JP2552516Y2 - 自動x線露光装置 - Google Patents
自動x線露光装置Info
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- JP2552516Y2 JP2552516Y2 JP1991073388U JP7338891U JP2552516Y2 JP 2552516 Y2 JP2552516 Y2 JP 2552516Y2 JP 1991073388 U JP1991073388 U JP 1991073388U JP 7338891 U JP7338891 U JP 7338891U JP 2552516 Y2 JP2552516 Y2 JP 2552516Y2
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 10
- 238000002601 radiography Methods 0.000 claims description 2
- 210000000481 breast Anatomy 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000009607 mammography Methods 0.000 description 2
- VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N Methyl methacrylate Chemical compound COC(=O)C(C)=C VVQNEPGJFQJSBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920005372 Plexiglas® Polymers 0.000 description 1
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- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/50—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment specially adapted for specific body parts; specially adapted for specific clinical applications
- A61B6/502—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment specially adapted for specific body parts; specially adapted for specific clinical applications for diagnosis of breast, i.e. mammography
-
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- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
- A61B6/542—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis involving control of exposure
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05G—X-RAY TECHNIQUE
- H05G1/00—X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
- H05G1/08—Electrical details
- H05G1/26—Measuring, controlling or protecting
- H05G1/30—Controlling
- H05G1/38—Exposure time
- H05G1/42—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube
- H05G1/44—Exposure time using arrangements for switching when a predetermined dose of radiation has been applied, e.g. in which the switching instant is determined by measuring the electrical energy supplied to the tube in which the switching instant is determined by measuring the amount of radiation directly
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は自動X線露光装置に関す
る。
る。
【0002】
【従来の技術】X線技術、例えば***造影法において
は、自動露光用検出器は一般にフィルムシート機構の後
方に配置される。このことにより通常の自動X線露光装
置においては露光は対象物の厚みに依存する。自動透明
度修正は、ドイツ連邦共和国特許出願公開第30082
61号公報によれば、2つの検出器要素を有する検出器
を使用し、入射するX線のフィルタリングを異ならせ、
検出器要素の信号の商を形成することによって行われ
る。この商は透明度に依存する信号として現れ、この信
号が自動露光の修正のために使用される。
は、自動露光用検出器は一般にフィルムシート機構の後
方に配置される。このことにより通常の自動X線露光装
置においては露光は対象物の厚みに依存する。自動透明
度修正は、ドイツ連邦共和国特許出願公開第30082
61号公報によれば、2つの検出器要素を有する検出器
を使用し、入射するX線のフィルタリングを異ならせ、
検出器要素の信号の商を形成することによって行われ
る。この商は透明度に依存する信号として現れ、この信
