JP2731046B2 - コンピュータ断層撮影システム - Google Patents
コンピュータ断層撮影システムInfo
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Classifications
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
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- A61B6/03—Computed tomography [CT]
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- A61B6/5258—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise
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- G—PHYSICS
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コンピュータ断層撮影
システム等に使用されるX線コリメータに関し、更に詳
しくはX線管の焦点スポットの位置の誤整列から生ずる
検出器機構におけるX線ファンビーム位置および入射角
度のエラーを補正するコリメータシステムに関する。
システム等に使用されるX線コリメータに関し、更に詳
しくはX線管の焦点スポットの位置の誤整列から生ずる
検出器機構におけるX線ファンビーム位置および入射角
度のエラーを補正するコリメータシステムに関する。
【0002】
【従来の技術】コンピュータ断層撮影システムは、本技
術分野で知られているように、一般に被撮像体を通るよ
うに向けられ、X線検出器アレイによって受信されるフ
ァンビームを形成するようにコリメートされるX線源を
有している。X線源および検出器アレイは、「撮像面」
と呼ばれるデカルト座標系のx−y面内に存在するよう
に方向付けられている。X線源および検出器アレイは被
撮像体の周り、従ってデカルト座標系のz軸の周りを撮
像面内において構台(gantry)の上で一緒に回転するこ
とができる。構台を回転させることによって、「構台」
角度と呼ばれるファンビームが被撮像体を横切る角度が
変化する。
術分野で知られているように、一般に被撮像体を通るよ
うに向けられ、X線検出器アレイによって受信されるフ
ァンビームを形成するようにコリメートされるX線源を
有している。X線源および検出器アレイは、「撮像面」
と呼ばれるデカルト座標系のx−y面内に存在するよう
に方向付けられている。X線源および検出器アレイは被
撮像体の周り、従ってデカルト座標系のz軸の周りを撮
像面内において構台(gantry)の上で一緒に回転するこ
とができる。構台を回転させることによって、「構台」
角度と呼ばれるファンビームが被撮像体を横切る角度が
変化する。
【0003】検出器アレイは検出素子で構成され、この
検出素子の各々はX線源からそれぞれの特定の検出素子
に投射される光線路に沿って送出された放射線の強度を
測定する。各構台角度において、検出素子の各々からの
強度信号からなる投影が得られる。それから、構台は新
しい構台角度に回転し、この処理が繰り返されて、多数
の構台角度における多数の投影が集められ、断層撮影投
影群が形成される。
検出素子の各々はX線源からそれぞれの特定の検出素子
に投射される光線路に沿って送出された放射線の強度を
測定する。各構台角度において、検出素子の各々からの
強度信号からなる投影が得られる。それから、構台は新
しい構台角度に回転し、この処理が繰り返されて、多数
の構台角度における多数の投影が集められ、断層撮影投
影群が形成される。
【0004】得られた各断層撮影投影群は数値として蓄
積され、周知のアルゴリズムに従って断面像を再構成す
るようにコンピュータ処理される。この再構成された像
は通常のCRT管上に表示されたり、またはコンピュー
タ制御されたカメラによってフィルムレコードに変換さ
れる。
積され、周知のアルゴリズムに従って断面像を再構成す
るようにコンピュータ処理される。この再構成された像
は通常のCRT管上に表示されたり、またはコンピュー
タ制御されたカメラによってフィルムレコードに変換さ
れる。
【0005】X線源は通常アノードおよびカソードを有
する真空のガラスエンベーロプからなるX線「管」であ
る。カソードからの電子がアノードとカソードの間の高
電圧によってアノード上の焦点スポットに加速される場
合にX線が発生する。所与のX線手順に対するアノード
およびカソードの間に印加される電圧、アノードおよび
カソードの間に流れる電流および照射時間は「照射条件
(exposure technique)」と称される。
する真空のガラスエンベーロプからなるX線「管」であ
る。カソードからの電子がアノードとカソードの間の高
電圧によってアノード上の焦点スポットに加速される場
合にX線が発生する。所与のX線手順に対するアノード
およびカソードの間に印加される電圧、アノードおよび
カソードの間に流れる電流および照射時間は「照射条件
(exposure technique)」と称される。
【0006】X線を発生する場合の熱変換効率は低く、
この結果かなりの熱がX線管のアノードに発生する。こ
のため、アノードは焦点スポットが常にアノードの新し
い冷えた領域にあたるように高速度で回転する。それで
も、アノードの表面温度は一連の断層撮影投影群のため
の投影獲得中に2000゜Cの高さに上昇し、軸の上で
回転するアノード支持構造体は400゜C以上に上昇す
る。
この結果かなりの熱がX線管のアノードに発生する。こ
のため、アノードは焦点スポットが常にアノードの新し
い冷えた領域にあたるように高速度で回転する。それで
も、アノードの表面温度は一連の断層撮影投影群のため
の投影獲得中に2000゜Cの高さに上昇し、軸の上で
回転するアノード支持構造体は400゜C以上に上昇す
る。
【0007】X線源が加熱するに従って、アノード支持
構造体は熱膨張し、その結果X線管のガラスエンベロー
プに対して焦点スポットが移動し、ファンビームも移動
する。焦点スポットは一連の断層撮影投影群の獲得中に
熱膨張によって0.25mm(0.01インチ)移動す
る。
構造体は熱膨張し、その結果X線管のガラスエンベロー
プに対して焦点スポットが移動し、ファンビームも移動
する。焦点スポットは一連の断層撮影投影群の獲得中に
熱膨張によって0.25mm(0.01インチ)移動す
る。
【0008】アノード軸は構台の動作中にザイロスコー
プのトルクが回転するアノードに作用しないように構台
が周りを回転するz軸と一列に揃っている。従って、ア
ノード支持構造体の熱膨張によって焦点スポットはz軸
に沿って移動する傾向がある。コリメータの位置が一定
である場合、z軸において焦点スポットが移動すると、
ファンビームは検出器アレイの面に沿って反対方向に掃
引する。
プのトルクが回転するアノードに作用しないように構台
が周りを回転するz軸と一列に揃っている。従って、ア
ノード支持構造体の熱膨張によって焦点スポットはz軸
に沿って移動する傾向がある。コリメータの位置が一定
である場合、z軸において焦点スポットが移動すると、
ファンビームは検出器アレイの面に沿って反対方向に掃
引する。
【0009】焦点スポットを動かす別の原因は構台が回
転する場合の構台および回転アノードの機械的応力であ
る。この応力は構台およびアノードに作用する構台の回
転速度の関数である求心加速の変化する大きさおよび重
力加速の変化する角度から生ずる。この結果生ずる力に
よって焦点スポットは更に0.25mm(0.01イン
チ)まで更に動かされる。
転する場合の構台および回転アノードの機械的応力であ
る。この応力は構台およびアノードに作用する構台の回
転速度の関数である求心加速の変化する大きさおよび重
力加速の変化する角度から生ずる。この結果生ずる力に
よって焦点スポットは更に0.25mm(0.01イン
チ)まで更に動かされる。
【0010】検出器アレイは本技術分野で知られている
ようにイオン化タイプの検出器であるかまたは固体検出
器である。両タイプの検出器はX線に対する感度が検出
器の面に沿ったファンビームの位置の関数として変化す
る。従って、X線源の焦点スポットの機械的歪みまたは
熱ドリフトの結果としてファンビームが移動することに
より検出器アレイからの信号の強度が変化する。断層撮
影投影群の獲得の間におけるこのような信号強度の変化
はその結果再構成される画像にリング上の画像アーチフ
ァクトを発生する。
ようにイオン化タイプの検出器であるかまたは固体検出
器である。両タイプの検出器はX線に対する感度が検出
器の面に沿ったファンビームの位置の関数として変化す
る。従って、X線源の焦点スポットの機械的歪みまたは
熱ドリフトの結果としてファンビームが移動することに
より検出器アレイからの信号の強度が変化する。断層撮
影投影群の獲得の間におけるこのような信号強度の変化
はその結果再構成される画像にリング上の画像アーチフ
ァクトを発生する。
【0011】また、コリメータの位置が一定である場
合、z軸における焦点スポットの移動はファンビームと
撮像面との整列に影響を与える。像再構成の計算におい
ては、獲得した各投影は単一面内で取られている。ま
た、ファンビームと画像面との平行が欠けると、再構成
画像にシェーディングおよび縞状の画像アーティファク
トが発生する。また、スライス幅が小さい場合には、構
台およびアノードに対する動作によって誘導される応力
による誤整列によって対向し誤整列した状態を見たもの
から再構成される画像の有効なスライス幅はかなり拡大
される。この動作によって発生する誤整列は傷害のよう
な小さな被撮像部に対するコントラスト解像度を低減
し、この小さな部分を検出しにくくする。更に、CT撮
像システムの空間解像度はスライスに対して傾斜した角
度における高周波に対して低減する。
合、z軸における焦点スポットの移動はファンビームと
撮像面との整列に影響を与える。像再構成の計算におい
ては、獲得した各投影は単一面内で取られている。ま
た、ファンビームと画像面との平行が欠けると、再構成
画像にシェーディングおよび縞状の画像アーティファク
トが発生する。また、スライス幅が小さい場合には、構
台およびアノードに対する動作によって誘導される応力
による誤整列によって対向し誤整列した状態を見たもの
から再構成される画像の有効なスライス幅はかなり拡大
される。この動作によって発生する誤整列は傷害のよう
な小さな被撮像部に対するコントラスト解像度を低減
し、この小さな部分を検出しにくくする。更に、CT撮
像システムの空間解像度はスライスに対して傾斜した角
度における高周波に対して低減する。
【0012】
【発明の概要】本発明によれば、コリメータ位置Cz
は、ファンビーム面の整列を制御するように、従って画
像アーチファクトを低減するように自動的に調整され
る。ファンビームを遮るように設けられているz軸片寄
り検出器はファンビーム面の位置に依存するファンビー
ム位置信号を発生し、エラー信号がこの位置信号から発
生する。コリメータコントローラは、エラー信号に応答
