JP2569777B2 - 入力信号切り換え回路 - Google Patents

入力信号切り換え回路

Info

Publication number
JP2569777B2
JP2569777B2 JP63317828A JP31782888A JP2569777B2 JP 2569777 B2 JP2569777 B2 JP 2569777B2 JP 63317828 A JP63317828 A JP 63317828A JP 31782888 A JP31782888 A JP 31782888A JP 2569777 B2 JP2569777 B2 JP 2569777B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
level
voltage
signal
mosfet
type
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP63317828A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH02162918A (ja
Inventor
敏且 神保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP63317828A priority Critical patent/JP2569777B2/ja
Priority to DE68921309T priority patent/DE68921309T2/de
Priority to EP89123038A priority patent/EP0373620B1/en
Priority to US07/451,687 priority patent/US4982113A/en
Publication of JPH02162918A publication Critical patent/JPH02162918A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2569777B2 publication Critical patent/JP2569777B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/143Detection of memory cassette insertion or removal; Continuity checks of supply or ground lines; Detection of supply variations, interruptions or levels ; Switching between alternative supplies
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • G11C16/12Programming voltage switching circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/10Modifications for increasing the maximum permissible switched voltage
    • H03K17/102Modifications for increasing the maximum permissible switched voltage in field-effect transistor switches
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/687Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors
    • H03K17/6871Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors the output circuit comprising more than one controlled field-effect transistor
    • H03K17/6872Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors the output circuit comprising more than one controlled field-effect transistor using complementary field-effect transistors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Tone Control, Compression And Expansion, Limiting Amplitude (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置の入力回路に関し、等に複数の入
力レベルを有する信号を、選択的に半導体装置内部に供
給する入力信号切り換え回路に関する。
〔従来の技術〕
従来、半導体装置、主にメモリ装置においては、メモ
リ装置を収納するパッケージのピン数の都合上、1つの
入力ピンに、複数の信号を入力する場合がある。例えば
メモリ容量512Kbit、データ長8bitのUVPROMのパッケー
ジのピン配置を第4図に示すが、ここで第22ピンは、出
