JP2022079854A - Component mounting system, inspection device, substrate manufacturing method, and inspection method - Google Patents

Component mounting system, inspection device, substrate manufacturing method, and inspection method Download PDF

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正宏 木原
Masahiro Kihara
敬明 横井
Takaaki Yokoi
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Abstract

To provide a component mounting system, an inspection device, a substrate manufacturing method, and an inspection method that can improve the accuracy of component mounting.SOLUTION: In a component mounting system, an inspection device compares the position of a component BH mounted on a substrate (mounted component position Z) with an inspection reference position KK set with respect to the substrate to calculate a first positional deviation amount ΔZ1(ΔX1, ΔY1) that is the positional deviation amount of the component BH from the inspection reference position KK, calculates the difference δ(δX, δY) between a target mounting position MK and the inspection reference position KK, and adds the calculated difference δ to the first positional deviation amount ΔZ1 to calculate a second positional deviation amount ΔZ2(ΔX2, ΔY2) that is the positional deviation amount of the component BH from the target mounting position MK. The inspection device outputs the calculated second positional deviation amount ΔZ2 to a component mounting device as feedback data.SELECTED DRAWING: Figure 10

Description

本発明は、装着ヘッドにより部品をピックアップして基板に装着する部品装着装置および部品装着装置により基板に装着された部品を検査する検査装置を備えた部品装着システム、検査装置、基板製造方法および検査方法に関する。 The present invention includes a component mounting system, an inspection device, a board manufacturing method, and an inspection device including a component mounting device that picks up a component by a mounting head and mounts the component on the board, and an inspection device that inspects the component mounted on the board by the component mounting device. Regarding the method.

従来、装着ヘッドにより部品をピックアップして基板に装着する部品装着装置と、部品装着装置により基板に装着された部品を検査する検査装置を備えた部品装着システムが知られている。部品装着システムにおいて部品装着装置は、基板上に設定された目標装着位置に部品を装着し、検査装置は、基板に装着された部品の位置と基板に対して設定された検査基準位置と比較することによって、検査基準位置からの部品の位置ずれ量を求め、その求めた検査基準位置からの部品の位置ずれ量に基づいて装着状態の良否を判定する。検査基準位置は通常、基板上に設定された目標装着位置と一致するように設定されるため、検査装置で算出された位置ずれ量(検査基準位置からの部品の位置ずれ量)を部品装着装置にフィードバックして装着ヘッドの動作パラメータの補正に利用することで、精度のよい部品装着作業を行うことが可能である(例えば、下記の特許文献1参照)。 Conventionally, a component mounting system including a component mounting device that picks up a component by a mounting head and mounts the component on the board and an inspection device that inspects the component mounted on the board by the component mounting device is known. In the component mounting system, the component mounting device mounts the component at the target mounting position set on the board, and the inspection device compares the position of the component mounted on the board with the inspection reference position set for the board. As a result, the amount of misalignment of the parts from the inspection reference position is obtained, and the quality of the mounted state is determined based on the amount of misalignment of the parts from the obtained inspection reference position. Since the inspection reference position is usually set to match the target mounting position set on the substrate, the position deviation amount calculated by the inspection device (the position deviation amount of the component from the inspection reference position) is used as the component mounting device. By feeding back to and using it to correct the operating parameters of the mounting head, it is possible to perform accurate component mounting work (see, for example, Patent Document 1 below).

ところで、上記のような部品装着システムでは、部品装着装置によって基板に装着される部品の位置が経時的に(基板生産を繰り返している間に)特定の方向にずれていくようになる等の事態が起こり得る。このような場合には検査装置において装着不良の判定が多発することとなり、生産性が低下してしまう。このため従来、検査装置には、当初目標装着位置と一致するように設定された検査基準位置を、基板上に実際に装着された部品の位置に合うように変更することができる機能が備えられていることが多い。 By the way, in the above-mentioned component mounting system, the position of the component mounted on the board by the component mounting device shifts in a specific direction over time (while the board production is repeated). Can occur. In such a case, the inspection device frequently determines that the mounting is defective, and the productivity is lowered. For this reason, the inspection device has conventionally been provided with a function that can change the inspection reference position initially set to match the target mounting position to match the position of the component actually mounted on the substrate. Often.

