JP2542259B2 - におい濃度の測定方法及び装置 - Google Patents
におい濃度の測定方法及び装置Info
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- JP2542259B2 JP2542259B2 JP1127694A JP12769489A JP2542259B2 JP 2542259 B2 JP2542259 B2 JP 2542259B2 JP 1127694 A JP1127694 A JP 1127694A JP 12769489 A JP12769489 A JP 12769489A JP 2542259 B2 JP2542259 B2 JP 2542259B2
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- measuring
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0006—Calibrating gas analysers
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【産業上の利用分野】 本発明はにおい濃度の測定方法及び装置に関し、特に
測定室内の雰囲気が測定の基準となる初期状態を表すセ
ンサの初期設定値に復帰するまでの待ち時間を短くし、
更に初期設定値に復帰する迄の測定室内の雰囲気を初期
状態へ復帰させる手順が設定されたテーブルによって管
理する様にしたものに関する。
測定室内の雰囲気が測定の基準となる初期状態を表すセ
ンサの初期設定値に復帰するまでの待ち時間を短くし、
更に初期設定値に復帰する迄の測定室内の雰囲気を初期
状態へ復帰させる手順が設定されたテーブルによって管
理する様にしたものに関する。
特開昭62−222154号公報には、被測定物から発生する
香気を定量的に評価するにおい濃度の測定方法が開示し
てある。また、実開昭62−156871号公報には、被測定物
から発生する香気を定量的に測定出来るにおい濃度測定
装置が開示してある。更に、特願昭61−131214号公報に
はにおい濃度を測定するセンサが開示してある。 上記公報に開示してある方法及び装置には、金属酸化物
半導体からなるセンサが使用されている。このセンサは
ｎ型半導体を感応部とし、これを加熱するためのヒータ
を備えている。ヒータにより高温に加熱された半導体表
面に香気分子が吸着すると香気分子と半導体の間で電子
の授受が行なわれ、電子濃度が変化する。その結果半導
体の電気抵抗が変化し、これよってにおい濃度が定量的
に測定出来る。具体的には、測定前、センサが定常状態
にあるときを初期設定値とし、この初期設定値からの数
字等の変化を読み取ることでにおい濃度を定量的に測定
する。
香気を定量的に評価するにおい濃度の測定方法が開示し
てある。また、実開昭62−156871号公報には、被測定物
から発生する香気を定量的に測定出来るにおい濃度測定
装置が開示してある。更に、特願昭61−131214号公報に
はにおい濃度を測定するセンサが開示してある。 上記公報に開示してある方法及び装置には、金属酸化物
半導体からなるセンサが使用されている。このセンサは
ｎ型半導体を感応部とし、これを加熱するためのヒータ
を備えている。ヒータにより高温に加熱された半導体表
面に香気分子が吸着すると香気分子と半導体の間で電子
の授受が行なわれ、電子濃度が変化する。その結果半導
体の電気抵抗が変化し、これよってにおい濃度が定量的
に測定出来る。具体的には、測定前、センサが定常状態
にあるときを初期設定値とし、この初期設定値からの数
字等の変化を読み取ることでにおい濃度を定量的に測定
する。
このように、初期設定値からの変化量を知ることでに
おい濃度を定量的に測定するためには、前に測定の終了
後、次の測定の開始前の間でセンサを初期設定値に復帰
させる必要があり、そのための待ち時間が必要である。
この時間は測定試料によって異なるが、略10分間から50
分間程度を必要とするため、一定時間内における測定回
数には制限がある。 また、残存効果の高い試料を測定した場合やにおいの
発生源を測定場所の近くに有する場合は、測定室内の雰
囲気が測定にとって好ましくなく、基礎となる初期設定
値が設定出来ずに終日測定作業が出来ないといった課題
がある。
おい濃度を定量的に測定するためには、前に測定の終了
後、次の測定の開始前の間でセンサを初期設定値に復帰
させる必要があり、そのための待ち時間が必要である。
この時間は測定試料によって異なるが、略10分間から50
分間程度を必要とするため、一定時間内における測定回
数には制限がある。 また、残存効果の高い試料を測定した場合やにおいの
発生源を測定場所の近くに有する場合は、測定室内の雰
囲気が測定にとって好ましくなく、基礎となる初期設定
値が設定出来ずに終日測定作業が出来ないといった課題
がある。
そこで本発明の目的は、前の測定から次の測定までの
待ち時間を短縮出来るようにし、一定時間内における測
定作業の効率を上げた測定方法及び装置を提供すること
にある。 本発明の他の目的は、測定室内の雰囲気が悪い場合で
も初期設定値が設定出来る様にして測定作業を可能にす
ることにある。
待ち時間を短縮出来るようにし、一定時間内における測
定作業の効率を上げた測定方法及び装置を提供すること
にある。 本発明の他の目的は、測定室内の雰囲気が悪い場合で
も初期設定値が設定出来る様にして測定作業を可能にす
ることにある。
上記目的を達成するために講じた本発明の構成は次の
通りである。 （ａ）におい濃度の測定方法の発明にあっては、 におい濃度に関するセンサを抵抗値挙動を検出するス
テップ、 初期状態へ復帰させる手順が設定されたテーブルから
上記抵抗値挙動を基に特定の手順を選択するステップ、 上記選択された特定の手順に基づいてオゾン発生装置
および換気ファンを作動させるステップ、 を含むことを特徴とするものである。 （ｂ）におい濃度の測定装置の発明にあっては、 におい濃度に関するセンサの抵抗値挙動を検出する手
段、 初期状態へ復帰させる手順が設定されたテーブルから
上記抵抗値挙動を基に特定の手順を選択する手段、 上記選択された特定の手順に基づいてオゾン発生装置
および換気ファンを作動させる制御手段、 を含むことを特徴とするものである。 使用されるセンサとしては、複数個のガスセンサを組
合わせたもの、或いは感応部が酸化錫（SnO2）、酸化亜
鉛（ZnO）等のｎ型半導体の単体よりなるセンサを挙げ
ることができる。これらのセンサは同一試料でそのにお
い濃度の多寡お検出できれば良い。におい濃度の分離分
析ができることは特に要求されないが、分離分析ができ
るようにしても支障はない。 なお、測定室内に撹拌ファンを設けて測定室内の雰囲
気を短時間で一様にすることも出来る。 センサとオゾンを接触させる方法としては、測定室に
オゾン発生装置を設け、測定室内でオゾンと接触させる
方法をあげることが出来る。これとは逆に、センサを測
定室から離脱し、別に設けた接触室でオゾンと接触させ
ることも出来る。オゾン発生装置には、例えば紫外線照
射ランプが使用される。 オゾン発生装置の動作時間が長いと、測定室の雰囲気
が初期状態を表すセンサの初期設定値以下に下がり過ぎ
る。また、オゾン発生装置の動作時間が短いと、測定室
の雰囲気が初期設定値になるまでに時間がかかり過ぎ
る。 そこでセンサを初期設定値に復帰させるためのテーブ
ルを設定し、このテーブルに適合するように測定室内の
オゾン濃度を制御する。この制御は、オゾン発生装置
と、測定室内に外気を導入するファンと、これらの動作
を制御するマイクロコンピュータ等を使用した制御装置
により行なう。 なお、本発明で初期設定値に復帰させるためのテーブ
ルとは、どのような手順で初期設定値へ復帰させるかを
指示したものを示す概念である。 測定試料によって香気の残存効果が異なるので、上記
テーブルは複数設定し、これを測定試料によって選択出
来る様にすることが望ましい。 また、測定室内の雰囲気が初期設定値の雰囲気に復帰
したときは、ブザーやランプで測定可能になったことを
示すのが好ましい。 作用・効果 紫外線照射ランプに電圧を印加させオゾンを発生させ
る。このオゾンとセンサが接触するとセンサが短時間で
初期設定値に復帰する。 以下に本願方法と従来方法との比較表を示す。比較条
件は、試料を測定室内に入れ、４分間測定した後測定室
から試料を取り出し、初期設定値に戻るまでの時間を測
定した。この表からも明らかな様に、初期設定値に戻る
迄の待ち時間は、従来方法に比べて3/4〜1/6倍となって
いる。
通りである。 （ａ）におい濃度の測定方法の発明にあっては、 におい濃度に関するセンサを抵抗値挙動を検出するス
テップ、 初期状態へ復帰させる手順が設定されたテーブルから
上記抵抗値挙動を基に特定の手順を選択するステップ、 上記選択された特定の手順に基づいてオゾン発生装置
および換気ファンを作動させるステップ、 を含むことを特徴とするものである。 （ｂ）におい濃度の測定装置の発明にあっては、 におい濃度に関するセンサの抵抗値挙動を検出する手
段、 初期状態へ復帰させる手順が設定されたテーブルから
上記抵抗値挙動を基に特定の手順を選択する手段、 上記選択された特定の手順に基づいてオゾン発生装置
および換気ファンを作動させる制御手段、 を含むことを特徴とするものである。 使用されるセンサとしては、複数個のガスセンサを組
合わせたもの、或いは感応部が酸化錫（SnO2）、酸化亜
鉛（ZnO）等のｎ型半導体の単体よりなるセンサを挙げ
ることができる。これらのセンサは同一試料でそのにお
い濃度の多寡お検出できれば良い。におい濃度の分離分
析ができることは特に要求されないが、分離分析ができ
るようにしても支障はない。 なお、測定室内に撹拌ファンを設けて測定室内の雰囲
気を短時間で一様にすることも出来る。 センサとオゾンを接触させる方法としては、測定室に
オゾン発生装置を設け、測定室内でオゾンと接触させる
方法をあげることが出来る。これとは逆に、センサを測
定室から離脱し、別に設けた接触室でオゾンと接触させ
ることも出来る。オゾン発生装置には、例えば紫外線照
射ランプが使用される。 オゾン発生装置の動作時間が長いと、測定室の雰囲気
が初期状態を表すセンサの初期設定値以下に下がり過ぎ
る。また、オゾン発生装置の動作時間が短いと、測定室
の雰囲気が初期設定値になるまでに時間がかかり過ぎ
る。 そこでセンサを初期設定値に復帰させるためのテーブ
ルを設定し、このテーブルに適合するように測定室内の
オゾン濃度を制御する。この制御は、オゾン発生装置
と、測定室内に外気を導入するファンと、これらの動作
を制御するマイクロコンピュータ等を使用した制御装置
により行なう。 なお、本発明で初期設定値に復帰させるためのテーブ
ルとは、どのような手順で初期設定値へ復帰させるかを
指示したものを示す概念である。 測定試料によって香気の残存効果が異なるので、上記
テーブルは複数設定し、これを測定試料によって選択出
来る様にすることが望ましい。 また、測定室内の雰囲気が初期設定値の雰囲気に復帰
したときは、ブザーやランプで測定可能になったことを
示すのが好ましい。 作用・効果 紫外線照射ランプに電圧を印加させオゾンを発生させ
る。このオゾンとセンサが接触するとセンサが短時間で
初期設定値に復帰する。 以下に本願方法と従来方法との比較表を示す。比較条
件は、試料を測定室内に入れ、４分間測定した後測定室
から試料を取り出し、初期設定値に戻るまでの時間を測
定した。この表からも明らかな様に、初期設定値に戻る
迄の待ち時間は、従来方法に比べて3/4〜1/6倍となって
いる。
本発明を図面に示した実施例に基づき更に詳細に説明
する。第１図はにおい濃度測定装置の正面図、第２図は
内部を示す断面図である。 測定装置Ａは、測定対象物を収容する測定室10と、測
定室10と外気とを遮断する遮断扉20と、測定室10内の測
定対象物のにおい濃度を感知するセンサ30と、測定室内
にオゾンを発生させるオゾン発生装置40と、所要の制御
盤面50を備えている。上記センサ30は酸化錫（SnO2）
（純度99.999％バインダとして酸化アルミニュウムAl2O
3を使用）からなる燒結体が使用される。なお、金属の
燒結体の代わりに、金属酸化物を厚さ0.6mmのセラミッ
ク板上に真空蒸着法により被覆したものを使用すること
も出来る。センサ30は図示を省略したヒータを備え、周
囲の温度や湿気の影響を受けないようにして一定温度に
保持されている。センサ30自体は香気成分の識別能力は
ないが、処理条件の異なった同一試料については各試料
の持つにおい濃度の相対的変化を知ることが可能であ
る。本実施例ではオゾン発生装置40に紫外線照射ランプ
（プリンス電気（株）型式QGUL−11−65Z）を使用して
いる。 測定室10の壁面にはステンレス板が全面に貼着してあ
る。測定室10の天井壁面には吸気口12が、また後部壁面
には排気口14が形成してある。上記吸気口12縁部には蓋
を有する筒体16が立設してある。筒体16は、装置上部外
壁に設けた空気導入口13とダクト15を介して連通してい
る。空気導入口13には、他の香気や前に測定した香気を
除くために換気ファン18が配設してある。なお筒体16内
には必要に応じて活性炭フィルタ（図示省略）が収容さ
れる。 次に測定室の換気装置について説明したい。 第３図を参照する。吸気口12及び換気口14には、測定室
10内側にそれぞれ吸気弁120と換気弁140が設けてある。
吸気弁120の四隅からは案内ロッド122,123が立設してあ
り、測定室外に突出している。案内ロッド123の上端に
は当接バー124が架設してある。当接バー124はソレノイ
ド60の可動体64と連動する可動ピン62と接触している。
そして可動体62が昇降すると当接バー124も作動して吸
気弁120を開閉する。なお、125は吸気弁120の復帰バネ
である。 一方、換気弁140の四隅からは案内ロッド142,143が立
設してあり、測定室外に突出している。案内ロッド143
の上端には引っ張りバー144が架設してある。引っ張り
バー144にはワイヤー65の一端が取り付けてある。ワイ
ヤー65の他端はプーリ66,67を介して上記ソレノイド60
の可動体64に取り付けてある。そして可動体64が降下す
るとワイヤー65を引っ張って換気弁140を開く。上昇す
ると復帰バネ145の弾力により換気弁140を閉じる。な
お、換気ファン18、吸気弁120及び換気弁140の動作は連
動させてある。 制御盤面50には、センサ30で感知したにおい濃度を表
示するデジタル表示計51と、電源スイッチ52と、ファン
スイッチ53と、センサ30に印加する電圧を調整する電圧
調整つまみ54と、電圧調整つまみ54で調整された電圧を
微調整をする微調整つまみ55と、センサ30に印加する電
圧を表示する電圧計56と、におい濃度のピークを保持す
るピークホルドつまみ57を備えている。 第４図はにおい濃度測定室内の雰囲気制御を行なうた
めのハードウェアを示す説明図である。 センサ30はRS−232Cを介してコンピュータ31と接続し
てある。オゾン発生装置40と換気ファン18は、インター
フェイス32を介して上記コンピュータ31と接続してあ
る。インターフェイス32はリレーR1とリレーR2を備えて
いる。リレーR1はオゾン発生装置40と接続してある。リ
レーR2は換気ファン18と接続してある。リレーR1とリレ
ーR2はコンピュータ31からの指令信号によって動作す
る。 （作用） 本発明の作用を説明する。 センサ30は一定温度になるまでの加熱に要する時間が
必要で、電源スイッチ52を入れてセンサ30に流れる電流
が落ち付いた時点を確認し測定を開始する。 ファンスイッチ53を入れて換気ファン18を回転させ
る。これにより外部空気は測定室10内に清浄空気として
送り込まれ無臭状態を確保する。その後初期設定値を設
定する。 測定室10に試料を入れ、遮断扉20を閉め被測定試料
を封入密閉する。これと同時に試料の発する香気分子が
センサ30に接触すると直ちに電気抵抗が変化して回路を
流れる電流が変動する。これを電圧変化として取り出し
て増幅し、デジタル表示計51他により表示させる。 測定が終了したらテーブルを選択し、コンピュータ
31に雰囲気制御を行なうための指令を入力する。この入
力によってリレーR1が動作し、オゾン発生装置40に電圧
が印加されて測定室10内にオゾンを発生させる。センサ
30がオゾンと接触すると、直ちに電気抵抗が変化して回
路を流れる電流が変動し、初期設定値に復帰を開始す
る。コンピュータ31は予め初期設定値に復帰させる為の
テーブルが入力してあり、第５図に示す様に、測定室の
雰囲気がそのテーブルに適合するようにオゾン発生装置
40と換気ファン18を動作させる。 初期設定値への復帰がテーブルに適合した場合、或は
急激に初期設定値に戻るような場合はそのまま放置す
る。テーブルよりも初期設定値に戻るのが遅いときは再
度オゾン発生装置40を動作させてテーブルに適合させる
様にする。測定室内の雰囲気が初期設定値よりも低くな
ったときはファン18を動作させて測定室内に外気を導入
し、これによって初期設定値まで数値を上げる。 測定室内の雰囲気が初期設定値の状態に安定したら
測定室10に試料を入れ、上記した動作を繰り返して試料
を測定する。 上記ないしを繰り返すことによってある測定から
次の測定までの待ち時間を短縮出来、測定作業の効率を
上げることが出来る。 なお、本発明は図示の実施例に限定されるものではな
く、特許請求の範囲の記載内において数々の変形が可能
である。
する。第１図はにおい濃度測定装置の正面図、第２図は
内部を示す断面図である。 測定装置Ａは、測定対象物を収容する測定室10と、測
定室10と外気とを遮断する遮断扉20と、測定室10内の測
定対象物のにおい濃度を感知するセンサ30と、測定室内
にオゾンを発生させるオゾン発生装置40と、所要の制御
盤面50を備えている。上記センサ30は酸化錫（SnO2）
（純度99.999％バインダとして酸化アルミニュウムAl2O
3を使用）からなる燒結体が使用される。なお、金属の
燒結体の代わりに、金属酸化物を厚さ0.6mmのセラミッ
ク板上に真空蒸着法により被覆したものを使用すること
も出来る。センサ30は図示を省略したヒータを備え、周
囲の温度や湿気の影響を受けないようにして一定温度に
保持されている。センサ30自体は香気成分の識別能力は
ないが、処理条件の異なった同一試料については各試料
の持つにおい濃度の相対的変化を知ることが可能であ
る。本実施例ではオゾン発生装置40に紫外線照射ランプ
（プリンス電気（株）型式QGUL−11−65Z）を使用して
いる。 測定室10の壁面にはステンレス板が全面に貼着してあ
る。測定室10の天井壁面には吸気口12が、また後部壁面
には排気口14が形成してある。上記吸気口12縁部には蓋
を有する筒体16が立設してある。筒体16は、装置上部外
壁に設けた空気導入口13とダクト15を介して連通してい
る。空気導入口13には、他の香気や前に測定した香気を
除くために換気ファン18が配設してある。なお筒体16内
には必要に応じて活性炭フィルタ（図示省略）が収容さ
れる。 次に測定室の換気装置について説明したい。 第３図を参照する。吸気口12及び換気口14には、測定室
10内側にそれぞれ吸気弁120と換気弁140が設けてある。
吸気弁120の四隅からは案内ロッド122,123が立設してあ
り、測定室外に突出している。案内ロッド123の上端に
は当接バー124が架設してある。当接バー124はソレノイ
ド60の可動体64と連動する可動ピン62と接触している。
そして可動体62が昇降すると当接バー124も作動して吸
気弁120を開閉する。なお、125は吸気弁120の復帰バネ
である。 一方、換気弁140の四隅からは案内ロッド142,143が立
設してあり、測定室外に突出している。案内ロッド143
の上端には引っ張りバー144が架設してある。引っ張り
バー144にはワイヤー65の一端が取り付けてある。ワイ
ヤー65の他端はプーリ66,67を介して上記ソレノイド60
の可動体64に取り付けてある。そして可動体64が降下す
るとワイヤー65を引っ張って換気弁140を開く。上昇す
ると復帰バネ145の弾力により換気弁140を閉じる。な
お、換気ファン18、吸気弁120及び換気弁140の動作は連
動させてある。 制御盤面50には、センサ30で感知したにおい濃度を表
示するデジタル表示計51と、電源スイッチ52と、ファン
スイッチ53と、センサ30に印加する電圧を調整する電圧
調整つまみ54と、電圧調整つまみ54で調整された電圧を
微調整をする微調整つまみ55と、センサ30に印加する電
圧を表示する電圧計56と、におい濃度のピークを保持す
るピークホルドつまみ57を備えている。 第４図はにおい濃度測定室内の雰囲気制御を行なうた
めのハードウェアを示す説明図である。 センサ30はRS−232Cを介してコンピュータ31と接続し
てある。オゾン発生装置40と換気ファン18は、インター
フェイス32を介して上記コンピュータ31と接続してあ
る。インターフェイス32はリレーR1とリレーR2を備えて
いる。リレーR1はオゾン発生装置40と接続してある。リ
レーR2は換気ファン18と接続してある。リレーR1とリレ
ーR2はコンピュータ31からの指令信号によって動作す
る。 （作用） 本発明の作用を説明する。 センサ30は一定温度になるまでの加熱に要する時間が
必要で、電源スイッチ52を入れてセンサ30に流れる電流
が落ち付いた時点を確認し測定を開始する。 ファンスイッチ53を入れて換気ファン18を回転させ
る。これにより外部空気は測定室10内に清浄空気として
送り込まれ無臭状態を確保する。その後初期設定値を設
定する。 測定室10に試料を入れ、遮断扉20を閉め被測定試料
を封入密閉する。これと同時に試料の発する香気分子が
センサ30に接触すると直ちに電気抵抗が変化して回路を
流れる電流が変動する。これを電圧変化として取り出し
て増幅し、デジタル表示計51他により表示させる。 測定が終了したらテーブルを選択し、コンピュータ
31に雰囲気制御を行なうための指令を入力する。この入
力によってリレーR1が動作し、オゾン発生装置40に電圧
が印加されて測定室10内にオゾンを発生させる。センサ
30がオゾンと接触すると、直ちに電気抵抗が変化して回
路を流れる電流が変動し、初期設定値に復帰を開始す
る。コンピュータ31は予め初期設定値に復帰させる為の
テーブルが入力してあり、第５図に示す様に、測定室の
雰囲気がそのテーブルに適合するようにオゾン発生装置
40と換気ファン18を動作させる。 初期設定値への復帰がテーブルに適合した場合、或は
急激に初期設定値に戻るような場合はそのまま放置す
る。テーブルよりも初期設定値に戻るのが遅いときは再
度オゾン発生装置40を動作させてテーブルに適合させる
様にする。測定室内の雰囲気が初期設定値よりも低くな
ったときはファン18を動作させて測定室内に外気を導入
し、これによって初期設定値まで数値を上げる。 測定室内の雰囲気が初期設定値の状態に安定したら
測定室10に試料を入れ、上記した動作を繰り返して試料
を測定する。 上記ないしを繰り返すことによってある測定から
次の測定までの待ち時間を短縮出来、測定作業の効率を
上げることが出来る。 なお、本発明は図示の実施例に限定されるものではな
く、特許請求の範囲の記載内において数々の変形が可能
である。
以上の説明から明らかなように、本願発明は、におい
濃度に関するセンサの抵抗値挙動を検出し、初期状態へ
復帰させる手順が設定されたテーブルから上記抵抗値挙
動を基に特定の手順を選択し、上記選択された特定の手
順に基づいてオゾン発生装置および換気ファンを作動さ
せるようにしたので、前の測定から次の測定までの待ち
時間を短縮して測定作業の効率を上げた測定方法及び装
置が提供出来る。 また、測定室内の雰囲気が悪い場合でも測定室内の雰
囲気を短時間に初期設定値に戻すことが出来る。
濃度に関するセンサの抵抗値挙動を検出し、初期状態へ
復帰させる手順が設定されたテーブルから上記抵抗値挙
動を基に特定の手順を選択し、上記選択された特定の手
順に基づいてオゾン発生装置および換気ファンを作動さ
せるようにしたので、前の測定から次の測定までの待ち
時間を短縮して測定作業の効率を上げた測定方法及び装
置が提供出来る。 また、測定室内の雰囲気が悪い場合でも測定室内の雰
囲気を短時間に初期設定値に戻すことが出来る。
第１図はにおい濃度測定装置の正面図、 第２図は内部を示す断面図、 第３図は測定室の換気装置の説明図、 第４図はにおい濃度測定室内の雰囲気制御を行なうため
のハードウエアを示す説明図、 第５図はにおい濃度測定室内の雰囲気制御を行うための
フローチャートである。 10:測定室 14:換気口 12:吸気口 18:換気ファン 30:センサ 20:遮断扉 40:オゾン発生装置
のハードウエアを示す説明図、 第５図はにおい濃度測定室内の雰囲気制御を行うための
フローチャートである。 10:測定室 14:換気口 12:吸気口 18:換気ファン 30:センサ 20:遮断扉 40:オゾン発生装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 江原 正弘 福岡県三潴郡城島町楢津216―１ (56)参考文献 特開 平２−208548（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−131444（ＪＰ，Ａ)
Claims (5)
- 【請求項１】におい濃度を測定する方法であって、 におい濃度に関するセンサの抵抗値挙動を検出するステ
ップ、 初期状態へ復帰させる手順が設定されたテーブルから上
記抵抗値挙動を基に特定の手順を選択するステップ、 上記選択された特定の手順に基づいてオゾン発生装置お
よび換気ファンを作動させるステップ、 を含むことを特徴とする、 におい濃度の測定方法。 - 【請求項２】測定室内のセンサにオゾンを接触させると
ともに測定室内にもオゾンを接触させることを特徴とす
る、請求項１記載のにおい濃度の測定方法。 - 【請求項３】におい濃度を測定する装置であって、 におい濃度に関するセンサの抵抗値挙動を検出する手
段、 初期状態へ復帰させる手順が設定されたテーブルから上
記抵抗値挙動を基に特定の手順を選択する手段、 上記選択された特定の手順に基づいてオゾン発生装置お
よび換気ファンを作動させる制御手段、 を含むことを特徴とする、 におい濃度の測定装置。 - 【請求項４】オゾン発生装置が紫外線照射ランプである
ことを特徴とする、請求項３記載のにおい濃度の測定装
置。 - 【請求項５】センサは感応部が酸化錫（SnO2）、酸化亜
鉛（ZnO）等のｎ型半導体の単体よりなることを特徴と
する、請求項３または４記載のにおい濃度の測定装置。
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