JP2680097B2 - Image signal correction method - Google Patents
Image signal correction methodInfo
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明はファクシミリ装置や製版用画像読取装置等に
おいて適用される画像信号の補正方法に関し、一層詳細
には、例えば、ライン状に配列された多数の光電変換部
で構成されるCCD（電荷結合素子）等の固体イメージセ
ンサを用いて原稿画像を読み取る際、当該光電変換部の
中、光電変換の感度が低いか、あるいは光電変換作用を
遂行しない光電変換部（以下欠陥光電変換部という）が
存在する場合に、当該欠陥光電変換部から得られる画像
信号を当該欠陥光電変換部の周辺に存在する光電変換部
から出力される画像信号を用いて補間処理することによ
り、例えば、固体イメージセンサによる画像の読み取り
に起因して発生する再生画像上のすじ状のむらを除去
し、高品質の画像を得ることを可能とした画像信号の補
正方法に関する。The present invention relates to a method for correcting an image signal applied to a facsimile apparatus, an image reading apparatus for plate making, or the like, and more specifically, for example, it is arranged in a line. When a document image is read using a solid-state image sensor such as a CCD (charge coupled device) that is composed of multiple photoelectric conversion units, the photoelectric conversion sensitivity of the photoelectric conversion units is low or the photoelectric conversion function is performed. When there is a photoelectric conversion unit (hereinafter referred to as a defective photoelectric conversion unit), the image signal obtained from the defective photoelectric conversion unit is used as the image signal output from the photoelectric conversion unit existing around the defective photoelectric conversion unit. By performing interpolation processing using the solid-state image sensor, for example, it is possible to remove streak-like unevenness on the reproduced image caused by reading the image with the solid-state image sensor and obtain a high-quality image. Relating to correction method of the image signal.
［発明の背景］ 例えば、印刷、製版の分野において作業工程の合理
化、画像品質の向上等を目的として原稿に担持された画
像情報を電気的に処理し、フイルム原版を作成する画像
走査再生システムが広範に用いられている。BACKGROUND OF THE INVENTION For example, an image scanning and reproducing system for electrically processing image information carried on a document to create a film original plate for the purpose of rationalizing work processes and improving image quality in the fields of printing and plate making. Widely used.
この画像走査再生システムは画像読取装置と画像再生
装置とから基本的に構成されている。すなわち、画像読
取装置では画像読取部において一方向に副走査搬送され
る原稿の画像情報がライン状の固体イメージセンサによ
って前記副走査方向と略直交する方向へ主走査された電
気信号に変換される。次に、前記画像読取装置で光電変
換された画像情報は製版条件に応じた階調補正、エッジ
強調等の演算処理が施された後、画像再生装置において
レーザ光等の光信号に変換されフイルム等の感光材料か
らなる画像記録担体上に再生される。なお、この画像記
録担体は所定の現像装置によって現像処理されたフイル
ム原版として印刷等に供されることになる。This image scanning / reproducing system is basically composed of an image reading device and an image reproducing device. That is, in the image reading device, the image information of the original document which is sub-scanned and conveyed in one direction in the image reading unit is converted by the linear solid-state image sensor into an electric signal which is main-scanned in a direction substantially orthogonal to the sub-scanning direction. . Next, the image information photoelectrically converted by the image reading device is subjected to arithmetic processing such as gradation correction and edge enhancement according to plate making conditions, and then converted into an optical signal such as a laser beam in the image reproducing device to be converted into a film. Reproduced on an image record carrier made of a light-sensitive material such as. The image record carrier is used for printing or the like as a film original plate developed by a predetermined developing device.
ところで、前記画像読取装置において原稿を主走査し
てその画像情報を読み取る場合、固体イメージセンサと
して多数の光電変換部を主走査方向に沿って一列に配列
したCCDイメージセンサ等が用いられている。この場
合、画像読取装置は当該CCDイメージセンサと光学系に
よって原稿を電子的に走査し蛍光灯等によって照明され
る原稿からの反射光あるいは透過光を光電変換して電気
信号を得るように構成されている。CCDイメージセンサ
等の固体イメージセンサを採用する画像読取装置は光を
フォトマルチプライヤ等で光電変換する画像読取装置に
比較して小型軽量に出来ることが広く採用されるに至っ
た主な理由である。By the way, in the image reading apparatus, when a document is main-scanned and its image information is read, a CCD image sensor having a large number of photoelectric conversion units arranged in a line along the main-scanning direction is used as a solid-state image sensor. In this case, the image reading device is configured to electronically scan the document by the CCD image sensor and the optical system and photoelectrically convert reflected light or transmitted light from the document illuminated by a fluorescent lamp or the like to obtain an electric signal. ing. The main reason for the widespread adoption of image reading devices that employ solid-state image sensors such as CCD image sensors is that they can be made smaller and lighter than image reading devices that photoelectrically convert light using photomultipliers. .
ところが、CCDイメージセンサ等の固体イメージセン
サを構成する各光電変換部には、例えば、製造上の欠陥
等により光入射があっても電気信号を全く出力しないか
あるいは電気信号を出力してもその光電変換感度が極め
て低い光電変換部が存在する場合がある。このため、こ
のような欠陥のある光電変換部を含むCCDイメージセン
サが適用される装置により得られる再生画像上にすじ状
の明暗むらを惹起するという不都合が指摘されている。
このすじ状の明暗むらは原稿画像の濃度が高濃度である
場合に特に顕著に確認される。However, for each photoelectric conversion unit that constitutes a solid-state image sensor such as a CCD image sensor, for example, even if light is incident due to a manufacturing defect or the like, no electric signal is output or even if an electric signal is output, There may be a photoelectric conversion part having extremely low photoelectric conversion sensitivity. Therefore, it has been pointed out that the inconvenience of causing streak-like uneven brightness on a reproduced image obtained by an apparatus to which a CCD image sensor including such a defective photoelectric conversion unit is applied.
The stripe-shaped light and dark unevenness is particularly noticeable when the original image has a high density.
