JP2601977Y2 - ガス分析計 - Google Patents
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
-
- G—PHYSICS
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/61—Non-dispersive gas analysers
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本考案は、ガス分析計に関し、特
に、サンプリング流路を介して分析部に対して供給され
るサンプルガスを制御部からの制御指令に基づいて分析
するようにしたガス分析計の改良に関する。
に、サンプリング流路を介して分析部に対して供給され
るサンプルガスを制御部からの制御指令に基づいて分析
するようにしたガス分析計の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、ガス分析計を工場から出荷し、
ユーザーに納入する際しては、ガス分析計の分析部にゼ
ロガスやスパンガスなどの校正ガスを供給することによ
り、ドリフト特性や再現性などの試験を行ってデータを
採取し、このデータに基づいてガス分析計の性能の確認
が行われるが、従来は図４または図５に示すようにして
校正ガスを分析部に供給していた。
ユーザーに納入する際しては、ガス分析計の分析部にゼ
ロガスやスパンガスなどの校正ガスを供給することによ
り、ドリフト特性や再現性などの試験を行ってデータを
採取し、このデータに基づいてガス分析計の性能の確認
が行われるが、従来は図４または図５に示すようにして
校正ガスを分析部に供給していた。
【０００３】すなわち、図４に示したものでは、ガス分
析計４０の内部に設けられたゼロガスやスパンガスなど
の校正ガス導入用の電磁弁４１，４２の開閉操作を係員
が一定時間ごとに行うことによって、ゼロガスＺやスパ
ンガスＳＰを分析部４３に供給するのである。
析計４０の内部に設けられたゼロガスやスパンガスなど
の校正ガス導入用の電磁弁４１，４２の開閉操作を係員
が一定時間ごとに行うことによって、ゼロガスＺやスパ
ンガスＳＰを分析部４３に供給するのである。
【０００４】また、図５に示したものでは、ガス分析計
５０の外部に、コントローラ５１を内蔵した校正ガス導
入切換装置５２を設け、コントローラ５１によって校正
ガス導入用の電磁弁５３，５４，５５を適宜開閉操作す
ることによって、ゼロガスＺやスパンガスＳＰ1 , ＳＰ
2 を分析部５６に自動的に供給するのである。
５０の外部に、コントローラ５１を内蔵した校正ガス導
入切換装置５２を設け、コントローラ５１によって校正
ガス導入用の電磁弁５３，５４，５５を適宜開閉操作す
ることによって、ゼロガスＺやスパンガスＳＰ1 , ＳＰ
2 を分析部５６に自動的に供給するのである。
【０００５】なお、図４において、４４はサンプルガス
Ｓを導入するための電磁弁であり、また、図５におい
て、５７は校正ガス導入用の電磁弁、５８，５９はサン
プルガスＳ1 , Ｓ2 をそれぞれ導入するための電磁弁で
ある。
Ｓを導入するための電磁弁であり、また、図５におい
て、５７は校正ガス導入用の電磁弁、５８，５９はサン
プルガスＳ1 , Ｓ2 をそれぞれ導入するための電磁弁で
ある。
【０００６】
【考案が解決しようとする課題】しかしながら、上記前
者の手段によれば、電磁弁４１，４２を開閉操作するた
めの係員が必ず必要であり、一度に試験するガス分析計
４０の台数の増加に伴って多くの係員が必要となるとい
った欠点があり、また、上記後者の手段によれば、複数
のガス分析計５０を試験する場合における係員の数は少
なくて済むものの、ガス分析計５０とは別体構造の校正
ガス導入切換装置５２を数多く用意する必要があり、そ
の製作コストが高くつくといった問題点がある。
者の手段によれば、電磁弁４１，４２を開閉操作するた
めの係員が必ず必要であり、一度に試験するガス分析計
４０の台数の増加に伴って多くの係員が必要となるとい
った欠点があり、また、上記後者の手段によれば、複数
のガス分析計５０を試験する場合における係員の数は少