号が自動露光の修正のために使用される。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】しかしながら、自動透
明度修正を行ったにも拘わらず、***の最高密度範囲を
有する測定領域の位置がX線遮蔽位置にもたらされる場
合にしか、最適な露光は得られない。
明度修正を行ったにも拘わらず、***の最高密度範囲を
有する測定領域の位置がX線遮蔽位置にもたらされる場
合にしか、最適な露光は得られない。
【0004】そこで本考案は、測定領域位置が自動的に
最適に選定される冒頭で述べた種類の自動X線露光装置
を提供することを課題とする。
最適に選定される冒頭で述べた種類の自動X線露光装置
を提供することを課題とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題は、検査空間の
後方に、X線方向に対して前後して位置する2つのX線
検出器を備え、前記各X線検出器は、検出器要素のマト
リクスから形成され、前記検出器要素は、それぞれ2つ
の前後して位置する検出器要素の信号の商を決定するた
めにコンピュータに接続され、X線撮影のための測定領
域を選定するために、商が予め定められた閾値を越えて
いる前記検出器要素の出力信号が利用されることによっ
て解決される。
後方に、X線方向に対して前後して位置する2つのX線
検出器を備え、前記各X線検出器は、検出器要素のマト
リクスから形成され、前記検出器要素は、それぞれ2つ
の前後して位置する検出器要素の信号の商を決定するた
めにコンピュータに接続され、X線撮影のための測定領
域を選定するために、商が予め定められた閾値を越えて
いる前記検出器要素の出力信号が利用されることによっ
て解決される。
【0006】
【考案の効果】本考案による自動X線露光装置において
は、出力信号の商が予め定められた閾値の下方に位置す
る検出器要素、即ち密度の小さい対称物範囲の後方に位
置する検出器要素は、自動的に切り離される。従って、
測定領域は***の最高密度範囲の後方に自動的に位置す
ることなる。***を通過しない直接放射線が入射する検
出器要素も同様に切り離される。
は、出力信号の商が予め定められた閾値の下方に位置す
る検出器要素、即ち密度の小さい対称物範囲の後方に位
置する検出器要素は、自動的に切り離される。従って、
測定領域は***の最高密度範囲の後方に自動的に位置す
ることなる。***を通過しない直接放射線が入射する検
出器要素も同様に切り離される。
【0007】
【実施例】次に本考案の実施例を図面に基づいて詳細に
説明する。
説明する。
【0008】図1には***造影法用に診察室10に設け
られた自動X線露光装置が示されている。この自動X線
露光装置は、載置板1と散乱放射線シールド2とX線フ
ィルムカセッテ3との後方に、X線フィルタ6によって
互いに分離されている2個の検出器4、5を有してい
る。検出器4、5はコンピュータ7に接続されており、
このコンピュータ7は補正要素8を介して自動X線露光
装置のスイッチング回路9をその都度の対象物透明度に
応じて制御する。
られた自動X線露光装置が示されている。この自動X線
露光装置は、載置板1と散乱放射線シールド2とX線フ
ィルムカセッテ3との後方に、X線フィルタ6によって
互いに分離されている2個の検出器4、5を有してい
る。検出器4、5はコンピュータ7に接続されており、
このコンピュータ7は補正要素8を介して自動X線露光
装置のスイッチング回路9をその都度の対象物透明度に
応じて制御する。
【0009】図2は検出器4の一例を示す。この検出器
4は検出器要素4a、4b等のマトリクスから構成さ
れ、これらの検出器要素4a、4b等は個々にコンピュ
ータ7に接続されている。検出器5は検出器4と同様に
構成されている。
4は検出器要素4a、4b等のマトリクスから構成さ
れ、これらの検出器要素4a、4b等は個々にコンピュ
ータ7に接続されている。検出器5は検出器4と同様に
構成されている。
【0010】検出器4、5の表面はフィルムサイズの全
面に亘って延在している。検出器要素4a、4b等は3
cm×4cmの大きさであるのが有効である。
面に亘って延在している。検出器要素4a、4b等は3
cm×4cmの大きさであるのが有効である。
【0011】各検出器要素4a、4b等は、受信したX
線強度に応じた出力信号を撮影中に出力する。コンピュ
ータ7は検出器要素4a、4b等の各対(これらの検出
器要素はX線方向に前後してかつ診察室10の後方に位
置している。)について商を形成する。この商は検出器
の前にその都度位置する対象物の厚みに対する尺度とな
る。
線強度に応じた出力信号を撮影中に出力する。コンピュ
ータ7は検出器要素4a、4b等の各対(これらの検出
器要素はX線方向に前後してかつ診察室10の後方に位
置している。)について商を形成する。この商は検出器
の前にその都度位置する対象物の厚みに対する尺度とな
る。
【0012】図3は4つの異なったX線管電圧に対する
対象物の厚みDの商A/Bの依存性を示す。X線管電圧
が一定の場合には、この商A/Bはその都度の対象物範
囲の対象物の厚みの増加と共に徐々に増大する。即ち、
商A/Bは対象物の厚み、結局は透明度に依存して徐々
に増大する。
対象物の厚みDの商A/Bの依存性を示す。X線管電圧
が一定の場合には、この商A/Bはその都度の対象物範
囲の対象物の厚みの増加と共に徐々に増大する。即ち、
商A/Bは対象物の厚み、結局は透明度に依存して徐々
に増大する。
【0013】商閾値S1、S2、S3、S4の事前設定
により自動的な測定領域選定が行われる。対に属し信号
商が選定された閾値S1〜S4の上方に位置する検出器
要素4a、4b等だけが測定のために選定される。その
他の検出器要素4a、4b等は切り離される。それゆ
え、例えばX線管電圧32kVの際には、出力信号の商
が閾値S1の上方に位置する検出器要素の対だけが選択
される。これは例えば4cmのプレキシガラスに相当す
る厚み、即ち透明度に相当する。このようにして自動X