力イネーブル信号▲▼と、UVPROMの書込み電圧VPP
の2つの信号が、入力される兼用ピンとなっている。す
なわち、通常のデータ読み出し時には第22ピンの入力電
圧は電源電圧VCCから接地電圧GNDの間の電圧であり、UV
PROMにデータを書込む時には第22ピンの入力電圧は電源
電圧VCCよりも高い電圧(例えば12.5V)が印加される。
このような場合の従来の入力信号切り換え回路を第3図
に示す。N型MOSFET M31のドレインは入力端子▲▼
/VPPに接続し、ゲートは昇圧回路CP3の出力信号S31に接
続し、ソースはUVPROMに書込み電圧VPに接続する。N型
ディプリーションMOSFET M32のドレインは電源電圧VCC
に接続し、ゲートは書込み制御信号▲▼に接続
し、ソースはUVPROMの書込み電圧VPに接続する。昇圧回
路CP3は書込み制御信号▲▼により制御され、書
込み制御信号▲▼がハイレベルの時は、出力S31
はロウレベルを、書込み制御信号▲▼がロウレベ
ルの時は、出力S31は高電圧を出力する。P型MOSFET M
33とN型MOSFET M34によりインバータ回路INV3を構成
し、このインバータ回路INV3の入力は、入力端子▲
▼/VPPに接続し、出力は、出力イネーブル信号oeとす
る。
次に、この回路の動作を説明する。
主な動作モードにおける各信号のレベルを第7図に示
す。データ読み出しモード(READ)時は、▲▼/VPP
は入力ロウレベルVILが印加され、信号oeはVCCレベル
に、書込み制御信号▲▼がVCCレベルなので、昇
圧回路CP3の出力S31はGNDレベルになり、N型MOSFET M
31は非導通状態になる。そして、N型ディプリーション
MOSFET M32により、書込み電圧VPはVCCレベルになる。
出力禁止モード(OUTPUT DISABLE)時は、▲▼/VPP
は入力ハイレベルVIHが印加され、信号oeはGNDレベル
に、書込み制御信号▲▼がVCCレベルなので、デ
ータ読み出しモード(READ)時と同様に、書込み電圧VP
はVCCレベルになる。データ書込みモード(PROGRAM)時
は、▲▼/VPPは、12.5Vの電圧が印加される。この
時、書込み制御信号▲▼がGNDレベルになること
で、昇圧回路CP3が動作して、出力S31は高電圧になり、
N型MOSFET M31が導通状態になることで、書込み電圧VP
も12.5Vの電圧が供給される、また、N型ディプリーシ
ョンMOSFET M32のドレインにはVCCが、ゲートにはGNDが
印加されることで、N型ディプリーションMOSFET M32
カットオフ状態になって非導通状態になるものとする。
なお信号oeはGNDレベルとなる。このように、データ書
込みモード時にN型MOSFET M31のゲートを高電圧にする
ことで、▲▼/VPPに印加された12.5Vの電圧はN型M
OSFET M31を介して半導体装置内部の書込み電圧VPにも
供給され、それ以外の動作モードでは、N型MOSFET M31
のゲートはGNDレベルになり、N型MOSFET M31は非導通
状態になり、入力端子▲▼/VPPと書込み電圧VPは分
離される。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の入力信号切り換え回路は、N型MOSFET
M31を介して、入力端子▲▼/VPPの電圧を、書込み
電圧VPに供給するため、N型MOSFET M31をディプリーシ
ョンMOSFETにすると、信号S31をGNDレベルにしてもN型
MOSFET M31は導通状態のままであり、▲▼/VPPがロ
ウレベルの場合には、N型MOSFET M31,32を介して電源
電圧VCCから▲▼/VPPに電流が流れてしまう。その
ため、N型MOSFET M31はエンハンスメントMOSFETで構成
されるが、このN型MOSFET M31のバックアップ特性を考
慮した、しきい値電圧をVTN31とすると、▲▼/VPP
に12.5Vの電圧が印加された場合に、書込み電圧VPに12.
5Vの電圧を供給するには、昇圧回路CP3の出力S31の電圧
は(12.5+VTN31)V以上の高い電圧が必要となり、昇
圧回路の回路構成が困難となるばかりか、場合によって
は、この非常に高い電圧をMOSFETのゲートに印加するこ
とで、ゲート酸化膜が絶縁破壊する可能性も有るという
欠点がある。さらに、N型MOSFET M31のゲートがGNDレ
ベルであっても、入力端子▲▼/VPPの電圧が負電位
となり、その電圧が−VTN31よりも低電圧になった場合
にはN型MOSFET M31は導通状態となり、N型MOSFET
M31,32を介して、電源電圧VCCから入力端子▲▼/V
PPに電流が流れてしまう欠点がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の入力信号切り替え回路は、第1導電型を有す
る第1のMOSFETのソースと、第1導電型とは逆の導電型
である第2導電型を有する第2のMOSFETのソースを接続
し、第1のMOSFETのゲートには第1の制御信号を接続
し、第2のMOSFETのゲートには、第1の制御信号の反転
信号である第2の制御信号を接続し、第1のMOSFETのド
レインを入力端子、第2のMOSFETのドレインを出力端子
としている。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の回路図である。N型MOSF
ET M11のドレインは入力端子▲▼/VPPに接続し、ソ