なくて済むものの、ガス分析計５０とは別体構造の校正
ガス導入切換装置５２を数多く用意する必要があり、そ
の製作コストが高くつくといった問題点がある。
【０００７】ところで、近時のガス分析計においては、
その制御部に測定手順を表すプログラムが格納されてお
り、測定時にはこのプログラムに基づいて各種の制御指
令が出力され、これによって所定の分析を行うように構
成されていることが多い。
その制御部に測定手順を表すプログラムが格納されてお
り、測定時にはこのプログラムに基づいて各種の制御指
令が出力され、これによって所定の分析を行うように構
成されていることが多い。
【０００８】本考案は、上述の事柄に留意してなされた
もので、その目的とするところは、高価な校正ガス導入
切換装置を用意しなくても、一度に多数のガス分析計の
再現性試験を行うことがあっても、可及的に少ない係員
によって再現性試験を効率よく行うことができるガス分
析計を提供することにある。
もので、その目的とするところは、高価な校正ガス導入
切換装置を用意しなくても、一度に多数のガス分析計の
再現性試験を行うことがあっても、可及的に少ない係員
によって再現性試験を効率よく行うことができるガス分
析計を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本考案のガス分析計は、サンプルガスを分析する分
析部と、この分析部にサンプルガスを供給するサンプリ
ング流路と、前記分析部に制御指令を出力して所定の分
析を行わせる制御部と、前記サンプリング流路に対して
切換え弁を介して接続される校正ガス流路と、この校正
ガス流路に対して互いに並列に接続され、かつそれぞれ
開閉弁を備えたゼロガス供給路およびスパンガス供給路
とを備えると共に、前記制御部内に、出荷時に行われる
性能試験において前記切換え弁および開閉弁を開閉制御
することにより前記分析部に対してゼロガスおよびスパ
ンガスを所定の手順で複数回自動供給して再現性試験を
行うためのプログラムを格納している。
め、本考案のガス分析計は、サンプルガスを分析する分
析部と、この分析部にサンプルガスを供給するサンプリ
ング流路と、前記分析部に制御指令を出力して所定の分
析を行わせる制御部と、前記サンプリング流路に対して
切換え弁を介して接続される校正ガス流路と、この校正
ガス流路に対して互いに並列に接続され、かつそれぞれ
開閉弁を備えたゼロガス供給路およびスパンガス供給路
とを備えると共に、前記制御部内に、出荷時に行われる
性能試験において前記切換え弁および開閉弁を開閉制御
することにより前記分析部に対してゼロガスおよびスパ
ンガスを所定の手順で複数回自動供給して再現性試験を
行うためのプログラムを格納している。
【００１０】
【作用】本考案に係るガス分析計においては、サンプリ
ング流路と校正ガス流路とを接続する切換え弁と、校正
ガス流路に対して互いに並列に接続されるゼロガス供給
路およびスパンガス供給路にそれぞれ設けられた開閉弁
とを開閉制御するためのプログラムをガス分析計の制御
部に格納しておくことにより、前記切換え弁および開閉
弁を所定の手順で開閉操作することができ、これによっ
て、ゼロガスやスパンガスなど同一ボンベのガスを所定
の手順で分析部に対して自動的に供給することができ
る。従って、試験に供されるガス分析計の台数が多くな
っても、従来のように、開閉弁を開閉操作するための係
員を多く必要とすることがないと共に、高価な校正ガス
導入切換装置を用意する必要がない。特に、再現性試験
は、同一ボンベからのガスを分析部に対して複数回供給
する必要があるが、この繰り返して行わなければならな
いガスの供給を自動で行うことができ、従って、再現性
試験を最小限の人員で行うことができ、効率よく再現性
試験を行うことができる。
ング流路と校正ガス流路とを接続する切換え弁と、校正
ガス流路に対して互いに並列に接続されるゼロガス供給
路およびスパンガス供給路にそれぞれ設けられた開閉弁
とを開閉制御するためのプログラムをガス分析計の制御
部に格納しておくことにより、前記切換え弁および開閉
弁を所定の手順で開閉操作することができ、これによっ