線露光用に選定された測定領域は常時厚い、従って密度
の濃い測定範囲の後方、即ち低い透明度を有する測定範
囲の後方に位置する。
により自動的な測定領域選定が行われる。対に属し信号
商が選定された閾値S1〜S4の上方に位置する検出器
要素4a、4b等だけが測定のために選定される。その
他の検出器要素4a、4b等は切り離される。それゆ
え、例えばX線管電圧32kVの際には、出力信号の商
が閾値S1の上方に位置する検出器要素の対だけが選択
される。これは例えば4cmのプレキシガラスに相当す
る厚み、即ち透明度に相当する。このようにして自動X
線露光用に選定された測定領域は常時厚い、従って密度
の濃い測定範囲の後方、即ち低い透明度を有する測定範
囲の後方に位置する。
【0014】撮影期間中に測定領域選定が終了した後、
選定された測定領域における上部検出器4の検出器要素
4a、4b等の加算信号が撮影を停止するために利用さ
れる。停止は相応して制御されるスイッチング回路9に
よって行われる。選定された測定領域における商信号の
平均値はスイッチング回路9の停止線量の目標値を補正
するために使用される。
選定された測定領域における上部検出器4の検出器要素
4a、4b等の加算信号が撮影を停止するために利用さ
れる。停止は相応して制御されるスイッチング回路9に
よって行われる。選定された測定領域における商信号の
平均値はスイッチング回路9の停止線量の目標値を補正
するために使用される。
【図1】本考案による自動X線露光装置を示す概略図。
【図2】図1に示された自動X線露光装置の検出器を示
す概略図。
す概略図。
【図3】図1および図2について説明するための特性線
を示す概略図。
を示す概略図。
1 載置板 2 散乱放射線シールド 3 X線フィルムカセッテ 4 検出器 4a、4b 検出器要素 5 検出器 6 X線フィルタ 7 コンピュータ 8 補正要素 9 スイッチング回路 10 診察室
Claims (1)
- 【請求項1】 検査空間(10)の後方に、X線方向に
対して前後して位置する2つのX線検出器(4、5)を
備え、 前記各X線検出器(4、5)は、検出器要素(4a、4
b等)のマトリクスから形成され、 前記検出器要素(4a、4b等)は、それぞれ2つの前
後して位置する検出器要素(4a、4b等)の信号の商
を決定するためにコンピュータ(7)に接続され、 X線撮影のための測定領域を選定するために、商が予め
定められた閾値を越えている前記検出器要素(4a、4
b等)の出力信号が利用されることを特徴とする自動X
線露光装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP90116267A EP0471883B1 (de) | 1990-08-24 | 1990-08-24 | Röntgenbelichtungsautomat |
AT90116267.7 | 1990-08-24 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0488912U JPH0488912U (ja) | 1992-08-03 |
JP2552516Y2 true JP2552516Y2 (ja) | 1997-10-29 |
Family
ID=8204368
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1991073388U Expired - Lifetime JP2552516Y2 (ja) | 1990-08-24 | 1991-08-21 | 自動x線露光装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5148460A (ja) |
EP (1) | EP0471883B1 (ja) |
JP (1) | JP2552516Y2 (ja) |
DE (1) | DE59007647D1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4232901A1 (de) * | 1992-10-01 | 1994-04-07 | Siemens Ag | Medizinisches Diagnostikgerät mit optimierter Signalerfassung zur Belichtungssteuerung |
DE4235173C1 (de) * | 1992-10-19 | 1994-02-17 | Siemens Ag | Röntgendiagnostikeinrichtung mit Mitteln zur Bildung eines Transparenzsignals |
DE4330787A1 (de) * | 1993-09-10 | 1995-03-23 | Siemens Ag | Verfahren zum Betrieb eines Röntgenbelichtungsautomaten |
JPH07303633A (ja) | 1994-05-11 | 1995-11-21 | Mitsubishi Electric Corp | X線***撮影装置 |
DE19728023A1 (de) * | 1996-07-12 | 1998-01-22 | Siemens Ag | Röntgendiagnostikgerät |
FI113897B (fi) * | 2001-11-23 | 2004-06-30 | Planmed Oy | Automaattivalotusmenetelmä ja automaattivalotusjärjestelmä |
JP4522044B2 (ja) * | 2002-11-15 | 2010-08-11 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置 |
DE102004034239A1 (de) * | 2004-07-15 | 2006-02-02 | Siemens Ag | Gerät zur medizinischen Bildgebung |