し、エラー信号を減らすようにコリメータ位置Cz を変
更する。
は、ファンビーム面の整列を制御するように、従って画
像アーチファクトを低減するように自動的に調整され
る。ファンビームを遮るように設けられているz軸片寄
り検出器はファンビーム面の位置に依存するファンビー
ム位置信号を発生し、エラー信号がこの位置信号から発
生する。コリメータコントローラは、エラー信号に応答
し、エラー信号を減らすようにコリメータ位置Cz を変
更する。
【0013】本発明の一目的は、検出器に対するファン
ビーム位置の変化から生ずる画像アーチファクトを低減
することにある。第1の実施例においては、エラー信号
はファンビーム位置と整列点との間の差に比例する。コ
リメータコントローラは、エラー信号を低減するように
コリメータの位置を変更し、これによりファンビーム面
を整列点に対して整列させる。これにより、検出器アレ
イに対するファンビーム面のドリフトは補正される。
ビーム位置の変化から生ずる画像アーチファクトを低減
することにある。第1の実施例においては、エラー信号
はファンビーム位置と整列点との間の差に比例する。コ
リメータコントローラは、エラー信号を低減するように
コリメータの位置を変更し、これによりファンビーム面
を整列点に対して整列させる。これにより、検出器アレ
イに対するファンビーム面のドリフトは補正される。
【0014】本発明の他の目的は、画像面の角度からの
ファンビーム面の角度の偏差から生ずる画像アーチファ
クトを低減することにある。第2の実施例においては、
エラー信号はファンビームの位置とコリメータの位置と
の間の差に比例する。コリメータコントローラはコリメ
ータの位置をファンビームの位置に等しくすることによ
ってエラー信号を低減するようにコリメータの位置を変
更し、ファンビーム面を撮像面に対して整列させる。こ
れにより、画像面からのファンビーム面の角度の偏差が
補正される。
ファンビーム面の角度の偏差から生ずる画像アーチファ
クトを低減することにある。第2の実施例においては、
エラー信号はファンビームの位置とコリメータの位置と
の間の差に比例する。コリメータコントローラはコリメ
ータの位置をファンビームの位置に等しくすることによ
ってエラー信号を低減するようにコリメータの位置を変
更し、ファンビーム面を撮像面に対して整列させる。こ
れにより、画像面からのファンビーム面の角度の偏差が
補正される。
【0015】本発明の他の目的は、X線源または検出器
アレイの最初の組立または後の取り替えの間にX線源を
検出器アレイに対して迅速に整列させることを可能にす
ることである。本発明の調整可能なコリメータは機械的
停止手段によってX線源を大ざっぱに整列させることが
できる。最終的には、正確な整列がコリメータの移動に
よって自動的に行われる。
アレイの最初の組立または後の取り替えの間にX線源を
検出器アレイに対して迅速に整列させることを可能にす
ることである。本発明の調整可能なコリメータは機械的
停止手段によってX線源を大ざっぱに整列させることが
できる。最終的には、正確な整列がコリメータの移動に
よって自動的に行われる。
【0016】本発明の更に他の目的は、検出器アレイの
固体素子の面上におけるファンビームの位置の関数であ
る感度における変動が大きい検出器アレイの固体素子を
使用することを可能にすることである(z軸感度)。現
在、固体検出素子はz軸感度の低いユニットを選択する
ように選び出されている。本発明は、ファンビームのz
軸ドリフトを低減することによってz軸感度の高い検出
素子を使用することを可能とし、これにより浪費および
費用を低減している。
固体素子の面上におけるファンビームの位置の関数であ
る感度における変動が大きい検出器アレイの固体素子を
使用することを可能にすることである(z軸感度)。現
在、固体検出素子はz軸感度の低いユニットを選択する
ように選び出されている。本発明は、ファンビームのz
軸ドリフトを低減することによってz軸感度の高い検出
素子を使用することを可能とし、これにより浪費および
費用を低減している。
【0017】初期の投影データの獲得の間に、X線管の
前の使用状態、従ってX線管のアノードおよびその支持
構造体によって吸収される熱に基づいて正しいコリメー
タの位置が推定される。メモリはX線管とともに使用さ
れた前の照射条件および各条件の使用時間を記憶する。
この情報からX線管の熱膨張が予測され、現在の焦点ス
ポット位置Fz の値が推定される。コリメータコントロ
ーラはFz の予測した値に応じてコリメータを位置決め
する。
前の使用状態、従ってX線管のアノードおよびその支持
構造体によって吸収される熱に基づいて正しいコリメー
タの位置が推定される。メモリはX線管とともに使用さ
れた前の照射条件および各条件の使用時間を記憶する。
この情報からX線管の熱膨張が予測され、現在の焦点ス
ポット位置Fz の値が推定される。コリメータコントロ
ーラはFz の予測した値に応じてコリメータを位置決め
する。
【0018】本発明の他の目的は、z軸片寄り検出器に
よってファンビーム位置の測定前にファンビーム面を補
正することである。
よってファンビーム位置の測定前にファンビーム面を補
正することである。
【0019】他の実施例においては、構台およびX線管
に作用する機械的応力が構台速度および角度に基づいて
推定される。この情報から、焦点スポットの機械的片寄
りが推定され、現在の焦点スポット位置Fz の値が計算
される。コリメータコントローラはFz の予測値に応じ
てコリメータを位置決めする。
に作用する機械的応力が構台速度および角度に基づいて
推定される。この情報から、焦点スポットの機械的片寄
りが推定され、現在の焦点スポット位置Fz の値が計算
される。コリメータコントローラはFz の予測値に応じ
てコリメータを位置決めする。
【0020】本発明の他の目的は、動作によって誘導さ
れる機械的応力から生ずるファンビーム面の補正を行う
ことである。
れる機械的応力から生ずるファンビーム面の補正を行う
ことである。
【0021】上述したもの以外の他の目的および利点は
本技術分野に経験を有する者にとっては次に示す本発明
の好適実施例の説明から明らかであろう。この説明で
は、本発明の一例を示す添付図面を参照している。しか
しながら、このような例は本発明の種々の別の形態を網
羅するものでないので、本発明の範囲の決定には特許請
求の範囲を参照されたい。
本技術分野に経験を有する者にとっては次に示す本発明
の好適実施例の説明から明らかであろう。この説明で
は、本発明の一例を示す添付図面を参照している。しか
しながら、このような例は本発明の種々の別の形態を網
羅するものでないので、本発明の範囲の決定には特許請
求の範囲を参照されたい。
【0022】
【実施例の説明】「第3世代の」コンピュータ断層撮影
スキャナを示している図1を参照すると、構台20は、
コリメータ38によってコリメートされ、X線ファンビ
ーム22を被撮像体12を通して検出器アレイ14に投
射するX線源10を有している。このX線源10および
検出器アレイ14は、デカルト座標系のx−y面と整列
している撮像面60内において座標系のz軸の周りを矢
印28で示すように構台20上で回転する。
スキャナを示している図1を参照すると、構台20は、
コリメータ38によってコリメートされ、X線ファンビ
ーム22を被撮像体12を通して検出器アレイ14に投
射するX線源10を有している。このX線源10および
検出器アレイ14は、デカルト座標系のx−y面と整列
している撮像面60内において座標系のz軸の周りを矢
印28で示すように構台20上で回転する。
【0023】検出器アレイ14は撮像面60内に構成さ
れた多数の検出素子16で構成されている。この検出素
子16はともに被撮像体12を通過するX線の減衰によ
って形成される投影画像を検出する。
れた多数の検出素子16で構成されている。この検出素
子16はともに被撮像体12を通過するX線の減衰によ
って形成される投影画像を検出する。
【0024】ファンビーム22はX線源10内の焦点ス
ポット26から発生し、ファンビーム22内の中心に設
けられているファンビーム軸23に沿って進む。ファン
ビームの広い面に沿って測定されるファンビーム角は被
撮像体12に対する角度よりも大きく、従ってファンビ
ーム22の2つの周辺ビーム24はほぼ減衰することな
く被撮影体のそばを通る。この周辺ビーム24は検出器
アレイ14内の周辺検出素子18によって受信される。
ポット26から発生し、ファンビーム22内の中心に設
けられているファンビーム軸23に沿って進む。ファン
ビームの広い面に沿って測定されるファンビーム角は被
撮像体12に対する角度よりも大きく、従ってファンビ
ーム22の2つの周辺ビーム24はほぼ減衰することな
く被撮影体のそばを通る。この周辺ビーム24は検出器
アレイ14内の周辺検出素子18によって受信される。
【0025】図3を参照すると、X線源10(図3には
示されていない)の焦点スポット26から放出されるコ
リメートされていないX線19は一次開口部40によっ
て粗いファンビーム21に形成される。この粗いファン
ビーム21はコリメータ38によってファンビーム22
にコリメートされる。
示されていない)の焦点スポット26から放出されるコ
リメートされていないX線19は一次開口部40によっ
て粗いファンビーム21に形成される。この粗いファン
ビーム21はコリメータ38によってファンビーム22
にコリメートされる。
【0026】図3、図4(a)および図4(b)を参照
すると、コリメータ38は粗いファンビーム21内にお
いてベアリング42上に保持された円筒形のX線吸収用
モリブデンマンドレル39から構成されている。ベアリ
ング42はマンドレル39がその軸の周りに回転するこ
とを可能にしている。複数のテーパを付けられたスロッ
ト41がマンドレルの直径を通って切り抜かれ、マンド
レル39の長手方向に沿って延在している。スロット4
1はマンドレルの軸の周りに種々の角度で切り抜かれ、
マンドレル39の回転により、粗いファンビーム21の
光線がスロット41を通過してファンビーム22を形成
するように各スロット41は粗いファンビームと整列で
きる。
すると、コリメータ38は粗いファンビーム21内にお
いてベアリング42上に保持された円筒形のX線吸収用
モリブデンマンドレル39から構成されている。ベアリ
ング42はマンドレル39がその軸の周りに回転するこ
とを可能にしている。複数のテーパを付けられたスロッ
ト41がマンドレルの直径を通って切り抜かれ、マンド
レル39の長手方向に沿って延在している。スロット4
1はマンドレルの軸の周りに種々の角度で切り抜かれ、
マンドレル39の回転により、粗いファンビーム21の
光線がスロット41を通過してファンビーム22を形成
するように各スロット41は粗いファンビームと整列で
きる。
【0027】図4(a)および図4(b)を参照する
と、テーパを付けられたスロット41は種々の幅のもの
であり、従ってマンドレル39を回転することによって
図4(b)に示すような狭いもの(1mm)および図4
(b)に示すような広いもの(10mm)の間でファン
ビーム22の幅を変えることができる。スロット41は