て、ゼロガスやスパンガスなど同一ボンベのガスを所定
の手順で分析部に対して自動的に供給することができ
る。従って、試験に供されるガス分析計の台数が多くな
っても、従来のように、開閉弁を開閉操作するための係
員を多く必要とすることがないと共に、高価な校正ガス
導入切換装置を用意する必要がない。特に、再現性試験
は、同一ボンベからのガスを分析部に対して複数回供給
する必要があるが、この繰り返して行わなければならな
いガスの供給を自動で行うことができ、従って、再現性
試験を最小限の人員で行うことができ、効率よく再現性
試験を行うことができる。
【００１１】
【実施例】以下、本考案の実施例を図面に基づいて説明
する。なお、以下の図において、図４または図５に示し
た符号と同一の符号は同一物または相当物を示してい
る。
する。なお、以下の図において、図４または図５に示し
た符号と同一の符号は同一物または相当物を示してい
る。
【００１２】図１は、本考案に係るガス分析計の構成の
概略を示す図で、この図において、１はサンプリング装
置で、サンプルガスＳや、ゼロガスＺやスパンガスＳＰ
などの校正ガスＣを導入するもので、その構成について
は後述する。
概略を示す図で、この図において、１はサンプリング装
置で、サンプルガスＳや、ゼロガスＺやスパンガスＳＰ
などの校正ガスＣを導入するもので、その構成について
は後述する。
【００１３】２は分析部で、詳細には図示してないが、
例えばサンプリング装置１から供給されるサンプルガス
Ｓなどを収容すると共に、赤外光透過性の窓を備えたセ
ルと、このセルの一方からセルに向けて例えば赤外光を
照射する赤外光源と、セルの他方に配置され、セルを透
過した赤外光を受光する検出器からなる。３は分析部２
の検出器から出力される信号を適宜増幅するアンプであ
る。
例えばサンプリング装置１から供給されるサンプルガス
Ｓなどを収容すると共に、赤外光透過性の窓を備えたセ
ルと、このセルの一方からセルに向けて例えば赤外光を
照射する赤外光源と、セルの他方に配置され、セルを透
過した赤外光を受光する検出器からなる。３は分析部２
の検出器から出力される信号を適宜増幅するアンプであ
る。
【００１４】４はガス分析計の動作全体を制御するため
の制御部としてのＣＰＵである。このＣＰＵ４内には、
測定手順を表すプログラムや、測定時においてアンプ３
を介して入力される検出器出力を分析処理するプログラ
ムが格納されると共に、出荷前に行われる性能試験時に
おいてサンプリング装置１に設けられた切換え弁や開閉
弁（何れも後述する）の開閉制御を行うためのプログラ
ムや、前記性能試験時においてアンプ３を介して入力さ
れる検出器出力を分析処理するプログラムが格納されて
いる。
の制御部としてのＣＰＵである。このＣＰＵ４内には、
測定手順を表すプログラムや、測定時においてアンプ３
を介して入力される検出器出力を分析処理するプログラ
ムが格納されると共に、出荷前に行われる性能試験時に
おいてサンプリング装置１に設けられた切換え弁や開閉
弁（何れも後述する）の開閉制御を行うためのプログラ
ムや、前記性能試験時においてアンプ３を介して入力さ
れる検出器出力を分析処理するプログラムが格納されて
いる。
【００１５】５はＣＰＵ４からの出力を記録したり、表
示する記録・表示部である。そして、ａはＣＰＵ４から
サンプリング装置１に対して出力される開閉指令など各
種の制御指令を表し、また、Ｅx は前記セルから排出さ
れるガスを表す。
示する記録・表示部である。そして、ａはＣＰＵ４から
サンプリング装置１に対して出力される開閉指令など各
種の制御指令を表し、また、Ｅx は前記セルから排出さ
れるガスを表す。
【００１６】図２は、前記サンプリング装置１の一構成
例を概略的に示すもので、この図に示す実施例において
は、３種類の測定成分を測定できる所謂３成分計用に構
成されている。この図において、６は分析部２のセルに
サンプルガスＳを供給するためのサンプリング流路で、
切換え弁としての三方電磁弁７が設けられている。この
三方電磁弁７は、その一つの入口ポート７ａが図外のサ
ンプルガス流路に連なるように、そして、出口ポート７
ｂが前記セルに連なるように、また、他の入口ポート７
