FI113897B - Automaattivalotusmenetelmä ja automaattivalotusjärjestelmä - Google Patents

Automaattivalotusmenetelmä ja automaattivalotusjärjestelmä Download PDF

Info

Publication number
FI113897B
FI113897B FI20012307A FI20012307A FI113897B FI 113897 B FI113897 B FI 113897B FI 20012307 A FI20012307 A FI 20012307A FI 20012307 A FI20012307 A FI 20012307A FI 113897 B FI113897 B FI 113897B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
radiation
exposure
imaging
modeled
automatic exposure
Prior art date
Application number
FI20012307A
Other languages
English (en)
Swedish (sv)
Other versions
FI20012307A (fi
FI20012307A0 (fi
Inventor
Pekka Stroemmer
Original Assignee
Planmed Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Planmed Oy filed Critical Planmed Oy
Publication of FI20012307A0 publication Critical patent/FI20012307A0/fi
Priority to FI20012307A priority Critical patent/FI113897B/fi
Priority to AT02803427T priority patent/ATE357874T1/de
Priority to JP2003545183A priority patent/JP4573531B2/ja
Priority to PCT/FI2002/000948 priority patent/WO2003043497A1/en
Priority to AU2002365947A priority patent/AU2002365947A1/en
Priority to DE60219201T priority patent/DE60219201T2/de
Priority to US10/496,329 priority patent/US7209543B2/en
Priority to EP02803427A priority patent/EP1455651B1/en
Publication of FI20012307A publication Critical patent/FI20012307A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI113897B publication Critical patent/FI113897B/fi

Links

Classifications

    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/50Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment specially adapted for specific body parts; specially adapted for specific clinical applications
    • A61B6/502Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment specially adapted for specific body parts; specially adapted for specific clinical applications for diagnosis of breast, i.e. mammography
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/54Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
    • A61B6/542Control of apparatus or devices for radiation diagnosis involving control of exposure
    • A61B6/544Control of apparatus or devices for radiation diagnosis involving control of exposure dependent on patient size
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B5/00Measuring for diagnostic purposes; Identification of persons
    • A61B5/103Detecting, measuring or recording devices for testing the shape, pattern, colour, size or movement of the body or parts thereof, for diagnostic purposes
    • A61B5/107Measuring physical dimensions, e.g. size of the entire body or parts thereof
    • A61B5/1075Measuring physical dimensions, e.g. size of the entire body or parts thereof for measuring dimensions by non-invasive methods, e.g. for determining thickness of tissue layer

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Dentistry (AREA)
  • Oral & Maxillofacial Surgery (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)
  • Indication In Cameras, And Counting Of Exposures (AREA)
  • Exposure Control For Cameras (AREA)

