JP2706042B2 - ダイナミック型フリップフロップ - Google Patents

ダイナミック型フリップフロップ

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【発明の詳細な説明】 【0001】 【産業上の利用分野】本発明は、ディジタル回路に係
り、特に、状態を初期設定することができるようにした
ダイナミック型フリップフロップに関するものである。 【0002】 【従来の技術】例えば、ディジタルテレビ用LSIなど
に搭載される回路の大半は、回路的に出力側の信号の一
部を入力側に戻す形の、いわゆるスタティック型フリッ
プフロップにて構成されている。しかし、スタティック
型フリップフロップ自体は回路規模が大きく、そのた
め、LSIのチップ面積が大きくなってしまうという問
題があった。 【0003】そこで、このような問題点を解決するため
に、近年では、ダイナミック型フリップフロップにて回
路を構成することが検討されている。即ち、ダイナミッ
ク型フリップフロップは、回路的に出力側の信号の一部
を入力側に戻すことなく、そのまま出力する形のフリッ
プフロップであり、それ自体の回路規模がスタティック
型に比べて小さいからである。 【0004】そして、更に回路規模及び消費電力を小さ
くするために、上記したダイナミック型フリップフロッ
プをCMOS論理ゲートにて構成するようにしている。 【0005】さて、以上のようなCMOS構成のダイナ
ミック型フリップフロップとして、従来では、例えば、
共立出版(株)1983年12月発行「VLSI設計入
門」に記載されているように、クロックドCMOSイン
バータ2個により構成されているものがある。 【0006】以下、図8、図9及び図10を用いてその
構成及び動作を説明する。図8は従来のダイナミック型
フリップフロップを示す回路図、図9図8の具体的な
回路構成を示す回路図、図10図9の要部信号波形を
示す波形図である。 【0007】図8において、10,15はクロックドC
MOSインバータ、1は入力端子、2は出力端子、であ
り、また、図9において、11,12,16,17はP
チャネルMOS型トランジスタ(以下、単にPMOSと
呼ぶ。)、13,14,18,19はNチャネルMOS
型トランジスタ(以下、単にNMOSと呼ぶ。)、3,
4,5,6はクロックパルスの入力端子である。なお、
図において記号の上に記載されているバーは、本明細書
中では、記号の後に「 ̄」として以下記述するものとす
る。 【0008】図8に示すように、従来のダイナミック型
フリップフロップは、クロックドCMOSインバータ1
0,15の直列接続から成っている。そして、クロック
ドCMOSインバータ10は、図9に示すように、入力
端子3より入力されるクロックパルスφ1の逆相パルス
φ1 ̄をゲート入力とするPMOS11と、入力端子1
より入力されるデータDINをゲート入力とするPMOS
12とを、それぞれ、そのソース端子を電源側に、その
ドレイン端子を出力節点7側に配した上で、電源と出力
節点7との間に直列接続し、データDINをゲート入力と
するNMOS13と、入力端子4より入力されるクロッ
クパルスφ1をゲート入力とするNMOS14とを、そ
れぞれ、そのソース端子をGND側に、そのドレイン端
子を出力節点7側に配した上で、出力節点7とGNDと
の間に直列接続して成り、また、クロックドCMOSイ
ンバータ15も、同様の構成で、入力端子5より入力さ
れるクロックパルスφ2の逆相パルスφ2 ̄をゲート入
力とするPMOS16と、出力節点7の信号DIN ̄をゲ
ート入力とするPMOS17とを、それぞれ、そのソー
ス端子を電源側に、そのドレイン端子を出力端子2側に
配した上で、電源と出力端子2との間に直列接続し、出
力節点7の信号DIN ̄をゲート入力とするNMOS18
と、入力端子6より入力されるクロックパルスφ2をゲ
ート入力とするNMOS19とを、それぞれ、そのソー
ス端子を電源側に、そのドレイン端子を出力端子2側に
配した上で、出力端子2とGNDとの間に直列接続して
成る。 【0009】さて、図9及び図10を用いて動作を説明
する。先ず、クロックパルスφ1がH(ハイレベル)の
時、そのクロックパルスφ1をゲート入力とするNMO
S14と逆相パルスφ1 ̄をゲート入力とするPMOS
