JP2696772B2 - リードフレーム組立体とその加工方法 - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、リード付き半導体チップ支持体のための
リードフレームとその加工技術とに関する。特にこの発
明は、封入に先立って完全に非破壊的な方法で組立品の
完全かつ綿密な試験が可能であるような、リードフレー
ムの設計と加工方法とに関する。
リードフレームとその加工技術とに関する。特にこの発
明は、封入に先立って完全に非破壊的な方法で組立品の
完全かつ綿密な試験が可能であるような、リードフレー
ムの設計と加工方法とに関する。
[従来の技術] 半導体パッケージを生産するために用いられる装置に
おいて、チップはチップ台座上に取り付けられ、チップ
台座の接触域からパッケージの中の同様の領域又はパッ
ケージの中のチップへ接続が行われる。パッケージの外
部接続線は、プリント配線板に取り付けられるリードの
形を取る。面取り付け技術の利用により、プリント配線
板上で空間を交互に占有する寸法についてパッケージを
小さくすることができる。
おいて、チップはチップ台座上に取り付けられ、チップ
台座の接触域からパッケージの中の同様の領域又はパッ
ケージの中のチップへ接続が行われる。パッケージの外
部接続線は、プリント配線板に取り付けられるリードの
形を取る。面取り付け技術の利用により、プリント配線
板上で空間を交互に占有する寸法についてパッケージを
小さくすることができる。
現在の加工工程は一般的に、つながったリードフレー
ムがそれぞれ少なくとも一つのチップ位置を有するよう
な帯の形でリードフレーム組立体を取り扱う。つながっ
たリードフレームは、組み立てられたリード付き半導体
パッケージを作るために種々の自動化された段階又は加
工工程を施される連続した帯を供給するように、リール
上に巻き付けられている。かかるパッケージは気密型で
あるか、又は主として市販用途に用いられる非気密型
(プラスチックパッケージ)である。例えばアメリカ合
衆国特許第4214364号明細書は、受動的及び能動的の電
気及び電子デバイスの気密型及び非気密型パッケージ加
工を記述し、この加工は帯状の従来のリードフレームを
用いる半導体デバイスに特に適している。
ムがそれぞれ少なくとも一つのチップ位置を有するよう
な帯の形でリードフレーム組立体を取り扱う。つながっ
たリードフレームは、組み立てられたリード付き半導体
パッケージを作るために種々の自動化された段階又は加
工工程を施される連続した帯を供給するように、リール
上に巻き付けられている。かかるパッケージは気密型で
あるか、又は主として市販用途に用いられる非気密型
(プラスチックパッケージ)である。例えばアメリカ合
衆国特許第4214364号明細書は、受動的及び能動的の電
気及び電子デバイスの気密型及び非気密型パッケージ加
工を記述し、この加工は帯状の従来のリードフレームを
用いる半導体デバイスに特に適している。
従来の製品とパッケージ加工技術との主な欠点は、封
入に先立って組み立てられたパッケージを試験できない
ことである。封入の後に内部のチップ又は接続を再加工
するためにパッケージを開放することは経路上実際的で
ない。モールドパッケージの場合には封入の開放は全く
実際的でない。それ故にパッケージされた半導体回路の
生産歩留まりは、欠陥のある組立体の再加工ができない
ために低下する。多数のチップを内蔵するパッケージで
は、失敗の機会はチップとこれに施される作業の数が増
すにつれて増す。従ってチップ又はパッケージの再加工
の機会を見逃すことは、比較的複雑なチップ組立体に関
しては相対的歩留まり自体と投資の絶対額との両観点か
ら不利である。
入に先立って組み立てられたパッケージを試験できない
ことである。封入の後に内部のチップ又は接続を再加工
するためにパッケージを開放することは経路上実際的で
ない。モールドパッケージの場合には封入の開放は全く
実際的でない。それ故にパッケージされた半導体回路の
生産歩留まりは、欠陥のある組立体の再加工ができない
ために低下する。多数のチップを内蔵するパッケージで
は、失敗の機会はチップとこれに施される作業の数が増
すにつれて増す。従ってチップ又はパッケージの再加工
の機会を見逃すことは、比較的複雑なチップ組立体に関
しては相対的歩留まり自体と投資の絶対額との両観点か
ら不利である。
複雑なチップ組立体の一つの主要な適用例は、非常に
多くのデバイスが表示マトリックスのための配列方式で