Description

113897 AUTOMAATTIVALOTUSMENETELMÄ JA AUTOMAATTIVALOTUS JÄRJESTELMÄ Tämä keksintö liittyy sähkömagneettisella säteilyllä toteutettavan kuvantamisen vaiotusautomatiikkaan, erityisesti filmipohjaisen maranogra-5 fialaitteen automaattivalotiikseen.
Tekniikan taso tuntee lukuisia erilaisia automaattivalotusjärjestelmiä (AEC = Automatic Exposure Control), joita on toteutettu monien erilaisten kuvantamisratkaisujen yhteydessä. Diagnostisessa röntgenkuvantami-10 sessa valotusautomaatiikka on erittäin merkittävässä asemassa, sillä sen virheellinen toiminta voi johtaa yli- tai alivalotukseen ja sitä kautta mm. potilaan saaman sädeannoksen tarpeettomaan kasvuun ja huonosta kuvanlaadusta johtuviin epävarmoihin tai jopa vääriin diagnooseihin. Virheellisiä valotuksia voidaan toki korjata uusintakuvauksilla, 15 mutta ne nostavat potilaan saamaa sädeannosta entisestään ja toisaalta aiheuttavat myös ylimääräistä työtä.
Mammografialaitteissa käytettävien filmi/vahvistuslevykombinaatioiden kehittyessä yhä herkemmiksi ja jyrkemmiksi saattavat aikaisemmin hyvin 20 toimiviksi havaitut valotusautomaattiratkaisut osoittautua riittämättö-. · · miksi, eivätkä ne välttämättä enää kykene pitämään filmin tummumaa hy- .!'! väksyttävissä rajoissa erityisesti silloin, kun valotusautomatiikan ·_ toimintaa testataan varioiden kuvausparametreja ja -kohdetta viran- *· omaismääräysten edellyttämässä laajuudessa.
25 • , · Tänä päivänä käytössä olevien valotusautomaattien toiminta perustuu empiiriseen menetelmään, jossa jokaista uutta filmi/vahvistuslevykom-binaatiota varten tehdään valtava joukko koevalotuksia kuvantamislait-teen eri kuvausarvoilla ja vaihtelemalla kuvattavan kohteen vastineena • · 30 tyypillisesti käytettävän akryylilevyn vahvuutta, yleensä välillä 20 -80 mm. Kulloisenkin valotusautomaatin toiminnan yksityiskohtien mukai-’ ·; · sesti sen eri parametreja säädetään saatujen mittaustulosten mukaisesti ··* · kunnes saavutetaan riittävän vakiollinen filmin tummuma kaikissa olo- suhteissa. Uuden filmi/vahvistuslevykombinaation tullessa markkinoille 2 113897 tai asetettujen toleranssivaatimusten tiukentuessa on tällaiset mitta-ussarjat suoritettava aina uudelleen.
Edellä kuvatun kaltainen yleisesti käytetty viritysmenetelmä perustuu 5 siis tasa-aineisen kuvannettavaa kohdetta simuloivan, yleensä akryylista valmistetun levyn kuvaamiseen. Viranomaisten tekemät valotusautomaa-tin määräaikaistarkastukset perustuvat myös samaan menetelmään, mikä testin toistettavuuden kannalta onkin välttämätöntä. Varsinaisessa kuvantamis tapahtumassa kuvattavana oleva kohde ei kuitenkaan välttämättä 10 ole tasa-aineista. Esimerkiksi mammografiassa kuvannettavana kohteena oleva rintakudos ei suinkaan ole tasa-aineista eikä rinta myöskään ää-rimitoiltaan vakiokokoinen eikä -muotoinen. Kun mammografiassa kohdetta tyypillisesti kuvannetaan myös eri projektioista, saattavat sen muoto ja paikka kuvautumisalueella vaihdella myös tästä syystä.
15
Jo varhaisissa mammografialaitteiden valotusautomaateissa pyrittiin huomioimaan kuvannettavien kohteiden erilaisuus järjestämällä valo-tusautomaatin anturiosa liikuteltavaksi ja luottamalla laitteen käyttäjän ammattitaitoon mittauksen suorittamiseksi optimaalisesta kohdasta. j\ 20 Vaihtoehtoisesti antureita saattoi olla useita, joista käyttäjä pystyi .··· valitsemaan sopivimman. Anturin manuaalisessa asettelemisessa on kui- .!'! tenkin omat ongelmansa ja se saattaa tulla sijoitetuksi virheellisesti, \ \ esimerkiksi osittain kuvattavan kudoksen ulkopuolelle, jolloin anturin '· saama suora röntgensäteily katkaisee vaiotuksen liian aikaisin. Toi- • 25 saalta esimerkiksi kuvannettavan kudoksen paikallinen, juuri anturin ·, / kohdalle osunut tiivistymä voi aiheuttaa ylipitkiä valotuksia. Näin siis varsinkin tiukkatahtisessa seulontakuvauksessa anturin väärästä asettelusta aiheutuu helposti virheitä filmin tummumisessa ja siten mahdollisesti jopa edellä jo kuvatusti tarpeita uusintakuvauksiin.
: 30
Edellä kuvattujen anturin asetteluongelmien poistamiseksi on kehitetty ;·_ sellaisia useita antureita käyttäviä ratkaisuja, joissa niiden anturei-··· den tuottama signaali jätetään automaattisesti huomioimatta joiden vas- taanottaman säteilyn määrä ylittää jonkin ennalta asetetun tason. Täl-',· 35 lainen rajataso määritetään sellaiseksi, että sen saavuttaminen edel- 3 113897 lyttää anturin ilmeistä sijaitsemista kokonaan tai osittain kuvannettavan kudoksen ulkopuolella. On myös kehitetty ratkaisuja, joissa muutamasta anturista valitaan se, jonka antama signaali vaikuttaa sopivimmalta. Tällaiset ratkaisut ovatkin merkittävästi pienentäneet valotus-5 virheitä, mutta niiden ongelmana on edelleen toiminnan perustuminen ainoastaan hyväksi havaittuun kokemusperäiseen tietoon, jollaisen toiminnon laajentaminen ja tarkentaminen uusien ja/tai tiukentuvien edel-lytysten mukaiseksi saattaa olla hyvin vaikeaa ja työlästä, jopa mahdotonta. Tällaisia edellytyksiä saattavat viimeisimpien viranomaisehdo-10 tusten valossa olla tulevaisuudessa esimerkiksi, että filmin keskimääräisen tummuman pitää olla -+ 0.15 OD (Optical Density) tarkkuudella määrätty (luku on vakio, mutta vaihtelee 1.2 OD ja 1.8 OD välillä uusien tutkimustuloksien ja eri maissa vaihtelevien painotusten mukaan), mutta filmin vaaleimmissa kohdissa on kuitenkin taattava tietty minimi -15 tummuma, jotta usein juuri näissä tiiviimmissä kudoksen kohdissa sijaitseva syöpäkasvain olisi diagnosoitavissa.
Yhteenvetona voidaan siis todeta, että valotusautomatiikan perusperiaate on mitata kuvantamiseen käytetyn säteilyn AEC-anturi lie aikaansaamaa •\ 20 signaalia ja tämän perusteella arvioida filmin vastaanottama valotus.
,··· Tekniikan tason mukaisesti tämä yhteys, johon vaikuttavat esimerkiksi .!*! säteilylähteen kuvausjännite, säteilylähteeltä saatavan säteilyn suoda- ‘ tus sekä kuvannettavan kudoksen paksuus ja tiheys, on etsitty empiiri- '· sesti - ja käyttäen tähän mallinnukseen vain yhtä kohteen tiheyttä, ’ 25 kuten akryylilevyä. Varsinainen säteilylähteen kuvausparametrien säätö : , kuvantamisen aikana on tehty näiden mittaustulosten perusteella raken nettujen säätökäyrien ja/tai -taulukoiden mukaisesti. Mammografialait-teiden yhteydessä tämä on käytännössä tarkoittanut helpostikin tuhansia koekuvauksia ottamalla huomioon kymmeniä eri muuttujia, näistä kuvauk-.30 sista saatujen tulosten dokumentointia ja edellä kuvattujen korrelaa-., tiotaulukoiden/-käyrästäjen rakentamista tästä datasta.
• · • · · Tämän keksinnön tavoitteena on saada aikaiseksi tunnettuihin käytössä oleviin ratkaisuihin verrattuna täysin uudenlaiseen lähestymistapaan •/35 perustuva ratkaisu automaattivalotuksen toteuttamiseksi ja siten mah- i 4 113897 elollistaa aiempiin verrattuna täsmällisempi ja paremmin kuvannettavan kohteen anatomiaan adaptoituva valotusautomaatti, jonka toiminta perustuu todellisen kuvantamisessa käytettävän säteilyn spektrin ja sen muutosten tarkkaan tuntemiseen ja mallintamiseen.
5