ースはP型MOSFET M12のソースに接続し、P型MOSFET M
12のドレインをUVPROMの書込み電圧VPに接続する。N型
ディプリーションMOSFET M13のドレインは電源電圧VCC
に接続し、ゲートは書込み制御信号▲▼に接続
し、ソースはUVPROMの書込み電圧VPに接続する。P型MO
SFET M14とN型MOSFET M15によりインバータ回路INV1
構成し、このインバータ回路INV1の入力は、入力端子▲
▼/VPPに接続し、出力は出力イネーブル信号oeとす
る。
次にこの回路の動作を説明する。
主は動作モードにおける各信号のレベルを第5図に示
す。データ読み出しモード(READ)時は、▲▼/VPP
は入力ロウレベルVILが印加され、信号oeはVCCレベルに
なる。信号S11はGNDレベルに、信号S12及びVpm1はVCC
ベルとなることで、N型MOSFET M11とP型MOSFET M12
共に非導通状態になる。そして、信号▲▼がVCC
レベルなので、N型ディプリーションMOSFET M13によ
り、書込み電圧VPはVCCレベルになる。出力禁止モード
(OUTPUT DISABLE)時は、▲▼/VPPは入力ハイレベ
ルVIHが印加され、信号oeはGNDレベルになる。信号S11
はGNDレベルに、信号S12及びVpm1はVCCレベルとなるこ
とで、N型MOSFET M11とP型MOSFET M12は共に非導通状
態になる。そして信号▲▼がVCCレベルなので、
N型ディプリーションMOSFET M13により書込み電圧VP
VCCレベルになる。データ書込みモード(PROGRAM)時
は、▲▼/VPPに12.5Vの電圧が印加される。この
時、信号S11,Vpm1が高電圧になり、信号S12がGNDレベル
になると、N型MOSFET M11とP型MOSFET M12が共に導通
状態になることで、書込み電圧VPも12.5Vの電圧が供給
される。またN型ディプリーションMOSFET M13のドレイ
ンにはVCCが、ゲートにはGNDが印加されることで、N型
ディプリーションMOSFET M13はカットオフ状態となって
非導通状態になるものとする。なお信号oeはGNDレベル
となる。ここで、N型MOSFET M11のゲートがGNDレベル
の時に、入力端子▲▼/VPPの電圧が負電位となり、
N型MOSFET M11が導通状態になってとしても、P型MOSF
ET M12は非導通状態のままであり、入力端子▲▼/V
PPと書込み電圧VPの間には電流は流れない。
第2図は本発明の実施例2の回路図である。N型ディ
プリーションMOSFET M21のドレインは入力端子▲▼
/VPPに接続し、ソースはP型MOSFET M22のソースに接続
し、P型MOSFET M22のドレインをUVPROMの書込み電圧VP
に接続する。N型ディプリーションMOSFET M23のドレイ
ンは電源電圧VCCに接続し、ゲートは書込み制御信号▲
▼に接続し、ソースはUVPROMの書込み電圧VPに接
続する。昇圧回路CP2は書込み制御信号▲▼によ
り制御され、書込み制御信号▲▼がハイレベルの
時は出力Vpm2はVCCレベルを、書込み制御信号▲
▼がロウレベルの時は、出力Vpm2は高電圧を出力する。
P型MOSFET M26,M27,M2aとN型MOSFET M28,M29,M2bでレ
ベルシフト回路LS2を構成し、入力信号をPGM、出力信号
をS21とし、P型MOSFET M2cとN型MOSFET M2dでインバ
ータ回路INV21を構成し、入力をレベルシフト回路LS2
出力S21に接続し、出力信号をS22とする。P型MOSFET M
24とN型MOSFET M25でインバータ回路INV22を構成し、
入力は入力端子▲▼/VPPに接続し、出力は出力イネ
ーブル信号oeとする。
次に、この回路の動作を説明する。
主な動作モードにおける各信号のレベルを第6図に示
す。データ読み出しモード(READ)時は、▲▼/VPP
は入力ロウレベルVILが印加され、信号oeはVCCレベルに
なる。信号▲▼がVCCレベルなので昇圧回路CP2
出力Vpm2はVCCレベルになり、信号PGMがGNDレベルなの
で、レベルシフト回路LS2の出力S21はGNDレベルに、イ
ンバータ回路INV21の出力S23はVCCレベルになる。する
とN型ディプリーションMOSFET M21は導通状態だが、P
型MOSFET M22が非導通状態なので、入力端子▲▼/V
PPとUVPROMと書込み電圧VPは分離され、書込み電圧VP
N型MOSFET M23によりVCCレベルになる。出力禁止モー
ド(OUTPUT DISABLE)時は、▲▼/VPPは入力ハイレ
ベルVIHが印加され、信号oeはGNDレベルになる。信号▲
▼がVCCレベル、信号PGMがGNDレベルなので、デ
ータ読み出しモード(READ)時と同様に、P型MOSFET M
22が非導通状態なので、入力端子▲▼/VPPとUVPROM
の書込み電圧VPは分離され、書込み電圧VPはN型MOSFET
M23によりVCCレベルになる。なお、この時入力端子▲
▼/VPPの入力電圧が、VCC以上の電圧になったとし
ても、N型ディプリーションMOSFET M21のしきい値電圧
が−VCCよりも正方向に大きければ、点S23の電圧はVCC
以上にならないので、P型MOSFET M22のソース拡散層が
順方向にバイアスされ、電流が流れることはない。デー
タ書込みモード(PROGRAM)時は、▲▼/VPPに12.5V
の電圧が印加される。書込み制御信号▲▼がGND