11とが同時に導通し、PMOS12とNMOS13と
がスイッチ動作をする。この時、入力されるデータDIN
がL(ローレベル)ならばPMOS12が導通しNMO
S13が遮断されるので、出力節点7はGNDから絶縁
され、PMOS11,12が導通していることより、出
力節点7の信号DIN ̄はHとなる。逆に、データDIN
HならばNMOS13が導通しPMOS12が遮断され
るので、出力節点7は電源から絶縁され、NMOS1
3,14がGNDと導通していることより、信号DIN
はLとなる。 【0010】次に、信号DIN ̄は次段のクロックドCM
OSインバータ15のPMOS17とNMOS18にゲ
ート入力されるわけであるが、図10に示す様に、クロ
ックパルスφ1がHの時には、クロックパルスφ2はL
なので、クロックパルスφ2をゲート入力とするNMO
S19と逆相パルスφ2 ̄をゲート入力とするPMOS
16は遮断されており、そのため、出力端子2は電源及
びGNDから絶縁され、出力信号DOUT は以前のレベル
を保持している。 【0011】その後、クロックパルスφ2がHになる
と、PMOS16とNMOS19とが同時に導通し、P
MOS17とNMOS18とがスイッチ動作をする。こ
の時、信号DIN ̄がLならば出力端子2には出力信号D
OUT としてHが出力され、逆に信号DIN ̄がHならばL
が出力される。 【0012】以上の様にして、従来では、2相クロック
タイプのダイナミック型フリップフロップを構成してい
た。 【0013】 【発明が解決しようとする課題】上記した従来のダイナ
ミック型フリップフロップにおいては、制御信号(Set
信号やReset信号など)を入力することができないの
で、セット及びリセットを行うことができなかった。即
ち、フリップフロップの状態を初期設定することができ
ないという問題があった。 【0014】本発明の目的は上記した従来技術の問題点
を解決し、状態を初期設定することができるダイナミッ
ク型フリップフロップを提供することにある。 【0015】 【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ために、本発明では、データとリセットネガティブ信号
とをそれぞれ入力し、その両者のナンド(NAND)
を、別に入力される第1のクロックパルスに同期して導
き、得られた結果を出力する第1のクロックドCMOS
ナンドゲートと、該第1のクロックドCMOSナンドゲ
ートからの出力信号とセットネガティブ信号とをそれぞ
れ入力し、その両者のナンド(NAND)を、別に入力
される第2のクロックパルスに同期して導き、得られた
結果を出力 する第2のクロックドCMOSナンドゲート
と、で構成され、前記リセットネガティブ信号をローレ
ベルにすることによりリセットを行い、前記セットネガ
ティブ信号をローレベルにすることによりセットを行い
得ると共に、前記リセットネガティブ信号と前記セット
ネガティブ信号とを共にローレベルにしたときには、セ
ットを優先的に行い得るようにした。 【0016】 【作用】本発明では、先ず、第1のクロックドCMOS
ナンドゲートは、前記データと前記リセットネガティブ
信号とを入力し、前記第1のクロックパルスに同期し
て、その両者のナンド(NAND)を導いて出力する。
次に、第2のクロックドCMOSナンドゲートは、前記
第1のクロックドCMOSナンドゲートからの出力信号
と前記セットネガティブ信号とを入力し、前記第2のク
ロックパルスに同期して、その両者のナンド(NAN
D)を導いて出力する。 【0017】このとき、入力された前記リセットネガテ
ィブ信号及びセットネガティブ信号が共にハイレベルで
あるならば、セットもリセットもされず、前記第2のク
ロックドCMOSナンドゲートからは前記データのほぼ
1クロック分遅延した信号が出力される。また、入力さ
れた前記リセットネガティブ信号がローレベルであり、
前記セットネガティブ信号がハイレベルであるならば、
リセットされて、前記第2のクロックドCMOSナンド
ゲートからはローレベルの信号が出力される。また、入
力された前記リセットネガティブ信号がハイレベルであ
り、前記セットネガティブ信号がローレベルであるなら
ば、セットされて、前記第2のクロックドCMOSナン
ドゲートからはハイレベルの信号が出力される。 【0018】さらにまた、セットネガティブ信号がロー