Toisaalta yhden keksinnön erityistavoitteen mukaisesti pyritään selvittämään kulloinkin kuvannettavana olevan kohteen kudostyypin paikalliset poikkeamat keskimääräisestä, jotta kuvasparametrit voitaisiin säätää kulloinkin kyseessä olevalle kohteelle optimaalisiksi.
10 Täsmällisesti esitettynä keksinnön tavoitteisiin päästään oheisissa patenttivaatimuksissa määritellyillä ratkaisuilla. Keksinnön yksi edullinen suoritusmuoto valotuksen säätämiseksi tiimipohjaisessa mammogra-fiakuvantamisessa perustuu siis nykyisellään tunnetuista menetelmistä 15 täysin poikkeavaan lähestymistapaan, jossa käytettyjen kuvantamispara-metrien ja keksinnön mukaisten mallinnusten perusteella säteilylähteen emittoiman säteilyn spektri tiedetään jo kuvausta aloitettaessa, samoin kuin tämän spektrin käyttäytyminen säteilyn kulkureitillä kohti kuvan-nettavaa kohdetta ja edelleen sekä valotusanturia että kuvainformaation 20 vastaanottovälinettä. Säteilyn spektrin muutokset sen kulkiessa eri • j » . materiaalikerrosten läpi voidaan laskea sinänsä tunnetun monokromaatti- ,sen säteilyn vaimennusta kuvaavan yhtälön • * « « I = Ιο X θ1μ 25 :' avulla, jossa I0 = kohteesta lähtevän säteilyn intensiteetti, I = koh teeseen tulevan säteilyn intensiteetti, 1 = säteilyn kulkema matka kohteessa ja μ = kohteen atomikoostumuksesta ja säteilykvantin energiasta riippuva lineaarinen vaimennuskerroin.
, . 30 ‘ ’ Täsmällisemmin ottaen keksintö perustuu siis periaatteeseen, jossa läh tötietoina tiedetään esimerkiksi kuvantamisessa käytettävät säteilyläh-··» teen kV sekä röntgenputken anodimateriaali ja -kulma, jolloin sädekei- .... lan spektri voidaan sinänsä tunnetuin keinoin määrittää hyvin tarkasti > - 35 (ks. esim. Phys.Med.Biol. Voi.24, 505 (1997)). Toisaalta, kun etukäteen t · » » v
• · I
5 113897 tiedetään myös säteilylähteen ja kuvannettavan kohteen väliin kuvantamisen aikana jäävien kuvantamislaitteen komponenttien materiaalit ja niiden paksuudet, voidaan edelleen etukäteen tarkasti laskennallisesti määrittää kuvannettavaan kudokseen tunkeutuvan säteilyn spektri. Edel-5 leen, kun keksinnön mukaisesti kuvannettavan kohteen paksuus kuvanta-misasemassaan määritetään ennen kuvantamisen aloittamista, voidaan vastaavasti etukäteen myös laskea minkälainen olisi kohteen läpäisseen säteilyn spektri, jos sen kompositio, tai itse asiassa tiheys kuvanta-miseen käytetyn säteilyn suhteen, olisi kohteelle tyypillistä ja "kes-10 kimääräistä". Kun vielä etukäteen tiedetään tarkasti myös AEC-anturin rakenne ja toimintaperiaate sekä kuvannettavan kohteen ja AEC-anturin väliin jäävien kuvantamislaitteen komponenttien materiaalit ja niiden paksuudet, voidaan edelleen laskea minkälainen signaali valotusanturil-ta tässä tapauksessa saataisiin ja toisaalta myös se, minkälaista muo-15 dostettavan kuvan tummummista tämä vastaisi. Jos sitten kuvantamisen aloituksen jälkeen AEC-signaalin havaitaankin poikkeavan oletetusta, tiedetään sen johtuvan kuvannettavan kohteen tiheyden - kuvantamiseen käytettävän säteilyn suhteen - poikkeamisesta oletetusta, jolloin voidaan laskennallisesti AEC-signaalin ja kohteen paksuustiedon perusteel-:\ 20 la määrittää, minkälaista kohteen tiheyttä mitattu AEC-signaali vastaa ··. ja siten edelleen laskea tiheydeltään nyt tunnetun kohteen vaikutus spektriin, ts. spektri kohteen takana. Näin voidaan edelleen tarkasti • määrittää, mm., montako valofotonia filmille menee esimerkiksi valo- '· ': tusanturin mittaamaa signaaliyksikköä kohti ja tämän perusteella säätää “ ·' 25 kuvausparametrit optimaalisiksi.
Seuraavassa keksintöä selostetaan tarkemmin sovellettuna tyypillisen filmipohjaisen mammografialaitteen automaattivalotuksen toteuttamiseksi ja oheisiin kuvioihin viittaamalla, joista kuvioista .·. · 30 ; · Kuvio 1 esittää poikkileikkauksena tyypillisen mammografialaitteen ku- vantamisen aikana sädekeilan alueelle jääviä rakenteita,
Kuviot 2a ja 2b esittävät tyypillisiä röntgenputkelta saatavan säteilyn • · 35 spektrejä ennen suodatusta ja suodatuksen jälkeen ja 6 113897
Kuvio 3 esittää keksinnön soveltamiseksi edullista useasta pienestä anturista koostuvaa valotusanturirakennetta.
Kuviossa 1 on esitetty poikkileikkauksena tyypillisen mammografialait-5 teen rakenteita, jotka röntgenputkelta (1) saatava sädekeila kuvantamisen aikana läpäisee. Tällaisia rakenteita ovat kuvion 1 mukaisesti suodatin (2) , rintaa kuvautusmisalueelle puristava yläpainin (3), rinta (4), alapainin (5), filmikasetin kansi (6), filmi (7), filmikasetin pohja siellä sijaitsevine vahvistuslevyineen (8) ja AEC-anturin (10) 10 kansi (9). Kaikkien näiden osien materiaalit ja niiden paksuudet säde-keilan suunnassa voidaan tallentaa kuvantamislaitteen tai siihen liitettävissä olevan tietokoneen muistiin, samoin kuin keksinnön valo-tusautomatiikkaan kuuluvissa laskentaprosesseissa tarvittavat tiedot laitteessa käytettäväksi tarkoitetuista erilaisista suodattimista, eri-15 laisissa filmikaseteissa käytettävistä filmeistä ja niiden vahvistusle-vyistä, valotusanturin epitaksiaalikerroksesta, jne. Ainoa välttämättä empiirisiin kokeisiin perustuva muistiin tallennettava tieto on taulukko röntgenputken säteilymäärän tuotosta sen joillakin käyttöarvoilla, kaikki muu voidaan keksinnön mukaisesti laskea.
. 20 . · . Kuvantamisprosessia aloitettaessa röntgenlaitteelle syötetään ensin .. esimerkiksi kuvantamisessa käytettävät kV ja mA, tai vaihtoehtoisesti . laitteen ohjausjärjestelmä voi myös itse valita optimaaliseksi oletta- '· : mansa arvot sen perusteella, mikä on paininievyjen välinen etäisyys sen • 25 jälkeen kun rinta on puristettu paininlevyjen väliin kuvantamisasemaan-; sa. Muistiin tallennettujen tietojen perusteella saadaan tässä vaihees sa tarkasti jo ennalta, siis jo ennen valotuksen aloittamista, tietoon röntgenputkelta lähtevän säteilyn spektri. Edelleen, kun on tiedossa röntgenputkelta saatavan säteilyn suodattamiseen käytettävä materiaali ••30 ja sen paksuus sekä edelleen vastaavat tiedot puristuspainimesta, saadaan kuvattavaan rintaan tunkeutuvan säteilyn spektri laskennallisesti ; _ tarkasti määritetyksi. Kuvioissa 2a ja 2b on esimerkinomaisesti esitet- ··· · ty, miten joillakin röntgenputken käyttöarvoilla ja materiaaleilla saa-tava spektri (kuvio 2a) voi muuttua kuljettuaan suodattimen läpi (kuvio ·.· 35 2b) .
7 113897
Kun kuvauskohteena olevan rinnan puristuspaksuus on tiedossa, voidaan jo ennen valotuksen aloittamista laskennallisesti selvittää mikä sen läpäisseen säteilyn spektri käytetyillä kuvantamisparametreilla olisi, jos kudos olisi keskimääräistä ja siten edelleen, mikä tällöin olisi 5 laitteessa käytetylle AEC-anturille (10) osuvan säteilyn spektri kun säteily on edelleen kulkenut, kuvion 1 mukaisessa sovellutuksessa, ominaisuuksiltaan tunnettujen alapainimen (5) , filmikasetin vahvistusle-vyineen (6, 7, 8) ja AEC-anturin kannen (9) läpi. (Periaatteessa AEC-anturi voi sijaita muuallakin kun kasetin takana - mammografiassa 10 ei kuitenkaan ole suotavaa, että myös anturi kuvautuisi muodostettavaan kuvaan.) Näin tämän lasketun spektrin ja AEC-anturina tyypillisesti käytettävän diodin epitaksiaalikerroksen paksuuden perusteella voidaan myös sinänsä tunnetuin keinoin tällöin laskea, mikä anturilla syntyvän sähköisen signaalin pitäisi olla.
