JP2560675B2 - 電子部品の特性測定方法 - Google Patents
電子部品の特性測定方法Info
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- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 29
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- 238000007600 charging Methods 0.000 description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 15
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、電子部品の少なくと
も絶縁抵抗を含む特性を測定する方法に関するもので、
特に、複数個の電子部品を循環経路に沿って直列的にか
つ間欠的に搬送する過程において電子部品の上述のよう
な絶縁抵抗を測定する方法に関するものである。
も絶縁抵抗を含む特性を測定する方法に関するもので、
特に、複数個の電子部品を循環経路に沿って直列的にか
つ間欠的に搬送する過程において電子部品の上述のよう
な絶縁抵抗を測定する方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】たとえば、コンデンサは、出荷する前に
検査工程に付され、このような検査工程においては、通
常、静電容量および絶縁抵抗のような電気的特性が測定
され、その測定結果に基づいて選別される。
検査工程に付され、このような検査工程においては、通
常、静電容量および絶縁抵抗のような電気的特性が測定
され、その測定結果に基づいて選別される。
【０００３】上述した検査工程は、大量にコンデンサを
出荷する製造業者においては、能率的に進められなけれ
ばならない。そのため、たとえばチップ型コンデンサの
特性測定のためには、図２に示すような特性測定装置が
用いられている。
出荷する製造業者においては、能率的に進められなけれ
ばならない。そのため、たとえばチップ型コンデンサの
特性測定のためには、図２に示すような特性測定装置が
用いられている。
【０００４】図２を参照して、特性測定装置は、ターン
テーブル１を備える。ターンテーブル１は、矢印２で示
す方向に間欠的に送られる。ターンテーブル１の周囲に
は、チップ型コンデンサを１個ずつ保持する複数個の保
持部３が等間隔に分布されている。
テーブル１を備える。ターンテーブル１は、矢印２で示
す方向に間欠的に送られる。ターンテーブル１の周囲に
は、チップ型コンデンサを１個ずつ保持する複数個の保
持部３が等間隔に分布されている。
【０００５】複数個のチップ型コンデンサは、パーツフ
ィーダ４から供給される。したがって、ターンテーブル
１が矢印２方向へ間欠送りされることによって、供給位
置５から各保持部３にチップ型コンデンサが１個ずつ順
次供給される。
ィーダ４から供給される。したがって、ターンテーブル
１が矢印２方向へ間欠送りされることによって、供給位
置５から各保持部３にチップ型コンデンサが１個ずつ順
次供給される。
【０００６】各保持部３に保持されたチップ型コンデン
サに対しては、以下に述べるような特性測定がターンテ
ーブル１の間欠送りに従って実施される。
サに対しては、以下に述べるような特性測定がターンテ
ーブル１の間欠送りに従って実施される。
【０００７】まず、容量測定位置６において静電容量が
測定される。次いで、充電領域７において、各チップ型
コンデンサに対して充電が行なわれる。次いで、測定位
置８において、充電を終えたチップ型コンデンサに対し
て絶縁抵抗が測定される。続いて、放電位置９におい
て、チップ型コンデンサに蓄積された電荷が放電され
る。
測定される。次いで、充電領域７において、各チップ型
コンデンサに対して充電が行なわれる。次いで、測定位
置８において、充電を終えたチップ型コンデンサに対し
て絶縁抵抗が測定される。続いて、放電位置９におい
て、チップ型コンデンサに蓄積された電荷が放電され
る。
【０００８】その後、取出し位置１３において、保持部
３に保持されたチップ型コンデンサが、上述したような
特性の測定結果に基づいて選別されながら取出される。
３に保持されたチップ型コンデンサが、上述したような
特性の測定結果に基づいて選別されながら取出される。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような特性測定方法においては、充電領域７における
チップ型コンデンサに対する充電が断続的になってしま
う。なぜなら、ターンテーブル１が停止されている間だ
け充電端子がチップ型コンデンサに接触し、ターンテー
ブル１が回転し次の充電端子に接触するまでの間ではチ
ップ型コンデンサには何らの充電端子も接触しないから
である。そのため、充電の効率が悪く、完全に充電され
ないことがある。その結果、高い精度をもって、絶縁抵
抗を測定できない場合がある。逆に、高い精度をもって