ファンビーム22の寸法上の正確さおよび繰り返し利用
できることを保証している。
と、テーパを付けられたスロット41は種々の幅のもの
であり、従ってマンドレル39を回転することによって
図4(b)に示すような狭いもの(1mm)および図4
(b)に示すような広いもの(10mm)の間でファン
ビーム22の幅を変えることができる。スロット41は
ファンビーム22の寸法上の正確さおよび繰り返し利用
できることを保証している。
【0028】スロット41は、粗いファンビーム21に
対して方向付けられた場合に各スロット41の入口開口
部43が出口開口部45よりも広くなるようにテーパが
付けられている。出口開口部45はファンビーム22の
幅を定め、入口開口部43の余分な幅は、マンドレル3
9の回転が以下に詳細に説明するようにファンビーム軸
23の整列化を制御するために使用されるときに、この
マンドレル39の回転の際に入口開口部43の各縁部が
粗いファンビーム21を阻止することを防止している。
対して方向付けられた場合に各スロット41の入口開口
部43が出口開口部45よりも広くなるようにテーパが
付けられている。出口開口部45はファンビーム22の
幅を定め、入口開口部43の余分な幅は、マンドレル3
9の回転が以下に詳細に説明するようにファンビーム軸
23の整列化を制御するために使用されるときに、この
マンドレル39の回転の際に入口開口部43の各縁部が
粗いファンビーム21を阻止することを防止している。
【0029】図3を再び参照すると、位置調整用モータ
48がフレキシブル継ぎ手50を介してマンドレル39
の一端に接続されている。マンドレル39の他端はポジ
ションエンコーダ46に取り付けられている。エンコー
ダ46はモータ48によるマンドレルの位置調整を正確
に行うことができるものである。マンドレル39の両端
のファンビーム角度シャッタ44はファンビーム角を制
御する。
48がフレキシブル継ぎ手50を介してマンドレル39
の一端に接続されている。マンドレル39の他端はポジ
ションエンコーダ46に取り付けられている。エンコー
ダ46はモータ48によるマンドレルの位置調整を正確
に行うことができるものである。マンドレル39の両端
のファンビーム角度シャッタ44はファンビーム角を制
御する。
【0030】図5を参照するとX線源10は回転アノー
ド52から構成されている。この回転アノード52は真
空のガラス管(図示せず)内に保持され、ベアリング5
6(1つが示されている)上に保持されているアノード
軸54を主に有する支持構造によって支持されている。
粗いファンビーム21はアノード52の面の焦点スポッ
ト26から発生する。z軸に沿った焦点スポット26の
位置はFz で表わされ、焦点スポット26が以下に説明
する基準点Fo にある場合、ゼロに等しいとして定義さ
れる。
ド52から構成されている。この回転アノード52は真
空のガラス管(図示せず)内に保持され、ベアリング5
6(1つが示されている)上に保持されているアノード
軸54を主に有する支持構造によって支持されている。
粗いファンビーム21はアノード52の面の焦点スポッ
ト26から発生する。z軸に沿った焦点スポット26の
位置はFz で表わされ、焦点スポット26が以下に説明
する基準点Fo にある場合、ゼロに等しいとして定義さ
れる。
【0031】粗いファンビーム21はそれからコリメー
タ38によってコリメートされ、上述したようにファン
ビーム22を形成する。粗いファンビーム21(図3に
示す)と整列されるスロット41用の出口開口部45の
中心のz軸位置はCz で表わされ、出口開口部45の中
心が以下に定められる基準線Coにある場合、ゼロに等
しいとして定義される。
タ38によってコリメートされ、上述したようにファン
ビーム22を形成する。粗いファンビーム21(図3に
示す)と整列されるスロット41用の出口開口部45の
中心のz軸位置はCz で表わされ、出口開口部45の中
心が以下に定められる基準線Coにある場合、ゼロに等
しいとして定義される。
【0032】図2を参照すると、ファンビーム22(図
2に示されていない)は検出器アレイ14の面上の、従
って周囲の検出素子18の面上の領域36を照射する。
周囲の検出素子18は基準検出器34およびz軸片寄り
検出器30を有している。z軸片寄り検出器30の面は
z軸片寄り検出器30に対するファンビーム位置の関数
としてパーセントが変化するファンビーム22を阻止す
るようにテーパを付けられたくさび型フィルタ32によ
って部分的に塞がれている。検出器アレイ14に対する
照射領域36の中心のz軸位置はファンビーム位置Dz
と称され、以下に説明するようにDz が基準値Do に等
しい場合、ゼロに等しいと定義される。z軸片寄り検出
器30および基準検出器32とともにくさび型フィルタ
32を使用したファンビーム位置の検出の詳細な説明は
米国特許第4,559,639号に記載されている。
2に示されていない)は検出器アレイ14の面上の、従
って周囲の検出素子18の面上の領域36を照射する。
周囲の検出素子18は基準検出器34およびz軸片寄り
検出器30を有している。z軸片寄り検出器30の面は
z軸片寄り検出器30に対するファンビーム位置の関数
としてパーセントが変化するファンビーム22を阻止す
るようにテーパを付けられたくさび型フィルタ32によ
って部分的に塞がれている。検出器アレイ14に対する
照射領域36の中心のz軸位置はファンビーム位置Dz
と称され、以下に説明するようにDz が基準値Do に等
しい場合、ゼロに等しいと定義される。z軸片寄り検出
器30および基準検出器32とともにくさび型フィルタ
32を使用したファンビーム位置の検出の詳細な説明は
米国特許第4,559,639号に記載されている。
【0033】Fo 、Co およびDo は、焦点スポットが
Fo にあり、コリメータがCo にあり、ファンビームの
中心が検出器アレイ14のDo にある場合にファンビー
ム軸23が撮像面に平行であるように定められる。
Fo にあり、コリメータがCo にあり、ファンビームの
中心が検出器アレイ14のDo にある場合にファンビー
ム軸23が撮像面に平行であるように定められる。
【0034】図5を再び参照すると、焦点スポット26
の中心線、出口開口部45の中心線および照射領域36
の中心線を含み、z軸方向にファンビーム22を二分す
る面は「ファンビーム面」62と称される。
の中心線、出口開口部45の中心線および照射領域36
の中心線を含み、z軸方向にファンビーム22を二分す
る面は「ファンビーム面」62と称される。
【0035】上述したように、アノード52およびその
支持構造体の熱ドリフトのために、または組立中のX線
源10の小さな誤整列のために、焦点スポット26は撮
像面62と整列していない。図6を参照すると、アノー
ド52は誤整列距離58だけ撮像面62から変位して示
されている。この誤整列の影響により焦点スポット位置
Fz は撮像面60から離れるように変位し、ファンビー
ム照射領域36の中心は次に示す式に従って反対方向に
移動する。
支持構造体の熱ドリフトのために、または組立中のX線
源10の小さな誤整列のために、焦点スポット26は撮
像面62と整列していない。図6を参照すると、アノー
ド52は誤整列距離58だけ撮像面62から変位して示
されている。この誤整列の影響により焦点スポット位置
Fz は撮像面60から離れるように変位し、ファンビー
ム照射領域36の中心は次に示す式に従って反対方向に
移動する。
【0036】 Dz =−Fz (l2 /l1 ) (1) ここにおいて、l1 は焦点スポット26と出口開口部4
5の中心との間の距離であり、l2 は出口開口部45の
中心と検出器アレイ14との間の距離である。典型的な
コンピュータ断層撮影システムでは、比l2 /l1 は約
3.3である。
5の中心との間の距離であり、l2 は出口開口部45の
中心と検出器アレイ14との間の距離である。典型的な
コンピュータ断層撮影システムでは、比l2 /l1 は約
3.3である。
【0037】図6に示すように、焦点スポット26が移
動した結果、照射領域36はもはや中心のDo になく、
ファンビーム面62は撮像軸60と平行でなく、角度α
だけずれている。
動した結果、照射領域36はもはや中心のDo になく、
ファンビーム面62は撮像軸60と平行でなく、角度α
だけずれている。
【0038】図7を参照すると、コリメータ38は撮像
面62から移動した位置Cz に回転している。Cz がF
z に等しい場合、Dz はCz に等しくなり、ファンビー
ム面62は撮像面62と平行になるように戻される。こ
のファンビーム面62の角度補正は「平行補正」と称さ
れる。
面62から移動した位置Cz に回転している。Cz がF
z に等しい場合、Dz はCz に等しくなり、ファンビー
ム面62は撮像面62と平行になるように戻される。こ
のファンビーム面62の角度補正は「平行補正」と称さ
れる。
【0039】または、図8を参照すると、コリメータ3
8はCz がFz・(l2 )/(l1 +l2 )に等しくな
るように回転させられる。そして、Dz はDo に等しく
なり、照射領域36は再び中心のDo になる。検出器1
4に対するファンビーム照射領域36の位置補正は「z
軸片寄り補正」と称される。
8はCz がFz・(l2 )/(l1 +l2 )に等しくな
るように回転させられる。そして、Dz はDo に等しく
なり、照射領域36は再び中心のDo になる。検出器1
4に対するファンビーム照射領域36の位置補正は「z
軸片寄り補正」と称される。
【0040】要約すると、コリメータ38を回転させる
ことによってファンビーム面62を撮像面62と平行に
したり、または照射領域36を検出器アレイ14上のD
o と整列するようにファンビーム面62の誤整列を補正
することができる。上述したように、これらの補正の両
方によって画像アーチファクトが低減する。
ことによってファンビーム面62を撮像面62と平行に
したり、または照射領域36を検出器アレイ14上のD
o と整列するようにファンビーム面62の誤整列を補正
することができる。上述したように、これらの補正の両
方によって画像アーチファクトが低減する。
【0041】最初に、平行補正を行って、ファンビーム
面62を撮像面60と平行にすることができることは本
技術分野に専門知識を有する者によって理解されるであ
ろう。それから、その結果のDz の値がDo として定め
られ、焦点スポット26の熱ドリフトに対して維持さ
れ、続くz軸片寄り補正によって検出器14の利得を一
定に保証する。
面62を撮像面60と平行にすることができることは本
技術分野に専門知識を有する者によって理解されるであ
ろう。それから、その結果のDz の値がDo として定め
られ、焦点スポット26の熱ドリフトに対して維持さ
れ、続くz軸片寄り補正によって検出器14の利得を一
定に保証する。
【0042】図9を参照すると、フィードバック制御シ
ステムは平行補正またはz軸片寄り補正を行うために焦
点スポット26の位置Fz の変化に応じてコリメータ3
8の位置Cz を制御する。この制御システムの個々の要
素は、本技術分野で知られているように個別のディジタ
ルおよびアナログ機能モジュールの組合せによって、ま
