JP2593872B2 - レベル変換回路 - Google Patents
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- H03K19/0175—Coupling arrangements; Interface arrangements
- H03K19/0185—Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
- H03K19/018507—Interface arrangements
- H03K19/018521—Interface arrangements of complementary type, e.g. CMOS
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、小振幅信号をレベル変換して外部負荷容量
を高速に駆動する大振幅信号を出力するレベル変換回路
に係り、特にMOSレベル(高レベル5V,低レベルOV)の信
号を発生する相補形MOSインタフェイス回路に関する。
を高速に駆動する大振幅信号を出力するレベル変換回路
に係り、特にMOSレベル(高レベル5V,低レベルOV)の信
号を発生する相補形MOSインタフェイス回路に関する。
MOSレベルの信号を高速に出力する従来の相補形MOS
(以下、CMOSとよぶ)インタフェイス回路を第10図に示
す。これは、バイポーラトランジスタとMOSトランジス
タとを組合せたインタフェイス回路であり、MOSレベル
の信号(高レベル5V,低レベル0V)をMOSインバータで検
出して、外部負荷をバイポーラトランジスタによる外部
負荷駆動回路3により高速に駆動する回路である。外部
負荷駆動回路3は、トーテム・ポール形に接続されたバ
イポーラQ1,Q2で構成され、インバータ回路1は、バイ
ポーラトランジスタQ2を駆動する、pMOSトランジスタT2
とnMOSトランジスタT1とで構成される、CMOSインバータ
と、バイポーラトランジスタQ1を駆動する、2つのnMOS
トランジスタT4,T3で構成される、nMOSインバータで構
成される。CMOSインバータの高電位電源は、外部電源V
CC(5V)に接続され、低電位電源は外部電源VEE(0V)
に接続されている。また、nMOSインバータ2の高電位電
源は、外部負荷駆動回路の出力端子に接続され、低電位
電源はVEEに接続されている。
(以下、CMOSとよぶ)インタフェイス回路を第10図に示
す。これは、バイポーラトランジスタとMOSトランジス
タとを組合せたインタフェイス回路であり、MOSレベル
の信号(高レベル5V,低レベル0V)をMOSインバータで検
出して、外部負荷をバイポーラトランジスタによる外部
負荷駆動回路3により高速に駆動する回路である。外部
負荷駆動回路3は、トーテム・ポール形に接続されたバ
イポーラQ1,Q2で構成され、インバータ回路1は、バイ
ポーラトランジスタQ2を駆動する、pMOSトランジスタT2
とnMOSトランジスタT1とで構成される、CMOSインバータ
と、バイポーラトランジスタQ1を駆動する、2つのnMOS
トランジスタT4,T3で構成される、nMOSインバータで構
成される。CMOSインバータの高電位電源は、外部電源V
CC(5V)に接続され、低電位電源は外部電源VEE(0V)
に接続されている。また、nMOSインバータ2の高電位電
源は、外部負荷駆動回路の出力端子に接続され、低電位
電源はVEEに接続されている。
なお、この種の技術が記載されている文献として、
「Bi CMOSドライバの性能検討;電子通信学会総合全国
大会講演論文集、昭和61年,2−223頁」がある。
「Bi CMOSドライバの性能検討;電子通信学会総合全国
大会講演論文集、昭和61年,2−223頁」がある。
上記の回路を、電源電圧変換回路を内臓し内部MOS回
路を低電源(3V)で動作させるLSIに適用した場合、第1
0図に示すインタフェイス回路の入力振幅は内部CMOSレ
ベル(高レベル3V,低レベル0V)となるため. (i)CMOSインバータの入力電圧が高レベルの場合、pM
OSトランジスタT2およびnMOSトランジスタT1が同時に導
通する。このため、外部電源VEEレベルの出力を得るた
めには、MOSトランジスタT2のチャネル幅を大きくしな
ければならないため、CMOSインバータに大電流が流れ
る。
路を低電源(3V)で動作させるLSIに適用した場合、第1
0図に示すインタフェイス回路の入力振幅は内部CMOSレ
ベル(高レベル3V,低レベル0V)となるため. (i)CMOSインバータの入力電圧が高レベルの場合、pM
OSトランジスタT2およびnMOSトランジスタT1が同時に導
通する。このため、外部電源VEEレベルの出力を得るた
めには、MOSトランジスタT2のチャネル幅を大きくしな
ければならないため、CMOSインバータに大電流が流れ
る。
(ii)上記の回路は、MOSトランジスタのドレイン・ゲ
ート電圧およびドレイン・ソース電圧が外部電源レベル
の高電圧となるため、ゲート耐圧およびホットキャリァ
等によるデバイス劣化により、高性能な微細MOSトラン
ジスタは使用できない。という問題があった。
ート電圧およびドレイン・ソース電圧が外部電源レベル
の高電圧となるため、ゲート耐圧およびホットキャリァ
等によるデバイス劣化により、高性能な微細MOSトラン
ジスタは使用できない。という問題があった。
本発明の目的は、従来技術での上記した問題点を解決
し、ゲート耐圧の小さい微細MOSトランジスタの使用を
可能とし、高速かつ消費電力の小さいレベル変換回路を
提供することにある。
し、ゲート耐圧の小さい微細MOSトランジスタの使用を
可能とし、高速かつ消費電力の小さいレベル変換回路を
提供することにある。
上記の目的は、入力小振幅信号の高レベル側をさらに
高いレベルにシフトするインバータ回路を具備してなる
第1のレベル変換回路と、入力小振幅信号の低レベル側
を入力と同じ低レベルを維持するようにシフトするイン
バータ回路を具備してなる第2のレベル変換回路と、上
記第1,第2のレベル変換回路の出力がそれぞれゲートに
入力されるCMOSインバータ回路を具備して成る大振幅発
生回路とを設け、この大振幅発生回路の出力をレベル変
換回路の出力とする構成を採用することにより、達成さ
れる。
高いレベルにシフトするインバータ回路を具備してなる
第1のレベル変換回路と、入力小振幅信号の低レベル側
を入力と同じ低レベルを維持するようにシフトするイン
バータ回路を具備してなる第2のレベル変換回路と、上
記第1,第2のレベル変換回路の出力がそれぞれゲートに
入力されるCMOSインバータ回路を具備して成る大振幅発
生回路とを設け、この大振幅発生回路の出力をレベル変