特開2019-134051号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2019-134051

しかしながら、上記のように検査基準位置を変更すると、検査基準位置は目標装着位置と一致しなくなる。従って、検査装置で算出された部品の位置ずれ量をそのまま部品装着装置にフィードバックすると、部品の装着時の動作パラメータの補正は不正確なものとなり、部品の装着精度が低下するおそれがあるという問題点があった。 However, if the inspection reference position is changed as described above, the inspection reference position does not match the target mounting position. Therefore, if the amount of misalignment of the component calculated by the inspection device is fed back to the component mounting device as it is, the correction of the operating parameters at the time of mounting the component becomes inaccurate, and the mounting accuracy of the component may decrease. There was a point.

そこで本発明は、部品の装着精度の向上を図ることができる部品装着システム、検査装置、基板製造方法および検査方法を提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide a component mounting system, an inspection device, a substrate manufacturing method, and an inspection method capable of improving the mounting accuracy of components.

本発明の部品装着システムは、装着ヘッドにより部品をピックアップして基板上に設定された目標装着位置に装着する部品装着装置と、前記部品装着装置により前記基板に装着された前記部品を検査する検査装置とを備えた部品装着システムであって、前記検査装置は、前記基板に装着された部品の位置と前記基板に対して設定された検査基準位置とを比較することによって、前記検査基準位置からの前記部品の位置ずれ量である第1位置ずれ量を算出する第1位置ずれ量算出部と、前記目標装着位置からの前記部品の位置ずれ量である前記第2位置ずれ量を算出する第2位置ずれ量算出部と、前記第2位置ずれ量算出部により算出された前記第2位置ずれ量を出力する出力部と、を備え、前記部品装着装置は、前記出力部から出力された前記第2位置ずれ量に基づいて補正値を算出し、その算出した補正値を用いて前記装着ヘッドの動作パラメータを補正する。 The component mounting system of the present invention inspects a component mounting device that picks up a component by a mounting head and mounts the component at a target mounting position set on the board, and the component mounted on the board by the component mounting device. A component mounting system including a device, wherein the inspection device is from the inspection reference position by comparing the position of the component mounted on the board with the inspection reference position set for the board. The first position shift amount calculation unit that calculates the first position shift amount, which is the position shift amount of the component, and the second position shift amount, which is the position shift amount of the component from the target mounting position, are calculated. The component mounting device includes a two-position deviation amount calculation unit and an output unit that outputs the second position deviation amount calculated by the second position deviation amount calculation unit, and the component mounting device is output from the output unit. A correction value is calculated based on the second position deviation amount, and the operation parameter of the mounting head is corrected using the calculated correction value.

本発明の検査装置は、基板上に設定された目標装着位置に装着された前記部品を検査する検査装置であって、前記基板に装着された部品の位置と前記基板に対して設定された検査基準位置とを比較することによって、前記検査基準位置からの前記部品の位置ずれ量である第1位置ずれ量を算出する第1位置ずれ量算出部と、前記目標装着位置からの前記部品の位置ずれ量である前記第2位置ずれ量を算出する第2位置ずれ量算出部と、前記第2位置ずれ量算出部により算出された前記第2位置ずれ量を出力する出力部と、を備えた。 The inspection device of the present invention is an inspection device for inspecting the component mounted at a target mounting position set on the board, and is an inspection device set for the position of the component mounted on the board and the board. The first position deviation amount calculation unit that calculates the first position deviation amount, which is the position deviation amount of the component from the inspection reference position, and the position of the component from the target mounting position by comparing with the reference position. It is provided with a second position deviation amount calculation unit for calculating the second position deviation amount, which is a deviation amount, and an output unit for outputting the second position deviation amount calculated by the second position deviation amount calculation unit. ..