レベルである限り、第2のクロックドCMOSナンドゲ
ートから出力される信号は、第1のクロックドCMOS
ナンドゲートからの出力信号に関わらず、常にハイレベ
ルとなるため、入力された前記リセットネガティブ信号
及びセットネガティブ信号が共にローレベルであるなら
ば、リセットはされずに優先的にセットされて、前記第
2のクロックドCMO Sナンドゲートからはハイレベル
の信号が出力される。即ち、本発明は、セット優先のダ
イナミック型フリップフロップとなる。 【0019】 【実施例】以下、本発明の実施例を図面を用いて説明す
る。 【0020】図1は本発明の第1の実施例を示す回路
図、図2は図1の具体的な回路構成を示す回路図、図3
及び図4は図2の要部信号波形を示す波形図、である。 【0021】図1において、40,50はクロックドC
MOSナンドゲートであり、また、図2において、4
1,42,43,51,52,53はPMOS、44,
45,46,54,55,56はNMOS、である。 【0022】本実施例は、図1に示すように、データD
INと制御信号としてのReset Negative 信号(図では
RNと表す)との論理演算をクロックパルスφに同期し
て行う1段目のクロックドCMOSナンドゲート40
と、その出力信号DIN ̄と制御信号としてのSet Neg
ative 信号(図ではSNと表す)との論理演算をクロッ
クパルスφの逆相パルスφに同期して行う2段目のクロ
ックドCMOSナンドゲート50と、で構成されてお
り、出力信号としてDOUT を出力するものである。 【0023】では、図2を用いて、本実施例の構成を更
に詳しく説明する。1段目のクロックドCMOSナンド
ゲート(以下、NANDと呼ぶ)40は、入力端子1よ
り入力されるデータDINをゲート入力とするNMOS4
6と、入力端子8より入力されるReset Negative 信
号をゲート入力とするNMOS45と、入力端子4より
入力されるクロックパルスφをゲート入力とするNMO
S44とを、それぞれ、そのソース端子をGND側に、
そのドレイン端子を出力節点7側に配した上で、GND
と出力節点7との間に直列接続すると共に、入力端子3
より入力される逆相クロックパルスφ ̄をゲート入力と
するPMOS43のドレイン端子を出力節点7に接続
し、そのソース端子と電源との間に、入力端子1より入
力されるデータDINをゲート入力とするPMOS41
と、入力端子8より入力されるReset Negative 信号
をゲート入力とするPMOS42とを、それぞれ、その
ソース端子を電源側に、そのドレイン端子をPMOS4
3のソース端子側に配した上で、並列接続して構成され
る。 【0024】また、2段目のNAND50も、PMOS
51,52,53とNMOS54,55,56とを、そ
れぞれ、1段目のNAND40と同様に接続して、構成
されている。但し、PMOS51とNMOS56は、出
力節点7の信号DIN ̄をゲート入力としており、また、
PMOS52とNMOS55は入力端子9より入力され
るSet Negative 信号をゲート入力としており、PM
OS53は入力端子4より入力されるクロックパルスφ
をゲート入力としており、NMOS54は入力端子3よ
り入力される逆相パルスφ ̄をゲート入力としている。 【0025】次に、本実施例の動作について、図2及び
図3を用いて説明する。 【0026】セット及びリセットを行わない場合には、
Set Negative 信号及びResetNegative 信号は共に
Hであリ、従って、その場合にはPMOS42と52が
オフとなり、NMOS45と55がオンになっている。
この時の動作は、NAND40がクロックパルスφの立
上りに同期して動作し、NAND50が逆相パルスφの
立上りに同期して動作して、出力信号DOUT としては、
データDINが逆相パルスφの立上りに同期した信号とな
って出力されることになる。この時の信号波形は図4に
示した通りである。 【0027】次に、リセットを行う場合には、図3に示
す様にReset Negative 信号をLにする。尚、Reset
Negative 信号をLにする期間はその期間内にクロッ
クパルスφの立上りが来るように予め設定されている。 【0028】この様にReset Negative 信号がLにな