15
Varsinainen AEC-toiminto aloitetaan välittömästi kuvantamisen aloituksen jälkeen, jolloin AEC-anturilta saatavan signaalin sekä tiedossa olevien kuvausparametrien ja kudoksen paksuustiedon perusteella voidaan selvittää, minkälaista kudoksen tiheyttä mitattu AEC-signaali vastaa, . 20 jonka jälkeen edelleen voidaan laskea tiheydeltään nyt tunnetun kudok-’ sen vaikutus kudoksen läpi menneen säteilyn spektriin. Näin voidaan • lopuksi seuraavassa hieman yksityiskohtaisemmin selvitettävän mukaises ti tarkasti määrittää, montako valofotonia filmille menee valotusantu-rin mittaamaa signaaliyksikköä kohti ja säätää kuvausparametrit, eri-25 tyisesti valotusaika, optimaalisiksi.
Kuvantamiseen käytetyn filmin tummuman säätö tapahtuu tarkemmin selostettuna seuraavasti. Edellä selostettujen, ennen valotusta tehtyjen määritysten ja mallinnusten yhtenä tuloksena voidaan määrittää toisaal-.·. 3 0 ta filmikasetin sisällä olevaan filmiin, toisaalta vahvistuslevyyn (8) absorboituneen säteilyn määrä ja spektri "keskimääräisellä" kudoksella . (4) . Vahvistus levyn (8) - joka on siis röntgenkasetin pohjalla sijait seva röntgenkvantteja absorboiva ja edelleen niitä valofotoneiksi kon-·,··' vertoituna emittoivaa materiaalia - tunnettujen ominaisuuksien perus- V 35 teella saadaan tästä edelleen lasketuksi syntyvien valofotonien määrä, 8 113897 mikä on suoraan suhteessa filmin (7) tummumaan. Näin periaatteessa jo tässä vaiheessa tiedetään myös tarvittava valotusaika oletustiheyden omaavalle kudokselle, ja olisi tietysti mahdollista toimia niinkin, että valotus tehtäisiin suoraan tällä tiedolla ja siitä poikettaisiin 5 ainoastaan silloin, jos AEC-signaali poikkeaa lasketusta merkittävästi. Tällaiseen toimintoon voitaisiin mammografiassa integroida vielä sellainen kohteen paksuustietoon perustuva korjauskerroin, että keskimääräistä pienemmillä paksuuksilla kuvannettavan kohteen tiheyden arvioitaisiin olevan keskimääräistä tiheämpää ja päin vastoin, ts. että pie-10 nillä paksuuksilla valotusaikaa hieman pidennettäisiin suhteessa em. määrityksestä saatuiin valotusaikaan ja päin vastoin. Vaihtelut rintaku-dosten tiheydessä ovat kuitenkin niin suuria, että käytännössä riittävän tarkasti haluttuun tummumaan ei pelkästään näillä keinoin yleensä päästäisi. Keksinnön mukaisesti voidaan kuitenkin toimia siten, että 15 kun kuvauksen aikana suoritetun mittauksen perusteella on laskettavissa kuvattavan kudoksen tiheys ja siten edelleen kohteen läpäisevän säteilyn spektri, voidaan edelleen laskea filmiin suoraan absorboituvat röntgenkvantit ja edelleen filmikasetin vahvistuslevyyn todellisuudessa absorboituvan säteilyn spektri ja sen aikaansaama valofotonien määrä ja 20 siten edelleen tarvittava valotusaika.
’·· ’ Keksinnön perusajatuksesta poikkeamatta voidaan monia muitakin empiiri- : siin kokeisiin perustuvia, niistä laskettuja tai muita tietoja ja las- kentamalleja tallentaa muistiin valotusautomatiikassa hyödynnettäväksi.
·" · 25 Tällaisia voivat olla esimerkiksi sinänsä tunnetut säätöalgoritmit myös _ muiden kuvantamisparametrien kun valotusajan säätämiseksi - hyödynnet täväksi esimerkiksi silloin, jos lähtötilanteessa valitut kuvantamisparametrien optimaalisiksi oletetut arvot osoittautuvatkin mitatun AEC-signaalin perusteella poikkeavan merkittävästi arvoista, joilla 30 olisi mahdollista päästä parhaaseen mahdolliseen kuvantamistulokseen esimerkiksi kuvantamisajan pituuden, käytetyn röntgenputken kV:n, mA:n, fokuksen koon jne. ja näiden mahdollisten eri kombinaatioiden funktio-na. Toisaalta edellä kuvattua filmipohjaista AEC-toimintoa voidaan vielä parantaa siten, että siinä otetaan huomioon se filmeille ominainen . . 35 piirre, että ne eivät käyttäydy resiprookkilain mukaisesti. Tällöin » » * i * 9 113897 systeemiin mallinnetaan myös käytetyn filmityypin mukainen filmin oikeaan tummumaan johtava valotusaika ja siitä riippuva korjauskerroin, joka korjaa valotusaikaa sitä pidemmäksi mitä pidempi valotusaika on. Tämän poikkeaman huomioon ottavan optimaalisen valotusajan laskemiseen 5 tarvittavat arvot saadaan tyypillisesti filmin valmistajalta.
Keksinnön mukaisessa ratkaisussa on lisäksi edullista mitata kuvattavaa kudosta mahdollisimman monesta eri kohdasta pieniltä paikallisilta alueilta. Näin voidaan välttää niitä alussa kuvattuja ongelmia, joita voi 10 aiheutua jos käytetään vain yhtä valotusanturia ja jos se sattuukin osumaan kokonaisuutta ajatellen ei-edustavaan kohtaan kudosta tai jopa osittain tai kokonaan kohteen ulkopuolelle. Nykyteknologialla ei enää ole varsinainen kustannuskysymys järjestää esimerkiksi kuviossa 3 esitetyn mukaisesti AEC-anturiin (10) useitakin kymmeniä pieniä kohteen 15 alueelle hajalleen sijoitettavia antureita (10', 10 ,...). Tällai sen ratkaisun etuna on että näin saadaan edustava näkemys siitä, miten suuri osa kudoksesta (4) on tiheydeltään keskimääräistä ja/tai siitä jompaankumpaan suuntaan poikkeavaa. Tämän tiedon perusteella kuvauspa-rametreja voidaan sitten säätää siten, että tiheämmät alueet eivät jää 20 muodostettavassa kuvassa liian vaaleiksi eivätkä vähemmän tiheät mustu . lukukelvottomiksi. Toisaalta tällaisella ratkaisulla voidaan saada ai- ; nakin tyydyttävästi hallintaan myös sellainen tilanne, jossa kohteessa on tiheydeltään niin erilaisia alueita että kaikilta osin optimaaliseen tulokseen ei ole mitenkään mahdollista päästä, ts. jossa vaadittava '25 dynamiikka-alue olisi liian laaja. Tällaisessa tapauksessa kuvauspara-metrit voidaan optimoida niin että päästään tulokseen, jossa kuitenkin mahdollisimman paljon kuvannettavasta kudoksesta on kuvasta luettavissa.
30 Keksinnön mukaisen mallinnuksen perusteella voidaan myös edellä kuvatun '· ‘ tyyppisessä sovelluksessa helposti erottaa ne anturit, jotka ovat il- ·,. meisesti jääneet kokonaan tai osittain kuvattavan rintakudoksen ulko- ... puolelle sen perusteella, että niiden antaman mittaustulos on aivan liian suuri, ts. että niin pienen tiheyden omaavaa kudosta ei rinnassa . . 35 tyypillisesti esiinny. Myös hyvin lähellä kuvannettavan kudoksen reunaa » · 10 113897 sijaitsevat anturit voidaan sopivin järjestelmään rakennettujen kriteerien perusteella tunnistaa ja niiden antama signaali korjata. Koska kokonaan kohteen ulkopuolelle jääneiden antureiden tuottama signaali ei edusta kuvattavan kudoksen ominaisuuksia, niiden käyttö kuvausparamet-5 rien säätämiseen on tuskin muuten kuin enintään pieneltä osin järkevää. Tällaisilta antureilta saatavaa signaalia voidaan kuitenkin haluttaessa käyttää laitteen säteilytuoton mittaamiseen ja sitä kautta säteily-tuoton mahdollisten vaihteluiden kompensoimiseen.
10 Edellä keksintöä on kuvattu lähinnä sovellettuna tiimipohjaiseen mammo- grafiaröntgenlaitteeseen, mutta luonnollisesti sitä voidaan käyttää muidenkin kuvantamissovellutusten yhteydessä ja esimerkiksi käyttäen mitä tahansa sinänsä tunnettua AEC-anturiteknologiaa. Keksintö ja sen ♦ suoritusmuodot eivät siten rajoitu yllä kuvattuihin ratkaisuihin vaan 15 ne voivat vaihdella oheisten patenttivaatimusten puitteissa.
• «
f I
I I I