用いられる表示用パッケージの場合である。一般にまた
特に前記の例では、まだリードフレーム帯の中にあり従
って欠陥のある組立体が封入に先立って再加工できる間
に、組み立てられたパッケージを試験することができれ
ば非常に有利でありかつ経済的に有益である。かかる試
験はまた、パッケージと延性の大きい材料から成る小さ
いリードとに対する損傷を低減又は排除するような方法
で実施されるべきである。
多くのデバイスが表示マトリックスのための配列方式で
用いられる表示用パッケージの場合である。一般にまた
特に前記の例では、まだリードフレーム帯の中にあり従
って欠陥のある組立体が封入に先立って再加工できる間
に、組み立てられたパッケージを試験することができれ
ば非常に有利でありかつ経済的に有益である。かかる試
験はまた、パッケージと延性の大きい材料から成る小さ
いリードとに対する損傷を低減又は排除するような方法
で実施されるべきである。
[発明が解決しようとする課題] 個々のリードフレームのリードがリードフレーム帯か
ら電気的に絶縁され、一方同時にリードフレーム帯によ
り機械的に支持されるようになっているリードフレーム
組立体を用いることが、この発明の特徴である。リード
フレーム帯から機械的に支えることにより、リードフレ
ームは試験中に通常の探触力に耐え、個々のリードに大
きい変形を生じることなく信頼性のある電気的接続を保
証することができる。
ら電気的に絶縁され、一方同時にリードフレーム帯によ
り機械的に支持されるようになっているリードフレーム
組立体を用いることが、この発明の特徴である。リード
フレーム帯から機械的に支えることにより、リードフレ
ームは試験中に通常の探触力に耐え、個々のリードに大
きい変形を生じることなく信頼性のある電気的接続を保
証することができる。
この発明の一つの目的は、従来のプローブの物理的接
触に耐えるように各小リードの両端で機械的な支持を行
うために、射出成形技術を利用することである。
触に耐えるように各小リードの両端で機械的な支持を行
うために、射出成形技術を利用することである。
この発明の別の目的は、リードフレーム組立体に絶縁
性支持部材を提供し、そしてその後にリードフレームの
リードが電気的に絶縁されるように金属の支持構造部を
除去することである。
性支持部材を提供し、そしてその後にリードフレームの
リードが電気的に絶縁されるように金属の支持構造部を
除去することである。
この発明の更に別の目的は、低コストのパッケージ及
び組み立て技術を主な特徴とする従来の加工工程と矛盾
することなく、再加工の完全な経済的利益が実現される
ために最小数の作業を行うという、この発明の付随的な
特徴と利点とを提供することである。
び組み立て技術を主な特徴とする従来の加工工程と矛盾
することなく、再加工の完全な経済的利益が実現される
ために最小数の作業を行うという、この発明の付随的な
特徴と利点とを提供することである。
[課題を解決するための手段] この目的はこの発明の基づき請求項1、請求項8及び
請求項13に記載の手段により達成される。
請求項13に記載の手段により達成される。
この発明は、自動加工環境の中における繰り返し試験
の連続的な作業が可能となるように、リードフレーム組
立体の形状と、機械的な支持が与えられ同時に電気的な
絶縁が与えられるような関連性のある工程とを採用す
る。そして試験に不合格な組立体が修復のために再加工
される。これらの修復された組立体は、再試験に合格し
た後に当初に試験作業に合格した組立体と同様な方法で
封入される。
の連続的な作業が可能となるように、リードフレーム組
立体の形状と、機械的な支持が与えられ同時に電気的な
絶縁が与えられるような関連性のある工程とを採用す
る。そして試験に不合格な組立体が修復のために再加工
される。これらの修復された組立体は、再試験に合格し
た後に当初に試験作業に合格した組立体と同様な方法で
封入される。
[実施例] 次にこの発明に基づくリードフレーム組立体の複数の
実施例を示す図面により、この発明を詳細に説明する。
実施例を示す図面により、この発明を詳細に説明する。
第1図は一般的に半導体パッケージ組立体の加工に用
いられる技術の現状を示す。基本的に、連続する打ち抜
かれたリードフレームの形の金属製のリードフレーム帯
11が、第1のリール10から第2のリール12に向かって巻
かれる。第1のリール10は、加工のためのリードフレー
ム供給源として働くために反時計方向に回転する。一般
的な加工段階として、リードフレーム帯11上にパッケー