［発明の目的］ 本発明は前記の不都合を克服するためになされたもの
であって、複数の光電変換部で構成される固体イメージ
センサを用いて実際に原稿画像を読み取る前に固体イメ
ージセンサを遮光した状態での出力信号、あるいは一様
な原稿画像を読み取った場合の出力信号から欠陥光電変
換部を特定し、実際に固体イメージセンサにより原稿画
像を読み取った際、前記欠陥光電変換部に対応する画像
信号を当該欠陥光電変換部の周辺の光電変換部から得ら
れる画像信号を用いて補間処理することにより、固体イ
メージセンサの画像読み取りに起因して発生する再生画
像上のすじ状の明暗むらを除去し高品質の画像を得るこ
とを可能とする画像信号の補正方法を提供することを目
的とする。[Object of the Invention] The present invention has been made in order to overcome the above-described inconvenience, and a solid-state image sensor is used before actually reading an original image using a solid-state image sensor including a plurality of photoelectric conversion units. Corresponds to the defective photoelectric conversion unit when the original image is actually read by the solid-state image sensor by specifying the defective photoelectric conversion unit from the output signal in the light-shielded state or the output signal when a uniform original image is read. By performing interpolation processing on the image signal using the image signal obtained from the photoelectric conversion unit in the vicinity of the defective photoelectric conversion unit, stripe-shaped light and dark unevenness on the reproduced image caused by the image reading of the solid-state image sensor. It is an object of the present invention to provide a method of correcting an image signal, which makes it possible to remove the noise and obtain a high quality image.
［目的を達成するための手段］ 前記の目的を達成するために、本発明は、光電変換部
がライン状に配列された固体イメージセンサから連続的
に出力される前記光電変換部毎の画像信号の中、予め特
定された欠陥光電変換部から出力される欠陥画像信号を
補正した後、隣接する画像信号を平均して平滑化を行う
ようにした画像信号の補正方法であって、 前記欠陥画像信号の補正処理は、ｉ番目の画像信号が
特定された欠陥画像信号であるとき、 少なくとも（ｉ−３）番目と（ｉ−１）番目の画像信
号、（ｉ−１）番目とｉ＋１）番目の画像信号、（ｉ＋
１）番目と（ｉ＋３）番目の画像信号の各々のコントラ
ストを調べ、 各コントラストが設定閾値に比較して高い場合には、
前記ｉ番目の画像信号として、（ｉ−１）番目の画像信
号と（ｉ＋１）番目の画像信号との平均の画像信号を欠
陥補正後の画像信号として出力し、 各コントラストが設定閾値に比較して低い場合には、
前記ｉ番目の画像信号として、（ｉ−２）番目の画像信
号と（ｉ＋２）番目の画像信号との平均の画像信号を欠
陥補正後の画像信号として出力することを特徴とする。[Means for Achieving the Object] In order to achieve the above object, the present invention provides an image signal for each photoelectric conversion unit that is continuously output from a solid-state image sensor in which photoelectric conversion units are arranged in a line. Among the above, after correcting a defect image signal output from a defect photoelectric conversion unit specified in advance, a method of correcting an image signal for performing smoothing by averaging adjacent image signals, wherein the defect image When the i-th image signal is a specified defective image signal, the signal correction process is performed by at least (i-3) -th and (i-1) -th image signals, (i-1) -th and i + 1) -th Image signal of (i +
The contrast of each of the 1) th and (i + 3) th image signals is examined, and when each contrast is higher than the set threshold value,
As the i-th image signal, an average image signal of the (i-1) -th image signal and the (i + 1) -th image signal is output as an image signal after defect correction, and each contrast is compared with a set threshold value. Is low,
As the i-th image signal, an average image signal of the (i-2) -th image signal and the (i + 2) -th image signal is output as a defect-corrected image signal.
［実施態様］ 次に、本発明に係る画像信号の補正方法についてこれ
を実施するための装置との関係において好適な実施態様
を挙げ、添付の図面を参照しながら以下詳細に説明す
る。[Embodiment] Next, the image signal correction method according to the present invention will be described in detail below with reference to preferred embodiments in relation to an apparatus for performing the same, with reference to the accompanying drawings.
第１図において、参照符号10は本実施態様に係る画像
信号の補正方法が適用される画像読取装置の読取部を示
す。この読取部10では原稿Ｓに担持された画像情報が光
源12からの照明光によって照明され、その反射光が集光
レンズ16を介して固体イメージセンサでありｎ個の光電
変換部Nn（ｎ＝１、２、３…、ｉ−１、ｉ、ｉ＋１…、
ｎ−１、ｎ）から構成される、例えば、CCDイメージセ
ンサ18により光電的に読み取られる。この場合、前記原
稿Ｓは図示しない搬送機構により矢印Ａ方向に副走査搬
送されると共に、CCDイメージセンサ18によって矢印Ｂ
方向に主走査させることでその全面の画像情報が読み取
られる。In FIG. 1, reference numeral 10 indicates a reading unit of an image reading apparatus to which the image signal correcting method according to the present embodiment is applied. In the reading unit 10, the image information carried on the document S is illuminated by the illumination light from the light source 12, and the reflected light is a solid-state image sensor via the condenser lens 16 and n photoelectric conversion units N n (n. = 1, 2, 3 ..., i-1, i, i + 1 ...,
n−1, n), which is photoelectrically read by a CCD image sensor 18, for example. In this case, the document S is sub-scanned and conveyed by the CCD image sensor 18 in the direction of arrow A by a conveying mechanism (not shown).
By performing the main scanning in the direction, the image information on the entire surface is read.
