JP2737263B2 - 原子吸光分光光度計 - Google Patents
原子吸光分光光度計Info
- Publication number
- JP2737263B2 JP2737263B2 JP1168049A JP16804989A JP2737263B2 JP 2737263 B2 JP2737263 B2 JP 2737263B2 JP 1168049 A JP1168049 A JP 1168049A JP 16804989 A JP16804989 A JP 16804989A JP 2737263 B2 JP2737263 B2 JP 2737263B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wavelength
- pulses
- atomic absorption
- absorption spectrophotometer
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は，分光器の分散素子をパルスモータで駆動す
る方式の原子吸光分光光度計に係り，特に測定元素に特
有の波長に分光器を設定するのに好適な原子吸光分光光
度計に関する。
る方式の原子吸光分光光度計に係り，特に測定元素に特
有の波長に分光器を設定するのに好適な原子吸光分光光
度計に関する。
従来の原子吸光分光光度計においては，例えば,0.005
nmきざみで測定元素の設定波長近傍を波長スキャンし
て，最終的に最も光強度の強いピーク位置に分光器の波
長を設定している（例えば特開昭59−125040号公報参
照）。
nmきざみで測定元素の設定波長近傍を波長スキャンし
て，最終的に最も光強度の強いピーク位置に分光器の波
長を設定している（例えば特開昭59−125040号公報参
照）。
従来の原子吸光分光光度計にあっては，測定元素を変
える毎にピークサーチ方式により分光器を測定元素の波
長に設定しているため，毎回波長設定に１〜２分かか
り，その間操作者は持っていなければならないという問
題点があった。特に，分析の行うのに先立って設定しな
ければならない測定条件の中で，所要時間が一番長いの
は波長設定であり，全条件設定時間の約90％を占めてい
るので，迅速に測定を開始するためにはこの波長設定に
要する時間が最大のネツクとなっていた。
える毎にピークサーチ方式により分光器を測定元素の波
長に設定しているため，毎回波長設定に１〜２分かか
り，その間操作者は持っていなければならないという問
題点があった。特に，分析の行うのに先立って設定しな
ければならない測定条件の中で，所要時間が一番長いの
は波長設定であり，全条件設定時間の約90％を占めてい
るので，迅速に測定を開始するためにはこの波長設定に
要する時間が最大のネツクとなっていた。
本発明は，測定元素に特有の波長に分光器を設定する
時間を短縮し，迅速に測定を進めることができる原子吸
光分光光度計を提供することを目的としている。
時間を短縮し，迅速に測定を進めることができる原子吸
光分光光度計を提供することを目的としている。
上記目的を達成するために，本発明の原子吸光分光光
度計においては，分光器の分散素子をパルスモータで駆
動する方式を採用し，設定すべき測定元素の波長と当該
波長位置へ分散素子をパルスモータで駆動するためのパ
ルス数との関係を保持することができる不揮発性メモリ
を内蔵したものである。
度計においては，分光器の分散素子をパルスモータで駆
動する方式を採用し，設定すべき測定元素の波長と当該
波長位置へ分散素子をパルスモータで駆動するためのパ
ルス数との関係を保持することができる不揮発性メモリ
を内蔵したものである。
分光器の分散素子をパルスモータで駆動する場合，波
長λとパルス数Ｐとの関係は Ｐ＝K1sin-1（K2λ） ……（１） 但し,K1,K2は装置に依存した定数 となり，設定したい波長λに対応するパルス数Ｐを求め
ることができる。通常，機械的た加工誤差等を考慮し
て，波長設定は求められたパルス数Ｐの付近を少しづつ
パルスを送りながら正確な波長位置を求めるが，一度求
まると，この波長位置は短期的には変わらない。
長λとパルス数Ｐとの関係は Ｐ＝K1sin-1（K2λ） ……（１） 但し,K1,K2は装置に依存した定数 となり，設定したい波長λに対応するパルス数Ｐを求め
ることができる。通常，機械的た加工誤差等を考慮し
て，波長設定は求められたパルス数Ｐの付近を少しづつ
パルスを送りながら正確な波長位置を求めるが，一度求
まると，この波長位置は短期的には変わらない。
原子吸光測定で用いる波長は約70種あるが，この約70
種の波長に対応するパルス数を不揮発性メモリに表の形
で保持しておけば，その都度ピークサーチが必要がなく