ｃが後述する校正ガス流路８に連なるように、サンプリ
ング流路６に介装されている。８は前記三方電磁弁７を
介してゼロガスＺやスパンガスＳＰなどの校正ガスを分
析部２に供給するための校正ガス流路で、この校正ガス
流路８は、例えば一つのゼロガス供給路９と、３つのス
パンガス供給路１０，１１，１２とを互いに並列に接続
して構成されている。そして、各ガス供給路９〜１２
に、開閉弁としての二方電磁弁１３，１４，１５，１６
を介してゼロガスボンベ１７、第１測定成分に対応する
第１スパンガスを収容したボンベ１８、第２測定成分に
対応する第２スパンガスを収容したボンベ１９、第３測
定成分に対応する第３スパンガスを収容したボンベ２０
がそれぞれ設けられている。
例を概略的に示すもので、この図に示す実施例において
は、３種類の測定成分を測定できる所謂３成分計用に構
成されている。この図において、６は分析部２のセルに
サンプルガスＳを供給するためのサンプリング流路で、
切換え弁としての三方電磁弁７が設けられている。この
三方電磁弁７は、その一つの入口ポート７ａが図外のサ
ンプルガス流路に連なるように、そして、出口ポート７
ｂが前記セルに連なるように、また、他の入口ポート７
ｃが後述する校正ガス流路８に連なるように、サンプリ
ング流路６に介装されている。８は前記三方電磁弁７を
介してゼロガスＺやスパンガスＳＰなどの校正ガスを分
析部２に供給するための校正ガス流路で、この校正ガス
流路８は、例えば一つのゼロガス供給路９と、３つのス
パンガス供給路１０，１１，１２とを互いに並列に接続
して構成されている。そして、各ガス供給路９〜１２
に、開閉弁としての二方電磁弁１３，１４，１５，１６
を介してゼロガスボンベ１７、第１測定成分に対応する
第１スパンガスを収容したボンベ１８、第２測定成分に
対応する第２スパンガスを収容したボンベ１９、第３測
定成分に対応する第３スパンガスを収容したボンベ２０
がそれぞれ設けられている。
【００１７】而して、上記構成のガス分析計において、
例えば３つの測定成分についての再現性試験を行うに
は、ＣＰＵ４からサンプリング装置１に対して、次のよ
うな開閉指令を出力して、三方電磁弁７、二方電磁弁１
３〜１６を開閉制御することにより、ゼロガスＺやスパ
ンガスＳＰなどの校正ガスＣを所定の手順で分析部２に
対して自動的に供給するのである。
例えば３つの測定成分についての再現性試験を行うに
は、ＣＰＵ４からサンプリング装置１に対して、次のよ
うな開閉指令を出力して、三方電磁弁７、二方電磁弁１
３〜１６を開閉制御することにより、ゼロガスＺやスパ
ンガスＳＰなどの校正ガスＣを所定の手順で分析部２に
対して自動的に供給するのである。
【００１８】 先ず、三方電磁弁７を、その入口ポー
ト７ｃと出口ポート７ｂとが連通するように開にすると
共に、二方電磁弁１３のみを開き、これらを例えば３分
間開状態とする。次いで、三方電磁弁７および二方電磁
弁１４のみをそれぞれ３分間開く。
ト７ｃと出口ポート７ｂとが連通するように開にすると
共に、二方電磁弁１３のみを開き、これらを例えば３分
間開状態とする。次いで、三方電磁弁７および二方電磁
弁１４のみをそれぞれ３分間開く。
【００１９】上記に示した動作を繰り返して３回連続
的に行い、そのときの検出器出力をＣＰＵ４内において
分析処理することにより、例えば図３に示すように、第
１測定成分に関する指示記録を得ることができる。な
お、図３において、ｓｐ11，ｓｐ12，ｓｐ13は第１スパ
ンガスＳＰ1 を３回供給したときにおける分析濃度信号
を、また、ｚはゼロガスＺを３回供給したときにおける
分析濃度信号を、それぞれ示す。
的に行い、そのときの検出器出力をＣＰＵ４内において
分析処理することにより、例えば図３に示すように、第
１測定成分に関する指示記録を得ることができる。な
お、図３において、ｓｐ11，ｓｐ12，ｓｐ13は第１スパ
ンガスＳＰ1 を３回供給したときにおける分析濃度信号
を、また、ｚはゼロガスＺを３回供給したときにおける
分析濃度信号を、それぞれ示す。
【００２０】 そして、三方電磁弁７および二方電磁
弁１３のみをそれぞれ例えば３分間開き、次いで、三方