換回路の出力とする構成を採用することにより、達成さ
れる。
すなわち、本発明においては、内部MOSレベルの入力
信号を2分し、その一方は反転しつつ信号レベルをシフ
トアップした信号の高レベル側と、他の一方は極性反転
のみで信号レベルは入力信号と同じレベルの信号の低レ
ベル側とをCMOSトランジスタの下記ゲートに印加した
後、これら新たに設定された高低両レベルの信号を合成
することにより、大振幅発生回路を構成している各トラ
ンジスタに大振幅電圧がかかることなく、出力として大
振幅信号を得るようにしたものである。
信号を2分し、その一方は反転しつつ信号レベルをシフ
トアップした信号の高レベル側と、他の一方は極性反転
のみで信号レベルは入力信号と同じレベルの信号の低レ
ベル側とをCMOSトランジスタの下記ゲートに印加した
後、これら新たに設定された高低両レベルの信号を合成
することにより、大振幅発生回路を構成している各トラ
ンジスタに大振幅電圧がかかることなく、出力として大
振幅信号を得るようにしたものである。
大振幅発生回路のCMOSインバータを構成するpMOSトラ
ンジスタとnMOSトランジスタとの直列回路を外部高電位
電源VCC(5V)と外部低電位電源VEE(0V)との間に配置
してpMOSトランジスタのゲートに第1のレベル変換回路
の出力VHを印加しnMOSトランジスタのゲートに第2のレ
ベル変換回路の出力VLを印加する構成とし、入力信号V
inが低レベル(0V)の場合は、第1のレベル変換回路の
出力VHを外部高電位電源VCCレベルに、第2のレベル変
換回路の出力VLを、外部高電位電源VCCよりは低い電圧
値に設定される内部定電源VDD(例えば3V)レベルにシ
フトし、これにより大振幅発生回路の出力VOUTが外部低
電源VEEレベルとなるようにすれば、pMOSトランジスタ
には外部低電圧VEEがかかることはなく、また、入力信
号Vinが高レベル(3V)の場合は、VHをVDDレベルにVLを
VEEレベルにシフトし大振幅発生回路の出力VOUTが外部
高電源VCCレベルとなるようにすれば、大振幅発生回路
のCMOSインバータを構成するすべてのMOSトランジスタ
のゲート・ドレイン間及びゲート・ソース間に高電圧が
かかることはなくなり、耐圧の小さい微細MOSトランジ
スタが使用できることになる。
ンジスタとnMOSトランジスタとの直列回路を外部高電位
電源VCC(5V)と外部低電位電源VEE(0V)との間に配置
してpMOSトランジスタのゲートに第1のレベル変換回路
の出力VHを印加しnMOSトランジスタのゲートに第2のレ
ベル変換回路の出力VLを印加する構成とし、入力信号V
inが低レベル(0V)の場合は、第1のレベル変換回路の
出力VHを外部高電位電源VCCレベルに、第2のレベル変
換回路の出力VLを、外部高電位電源VCCよりは低い電圧
値に設定される内部定電源VDD(例えば3V)レベルにシ
フトし、これにより大振幅発生回路の出力VOUTが外部低
電源VEEレベルとなるようにすれば、pMOSトランジスタ
には外部低電圧VEEがかかることはなく、また、入力信
号Vinが高レベル(3V)の場合は、VHをVDDレベルにVLを
VEEレベルにシフトし大振幅発生回路の出力VOUTが外部
高電源VCCレベルとなるようにすれば、大振幅発生回路
のCMOSインバータを構成するすべてのMOSトランジスタ
のゲート・ドレイン間及びゲート・ソース間に高電圧が
かかることはなくなり、耐圧の小さい微細MOSトランジ
スタが使用できることになる。
第1図は本発明の一実施例であって、第1のレベル変
換回路4、第2のレベル変換回路5及び大振幅発生回路
6でレベル変換回路8が構成される。
換回路4、第2のレベル変換回路5及び大振幅発生回路
6でレベル変換回路8が構成される。
第1のレベル変換回路4は、抵抗R,nMOSトランジスタ
T5,T6の直列接続で構成される。抵抗Rは外部高電位電
源VCC(5V)とMOSトランジスタT6のドレイン間に接続さ
れ、MOSトランジスタT6のゲートは内部定電源VDD(3V)
が接続され、ソースはMOSトランジスタT5のドレインに
接続されている。MOSトランジスタT5のソースは外部低
電位電源VEEに接続され、ゲートに内部MOSレベルの信号
Vinが印加され、MOSトランジスタT6のドレインより出力
VHを発生している。
T5,T6の直列接続で構成される。抵抗Rは外部高電位電
源VCC(5V)とMOSトランジスタT6のドレイン間に接続さ
れ、MOSトランジスタT6のゲートは内部定電源VDD(3V)
が接続され、ソースはMOSトランジスタT5のドレインに
接続されている。MOSトランジスタT5のソースは外部低
電位電源VEEに接続され、ゲートに内部MOSレベルの信号
Vinが印加され、MOSトランジスタT6のドレインより出力
VHを発生している。
第2のレベル変換回路5は、MOSトランジスタT7,T8で
構成されるCMOSインバータであり、pMOSトランジスタT8
のソースは内部定電源VDDに接続され、nMOSトランジス
タT7のソースは外部低電源VEE(0V)に接続されてい
る。MOSトランジスタT7,T8のゲートには内部MOSレベル
信号Vin(高レベルVDD、低レベルVEE)が入力され、MOS
トランジスタT7,T8のドレインから出力VLを発生してい
る。
構成されるCMOSインバータであり、pMOSトランジスタT8
のソースは内部定電源VDDに接続され、nMOSトランジス
タT7のソースは外部低電源VEE(0V)に接続されてい
る。MOSトランジスタT7,T8のゲートには内部MOSレベル
信号Vin(高レベルVDD、低レベルVEE)が入力され、MOS
トランジスタT7,T8のドレインから出力VLを発生してい
る。
大振幅発生回路6は、MOSトランジスタT12、ドレイン
電圧リミッタ回路7、およびMOSトランジスタT9の直列
接続で構成され、pMOSトランジスタT12のソースは外部
高電位電源VCCに接続され、ゲートは第1のレベル変換
回路4の出力VHに接続され、ドレインはドレイン電圧リ
ミッタ回路7に接続されている。ドレイン電圧リミッタ
回路7は、pMOSトランジスタT11とnMOSトランジスタT10
の直列接続で構成され、各トランジスタのゲートには内
部定電源VDDが接続され、各ドレインより出力VOUTを発
生している。MOSトランジスタT10のソースは、MOSトラ
ンジスタT9のドレインに接続され、MOSトランジスタT9
のゲートは、第2のレベル変換回路5の出力VLに接続さ
れ、ソースは外部低電位電源VEEに接続されている。
電圧リミッタ回路7、およびMOSトランジスタT9の直列
接続で構成され、pMOSトランジスタT12のソースは外部
高電位電源VCCに接続され、ゲートは第1のレベル変換