レベルとなることで、昇圧回路CP2の出力Vpm2は高電圧
になり、信号PGMがVCCレベルとなることで、レベルシフ
ト回路LS2の出力S21は高電圧に、インバータ回路INV21
の出力S22はGNDレベルとなることで、N型ディプリーシ
ョンMOSFET M21とP型MOSFET M22は共に導通状態にな
り、書込み電圧VPも12.5Vの電圧が供給される。またN
型ディプリーションMOSFET M23のドレインにはVCCが、
ゲートにはGNDが印加されることで、N型ディプリーシ
ョンMOSFET M23はカットオフ状態となって非導通状態に
なるものとする。なお、信号oeはGNDレベルになる。こ
の、入力端子▲▼/VPPに12.5Vが印加され、書込み
電圧VPにも12.5Vの電圧を供給するために、昇圧回路CP2
の出力Vpm2の電圧は、P型MOSFET M22のソース・ドレイ
ン拡散層が順方向バイアスされないためには、次式
(1)を満足し、 Vpm2≧12.5V……式(1) かつ、N型ディプリーションMOSFET M21のバックバイア
スが12.5V印加された時のしきい値電圧をVTN21とすると
次式(2)を満足すればよい。
Vpm2≧12.5V+VTN21……式(2) 〔発明の効果〕 以上説明したように本発明は、N型MOSFETのソースと
P型MOSFETのソースを接続し、N型MOSFETのドレインを
入力端子、P型MOSFETのドレインを出力端子とすること
により、入力端子の電圧が負電位になっても、またはN
型MOSFETをディプリーションMOSFETで構成したとして
も、P型MOSFETにより入力端子と出力端子を分離するこ
とができ、また入力端子に印加された電圧を出力端子に
供給する場合には、N型MOSFETがディプリーションMOSF
ETならば、このN型MOSFETのゲート電圧は前述の第1式
及び第2式を満足すればよく、それほど高電圧を必要と
しない効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の入力信号切り換え回路の一実施例の回
路図、第2図は本発明の入力信号切り換え回路の他の一
実施例の回路図、第3図は従来の入力信号切り換え回路
の回路図、第4図はメモリ容量512Kbitデータ長8bitのU
VPROMのパッケージピン配置図、第5図は第1図に示し
た実施例の動作モード図、第6図は第2図に示した実施
例の動作モード図、第7図は第3図に示した従来例の動
作モード図である。 M11,M12〜M34……MOSFET、INV1,INV21,INV22,INV3……
インバータ回路、LS2……レベルシフト回路、CP2,CP3
…昇圧回路。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ハイレベル信号、ロウレベル信号及び前記
    ハイレベル信号よりも高電圧の第3レベル信号が印加さ
    れる入力端子と、前記入力端子と第1の出力端子間に設
    けられたインバータ回路と、前記入力端子と節点間にソ
    ース・ドレイン路が設けられたN型MOSトランジスタ
    と、前記節点と第2の出力端子間にソース・ドレイン路
    が設けられたP型MOSトランジスタと、前記入力端子に
    前記ロウレベル信号及びハイレベル信号が印加されてい
    る場合には前記N型MOSトランジスタのゲートにロウレ
    ベルの第1のゲート信号を供給し前記P型MOSトランジ
    スタのゲートにハイレベルの第2のゲート信号を供給す
    ると共に前記P型MOSトランジスタの基板バイアスをハ
    イレベルとし、前記入力端子に前記第3レベル信号が印
    加されている場合には前記N型MOSトランジスタとゲー
    トに前記第3レベル信号よりも高電圧に昇圧した前記第
    1のゲート信号を供給し前記P型MOSトランジスタのゲ
    ートにロウレベルの第2のゲート信号を供給すると共に
    前記P型MOSトランジスタの基板バイアスを前記第3レ
    ベル信号よりも高電圧とする制御信号発生回路とを有す
    ることを特徴とする入力信号切り換え回路。
JP63317828A 1988-12-16 1988-12-16 入力信号切り換え回路 Expired - Fee Related JP2569777B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63317828A JP2569777B2 (ja) 1988-12-16 1988-12-16 入力信号切り換え回路
DE68921309T DE68921309T2 (de) 1988-12-16 1989-12-13 Signalverteilungseinheit für variable Eingangssignale, welche verschiedene Spannungspegel aufweisen.
EP89123038A EP0373620B1 (en) 1988-12-16 1989-12-13 Signal distributing unit for various input signals different in voltage level
US07/451,687 US4982113A (en) 1988-12-16 1989-12-18 Signal distributing unit for various input signals different in voltage level