たは好適実施例においては以下に説明するアナログ−デ
ィジタルおよびディジタルに制御されるインタフェース
回路によってアナログ回路モジュールにインタフェース
されている高速ディジタルコンピュータ71(図示せ
ず)によって実施される。コンピュータ71によって実
施される機能ブロックは次の説明においては「ソフトウ
ェア−」という言葉を前に付けて示し、図9においては
破線71で囲まれている。
ステムは平行補正またはz軸片寄り補正を行うために焦
点スポット26の位置Fz の変化に応じてコリメータ3
8の位置Cz を制御する。この制御システムの個々の要
素は、本技術分野で知られているように個別のディジタ
ルおよびアナログ機能モジュールの組合せによって、ま
たは好適実施例においては以下に説明するアナログ−デ
ィジタルおよびディジタルに制御されるインタフェース
回路によってアナログ回路モジュールにインタフェース
されている高速ディジタルコンピュータ71(図示せ
ず)によって実施される。コンピュータ71によって実
施される機能ブロックは次の説明においては「ソフトウ
ェア−」という言葉を前に付けて示し、図9においては
破線71で囲まれている。
【0043】z軸片寄り検出器30および基準検出器3
4からの信号は増幅およびディジタル化のためにz軸片
寄り検出器データ獲得システム(DAS)68および基
準検出器DAS70によって受信される。ディジタル化
された信号はコンピュータ71に供給される。
4からの信号は増幅およびディジタル化のためにz軸片
寄り検出器データ獲得システム(DAS)68および基
準検出器DAS70によって受信される。ディジタル化
された信号はコンピュータ71に供給される。
【0044】z軸検出器30からの信号は上述したよう
にコンピュータ71によって実施されるソフトウェア−
割算器72において基準検出器34からの信号によって
分割され、検出器アレイ14上の照射領域36のz軸位
置Dz を示すファンビーム位置信号を発生する。これら
の2つの信号の分割はくさび形フィルタ32の作用に無
関係なファンビーム22の強度における変動の影響を低
減する。検出器アレイ14からの信号によって出力され
るDz の測定値はDzMとして示され、次に説明するソフ
トウェアの熱力学/幾何学モデルおよびソフトウェアの
機械応力モデル81から出力される予測値Dzpから区別
される。
にコンピュータ71によって実施されるソフトウェア−
割算器72において基準検出器34からの信号によって
分割され、検出器アレイ14上の照射領域36のz軸位
置Dz を示すファンビーム位置信号を発生する。これら
の2つの信号の分割はくさび形フィルタ32の作用に無
関係なファンビーム22の強度における変動の影響を低
減する。検出器アレイ14からの信号によって出力され
るDz の測定値はDzMとして示され、次に説明するソフ
トウェアの熱力学/幾何学モデルおよびソフトウェアの
機械応力モデル81から出力される予測値Dzpから区別
される。
【0045】X線源10で使用された前述した照射条
件、すなわちX線管電圧、X線管電流および照射時間は
X線源コントローラ(図示せず)から受信され、照射が
開始した時間とともにコンピュータメモリ78に蓄積さ
れ、X線源10に対する全エネルギ入力のレコードを形
成する。ソフトウェアの熱力学/幾何学モデル76は時
間の関数であるX線源10からの全エネルギ入力をX線
管の種々の部品の温度に等しくし、これによりこれらの
X線管の部品の熱膨張および焦点スポット26の対応す
る移動を時間の関数として予測する。このソフトウェア
の熱力学/幾何学モデル76は所与の設計の管の観察お
よび温度、時間および使用の関数である焦点スポットの
移動の記録から経験的に構成される。最も簡単な構成に
おいては、ソフトウェアの熱力学モデル76はこれらの
測定した値を保持するルックアップテーブルを有してい
る。
件、すなわちX線管電圧、X線管電流および照射時間は
X線源コントローラ(図示せず)から受信され、照射が
開始した時間とともにコンピュータメモリ78に蓄積さ
れ、X線源10に対する全エネルギ入力のレコードを形
成する。ソフトウェアの熱力学/幾何学モデル76は時
間の関数であるX線源10からの全エネルギ入力をX線
管の種々の部品の温度に等しくし、これによりこれらの
X線管の部品の熱膨張および焦点スポット26の対応す
る移動を時間の関数として予測する。このソフトウェア
の熱力学/幾何学モデル76は所与の設計の管の観察お
よび温度、時間および使用の関数である焦点スポットの
移動の記録から経験的に構成される。最も簡単な構成に
おいては、ソフトウェアの熱力学モデル76はこれらの
測定した値を保持するルックアップテーブルを有してい
る。
【0046】メモリ78に記憶された条件履歴情報は熱
力学/幾何学モデル76によって使用され、熱膨張によ
る焦点スポット位置の予測値を発生する。
力学/幾何学モデル76によって使用され、熱膨張によ
る焦点スポット位置の予測値を発生する。
【0047】同様に、ソフトウェアの機械応力モデル8
1は構台の回転速度および傾斜角度の関数である経験的
に決定されたまたは分析的に計算された焦点スポットの
移動値のテーブルである。構台の角度および速度は本技
術分野で知られているように構台に取り付けられた角度
エンコーダ(図示せず)からソフトウェアの機械応力モ
デル81によって受信される。
1は構台の回転速度および傾斜角度の関数である経験的
に決定されたまたは分析的に計算された焦点スポットの
移動値のテーブルである。構台の角度および速度は本技
術分野で知られているように構台に取り付けられた角度
エンコーダ(図示せず)からソフトウェアの機械応力モ
デル81によって受信される。
【0048】ソフトウェアの熱力学モデル76によって
予測された焦点スポットの移動はソフトウェアの加算器
82によってソフトウェアの機械応力モデル81で予測
された移動に加えられ、予測焦点スポット位置Fzpを発
生する。Dzpで表わされるDz の予測値は次のようにソ
フトウェアのスケーラ(scaler)83によって計算され
る。
予測された焦点スポットの移動はソフトウェアの加算器
82によってソフトウェアの機械応力モデル81で予測
された移動に加えられ、予測焦点スポット位置Fzpを発
生する。Dzpで表わされるDz の予測値は次のようにソ
フトウェアのスケーラ(scaler)83によって計算され
る。
【0049】 Dzp=−(Fzp−ΔC)(l1 /l2 )+ΔC (2) ここにおいて、ΔC=Cz −Co である。
【0050】図9を再び参照すると、第2のソフトウェ
アの加算器74の負入力は、X線源10がオンで、DzM
が測定されるとき、DzMに接続され、またX線源10が
オフであるとき、Dzpに接続される。
アの加算器74の負入力は、X線源10がオンで、DzM
が測定されるとき、DzMに接続され、またX線源10が
オフであるとき、Dzpに接続される。
【0051】2つのエラー信号ε1 またはε2 の一方が
所望の補正形式によってソフトウェアの加算器74から
出力される。平行補正の場合には、ε1 は次式に示すよ
うにCz からDz を引くことによって出力される。
所望の補正形式によってソフトウェアの加算器74から
出力される。平行補正の場合には、ε1 は次式に示すよ
うにCz からDz を引くことによって出力される。
【0052】 ε1 =Cz −Dz (3) コリメータ位置を制御し、以下に説明するフィードバッ
クループはこのエラー項ε1 を減らすように作用し、こ
れによりファンビーム面62が撮像面60に平行になる
に必要な条件Cz =Dz が成立する。
クループはこのエラー項ε1 を減らすように作用し、こ
れによりファンビーム面62が撮像面60に平行になる
に必要な条件Cz =Dz が成立する。
【0053】z軸片寄り補正の場合には、ε2 は次式に
示すようにDo からDz を引くことによって出力され
る。
示すようにDo からDz を引くことによって出力され
る。
【0054】 ε2 =Do −Dz (4) 再び、コリメータ位置を制御するフィードバックループ
はこのエラー項ε2を減らすように作用し、これにより
ファンビーム照射領域36がDo に整列するに必要な条
件Dz =Do が成立する。
はこのエラー項ε2を減らすように作用し、これにより
ファンビーム照射領域36がDo に整列するに必要な条
件Dz =Do が成立する。
【0055】エラー項ε1 またはε2 はソフトウェアの
積分器75によって示すように時間の関数として積分さ
れ、コリメータ位置変化信号ΔCが出力される。この信
号はソフトウェアの加算器77によってCo と加算さ
れ、コリメータ位置Cz が出力される。このコリメータ
位置Cz はコリメータ38の位置を調整するためにモー
タコントローラ80に供給される。
積分器75によって示すように時間の関数として積分さ
れ、コリメータ位置変化信号ΔCが出力される。この信
号はソフトウェアの加算器77によってCo と加算さ
れ、コリメータ位置Cz が出力される。このコリメータ
位置Cz はコリメータ38の位置を調整するためにモー
タコントローラ80に供給される。
【0056】モータコントローラ80はコンピュータ7
1と異なるアナログモジュールで実施され、コンピュー
タ71からのディジタル信号によって制御される。モー
タコントローラ80はまずデカルト位置Cz をコリメー
タアクチュエータの対応する極または回転座標に変換
し、モータ48および位置エンコーダ46を含むフィー
ドバックループによってコリメータ38を位置Cz に位
置決めする。また、モータコントローラ80はいくつか
のスロット41をファンビーム21に整列させるに必要
な種々の角度オフセットにコリメータ38をオフセット
する手段を有する。
1と異なるアナログモジュールで実施され、コンピュー
タ71からのディジタル信号によって制御される。モー
タコントローラ80はまずデカルト位置Cz をコリメー
タアクチュエータの対応する極または回転座標に変換
し、モータ48および位置エンコーダ46を含むフィー
ドバックループによってコリメータ38を位置Cz に位
置決めする。また、モータコントローラ80はいくつか
のスロット41をファンビーム21に整列させるに必要
な種々の角度オフセットにコリメータ38をオフセット
する手段を有する。
【0057】最初の投影の獲得の間、またはX線管があ
る期間冷却された後、エラー信号ε1 またはε2 は熱力
学/幾何学モデル76、機械応力モデル81およびソフ
トウェアの割り算器72からのファンビーム位置信号D
zMから得られる。この動作はz軸片寄り検出器30およ
び基準チャンネル32の初期の照射時のDzMの安定化の
間、大きな振幅のコリメータ位置Cz の補正を防止する
ために行われる。
る期間冷却された後、エラー信号ε1 またはε2 は熱力
学/幾何学モデル76、機械応力モデル81およびソフ
トウェアの割り算器72からのファンビーム位置信号D
zMから得られる。この動作はz軸片寄り検出器30およ
び基準チャンネル32の初期の照射時のDzMの安定化の
間、大きな振幅のコリメータ位置Cz の補正を防止する
ために行われる。
【0058】DzMは安定化された後、ソフトウェアの加