ジを形成するために成形装置14で射出成形が行われる。
帯11は成形装置14を通過し一段ごとに前進される。各機
械サイクルの間に帯11の一区画が成形装置14に入り、プ
ラスチックが射出成形によりこの区画に取り付けられ
る。射出成形加工の間に一つ又は複数のリードフレーム
を同時に処理することができる。第2のリール12は同じ
く反時計方向に回転することにより巻き取りリールとし
て働く。
いられる技術の現状を示す。基本的に、連続する打ち抜
かれたリードフレームの形の金属製のリードフレーム帯
11が、第1のリール10から第2のリール12に向かって巻
かれる。第1のリール10は、加工のためのリードフレー
ム供給源として働くために反時計方向に回転する。一般
的な加工段階として、リードフレーム帯11上にパッケー
ジを形成するために成形装置14で射出成形が行われる。
帯11は成形装置14を通過し一段ごとに前進される。各機
械サイクルの間に帯11の一区画が成形装置14に入り、プ
ラスチックが射出成形によりこの区画に取り付けられ
る。射出成形加工の間に一つ又は複数のリードフレーム
を同時に処理することができる。第2のリール12は同じ
く反時計方向に回転することにより巻き取りリールとし
て働く。
第2図は連続する打ち抜かれたリードフレーム帯11の
一区画を示す。リードフレーム帯は延性かつ導電性の金
属から作られるのが有利である。例えば適した金属はオ
リン(OLIN)151として知られた銅合金である。アルミ
ニウム超音波ワイヤボンディングのために、金属は選択
された領域を金めっきされている。
一区画を示す。リードフレーム帯は延性かつ導電性の金
属から作られるのが有利である。例えば適した金属はオ
リン(OLIN)151として知られた銅合金である。アルミ
ニウム超音波ワイヤボンディングのために、金属は選択
された領域を金めっきされている。
リードフレームは支持部分22、位置決め部材24、第1
の復数の水平リード16、第1の復数の垂直リード18及び
第2の復数の垂直リード20を備える。支持部分22、リー
ド16、18、20及び位置決め部材24はリードフレームの部
分として一体にまとめて形成されている。支持部分22は
位置決め孔26と支持耳28とを備える。リード16、18、20
の外側端部は、工程に従って製作される集積回路(IC)
パッケージの外部リードを形成する。
の復数の水平リード16、第1の復数の垂直リード18及び
第2の復数の垂直リード20を備える。支持部分22、リー
ド16、18、20及び位置決め部材24はリードフレームの部
分として一体にまとめて形成されている。支持部分22は
位置決め孔26と支持耳28とを備える。リード16、18、20
の外側端部は、工程に従って製作される集積回路(IC)
パッケージの外部リードを形成する。
第3図ないし第6図は、U字形のプラスチック部材30
がリード16、18、20と支持部分22との間の絶縁性部材と
して働くようなリードフレームを示す。一つの成形段階
でプラスチック部材30が作られる。プラスチック部材30
は、支持部分22、支持耳28、位置決め部材24の端部36及
びリード16、18、20の端部が協働するように、リード1
6、18、20に成形される。この協働はリードフレームの
支持部分22の内部でリード16、18、20を支持するのに役
立ち、一方またリード16、18、20をリードフレームから
電気的に絶縁する。
がリード16、18、20と支持部分22との間の絶縁性部材と
して働くようなリードフレームを示す。一つの成形段階
でプラスチック部材30が作られる。プラスチック部材30
は、支持部分22、支持耳28、位置決め部材24の端部36及
びリード16、18、20の端部が協働するように、リード1
6、18、20に成形される。この協働はリードフレームの
支持部分22の内部でリード16、18、20を支持するのに役
立ち、一方またリード16、18、20をリードフレームから
電気的に絶縁する。
この成形段階ではまた方形のプラスチック絶縁リング
及び/又は台座部材32が作られ、この部材はリード16、
18、20の間の機械的支持兼絶縁部材として働く。プラス
チック部材32は、リード16、18、20が相互に物理的な位
置を維持し一方また相互に電気的に絶縁されるように、
リード16、18、20に成形される。プラスチック部材32は
また半導体ICパッケージの一部を形成するために役立
つ。第3図及び第4図はまた、指状部16上への成形材料
のはみ出しを防ぐのに役立つ多数の成形空所34を示す
(分かり易いように部分的に示されている)。