絶縁抵抗を測定しようとすれば、ターンテーブル１の間
欠送りの間隔を長くしなければならないため、高速で多
数のチップ型コンデンサの特性測定を行なうことができ
ない。この傾向は、特に高い静電容量値を有するチップ
型コンデンサの場合に、より顕著に現われる。
たような特性測定方法においては、充電領域７における
チップ型コンデンサに対する充電が断続的になってしま
う。なぜなら、ターンテーブル１が停止されている間だ
け充電端子がチップ型コンデンサに接触し、ターンテー
ブル１が回転し次の充電端子に接触するまでの間ではチ
ップ型コンデンサには何らの充電端子も接触しないから
である。そのため、充電の効率が悪く、完全に充電され
ないことがある。その結果、高い精度をもって、絶縁抵
抗を測定できない場合がある。逆に、高い精度をもって
絶縁抵抗を測定しようとすれば、ターンテーブル１の間
欠送りの間隔を長くしなければならないため、高速で多
数のチップ型コンデンサの特性測定を行なうことができ
ない。この傾向は、特に高い静電容量値を有するチップ
型コンデンサの場合に、より顕著に現われる。
【００１０】また、充電時間を長くするため、充電領域
７を広くとることも考えられるが、この場合には、ター
ンテーブル１の大型化を招き、工場における面積効率を
考慮した場合、好ましくない。
７を広くとることも考えられるが、この場合には、ター
ンテーブル１の大型化を招き、工場における面積効率を
考慮した場合、好ましくない。
【００１１】また、充電領域７の設け方によって充電時
間が決定されるため、多様な種類のチップ型コンデンサ
の特性測定に対応することができない。
間が決定されるため、多様な種類のチップ型コンデンサ
の特性測定に対応することができない。
【００１２】同様のことが、コンデンサだけでなく、イ
ンダクタ、ＬＣフィルタ等の絶縁抵抗の測定にも言え、
また、測定項目としては、インピーダンス、インダクタ
ンス等が含まれることがある。
ンダクタ、ＬＣフィルタ等の絶縁抵抗の測定にも言え、
また、測定項目としては、インピーダンス、インダクタ
ンス等が含まれることがある。
【００１３】それゆえに、この発明の目的は、上述した
ような問題を解決できる、電子部品の絶縁抵抗測定方法
を提供しようとすることである。
ような問題を解決できる、電子部品の絶縁抵抗測定方法
を提供しようとすることである。
【００１４】
【課題を解決するための手段】この発明は、電子部品の
少なくとも絶縁抵抗を含む特性を測定する方法に向けら
れるものであって、上述した技術的課題を解決するた
め、次のようなステップを備えることを特徴としてい
る。すなわち、複数個の電子部品を直列的にかつ間欠的
に搬送するための循環経路を与え、前記循環経路に対し
て第１の固定位置から電子部品を順次供給し、前記循環
経路上に所定数の電子部品が配列された時点で電子部品
の搬送を停止して、複数個の電子部品に対して同時に充
電して絶縁抵抗を測定し、絶縁抵抗の測定を終えた電子
部品を、第２の固定位置において前記循環経路から選別
しながら取出す、各ステップを備えることを特徴として
いる。
少なくとも絶縁抵抗を含む特性を測定する方法に向けら
れるものであって、上述した技術的課題を解決するた
め、次のようなステップを備えることを特徴としてい
る。すなわち、複数個の電子部品を直列的にかつ間欠的
に搬送するための循環経路を与え、前記循環経路に対し
て第１の固定位置から電子部品を順次供給し、前記循環
経路上に所定数の電子部品が配列された時点で電子部品
の搬送を停止して、複数個の電子部品に対して同時に充
電して絶縁抵抗を測定し、絶縁抵抗の測定を終えた電子
部品を、第２の固定位置において前記循環経路から選別
しながら取出す、各ステップを備えることを特徴として
いる。
【００１５】
【作用】この発明によれば、高い精度をもって測定する
には必ず所定以上の時間を必要とする絶縁抵抗の測定
が、電子部品の搬送を停止した状態で複数個の電子部品
に対して同時に行なわれる。
には必ず所定以上の時間を必要とする絶縁抵抗の測定
が、電子部品の搬送を停止した状態で複数個の電子部品
に対して同時に行なわれる。
【００１６】
【発明の効果】したがって、この発明によれば、測定の
能率を低下させることなく、高い精度をもって絶縁抵抗
の測定を行なうことができる。このことは、高い静電容
量値を有するチップ型コンデンサのような電子部品の場
合、特に有利である。
能率を低下させることなく、高い精度をもって絶縁抵抗
の測定を行なうことができる。このことは、高い静電容
量値を有するチップ型コンデンサのような電子部品の場
合、特に有利である。
【００１７】また、測定しようとする電子部品の種類に
よって、充電時間を自由に設定することができるため、
各々の種類に応じて最適な充電時間を採用することがで
きるとともに、各々の種類において最も高い効率で特性
測定を処理することができる。
よって、充電時間を自由に設定することができるため、
各々の種類に応じて最適な充電時間を採用することがで
きるとともに、各々の種類において最も高い効率で特性
測定を処理することができる。
【００１８】