算器74に再び供給され、ファンビーム位置Dzpの予測
値を補正するように作用する。また、DzMの値を使用し
て、次式のように熱力学モデル76から得られたFzpの
値を補正する。
算器74に再び供給され、ファンビーム位置Dzpの予測
値を補正するように作用する。また、DzMの値を使用し
て、次式のように熱力学モデル76から得られたFzpの
値を補正する。
【0059】 Fzp=ΔC+(ΔC−DzM)(l1 /l2 ) (5) ここにおいて、ΔC=Cz −Co である。
【0060】上述した説明は本発明の好適実施例につい
て行ったものである。本技術分野に専門知識を有する者
にとっては本発明の精神および範囲から逸脱することな
く多くの変更を行うことができるであろう。例えば、フ
ァンビームはz軸の片寄りを低減するものと平行エラー
を低減するものとの間の中間の位置に整列させてもよ
い。
て行ったものである。本技術分野に専門知識を有する者
にとっては本発明の精神および範囲から逸脱することな
く多くの変更を行うことができるであろう。例えば、フ
ァンビームはz軸の片寄りを低減するものと平行エラー
を低減するものとの間の中間の位置に整列させてもよ
い。
【図1】本発明で使用されるX線源およびX線検出器の
構成例を示す概略図である。
構成例を示す概略図である。
【図2】図1の検出器アレイの周辺検出素子を示す平面
図である。
図である。
【図3】本発明のコリメータ組立体を示す斜視図であ
る。
る。
【図4】厚いファンビームおよび薄いファンビーム用の
マンドレルの方向をそれぞれ示す図3のコリメータのマ
ンドレルの断面図である。
マンドレルの方向をそれぞれ示す図3のコリメータのマ
ンドレルの断面図である。
【図5】図1の線5−5に沿って取られたX線ファンビ
ームの経路を示す簡略断面図であり、X線管のアノー
ド、コリメータおよび検出器アレイが誇張して明確に示
されている。
ームの経路を示す簡略断面図であり、X線管のアノー
ド、コリメータおよび検出器アレイが誇張して明確に示
されている。
【図6】ファンビームの整列におけるX線アノードの熱
ドリフトの影響を示す図5に類似した断面図である。
ドリフトの影響を示す図5に類似した断面図である。
【図7】コリメータを回転して、ファンビーム面を撮像
面に平行にする状態を示している図6に類似した断面図
である。
面に平行にする状態を示している図6に類似した断面図
である。
【図8】コリメータを回転して、ファンビームを検出器
アレイ内に整列させる状態を示す図6に類似した断面図
である。
アレイ内に整列させる状態を示す図6に類似した断面図
である。
【図9】本発明による図3のコリメータ用の制御システ
ムを示すブロック図である。
ムを示すブロック図である。
10 X線源 12 被撮像体 14 検出器アレイ 16 検出素子 20 構台 22 ファンビーム 26 焦点スポット 38 コリメータ 39 マンドレル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 トーマス・ルイス・トス アメリカ合衆国、ウィスコンシン州、ブ ルクフィールド、ラウラ・レーン、 15810番 (72)発明者 オーガスト・オットー・エングラート アメリカ合衆国、ウィスコンシン州、ウ ォーケシャ、クイーンズ・コート、2101 番 (56)参考文献 特開 昭55−129044(JP,A) 特開 昭62−278500(JP,A) 特開 昭57−160441(JP,A)
Claims (9)
- 【請求項1】 照射条件に従って焦点スポット(26)
から放射するX線のファンビーム(22)をファンビー
ム面(62)に沿って発生するX線源(10)を含んで
おり、前記ファンビーム面は、撮像面(60)から角度
(α)ずれていると共に、z軸に沿った位置(Dz )に
おいて検出器アレイ(14)を横切っているコンピュー
タ断層撮影システムであって、 z軸に沿った位置(Cz )に配置されているコリメータ
手段(38)であって、複数の可変の幅のスロット(4
1)を含んでいるコリメータ手段(38)と、 前記ファンビームを遮るように配置されており、前記フ
ァンビームの位置(Dz )に応じた位置信号(Dzm)を
発生するz軸片寄り検出器(30)と、 前記位置信号に応答してエラー信号を発生するエラー計
算手段(71)と、 前記エラー信号に応答して該エラー信号の大きさを低減
させるように前記X線源(10)及び前記検出器アレイ
(14)に対する前記コリメータ手段の相対位置(Cz
)を変更して、前記ファンビーム面の整列を制御する
コリメータコントローラ(46、48、49)とを備え
たコンピュータ断層撮影システム。 - 【請求項2】 前記エラー計算手段は、 前記X線源に関して使用された照射条件の前の値及び各
々の照射条件の時間を記憶するメモリ(78)と、 該メモリに記憶された値から現在のファンビーム位置
(Dzp)を計算する熱力学/幾何学モデル手段(76)
とを含んでおり、 前記コリメータコントローラは、前記ファンビーム位置
(Dzp)及び現在の焦点スポット位置(Fz )に応じて
前記コリメータの相対位置(Cz )を変更して、前記フ
ァンビーム面の整列を制御している請求項1に記載のコ
ンピュータ断層撮影システム。 - 【請求項3】 前記X線源(10)及び前記検出器アレ
イ(14)を支持している構台(20)の回転速度及び
傾斜角度から現在のファンビーム位置(Dzp)を計算す
る機械応力モデル手段(81)を含んでおり、 前記コリメータコントローラは、前記ファンビーム位置
(Dzp)及び現在の焦点スポット位置(Fz )に応じて
前記コリメータの相対位置(Cz )を変更して、前記フ
ァンビーム面の整列を制御している請求項1又は請求項
2に記載のコンピュータ断層撮影システム。 - 【請求項4】 前記コリメータコントローラは、前記フ
ァンビーム位置(Dzp)と前記コリメータの相対位置
(Cz )との間の差を低減させるように該コリメータの
相対位置(Cz )を変更している請求項1から請求項3
までのいずれか一項に記載のコンピュータ断層撮影シス
テム。 - 【請求項5】 前記コリメータコントローラは、前記フ
ァンビーム位置(Dzp)と前記検出器アレイ上のファン
ビーム基準位置(Do )との間の差を低減させるように
前記コリメータの相対位置(Cz )を変更している請求
項1から請求項3までのいずれか一項に記載のコンピュ
ータ断層撮影システム。 - 【請求項6】 前記エラー信号は、前記位置(Dz )と
前記検出器アレイ上のファンビーム基準位置(Do )と
の間の位置の差に比例している請求項1から請求項3ま
でのいずれか一項に記載のコンピュータ断層撮影システ
ム。 - 【請求項7】 前記エラー信号は、前記位置(Dz )と
前記コリメータの相対位置(Cz )との間の差に比例し
ている請求項1から請求項3までのいずれか一項に記載
のコンピュータ断層撮影システム。 - 【請求項8】 前記コリメータ手段(38)は、回転可
能なマンドレル(39)を含んでおり、前記スロット
は、テーパを付けられている請求項1から請求項7まで
のいずれか一項に記載のコンピュータ断層撮影システ
ム。 - 【請求項9】 前記スロットの各々の入口開口部(4
3)は、該スロットの出口開口部(45)よりも広い請
求項8に記載のコンピュータ断層撮影システム。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/509,598 US4991189A (en) | 1990-04-16 | 1990-04-16 | Collimation apparatus for x-ray beam correction |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Families Citing this family (120)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5485493A (en) * | 1988-10-20 | 1996-01-16 | Picker International, Inc. | Multiple detector ring spiral scanner with relatively adjustable helical paths |
US5054041A (en) * | 1990-03-19 | 1991-10-01 | General Electric Company | High precision x-ray collimator |
US4991189A (en) * | 1990-04-16 | 1991-02-05 | General Electric Company | Collimation apparatus for x-ray beam correction |
US5090037A (en) * | 1990-11-19 | 1992-02-18 | General Electric Company | Helical scanning computed tomography with tracking x-ray source |
JP3119881B2 (ja) * | 1991-02-07 | 2000-12-25 | 株式会社東芝 | X線診断装置 |
US5131021A (en) * | 1991-06-21 | 1992-07-14 | General Electric Company | Computed tomography system with control and correction of fan beam position |
DE4207006C2 (de) * | 1992-03-05 | 1994-07-14 | Siemens Ag | Computertomograph |
US5224136A (en) * | 1992-06-30 | 1993-06-29 | General Electric Company | Helical scanning computed tomography apparatus with constrained tracking of the x-ray source |
US5469429A (en) * | 1993-05-21 | 1995-11-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray CT apparatus having focal spot position detection means for the X-ray tube and focal spot position adjusting means |
US5430784A (en) * | 1994-02-28 | 1995-07-04 | General Electric Company | Computerized tomography imaging using multi-slice detector with selectable slice thickness |