回路4の出力VHに接続され、ドレインはドレイン電圧リ
ミッタ回路7に接続されている。ドレイン電圧リミッタ
回路7は、pMOSトランジスタT11とnMOSトランジスタT10
の直列接続で構成され、各トランジスタのゲートには内
部定電源VDDが接続され、各ドレインより出力VOUTを発
生している。MOSトランジスタT10のソースは、MOSトラ
ンジスタT9のドレインに接続され、MOSトランジスタT9
のゲートは、第2のレベル変換回路5の出力VLに接続さ
れ、ソースは外部低電位電源VEEに接続されている。
第1図において本発明の動作説明を行う。
まず、内部MOSレベルの信号Vinが低レベル(0V)の場
合を説明する。
合を説明する。
第1のレベル変換回路4は、MOSトランジスタT5が非
導通となり抵抗Rに電流が流れないため、出力VHは外部
高電位電源VCCレベルとなる。このとき、MOSトランジス
タT5のドレインは、MOSトランジスタT6のゲートに内部
定電源VDDが印加されているため、外部高電圧VCCがかか
らない。
導通となり抵抗Rに電流が流れないため、出力VHは外部
高電位電源VCCレベルとなる。このとき、MOSトランジス
タT5のドレインは、MOSトランジスタT6のゲートに内部
定電源VDDが印加されているため、外部高電圧VCCがかか
らない。
第2のレベル変換回路5は、CMOSインバータにより出
力VLは、内部定電源VDDレベルとなる。
力VLは、内部定電源VDDレベルとなる。
第1,第2のレベル変換回路の出力は、大振幅信号発生
回路のpMOSトランジスタT12およびnMOSトランジスタT9
のゲートに入力されるため、MOSトランジスタT12は非導
通となり、MOSトランジスタT9は導通する。このため、
大振幅発生回路の出力VOUTは、リミッタ回路のMOSトラ
ンジスタT10およびMOSトランジスタT9を通して外部低電
源VEEレベルとなる。このとき、MOSトランジスタT11の
ゲートは、内部定電源VDDが印加されるため、pMOSトラ
ンジスタT12のドレインには、外部低電圧VEEがかからな
い。
回路のpMOSトランジスタT12およびnMOSトランジスタT9
のゲートに入力されるため、MOSトランジスタT12は非導
通となり、MOSトランジスタT9は導通する。このため、
大振幅発生回路の出力VOUTは、リミッタ回路のMOSトラ
ンジスタT10およびMOSトランジスタT9を通して外部低電
源VEEレベルとなる。このとき、MOSトランジスタT11の
ゲートは、内部定電源VDDが印加されるため、pMOSトラ
ンジスタT12のドレインには、外部低電圧VEEがかからな
い。
次に、内部MOSレベルの信号Vinが高レベル(3V)の場
合を説明する。
合を説明する。
第1のレベル変換回路4は、MOSトランジスタT5が導
通し、抵抗Rに電流が流れるため、出力VHは低電位側に
下降する。このとき、抵抗Rの抵抗値を調節すれば出力
VHはVDDレベルに設定できる。
通し、抵抗Rに電流が流れるため、出力VHは低電位側に
下降する。このとき、抵抗Rの抵抗値を調節すれば出力
VHはVDDレベルに設定できる。
第2のレベル変換回路5では、CMOSインバータにより
出力VLは、外部低電源VEEレベルとなる。
出力VLは、外部低電源VEEレベルとなる。
第1,第2のレベル変換回路の出力は、大振幅信号回路
6のpMOSトランジスタT12およびnMOSトランジスタT9の
ゲートに入力されるため、MOSトランジスタT12は導通
し、MOSトランジスタT9は非導通となる。このため、大
振幅発生回路6の出力VOUTは、MOSトランジスタT12およ
びリミッタ回路のMOSトランジスタT11を通して外部高電
源VCCレベルになる。
6のpMOSトランジスタT12およびnMOSトランジスタT9の
ゲートに入力されるため、MOSトランジスタT12は導通
し、MOSトランジスタT9は非導通となる。このため、大
振幅発生回路6の出力VOUTは、MOSトランジスタT12およ
びリミッタ回路のMOSトランジスタT11を通して外部高電
源VCCレベルになる。
本回路構成では、外部高電位電源VCCのレベルは大振
幅発生回路のMOSトランジスタT9〜T12の全てのゲート・
ドレイン間およびゲート・ソース間に分散印加されるた
め上記大振幅発生回路を構成している各トランジスタに
高電圧がかからないので耐圧の小さい微細MOSトランジ
スタが使用でき、高速に外部負荷を駆動できるという利
点がある。なお、MOSトランスタの耐圧が外部電源電圧
以上の場合には、リミッタ回路を削除することにより高
速に大振幅信号に変換できる。
幅発生回路のMOSトランジスタT9〜T12の全てのゲート・
ドレイン間およびゲート・ソース間に分散印加されるた
め上記大振幅発生回路を構成している各トランジスタに
高電圧がかからないので耐圧の小さい微細MOSトランジ
スタが使用でき、高速に外部負荷を駆動できるという利
点がある。なお、MOSトランスタの耐圧が外部電源電圧
以上の場合には、リミッタ回路を削除することにより高
速に大振幅信号に変換できる。
第2図は、第1図中の第1のレベル変換回路4の第2
の実施例であり、第1図のnMOSトランジスタT6の代わり
にバイポーラトランジスタQ3を用いた回路である。本回
路構成では、バイポーラトランジスタの駆動力が大きい
ため、出力VHの立ち上がり、および立ち下がりを高速化
できる。また、バイポーラトランジスタのベース・コレ
クタ間の耐圧は、MOSトランジスタのドレイン・ゲート
耐圧よりも大きいため、外部高電源VCCが大きくなって
も使用できるという利点がある。
の実施例であり、第1図のnMOSトランジスタT6の代わり
にバイポーラトランジスタQ3を用いた回路である。本回
路構成では、バイポーラトランジスタの駆動力が大きい
ため、出力VHの立ち上がり、および立ち下がりを高速化
できる。また、バイポーラトランジスタのベース・コレ
クタ間の耐圧は、MOSトランジスタのドレイン・ゲート
耐圧よりも大きいため、外部高電源VCCが大きくなって
も使用できるという利点がある。
第3図は、第1図中の第1のレベル変換回路4の第3
の実施例であり、第1図のnMOSトランジスタT6の代わり
に直列接続されたダイオードD1〜D3を用いた回路であ
る。本回路構成では、内部定電源VDDを用いなくてもMOS
トランジスタT14のドレインに高電圧がかからないよう
にできるという利点がある。
の実施例であり、第1図のnMOSトランジスタT6の代わり
に直列接続されたダイオードD1〜D3を用いた回路であ
る。本回路構成では、内部定電源VDDを用いなくてもMOS
トランジスタT14のドレインに高電圧がかからないよう
にできるという利点がある。
第4図は、第1図中の第1のレベル変換回路4の第4