【実施例】図１は、この発明の一実施例を実施するため
の特性測定装置を示している。この実施例は、特にチッ
プ型コンデンサの特性測定を意図したものであるが、こ
の発明は、その他、インダクタ、ＬＣフィルタ等の特性
測定にも適用することができ、また、測定項目として
は、絶縁抵抗に加えて、静電容量のほか、インピーダン
ス、インダクタンス等が含まれることがある。
の特性測定装置を示している。この実施例は、特にチッ
プ型コンデンサの特性測定を意図したものであるが、こ
の発明は、その他、インダクタ、ＬＣフィルタ等の特性
測定にも適用することができ、また、測定項目として
は、絶縁抵抗に加えて、静電容量のほか、インピーダン
ス、インダクタンス等が含まれることがある。
【００１９】この特性測定装置は、従来の場合と同様、
ターンテーブル２１を備える。ターンテーブル２１は、
矢印２２で示す方向に間欠送りされる。ターンテーブル
２１の周囲には、電子部品としてのチップ型コンデンサ
を１個ずつ保持する保持部２３が等間隔に分布されてい
る。したがって、ターンテーブル２１は、複数個のチッ
プ型コンデンサを直列的にかつ間欠的に搬送するための
循環経路を与える。
ターンテーブル２１を備える。ターンテーブル２１は、
矢印２２で示す方向に間欠送りされる。ターンテーブル
２１の周囲には、電子部品としてのチップ型コンデンサ
を１個ずつ保持する保持部２３が等間隔に分布されてい
る。したがって、ターンテーブル２１は、複数個のチッ
プ型コンデンサを直列的にかつ間欠的に搬送するための
循環経路を与える。
【００２０】チップ型コンデンサは、従来の場合と同
様、パーツフィーダ２４から供給され、次いで、ターン
テーブル２１の間欠送りに従って、固定位置としての供
給位置２５から各保持部２３にチップ型コンデンサが１
個ずつ順次供給される。
様、パーツフィーダ２４から供給され、次いで、ターン
テーブル２１の間欠送りに従って、固定位置としての供
給位置２５から各保持部２３にチップ型コンデンサが１
個ずつ順次供給される。
【００２１】上述のように、ターンテーブル２１がステ
ップ送りされながら、各保持部２３にチップ型コンデン
サが供給されている間、固定位置としての容量測定位置
２６では、そこに到来するチップ型コンデンサの静電容
量が測定され、また、固定位置としての取出し位置２７
においては、静電容量および絶縁抵抗の測定を終えたチ
ップ型コンデンサが各保持部２３から選別されながら取
出される。このように、ターンテーブル２１が間欠送り
される間は、絶縁抵抗の測定は行なわれない。
ップ送りされながら、各保持部２３にチップ型コンデン
サが供給されている間、固定位置としての容量測定位置
２６では、そこに到来するチップ型コンデンサの静電容
量が測定され、また、固定位置としての取出し位置２７
においては、静電容量および絶縁抵抗の測定を終えたチ
ップ型コンデンサが各保持部２３から選別されながら取
出される。このように、ターンテーブル２１が間欠送り
される間は、絶縁抵抗の測定は行なわれない。
【００２２】絶縁抵抗の測定は、絶縁抵抗測定領域２８
において実施される。すなわち、上述のように、容量測
定位置２６において静電容量の測定を終えたチップ型コ
ンデンサが、ターンテーブル２１の複数回の間欠送りの
結果、絶縁抵抗測定領域２８を満たしたとき、ターンテ
ーブル２１が所定時間の間停止される。この実施例で
は、絶縁抵抗測定領域２８に２７個の保持部２３が分布
しており、したがって、絶縁抵抗測定領域２８には、２
７個のチップ型コンデンサが同時に位置されることがで
きる。
において実施される。すなわち、上述のように、容量測
定位置２６において静電容量の測定を終えたチップ型コ
ンデンサが、ターンテーブル２１の複数回の間欠送りの
結果、絶縁抵抗測定領域２８を満たしたとき、ターンテ
ーブル２１が所定時間の間停止される。この実施例で
は、絶縁抵抗測定領域２８に２７個の保持部２３が分布
しており、したがって、絶縁抵抗測定領域２８には、２
７個のチップ型コンデンサが同時に位置されることがで
きる。
【００２３】このような絶縁抵抗測定領域２８内に位置
する２７個のチップ型コンデンサに対して、同時に絶縁
抵抗の測定が実施される。すなわち、充電、絶縁抵抗測
定、放電が順次実施される。なお、このような充電、測
定、および放電は、チップ型コンデンサが共通の端子に
接触したままの状態で行なわれることが好ましい。した
がって、このような端子は、適当なスイッチ回路によっ
て、その電気的状態が切換えられるようにされている。
する２７個のチップ型コンデンサに対して、同時に絶縁
抵抗の測定が実施される。すなわち、充電、絶縁抵抗測
定、放電が順次実施される。なお、このような充電、測
定、および放電は、チップ型コンデンサが共通の端子に
接触したままの状態で行なわれることが好ましい。した
がって、このような端子は、適当なスイッチ回路によっ
て、その電気的状態が切換えられるようにされている。
【００２４】このように絶縁抵抗の測定を終えたとき、
ターンテーブル２１は、再び間欠送りされる。この間欠
送りに従って、取出し位置２７においては、チップ型コ