一方、CCDイメージセンサ18によって光電変換された
画像情報はオフセット／利得調整回路20、A/D変換器22
を介して前記光電変換部Nnに対応する画像信号Vn（ｎ＝
１、２、…、ｉ−１、ｉ、ｉ＋１…、ｎ−１、ｎ）とし
て詳細を後述する信号補正回路24に導入され、この信号
補正回路24を介して画像信号VO（Ｏ＝１、２…、ｉ−
１、ｉ、ｉ＋１…、ｎ−１、ｎ）に変換された信号処理
回路26に導入される。信号処理回路26では階調補正、輪
郭強調等の画像処理が施され、これらの画像処理後の画
像信号が網点画像信号発生部28に導入される。前記画像
信号はこの網点画像信号発生部28において、網点信号に
基づいて所定の網点サイズからなる２値信号に変換さ
れ、当該２値信号がレーザ走査部30に導入される。そし
て、レーザ走査部30において、前記２値信号に基づいて
レーザ光をオン／オフ制御すると共に当該オン／オフ制
御されレーザ光を光偏向器（図示せず）によて偏向して
フィルムＦ上に網点画像を形成する。この場合、フィル
ムＦは矢印方向に副走査されると共に、レーザ光Ｌによ
って当該副走査方向と略直交する方向に主走査されるこ
とでその表面に画像情報が二次元的に再生される。On the other hand, the image information photoelectrically converted by the CCD image sensor 18 is offset / gain adjusting circuit 20, A / D converter 22.
Image signals corresponding to the photoelectric conversion unit N n via a V n (n =
1, 2, ..., I-1, i, i + 1, ..., N-1, n) are introduced into a signal correction circuit 24, the details of which will be described later, and the image signal V.sub.O (O = 1) is passed through the signal correction circuit 24. 2 ..., i-
1, i, i + 1 ..., N-1, n) is introduced into the signal processing circuit 26. The signal processing circuit 26 performs image processing such as gradation correction and contour enhancement, and the image signal after these image processing is introduced to the halftone image signal generation unit 28. The halftone dot image signal generator 28 converts the image signal into a binary signal having a predetermined halftone dot size based on the halftone dot signal, and the binary signal is introduced into the laser scanning unit 30. Then, in the laser scanning unit 30, the laser light is controlled to be turned on / off based on the binary signal, and the on / off controlled laser light is deflected by an optical deflector (not shown) to form a film F on the film F. A halftone image is formed on. In this case, the film F is sub-scanned in the direction of the arrow, and the main scanning is performed by the laser beam L in a direction substantially orthogonal to the sub-scanning direction, whereby the image information is two-dimensionally reproduced on the surface thereof.
ここで、前記信号補正回路24は第２図のブロック図に
示すように構成される。第２図において、夫々の構成要
素、すなわち、ブロックに入力または出力する矢線は信
号の流れを表し、この矢線の途中に１本の短斜線を交差
させ且つ当該短斜線の近傍に数字ｑを添えて表した矢線
はｑビットのデジタル信号線であることを示している。Here, the signal correction circuit 24 is constructed as shown in the block diagram of FIG. In FIG. 2, each constituent element, that is, an arrow line inputting or outputting to a block represents a signal flow, and one short diagonal line is intersected in the middle of this arrow line, and a number q is provided in the vicinity of the short diagonal line. The arrow line with is shown to be a q-bit digital signal line.
前記A/D変換器22から出力される画像信号Vnは第１ラ
ッチ40、第２ラッチ42、第３ラッチ44を介して加算器46
に一方の入力端子に導入される。一方、加算器46の他方
の入力端子には第２ラッチ42の出力信号が導入され、加
算器46の出力信号は平均化回路48によって平均化処理さ
れた後セレクタ50の接点52bに導入される。セレクタ50
の接点52cには第２ラッチ42の出力信号が導入され、セ
レクタ50の共通接点52aから画像信号VOが出力される。
この場合、セレクタ50の制御入力端子52dには欠陥光電
変換部指定回路54からセレクタ50の切換信号が導入され
ている。なお、当該信号補正回路24を構成する構成要素
の中、第１乃至第３ラッチ40、42、44と加算器46および
欠陥光電変換部指定回路54にはクロック発生器56から光
電変換部Nnの数に対応するクロック信号が出力される。
また、このクロック信号は前記CCDイメージセンサ18に
も供給され、光電変換部Nnから画像情報の読み出しが行
われる。The image signal V n output from the A / D converter 22 is added to the adder 46 via the first latch 40, the second latch 42, and the third latch 44.
Is introduced into one of the input terminals. On the other hand, the output signal of the second latch 42 is introduced into the other input terminal of the adder 46, and the output signal of the adder 46 is introduced into the contact 52b of the selector 50 after being averaged by the averaging circuit 48. . Selector 50
The output signal of the second latch 42 is introduced to the contact 52c of the above, and the image signal V O is output from the common contact 52a of the selector 50.
In this case, the switching signal of the selector 50 is introduced from the defective photoelectric conversion section designating circuit 54 to the control input terminal 52d of the selector 50. Among the constituent elements of the signal correction circuit 24, the first to third latches 40, 42, 44, the adder 46, and the defective photoelectric conversion section designating circuit 54 include the clock generator 56 to the photoelectric conversion section N n. The clock signals corresponding to the number of are output.
The clock signal is also supplied to the CCD image sensor 18, and the image information is read from the photoelectric conversion unit N n .
本発明に係る画像信号の補正方法を実施するための装
置は基本的には以上のように構成されるものであり、次
にその作用並びに効果について説明する。The apparatus for carrying out the image signal correcting method according to the present invention is basically constructed as described above. Next, its operation and effect will be explained.
先ず、原稿画像Ｓの読み取りに先立ちCCDイメージセ
ンサ18を構成する各光電変換部Nnの中、欠陥光電変換部
Ni、すなわち、光入射があっても電気信号を全く出力し
ないかあるいは電気信号を出力してもその光電変換感度
が正常な光電変換感度に比較して所定値より低い光電変
換部を特定するため暗電流原因とする出力電圧値を測定
する。そこで、暗電流を原因とする出力電圧値を測定す
るためにCCDイメージセンサ18を遮光し、その状態でCCD
イメージセンサ18を構成する各光電変換部Nnからの出力
信号を予め調整が施されているオフセット／利得調整回
路20を介してA/D変換器22に導入する。ここで、オフセ
ット／利得調整回路20における利得はCCDイメージセン
サ18を構成する光電変換部Nnの最大出力電圧振幅値がA/
D変換器22のフルスケール電圧よりも僅かに小さな値と
なるように設定しておく。A/D変換器22によるA/D変換後
の信号に歪を発生させないためである。また、オフセッ
トは各光電変換部Nnの出力信号がA/D変換器22のフルス
ケール電圧内の信号となるように設定しておく。First, prior to reading the original image S, the defective photoelectric conversion unit among the photoelectric conversion units N n constituting the CCD image sensor 18 is read.