US5473663A (en) * | 1994-09-12 | 1995-12-05 | General Electric Company | Method for evaluating the performance of detectors in a computed tomography system |
US5473656A (en) * | 1994-09-15 | 1995-12-05 | General Electric Company | Computed tomography system with correction for z-axis detector non-uniformity |
US5550886A (en) * | 1994-11-22 | 1996-08-27 | Analogic Corporation | X-Ray focal spot movement compensation system |
JPH10509069A (ja) * | 1994-11-22 | 1998-09-08 | アナロジック コーポレーション | 断層撮影イメージ・データの正規化 |
DE4442854C1 (de) * | 1994-12-01 | 1996-02-01 | Siemens Ag | Computertomograph |
US5608776A (en) * | 1995-10-10 | 1997-03-04 | General Electric Company | Methods and apparatus for twin beam computed tomography |
GB2340014B (en) * | 1995-11-02 | 2000-04-26 | Analogic Corp | Computed tomography scanner with reduced power x-ray source |
US5867553A (en) * | 1995-11-02 | 1999-02-02 | Analogic Corporation | Computed tomography scanner with reduced power x-ray source |
CN1202811A (zh) * | 1995-11-28 | 1998-12-23 | 模拟公司 | X射线管焦斑的预定标 |
US5657364A (en) * | 1995-12-14 | 1997-08-12 | General Electric Company | Methods and apparatus for detecting beam motion in computed tomography imaging systems |
US5644614A (en) * | 1995-12-21 | 1997-07-01 | General Electric Company | Collimator for reducing patient x-ray dose |
US5706326A (en) * | 1995-12-22 | 1998-01-06 | General Electric Company | Systems and methods of determining focal spot x-axis position from projection data |
IL118496A0 (en) * | 1996-05-30 | 1996-09-12 | Ein Gal Moshe | Collimators |
JPH10118058A (ja) * | 1996-10-23 | 1998-05-12 | Hitachi Medical Corp | X線ct装置 |
JP3527381B2 (ja) * | 1997-02-28 | 2004-05-17 | 株式会社島津製作所 | X線ct装置 |
US6185275B1 (en) * | 1998-08-25 | 2001-02-06 | General Electric Company | Systems and methods for correcting focal spot thermal drift |
US6141402A (en) * | 1998-08-25 | 2000-10-31 | General Electric Company | Methods and apparatus for dose verification in an imaging system |
US6173039B1 (en) | 1998-08-25 | 2001-01-09 | General Electric Company | Variable aperture z-axis tracking collimator for computed tomograph system |
US6094469A (en) * | 1998-10-21 | 2000-07-25 | Analogic Corporation | Computed tomography system with stable beam position |
US6256364B1 (en) * | 1998-11-24 | 2001-07-03 | General Electric Company | Methods and apparatus for correcting for x-ray beam movement |
US6302580B1 (en) | 1998-11-25 | 2001-10-16 | General Electric Company | Apparatus for solid state digital imager tracking radiography |
US6325539B1 (en) * | 1998-12-31 | 2001-12-04 | General Electric Company | Calibration simplification for a computed tomograph system |
US6385279B1 (en) | 1999-08-27 | 2002-05-07 | General Electric Company | Methods and apparatus for positioning a CT imaging x-ray beam |
US6310938B1 (en) | 1999-08-27 | 2001-10-30 | General Electric Company | Methods and apparatus for calibrating CT x-ray beam tracking loop |
US6327331B1 (en) | 1999-12-28 | 2001-12-04 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Method and apparatus for analyzing CT z-axis beam positioning |
US6322248B1 (en) * | 2000-01-03 | 2001-11-27 | Ge Yokogawa Medical Systems, Limited | X-ray impinging position alignment method and x-ray tomographic imaging method and apparatus |
US6351517B1 (en) * | 2000-07-07 | 2002-02-26 | General Electric Company | Method and apparatus for predicting x-ray tube failures in computed tomography systems |
US6396902B2 (en) | 2000-07-31 | 2002-05-28 | Analogic Corporation | X-ray collimator |
US6449340B1 (en) | 2000-07-31 | 2002-09-10 | Analogic Corporation | Adjustable x-ray collimator |
US6556657B1 (en) | 2000-08-16 | 2003-04-29 | Analogic Corporation | X-ray collimator and method of manufacturing an x-ray collimator |
JP3964615B2 (ja) * | 2000-11-09 | 2007-08-22 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | コリメータ制御方法および装置並びにx線ct装置 |
JP3947372B2 (ja) * | 2001-07-25 | 2007-07-18 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | X線ctシステムにおけるアパーチャの位置調整機構およびガントリ装置ならびにその制御方法 |
US6647092B2 (en) * | 2002-01-18 | 2003-11-11 | General Electric Company | Radiation imaging system and method of collimation |
US8275091B2 (en) | 2002-07-23 | 2012-09-25 | Rapiscan Systems, Inc. | Compact mobile cargo scanning system |
US9958569B2 (en) | 2002-07-23 | 2018-05-01 | Rapiscan Systems, Inc. | Mobile imaging system and method for detection of contraband |
US7963695B2 (en) | 2002-07-23 | 2011-06-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Rotatable boom cargo scanning system |
US8503605B2 (en) | 2002-07-23 | 2013-08-06 | Rapiscan Systems, Inc. | Four sided imaging system and method for detection of contraband |
US7486768B2 (en) | 2002-07-23 | 2009-02-03 | Rapiscan Security Products, Inc. | Self-contained mobile inspection system and method |
US7322745B2 (en) * | 2002-07-23 | 2008-01-29 | Rapiscan Security Products, Inc. | Single boom cargo scanning system |