なる。不揮発性メモリに保持する表の値（波長に対応す
るパルス数）は，最初は全てにゼロを入れておく。ある
測定元素の波長設定が要求されると，表の値がゼロの場
合だけピークサーチを行い，求まったパルス数を表に書
き込む。このようにして，順次不揮発性メモリの表に求
まったパルス数を書き込んでいき，過去に一度ピークサ
ーチを行った測定元素の波長については，即座にパルス
数が止まり，波長設定を行うことができる。勿論，あら
かじめ約70種の全ての波長についてピークサーチを行っ
ておけば，測定時には全波長についてピークサーチを行
う必要がなくなる。また，経年変化により波長ズレが生
じた場合には，必要に応じて不揮発性メモリの表の値を
更新する機能を付加するとよい。
種の波長に対応するパルス数を不揮発性メモリに表の形
で保持しておけば，その都度ピークサーチが必要がなく
なる。不揮発性メモリに保持する表の値（波長に対応す
るパルス数）は，最初は全てにゼロを入れておく。ある
測定元素の波長設定が要求されると，表の値がゼロの場
合だけピークサーチを行い，求まったパルス数を表に書
き込む。このようにして，順次不揮発性メモリの表に求
まったパルス数を書き込んでいき，過去に一度ピークサ
ーチを行った測定元素の波長については，即座にパルス
数が止まり，波長設定を行うことができる。勿論，あら
かじめ約70種の全ての波長についてピークサーチを行っ
ておけば，測定時には全波長についてピークサーチを行
う必要がなくなる。また，経年変化により波長ズレが生
じた場合には，必要に応じて不揮発性メモリの表の値を
更新する機能を付加するとよい。
上記のように構成された原子吸光分光光度計で，測定
元素の波長を操作部より入力すると、不揮発性メモリに
表の形で保持してある波長に対応するパルス数を求め，
分光器の分散素子をパルスモータにより駆動して直ちに
最適波長位置に波長設定が行われる。当該測定元素の波
長に対応するパルス数が不揮発性メモリに保持されてい
ない場合には，通常の波長設定と同様にピークサーチを
行い，正確な波長位置を求めて波長設定するが，次回か
らの当該測定元素の波長設定にそなえて，その最適波長
位置に対応するパルス数を不揮発性メモリに保持する。
このようにして，測定元素を変える毎に行う波長設定に
要する時間の短縮を図る。
元素の波長を操作部より入力すると、不揮発性メモリに
表の形で保持してある波長に対応するパルス数を求め，
分光器の分散素子をパルスモータにより駆動して直ちに
最適波長位置に波長設定が行われる。当該測定元素の波
長に対応するパルス数が不揮発性メモリに保持されてい
ない場合には，通常の波長設定と同様にピークサーチを
行い，正確な波長位置を求めて波長設定するが，次回か
らの当該測定元素の波長設定にそなえて，その最適波長
位置に対応するパルス数を不揮発性メモリに保持する。
このようにして，測定元素を変える毎に行う波長設定に
要する時間の短縮を図る。
実施例について図面を参照して説明すると，第１図及
び第２図において，光源１からは測定元素の共鳴線を含
む輝線スペクトルが放射され，これらが光学系により原
子化部２を通過し，分光器３に導入される。これらの輝
線の中には，測定元素による原子吸収を全く受けない光
や吸光の度合が低い光などが含まれており，これらは分
光器３により除外され，吸収感度の最も高い輝線（波
長）のみが選択されて，検出器４で電気信号に変換され
る。
び第２図において，光源１からは測定元素の共鳴線を含
む輝線スペクトルが放射され，これらが光学系により原
子化部２を通過し，分光器３に導入される。これらの輝
線の中には，測定元素による原子吸収を全く受けない光
や吸光の度合が低い光などが含まれており，これらは分
光器３により除外され，吸収感度の最も高い輝線（波
長）のみが選択されて，検出器４で電気信号に変換され
る。
分光器３における輝線の選択は，分散素子10をパルス
モータ６の駆動により減速器11を介して回転することに
より行う（第２図参照）。
モータ６の駆動により減速器11を介して回転することに
より行う（第２図参照）。
一方，原子化部２においては，試料中に含まれる測定
元素が熱解離により原子化され，同部を通過する光のう
ち，吸収感度の最も高い輝線（波長）を選択的に強く吸
収する。
元素が熱解離により原子化され，同部を通過する光のう
ち，吸収感度の最も高い輝線（波長）を選択的に強く吸
収する。
検出器４で検出した信号は増幅器５で増幅され，信号
処理部のCPU7で対数変換し，吸光度に比例した値あるい
は濃度に変換した値を表示部８に表示する。
処理部のCPU7で対数変換し，吸光度に比例した値あるい
は濃度に変換した値を表示部８に表示する。
CPU7には，不揮発性メモリを内蔵している。この不揮
発性メモリは約70種の波長と，パルスモータ６により当