ンデンサが選別されながら取出され、他方、供給位置２
５においては、新たなチップ型コンデンサが保持部２３
に供給され、また、容量測定位置２６においては、新た
なチップ型コンデンサの静電容量の測定が行なわれる。
ターンテーブル２１は、再び間欠送りされる。この間欠
送りに従って、取出し位置２７においては、チップ型コ
ンデンサが選別されながら取出され、他方、供給位置２
５においては、新たなチップ型コンデンサが保持部２３
に供給され、また、容量測定位置２６においては、新た
なチップ型コンデンサの静電容量の測定が行なわれる。
【００２５】以下、同様の操作が繰り返される。なお、
上述した実施例では、複数個のチップ型コンデンサを直
列的に搬送するための循環経路が、ターンテーブル２１
によって与えられたが、これに代えて、たとえばエンド
レスベルトによって循環経路が与えられてもよい。
上述した実施例では、複数個のチップ型コンデンサを直
列的に搬送するための循環経路が、ターンテーブル２１
によって与えられたが、これに代えて、たとえばエンド
レスベルトによって循環経路が与えられてもよい。
【００２６】また、容量測定位置２６と絶縁抵抗測定領
域２８との順番を入れ替えてもよい。
域２８との順番を入れ替えてもよい。
【図１】この発明の一実施例を実施するための特性測定
装置を図解的に示す平面図である。
装置を図解的に示す平面図である。
【図２】従来の特性測定装置を図解的に示す平面図であ
る。
る。
２１ ターンテーブル ２３ 保持部 ２５ 供給位置（第１の固定位置） ２７ 取出し位置（第２の固定位置） ２８ 絶縁抵抗測定領域
フロントページの続き (72)発明者 高橋 秋彦 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株 式会社村田製作所内 (72)発明者 倉部 美希 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株 式会社村田製作所内 (72)発明者 羽室 光郎 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株 式会社村田製作所内
Claims (1)
- 【請求項１】 電子部品の少なくとも絶縁抵抗を含む特
性を測定する方法であって、複数個の電子部品を直列的
にかつ間欠的に搬送するための循環経路を与え、前記循
環経路に対して第１の固定位置から電子部品を順次供給
し、前記循環経路上に所定数の電子部品が配列された時
点で電子部品の搬送を停止して、複数個の電子部品に対
して同時に充電して絶縁抵抗を測定し、絶縁抵抗の測定
を終えた電子部品を、第２の固定位置において前記循環
経路から選別しながら取出す、各ステップを備える、電
子部品の特性測定方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3014534A JP2560675B2 (ja) | 1991-02-05 | 1991-02-05 | 電子部品の特性測定方法 |
| US07/830,707 US5262729A (en) | 1991-02-05 | 1992-02-04 | Method of measuring characteristics of electronic parts |
| GB9202440A GB2252834B (en) | 1991-02-05 | 1992-02-05 | Method and apparatus for measuring characteristics of a plurality of electrical components |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3014534A JP2560675B2 (ja) | 1991-02-05 | 1991-02-05 | 電子部品の特性測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04254769A JPH04254769A (ja) | 1992-09-10 |
| JP2560675B2 true JP2560675B2 (ja) | 1996-12-04 |
Family
ID=11863817
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3014534A Expired - Lifetime JP2560675B2 (ja) | 1991-02-05 | 1991-02-05 | 電子部品の特性測定方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5262729A (ja) |
| JP (1) | JP2560675B2 (ja) |