電磁弁７および二方電磁弁１５のみをそれぞれ３分間開
く。
弁１３のみをそれぞれ例えば３分間開き、次いで、三方
電磁弁７および二方電磁弁１５のみをそれぞれ３分間開
く。
【００２１】上記に示した動作を繰り返して３回連続
的に行うことにより、第２測定成分に関する指示記録を
同様に得ることができる。
的に行うことにより、第２測定成分に関する指示記録を
同様に得ることができる。
【００２２】 さらに、三方電磁弁７および二方電磁
弁１３のみをそれぞれ例えば３分間開き、次いで、三方
電磁弁７および二方電磁弁１６のみをそれぞれ３分間開
く。
弁１３のみをそれぞれ例えば３分間開き、次いで、三方
電磁弁７および二方電磁弁１６のみをそれぞれ３分間開
く。
【００２３】上記に示した動作を繰り返して３回連続
的に行うことにより、第３測定成分に関する指示記録を
同様に得ることができる。
的に行うことにより、第３測定成分に関する指示記録を
同様に得ることができる。
【００２４】上述のように、前記〜の動作を連続的
に行うことにより、第１〜第３測定成分の指示記録を得
ることができ、３つの測定成分についての再現性試験を
自動的に行うことができる。なお、他の性能試験につい
ても同様に行えることは云うまでもない。
に行うことにより、第１〜第３測定成分の指示記録を得
ることができ、３つの測定成分についての再現性試験を
自動的に行うことができる。なお、他の性能試験につい
ても同様に行えることは云うまでもない。
【００２５】そして、このガス分析計で例えば煙道排ガ
スを分析する場合には、三方電磁弁７を、その入口ポー
ト７ａと出口ポート７ｂとが連通するように開にして、
サンプルガスＳを分析部２に供給すればよい。
スを分析する場合には、三方電磁弁７を、その入口ポー
ト７ａと出口ポート７ｂとが連通するように開にして、
サンプルガスＳを分析部２に供給すればよい。
【００２６】本考案は、上述の３成分計に限られるもの
ではないことは云うまでもない。そして、切換え弁とし
て三方電磁弁７以外の部材を用いたり、また、開閉弁と
して二方電磁弁１３〜１６以外の部材を用いてもよい。
ではないことは云うまでもない。そして、切換え弁とし
て三方電磁弁７以外の部材を用いたり、また、開閉弁と
して二方電磁弁１３〜１６以外の部材を用いてもよい。
【００２７】
【考案の効果】以上説明したように、本考案によれば、
サンプリング流路と校正ガス流路とを接続する切換え弁
と、校正ガス流路に対して互いに並列に接続されるゼロ
ガス供給路およびスパンガス供給路にそれぞれ設けられ
た開閉弁は、ガス分析計の通常の測定手順などを格納し
た制御部に格納されたプログラムに従って自動的に開閉
制御され、ゼロガスやスパンガスなど同一ボンベからの
ガスを分析部に対して所定の手順で複数回自動供給する
ことができるので、再現性試験に供されるガス分析計の
台数が多くなっても、従来技術と異なり、多数の係員に
よることなく再現性試験を自動的かつ効率よく行うこと
ができる。
サンプリング流路と校正ガス流路とを接続する切換え弁
と、校正ガス流路に対して互いに並列に接続されるゼロ
ガス供給路およびスパンガス供給路にそれぞれ設けられ
た開閉弁は、ガス分析計の通常の測定手順などを格納し
た制御部に格納されたプログラムに従って自動的に開閉
制御され、ゼロガスやスパンガスなど同一ボンベからの
ガスを分析部に対して所定の手順で複数回自動供給する
ことができるので、再現性試験に供されるガス分析計の
台数が多くなっても、従来技術と異なり、多数の係員に
よることなく再現性試験を自動的かつ効率よく行うこと
ができる。
【００２８】そして、従来と異なり、高価な校正ガス導
入切換装置を用意する必要がないのでコストダウンが図
れ、また、前記切換え弁および開閉弁を開閉制御するた
めのプログラムは、ガス分析計の制御部に格納しておく
だけでよく、新たに部品などを設ける必要がないので、
コストアップになることがないといった利点がある。
入切換装置を用意する必要がないのでコストダウンが図
れ、また、前記切換え弁および開閉弁を開閉制御するた
めのプログラムは、ガス分析計の制御部に格納しておく
だけでよく、新たに部品などを設ける必要がないので、