及び/又は台座部材32が作られ、この部材はリード16、
18、20の間の機械的支持兼絶縁部材として働く。プラス
チック部材32は、リード16、18、20が相互に物理的な位
置を維持し一方また相互に電気的に絶縁されるように、
リード16、18、20に成形される。プラスチック部材32は
また半導体ICパッケージの一部を形成するために役立
つ。第3図及び第4図はまた、指状部16上への成形材料
のはみ出しを防ぐのに役立つ多数の成形空所34を示す
(分かり易いように部分的に示されている)。
例として部材30、32のための適した材料はポリエーテ
ルイミドである。かかる材料はゼネラル エレクトリッ
ク(General Electric)社から購入できウルテム(ULTE
M)1000として知られている。
ルイミドである。かかる材料はゼネラル エレクトリッ
ク(General Electric)社から購入できウルテム(ULTE
M)1000として知られている。
部材30、32がリードフレームに成形された後に、位置
決め部材24がリード16、18、20及び支持フレーム22から
打ち抜いて取り去られる。第3図には位置決め部材24の
打ち抜いて取り去られる部分がハッチングにより示され
ている。続いてチップの形のデバイス又は回路を台座に
取り付け、電気的リードにワイヤボンディングすること
ができる。
決め部材24がリード16、18、20及び支持フレーム22から
打ち抜いて取り去られる。第3図には位置決め部材24の
打ち抜いて取り去られる部分がハッチングにより示され
ている。続いてチップの形のデバイス又は回路を台座に
取り付け、電気的リードにワイヤボンディングすること
ができる。
更にパッケージ加工の前にリードフレームがまだ帯の
状態にある間に、回路全体が電気的リード16、18、20へ
作動電圧を加えることにより試験される。リード16、1
8、20は部材30に介して支持部分22からまた部材32を介
して相互に電気的に絶縁されているので、この配置を用
いることによりかかる試験が可能かつ好都合となる。部
材30、32により提供される機械的な支持により、試験作
業中にリードフレームの延性の大きい金属に変形を生じ
ることなく接触クローブを任意の個所でリードに押し付
けることができる。
状態にある間に、回路全体が電気的リード16、18、20へ
作動電圧を加えることにより試験される。リード16、1
8、20は部材30に介して支持部分22からまた部材32を介
して相互に電気的に絶縁されているので、この配置を用
いることによりかかる試験が可能かつ好都合となる。部
材30、32により提供される機械的な支持により、試験作
業中にリードフレームの延性の大きい金属に変形を生じ
ることなく接触クローブを任意の個所でリードに押し付
けることができる。
試験及び再加工の後に回路は組立体としてパッケージ
となるように封入する準備が完了する。封入はトランス
ファ成形により行われる。表示用チップ又は光学的ドラ
イバチップ(オプトアイソレータ)の場合には、封入材
料は第5図及び第6図に示すような透明な熱硬化性プラ
スチック材料である。ほかの場合には不透明な熱硬化性
プラスチック材料を用いることができる。それ故にこの
形式のパッケージ加工方式は、種々の集積回路及びデバ
イスのチップが採用されるような種々の用途に適してい
る。
となるように封入する準備が完了する。封入はトランス
ファ成形により行われる。表示用チップ又は光学的ドラ
イバチップ(オプトアイソレータ)の場合には、封入材
料は第5図及び第6図に示すような透明な熱硬化性プラ
スチック材料である。ほかの場合には不透明な熱硬化性
プラスチック材料を用いることができる。それ故にこの
形式のパッケージ加工方式は、種々の集積回路及びデバ
イスのチップが採用されるような種々の用途に適してい
る。
第5図に示す破線38はリード16、18、20が切断される
ときの切断線を示す。切断作業の後にリードは第6図に
示すようにパッケージの下側にJ形に曲げられる。この
配置は、プリント配線板上に取り付ける表面として非常
に便利なボンディング域をパッケージの底部分上に提供
する。
ときの切断線を示す。切断作業の後にリードは第6図に
示すようにパッケージの下側にJ形に曲げられる。この
配置は、プリント配線板上に取り付ける表面として非常
に便利なボンディング域をパッケージの底部分上に提供
する。
第7図ないし第15図は、前記の加工を行うことができ
るリードフレームの別の形式を示す。このリードフレー
ムは支持部分42、位置決め部材44、第1の復数の水平リ