の実施例であり、Vinの入力レベルが中間レベル(例え
ば、高レベル4V,低レベル1V)の場合の回路構成を示し
たものである。第1図に示す第1のレベル変換回路4の
前段に、バイポーラトランジスタQ4によるエミッタフォ
ロワ回路41を設け、入力信号の低レベルをVEEレベルに
レベルシフトする回路である。
の実施例であり、Vinの入力レベルが中間レベル(例え
ば、高レベル4V,低レベル1V)の場合の回路構成を示し
たものである。第1図に示す第1のレベル変換回路4の
前段に、バイポーラトランジスタQ4によるエミッタフォ
ロワ回路41を設け、入力信号の低レベルをVEEレベルに
レベルシフトする回路である。
第5図は、第1図実施例に対応する他の実施例であ
り、Vinの入力レベルがVCC側にある場合(高レベル5V,
低レベル2V)の回路構成を示したものである。第1のレ
ベル変換回路4′は、第1図に示すレベル変換回路を逆
に接続した回路であり、pMOSトランジスタT15,pnpトラ
ンジスタQ5,および抵抗R′の直列接続で構成し、MOSト
ランジスタT15のゲートに内部MOSレベルの信号Vinを入
力し、バイポーラトランジスタQ5のコレクタを出力端子
VL′とし、ベースに内部定電源VDD′(2V)を接続した
ものである。第2のレベル変換回路5′は、MOSトラン
ジスタT16,T17からなるCMOSインバータを外部高電源VCC
と内部定電源VDD′間に接続したものであり、内部MOSレ
ベルの信号Vinの反転信号VH′を発生する回路である。
り、Vinの入力レベルがVCC側にある場合(高レベル5V,
低レベル2V)の回路構成を示したものである。第1のレ
ベル変換回路4′は、第1図に示すレベル変換回路を逆
に接続した回路であり、pMOSトランジスタT15,pnpトラ
ンジスタQ5,および抵抗R′の直列接続で構成し、MOSト
ランジスタT15のゲートに内部MOSレベルの信号Vinを入
力し、バイポーラトランジスタQ5のコレクタを出力端子
VL′とし、ベースに内部定電源VDD′(2V)を接続した
ものである。第2のレベル変換回路5′は、MOSトラン
ジスタT16,T17からなるCMOSインバータを外部高電源VCC
と内部定電源VDD′間に接続したものであり、内部MOSレ
ベルの信号Vinの反転信号VH′を発生する回路である。
第6図は本発明の第2の実施例であり、レベル変換回
路8内の大振幅発生回路の後段にさらに外部負荷駆動回
路9を付加した回路である。大振幅発生回路の出力VOUT
をバイポーラトランジスタQ6のベースに接続することに
より、エミッタフォロワ回路で外部負荷を駆動する回路
である。バイポーラトランジスタQ6のエミッタには、負
荷抵抗として、2つのMOSトランジスタT20,T19が直列接
続され、MOSトランジスタT20のゲートには内部定電源V
DDが接続され、MOSトランジスタT19のゲートには、内部
MOSレベルの反転信号VLが接続されている。本回路構成
では、外部負荷をバイポーラトランジスタで駆動するた
め、高速化が図れる利点がある。また、内部MOSレベル
の信号Vinが低レベルの場合、MOSトランジスタT19は非
導通となるためエミッタフォロワ回路での消費電力を削
減できる利点がある。さらに、MOSトランジスタのドレ
イン・ゲートおよびソース・ゲート間には高電圧がかか
らないため微細MOSトランジスタの使用が可能となる。
路8内の大振幅発生回路の後段にさらに外部負荷駆動回
路9を付加した回路である。大振幅発生回路の出力VOUT
をバイポーラトランジスタQ6のベースに接続することに
より、エミッタフォロワ回路で外部負荷を駆動する回路
である。バイポーラトランジスタQ6のエミッタには、負
荷抵抗として、2つのMOSトランジスタT20,T19が直列接
続され、MOSトランジスタT20のゲートには内部定電源V
DDが接続され、MOSトランジスタT19のゲートには、内部
MOSレベルの反転信号VLが接続されている。本回路構成
では、外部負荷をバイポーラトランジスタで駆動するた
め、高速化が図れる利点がある。また、内部MOSレベル
の信号Vinが低レベルの場合、MOSトランジスタT19は非
導通となるためエミッタフォロワ回路での消費電力を削
減できる利点がある。さらに、MOSトランジスタのドレ
イン・ゲートおよびソース・ゲート間には高電圧がかか
らないため微細MOSトランジスタの使用が可能となる。
第7図は、第6図中の外部負荷駆動回路9の第2の実
施例であり、外部負荷をバイポーラトランジスタQ6,Q7
で駆動する回路である。バイポーラトランジスタQ7のコ
レクタは、バイポーラトランジスタQ6のエミッタおよび
MOSトランジスタT23のドレインに接続され、ベースはMO
SトランジスタT22のソースおよびMOSトランジスタT21の
ドレインに接続され、エミッタは外部低電源に接続され
ている。MOSトランジスタT23のゲートは内部定電源VDD
に接続され、ソースはMOSトランジスタT22のドレインに
接続されている。MOSトランジスタT22のゲートは、内部
MOSレベルの信号の反転信号VLが接続され、MOSトランジ
スタT21のゲートには、内部MOSレベルの信号Vinが接続
され、ソースは外部低電源VEEに接続されている。
施例であり、外部負荷をバイポーラトランジスタQ6,Q7
で駆動する回路である。バイポーラトランジスタQ7のコ
レクタは、バイポーラトランジスタQ6のエミッタおよび
MOSトランジスタT23のドレインに接続され、ベースはMO
SトランジスタT22のソースおよびMOSトランジスタT21の
ドレインに接続され、エミッタは外部低電源に接続され
ている。MOSトランジスタT23のゲートは内部定電源VDD
に接続され、ソースはMOSトランジスタT22のドレインに
接続されている。MOSトランジスタT22のゲートは、内部
MOSレベルの信号の反転信号VLが接続され、MOSトランジ
スタT21のゲートには、内部MOSレベルの信号Vinが接続
され、ソースは外部低電源VEEに接続されている。
本回路構成では、バイポーラトランジスタQ7で外部負
荷を引き抜くため出力V0の立ち下がりが高速化される。
また、バイポーラトランジスタQ7およびMOSトランジス
タT22,T21には、過渡的にしか電流が流れないため消費
電力を削減できる。さらに、MOSトランジスタT21〜T23
のドレイン・ゲートおよびソース・ゲート間には外部電
源レベルの電圧がかからないので、微細MOSトランジス
タが使用でき高速化が図れるという利点がある。
荷を引き抜くため出力V0の立ち下がりが高速化される。
また、バイポーラトランジスタQ7およびMOSトランジス
タT22,T21には、過渡的にしか電流が流れないため消費
電力を削減できる。さらに、MOSトランジスタT21〜T23