| GB (1) | GB2252834B (ja) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SG70060A1 (en) * | 1997-01-06 | 2000-01-25 | Murata Manufacturing Co | Method of charging capacitor for use in measuring data of said capacitor |
| JP3114653B2 (ja) * | 1997-05-09 | 2000-12-04 | 株式会社村田製作所 | コンデンサの絶縁抵抗測定方法および特性選別装置 |
| JP3684802B2 (ja) * | 1997-05-09 | 2005-08-17 | 株式会社村田製作所 | 電子部品の抵抗測定装置 |
| KR100228181B1 (ko) * | 1997-06-30 | 1999-11-01 | 이형도 | 2배속 엠엘시시칩 선별장치 및 방법 |
| JP3077122B2 (ja) * | 1998-06-22 | 2000-08-14 | 株式会社村田製作所 | コンデンサの絶縁抵抗測定方法 |
| JP4336006B2 (ja) * | 1999-10-18 | 2009-09-30 | 日置電機株式会社 | 製品検査ライン用の絶縁抵抗計 |
| KR100460523B1 (ko) * | 2002-03-08 | 2004-12-08 | 김광렬 | 칩콘덴서 검사방법 |
| JP2009141026A (ja) * | 2007-12-04 | 2009-06-25 | Ueno Seiki Kk | 電子部品の工程処理装置及び工程処理方法並びに工程処理用プログラム |
| JP5109188B2 (ja) * | 2008-10-15 | 2012-12-26 | 株式会社 東京ウエルズ | コンデンサ漏れ電流測定方法及びコンデンサ漏れ電流測定装置 |
| JP5509690B2 (ja) * | 2009-06-20 | 2014-06-04 | 株式会社村田製作所 | 電子部品の特性測定装置 |
| RU2484488C1 (ru) * | 2011-12-07 | 2013-06-10 | Федеральное Государственное Автономное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дальневосточный Федеральный Университет" (Двфу) | Способ контроля состояния изоляции |
| JP6057303B2 (ja) * | 2014-06-04 | 2017-01-11 | 上野精機株式会社 | 電子部品の工程処理装置及び工程処理方法並びに工程処理用プログラム |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3761806A (en) * | 1972-05-24 | 1973-09-25 | Kahle Eng Co | Automatic capacitor inspection machine |
| US3930993A (en) * | 1974-11-25 | 1976-01-06 | Corning Glass Works | Capacitor testing and sorting apparatus |
| US4406373A (en) * | 1981-08-03 | 1983-09-27 | Palomar Systems & Machines, Inc. | Means and method for testing and sorting miniature electronic units |
| SU1264247A1 (ru) * | 1983-01-21 | 1986-10-15 | Предприятие П/Я Х-5618 | Устройство дл контрол электрических параметров радиодеталей |
-
1991
- 1991-02-05 JP JP3014534A patent/JP2560675B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-02-04 US US07/830,707 patent/US5262729A/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-02-05 GB GB9202440A patent/GB2252834B/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2252834A (en) | 1992-08-19 |
| US5262729A (en) | 1993-11-16 |
| GB9202440D0 (en) | 1992-03-18 |
| JPH04254769A (ja) | 1992-09-10 |
| GB2252834B (en) | 1995-08-30 |
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