ード46、第2の復数の水平リード47、第1の復数の垂直
リード48及び第2の復数の垂直リード50を備える。支持
部分42、リード46、47、48、50及び位置決め部材44はリ
ードフレームの部分として一体となるように成形されて
いる。支持部分42は位置決め孔43と支持孔58とを備え
る。リード46、47、48、50の外側端部は、工程に従って
製作されるICパッケージの外部リードを形成する。
るリードフレームの別の形式を示す。このリードフレー
ムは支持部分42、位置決め部材44、第1の復数の水平リ
ード46、第2の復数の水平リード47、第1の復数の垂直
リード48及び第2の復数の垂直リード50を備える。支持
部分42、リード46、47、48、50及び位置決め部材44はリ
ードフレームの部分として一体となるように成形されて
いる。支持部分42は位置決め孔43と支持孔58とを備え
る。リード46、47、48、50の外側端部は、工程に従って
製作されるICパッケージの外部リードを形成する。
この形式のリードフレームでは、方形の絶縁リング60
がリード46、47、48、50と支持部分42との間の絶縁性部
材として働く。一つの成形段階でプラスチック部材60が
作られる。プラスチック部材60が支持部分42、支持孔58
及びリード46、47、48、50の端部と協働するように、プ
ラスチック部材60がリード46、47、48、50に成形され
る。この協働はリードフレームの支持部分42の内部でリ
ードを支持するのに役立ち、一方またリード46、47、4
8、50をリードフレームから電気的に絶縁する。
がリード46、47、48、50と支持部分42との間の絶縁性部
材として働く。一つの成形段階でプラスチック部材60が
作られる。プラスチック部材60が支持部分42、支持孔58
及びリード46、47、48、50の端部と協働するように、プ
ラスチック部材60がリード46、47、48、50に成形され
る。この協働はリードフレームの支持部分42の内部でリ
ードを支持するのに役立ち、一方またリード46、47、4
8、50をリードフレームから電気的に絶縁する。
この成形段階ではまた、リード46、47、48、50の間の
絶縁性部材として働く方形のプラスチック絶縁リング及
び/又は台座部材62が作られる。プラスチック部材62も
また、リード46、47、48、50が相互にこれらの物理的位
置を維持し一方また相互に電気的に絶縁されるように、
リード46、47、48、50に成形される。このプラスチック
部材62もまた半導体ICパッケージの一部を形成するのに
役立つ。
絶縁性部材として働く方形のプラスチック絶縁リング及
び/又は台座部材62が作られる。プラスチック部材62も
また、リード46、47、48、50が相互にこれらの物理的位
置を維持し一方また相互に電気的に絶縁されるように、
リード46、47、48、50に成形される。このプラスチック
部材62もまた半導体ICパッケージの一部を形成するのに
役立つ。
部材60、62がリードフレームに成形された後に、位置
決め部材44がリード46、47、48、50及び支持フレーム42
から打ち抜いて取り去られる。第8図には、位置決め部
材44の打ち抜いて取り去られる部分がハッチング域によ
り示されている。その後にICが取り付けられ、リードフ
レームの第1の形態に対して説明されたように試験され
封入される。
決め部材44がリード46、47、48、50及び支持フレーム42
から打ち抜いて取り去られる。第8図には、位置決め部
材44の打ち抜いて取り去られる部分がハッチング域によ
り示されている。その後にICが取り付けられ、リードフ
レームの第1の形態に対して説明されたように試験され
封入される。
第10図ないし第15図はIC封入の別の形を示す。第10図
及び第11図は、ICの周りに封入構造体を形成するために
協働するプラスチック部材62、蓋64及び台座66を示す。
構造内部の空所67には空気を充填するか、又はシリコー
ンを充填することができる。第12図及び第13図は、頂部
カバー68と底カバー70とがIC、プラスチック部材62及び
台座66を封入するように形成された封入の別の形式を示
す。第14図及び第15図は、充填材料70がICを封入するた
めにプラスチック部材62及び台座66と協働する封入の更
に別の形式を示す。
及び第11図は、ICの周りに封入構造体を形成するために
協働するプラスチック部材62、蓋64及び台座66を示す。
構造内部の空所67には空気を充填するか、又はシリコー