DE102004059661A1 (de) * | 2004-12-10 | 2006-06-22 | Siemens Ag | Röntgenbelichtungsautomat für ein Mammographiegerät |
US20110001052A1 (en) * | 2006-12-04 | 2011-01-06 | Luc Struye | Computed radiography system |
JP5858606B2 (ja) | 2010-11-05 | 2016-02-10 | 株式会社東芝 | X線ct装置およびx線ct装置の制御方法 |
KR20140052563A (ko) * | 2012-10-25 | 2014-05-07 | 삼성전자주식회사 | 최적 다중에너지 엑스선 영상을 획득하는 장치 및 방법 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4455669A (en) | 1980-03-04 | 1984-06-19 | Siemens Aktiengesellschaft | X-Ray diagnostic installation comprising means for the formation of a transparency signal |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2983819A (en) * | 1958-06-05 | 1961-05-09 | Gen Electric | Radiation gauge |
FR2308109A1 (fr) * | 1975-04-16 | 1976-11-12 | Cgr Mev | Perfectionnements a un dispositif de mesure de dose d'irradiation utilise dans les appareils de radiotherapie |
DE2546948C3 (de) * | 1975-10-20 | 1980-05-29 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Röntgendiagnostikanlage für Röntgenaufnahmen mit Mitteln zur organprogrammierten Einstellung der Aufnahmewerte sowie mit einem Röntgenbelichtungsautomaten |
US4189645A (en) * | 1978-06-28 | 1980-02-19 | Advanced Instrument Development, Inc. | X-ray measuring system |
US4260894A (en) * | 1978-11-30 | 1981-04-07 | Siemens Aktiengesellschaft | Optimum dose tomography scanning system |
JPS5773900U (ja) * | 1980-10-24 | 1982-05-07 | ||
JPS58214846A (ja) * | 1982-06-08 | 1983-12-14 | Toshiba Corp | X線像撮影装置 |
DE3339775A1 (de) * | 1983-11-03 | 1985-05-15 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Roentgendiagnostikgeraet mit strahlenfiltern |
US4763343A (en) * | 1986-09-23 | 1988-08-09 | Yanaki Nicola E | Method and structure for optimizing radiographic quality by controlling X-ray tube voltage, current, focal spot size and exposure time |
-
1990
- 1990-08-24 EP EP90116267A patent/EP0471883B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-08-24 DE DE59007647T patent/DE59007647D1/de not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-07-23 US US07/734,565 patent/US5148460A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-08-21 JP JP1991073388U patent/JP2552516Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4455669A (en) | 1980-03-04 | 1984-06-19 | Siemens Aktiengesellschaft | X-Ray diagnostic installation comprising means for the formation of a transparency signal |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0471883B1 (de) | 1994-11-02 |
EP0471883A1 (de) | 1992-02-26 |
DE59007647D1 (de) | 1994-12-08 |
US5148460A (en) | 1992-09-15 |
JPH0488912U (ja) | 1992-08-03 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970617 |