ると、NAND40のPMOS42がオンとなり、NM
OS45がオフとなるため、出力節点7はGNDと絶縁
される。従って、その後、クロックパルスφがHになる
と、PMOS43がオンとなるので、出力節点7は電源
と導通し、それにより、信号DIN ̄はデータDINに無関
係に必ずHとなる。一方、NAND50の動作はセット
及びリセットを行わない場合と同様であるので、信号D
IN ̄がHである場合、逆相パルスφ ̄がHになると、出
力端子2からの出力信号DOUT は、信号DIN ̄の反転信
号であるLとなり、この結果、データのリセットが行わ
れたことになる。 【0029】次に、セットを行う場合には、図3に示す
様にSet Negative 信号をLにする。尚、Set Neg
ative 信号をLにする期間はその期間内に逆相パルスφ
 ̄の立上りが来るように予め設定されている。 【0030】この様にSet Negative 信号がLになる
と、NAND50のPMOS52がオンとなり、NMO
S55がオフとなるため、出力端子2はGNDから絶縁
される。従って、その後、逆相パルスφ ̄がHになる
と、PMOS53がオンとなるので、出力端子2は電源
と導通し、それにより出力信号DOUT は、DIN ̄に無関
係に必ずHとなり、この結果、データのセットが行われ
たことになる。 【0031】以上の様に、データのセット及びリセット
図3に示す如く、逆相クロックパルスφ ̄の立上りに
同期して行われる。 【0032】尚、Set Negative 信号をLにすれば、
信号DIN ̄が何であれ、出力信号DOUT は必ずHになっ
てしまうので、例えその直前にReset Negative 信号
がLとなっていても、優先的にセットされてしまう。 【0033】以上述べた様に、本実施例は、クロックド
CMOSナンドゲートで構成され、単相クロックにて動
作し、逆相クロックパルスφ ̄の立上りに同期してセッ
ト及びリセットを行うセット優先のダイナミック型セッ
ト・リセットフリップフロップの例である。 【0034】図5は本発明の第2の実施例を示す回路
図、図6図5の具体的な回路構成を示す回路図、図7
図6の要部信号波形を示す波形図、である。 【0035】図5に示すように、本実施例は、前述の
1の実施例と同様、クロックドCMOSナンドゲートで
構成されたセット優先のダイナミック型セット・リセッ
トフリップフロップの例である。本実施例が第1の実施
例と異なる点は、2相クロックにて動作する点である。 【0036】即ち、図6に示すように、NAND40に
おいて、NMOS44は入力端子4より入力されるクロ
ックパルスφ1をゲート入力としており、また、PMO
S43は入力端子3より入力されるクロックパルスφ1
の逆相パルスφ1 ̄をゲート入力としており、従って、
NAND40はクロックパルスφ1の立上りに同期して
動作することになる。一方、NAND50において、N
MOS54は入力端子6より入力されるクロックパルス
φ2をゲート入力としており、また、PMOS53は入
力端子5より入力されるクロックパルスφ2の逆相パル
スφ2 ̄をゲート入力としており、従って、NAND5
0はクロックパルスφ2の立上りに同期して動作するこ
とになる。 【0037】本実施例において、セット及びリセットを
行わない場合、Set Negative 信号及びReset Neg
ative 信号が共にHで、PMOS42と52がオフ,N
MOS45と55がオンとなるので、その場合の動作は
図10に示した従来例の場合と同じとなり、従って、そ
の時の信号波形は図11に示した如くになる。 【0038】また、本実施例において、セットまたはリ
セットを行う場合の動作は、第1の実施例におけるセッ
トまたはリセットを行う場合の動作とほぼ同じとなる。
但し、本実施例では、セット及びリセットはクロックパ
ルスφ2の立上りに同期して行なわれ、その時の信号波
形は図7に示す如くになる。 【0039】尚、図7において、Reset Negative 信
号をLにする期間はその期間内にクロックパルスφ1の
立上りが来るように、また、Set Negative 信号をL
にする期間はその期間内にクロックパルスφ2の立上り
が来るように、それぞれ、予め設定されている。 【0040】ところで、クロックパルスφ1,φ2の様
な2相クロックを発生させる手段としては様々な手段が