US7369643B2 (en) * | 2002-07-23 | 2008-05-06 | Rapiscan Security Products, Inc. | Single boom cargo scanning system |
US7783004B2 (en) | 2002-07-23 | 2010-08-24 | Rapiscan Systems, Inc. | Cargo scanning system |
US6898269B2 (en) * | 2003-02-10 | 2005-05-24 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Methods and apparatus for x-ray images |
US9113839B2 (en) | 2003-04-25 | 2015-08-25 | Rapiscon Systems, Inc. | X-ray inspection system and method |
US20050058242A1 (en) * | 2003-09-15 | 2005-03-17 | Peschmann Kristian R. | Methods and systems for the rapid detection of concealed objects |
US8837669B2 (en) | 2003-04-25 | 2014-09-16 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanning system |
US8223919B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-07-17 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items |
US8451974B2 (en) | 2003-04-25 | 2013-05-28 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection system for the identification of specific target items |
US8243876B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-08-14 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners |
GB0525593D0 (en) | 2005-12-16 | 2006-01-25 | Cxr Ltd | X-ray tomography inspection systems |
US7949101B2 (en) | 2005-12-16 | 2011-05-24 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners and X-ray sources therefor |
US6928141B2 (en) | 2003-06-20 | 2005-08-09 | Rapiscan, Inc. | Relocatable X-ray imaging system and method for inspecting commercial vehicles and cargo containers |
US7031434B1 (en) | 2003-08-06 | 2006-04-18 | General Electric Company | Method of manufacturing, and a collimator mandrel having variable attenuation characteristics for a CT system |
US7856081B2 (en) | 2003-09-15 | 2010-12-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Methods and systems for rapid detection of concealed objects using fluorescence |
JP3961468B2 (ja) | 2003-09-19 | 2007-08-22 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | 放射線計算断層画像装置およびそれに用いる放射線検出器 |
US7286639B2 (en) * | 2003-12-12 | 2007-10-23 | Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc | Focal spot sensing device and method in an imaging system |
US20060269033A1 (en) * | 2005-01-21 | 2006-11-30 | Taleyarkhan Rusi P | Nuclear material detection system |
GB2423687B (en) * | 2005-02-25 | 2010-04-28 | Rapiscan Security Products Ltd | X-ray security inspection machine |
US7471764B2 (en) | 2005-04-15 | 2008-12-30 | Rapiscan Security Products, Inc. | X-ray imaging system having improved weather resistance |
US7274774B2 (en) * | 2005-10-11 | 2007-09-25 | General Electric Company | Digital rotation using a square x-ray detector and a rotating collimator |
US8213570B2 (en) | 2006-02-27 | 2012-07-03 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray security inspection machine |
US7526064B2 (en) | 2006-05-05 | 2009-04-28 | Rapiscan Security Products, Inc. | Multiple pass cargo inspection system |
JP4908957B2 (ja) * | 2006-07-20 | 2012-04-04 | 株式会社日立メディコ | X線ct装置 |
US7542541B2 (en) * | 2006-10-20 | 2009-06-02 | General Electric Company | View weighting methods and apparatus |
WO2008075267A2 (en) * | 2006-12-19 | 2008-06-26 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Device and method for imaging an object |
US8331529B2 (en) * | 2007-04-25 | 2012-12-11 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | X-ray beam z-axis positioning |
US7632014B2 (en) * | 2007-07-25 | 2009-12-15 | General Electric Company | Large X-ray detector variable centering for angulation enhancement |
US7852980B2 (en) * | 2007-10-31 | 2010-12-14 | Xoran Technologies, Inc. | Computed tomography with resolution recovery |
GB0803641D0 (en) | 2008-02-28 | 2008-04-02 | Rapiscan Security Products Inc | Scanning systems |
GB0803643D0 (en) * | 2008-02-28 | 2008-04-02 | Rapiscan Security Products Inc | Mobile scanning systems |
GB0803642D0 (en) | 2008-02-28 | 2008-04-02 | Rapiscan Security Products Inc | Drive-through scanning systems |
US9036779B2 (en) | 2008-02-28 | 2015-05-19 | Rapiscan Systems, Inc. | Dual mode X-ray vehicle scanning system |
GB0803640D0 (en) * | 2008-02-28 | 2008-04-02 | Rapiscan Security Products Inc | Scanning systems |
WO2009106619A1 (en) * | 2008-02-29 | 2009-09-03 | Basf Se | Process for preparing alkyl 2-alkoxymethylene-4,4-difluoro-3-oxobutyrates |
JP5437991B2 (ja) * | 2008-03-03 | 2014-03-12 | 株式会社日立メディコ | X線ct装置とx線ビーム位置補正方法 |
GB0809107D0 (en) | 2008-05-20 | 2008-06-25 | Rapiscan Security Products Inc | Scannign systems |
GB0809109D0 (en) * | 2008-05-20 | 2008-06-25 | Rapiscan Security Products Inc | Scanner systems |
GB0809110D0 (en) | 2008-05-20 | 2008-06-25 | Rapiscan Security Products Inc | Gantry scanner systems |
US8963094B2 (en) | 2008-06-11 | 2015-02-24 | Rapiscan Systems, Inc. | Composite gamma-neutron detection system |
GB0810638D0 (en) * | 2008-06-11 | 2008-07-16 | Rapiscan Security Products Inc | Photomultiplier and detection systems |