N i , that is, a photoelectric conversion unit that does not output an electric signal at all even if light is incident or outputs an electric signal and whose photoelectric conversion sensitivity is lower than a predetermined photoelectric conversion sensitivity is lower than a predetermined value is specified. Therefore, measure the output voltage value that causes the dark current. Therefore, in order to measure the output voltage value due to dark current, the CCD image sensor 18 is shielded from light and the CCD image sensor 18 is
An output signal from each photoelectric conversion unit N n forming the image sensor 18 is introduced into an A / D converter 22 via an offset / gain adjustment circuit 20 that has been adjusted in advance. Here, the gain in the offset / gain adjustment circuit 20 is A / A when the maximum output voltage amplitude value of the photoelectric conversion unit N n forming the CCD image sensor 18 is A /
The value is set to be slightly smaller than the full-scale voltage of the D converter 22. This is because distortion is not generated in the signal after A / D conversion by the A / D converter 22. The offset is set so that the output signal of each photoelectric conversion unit N n becomes a signal within the full-scale voltage of the A / D converter 22.
A/D変換器22によってA/D変換された画像信号に対応す
るCCDイメージセンサ18の暗電流出力特性を第３図ａに
示す。第３図ａから諒解されるように、CCDイメージセ
ンサ18を構成する各光電変換部Nnの中、前記欠陥光電変
換部、例えば、光電変換の感度が低いかあるいは光電変
換作用を遂行しない欠陥を有する光電変換部Ni（以下欠
陥光電変換部という）が存在する。The dark current output characteristic of the CCD image sensor 18 corresponding to the image signal A / D converted by the A / D converter 22 is shown in FIG. As can be seen from FIG. 3A, among the photoelectric conversion units N n forming the CCD image sensor 18, the defect photoelectric conversion unit, for example, a defect having low photoelectric conversion sensitivity or not performing photoelectric conversion action. There is a photoelectric conversion unit N i (hereinafter referred to as a defective photoelectric conversion unit) having
そこで、この欠陥光電変換部Niの番号ｉを前記欠陥光
電変換部指定回路54に記憶させ、クロック発生器56から
当該欠陥光電変換指定回路54に送給されるクロックパル
ス数がｉ個に対応する数になった時にのみ前記セレクタ
50の共通接点52aと接点52bが接続され、それ以外の場合
には共通接点52aと接点52cが接続されるように構成して
おく。なお、欠陥光電変換部Niの特定方法は前記のよう
にCCDイメージセンサ18を遮光して暗電流に対応する出
力信号から特定する方法としてもよいが、これとは別
に、予め一様な濃度の原稿ＳをCCDイメージセンサ18で
読み取った時の画像信号から特定してもよいことは謂う
までもない。Therefore, the number i of the defective photoelectric conversion unit N i is stored in the defective photoelectric conversion unit designating circuit 54, and the number of clock pulses sent from the clock generator 56 to the defective photoelectric conversion designating circuit 54 corresponds to i. Selector only when the number reaches
The common contacts 52a and 52b of 50 are connected, and in other cases, the common contacts 52a and 52c are connected. The defective photoelectric conversion unit N i may be identified by a method in which the CCD image sensor 18 is shielded from light and the output signal corresponding to the dark current is identified as described above. It goes without saying that the original S may be specified from the image signal when the CCD image sensor 18 reads it.
このように設定条件のもとにCCDイメージセンサ18の
遮光状態を解除し、原稿Ｓに担持された画像情報の実際
の読み取りを行う。そこで、光源12からの照明光を照射
された原稿Ｓに担持された画像情報が反射光として集光
レンズ16を介してCCDイメージセンサ18を構成する光電
変換部Nn毎にクロックパルスに対応して光電的に読み取
られる。この場合、前記原稿Ｓは図示しない搬送機構に
より矢印Ａ方向に副走査搬送されると共に、当該CCDイ
メージセンサ18により矢印Ｂ方向に主走査されることで
その全面に担持された画像情報の読み取りが遂行され
る。In this way, the light shielding state of the CCD image sensor 18 is released under the set conditions, and the image information carried on the document S is actually read. Therefore, the image information carried on the document S irradiated with the illumination light from the light source 12 corresponds to a clock pulse as reflected light via the condenser lens 16 for each photoelectric conversion unit N n forming the CCD image sensor 18. Be read photoelectrically. In this case, the original S is sub-scanned and conveyed in the direction of arrow A by a conveying mechanism (not shown), and the CCD image sensor 18 performs main scanning in the direction of arrow B to read the image information carried on the entire surface. Carried out.
このようにしてクロック発生器56から供給されるクロ
ックパルス毎に画像信号がオフセット／利得調整回路20
を経てA/D変換器22から画像信号Vnとして信号補正回路2
4を構成する第１ラッチ40に順次導入される。この場
合、第２ラッチ42、第３ラッチ44は、所謂、パイプライ
ン処理的に接続されているので第２ラッチ42の出力画像
信号を一般にｋ番目の画像信号Vkとする時、第３ラッチ
44の出力画像信号にはその１つ前の光電変換部に係る画
像信号Vk-1が格納され、第１ラッチ40にはその１つ後の
画像信号Vk+1が導入される。前記したように、通常、セ
レクタ50の共通接点52aは接点52c側に接続されて画像信
号Vnは第２ラッチ42から、順次、信号処理回路26に導入
される。前記欠陥光電変換部指定回路54にはカウンタが
配設され、このカウンタの出力値が前記した欠陥を有す
るｉ番目の光電変換部Niなに対応する値となった時にセ
レクタ50の切換信号が欠陥光電変換部指定回路54から出
力され、共通接点52aと接点52bとを接続する。この場
合、加算器46では当該欠陥画素に係る１つ前の画像信号
Vi-1と１つ後の画像信号Vi+1とが平均化回路48によって
平均化された画像信号、すなわち、補間された画像信号
が導入されているのでセレクタ50から結果として出力さ
れる画像信号VOには欠陥光電変換部Niに係る画像信号Vi
が補間された信号を出力することになる（第１式参
照）。In this way, the image signal is supplied to the offset / gain adjustment circuit 20 for each clock pulse supplied from the clock generator 56.