ンを充填することができる。第12図及び第13図は、頂部
カバー68と底カバー70とがIC、プラスチック部材62及び
台座66を封入するように形成された封入の別の形式を示
す。第14図及び第15図は、充填材料70がICを封入するた
めにプラスチック部材62及び台座66と協働する封入の更
に別の形式を示す。
この発明の二つの実施例及び幾つかの変形例を図示説
明したけれど、この発明の範囲から逸脱することなく種
々の他の変更及び変形を行うことができる。例えば、絶
縁性部材が種々のリードフレームの形態に適するよう
に、絶縁性部材の形を変更することができる。
明したけれど、この発明の範囲から逸脱することなく種
々の他の変更及び変形を行うことができる。例えば、絶
縁性部材が種々のリードフレームの形態に適するよう
に、絶縁性部材の形を変更することができる。
第1図はリードフレーム帯の加工装置の配置図、第2図
はこの発明に基づくリードフレーム帯の一実施例の一区
画を示す平面図、第3図は第2図に示すリードフレーム
の或る組立段階を示す平面図、第4図は第3図に示すリ
ードフレームの切断線4−4による断面図、第5図は第
2図に示すリードフレームの別の組立段階を示す平面
図、第6図は第5図に示すリードフレームの切断線6−
6による断面図、第7図はこの発明に基づくリードフレ
ーム帯の別の実施例の一区画を示す平面図、第8図は第
7図に示すリードフレームの或る組立段階を示す平面
図、第9図は第8図に示すリードフレームの切断線9−
9による断面図、第10図、第12図及び第14図はそれぞれ
第7図に示すリードフレームの異なる組立体の部分平面
図、第11図、第13図及び第15図はそれぞれ第10図の切断
線11−11、第12図の切断線13−13及び第14図の切断線15
−15によるリードフレーム組立体の断面図である。 11……リードフレーム帯 16、18、20、46、47、48、50……リード 22、42……支持部分 24、44……位置決め部材 26、43……位置決め孔 28……支持耳 30、60……第1の絶縁性(プラスチック)部材 32、62……第2の絶縁性(プラスチック)部材 58……支持孔
はこの発明に基づくリードフレーム帯の一実施例の一区
画を示す平面図、第3図は第2図に示すリードフレーム
の或る組立段階を示す平面図、第4図は第3図に示すリ
ードフレームの切断線4−4による断面図、第5図は第
2図に示すリードフレームの別の組立段階を示す平面
図、第6図は第5図に示すリードフレームの切断線6−
6による断面図、第7図はこの発明に基づくリードフレ
ーム帯の別の実施例の一区画を示す平面図、第8図は第
7図に示すリードフレームの或る組立段階を示す平面
図、第9図は第8図に示すリードフレームの切断線9−
9による断面図、第10図、第12図及び第14図はそれぞれ
第7図に示すリードフレームの異なる組立体の部分平面
図、第11図、第13図及び第15図はそれぞれ第10図の切断
線11−11、第12図の切断線13−13及び第14図の切断線15
−15によるリードフレーム組立体の断面図である。 11……リードフレーム帯 16、18、20、46、47、48、50……リード 22、42……支持部分 24、44……位置決め部材 26、43……位置決め孔 28……支持耳 30、60……第1の絶縁性(プラスチック)部材 32、62……第2の絶縁性(プラスチック)部材 58……支持孔
Claims (15)
- 【請求項1】リードフレームが集積回路のためのリード
を提供するようになっているリードフレーム帯のリード
フレームの加工方法において、支持部分とこの支持部分
に取り付けられた位置決め部材に更に取り付けられた多
数のリードとを画成する少なくとも一つのリードフレー
ムを画成するリードフレーム帯を用意し、集積回路をリ
ードに取り付け、リードを支持部分へ結合するための第
1の絶縁性部材を供給し、リードを相互に結合するため
の第2の絶縁性部材を供給し、リードが支持部分によっ
て支えられ一方支持部分からは電気的に絶縁されかつ相
互に電気的に絶縁されるように、絶縁性材料と支持部分
とリードとが協働するように位置決め部材を除去するこ
とから成るリードフレーム組立体の加工方法。 - 【請求項2】集積回路の試験段階を更に含むことを特徴
とする請求項1記載の方法。 - 【請求項3】集積回路を封入しかつリードをリードフレ
ームから切断することを更に含むことを特徴とする請求
項2記載の方法。 - 【請求項4】第1の絶縁性部材がほぼU字形の成形され
たプラスチック部材を形成するように成形されているこ
