JP2594563B2 - 誤り訂正回路 - Google Patents

誤り訂正回路

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JP2594563B2
JP2594563B2 JP62141581A JP14158187A JP2594563B2 JP 2594563 B2 JP2594563 B2 JP 2594563B2 JP 62141581 A JP62141581 A JP 62141581A JP 14158187 A JP14158187 A JP 14158187A JP 2594563 B2 JP2594563 B2 JP 2594563B2
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JP
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error
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幸雄 萩原
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  • Detection And Correction Of Errors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はデータビットと検査ビットから成る情報デー
タを入力し,この情報データよりシンドロームを生成し
て情報データの誤り訂正を行う誤り訂正回路に関する。
〔従来の技術〕
従来の誤り訂正回路の構成例を第4図に示す。この構
成例は,情報データよりシンドロームを発生し,誤り訂
正ビット位置を出力し,この誤り訂正ビット位置信号に
情報データの時間的位置を合せるために遅延させる回路
構成となっていた。
第4図において,入力端子21より情報データを入力す
る。出力端子31からは誤り訂正された情報データを出力
する。切替回路22は入力端子21より入力される情報デー
タ及び反転回路30より出力される情報データを入力し,
これらの2つの信号を切替えてRAMによるメモリ25に出
力する。
メモリ23に対する情報データの書き込み/読み出しは
読出し用アドレスカウンタ25と書込み用アドレスカウン
タ24と前記2つのアドレスを切替えるアドレス切替回路
26の制御により行なわれる。読出し用アドレスカウンタ
25のアドレス制御により情報データが読み出され,シフ
トレジスタ27及びシンドローム生成回路28に入力され
る。29は訂正位置デコード回路であり,シンドローム生
成回路28で生成したシンドロームよりより訂正位置情報
を反転回路30に出力する。シフトレジスタ27はシンドロ
ーム生成及び訂正位置情報生成で発生する遅延時間に合
せて情報データを遅延させ,反転回路30に出力する。反
転回路30では,訂正位置情報より情報データに対し誤り
訂正を行ない,切替回路22を通してメモリ23に情報デー
タを出力する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来の誤り訂正回路は,シンドローム生成及
び誤り訂正位置情報生成までの処理の遅延時間に合せて
情報データを遅延させる構成となっている。このため,
この誤り訂正回路の遅延時間は(シンドローム生成回路
28の遅延時間)+(訂正位置デコード回路29の遅延時
間)となる。訂正位置デコード回路29の遅延時間は1ワ
ード(データビットと検査ビットから成る)分となり,
処理時間が大となる欠点がある。第5図に処理時間のタ
イミングを示す。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の誤り訂正回路は,データビットと検査ビット
から成る1ブロックの情報データを蓄えるメモリと,そ
の情報データよりシンドロームを生成するシンドローム
生成回路と,このシンドロームを入力しシンドロームに
対応した誤りビット位置アドレスにデコードし,アドレ
スを出力する訂正位置アドレス回路と,前記メモリに対
してアドレスと書き込み/読み出し制御信号を発生する
アドレス発生回路と,前記訂正位置アドレス回路のアド
レス出力と前記アドレス発生回路のアドレス出力を切替
え,訂正位置アドレスとして出力するアドレス切替回路
と,訂正位置アドレスで入力するデータに誤りがあれば
訂正する反転回路とを有している。
〔実施例〕
次に,本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の構成図である。1は入力
端子,2は切替回路,3はメモリ,4はシンドローム生成回
路,5は訂正位置アドレス回路,6はアドレス発生回路,7は
アドレス切替回路,8はオアゲート,9は反転回路,10は出
力端子を示す。
動作を詳細に説明する。入力端子1より入力された情
報データは切替回路2で選択されメモリ3に入力され
る。この入力情報データはアドレス発生回路6から出力
されるAA及びABアドレスで指定されたメモリ3のアドレ