のドレイン・ゲートおよびソース・ゲート間には外部電
源レベルの電圧がかからないので、微細MOSトランジス
タが使用でき高速化が図れるという利点がある。
第8図は、第6図中の外部負荷駆動回路9の第3の実
施例であり、第7図の外部負荷駆動回路の第2の実施例
において、MOSトランジスタT23の代わりに、直列接続さ
れたダイオードD4〜D6を接続した回路である。ダイオー
ドD4のアノードは、出力V0端子に接続され、ダイオード
D6のカソードは、MOSトランジスタT22のドレインに接続
されている。また、MOSトランジスタT22のドレインと内
部定電源VDDの間にpMOSトランジスタT24を接続し、ゲー
トに内部MOSレベルの反転信号VLを接続することによ
り、出力V0が外部高電圧よりも高レベルになってもpMOS
トランジスタT22を通して、MOSトランジスタのドレイン
を内部定電源に固定できるという利点がある。
施例であり、第7図の外部負荷駆動回路の第2の実施例
において、MOSトランジスタT23の代わりに、直列接続さ
れたダイオードD4〜D6を接続した回路である。ダイオー
ドD4のアノードは、出力V0端子に接続され、ダイオード
D6のカソードは、MOSトランジスタT22のドレインに接続
されている。また、MOSトランジスタT22のドレインと内
部定電源VDDの間にpMOSトランジスタT24を接続し、ゲー
トに内部MOSレベルの反転信号VLを接続することによ
り、出力V0が外部高電圧よりも高レベルになってもpMOS
トランジスタT22を通して、MOSトランジスタのドレイン
を内部定電源に固定できるという利点がある。
第9図は、第6図中の外部負荷駆動回路9の第4の実
施例であり、外部負荷駆動回路の第2,第3の実施例にお
いて、外部高電源VCCと出力VOUT間およびMOSトランジス
タT22のドレインと外部低電源VEE間にMOSトランジスタ
を接続することにより、V0の出力レベルを完全に外部電
源レベルとする大振幅補償回路91を付加した回路であ
る。ここでは、第2の実施例について説明する。第3の
実施例についても同様である。
施例であり、外部負荷駆動回路の第2,第3の実施例にお
いて、外部高電源VCCと出力VOUT間およびMOSトランジス
タT22のドレインと外部低電源VEE間にMOSトランジスタ
を接続することにより、V0の出力レベルを完全に外部電
源レベルとする大振幅補償回路91を付加した回路であ
る。ここでは、第2の実施例について説明する。第3の
実施例についても同様である。
pMOSトランジスタT26のソースは、VCCに接続され、ゲー
トは第1のレベル変換回路の出力VHが接続され、ドレイ
ンはpMOSトランジスタT25のソースに接続されている。p
MOSトランジスタT25のゲートは、内部定電位電源VDDに
接続され、ドレインは出力端子V0に接続されている。ま
た、nMOSトランジスタT24のドレインは、nMOSトランジ
スタT22のドレインに接続され、ゲートは内部MOSレベル
の信号の反転信号VLが接続され、ソースはVEEに接続さ
れている。
トは第1のレベル変換回路の出力VHが接続され、ドレイ
ンはpMOSトランジスタT25のソースに接続されている。p
MOSトランジスタT25のゲートは、内部定電位電源VDDに
接続され、ドレインは出力端子V0に接続されている。ま
た、nMOSトランジスタT24のドレインは、nMOSトランジ
スタT22のドレインに接続され、ゲートは内部MOSレベル
の信号の反転信号VLが接続され、ソースはVEEに接続さ
れている。
本回路構成では、バイポーラトランジスタQ6が導通状
態で、バイポーラトランジスタQ7が非導通の場合、直列
接続されたMOSトランジスタT26およびT25を通して、バ
イポーラトランジスタQ6のエミッタは外部高電位電源V
CCまで上昇する。また、バイポーラトランジスタQ7が導
通状態で、バイポーラトランジスタQ6が非導通の場合、
直列接続されたMOSトランジスタT23およびT24を通し
て、バイポーラトランジスタQ7のエミッタは外部低電位
電源VEEまで下降する。このため、出力V0は外部電源レ
ベルの振幅を発生できるという利点がある。また、MOS
トランジスタT23〜T26のドレイン・ゲートおよびソース
・ゲート間に高電圧がかからないため、耐圧の小さいMO
Sトランジスタの使用が可能となる。
態で、バイポーラトランジスタQ7が非導通の場合、直列
接続されたMOSトランジスタT26およびT25を通して、バ
イポーラトランジスタQ6のエミッタは外部高電位電源V
CCまで上昇する。また、バイポーラトランジスタQ7が導
通状態で、バイポーラトランジスタQ6が非導通の場合、
直列接続されたMOSトランジスタT23およびT24を通し
て、バイポーラトランジスタQ7のエミッタは外部低電位
電源VEEまで下降する。このため、出力V0は外部電源レ
ベルの振幅を発生できるという利点がある。また、MOS
トランジスタT23〜T26のドレイン・ゲートおよびソース
・ゲート間に高電圧がかからないため、耐圧の小さいMO
Sトランジスタの使用が可能となる。
なお、第6,第7,第8,第9図に示す回路において、MOS
トランジスタの耐圧が外部電源電圧以上の場合には、MO
SトランジスタT19,T22およびT25のドレインを直接出力
端子に接続することにより高速化が図れる。
トランジスタの耐圧が外部電源電圧以上の場合には、MO
SトランジスタT19,T22およびT25のドレインを直接出力
端子に接続することにより高速化が図れる。
以上説明したように、本発明のレベル変換回路は、大
振幅信号を発生するMOSトランジスタのゲート・ソース
間およびゲート・ドレイン間に、外部高電圧がかからな
い構成となるため、ゲート耐圧の小さい高性能微細MOS
トランジスタの使用が可能となり、高速に外部電源レベ
ルの出力信号を発生できるという利点がある。
振幅信号を発生するMOSトランジスタのゲート・ソース
間およびゲート・ドレイン間に、外部高電圧がかからな
い構成となるため、ゲート耐圧の小さい高性能微細MOS
トランジスタの使用が可能となり、高速に外部電源レベ
ルの出力信号を発生できるという利点がある。
第1図は本発明の一実施例回路図、第2図,第3図,第
4図はそれぞれ第1図中の第1のレベル変換回路に対す
る他の実施例回路図、第5図は第1図に対する他の実施
例回路図、第6図は外部負荷駆動回路を備えた本発明の
実施例回路図、第7図,第8図,第9図はそれぞれ外部
負荷駆動回路の他の実施例回路図、第10図は従来例を示
す回路図である。 符号の説明 4……第1のレベル変換回路 5……第2のレベル変換回路 6……大振幅発生回路 7……ドレイン電圧リミッタ回路 8……レベル変換回路 9……外部負荷駆動回路 41……エミッタフォロワ回路 91……大振幅補償回路