Claims (27)

113897
1. Automaattivalotusmenetelmä, käytettäväksi erityisesti tiimipohjaisessa mammografiaröntgenlaitteessa, jossa kuvannettava kohde on asemoi- 5 tuna kuvautusmisalueelle, jossa säteilylähteellä tuotetaan kuvantamisessa käytettävää säteilyä, jossa kuvainformaatiota sisältävä säteily ilmaistaan kuvadatan vastaanottovälineellä ja jossa valotuksen aikana kontrolloidaan ainakin yhtä kuvausparametria, tunnettu siitä, että menetelmä käsittää ainakin seuraavia toimenpiteitä: 10. mallinnetaan kuvantamislaitteen säteilylähteeltä saatavan säteilyn spektri ainakin olennaisten säteilylähteen käyttöparametrien ja sätei-lykvanttien tuoton funktiona, - mallinnetaan säteilyn vaimenemisen suhteen ainakin osa kuvantamislaitteen säteilylähteen ja kuvadatan ilmaisuvälineen väliin mahdolli- 15 sesti tulevista, sekä edelleen mahdollisista muista valotusanturin eteen jäävistä komponenteista - mallinnetaan kuvadatan vastaanottovälineellä ilmaistavan kuvan tummu-misnopeus sille saapuvan säteilyn funktiona, - määritetään kuvannettavan kohteen paksuus sädekeilan suunnassa kuvan-20 tamisalueella, . - aloitetaan vaiotus, mitataan valotusanturilta saatava signaali ja ‘ määritetään mitä kuvannettavan kohteen tiheyttä mallinnetun säteilyn ’ vaimenemisen suhteen tämä signaali vastaa, ja ’ - määritetään em. mallinnuksiin perustuen kyseisellä kuvannettavan koh- 25 teen paksuudella ja tiheydellä halutun tummuman saavuttamiseen tarvit-1 tavat muutokset valotuksessa käytettyihin kuvausparametrien arvoihin, erityisesti valotusaikaan, ja säädetään ko. arvot vastaaviksi.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen automaattivalotusmenetelmä, tun- , .30 nettu siitä, että mallinnetaan spektrin muutokset säteilyn kul-» ;>t kxessa kuvantamislaitteen mainitun komponentin läpi koherentin monokro- maattisen säteilyn vaimenemista kuvaavan yhtälön avulla kyseisen kom->·· ponentin materiaali ja paksuus huomioiden. « » · » * » • · « » • $ » » i i » 113897
3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen automaattivalotusmenetelmä, tunnettu siitä, että mallinnetaan ainakin osa mainituista ku-vantamislaitteen komponenteista empiirisin mittauksin niiden säteilyab-sorption suhteen eri säteilyintensiteeteillä. 5
4. Jonkin patenttivaatimuksen 1-3 mukainen automaattivalotusmenetelmä, tunnettu siitä, että mallinnetaan kuvadatan vastaanottimena käytettävän filmin tummumista aikaansaava säteilymäärä ottamalla huomioon filmikasetin kannen läpi tulevat filmiin suoraan absorboituvat 10 röntgenkvantit ja vahvistuslevyssä fotoneiksi konvertoituvat ja siitä filmiin emittoituvat fotonit filmikasetin kannen läpäisseen mallinnetun spektrin perusteella.
5. Jonkin patenttivaatimuksen 1-4 mukainen automaattivalotusmenetelmä, 15 tunnettu siitä, että kuvadataa sisältävä säteily ilmaistaan sellaisella filmillä, jonka resiprookkilaista poikkeava tummuminen tunnetaan ja korjataan valotusaikaa vastaavasti.
6. Patenttivaatimuksen 5 mukainen automaattivalotusmenetelmä, tun-,.20 nettu siitä, että valotusaikaa korjataan huomioon ottaen mallinnettu, käytetylle filmityypille ominaisen korjauskertoimen mukainen ; , haluttuun tummumaan johtava valotusaika.
7. Patenttivaatimuksen 4, 5 tai 6 mukainen automaattivalotusmenetelmä, '25 tunnettu siitä, että määritetään signaali, joka valotusanturil- ta pitäisi saada huomioon ottaen kuvantamiseen käytettävä säteilyspekt-ri, kuvannettavan kohteen paksuus ja säteilyn mainittujen mallinnuksien mukainen vaimeneminen oletuksella, että vaimeneminen kuvanettavassa kohteessa on kohteelle tyypillistä ja keskimääräistä, määritetään mai-, : 30 nittujen mallinnuksien mukainen kyseistä signaalia vastaava valotusaika, aloitetaan valotus, mitataan valotusanturisignaali ja verrataan sitä mallinnusten perusteella määritettyyn valotusanturisignaaliin ja • säädetään valotusaikaa, ja/tai jotakin muuta kuvausparametriä, mainit-·;·; tujen mallinnusten perusteella määritellyn kohteen todellisen tiheyden 113897 mukaiseksi, jos mitattu AEC-signaali poikkeaa ennalta määritellystä signaalista ennalta asetettua rajakriteeriä enemmän.
8. Jonkin patenttivaatimuksen 1-7 mukainen automaattivalotusmenetelmä, 5 tunnettu siitä, että mallinnetaan säteilyn vaimenemisen funktiona ainakin osa seuraavista mammografiakuvantamisessa käytettävän laitteiston osista: säteilysuodin, painimet, filmikasetin kansi, filmi, vahvistuslevy, filmikasetin pohja ja AEC-anturin kansi.
9. Patenttivaatimuksen 1-8 mukainen automaattivalotusmenetelmä, tun nettu siitä, että mallinnetaan säteilyn vaimenemisen funktiona kaikki säteilylähteen ja kuvadatan ilmaisuvälineen välille tulevat komponentit .
10. Jonkin patenttivaatimuksen 1-9 mukainen automaattivalotusmenetelmä, tunnettu siitä, että mallinnetaan säteilyn vaimenemisen funktiona myös kaikki mahdolliset muut valotusanturille johdettavan säteilyn eteen jäävät komponentit. : 20
11. Jonkin patenttivaatimuksen 1-10 mukainen automaattivalotusmenetel- . mä, tunnettu siitä, että käytetään useita valotusantureita.
12. Patenttivaatimuksen 11 mukainen automaattivalotusmenetelmä, tun-' nettu siitä, että mitataan kunkin anturin signaali ja painote- 25 taan näiden signaalien perusteella valotussäätöä siten, että mikään osa ’ muodostettavasta kuvasta ei toisaalta jää liian vaaleaksi eikä toisaal ta tummu liikaa - tarvittaessa siten että ainakaan mikään osa ei jää liian vaaleaksi. : 30
13. Patenttivaatimuksen 11 tai 12 mukainen automaattivalotusmenetelmä, tunnettu siitä, että jätetään valotusajan säädössä ainakin pääosin huomiotta ne valotusanturisignaalit, jotka ovat niin suuria että kyseiset valotusanturit eivät kuvannettevana olevan kohteen tiheyden · suuruusluokka huomioon ottaen voi sijaita kuvannettavan kohteen läpäis- V 35 seen säteilyn alueella. 113897
14. Patenttivaatimuksen 13 mukainen automaattivalotusmenetelmä, tunnettu siitä, että ainakin yhtä mainituista kohteen ulkopuolelle jäävistä antureista käytetään säteilytuoton mittaamiseen ja sitä kautta säteilytuoton mahdollisten vaihteluiden kompensoimiseen. 5