とを特徴とする請求項2記載の方法。 - 【請求項5】第2の絶縁性部材がほぼ方形の成形された
プラスチック部材を形成するように成形されていること
を特徴とする請求項4記載の方法。 - 【請求項6】第1の絶縁性部材がほぼ方形の成形された
プラスチック部材を形成するように成形されていること
を特徴とする請求項2記載の方法。 - 【請求項7】第2の絶縁性部材がほぼ方形の成形された
プラスチック部材を形成するように成形されていること
を特徴とする請求項6記載の方法。 - 【請求項8】リードフレームが集積回路のためのリード
を提供するようになっているリードフレーム帯のリード
フレームの加工方法において、支持部分とこの支持部分
に取り付けられた位置決め部材に更に取り付けられた多
数のリードとを画成する少なくとも一つのリードフレー
ムを画成するリードフレーム帯を用意し、リードを支持
部分へ結合するための第1のプラスチック部材を供給
し、リードを相互に結合するための第2のプラスチック
部材を供給し、リードが支持部分によって支えられ一方
支持部分からは電気的に絶縁されかつ相互に電気的に絶
縁されるように、絶縁性材料と支持部分とリードとが協
働するように位置決め部材を除去し、集積回路をリード
に取り付け、集積回路を試験し、集積回路の試験の後に
集積回路を封入し、集積回路の封入の後にリードをリー
ドフレームから切断することから成るリードフレーム組
立体の加工方法。 - 【請求項9】第1のプラスチック部材がほぼU字形の成
形部材を形成するように成形されていることを特徴とす
る請求項8記載の方法。 - 【請求項10】第2のプラスチック部材がほぼ方形の成
形部材を形成するように成形されていることを特徴とす
る請求項9記載の方法。 - 【請求項11】第1のプラスチック部材がほぼ方形の成
形部材を形成するように成形されていることを特徴とす
る請求項10記載の方法。 - 【請求項12】第2のプラスチック部材がほぼ方形の成
形部材を形成するように成形されていることを特徴とす
る請求項11記載の方法。 - 【請求項13】試験中に回路を支持するためのリードフ
レーム組立体において、回路と、この回路に接続するた
めの多数のリードと、支持部分と、この支持部分に対し
リードを電気的に絶縁しかつ支持するための第1の絶縁
性部材と、リードを相互に電気的に絶縁しかつ支持する
ための第2の絶縁性部材とを備えることを特徴とするリ
ードフレーム組立体。 - 【請求項14】第1の絶縁性部材に係合するための支持
耳を更に備え、支持部分が位置決め孔を画成し、第1の
絶縁性部材がほぼU字形であり、第2の絶縁性部材がほ
ぼ方形であることを特徴とする請求項13記載のリードフ
レーム組立体。 - 【請求項15】支持部分が第1の絶縁性部材に係合する
ための支持孔と位置決め孔とを画成し、第1の絶縁性部
材がほぼ方形であり、第2の絶縁性部材がほぼ方形であ
ることを特徴とする請求項13記載のリードフレーム組立
体。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US138887 | 1987-12-28 | ||
US07/138,887 US4859632A (en) | 1987-12-28 | 1987-12-28 | Method for manufacturing the same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH023262A JPH023262A (ja) | 1990-01-08 |
JP2696772B2 true JP2696772B2 (ja) | 1998-01-14 |
Family
ID=22484103
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63332768A Expired - Fee Related JP2696772B2 (ja) | 1987-12-28 | 1988-12-28 | リードフレーム組立体とその加工方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4859632A (ja) |
EP (1) | EP0331814B1 (ja) |
JP (1) | JP2696772B2 (ja) |
DE (1) | DE3885268T2 (ja) |
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