該波長位置に分光器３の分散素子10を駆動するためのパ
ルス数との関係を表の形で保持することができる。
発性メモリは約70種の波長と，パルスモータ６により当
該波長位置に分光器３の分散素子10を駆動するためのパ
ルス数との関係を表の形で保持することができる。
いま，操作部９よりある測定元素の波長が入力された
とすると,CPU7ではその波長に対応するパルス数が不揮
発性メモリから求められ，当該パルス数がパルスモータ
６に供給され，分光器３の分散素子10を駆動してその最
適波長位置に設定することができる。不揮発性メモリに
その波長に対応するパルス数が保持されていない場合に
は，前述した（１）式によりパルス数を求め，その求め
たパルス数の付近を少しづつパルスを送りながら正確な
位置を求めることになるが，このようにして求めた正確
な波長位置に対応するパルス数は不揮性メモリに保持さ
れ，次回同一の測定元素の波長を設定するときには，直
ちに最適波長位置に対応するパルス数が求められ，波長
設定をすることができる。
とすると,CPU7ではその波長に対応するパルス数が不揮
発性メモリから求められ，当該パルス数がパルスモータ
６に供給され，分光器３の分散素子10を駆動してその最
適波長位置に設定することができる。不揮発性メモリに
その波長に対応するパルス数が保持されていない場合に
は，前述した（１）式によりパルス数を求め，その求め
たパルス数の付近を少しづつパルスを送りながら正確な
位置を求めることになるが，このようにして求めた正確
な波長位置に対応するパルス数は不揮性メモリに保持さ
れ，次回同一の測定元素の波長を設定するときには，直
ちに最適波長位置に対応するパルス数が求められ，波長
設定をすることができる。
本発明は以上説明したように構成されているので，測
定元素の波長設定を迅速に行うことができ，分析に先立
つ測定条件に要する時間を短縮することができるので，
操作者は能率的に分析を行うことができる。
定元素の波長設定を迅速に行うことができ，分析に先立
つ測定条件に要する時間を短縮することができるので，
操作者は能率的に分析を行うことができる。
第１図は本発明の原子吸光分光光度計の概略を示す図，
第２図は同分光器の構成を示す図である。 図中,1……光源,2……原子化部,3……分光器 ４……検出器,6……パルスモータ,7……CPU ８……表示部,9……操作部,10……分散素子
第２図は同分光器の構成を示す図である。 図中,1……光源,2……原子化部,3……分光器 ４……検出器,6……パルスモータ,7……CPU ８……表示部,9……操作部,10……分散素子
Claims (1)
- 【請求項１】分光器の分散素子をパルスモータで駆動す
る原子吸光分光光度計において、設定すべき複数の測定
元素の波長と当該複数の波長位置へ前記分散素子を前記
パルスモータにより駆動するためのパルス数との関係を
保持することができる不揮発性メモリと、前記設定すべ
き複数の測定元素の波長のうち、前記不揮発性メモリに
測定元素の波長とパルス数との関係が保持されている波
長についてはピークサーチのための波長走査をせずに保
持されたパルス数を用いて波長設定し、前記不揮発性メ
モリに測定元素の波長とパルス数との関係が保持されて
いない波長についてはピークサーチのための波長走査を
行って前記波長とパルス数との関係を求めた上で波長設
定する制御手段を備えたことを特徴とする原子吸光分光
光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1168049A JP2737263B2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 原子吸光分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1168049A JP2737263B2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 原子吸光分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0331745A JPH0331745A (ja) | 1991-02-12 |
| JP2737263B2 true JP2737263B2 (ja) | 1998-04-08 |
Family
ID=15860883
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1168049A Expired - Lifetime JP2737263B2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | 原子吸光分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2737263B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5928247B2 (ja) * | 1976-12-15 | 1984-07-11 | 三井造船株式会社 | 波長自動選定装置 |