US9310323B2 (en) | 2009-05-16 | 2016-04-12 | Rapiscan Systems, Inc. | Systems and methods for high-Z threat alarm resolution |
PL2673660T3 (pl) | 2011-02-08 | 2018-01-31 | Rapiscan Systems Inc | Tajny nadzór z użyciem wykrywania multimodalnego |
US9218933B2 (en) | 2011-06-09 | 2015-12-22 | Rapidscan Systems, Inc. | Low-dose radiographic imaging system |
US9161727B2 (en) * | 2011-09-01 | 2015-10-20 | Hologic Inc | Independently rotatable detector plate for medical imaging device |
US9968313B2 (en) * | 2012-01-11 | 2018-05-15 | Control Rad Systems Inc | X-ray tube |
EP3358597A1 (en) | 2012-02-03 | 2018-08-08 | Rapiscan Systems, Inc. | Combined scatter and transmission multi-view imaging system |
US10670740B2 (en) | 2012-02-14 | 2020-06-02 | American Science And Engineering, Inc. | Spectral discrimination using wavelength-shifting fiber-coupled scintillation detectors |
CN103839603B (zh) * | 2012-11-27 | 2017-12-22 | Ge医疗***环球技术有限公司 | Ct准直仪和包含该ct准直仪的ct*** |
EP2941775A4 (en) | 2013-01-07 | 2016-08-24 | Rapiscan Systems Inc | X-RAY SCANNING DEVICE WITH PARTIAL ENERGY DISCRIMINATION DETECTOR ARRAY |
MX350070B (es) | 2013-01-31 | 2017-08-25 | Rapiscan Systems Inc | Sistema de inspeccion de seguridad portatil. |
CN103565465B (zh) | 2013-10-30 | 2016-03-30 | 沈阳东软医疗***有限公司 | 一种ct机焦点的修正方法与装置 |
US9557427B2 (en) | 2014-01-08 | 2017-01-31 | Rapiscan Systems, Inc. | Thin gap chamber neutron detectors |
US9566040B2 (en) * | 2014-05-14 | 2017-02-14 | Swissray Asia Healthcare Co., Ltd. | Automatic collimator adjustment device with depth camera and method for medical treatment equipment |
EP3048459B1 (en) * | 2015-01-21 | 2023-05-10 | Nokia Technologies Oy | Scintillators |
JP6746603B2 (ja) | 2015-03-20 | 2020-08-26 | ラピスカン システムズ、インコーポレイテッド | 手持ち式携帯型後方散乱検査システム |
US10345479B2 (en) | 2015-09-16 | 2019-07-09 | Rapiscan Systems, Inc. | Portable X-ray scanner |
CN105125235B (zh) * | 2015-09-30 | 2018-09-18 | 沈阳东软医疗***有限公司 | 一种球管预热方法和装置 |
CN105769231B (zh) * | 2016-02-18 | 2018-12-11 | 赛诺威盛科技(北京)有限公司 | 一种限束器在z轴上的射线跟踪方法 |
US10433811B2 (en) | 2016-12-23 | 2019-10-08 | General Electric Company | Self-calibrating CT detectors, systems and methods for self-calibration |
EP3413691A1 (en) * | 2017-06-08 | 2018-12-12 | Koninklijke Philips N.V. | Apparatus for generating x-rays |
JP2019010443A (ja) * | 2017-06-30 | 2019-01-24 | キヤノン電子管デバイス株式会社 | X線ct装置、x線ct方法、およびコリメータ |
CN107753054B (zh) * | 2017-12-04 | 2021-06-18 | 上海联影医疗科技股份有限公司 | 图像校正方法、装置、ct***及存储介质 |
CN108318509B (zh) * | 2018-02-07 | 2023-11-28 | 东方电气集团东方锅炉股份有限公司 | 用于射线检测的双向对焦方法及对焦装置 |
US10830911B2 (en) | 2018-06-20 | 2020-11-10 | American Science And Engineering, Inc. | Wavelength-shifting sheet-coupled scintillation detectors |
CN110664420B (zh) * | 2019-10-11 | 2023-04-07 | 上海联影医疗科技股份有限公司 | 焦点校正方法、装置、计算机设备和计算机可读存储介质 |
US11779296B2 (en) * | 2020-03-20 | 2023-10-10 | Canon Medical Systems Corporation | Photon counting detector based edge reference detector design and calibration method for small pixelated photon counting CT apparatus |
US11175245B1 (en) | 2020-06-15 | 2021-11-16 | American Science And Engineering, Inc. | Scatter X-ray imaging with adaptive scanning beam intensity |
US11340361B1 (en) | 2020-11-23 | 2022-05-24 | American Science And Engineering, Inc. | Wireless transmission detector panel for an X-ray scanner |
WO2022183191A1 (en) | 2021-02-23 | 2022-09-01 | Rapiscan Systems, Inc. | Systems and methods for eliminating cross-talk in scanning systems having multiple x-ray sources |
US11779293B2 (en) * | 2021-10-29 | 2023-10-10 | GE Precision Healthcare LLC | System and method for thermal load prediction of proposed imaging procedures for X-ray tubes |
CN117679054A (zh) * | 2022-09-09 | 2024-03-12 | 上海西门子医疗器械有限公司 | 准直器的调整方法、控制器、准直器及ct机 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US3783251A (en) * | 1970-11-27 | 1974-01-01 | Varian Associates | Computer assisted radiation therapy machine |
US4024403A (en) * | 1976-03-19 | 1977-05-17 | General Electric Company | X-ray cardiovascular examination apparatus |
DE2912010C2 (de) * | 1979-03-27 | 1987-04-16 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Gerät zur Messung der Absorptionsverteilung |
JPS57160441A (en) * | 1981-03-28 | 1982-10-02 | Hitachi Medical Corp | X-ray ct apparatus |
US4466112A (en) * | 1982-01-29 | 1984-08-14 | Technicare Corporation | Variable detector aperture |
US4449228A (en) * | 1982-03-30 | 1984-05-15 | Litton Industrial Products, Inc. | Collimator logic control system |
US4559639A (en) * | 1982-11-22 | 1985-12-17 | General Electric Company | X-Ray detector with compensation for height-dependent sensitivity and method of using same |
JPS62278500A (ja) * | 1986-05-28 | 1987-12-03 | 株式会社日立製作所 | コリメ−タ |
US4991189A (en) * | 1990-04-16 | 1991-02-05 | General Electric Company | Collimation apparatus for x-ray beam correction |
-
1990
- 1990-04-16 US US07/509,598 patent/US4991189A/en not_active Expired - Lifetime
-
1991
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