15. Automaattivalotusjärjestelmä käytettäväksi mammografialaitteessa tai vastaavantyyppisessä kuvantamislaitteessa, jolloin kuvantamislait-teeseen kuuluu välineet kuvannettavan kohteen asemoimiseksi kuvautumis-alueelle, kuvantamiseen käytettävää säteilyä tuottava säteilylähde, 10 välineet kuvainformaatiota sisältävän säteilyn ilmaisemiseksi, välineet kontrollisignaalin luomiseksi ja ainakin yhden kuvantamisparametrin kontrolloimiseksi kuvantamisen aikana mainitun kontrollisignaalin perusteella, tunnettu siitä, että automaattivalotusjärjestelmään kuuluu tiedontallennusvälineet, jonne on mallinnettu 15 - kuvantamislaitteen säteilylähteeltä saatavan säteilyn spektri ainakin olennaisten säteilylähteen käyttöparametrien ja säteilykvanttien tuoton funktiona, säteilyn vaimenemisen suhteen ainakin osa kuvantamislaitteen säteilylähteen ja kuvadatan ilmaisuvälineen väliin mahdollisesti tulevista, •‘,.20 sekä edelleen mahdollista muista valotusanturin eteen jäävistä kom-. · '. ponentei sta, ;· - kuvadatan vastaanottovälineellä ilmaistavan kuvan tummumisnopeus '. \ sille saapuvan säteilyn funktiona, ‘ 25 ja että siihen kuuluu välineet kuvannettavan kohteen paksuuden määrittämiseksi sädekeilan suunnassa kohteen ollessa asemoituna kuvautumisalueelle, - valotusanturi ja välineet määrittämään mitä kuvannettavan kohteen ,·, ; 3 0 tiheyttä mallinnetun säteilyn vaimenemisen suhteen tämä signaali vas-! . taa, ja . - välineet em. mallinnuksiin perustuen määrittää kyseisellä paksuudella ja tiheydellä ne kuvausparametrien arvot, erityisesti valotusaika, joilla päästään haluttuiin tummumaan, ja välineet säätää ko. arvot vas-‘.’35 taaviksi. 113897
16. Patenttivaatimuksen 15 mukainen automaattivalotusjärjestelmä, tunnettu siitä, että mainittuihin tiedontallennusvälineisiin on mallinnettu spektrin muutokset säteilyn kulkiessa kuvantamislaitteen mainitun komponentin läpi koherentin monokromaattisen säteilyn vaimene- 5 mistä kuvaavan yhtälön avulla kyseisen komponentin materiaali ja paksuus huomioiden.
17. Patenttivaatimuksen 15 tai 16 mukainen automaattivalotusjärjesteinä, tunnettu siitä, että ainakin osa mainituista kuvantamis- 10 laitteen komponenteista on mallinnettu mainittuihin tiedontallennusvälineisiin niiden säteilyabsorption suhteen perustuen empiirisiin mittauksiin eri säteilyintensiteeteillä.
18. Jonkin patenttivaatimuksen 15-17 mukainen automaattivalotusjärjes- 15 telmä, tunnettu siitä, että mainittuihin tiedontallennusväli neisiin on mallinnettu kuvadatan vastaanottimena käytettävän filmin tummumista aikaansaava säteilymäärä ottamalla huomioon filmikasetin kannen läpi tulevat filmiin suoraan absorboituvat röntgenkvantit ja vahvistuslevyssä fotoneiksi konvertoituvat ja siitä filmiin emittoitu- 2. vat fotonit filmikasetin kannen läpäisseen mallinnetun spektrin perus-.·” teella.
19. Jonkin patenttivaatimuksen 15-18 mukainen automaattivalotusjärjestelmä, tunnettu siitä, että mainittuihin tiedontallennusväli- ' 25 neisiin on mallinnettu ainakin yhden tunnetun filmityypin osalta halut-·, · tuun tummumaan johtava valotusaika siten, että mallinnuksessa on korja- uskertoimella otettu huomioon kyseiselle filmityypille ominainen tummumisen poikkeaminen resiprookkilain mukaisesta tummumisesta. : 30
20. Patenttivaatimuksen 18 tai 19 mukainen automaattivalotusjärjestel mä, tunnettu siitä, että mainittuihin tiedontallennusvälineisiin liittyy välineet määrittää signaali, joka valotusanturilta pitäisi saada huomioon ottaen kuvantamiseen käytettävä säteilyspektri, kuvannet tavan kohteen paksuus ja säteilyn mainittujen mallinnuksien mukainen V 35 vaimeneminen oletuksella, että vaimeneminen kuvannettavassa kohteessa 113897 on kohteelle tyypillistä ja keskimääräistä, välineet määrittää mainittujen mallinnuksien mukainen kyseistä signaalia vastaava valotusaika, sekä välineet verrata valotuksen aikana mitattavaa valotusanturisignaa-lia mallinnusten perusteella määritettyyn valotusanturisignaaliin ja 5 säätää valotusaikaa, ja/tai jotakin muuta kuvausparametriä, mainittujen mallinnusten perusteella määritellyn kohteen todellisen tiheyden mukaiseksi, jos mitattu AEC-signaali poikkeaa ennalta määritellystä signaalista ennalta asetettua rajakriteeriä enemmän.
21. Jonkin patenttivaatimuksen 15-20 mukainen automaattivalotusjärjes- telmä, tunnettu siitä, että mainittuihin tiedontallennusväli-neisiin on mallinnettu säteilyn vaimenemisen funktiona ainakin osa seu-raavista mammografiakuvantamisessa käytettävän laitteiston osista: sä-teilysuodin, painimet, filmikasetin kansi, filmi, vahvistuslevy, filmi -15 kasetin pohja ja AEC-anturin kansi.
22. Patenttivaatimuksen 15-21 mukainen automaattivalotusjärjestelmä, tunnettu siitä, että mainittuihin tiedontallennusvälineisiin on mallinnettu säteilyn vaimenemisen funktiona kaikki säteilylähteen ja 20 kuvadatan ilmaisuvälineen välille tulevat komponentit.
... 23. Jonkin patenttivaatimuksen 15-22 mukainen automaattivalotusjärjes- ‘, ’ telmä, tunnettu siitä, että mainittuihin tiedontallennusväli- '· ' neisiin on mallinnettu säteilyn vaimenemisen funktiona myös kaikki mah- 25 dolliset muut valotusanturille johdettavan säteilyn eteen jäävät kom-, ponentit.
24. Jonkin patenttivaatimuksen 15-23 mukainen automaattivalotusjärjestelmä, tunnettu siitä, että valotusantureita on useita. . 30 .
25. Patenttivaatimuksen 24 mukainen automaattivalotusjärjestelmä, tunnettu siitä, että siihen kuuluu välineet mitata kunkin anturin signaali ja painottaa näiden signaalien perusteella valotussäätöä siten, että mikään osa muodostettavasta kuvasta ei toisaalta jää liian » · 113897 vaaleaksi eikä toisaalta tummu liika - tarvittaessa siten että ainakaan mikään osa ei jää liian vaaleaksi.
26. Patenttivaatimuksen 24 tai 25 mukainen automaattivalotusjärjestel-5 mä, tunnettu siitä, että siihen kuuluu välineet jättää valotus- ajan säädössä ainakin pääosin huomiotta ne valotusanturisignaalit, jotka ovat niin suuria että ne eivät kuvannettavana olevan kohteen tiheyden suuruusluokka huomioon ottaen voi sijaita kuvannettavan kohteen läpäisseen säteilyn alueella. 10
27. Patenttivaatimuksen 26 mukainen automaattivalotusjärjestelmä, tunnettu siitä, että siihen kuuluu välineet kompensoida säteilylähteen säteilytuoton vaihteluita käyttämällä mainittuja rajakritee-rin ylittäneitä signaaleita säteilytuoton mittaamiseen. 15 I I i I I 1 » » » < » » t » I 113897
FI20012307A 2001-11-23 2001-11-23 Automaattivalotusmenetelmä ja automaattivalotusjärjestelmä FI113897B (fi)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20012307A FI113897B (fi) 2001-11-23 2001-11-23 Automaattivalotusmenetelmä ja automaattivalotusjärjestelmä
AU2002365947A AU2002365947A1 (en) 2001-11-23 2002-11-25 Automatic exposure method and automatic exposure system
JP2003545183A JP4573531B2 (ja) 2001-11-23 2002-11-25 自動露出法および自動露出システム
PCT/FI2002/000948 WO2003043497A1 (en) 2001-11-23 2002-11-25 Automatic exposure method and automatic exposure system
AT02803427T ATE357874T1 (de) 2001-11-23 2002-11-25 Automatisches expositionsverfahren und automatisches expositionssystem
DE60219201T DE60219201T2 (de) 2001-11-23 2002-11-25 Automatisches expositionsverfahren und automatisches expositionssystem
US10/496,329 US7209543B2 (en) 2001-11-23 2002-11-25 Automatic exposure method and automatic exposure system
EP02803427A EP1455651B1 (en) 2001-11-23 2002-11-25 Automatic exposure method and automatic exposure system