| JPS56108923A (en) * | 1980-01-31 | 1981-08-28 | Norito Suzuki | Sweep control method of luminous analyzing spectroscope using microcomputer |
| JPS57142524A (en) * | 1981-02-27 | 1982-09-03 | Hitachi Ltd | Measuring method and device for spectral luminous intensity |
-
1989
- 1989-06-29 JP JP1168049A patent/JP2737263B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0331745A (ja) | 1991-02-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA2217526C (en) | Tunable excitation and/or tunable detection microplate reader | |
| US4877965A (en) | Fluorometer | |
| US4397556A (en) | Material-testing method and apparatus | |
| US4134678A (en) | Automatic blood analysis apparatus and method | |
| US20060244962A1 (en) | Pesticide Detector and Method | |
| US4946279A (en) | Flourescence spectrophotometer for measuring fluorescent light of a plurality of wavelength conditions | |
| US5519219A (en) | Portable filter infrared spectrometer | |
| JPS6217695B2 (ja) | ||
| US3886363A (en) | Spectro fluorescence and absorption measuring instrument | |
| EP0296259A1 (en) | Spectrometer with combined visible and ultraviolet sample illumination | |
| JP2737263B2 (ja) | 原子吸光分光光度計 | |
| Wampler et al. | Recording polarization of fluorescence spectrometer. Unique application of piezoelectric birefringence modulation | |
| JPH01155221A (ja) | 分光光度計の波長走査方法 | |
| JPH0798270A (ja) | フロースルー型紫外可視分光光度計 | |
| JPH073366B2 (ja) | 分光蛍光光度計 | |
| JP3267162B2 (ja) | 原子吸光分光光度計 | |
| US6177991B1 (en) | Measuring device with automatic sample changer | |
| Destrampe et al. | New instrumentation for use in excitation-emission fluorescence-polarization measurements | |
| JP2005164375A (ja) | 赤外分光光度計のためのバリデーション用付属装置、及び該装置を利用した赤外分光光度計 | |
| JPS6127703B2 (ja) | ||
| JP2004527767A (ja) | 濃縮媒質に含まれる化学種の光学検出方法 | |
| JPS6318686B2 (ja) | ||
| JPH0961355A (ja) | 光軸移動型蛍光光度測定装置及び測定方法 | |
| JP3624587B2 (ja) | 蛍光測定装置 | |
| JPS6388434A (ja) | 特性ｘ線分析方法 |