The signal correction circuit 2 from the A / D converter 22 as the image signal V n
4 are sequentially introduced into the first latch 40 which constitutes 4. In this case, since the second latch 42 and the third latch 44 are connected in a so-called pipeline process, when the output image signal of the second latch 42 is generally the k-th image signal V k , the third latch
The output image signal of 44 stores the image signal V k−1 related to the immediately preceding photoelectric conversion unit, and the image signal V k + 1 after that is introduced to the first latch 40. As described above, normally, the common contact 52a of the selector 50 is connected to the contact 52c side, and the image signal V n is sequentially introduced from the second latch 42 to the signal processing circuit 26. A counter is provided in the defective photoelectric conversion section designating circuit 54, and when the output value of the counter becomes a value corresponding to the i-th photoelectric conversion section N i having the defect, the switching signal of the selector 50 is sent. The signal is output from the defective photoelectric conversion unit designating circuit 54 and connects the common contact 52a and the contact 52b. In this case, in the adder 46, the previous image signal related to the defective pixel
V i-1 and one after the image signals V i + 1 and the averaged image signal by averaging circuit 48, i.e., it is output as a result from the selector 50 so interpolated image signal has been introduced image signal V i to the image signal V O of the defective photoelectric conversion unit N i
Will output the interpolated signal (see the first equation).
このようにして欠陥を有する画像信号Viがその前後の
画像信号Vi-1とVi+1によって補間処理された画像信号VO
（第３図ｂ参照）は信号処理回路26に導入され、出力さ
れる画像の製版条件に応じて階調補正、輪郭強調、倍率
変換等の信号処理が行われた後、周知の網点画像信号発
生部28に導入される。当該網点画像信号発生部28では、
導入された画像信号に応じてパルス幅変調された２値信
号がレーザ走査部30に導入される。そして、レーザ走査
部30から主走査方向に偏向されて出力される２値レーザ
光ＬがフイルムＦ上に照射される。この場合、フイルム
Ｆは副走査方向に搬送されており、その全面に出力製版
条件に応じた網点画像情報が再生されることになる。な
お、このフイルムＦは現像装置によって現像処理され、
フイルム原版が完成する。そして、このフイルム原版に
よって再生される画像には前記固体イメージセンサの暗
電流を原因とするすじ状のむらは除去される。 In this way, the defective image signal V i is interpolated by the preceding and following image signals V i-1 and V i + 1 to obtain an image signal V O
(See FIG. 3B) is introduced into the signal processing circuit 26, and after the signal processing such as gradation correction, contour enhancement, and magnification conversion is performed according to the plate making conditions of the output image, a known halftone dot image is obtained. It is introduced into the signal generator 28. In the halftone image signal generator 28,
A binary signal whose pulse width is modulated according to the introduced image signal is introduced into the laser scanning unit 30. Then, the film F is irradiated with the binary laser light L which is deflected and output from the laser scanning unit 30 in the main scanning direction. In this case, the film F is conveyed in the sub-scanning direction, and halftone dot image information according to the output plate making conditions is reproduced on the entire surface thereof. The film F is developed by a developing device,
The original film is completed. Then, the streak-like unevenness caused by the dark current of the solid-state image sensor is removed from the image reproduced by the film original plate.
ところで、CCDイメージセンサの暗電流に対応する出
力信号としては、第４図ａに示すように、光電変換部の
出力信号のレベルが交互に異なっている場合が存在す
る。これは、第５図に示すように、CCDイメージセンサ5
9が当該CCDイメージセンサ59の光電変換部60から信号を
出力する際、２個の転送レジスタ62a、62bを使用して交
互に画像信号を出力するように構成されていることに起
因しているものと推定される。この画像信号のばらつき
を補正するためには、第６図に示すように、ラッチ64、
加算器66および平均化回路68からなる信号補間回路70を
第２図に示す信号補正回路24の出力端子に接続し前記信
号補間回路70に入力する画像信号VOの中、隣合う画像信
号VOとその１つ前の画像信号VO-1を平均化処理｛（VO＋
VO-1）/2｝すればよいことが諒解されよう。この場合、
CCDイメージセンサ59の欠陥光電変換部Niが第４図ｂに
示すように存在しているものとすれば、この欠陥光電変
換部Niに対応する画像信号Viは、第２図に示す信号補正
回路24により第４図ｃに示すように補間処理が遂行され
る。By the way, as the output signal corresponding to the dark current of the CCD image sensor, there is a case where the levels of the output signals of the photoelectric conversion units are alternately different as shown in FIG. This is the CCD image sensor 5 as shown in FIG.
This is because when 9 outputs a signal from the photoelectric conversion unit 60 of the CCD image sensor 59, the two transfer registers 62a and 62b are used to alternately output the image signal. It is estimated that In order to correct this image signal variation, as shown in FIG.
Among the image signal V O which the signal interpolating circuit 70 and an adder 66 and averaging circuit 68 is connected to the output terminal of the signal correction circuit 24 shown in FIG. 2 is input to the signal interpolating circuit 70, adjacent image signal V O and the image signal V O-1 immediately before it are averaged {(V O +
It will be appreciated that V O-1 ) / 2} is sufficient. in this case,
Assuming that the defect photoelectric conversion unit N i of the CCD image sensor 59 is present as shown in Fig. 4 b, the image signals V i corresponding to the defective photoelectric conversion unit N i is shown in FIG. 2 The signal correction circuit 24 performs an interpolation process as shown in FIG.