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20012307A FI113897B (fi) 2001-11-23 2001-11-23 Automaattivalotusmenetelmä ja automaattivalotusjärjestelmä
FI20012307 2001-11-23

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20012307A0 FI20012307A0 (fi) 2001-11-23
FI20012307A FI20012307A (fi) 2003-05-24
FI113897B true FI113897B (fi) 2004-06-30

Family

ID=8562341

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20012307A FI113897B (fi) 2001-11-23 2001-11-23 Automaattivalotusmenetelmä ja automaattivalotusjärjestelmä

Country Status (8)

Country Link
US (1) US7209543B2 (fi)
EP (1) EP1455651B1 (fi)
JP (1) JP4573531B2 (fi)
AT (1) ATE357874T1 (fi)
AU (1) AU2002365947A1 (fi)
DE (1) DE60219201T2 (fi)
FI (1) FI113897B (fi)
WO (1) WO2003043497A1 (fi)

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE528366C2 (sv) * 2004-02-13 2006-10-31 Sectra Mamea Ab Metod och anordning avseende röntgenbildtagning
JP2006132945A (ja) * 2004-11-02 2006-05-25 Sii Nanotechnology Inc 蛍光x線分析装置の検出下限モニタ
FI119968B (fi) * 2005-09-15 2009-05-29 Planmed Oy Automaattivalotusmenetelmä ja -järjestelmä
US7372940B2 (en) * 2005-09-30 2008-05-13 Topel, Llc Radiation therapy system with risk mitigation
JP4597936B2 (ja) * 2005-10-06 2010-12-15 富士フイルム株式会社 ***画像撮影装置
EP1787585B1 (fr) * 2005-11-15 2008-06-11 Trophy Procédé d'asservissement d'une source de rayons X d'un dispositif de radiographie
JP4494355B2 (ja) * 2006-03-07 2010-06-30 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影装置及び放射線画像撮影装置の制御方法
JP4904898B2 (ja) * 2006-04-17 2012-03-28 コニカミノルタエムジー株式会社 医用画像撮影支援装置、医用画像撮影支援方法及びプログラム
WO2008038525A1 (fr) * 2006-09-26 2008-04-03 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. Système d'imagerie
JP5297247B2 (ja) * 2009-03-27 2013-09-25 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影装置
US8755490B2 (en) * 2009-04-07 2014-06-17 Shimadzu Corporation X-ray imaging device
CN103582455B (zh) * 2011-02-14 2016-12-28 罗切斯特大学 基于锥形束***ct图像的计算机辅助检测和诊断的方法和装置
CN102393599B (zh) * 2011-09-30 2013-07-31 北京东健宇兴科技有限公司 一种基于光圈自动控制的x射线机成像装置
JP5558538B2 (ja) * 2011-12-08 2014-07-23 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影装置の制御方法及び制御プログラム
JP2013233415A (ja) 2012-04-11 2013-11-21 Fujifilm Corp 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影プログラム、及び放射線画像撮影方法
CN104367331B (zh) * 2013-08-15 2017-02-15 深圳市蓝韵实业有限公司 用于数字乳腺x射线机的全数字自动曝光方法
KR102120867B1 (ko) 2014-08-22 2020-06-09 삼성전자주식회사 엑스선 영상 장치 및 그에 따른 엑스선 영상 장치 제어방법
DE102016123846A1 (de) * 2016-12-08 2018-06-14 Visus Health It Gmbh Detektorband für Röntgenfilm
KR102592905B1 (ko) * 2016-12-21 2023-10-23 삼성전자주식회사 엑스선 영상 촬영 장치 및 제어방법
JP6970056B2 (ja) * 2018-06-26 2021-11-24 富士フイルム株式会社 画像処理装置、画像処理方法、及び画像処理プログラム
CN114785965B (zh) * 2022-04-20 2023-09-05 四川九洲电器集团有限责任公司 基于copod算法的高光谱图像自动曝光方法及***