ス位置に書き込まれる。ここで,AAアドレスはアドレス
切替回路7により選択される。
第3図にメモリ3のマップを示す。AAアドレスは1ワ
ード中のビット位置を,ABアドレスは各ワード位置をそ
れぞれ表わす。
情報データの書き込みが終了すると誤り訂正処理を行
う。誤り訂正処理はまず,アドレス発生回路6でABアド
レスを「0」,AAアドレスを「0」から「M」までカウ
ントアップしてアドレスを発生する。アドレス切替回路
7ではアドレス発生回路6のAAアドレスを選択し,メモ
リ3に対して読出し制御を行い1ワードの情報データを
読み出す。読み出された情報データよりシンドローム生
成回路4にてシンドロームを生成する。このシンドロー
ム生成回路4はシフトレジスタおよび排他的論理和ゲー
トから成る割り算回路によって,生成多項式により割り
算を実行し,シンドロームを生成する。1ワード中に誤
りビットがない場合,シンドロームは「0」となる。誤
りが有る場合,シンドロームは値をもち(≠0),この
値は1ワード中どのビットが誤ったかの情報と1対1に
対応づけられる。この1対1の対応関係から訂正位置ア
ドレス回路5ではシンドローム生成回路4からのシンド
ロームよりAAアドレスをデコードする。この訂正位置ア
ドレス回路5で出力されるアドレスをアドレス切替回路
7にてAAアドレスとして選択する。この時ABアドレスは
アドレス発生回路6のアドレス値「0」をとる。このA
A,ABアドレスにより訂正されるビットオアゲート8の出
力「1」が反転回路9に入力され,排他的論理和(EX−
OR)がとられ訂正が行われる。反転回路9より出力され
たビットデータはAA,ABアドレスでメモリ3に書き込ま
れる。以上の様に処理時間は(シンドローム生成回路4
の遅延時間)+(反転回路9の遅延時間(2ビット))
となる。アドレス発生回路6のABアドレス値を+1カウ
ントアップし次の情報データ1ワードを読み出し,上記
の誤り訂正処理を行う。第2図に処理時間のタイミング
を示す。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は,シンドロームより訂正
すべき情報データのビットが格納されているアドレスを
デコードすることにより,誤り訂正に要する処理時間を
短縮できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成図,第2図は第1図の
構成での処理時間のタイミングを示した図,第3図は第
1図の構成中のメモリのマップ図,第4図は従来の構成
図,第5図は第4図の構成での処理時間のタイミングを
示した図である。 第1図において 1……入力端子,2……切替回路,3……メモリ,4……シン
ドローム生成回路,5……訂正位置アドレス回路,6……ア
ドレス発生回路,7……アドレス切替回路,8……オアゲー
ト,9……反転回路,10……出力端子。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】データビットと検査ビットからなる1ブロ
    ックの情報データを蓄えるメモリと、 このメモリに対して行および列アドレスと書き込み/読
    み出し制御信号を発生するアドレス発生回路と、 前記メモリから行および列アドレスによりシリアルに読
    み出された情報データから前記データビットの誤りの有
    無と誤りの位置を示すシンドロームを生成するシンドロ
    ーム生成回路と、 前記シンドロームを入力しシンドロームに対応した誤り
    ビット位置アドレスにデコードし、誤り位置列アドレス
    を出力する訂正位置アドレス回路と、 この誤り位置列アドレスと前記アドレス発生回路からを
    列アドレスを切り替え、訂正位置列アドレスを出力する
    アドレス切り替え回路と、 前記シンドロームをオアを取るオア回路と、 このオア回路の出力を受け、前記訂正位置列アドレス
    で、前記読み出された情報データに誤りがあれば誤りの
    あるビットを訂正する反転回路を有し、 この反転回路からの訂正されたビットに基づき、前記ア
    ドレス発生回路からの行アドレスおよび前記訂正列位置
    アドレスにより指定された前記情報データの対応する位
    置のビットを訂正することを特徴とする誤り訂正回路。
JP62141581A 1987-06-08 1987-06-08 誤り訂正回路 Expired - Lifetime JP2594563B2 (ja)

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JPS63305430A JPS63305430A (ja) 1988-12-13
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JPS51147921A (en) * 1975-06-14 1976-12-18 Fujitsu Ltd Memory device

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