expired - Lifetime JP2743852B2 (ja) | 1995-01-05 | 1995-01-05 | 積分型信号検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2743852B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4144578B2 (ja) | 2003-10-15 | 2008-09-03 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置、画素信号処理方法 |
JP4490740B2 (ja) * | 2004-06-17 | 2010-06-30 | 株式会社アドバンテスト | 信号読出装置及び試験装置 |
KR100926054B1 (ko) * | 2009-05-11 | 2009-11-11 | 주식회사 범한 | 고속 리셋 적분기를 구비한 능동형 고조파 필터 |
KR101956309B1 (ko) * | 2016-12-22 | 2019-06-24 | 서강대학교산학협력단 | 단일 이득 버퍼를 이용한 스위치드-캐패시터 적분기 |
-
1995
- 1995-01-05 JP JP7000306A patent/JP2743852B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08186764A (ja) | 1996-07-16 |
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