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4090084A (en) 1977-02-24 1978-05-16 Epstein Heywood Y Mammography compression apparatus
DE3008261C2 (de) 1980-03-04 1988-05-05 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Röntgendiagnostikeinrichtung mit Mitteln zur Bildung eines Transparenzsignals
JPS59184499U (ja) * 1983-05-27 1984-12-07 日本電気株式会社 X線撮影装置
US4763343A (en) 1986-09-23 1988-08-09 Yanaki Nicola E Method and structure for optimizing radiographic quality by controlling X-ray tube voltage, current, focal spot size and exposure time
EP0346530A1 (en) 1988-06-16 1989-12-20 Nicola Elias Yanaki Method and structure for optimizing radiographic quality by controlling X-ray tube voltage, current, focal spot size and exposure time
US4905150A (en) * 1988-01-18 1990-02-27 Siemens Aktiengesellschaft X-ray diagnostics installation with mean parenchyma dose calculator
JPH0286100A (ja) * 1988-09-20 1990-03-27 Hitachi Medical Corp ***x線撮影装置
JPH049145A (ja) * 1990-04-27 1992-01-13 Toshiba Corp ***x線撮影装置
FR2664396B1 (fr) * 1990-07-06 1992-09-11 Gen Electric Cgr Procede de determination de la fonction representant l'effet de non reciprocite d'un film radiographique.
DE69106953T2 (de) 1990-07-06 1995-06-22 Gen Electric Cgr Verfahren zur automatischen Bestimmung der Belichtungszeit für einen Röntgenfilm und dieses verwendendes System.
DE59007647D1 (de) * 1990-08-24 1994-12-08 Siemens Ag Röntgenbelichtungsautomat.
JPH08238237A (ja) * 1995-03-03 1996-09-17 Shimadzu Corp X線撮影装置
US6502984B2 (en) * 1997-01-17 2003-01-07 Canon Kabushiki Kaisha Radiographic apparatus
US6192105B1 (en) * 1998-11-25 2001-02-20 Communications & Power Industries Canada Inc. Method and device to calibrate an automatic exposure control device in an x-ray imaging system
FR2786389B1 (fr) * 1998-11-27 2001-01-26 Ge Medical Syst Sa Procede de reglage de la configuration en radiologie numerique
FR2786388B1 (fr) 1998-11-27 2001-02-16 Ge Medical Syst Sa Procede de detection d'un tissu de nature determinee en radiologie numerique et son utilisation pour le reglage des parametres d'exposition
US6151383A (en) * 1998-12-30 2000-11-21 General Electric Company Radiographic testing system with learning-based performance prediction
GB9904692D0 (en) 1999-03-01 1999-04-21 Isis Innovation X-ray image processing
EP1219147B1 (en) * 1999-10-08 2006-11-08 Gendex Corporation Automatic exposure control for dental panoramic and cephalographic x-ray equipment
EP1099410A1 (en) * 1999-11-11 2001-05-16 Agfa-Gevaert N.V. Radiographic image recording method and apparatus
US6314160B1 (en) * 1999-12-17 2001-11-06 General Electric Company Method and apparatus for performing fluoroscopic noise reduction
JP2003520115A (ja) * 2000-01-24 2003-07-02 マメア イメイジング アクチボラゲット X線画像生成装置に関する方法および機構
US6459765B1 (en) 2000-12-28 2002-10-01 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Automatic exposure control and optimization in digital x-ray radiography
DE10122041A1 (de) * 2001-05-07 2002-11-14 Philips Corp Intellectual Pty Verfahren und Vorrichtung zur Belichtung von Röntgenaufnahmen

Also Published As

Publication number Publication date
FI20012307A (fi) 2003-05-24
DE60219201T2 (de) 2008-01-03
EP1455651A1 (en) 2004-09-15
AU2002365947A1 (en) 2003-06-10
US7209543B2 (en) 2007-04-24
DE60219201D1 (de) 2007-05-10
JP4573531B2 (ja) 2010-11-04
US20050078792A1 (en) 2005-04-14
FI20012307A0 (fi) 2001-11-23
EP1455651B1 (en) 2007-03-28
ATE357874T1 (de) 2007-04-15
JP2005509482A (ja) 2005-04-14
WO2003043497A1 (en) 2003-05-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI113897B (fi) Automaattivalotusmenetelmä ja automaattivalotusjärjestelmä
US7792243B2 (en) Method and arrangement for automatic exposure control
US7400707B2 (en) Apparatus for and method of capturing radiation image
US6502984B2 (en) Radiographic apparatus
US6192105B1 (en) Method and device to calibrate an automatic exposure control device in an x-ray imaging system
JPH10201750A (ja) 放射線撮影装置
US8077827B2 (en) Method for thickness calibration and measuring thickness of material
CN105748098A (zh) 限束器校正方法及装置、医学影像设备
JP3371372B2 (ja) X線フィルム露出時間を自動決定できるx線装置
JP5902923B2 (ja) X線ct装置
KR102378300B1 (ko) 엑스선 촬영장치
US5872830A (en) Device and method of imaging or measuring of a radiation source
JP5291626B2 (ja) 絞り値識別部
FI117785B (fi) Menetelmä radiograafisen filmin vastaanottaman valomäärän estimoimiseksi ja kalibroimiseksi
FI117786B (fi) Menetelmä radiograafisen filmin epäresiprookkisuutta vastaavan funktion määrittämiseksi
US11086027B2 (en) Detector strip for x-ray film
US5606591A (en) Procedure for measuring the dimensions of the optical focus of an X-ray tube
GB2121168A (en) X-ray device
EP0426842A1 (en) Quantitative imaging employing scanning equalization radiography
EP0767930A1 (en) Method and apparatus for use in optimizing photographic film developer processes
ITMI952490A1 (it) Sistema di esposimetria automatico per macchine radiologiche utilizzate in mammografia
JP2001161672A (ja) 放射写真画像記録の方法及び装置
CA2254478A1 (en) Method and device to calibrate an automatic exposure control device in an x-ray imaging system
CN112334839A (zh) 自动测量光聚合物印刷版密度的处理和装置
JPH09215683A (ja) 放射線撮影装置

Legal Events

Date Code Title Description
MD Opposition filed

Opponent name: GE HEALTHCARE FINLAND OY