次いで、暗電流に起因する信号の１つおきのレベルば
らつきを補正するために隣接する画像信号を前記信号補
間回路70を用いて平均化処理した場合に、第４図ｄに示
すように、欠陥光電変換部Ni近傍の画像信号Viのレベル
が若干小さくなる。そこで、信号処理回路26で輪郭強調
処理等を遂行した時に画像信号は、第４図ｅに示すよう
に、欠陥光電変換部Niに対応する部分の輪郭が強調され
ることになり、結局、再生画像上にすじ状のむらが存在
することになる。Next, when adjacent image signals are averaged using the signal interpolation circuit 70 in order to correct every other level variation of the signal due to the dark current, as shown in FIG. The level of the image signal V i near the photoelectric conversion unit N i becomes slightly smaller. Therefore, when the signal processing circuit 26 performs the edge enhancement processing or the like, the image signal has the edge of the portion corresponding to the defective photoelectric conversion unit N i emphasized as shown in FIG. There will be streak-like unevenness on the reproduced image.
次に、CCDイメージセンサの出力信号が、第４図ａに
示すように、１つおきに信号レベルが異なる場合におい
ても欠陥光電変換部Niから出力される画像信号Viを効果
的に補間処理して前記すじ状のむらを回避出来る回路を
第７図に示す。当該信号補間回路98は第１乃至第６ラッ
チ100a乃至100fに示す８ビット入出力のラッチ手段が直
列接続として構成され、第６ラッチ100fの出力信号Vaが
セレクタ102の接点104bおよび詳細を後述するコントラ
スト判定回路106の一方の入力端子に導入され、第５ラ
ッチ100eの出力信号Vbが平均化回路108の一方の入力端
子に導入され、第４ラッチ100dの出力信号VCに平均化回
路110の一方の入力端子に導入されている。また、第２
ラッチ100bの出力信号Veが前記平均化回路110の他方の
入力端子に導入され、第１ラッチ100aの出力信号Vfが前
記平均化回路108の他方の入力端子に導入されている。
平均化回路110、108の出力端子は夫々セレクタ112の接
点114b、114cに接続され、セレクタ112の共通接点114a
は前記セレクタ102の他方の接点104cに接続される。こ
の場合、セレクタ112はコントラスト判定回路106から制
御出力端子114dに印加される出力信号によって接続が切
り換えられ、セレクタ102は欠陥光電変換部指定回路116
から制御端子104dに出力される切換信号によって接続が
切り換えられる。さらに、セレクタ102の共通接点104a
には前記第６図に示す信号補間回路70が接続される構成
とされている。なお、第１乃至第６ラッチ100a乃至100
f、ラッチ64および欠陥光電変換部指定回路116には図示
しないクロック発生器から変換クロックパルスが送給さ
れる。Then, the output signal of the CCD image sensor, as shown in FIG. 4 a, effectively interpolate an image signal V i to every other signal level is output from the defective photoelectric conversion unit N i when different FIG. 7 shows a circuit which can be processed to avoid the streaky unevenness. In the signal interpolation circuit 98, 8-bit input / output latch means shown in the first to sixth latches 100a to 100f are configured to be connected in series, and the output signal V a of the sixth latch 100f and the contact 104b of the selector 102 and details will be described later. Is inputted to one input terminal of the contrast determination circuit 106, the output signal V b of the fifth latch 100e is introduced to one input terminal of the averaging circuit 108, and the output signal V C of the fourth latch 100d is averaged to the averaging circuit. It is introduced to one input terminal of 110. Also, the second
The output signal V e of the latch 100b is introduced to the other input terminal of the averaging circuit 110, and the output signal V f of the first latch 100a is introduced to the other input terminal of the averaging circuit 108.
The output terminals of the averaging circuits 110 and 108 are connected to the contacts 114b and 114c of the selector 112, respectively, and the common contact 114a of the selector 112 is provided.
Is connected to the other contact 104c of the selector 102. In this case, the connection of the selector 112 is switched by the output signal applied from the contrast determination circuit 106 to the control output terminal 114d, and the selector 102 is switched to the defective photoelectric conversion unit designating circuit 116.
The connection is switched by the switching signal output from the control terminal 104d. Further, the common contact 104a of the selector 102
Is connected to the signal interpolation circuit 70 shown in FIG. The first to sixth latches 100a to 100
A conversion clock pulse is sent from a clock generator (not shown) to the f, the latch 64, and the defective photoelectric conversion unit designating circuit 116.
ここで、コントラスト判定回路106は第８図に示すよ
うに構成される。すなわち、絶対値回路120の出力信号
Ｘが閾値設定回路124から出力される閾値信号Ｒと比較
器122によって比較されその比較結果の１ビットのオン
／オフ信号が４ビットの直列入力型シフトレジスタ126
に導入され、１個おきの比較結果が論理積回路128に同
期して導入され、セレクタ112の制御端子114dに切換信
号が導入されるように構成されている。なお、絶対値回
路120は画像信号Vaを入力信号とするインバータ130の出
力信号（−Va）と画像信号Vcとが加算器132に入力さ
れ、加算器132の出力信号｛VC＋（−Va）｝とキャリ信
号とがエクスクルーシブオア回路134に入力信号とさ
れ、エクスクルーシブオア回路134の出力信号が画像信
号Vaと画像信号VCの絶対値信号|VC−Va|となるように構
成されている。Here, the contrast determination circuit 106 is configured as shown in FIG. That is, the output signal X of the absolute value circuit 120 is compared with the threshold signal R output from the threshold setting circuit 124 by the comparator 122, and the 1-bit ON / OFF signal of the comparison result is the 4-bit serial input shift register 126.
Is introduced into the AND circuit 128 in synchronization with the AND circuit 128, and a switching signal is introduced into the control terminal 114d of the selector 112. In the absolute value circuit 120, the output signal (−V a ) of the inverter 130 having the image signal V a as an input signal and the image signal V c are input to the adder 132, and the output signal {V C + (−V a )} and the carry signal are input signals to the exclusive OR circuit 134, and the output signal of the exclusive OR circuit 134 is the image signal V a and the absolute value signal | V C −V a | of the image signal V C. Is configured to be.