コストアップになることがないといった利点がある。
【図１】本考案に係るガス分析計の一構成例を概略的に
示す図である。
示す図である。
【図２】前記ガス分析計におけるサンプリング装置の一
構成例を示す配管系統図である。
構成例を示す配管系統図である。
【図３】本考案の動作説明図である。
【図４】従来技術を説明するための図である。
【図５】従来技術を説明するための図である。
２…分析部、４…制御部、６…サンプリング流路、７…
切換え弁、８…校正ガス流路、９…ゼロガス供給路、１
０，１１，１２…スパンガス供給路、１３，１４，１
５，１６…開閉弁、Ｓ…サンプルガス、Ｚ…ゼロガス、
ＳＰ…スパンガス、ａ…制御指令。
切換え弁、８…校正ガス流路、９…ゼロガス供給路、１
０，１１，１２…スパンガス供給路、１３，１４，１
５，１６…開閉弁、Ｓ…サンプルガス、Ｚ…ゼロガス、
ＳＰ…スパンガス、ａ…制御指令。
Claims (1)
- 【請求項１】 サンプルガスを分析する分析部と、この
分析部にサンプルガスを供給するサンプリング流路と、
前記分析部に制御指令を出力して所定の分析を行わせる
制御部と、前記サンプリング流路に対して切換え弁を介
して接続される校正ガス流路と、この校正ガス流路に対
して互いに並列に接続され、かつそれぞれ開閉弁を備え
たゼロガス供給路およびスパンガス供給路とを備えると
共に、前記制御部内に、出荷時に行われる性能試験にお
いて前記切換え弁および開閉弁を開閉制御することによ
り前記分析部に対してゼロガスおよびスパンガスを所定
の手順で複数回自動供給して再現性試験を行うためのプ
ログラムを格納したことを特徴とするガス分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991036227U JP2601977Y2 (ja) | 1991-04-20 | 1991-04-20 | ガス分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1991036227U JP2601977Y2 (ja) | 1991-04-20 | 1991-04-20 | ガス分析計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04122355U JPH04122355U (ja) | 1992-11-02 |
| JP2601977Y2 true JP2601977Y2 (ja) | 1999-12-13 |
Family
ID=31918218
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1991036227U Expired - Lifetime JP2601977Y2 (ja) | 1991-04-20 | 1991-04-20 | ガス分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2601977Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9347875B2 (en) * | 2009-12-25 | 2016-05-24 | Horiba, Ltd. | Gas analyzing system |
| EP3929579A4 (en) * | 2019-02-22 | 2022-11-16 | Hitachi High-Tech Corporation | ANALYSIS DEVICE |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6311633U (ja) * | 1986-07-09 | 1988-01-26 |
-
1991
- 1991-04-20 JP JP1991036227U patent/JP2601977Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04122355U (ja) | 1992-11-02 |
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