4図はそれぞれ第1図中の第1のレベル変換回路に対す
る他の実施例回路図、第5図は第1図に対する他の実施
例回路図、第6図は外部負荷駆動回路を備えた本発明の
実施例回路図、第7図,第8図,第9図はそれぞれ外部
負荷駆動回路の他の実施例回路図、第10図は従来例を示
す回路図である。 符号の説明 4……第1のレベル変換回路 5……第2のレベル変換回路 6……大振幅発生回路 7……ドレイン電圧リミッタ回路 8……レベル変換回路 9……外部負荷駆動回路 41……エミッタフォロワ回路 91……大振幅補償回路
Claims (5)
- 【請求項1】入力小振幅信号は第5のMOSトランジスタ
の制御端子に供給され、この第5のMOSトランジスタの
第1の電源端子は外部低電位電源に、第2の電源端子は
第6のMOSトランジスタの第1の電源端子に接続されて
おり、この第6のMOSトランジスタの制御端子には外部
高電位電源よりも低い電位を有する内部定電源が接続さ
れ、第2の電源端子は所定の抵抗値を有する抵抗器を介
して上記外部高電位電源に接続されてなる入力小振幅信
号を高電位側にシフトする第1のレベル変換回路と、 上記内部定電源を電源電圧とし、上記小振幅信号を入力
とする互いに相補形となる導電型を有する第7および第
8のMOSトランジスタで、かつこれら相補形の両MOSトラ
ンジスタのゲートが共通接続されて入力側を形成し、ド
レインが共通接続されて出力側を形成していることによ
り構成された第1の相補形MOSインバータによりなる入
力小振幅信号を低電位側にシフトする第2のレベル変換
回路と、 ソースが上記外部高電位電源に接続され、ゲートが上記
第6のMOSトランジスタの第2の電源端子に接続されて
いる第12のMOSトランジスタを有し、かつこの第12のMOS
トランジスタのドレインは、ドレイン電圧リミッタ回路
を形成している第10及び第11のMOSトランジスタによる
第2の相補形MOSインバータの一方のMOSトランジスタと
なる第11のMOSトランジスタのソースに接続されてお
り、この第11のMOSトランジスタのゲートは上記ドレイ
ン電圧リミッタ回路の他の一方を構成しかつ上記第12お
よび第11のMOSトランジスタとは相補形となる導電型を
有する第10のMOSトランジスタのゲートと共通接続され
ると同時に上記内部定電源にも接続されており、またこ
の第11のMOSトランジスタのドレインは上記第10のMOSト
ランジスタのドレインおよび当該大振幅発生回路の出力
端子に接続されており、さらにこの第10のMOSトランジ
スタのソースは同じ導電型の第9のMOSトランジスタの
ドレインに、第9のMOSトランジスタのゲートは上記第
2のレベル変換回路の出力端子に、ソースは外部低電位
電源に接続された構成により上記のシフトされた両信号
を合成し大振幅信号を得る大振幅発生回路と、 を有することを特徴とするレベル変換回路。 - 【請求項2】入力小振幅信号は第5のMOSトランジスタ
の制御端子に供給され、この第5のMOSトランジスタの
第1の電源端子は外部低電位電源に、第2の電源端子は
第6のMOSトランジスタの第1の電源端子に接続されて
おり、この第6のMOSトランジスタの制御端子には外部
高電位電源よりも低い電位を有する内部定電源が接続さ
れ、第2の電源端子は所定の抵抗値を有する抵抗器を介
して上記外部高電位電源に接続されてなる入力小振幅信
号を高電位側にシフトする第1のレベル変換回路と、 上記内部定電源を電源電圧とし、上記小振幅信号を入力
とする互いに相補形となる導電型を有する第7および第
8のMOSトランジスタで、かつこれら相補形の両MOSトラ
ンジスタのゲートが共通接続されて入力側を形成し、ド
レインが共通接続されて出力側を形成していることによ
り構成された第1の相補形MOSインバータによりなる入
力小振幅信号を低電位側にシフトする第2のレベル変換
回路と、 ソースが上記外部高電位電源に接続され、ゲートが上記
第6のMOSトランジスタの第2の電源端子に接続されて
いる第12のMOSトランジスタを有し、かつこの第12のMOS
トランジスタのドレインは、ドレイン電圧リミッタ回路
を形成している第10および第11のMOSトランジスタによ
る第2の相補形MOSインバータの一方のMOSトランジスタ
となる第11のMOSトランジスタのソースに接続されてお
り、この第11のMOSトランジスタのゲートは上記ドレイ
ン電圧リミッタ回路の他の一方を構成しかつ上記第12お
よび第11のMOSトランジスタとは相補形となる導電型を
有する第10のMOSトランジスタのゲートと共通接続され
ると同時に上記内部定電源にも接続されており、またこ
の第11のMOSトランジスタのドレインは上記第10のMOSト
ランジスタのドレインおよび当該大振幅発生回路の出力
端子に接続されており、さらにこの第10のMOSトランジ
スタのソースは同じ導電型の第9のMOSトランジスタの
ドレインに、第9のMOSトランジスタのゲートは上記第
2のレベル変換回路の出力端子に、ソースは外部低電位
電源に接続された構成により上記のシフトされた両信号
を合成し大振幅信号を得る大振幅発生回路と、 上記大振幅発生回路の出力を、コレクタが外部高電位電
源に接続された第6のバイポーラトランジスタのベース
に接続し、上記第6のバイポーラトランジスタのエミッ
タ端は低電位側に配置された第20のMOSトランジスタの
ドレインに接続され、上記第20のMOSトランジスタのゲ
ートは上記内部定電源に接続されており、この第20のMO
Sトランジスタのソースはさらに定電位側に配置された
第19のMOSトランジスタのドレインに接続され、この第1
9のMOSトランジスタのゲートは上記第2のレベル変換回
路の出力に、またソースは外部低電位電源に接続され、
かつ出力信号を上記第6のバイポーラトランジスタのエ
ミッタと、上記第20のMOSトランジスタのドレインとの
接続点から取り出す構成の外部負荷駆動回路と を有することを特徴とするレベル変換回路。 - 【請求項3】入力小振幅信号は第5のMOSトランジスタ
の制御端子に供給され、この第5のMOSトランジスタの
第1の電源端子は外部低電位電源に、第2の電源端子は
第6のMOSトランジスタの第1の電源端子に接続されて
おり、この第6のMOSトランジスタの制御端子には外部
高電位電源よりも低い電位を有する内部定電源が接続さ
れ、第2の電源端子は所定の抵抗値を有する抵抗器を介
して上記外部高電位電源に接続されてなる入力小振幅信
号を高電位側にシフトする第1のレベル変換回路と、 上記内部定電源を電源電圧とし、上記小振幅信号を入力
とする互いに相補形となる導電型を有する第7および第
8のMOSトランジスタで、かつこれら相補形の両MOSトラ
ンジスタのゲートが共通接続されて入力側を形成し、ド