次に、第７図および第８図に示す信号補間回路98およ
びコントラスト判定回路1106の作用について入力信号Vn
と信号補間回路70に入力する信号Ｖ′ｎと信号補間回路
70から出力される信号VOとの関係において第９図を参照
しながら説明する。この場合、所定の時点において第１
乃至第６ラッチ100a乃至100fに格納されている画像信号
Va乃至Vfは、第９図ａに示すように、画像信号Vdが欠陥
光電変換部に対応する信号であるものとする。Next, regarding the operation of the signal interpolation circuit 98 and the contrast determination circuit 1106 shown in FIGS. 7 and 8, the input signal V n
Signal V 'n and a signal interpolation circuit for inputting the signal interpolation circuit 70 and
The relationship with the signal V O output from 70 will be described with reference to FIG. In this case, the first
To the image signal stored in the sixth latch 100a to 100f
It is assumed that V a to V f are signals in which the image signal V d corresponds to the defective photoelectric conversion unit, as shown in FIG.
第７図において絶対値回路120の出力信号であるエク
スクルーシブオア回路134の出力信号は第６ラッチ100f
に格納された画像信号Vaと第４ラッチ100dに格納された
画像信号VCの差の絶対値信号|VC−Va|が得られる。すな
わち、１つおきの画像信号VaとVcとの差、所謂、コント
ラスト値が得られる。そこで、このコントラスト値と予
め閾値設定回路124で設定される閾値信号Ｒとの大小比
較が比較器122によって比較され、その出力結果が４ビ
ットの直列入力シフトレジスタ126の第１乃至第４ビッ
ト127a乃至127dにに順次入力される。従って、シフトレ
ジスタ126の第１ビット127aは画像信号VaとVcとのコン
トラスト判定結果が格納され、第３ビット127cには画像
信号VcとVeとのコントラスト判定結果が格納され、比較
器122の出力信号が画像信号VeとVgとのコントラスト判
定結果を表す情報となる。従って、Va、Vc、Ve、Vgの全
てがある値以内、すなわち、所定のコントラスト以内で
ある時に論理積回路128の出力信号によりセレクタ112の
共通接点114aは接点114c側に接続され、それ以外の場合
には共通接点114aは接点114b側に接続される。また、前
記したように、欠陥光電変換部指定回路116に欠陥光電
変換部の番号を記憶しておくことにより、セレクタ102
を構成する共通接点104aは接点104c側に接続され欠陥光
電変換部、例えば、第９図における画像信号Vdは、Vaと
Vc、VcとVe、VeとVgとの各々の差の絶対値、すなわちコ
ントラストが低いので、２つ前の光電変換部に対応する
画像信号Vbと２つ後の光電変換部に対応する画像信号Vf
の平均値信号（Vb＋Vf）/2として出力される（第９図ｂ
参照）。なお、コントラストが高い場合、共通接点114a
と接点114bとが接続され画像信号Vdは前後の光電変換部
に対応する画像信号VCとVeの平均値信号（Vc＋Ve）/2と
して出力される。この平均値信号は隣接画素平均化回路
である信号補間回路70によって平均化処理され、第９図
ｃに示すように、滑らかな画像信号VOが得られることに
なる。In FIG. 7, the output signal of the exclusive OR circuit 134, which is the output signal of the absolute value circuit 120, is the sixth latch 100f.
Image signals stored in the V a and the absolute value signal of the difference between the image signal V C stored in the fourth latch 100d | V C -V a | is obtained. That is, a difference between every other image signal V a and V c, that is, a so-called contrast value is obtained. Therefore, the comparator 122 compares the contrast value with the threshold signal R set in advance by the threshold setting circuit 124 by the comparator 122, and the output result is the first to fourth bits 127a of the 4-bit serial input shift register 126. To 127d are sequentially input. Therefore, the first bit 127a of the shift register 126 stores the contrast determination result between the image signals V a and V c, and the third bit 127c stores the contrast determination result between the image signals V c and V e. The output signal of the device 122 serves as information indicating the result of contrast determination between the image signals V e and V g . Therefore, when all of V a , V c , V e , and V g are within a certain value, that is, within a predetermined contrast, the common contact 114a of the selector 112 is connected to the contact 114c side by the output signal of the AND circuit 128. In other cases, the common contact 114a is connected to the contact 114b side. Further, as described above, by storing the number of the defective photoelectric conversion unit in the defective photoelectric conversion unit designation circuit 116, the selector 102
Common contact 104a is defective photoelectric conversion unit is connected to the contact 104c side constituting, for example, image signal V d in the ninth figure, and V a
Since the absolute values of the differences between V c , V c and V e , and V e and V g , that is, the contrast is low, the image signal V b corresponding to the photoelectric conversion unit two before and the photoelectric conversion after two are performed. Image signal V f corresponding to
Is output as the average value signal (V b + V f ) / 2 of FIG.
reference). If the contrast is high, the common contact 114a
And the contact point 114b are connected, and the image signal V d is output as an average value signal (V c + V e ) / 2 of the image signals V C and V e corresponding to the front and rear photoelectric conversion units. This average value signal is averaged by the signal interpolation circuit 70 which is an adjacent pixel averaging circuit, and a smooth image signal V O is obtained as shown in FIG. 9c.
そこで、第１図に示す信号補正回路24を第７図に示す
信号補間回路98と信号補間回路70とからなる回路に代替
してCCDイメージセンサ18の遮光状態を解除して原稿Ｓ
に担持される画像情報を読み取ることにより、相隣る光
電変換部の光電変換感度差を平均化処理出来ると共に欠
陥光電変換部から出力される画像信号を周辺の光電変換
部の画像信号により補間処理することが出来ることが諒
解されよう。Therefore, the signal correction circuit 24 shown in FIG. 1 is replaced with a circuit consisting of the signal interpolation circuit 98 and the signal interpolation circuit 70 shown in FIG.
By reading the image information carried on, the photoelectric conversion sensitivity difference between adjacent photoelectric conversion units can be averaged and the image signal output from the defective photoelectric conversion unit can be interpolated by the image signals of the peripheral photoelectric conversion units. It will be appreciated that you can do it.