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63317828A JP2569777B2 (ja) 1988-12-16 1988-12-16 入力信号切り換え回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02162918A JPH02162918A (ja) 1990-06-22
JP2569777B2 true JP2569777B2 (ja) 1997-01-08

Family

ID=18092508

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63317828A Expired - Fee Related JP2569777B2 (ja) 1988-12-16 1988-12-16 入力信号切り換え回路

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4982113A (ja)
EP (1) EP0373620B1 (ja)
JP (1) JP2569777B2 (ja)
DE (1) DE68921309T2 (ja)

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2226727B (en) * 1988-10-15 1993-09-08 Sony Corp Address decoder circuits for non-volatile memories
JP2650124B2 (ja) * 1989-07-11 1997-09-03 三菱電機株式会社 半導体集積回路
JP3059737B2 (ja) * 1989-12-25 2000-07-04 シャープ株式会社 半導体記憶装置
US5157280A (en) * 1991-02-13 1992-10-20 Texas Instruments Incorporated Switch for selectively coupling a power supply to a power bus
US5128560A (en) * 1991-03-22 1992-07-07 Micron Technology, Inc. Boosted supply output driver circuit for driving an all N-channel output stage
JP3253389B2 (ja) * 1992-03-31 2002-02-04 株式会社東芝 半導体集積回路装置
US5365125A (en) * 1992-07-23 1994-11-15 Xilinx, Inc. Logic cell for field programmable gate array having optional internal feedback and optional cascade
US5646547A (en) * 1994-04-28 1997-07-08 Xilinx, Inc. Logic cell which can be configured as a latch without static one's problem
JP2570591B2 (ja) * 1993-09-16 1997-01-08 日本電気株式会社 トランジスタ回路
JP3571749B2 (ja) * 1994-04-08 2004-09-29 株式会社ルネサスLsiデザイン 不揮発性半導体記憶装置
US5625280A (en) * 1995-10-30 1997-04-29 International Business Machines Corp. Voltage regulator bypass circuit
US5680063A (en) * 1996-04-23 1997-10-21 Motorola, Inc. Bi-directional voltage translator
JP3094913B2 (ja) * 1996-06-19 2000-10-03 日本電気株式会社 半導体回路
US5937906A (en) * 1997-05-06 1999-08-17 Kozyuk; Oleg V. Method and apparatus for conducting sonochemical reactions and processes using hydrodynamic cavitation
US6844770B2 (en) * 2002-04-17 2005-01-18 Virtual Silicon Technology, Inc. Circuitry to provide a low power input buffer
US8269552B2 (en) * 2010-02-25 2012-09-18 Fairchild Semiconductor Corporation Control pin powered analog switch
US8310301B2 (en) * 2010-02-25 2012-11-13 Fairchild Semiconductor Corporation Fully featured control pin powered analog switch
US8786318B2 (en) * 2011-06-08 2014-07-22 Linear Technology Corporation System and methods to improve the performance of semiconductor based sampling system
US9710006B2 (en) * 2014-07-25 2017-07-18 Mie Fujitsu Semiconductor Limited Power up body bias circuits and methods