考えられるが、ここではその一手段を図8に示し、簡単
にその動作を説明する。 【0041】図8に示す回路は2入力ノアゲート10
8,109とインバータ107とで構成されており、2
入力ノアゲート108,109を交差結合させ、2入力
ノアゲート108に、マスタークロックMCKと2入力
ノアゲート109からの出力信号とを入力し、2入力ノ
アゲート109に、マスタークロックMCKをインバー
タ107によって反転させた信号MCK ̄と2入力ノア
ゲート108からの出力信号とを入力することにより、
重複しない2相クロックとしてクロックパルスφ1,φ
2を得る。 【0042】また、前述した各実施例のダイナミック型
フリップフロップを複数個縦続に接続し、クロックパル
スを入力するクロック入力端子同士、及び、Set Neg
ative 信号を入力するセット入力端子同士、或いはRes
et Negative 信号を入力するリセット入力端子同士、
をそれぞれ接続して、シフトレジスタを構成した場合に
は、セット入力端子よりSet Negative 信号を、リセ
ット入力端子よりReset Negative 信号を、それぞれ
入力することにより、縦続に接続されたすべてのフリッ
プフロップを同時にセット或いはリセットして、それら
の状態を初期設定することができる。 【0043】 【発明の効果】本発明によれば、従来技術において実現
できなかったセット及びリセットを行うことができるダ
イナミック型フリップフロップを、簡単な回路構成で実
現することができるという効果がある。 【0044】また、本発明によれば、リセットネガティ
ブ信号とセットネガティブ信号とを共にローレベルにし
たときには、セットを優先的に行うことができ、セット
優先のダイナミック型フリップフロップを実現すること
ができる。
【図面の簡単な説明】 【図1】本発明の第1の実施例を示す回路図である。 【図2】図1の具体的な回路構成を示す回路図である。 【図3】図2の要部信号波形を示す波形図である。 【図4】図2の要部信号波形を示す波形図である。 【図5】本発明の第2の実施例を示す回路図である。 【図6】図5の具体的な回路構成を示す回路図である。 【図7】図6の要部信号波形を示す波形図である。 【図8】2相クロックの発生手段の一具体例を示す回路
図である。 【図9】従来のダイナミック型フリップフロップを示す
回路図である。 【図10】図9の具体的な回路構成を示す回路図であ
る。 【図11】図10の要部信号波形を示す波形図である。 【符号の説明】 1…入力端子、2…出力端子、3,4,5,6…クロッ
クパルスの入力端子、8,9…制御信号の入力端子、1
0,15…クロックドCMOSインバータ、40,50
…クロックドCMOSナンドゲート。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭51−93834(JP,A) 特開 昭56−36219(JP,A) 特開 昭55−104121(JP,A) 特開 昭60−20620(JP,A) 特開 昭63−254815(JP,A)

Claims (1)

  1. (57)【特許請求の範囲】 1.データとリセットネガティブ信号とをそれぞれ入力
    し、その両者のナンド(NAND)を、別に入力される
    第1のクロックパルスに同期して導き、得られた結果を
    出力する第1のクロックドCMOSナンドゲートと、該
    第1のクロックドCMOSナンドゲートからの出力信号
    とセットネガティブ信号とをそれぞれ入力し、その両者
    のナンド(NAND)を、別に入力される第2のクロッ
    クパルスに同期して導き、得られた結果を出力する第2
    のクロックドCMOSナンドゲートと、で構成され、前
    記リセットネガティブ信号をローレベルにすることによ
    りリセットを行い、前記セットネガティブ信号をローレ
    ベルにすることによりセットを行い得ると共に、前記リ
    セットネガティブ信号と前記セットネガティブ信号とを
    共にローレベルにしたときには、セットを優先的に行い
    得るようにしたことを特徴とするダイナミック型フリッ
    プフロップ。
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