レインが共通接続されて出力側を形成していることによ
り構成された第1の相補形MOSインバータによりなる入
力小振幅信号を低電位側にシフトする第2のレベル変換
回路と、 ソースが上記外部高電位電源に接続され、ゲートが上記
第6のMOSトランジスタの第2の電源端子に接続されて
いる第12のMOSトランジスタを有し、かつこの第12のMOS
トランジスタのドレインは、ドレイン電圧リミッタ回路
を形成している第10および第11のMOSトランジスタによ
る第2の相補形MOSインバータの一方のMOSトランジスタ
となる第11のMOSトランジスタのソースに接続されてお
り、この第11のMOSトランジスタのゲートは上記ドレイ
ン電圧リミッタ回路の他の一方を構成しかつ上記第12お
よび第11のMOSトランジスタとは相補形となる導電型を
有する第10のMOSトランジスタのゲートと共通接続され
ると同時に上記内部定電源にも接続されており、またこ
の第11のMOSトランジスタのドレインは上記第10のMOSト
ランジスタのドレインおよび当該大振幅発生回路の出力
端子に接続されており、さらにこの第10のMOSトランジ
スタのソースは同じ導電型の第9のMOSトランジスタの
ドレインに、第9のMOSトランジスタのゲートは上記第
2のレベル変換回路の出力端子に、ソースは外部低電位
電源に接続された構成により上記のシフトされた両信号
を合成し大振幅信号を得る大振幅発生回路と、 上記大振幅発生回路の出力を、コレクタが外部高電位電
源に接続された第6のバイポーラトランジスタのベース
に接続し、上記第6のバイポーラトランジスタのエミッ
タは低電位側に配置された第7のバイポーラトランジス
タのコレクタに接続されており、上記第7のバイポーラ
トランジスタのエミッタは外部低電位電源に、ベースに
は第21のMOSトランジスタのドレイン及び第22のMOSトラ
ンジスタのソースに接続されており、かつ上記第21のMO
Sトランジスタのソースは外部低電位電源に接続され、
ゲートには上記入力小振幅信号が印加され、上記第22の
MOSトランジスタのゲートは上記第2のレベル変換回路
の出力に、ドレインは第23のMOSトランジスタのソース
に接続され、この第23のMOSトランジスタのドレインは
上記第7のバイポーラトランジスタのコレクタに接続さ
れ、ゲートは上記内部定電源に接続され、上記第7のバ
イポーラトランジスタのコレクタ、上記第6のバイポー
ラトランジスタのエミッタおよび上記第23のMOSトラン
ジスタのドレインの接続点から出力信号を送出する外部
負荷駆動回路と を有していることを特徴とするレベル変換回路。 - 【請求項4】入力小振幅信号は第5のMOSトランジスタ
の制御端子に供給され、この第5のMOSトランジスタの
第1の電源端子は外部低電位電源に、第2の電源端子は
第6のMOSトランジスタの第1の電源端子に接続されて
おり、この第6のMOSトランジスタの制御端子には外部
高電位電源よりも低い電位を有する内部定電源が接続さ
れ、第2の電源端子は所定の抵抗値を有する抵抗器を介
して上記外部高電位電源に接続されてなる入力小振幅信
号を高電位側にシフトする第1のレベル変換回路と、 上記内部定電源を電源電圧とし、上記小振幅信号を入力
とする互いに相補形となる導電型を有する第7および第
8のMOSトランジスタで、かつこれらの相補形の両MOSト
ランジスタのゲートが共通接続されて入力側を形成し、
ドレインが共通接続されて出力側を形成していることに
より構成された第1の相補形MOSインバータによりなる
入力小振幅信号を低電位側にシフトする第2のレベル変
換回路と、 ソースが上記外部高電位電源に接続され、ゲートが上記
第6のMOSトランジスタの第2の電源端子に接続されて
いる第12のMOSトランジスタを有し、かつこの第12のMOS
トランジスタのドレインは、ドレイン電圧リミッタ回路
を形成している第10および第11のMOSトランジスタによ
る第2の相補形MOSインバータの一方のMOSトランジスタ
となる第11のMOSトランジスタのソースに接続されてお
り、この第11のMOSトランジスタのゲートは上記ドレイ
ン電圧リミッタ回路の他の一方を構成しかつ上記第12お
よび第11のMOSトランジスタとは相補形となる導電型を
有る第10のMOSトランジスタのゲートと共通接続される
と同時に上記内部定電源にも接続されており、またこの
第11のMOSトランジスタのドレインは上記第10のMOSトラ
ンジスタのドレインおよび当該大振幅発生回路の出力端
子に接続されており、さらにこの第10のMOSトランジス
タのソースは同じ導電型の第9のMOSトランジスタのド
レインに、第9のMOSトランジスタのゲートは上記第2
のレベル変換回路の出力端子に、ソースは外部低電位電
源に接続された構成により上記のシフトされた両信号を
合成し大振幅信号を得る大振幅発生回路と、 上記大振幅発生回路の出力を、コレクタが外部高電位電
源に接続された第6のバイポーラトランジスタのベース
に接続し、上記第6のバイポーラトランジスタのエミッ
タは低電位側に配置された第7のバイポーラトランジス
タのコレクタに接続されており、この第7のバイポーラ
トランジスタのエミッタは外部低電位電源に、ベースは
ソースが外部低電位電源に、ゲートが上記入力小振幅信
号に接続されている第21のMOSトランジスタのドレイン
およびゲートが上記第2のレベル変換回路の出力に接続
されている第22のMOSトランジスタのソースに接続され
ており、上記第7のバイポーラトランジスタのコレクタ
に複数個の直列接続されたダイオードのアノード側を接
続し、他端のカソード側は第22のMOSトランジスタのド
レイン及び上記第21および第22のトランジスタとは異な
る導電型の第24のMOSトランジスタのドレインに接続さ
れ、かつ、この第24のトランジスタのゲートは上記第22
のMOSトランジスタのゲートに、ソースは上記内部定電
源に接続され、上記第7のバイポーラトランジスタのコ
レクタ、上記第6のバイポーラトランジスタのエミッタ
および上記ダイオードのアノード側の接続点から出力信
号を送出する構成の外部負荷駆動回路と を有することを特徴とするレベル変換回路。 - 【請求項5】入力小振幅信号は第5のMOSトランジスタ
の制御端子に供給され、この第5のMOSトランジスタの
第1の電源端子は外部低電位電源に、第2の電源端子は
第6のMOSトランジスタの第1の電源端子に接続されて
おり、この第6のMOSトランジスタの制御端子には外部
高電位電源よりも低い電位を有する内部定電源が接続さ
れ、第2の電源端子は所定の抵抗値を有する抵抗器を介
して上記外部高電位電源に接続されてなる入力小振幅信
号を高電位側にシフトする第1のレベル変換回路と、 上記内部定電源を電源電圧とし、上記小振幅信号を入力