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63151111A (ja) * 1986-12-15 1988-06-23 Nec Corp アナログスイツチ

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4350906A (en) * 1978-06-23 1982-09-21 Rca Corporation Circuit with dual-purpose terminal
JPS5952497A (ja) * 1982-09-17 1984-03-27 Nec Corp デコ−ダ回路
JPS59153331A (ja) * 1983-02-21 1984-09-01 Toshiba Corp 半導体装置
US4697101A (en) * 1983-08-30 1987-09-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Read/write control circuit
JPS6052112A (ja) * 1983-08-31 1985-03-25 Toshiba Corp 論理回路
US4565932A (en) * 1983-12-29 1986-01-21 Motorola, Inc. High voltage circuit for use in programming memory circuits (EEPROMs)
JPS60153223A (ja) * 1984-01-20 1985-08-12 Ricoh Co Ltd 入力バツフア回路
JPS61239491A (ja) * 1985-04-13 1986-10-24 Fujitsu Ltd 電子装置
JPS62266799A (ja) * 1986-05-14 1987-11-19 Nec Corp 書き込み回路内蔵eprom
JPH0632230B2 (ja) * 1987-03-31 1994-04-27 株式会社東芝 半導体不揮発性記憶装置
DE3888294T2 (de) * 1987-11-25 1994-06-23 Nippon Electric Co Eingangsschaltung, die in eine Halbleiteranlage eingegliedert ist.
GB2214337B (en) * 1988-01-05 1991-11-27 Texas Instruments Ltd Improvements in or relating to integrated circuits

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63151111A (ja) * 1986-12-15 1988-06-23 Nec Corp アナログスイツチ

Also Published As

Publication number Publication date
DE68921309D1 (de) 1995-03-30
EP0373620A2 (en) 1990-06-20
JPH02162918A (ja) 1990-06-22
DE68921309T2 (de) 1995-10-19
EP0373620B1 (en) 1995-02-22
EP0373620A3 (en) 1992-01-22
US4982113A (en) 1991-01-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2569777B2 (ja) 入力信号切り換え回路
KR940001251B1 (ko) 전압 제어회로
JP2588483B2 (ja) Mos技術を応用した電圧スイッチ回路
US4565932A (en) High voltage circuit for use in programming memory circuits (EEPROMs)
JP3881020B2 (ja) プログラム可能論理回路用のプログラム可能不揮発性両方向スイッチ
JPH0459720B2 (ja)
EP0374936A2 (en) Nonvolatile semiconductor memory system
US5867042A (en) Switch for minimizing transistor exposure to high voltage
JPH0323999B2 (ja)
JPH09270196A (ja) 電源切り替え回路
EP0063357B1 (en) Drive circuit
EP0098079A2 (en) Semiconductor memory device with redundancy decoder circuit
JP3526100B2 (ja) モード設定回路
KR100224134B1 (ko) 비휘발성 반도체 메모리장치 및 그 데이터 기입 방법
KR930011433A (ko) 반도체 집적회로장치
KR100600461B1 (ko) 반도체 장치
JP2582535B2 (ja) 半導体装置
JP2844585B2 (ja) 半導体装置
JPS6043585B2 (ja) 半導体集積回路
US4496853A (en) Static load for high voltage driver
JPH0574307B2 (ja)
JPH03148877A (ja) フローティングゲート型メモリー素子
KR0172335B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 가상접지전압 생성방법 및 그 회로
JPS62175999A (ja) 不揮発性半導体記憶装置
JP3167309B2 (ja) 半導体集積回路

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees