JP2539044B2 - 加工状態報知装置 - Google Patents
加工状態報知装置Info
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- JP2539044B2 JP2539044B2 JP1169605A JP16960589A JP2539044B2 JP 2539044 B2 JP2539044 B2 JP 2539044B2 JP 1169605 A JP1169605 A JP 1169605A JP 16960589 A JP16960589 A JP 16960589A JP 2539044 B2 JP2539044 B2 JP 2539044B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、加工状態に応じて表示などを行う加工状態
報知装置に関する。
報知装置に関する。
（従来の技術） 放電加工にはワイヤ放電加工や形彫り放電加工などが
あるが、このうち例えばワイヤ放電加工について説明す
ると、これは被加工物に対してワイヤ電極を所定間隔に
おいて配置してこれら被加工物及びワイヤ電極を加工槽
の中に浸透し、この状態に被加工物とワイヤ電極との間
に直流電圧を印加する。そして、例えばワイヤ電極を被
加工物に接近させてそのギャップ量が所定量になるとワ
イヤ電極と被加工物との間に放電が発生する。しかる
に、この放電エネルギーによって被加工物は加工され
る。
あるが、このうち例えばワイヤ放電加工について説明す
ると、これは被加工物に対してワイヤ電極を所定間隔に
おいて配置してこれら被加工物及びワイヤ電極を加工槽
の中に浸透し、この状態に被加工物とワイヤ電極との間
に直流電圧を印加する。そして、例えばワイヤ電極を被
加工物に接近させてそのギャップ量が所定量になるとワ
イヤ電極と被加工物との間に放電が発生する。しかる
に、この放電エネルギーによって被加工物は加工され
る。
このようなワイヤ放電加工では加工状態の良否が判断
されるが、この判断は放電状態の良否から判断してお
り、この良否の判断は次のような方法によって行われて
いる。すなわち、 作業員が放電柱を目視し、この放電柱の輝度から経験
や勘によって放電状態の良好を判断する。
されるが、この判断は放電状態の良否から判断してお
り、この良否の判断は次のような方法によって行われて
いる。すなわち、 作業員が放電柱を目視し、この放電柱の輝度から経験
や勘によって放電状態の良好を判断する。
作業員が放電の音を聞き、この放電の音から経験や勘
によって放電状態の良好を判断する。
によって放電状態の良好を判断する。
ワイヤ放電加工装置にオシロスコープが備えられてい
れば、このオシロスコープに例えばワイヤ電極と被加工
物との間の印加電圧及び放電電流の波形を表示させ、こ
れら印加電圧及び放電電流から放電状態を判断する。
れば、このオシロスコープに例えばワイヤ電極と被加工
物との間の印加電圧及び放電電流の波形を表示させ、こ
れら印加電圧及び放電電流から放電状態を判断する。
ワイヤ放電加工装置に予め放電状態の良否の基準が設
定されていれば、この基準に従って放電状態を判断す
る。
定されていれば、この基準に従って放電状態を判断す
る。
しかしながら、上記各方法では放電の正常及び異常状
態は判別できるものの、現在行なわれている放電加工が
荒加工なのか、或いは仕上げ加工なのか判別できない。
さらに、これら荒加工、仕上げ加工に応じて放電加工状
態、例えば未放電パルスの発生割合などを表示すること
は不可能であった。なお、このことはワイヤ放電加工に
限らず放電加工一般に言えることである。
態は判別できるものの、現在行なわれている放電加工が
荒加工なのか、或いは仕上げ加工なのか判別できない。
さらに、これら荒加工、仕上げ加工に応じて放電加工状
態、例えば未放電パルスの発生割合などを表示すること
は不可能であった。なお、このことはワイヤ放電加工に
限らず放電加工一般に言えることである。
（発明が解決しようとする課題） 以上のように現在行なわれている放電加工が荒加工な
のか、或いは仕上げ加工なのかの放電加工状態の判別で
きず、これら荒加工、仕上げ加工に応じた放電加工状態
の表示が困難であった。
のか、或いは仕上げ加工なのかの放電加工状態の判別で
きず、これら荒加工、仕上げ加工に応じた放電加工状態
の表示が困難であった。
そこで本発明は、放電加工状態が判別できてこの放電
加工状態に応じた放電加工状態の表示ができる加工状態
報知装置を提供することを目的とする。
加工状態に応じた放電加工状態の表示ができる加工状態
報知装置を提供することを目的とする。
［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 本発明は、下記構成（イ）〜（ト）を具備し、被加工
物とワイヤ放電電極との間に周期的に電圧を印加して前
記被加工物を放電加工する際の放電加工状態を報知する
放電状態報知装置である。
物とワイヤ放電電極との間に周期的に電圧を印加して前
記被加工物を放電加工する際の放電加工状態を報知する
放電状態報知装置である。
（イ）前記被加工物と前記ワイヤ放電電極との間の放電
電圧及び放電電流を検出する検出器。
電圧及び放電電流を検出する検出器。
（ロ）前記検出器から検出信号を所定の信号採取期間に
わたってディジタル変換して取り込む信号採取手段。
わたってディジタル変換して取り込む信号採取手段。
（ハ）前記信号取込手段で取り込まれた電流検出信号及
び電圧検出信号のピーク値を求め前記各ピーク値が測定
レンジのフルスケールに対して所定の割合以上となる測
定レンジに設定変更するレンジ変更手段。
び電圧検出信号のピーク値を求め前記各ピーク値が測定
レンジのフルスケールに対して所定の割合以上となる測
定レンジに設定変更するレンジ変更手段。
（ニ）前記レンジ変更手段により測定レンジが設定され
た前記電流検出信号に基づいて前記放電加工状態が荒加
工か仕上げ加工かを判定する加工状態判定手段。
た前記電流検出信号に基づいて前記放電加工状態が荒加
工か仕上げ加工かを判定する加工状態判定手段。
（ホ）前記加工状態判定手段における判定結果に基づい
て前記信号取込手段における前記電流検出信号及び前記
電圧検出信号のサンプリング周期を前記荒加工又は前記
仕上げ加工に応じて変更するサンプリング周期変更手
段。
て前記信号取込手段における前記電流検出信号及び前記
電圧検出信号のサンプリング周期を前記荒加工又は前記
仕上げ加工に応じて変更するサンプリング周期変更手
段。
（ヘ）前記サンプリング周期変更手段にてサンプリング
周期が変更された後に、前記信号採取手段にて採取され
た放電電圧検出信号及び放電電流検出信号に基づいて正
常放電データとの異常放電データとの割合を求め、この
割合に基づいて放電状態の良否を判定する放電状態判定
手段。
周期が変更された後に、前記信号採取手段にて採取され
た放電電圧検出信号及び放電電流検出信号に基づいて正
常放電データとの異常放電データとの割合を求め、この
割合に基づいて放電状態の良否を判定する放電状態判定
手段。
（ト）前記放電状態判定手段における放電状態の判定結
果を、前記加工状態判定手段における荒加工か仕上げ加
工かの判定結果とともに報知する加工状態報知手段。
果を、前記加工状態判定手段における荒加工か仕上げ加
工かの判定結果とともに報知する加工状態報知手段。
（作用） 本発明は、上記手段を備えたことにより、荒加工か仕
上げ加工かの加工状態の判定を高精度で行うことができ
るようになることはもとより、この加工状態の判定結果
に基づき、荒加工又は仕上げ加工に応じて電流検出信号
及び電圧検出信号のサンプリング周期を変更し、このサ
ンプリング周期が変更された後に採取された放電電圧検
出信号及び放電電流検出信号に基づいて正常放電データ
と異常放電データとの割合に基づいて放電状態の良否を
高精度で判定報知することができ、作業者は、報知結果
に基づいて迅速かつ適切な処置を行うことが可能とな
る。その結果、放電加工精度及び放電加工能率を顕著に
向上させることができるようになる。
上げ加工かの加工状態の判定を高精度で行うことができ
るようになることはもとより、この加工状態の判定結果
に基づき、荒加工又は仕上げ加工に応じて電流検出信号
及び電圧検出信号のサンプリング周期を変更し、このサ
ンプリング周期が変更された後に採取された放電電圧検
出信号及び放電電流検出信号に基づいて正常放電データ
と異常放電データとの割合に基づいて放電状態の良否を
高精度で判定報知することができ、作業者は、報知結果
に基づいて迅速かつ適切な処置を行うことが可能とな
る。その結果、放電加工精度及び放電加工能率を顕著に
向上させることができるようになる。
（実施例） 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明
する。
する。
第１図はワイヤ加工機器に適用した加工状態報知装置
の全体構成図である。加工槽１の内部には被加工物２が
浸透され、この被加工物２には所定間隔をおいてワイヤ
電極３が配置されている。なお、このワイヤ電極３は上
部ワイヤガイド体４及び図示しない下部ワイヤガイド体
により支持されている。これら被加工物２とワイヤ電極
３との間には放電制御回路５を介して直流電源６が接続
されて放電回路を形成している。この場合、直流電源６
は正極を被加工物２に接続している。かかる放電回路に
は電圧検出器７が直流電源６に対して並列接続されると
ともに電流検出器８が直流電源６に対して直列接続され
ている。
の全体構成図である。加工槽１の内部には被加工物２が
浸透され、この被加工物２には所定間隔をおいてワイヤ
電極３が配置されている。なお、このワイヤ電極３は上
部ワイヤガイド体４及び図示しない下部ワイヤガイド体
により支持されている。これら被加工物２とワイヤ電極
３との間には放電制御回路５を介して直流電源６が接続
されて放電回路を形成している。この場合、直流電源６
は正極を被加工物２に接続している。かかる放電回路に
は電圧検出器７が直流電源６に対して並列接続されると
ともに電流検出器８が直流電源６に対して直列接続され
ている。
一方、10は報知装置本体であって、この報知装置本体
10にはアッテネータ（ATT）11,12が備えられて一方のア
ッテネータ11に電圧検出器７が接続され、他方のアッテ
ネータ12に電流検出器８が接続されている。これらアッ
テネータ11,12にはそれぞれメモリが内蔵された各A/D
（アナログ／ディジタル）変換器13,14が接続され、こ
れらA/D変換器13,14はバス15を介してCPU（中央処理装
置）16に接続されている。このCPU16にはバス15を介し
てタイミングコントローラ17、RAM（ランダム・アクセ
ス・メモリ）18、ROM（リード・オンリ・メモリ）19及
び表示駆動部20が接続されている。タイミングコントロ
ーラ17はA/D変換器13,14における信号取込みタイミング
を制御するものである。又、表示駆動部20には表示器21
が接続されている。
10にはアッテネータ（ATT）11,12が備えられて一方のア
ッテネータ11に電圧検出器７が接続され、他方のアッテ
ネータ12に電流検出器８が接続されている。これらアッ
テネータ11,12にはそれぞれメモリが内蔵された各A/D
（アナログ／ディジタル）変換器13,14が接続され、こ
れらA/D変換器13,14はバス15を介してCPU（中央処理装
置）16に接続されている。このCPU16にはバス15を介し
てタイミングコントローラ17、RAM（ランダム・アクセ
ス・メモリ）18、ROM（リード・オンリ・メモリ）19及
び表示駆動部20が接続されている。タイミングコントロ
ーラ17はA/D変換器13,14における信号取込みタイミング
を制御するものである。又、表示駆動部20には表示器21
が接続されている。
ROM19には、取込んだ放電電圧及び放電電流から放電
開始時刻や放電終了時刻、電流ピーク値、パルス間隔な
ど放電データを求め、この放電データから放電の良否を
判断する内容の放電解折プログラムが記憶されている。
又、ROM19には、タイミングコントローラ17でのA/D変換
器13,14に対する信号採取タイミングプログラムが記憶
されている。しかるに、この信号採取タイミングプログ
ラムにより各A/D変換器13,14は例えばｘns又はｙns毎に
同時に電圧検出信号、電流検出信号をそれぞれ８ビット
にディジタル変換して取り込んで１回の信号採取期間で
例えば1024〜65536Bのデータを採取するものとなる。そ
うして、この信号採取期間の間隔は一定期間ΔＨ毎に設
定されている。これにより、各A/D変換器13,14、CPU1
6、タイミングコントローラ17及びROM19により信号採取
手段が構成されている。
開始時刻や放電終了時刻、電流ピーク値、パルス間隔な
ど放電データを求め、この放電データから放電の良否を
判断する内容の放電解折プログラムが記憶されている。
又、ROM19には、タイミングコントローラ17でのA/D変換
器13,14に対する信号採取タイミングプログラムが記憶
されている。しかるに、この信号採取タイミングプログ
ラムにより各A/D変換器13,14は例えばｘns又はｙns毎に
同時に電圧検出信号、電流検出信号をそれぞれ８ビット
にディジタル変換して取り込んで１回の信号採取期間で
例えば1024〜65536Bのデータを採取するものとなる。そ
うして、この信号採取期間の間隔は一定期間ΔＨ毎に設
定されている。これにより、各A/D変換器13,14、CPU1
6、タイミングコントローラ17及びROM19により信号採取
手段が構成されている。
さらに、ROM19には、採取したディジタル電圧検出信
号及びディジタル電流検出信号のピーク値を求め、この
ピーク値と予め設定されたしきい値とを比較してピーク
値がしきい値よりも大きければ荒加工と判定し、ピーク
値がしきい値よりも小さければ仕上げ加工と判定する加
工状態判定プログラムと、採取したディジタル電圧検出
信号又はディジタル電流検出信号から放電電圧又は放電
電流の各ピーク値を求め、これらピーク値が各A/D変換
器13,14で取り込む際の測定レンジのフルスケールに対
して所定の割合例えば40％以上となる各測定レンジに設
定変更するレンジ変更プログラムを有するとともに、上
記判定された加工状態が荒加工であればA/D変換器13,14
でのサンプリング周期をｘnsに設定変更し、又仕上げ加
工であればA/D変換器13,14でのサンプリング周期をｙns
に設定変更するサンプリング周期変更プログラムとが記
憶されている。
号及びディジタル電流検出信号のピーク値を求め、この
ピーク値と予め設定されたしきい値とを比較してピーク
値がしきい値よりも大きければ荒加工と判定し、ピーク
値がしきい値よりも小さければ仕上げ加工と判定する加
工状態判定プログラムと、採取したディジタル電圧検出
信号又はディジタル電流検出信号から放電電圧又は放電
電流の各ピーク値を求め、これらピーク値が各A/D変換
器13,14で取り込む際の測定レンジのフルスケールに対
して所定の割合例えば40％以上となる各測定レンジに設
定変更するレンジ変更プログラムを有するとともに、上
記判定された加工状態が荒加工であればA/D変換器13,14
でのサンプリング周期をｘnsに設定変更し、又仕上げ加
工であればA/D変換器13,14でのサンプリング周期をｙns
に設定変更するサンプリング周期変更プログラムとが記
憶されている。
さらに、ROM19には変更設定されたサンプリング周期
で採取されたディジタル電圧検出信号又はディジタル電
流検出信号からワイヤ放電加工での放電状態を解析する
とともにこの解析結果を変更設定された測定レングでか
つ判定された加工状態とともに表示器21に表示させる加
工状態報知プログラムが記憶されている。しかして、CP
U16は、これらのプログラムを実行するために、レンジ
変更手段16−１、加工状態判定手段16−２、サンプリン
グ周期変更手段16−３、放電状態判定手段16−４を有し
ている。
で採取されたディジタル電圧検出信号又はディジタル電
流検出信号からワイヤ放電加工での放電状態を解析する
とともにこの解析結果を変更設定された測定レングでか
つ判定された加工状態とともに表示器21に表示させる加
工状態報知プログラムが記憶されている。しかして、CP
U16は、これらのプログラムを実行するために、レンジ
変更手段16−１、加工状態判定手段16−２、サンプリン
グ周期変更手段16−３、放電状態判定手段16−４を有し
ている。
すなわち、レンジ変更手段16−１は、取り込まれた電
流検出信号及び電圧検出信号のピーク値を求めこれら各
ピーク値が測定レンジのフルスケールに対して所定の割
合以上となる測定レンジに設定変更するものである。
流検出信号及び電圧検出信号のピーク値を求めこれら各
ピーク値が測定レンジのフルスケールに対して所定の割
合以上となる測定レンジに設定変更するものである。
また、加工状態判定手段16−２は、レンジ変更手段16
−１により測定レンジが設定された電流検出信号に基づ
いて当該放電加工機による放電加工状態が荒加工か仕上
げ加工かを判定するものである。
−１により測定レンジが設定された電流検出信号に基づ
いて当該放電加工機による放電加工状態が荒加工か仕上
げ加工かを判定するものである。
また、サンプリング周期変更手段16−３は、加工状態
判定手段16−２における判定結果に基づいて取り込まれ
る電流検出信号及び電圧検出信号のサンプリング周期を
荒加工又は仕上げ加工に応じて変更するものである。
判定手段16−２における判定結果に基づいて取り込まれ
る電流検出信号及び電圧検出信号のサンプリング周期を
荒加工又は仕上げ加工に応じて変更するものである。
さらに、放電状態判定手段16−４は、サンプリング周
期変更手段16−３にてサンプリング周期が変更された後
に採取された放電電圧検出信号及び放電電流検出信号に
基づいて正常放電データ異常放電データとの割合を求
め、この割合に基づいて放電状態の良否を判定し、これ
を表示器21にて表示（報知）するものである。
期変更手段16−３にてサンプリング周期が変更された後
に採取された放電電圧検出信号及び放電電流検出信号に
基づいて正常放電データ異常放電データとの割合を求
め、この割合に基づいて放電状態の良否を判定し、これ
を表示器21にて表示（報知）するものである。
次に上記の如く構成された装置の作用について第２図
に示す放電状態表示流れ図を参照して説明する。
に示す放電状態表示流れ図を参照して説明する。
CPU16はステップs1において測定範囲が最大の測定レ
ンジ、例えば電流の測定範囲が０〜1000Aで電圧の測定
範囲が０〜1000Vの測定レンジに設定する。これによ
り、各A/D変換器13,14は例えば電流検出信号を測定範囲
０〜1000Aにおいて８ビットでディジタル変換すること
になる。
ンジ、例えば電流の測定範囲が０〜1000Aで電圧の測定
範囲が０〜1000Vの測定レンジに設定する。これによ
り、各A/D変換器13,14は例えば電流検出信号を測定範囲
０〜1000Aにおいて８ビットでディジタル変換すること
になる。
次にCPU16はステップs2に移って電圧検出信号及び電
流検出信号を採取する。すなわち、被加工物２とワイヤ
電極３との間に直流電源６から放電制御回路５を通して
パルス直流電圧が印加され、この状態に被加工物２とワ
イヤ電極３とのギャップ量が所定量となると、被加工物
２とワイヤ電極３との間にパルス放電が発生する。この
パルス放電のエネルギにより被加工物２は加工される。
流検出信号を採取する。すなわち、被加工物２とワイヤ
電極３との間に直流電源６から放電制御回路５を通して
パルス直流電圧が印加され、この状態に被加工物２とワ
イヤ電極３とのギャップ量が所定量となると、被加工物
２とワイヤ電極３との間にパルス放電が発生する。この
パルス放電のエネルギにより被加工物２は加工される。
この状態に電圧検出器７は被加工物２とワイヤ電極３
との間に印加されたパルス直流電圧を検出してその電圧
検出信号を出力し、又は電流検出器８は被加工物２から
ワイヤ電極３に流れたパルス放電電流を検出してこの電
流検出信号を出力する。これら電圧検出信号及び電流検
出信号はそれぞれアッテネータ11,12で処理しやすいレ
ベルに減衰されてA/D変換器13,14に入力する。このと
き、各A/D変換器13,14は共にタイミングコントローラ17
により制御されて第３図に示す各信号採取期間H1,H2…
においてそれぞれ例えば50ns毎に同時に電圧検出信号、
電流検出信号をそれぞれ上記電圧範囲０〜1000V、電流
範囲０〜1000Aの測定レンジで８ビットにディジタル変
換して取込む。これにより、１回の信号採取期間例えば
信号採取期間H1において例えば1024〜65536Bのデータが
取込まれる。そして、この信号採取期間H1,H2…が一定
期間ごとに到来する。このようにして１回の信号採取期
間例えばH1で取込んだディジタル電圧検出信号及びディ
ジタル電流信号はそれぞれ各A/D変換器13,14内のメモリ
ーに一時記憶され、信号採取期間H1の経過の後にCPU16
によってRAM18に移されて記憶される。そうして、次の
信号採取期間H2になって各A/D変換器13,14にディジタル
電圧検出信号及びディジタル電流信号が一時記憶される
と、CPU16は上記同様に信号採取期間H2の経過の後にデ
ィジタル電圧検出信号及びディジタル電流信号をRAM18
に移して記憶する。
との間に印加されたパルス直流電圧を検出してその電圧
検出信号を出力し、又は電流検出器８は被加工物２から
ワイヤ電極３に流れたパルス放電電流を検出してこの電
流検出信号を出力する。これら電圧検出信号及び電流検
出信号はそれぞれアッテネータ11,12で処理しやすいレ
ベルに減衰されてA/D変換器13,14に入力する。このと
き、各A/D変換器13,14は共にタイミングコントローラ17
により制御されて第３図に示す各信号採取期間H1,H2…
においてそれぞれ例えば50ns毎に同時に電圧検出信号、
電流検出信号をそれぞれ上記電圧範囲０〜1000V、電流
範囲０〜1000Aの測定レンジで８ビットにディジタル変
換して取込む。これにより、１回の信号採取期間例えば
信号採取期間H1において例えば1024〜65536Bのデータが
取込まれる。そして、この信号採取期間H1,H2…が一定
期間ごとに到来する。このようにして１回の信号採取期
間例えばH1で取込んだディジタル電圧検出信号及びディ
ジタル電流信号はそれぞれ各A/D変換器13,14内のメモリ
ーに一時記憶され、信号採取期間H1の経過の後にCPU16
によってRAM18に移されて記憶される。そうして、次の
信号採取期間H2になって各A/D変換器13,14にディジタル
電圧検出信号及びディジタル電流信号が一時記憶される
と、CPU16は上記同様に信号採取期間H2の経過の後にデ
ィジタル電圧検出信号及びディジタル電流信号をRAM18
に移して記憶する。
このようにディジタル電圧検出信号及びディジタル電
流信号が取込まれてRAM18に記憶され、数回の信号採取
期間が終了すると、CPU16はステップs3に移って加工状
態を判定する。すなわち、CPU16は第４図に示す加工状
態判定流れ図に従ってそのステップf1においてRAM18に
記憶されたディジタル電流検出信号から電流ピーク値を
求め、次のステップf2においてこの電流ピーク値としき
い値とを比較する。この比較により、電流ピーク値がし
きい値よりも大きければ、CPU16はステップf3に移って
現在行なわれている放電加工は荒加工と判断し、又電流
ピーク値がしきい値よりも大きければ、CPU16はステッ
プf4に移って放電加工は仕上げ加工と判断する。
流信号が取込まれてRAM18に記憶され、数回の信号採取
期間が終了すると、CPU16はステップs3に移って加工状
態を判定する。すなわち、CPU16は第４図に示す加工状
態判定流れ図に従ってそのステップf1においてRAM18に
記憶されたディジタル電流検出信号から電流ピーク値を
求め、次のステップf2においてこの電流ピーク値としき
い値とを比較する。この比較により、電流ピーク値がし
きい値よりも大きければ、CPU16はステップf3に移って
現在行なわれている放電加工は荒加工と判断し、又電流
ピーク値がしきい値よりも大きければ、CPU16はステッ
プf4に移って放電加工は仕上げ加工と判断する。
次にCPU16はステップs4において測定レンジを設定す
る。すなわち、CPU16は第５図に示すレンジ変更流れ図
に従ってそのステップm1においてRAM18に記憶された各
ディジタル電圧検出信号及びディジタル電流信号から電
流ピーク及び電圧ピークを求める。次にCPU16はステッ
プm2において電流ピーク値が測定レンジの電流範囲０〜
1000Aに対して所定割合例えば40％以上であるかを判断
する。ここで、電流ピーク値が第６図に示すように150A
であると、この電流ピーク値は電流範囲０〜1000Aに対
して40％以下であるので、CPU16はステップm3に移って
測定レンジを１レンジダウンさせて第７図に示すような
電流範囲０〜400Aの測定レンジに変更する。再びCPU16
はステップm2において電流ピーク値が測定レンジの電流
範囲０〜400Aに対して40％以上であるかを判断する。こ
の場合も電流ピーク値は電流範囲０〜400Aに対して40％
以下であるので、CPU16は再びステップm3に移って測定
レンジをさらに１レンジダウンさせて第８図に示すよう
な電流範囲０〜200Aの測定レンジに変更する。かくし
て、電流ピーク値は電流範囲０〜200Aに対して40％以上
となり、電流範囲の測定レンジは０〜200Aに設定され
る。次にCPU16はステップm4及びm5において電流範囲の
測定レンジを設定したのと同様に電圧に対する測定レン
ジを設定する。
る。すなわち、CPU16は第５図に示すレンジ変更流れ図
に従ってそのステップm1においてRAM18に記憶された各
ディジタル電圧検出信号及びディジタル電流信号から電
流ピーク及び電圧ピークを求める。次にCPU16はステッ
プm2において電流ピーク値が測定レンジの電流範囲０〜
1000Aに対して所定割合例えば40％以上であるかを判断
する。ここで、電流ピーク値が第６図に示すように150A
であると、この電流ピーク値は電流範囲０〜1000Aに対
して40％以下であるので、CPU16はステップm3に移って
測定レンジを１レンジダウンさせて第７図に示すような
電流範囲０〜400Aの測定レンジに変更する。再びCPU16
はステップm2において電流ピーク値が測定レンジの電流
範囲０〜400Aに対して40％以上であるかを判断する。こ
の場合も電流ピーク値は電流範囲０〜400Aに対して40％
以下であるので、CPU16は再びステップm3に移って測定
レンジをさらに１レンジダウンさせて第８図に示すよう
な電流範囲０〜200Aの測定レンジに変更する。かくし
て、電流ピーク値は電流範囲０〜200Aに対して40％以上
となり、電流範囲の測定レンジは０〜200Aに設定され
る。次にCPU16はステップm4及びm5において電流範囲の
測定レンジを設定したのと同様に電圧に対する測定レン
ジを設定する。
次にCPU16はステップm6に移って上記ステップm2及びm
3にて測定レンジが確定しているときに取り込まれた電
流ピーク値と、予め設定されている加工状態判定電流値
とを比較し、電流ピーク値が加工状態判定電流値より大
きければ、“荒加工”と判定し、また、電流ピーク値が
加工状態判定電流値より小さければ、“仕上げ加工”と
判定する。そして、CPU16は、荒加工であればステップm
7に移って各A/D変換器13,14でのサンプリング周期をｘn
sに設定し、仕上げ加工であればステップm8に移って各A
/D変換器13,14でのサンプリング周期をｙnsに設定す
る。第９図はかかるサンプリング周期ｘns,ynsでの例え
ば放電電流のサンプリングタイミングを示している。
3にて測定レンジが確定しているときに取り込まれた電
流ピーク値と、予め設定されている加工状態判定電流値
とを比較し、電流ピーク値が加工状態判定電流値より大
きければ、“荒加工”と判定し、また、電流ピーク値が
加工状態判定電流値より小さければ、“仕上げ加工”と
判定する。そして、CPU16は、荒加工であればステップm
7に移って各A/D変換器13,14でのサンプリング周期をｘn
sに設定し、仕上げ加工であればステップm8に移って各A
/D変換器13,14でのサンプリング周期をｙnsに設定す
る。第９図はかかるサンプリング周期ｘns,ynsでの例え
ば放電電流のサンプリングタイミングを示している。
この後、CPU16はステップs5に移って放電加工状態が
荒加工であれば、各信号採取期間H1,H2…においてｘns
毎に電流検出信号を電流範囲０〜200Aの測定レンジで８
ビットにディジタル変換して取込むとともに電圧検出信
号を変更設定された測定レンジで取り込む。そうして信
号採取期間が数回例えば10回到来すると、CPU16はステ
ップs6に移って各ディジタル電圧検出信号及びディジタ
ル電流信号から放電発生数、放電開始時刻、放電終了時
刻、放電電圧、電流ピーク、電流パルス幅、放電エネル
ギ及びパルス間隔などの放電データを求め、さらに放電
加工を正常に行った正常放電データと放電加工が正常に
行われなかった異常放電データとの割合を求める。さら
に、この求めた正常放電データと異常放電データとの割
合に基づき放電状態の良否を判定する。しかして、CPU1
6は、ステップs7において、表示駆動部20を介して、表
示器21に、加工状態判定手段16−２における荒加工か仕
上げ加工かの判定結果並びに放電状態判定手段16−４に
おける放電状態の判定結果を表示（報知）させる。ちな
みに、第10図はかかる表示例であって、〈荒加工〉が表
示されるとともに放電発生数、発生した放電のうち正常
（有効）放電の割合が放電の良否として表示されてい
る。ここで、放電発生数は荒加工と仕上げ加工とでは電
流及び電圧検出信号のサンプリング周期が異なっている
ので、加工に応じたサンプリング周期も表示される。
荒加工であれば、各信号採取期間H1,H2…においてｘns
毎に電流検出信号を電流範囲０〜200Aの測定レンジで８
ビットにディジタル変換して取込むとともに電圧検出信
号を変更設定された測定レンジで取り込む。そうして信
号採取期間が数回例えば10回到来すると、CPU16はステ
ップs6に移って各ディジタル電圧検出信号及びディジタ
ル電流信号から放電発生数、放電開始時刻、放電終了時
刻、放電電圧、電流ピーク、電流パルス幅、放電エネル
ギ及びパルス間隔などの放電データを求め、さらに放電
加工を正常に行った正常放電データと放電加工が正常に
行われなかった異常放電データとの割合を求める。さら
に、この求めた正常放電データと異常放電データとの割
合に基づき放電状態の良否を判定する。しかして、CPU1
6は、ステップs7において、表示駆動部20を介して、表
示器21に、加工状態判定手段16−２における荒加工か仕
上げ加工かの判定結果並びに放電状態判定手段16−４に
おける放電状態の判定結果を表示（報知）させる。ちな
みに、第10図はかかる表示例であって、〈荒加工〉が表
示されるとともに放電発生数、発生した放電のうち正常
（有効）放電の割合が放電の良否として表示されてい
る。ここで、放電発生数は荒加工と仕上げ加工とでは電
流及び電圧検出信号のサンプリング周期が異なっている
ので、加工に応じたサンプリング周期も表示される。
以上のように、本実施例の放電状態報知装置は、信号
取込手段で取り込まれた電流検出信号及び電圧検出信号
のピーク値を求め、各ピーク値が測定レンジのフルスケ
ールに対して所定の割合以上となる測定レンジに設定変
更するとともに、測定レンジが適正に設定された電流検
出信号に基づいて、放電加工状態が荒加工か仕上げ加工
かを判定し、この判定結果に基づいて電流検出信号及び
電圧検出信号のサンプリング周期を荒加工又は仕上げ加
工に応じて変更し、さらにサンプリング周期が変更され
た後に、信号採取手段にて採取された放電電圧検出信号
及び放電電流検出信号に基づいて正常放電データと異常
放電データとの割合を求め、この割合に基づいて放電状
態の良否を判定（報知）するようにしたので、荒加工か
仕上げ加工かの加工状態の判定を高精度で行うことがで
きるようになることはもとより、放電状態の良否を高精
度で判定報知することができるようになるので、作業者
は、報知結果に基づいて迅速かつ適宜な処置を行うこと
が可能となる結果、放電加工精度及び放電加工能率を顕
著に向上させることができるようになる。
取込手段で取り込まれた電流検出信号及び電圧検出信号
のピーク値を求め、各ピーク値が測定レンジのフルスケ
ールに対して所定の割合以上となる測定レンジに設定変
更するとともに、測定レンジが適正に設定された電流検
出信号に基づいて、放電加工状態が荒加工か仕上げ加工
かを判定し、この判定結果に基づいて電流検出信号及び
電圧検出信号のサンプリング周期を荒加工又は仕上げ加
工に応じて変更し、さらにサンプリング周期が変更され
た後に、信号採取手段にて採取された放電電圧検出信号
及び放電電流検出信号に基づいて正常放電データと異常
放電データとの割合を求め、この割合に基づいて放電状
態の良否を判定（報知）するようにしたので、荒加工か
仕上げ加工かの加工状態の判定を高精度で行うことがで
きるようになることはもとより、放電状態の良否を高精
度で判定報知することができるようになるので、作業者
は、報知結果に基づいて迅速かつ適宜な処置を行うこと
が可能となる結果、放電加工精度及び放電加工能率を顕
著に向上させることができるようになる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものでなく
その主旨を逸脱しない範囲で変形しても良い。例えば、
信号採取期間H1,H2…及びこれら期間H1,H2…におけるサ
ンプリング周期は任意に設定して良い。又、荒加工及び
仕上げ加工の加工状態や放電加工の状態は表示器21に表
示するばかりでなくプリンタを設けてプリントアウトし
ても良い。さらに、本装置はワイヤ放電加工装置に限ら
ず、形彫り放電加工や電解加工、さらには電圧信号及び
電流信号のサンプリングのレンジ変更により溶接機やレ
ーザ応用機器、照明機器、スパッタリング装置、PVDやC
VDのプラズマ加工装置などの放電応用機器にも適用でき
る。このうちスパッタリング装置では放電状態を検出す
ることで放電媒体の流量調整ができる。
その主旨を逸脱しない範囲で変形しても良い。例えば、
信号採取期間H1,H2…及びこれら期間H1,H2…におけるサ
ンプリング周期は任意に設定して良い。又、荒加工及び
仕上げ加工の加工状態や放電加工の状態は表示器21に表
示するばかりでなくプリンタを設けてプリントアウトし
ても良い。さらに、本装置はワイヤ放電加工装置に限ら
ず、形彫り放電加工や電解加工、さらには電圧信号及び
電流信号のサンプリングのレンジ変更により溶接機やレ
ーザ応用機器、照明機器、スパッタリング装置、PVDやC
VDのプラズマ加工装置などの放電応用機器にも適用でき
る。このうちスパッタリング装置では放電状態を検出す
ることで放電媒体の流量調整ができる。
［発明の効果］ 本発明の放電状態報知装置は、信号取込信号で取り込
まれた電流検出信号及び電圧検出信号のピーク値を求
め、各ピーク値が測定レンジのフルスケールに対して所
定の割合以上となる測定レンジに設定変更するととも
に、測定レンジが適正に設定された電流検出信号に基づ
いて、放電加工状態が荒加工か仕上げ加工かを判定し、
この判定結果に基づいて電流検出信号及び電圧検出信号
のサンプリング周期を荒加工又は仕上げ加工に応じて変
更し、さらにサンプリング周期が変更された後に、信号
採取手段にて採取された放電電圧検出信号及び放電電流
検出信号に基づいて正常放電データと異常放電データの
割合を求め、この割合に基づいて放電状態の良否を判定
（報知）するようにしたので、荒加工か仕上げ加工かの
加工状態の判定を高精度で行うことができるようになる
ことはもとより、放電状態の良否を高精度で判定報知す
ることができるようになるので、作業者は、報知結果に
基づいて迅速かつ適切な処置を行うことが可能となる結
果、放電加工精度及び放電加工能率を顕著に向上させる
ことができるようになる。
まれた電流検出信号及び電圧検出信号のピーク値を求
め、各ピーク値が測定レンジのフルスケールに対して所
定の割合以上となる測定レンジに設定変更するととも
に、測定レンジが適正に設定された電流検出信号に基づ
いて、放電加工状態が荒加工か仕上げ加工かを判定し、
この判定結果に基づいて電流検出信号及び電圧検出信号
のサンプリング周期を荒加工又は仕上げ加工に応じて変
更し、さらにサンプリング周期が変更された後に、信号
採取手段にて採取された放電電圧検出信号及び放電電流
検出信号に基づいて正常放電データと異常放電データの
割合を求め、この割合に基づいて放電状態の良否を判定
（報知）するようにしたので、荒加工か仕上げ加工かの
加工状態の判定を高精度で行うことができるようになる
ことはもとより、放電状態の良否を高精度で判定報知す
ることができるようになるので、作業者は、報知結果に
基づいて迅速かつ適切な処置を行うことが可能となる結
果、放電加工精度及び放電加工能率を顕著に向上させる
ことができるようになる。
第１図乃至第10図は本発明に係わる加工状態報知装置の
一実施例を説明するための図であって、第１図は全体構
成図、第２図は加工状態報知流れ図、第３図は信号採取
期間を示す模式図、第４図は加工状態判定流れ図、第５
図は測定レンジ変更流れ図、第６図乃至第８図は測定レ
ンジの変更設定を説明するための図、第９図はサンプリ
ング周期を示す模式図、第10図は表示例を示す図であ
る。 １……加工槽、２……被加工物、３……ワイヤ電極、４
……上部ワイヤガイド体、５……放電制御回路、６……
直流電源、７……電圧検出器、８……電流検出器、10…
…報知装置本体、11,12……アッテネータ、13,14……A/
D変換器、15……バス、16……CPU、17……タイミングコ
ントローラ、18……RAM、19……ROM、20……表示駆動
部、21……表示器。
一実施例を説明するための図であって、第１図は全体構
成図、第２図は加工状態報知流れ図、第３図は信号採取
期間を示す模式図、第４図は加工状態判定流れ図、第５
図は測定レンジ変更流れ図、第６図乃至第８図は測定レ
ンジの変更設定を説明するための図、第９図はサンプリ
ング周期を示す模式図、第10図は表示例を示す図であ
る。 １……加工槽、２……被加工物、３……ワイヤ電極、４
……上部ワイヤガイド体、５……放電制御回路、６……
直流電源、７……電圧検出器、８……電流検出器、10…
…報知装置本体、11,12……アッテネータ、13,14……A/
D変換器、15……バス、16……CPU、17……タイミングコ
ントローラ、18……RAM、19……ROM、20……表示駆動
部、21……表示器。
Claims (1)
- 【請求項１】下記構成（イ）〜（ト）を具備し、被加工
物とワイヤ放電電極との間に周期的に電圧を印加して前
記被加工物を放電加工する際の放電加工状態を報知する
放電状態報知装置。 （イ）前記被加工物と前記ワイヤ放電電極との間の放電
電圧及び放電電流を検出する検出器。 （ロ）前記検出器からの検出信号を所定の信号採取期間
にわたってディジタル変換して取り込む信号採取手段。 （ハ）前記信号取込手段で取り込まれた電流検出信号及
び電圧検出信号のピーク値を求め前記各ピーク値が測定
レンジのフルスケールに対して所定の割合以上となる測
定レンジに設定変更するレンジ変更手段。 （ニ）前記レンジ変更手段により測定レンジが設定され
た前記電流検出信号に基づいて前記放電加工状態が荒加
工か仕上げ加工かを判定する加工状態判定手段。 （ホ）前記加工状態判定手段における判定結果に基づい
て前記信号取込手段における前記電流検出信号及び前記
電圧検出信号のサンプリング周期を前記荒加工又は前記
仕上げ加工に応じて変更するサンプリング周期変更手
段。 （ヘ）前記サンプリング周期変更手段にてサンプリング
周期が変更された後に、前記信号採取手段にて採取され
た放電電圧検出信号及び放電電流検出信号に基づいて正
常放電データと異常放電データとの割合を求め、この割
合に基づいて放電状態を良否を判定する放電状態判定手
段。 （ト）前記放電状態判定手段における放電状態の判定結
果を、前記加工状態判定手段における荒加工か仕上げ加
工かの判定結果とともに報知する加工状態報知手段。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1169605A JP2539044B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 加工状態報知装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1169605A JP2539044B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 加工状態報知装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0335932A JPH0335932A (ja) | 1991-02-15 |
| JP2539044B2 true JP2539044B2 (ja) | 1996-10-02 |
Family
ID=15889596
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1169605A Expired - Lifetime JP2539044B2 (ja) | 1989-06-30 | 1989-06-30 | 加工状態報知装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2539044B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6610956B1 (en) | 1998-12-02 | 2003-08-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Device for quality decision of a machining state of an electric spark machine |
| JP5401283B2 (ja) | 2009-11-30 | 2014-01-29 | 日本コヴィディエン株式会社 | 内視鏡カバー固定具及び固定方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6336155A (ja) * | 1986-07-30 | 1988-02-16 | Hioki Denki Kk | 交流測定器のオ−トレンジ装置 |
| JP2565906B2 (ja) * | 1987-06-30 | 1996-12-18 | 株式会社東芝 | 放電加工装置 |
-
1989
- 1989-06-30 JP JP1169605A patent/JP2539044B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0335932A (ja) | 1991-02-15 |
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