とする互いに相補形となる導電型を有する第7および第
8のMOSトランジスタで、かつこれら相補形の両MOSトラ
ンジスタのゲートが共通接続されて入力側を形成し、ド
レインが共通接続されて出力側を形成していることによ
り構成された第1の相補形MOSインバータによりなる入
力小振幅信号を低電位側にシフトする第2のレベル変換
回路と、 ソースが上記外部高電位電源に接続され、ゲートが上記
第6のMOSトランジスタの第2の電源端子に接続されて
いる第12のMOSトランジスタを有し、かつこの第12のMOS
トランジスタのドレインは、ドレイン電圧リミッタ回路
を形成している第10および第11のMOSトランジスタによ
る第2の相補形MOSインバータの一方のMOSトランジスタ
となる第11のMOSトランジスタのソースに接続されてお
り、この第11のMOSトランジスタのゲートは上記ドレイ
ン電圧リミッタ回路の他の一方を構成しかつ上記第12お
よび第11のMOSトランジスタとは相補形となる導電型を
有する第10のMOSトランジスタのゲートと共通接続され
ると同時に上記内部定電源にも接続されており、またこ
の第11のMOSトランジスタのドレインは上記第10のMOSト
ランジスタのドレインおよび当該大振幅発生回路の出力
端子に接続されており、さらにこの第10のMOSトランジ
スタのソースは同じ導電型の第9のMOSトランジスタの
ドレインに、第9のMOSトランジスタのゲートは上記第
2のレベル変換回路の出力端子に、ソースは外部低電位
電源に接続された構成により上記のシフトされた両信号
を合成し大振幅信号を得る大振幅発生回路と、 上記大振幅発生回路の出力を、コレクタが外部高電位電
源に接続された第6のバイポーラトランジスタのベース
に接続し、上記第6のバイポーラトランジスタのエミッ
タは低電位側に配置された第7のバイポーラトランジス
タのコレクタに接続されており、この第7のバイポーラ
トランジスタのエミッタは外部低電位電源に、ベースは
ソースが外部低電位電源に、ゲートが上記入力小振幅信
号に接続されている第21のMOSトランジスタのドレイン
およびゲートが上記第2のレベル変換回路の出力に接続
されている第22のMOSトランジスタのソースに接続され
ており、この第22のMOSトランジスタのドレインはベー
スが上記第2のレベル変換回路の出力に、ソースが外部
低電位電源に接続されている第24のMOSトランジスタの
ドレインに接続され、同時に第22のMOSトランジスタの
ドレインは第23のMOSトランジスタのソースに接続され
ており、この第23のMOSトランジスタのゲートは上記内
部定電源と上記第21乃至第24のMOSトランジスタとは導
電型の異なる第25のMOSトランジスタのドレインに接続
され、この第25のMOSトランジスタのゲートは上記内部
定電源および上記第23のMOSトランジスタのゲートに接
続され、上記第25のMOSトランジスタのソースはゲート
が上記第1のレベル変換回路の出力に、ソースが外部高
電位電源に接続されている第26のMOSトランジスタのド
レインに接続され、上記第7のバイポーラトランジスタ
のコレクタ、第6のバイポーラトランジスタのエミッ
タ、第23のMOSトランジスタのドレインおよび第25のMOS
トランジスタのドレインの接続点から出力信号を送出す
る構成の大振幅補償回路を有する外部負荷駆動回路と を有することを特徴とするレベル変換回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62131229A JP2593872B2 (ja) | 1987-05-29 | 1987-05-29 | レベル変換回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62131229A JP2593872B2 (ja) | 1987-05-29 | 1987-05-29 | レベル変換回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63299409A JPS63299409A (ja) | 1988-12-06 |
JP2593872B2 true JP2593872B2 (ja) | 1997-03-26 |
Family
ID=15053043
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62131229A Expired - Lifetime JP2593872B2 (ja) | 1987-05-29 | 1987-05-29 | レベル変換回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2593872B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE40132E1 (en) | 1988-06-17 | 2008-03-04 | Elpida Memory, Inc. | Large scale integrated circuit with sense amplifier circuits for low voltage operation |
US5297097A (en) | 1988-06-17 | 1994-03-22 | Hitachi Ltd. | Large scale integrated circuit for low voltage operation |
JP3019668B2 (ja) * | 1993-05-21 | 2000-03-13 | 日本電気株式会社 | 半導体論理回路 |
AU2319600A (en) | 2000-01-27 | 2001-08-07 | Hitachi Limited | Semiconductor device |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5467363A (en) * | 1977-11-08 | 1979-05-30 | Sharp Corp | C-mos circuit of high voltage operation |
JPS61198915A (ja) * | 1985-02-28 | 1986-09-03 | Canon Inc | 高電圧出力回路 |
-
1987
- 1987-05-29 JP JP62131229A patent/JP2593872B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS63299409A (ja) | 1988-12-06 |
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