［発明の効果］ 以上のように、本発明によれば、例えば、ライン状に
配列された多数の光電変換部で構成される固体イメージ
センサを用いて原稿画像を読み取る際、予め欠陥を有す
る光電変換部を特定しておき実際に原稿画像を読み取る
際に、欠陥を有する光電変換部から出力される画像信号
を周辺の画像信号で補間するように構成している。この
ため、固体イメージセンサにより画像の読み取りに起因
して発生する再生画像上のすじ状のむらを除去して高品
質の画像を再生出来る利点が得られる。[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, for example, when a document image is read using a solid-state image sensor composed of a large number of photoelectric conversion units arranged in a line, photoelectric signals having a defect in advance are read. The conversion unit is specified, and when the original image is actually read, the image signal output from the defective photoelectric conversion unit is interpolated by the peripheral image signal. Therefore, the solid-state image sensor has an advantage that high-quality images can be reproduced by removing streak-like unevenness on the reproduced image caused by reading the image.
以上、本発明について好適な実施態様を挙げて説明し
たが、本発明はこの実施態様に限定されるものではな
く、例えば、固体イメージセンサとしてCCDイメージセ
ンサに限らずBBD（Bucket Brigade Device）イメージセ
ンサを採用することも可能である等、本発明の要旨を逸
脱しない範囲において種々の改良並びに設計の変更が可
能なことを勿論である。Although the present invention has been described with reference to the preferred embodiment, the present invention is not limited to this embodiment, and for example, the solid-state image sensor is not limited to the CCD image sensor but a BBD (Bucket Brigade Device) image sensor. It is needless to say that various improvements and design changes can be made without departing from the scope of the present invention.
第１図は本発明に係る画像信号の補正方法が適用される
画像走査再生装置のブロック図、 第２図は第１図に示す画像走査再生装置の中、信号補正
回路の詳細ブロック図、 第３図ａ、ｂは欠陥を有する光電変換部を含む固体イメ
ージセンサの暗電流に対応する出力電圧の特性とその補
間処理後の特性を表す図、 第４図ａ乃至ｅは固体イメージセンサを構成する光電変
換部の光電変換感度が交互に異なる場合における信号の
補正処理を説明する図、 第５図は光電変換感度が交互に異なるCCDイメージセン
サの構成概念図、 第６図は隣接する光電変換部の画像信号を平均化処理す
る回路図、 第７図は本発明に係る画像信号の補正方法が適用される
画像走査再生装置の中、信号補正回路の別の実施態様を
示す詳細ブロック図、 第８図は第７図に示す信号補正回路の中、コントラスト
判定回路の詳細ブロック図、 第９図ａ乃至ｃは第７図に示す信号補正回路による補正
処理を説明する図である。 10……読取部、12……光源 16……集光レンズ 18……CCDイメージセンサ、24……信号補正回路 28……網点画像信号発生部、30……レーザ走査部 106……コントラスト判定回路 Ｓ……原稿FIG. 1 is a block diagram of an image scanning / reproducing apparatus to which an image signal correcting method according to the present invention is applied, and FIG. 2 is a detailed block diagram of a signal correcting circuit in the image scanning / reproducing apparatus shown in FIG. 3A and 3B are views showing the characteristics of the output voltage corresponding to the dark current of the solid-state image sensor including a photoelectric conversion unit having a defect and the characteristics after the interpolation processing, and FIGS. 4A to 4E show the solid-state image sensor. For explaining the signal correction processing when the photoelectric conversion sensitivities of the photoelectric conversion units are alternately different, FIG. 5 is a conceptual diagram of the configuration of a CCD image sensor having alternately different photoelectric conversion sensitivities, and FIG. FIG. 7 is a circuit diagram for averaging the image signals of the other parts, FIG. 7 is a detailed block diagram showing another embodiment of the signal correction circuit in the image scanning / reproducing apparatus to which the image signal correction method according to the present invention is applied, FIG. 8 is shown in FIG. 9 is a detailed block diagram of the contrast determination circuit in the signal correction circuit, and FIGS. 9A to 9C are diagrams for explaining the correction processing by the signal correction circuit shown in FIG. 10 …… Reading unit, 12 …… Light source 16 …… Condenser lens 18 …… CCD image sensor, 24 …… Signal correction circuit 28 …… Halftone image signal generator, 30 …… Laser scanning unit 106 …… Contrast judgment Circuit S ... manuscript
Claims (1)
メージセンサから連続的に出力される前記光電変換部毎
の画像信号の中、予め特定された欠陥光電変換部から出
力される欠陥画像信号を補正した後、隣接する画像信号
を平均して平滑化を行うようにした画像信号の補正方法
であって、 前記欠陥画像信号の補正処理は、ｉ番目の画像信号が特
定された欠陥画像信号であるとき、 少なくとも（ｉ−３）番目と（ｉ−１）番目の画像信
号、（ｉ−１）番目とｉ＋１）番目の画像信号、（ｉ＋
１）番目と（ｉ＋３）番目の画像信号の各々のコントラ
ストを調べ、 各コントラストが設定閾値に比較して高い場合には、前
記ｉ番目の画像信号として、（ｉ−１）番目の画像信号
と（ｉ＋１）番目の画像信号との平均の画像信号を欠陥
補正後の画像信号として出力し、 各コントラストが設定閾値に比較して低い場合には、前
記ｉ番目の画像信号として、（ｉ−２）番目の画像信号
と（ｉ＋２）番目の画像信号との平均の画像信号を欠陥
補正後の画像信号として出力することを特徴とする画像
信号の補正方法。1. A defect image output from a defect photoelectric conversion unit specified in advance among image signals for each photoelectric conversion unit continuously output from a solid-state image sensor in which photoelectric conversion units are arranged in a line. A method for correcting an image signal, in which adjacent signals are averaged to perform smoothing after correcting the signal, wherein the defect image signal correction process is a defect image in which an i-th image signal is specified. When it is a signal, at least (i-3) th and (i-1) th image signals, (i-1) th and i + 1) th image signals, (i +
The respective contrasts of the 1) th and (i + 3) th image signals are examined, and when each contrast is higher than the set threshold value, the i-th image signal is regarded as the (i-1) th image signal. An average image signal with respect to the (i + 1) th image signal is output as an image signal after defect correction, and when each contrast is lower than the set threshold value, as the i-th image signal, (i-2 The image signal correction method is characterized in that an average image signal of the (i) th image signal and the (i + 2) th image signal is output as the image signal after defect correction.
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