本発明の基板製造方法は、基板に部品が装着された実装基板を製造する基板製造方法であって、装着ヘッドにより部品をピックアップして基板上に設定された目標装着位置に装着する部品装着工程と、前記基板に装着された部品の位置と前記基板に対して設定された検査基準位置とを比較することによって、前記検査基準位置からの前記部品の位置ずれ量である第1位置ずれ量を算出する第1位置ずれ量算出工程と、前記目標装着位置からの前記部品の位置ずれ量である前記第2位置ずれ量を算出する第2位置ずれ量算出工程と、前記第2位置ずれ量算出工程で算出された前記第2位置ずれ量を出力する出力工程と、前記出力工程で出力された前記第2位置ずれ量に基づいて補正値を算出し、その算出した補正値を用いて前記部品装着工程での前記装着ヘッドの動作パラメータを補正する補正工程と、を含む。 The board manufacturing method of the present invention is a board manufacturing method for manufacturing a mounting board in which parts are mounted on the board, and is a component mounting process in which parts are picked up by a mounting head and mounted at a target mounting position set on the board. By comparing the position of the component mounted on the board with the inspection reference position set for the board, the first position deviation amount, which is the position deviation amount of the component from the inspection reference position, can be obtained. The first position shift amount calculation step to be calculated, the second position shift amount calculation step to calculate the second position shift amount which is the position shift amount of the component from the target mounting position, and the second position shift amount calculation. A correction value is calculated based on the output process that outputs the second position deviation amount calculated in the process and the second position deviation amount output in the output process, and the calculated correction value is used to calculate the component. It includes a correction step of correcting the operation parameter of the mounting head in the mounting step.

本発明の検査方法は、基板上に設定された目標装着位置に装着された部品を検査する検査方法であって、前記基板に装着された部品の位置と前記基板に対して設定された検査基準位置とを比較することによって、前記検査基準位置からの前記部品の位置ずれ量である第1位置ずれ量を算出する第1位置ずれ量算出工程と、前記目標装着位置からの前記部品の位置ずれ量である前記第2位置ずれ量を算出する第2位置ずれ量算出工程と、前記第2位置ずれ量算出工程で算出された前記第2位置ずれ量を出力する出力工程と、を含む。 The inspection method of the present invention is an inspection method for inspecting a component mounted at a target mounting position set on the board, and is an inspection method set for the position of the component mounted on the board and the inspection standard set for the board. The first position deviation amount calculation step for calculating the first position deviation amount, which is the position deviation amount of the component from the inspection reference position by comparing with the position, and the position deviation of the component from the target mounting position. It includes a second position shift amount calculation step for calculating the second position shift amount, which is an amount, and an output step for outputting the second position shift amount calculated in the second position shift amount calculation step.

本発明によれば、部品の装着精度の向上を図ることができる。 According to the present invention, it is possible to improve the mounting accuracy of parts.

本発明の実施の形態1における部品装着システムの構成図Configuration diagram of the component mounting system according to the first embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態1における部品装着装置システムを構成する部品装着装置の斜視図Perspective view of the component mounting device constituting the component mounting device system according to the first embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態1における部品装着装置が備える目標装着位置を示す基板の平面図A plan view of a substrate showing a target mounting position included in the component mounting device according to the first embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態1における部品装着装置の制御系統を示すブロック図A block diagram showing a control system of a component mounting device according to the first embodiment of the present invention. (a)~(e)本発明の実施の形態1における部品装着システムにおいて用いられる部品中心の検出方式の例を示す図(A)-(e) A diagram showing an example of a component-centered detection method used in the component mounting system according to the first embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態1における部品装着装置システムを構成する検査装置の斜視図Perspective view of the inspection device constituting the component mounting device system according to the first embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態1における検査装置の制御系統を示すブロック図The block diagram which shows the control system of the inspection apparatus in Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施の形態1における検査基準位置と目標装着位置の関係を示す図The figure which shows the relationship between the inspection reference position and the target mounting position in Embodiment 1 of this invention. (a)(b)本発明の実施の形態1における検査装置の検査基準位置変更部により検査基準位置を変更する手順を示す図(A) (b) The figure which shows the procedure which changes the inspection reference position by the inspection reference position change part of the inspection apparatus in Embodiment 1 of this invention. 本発明の実施の形態1における検査基準位置と装着部品位置との位置関係および目標装着位置と検査基準位置との位置関係を示す図The figure which shows the positional relationship between the inspection reference position and the mounting component position, and the positional relationship between the target mounting position and the inspection reference position in the first embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態1における管理装置の制御系統を示すブロック図A block diagram showing a control system of a management device according to the first embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態1における検査装置が実行する検査作業の流れを示すフローチャートA flowchart showing a flow of inspection work executed by the inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態2における検査装置の制御系統を示すブロック図A block diagram showing a control system of an inspection device according to a second embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態2における変更後の検査基準位置と装着部品位置との位置関係、変更前の検査基準位置と変更後の検査基準位置との位置関係および目標装着位置と変更前の検査基準位置との位置関係を示す図The positional relationship between the changed inspection reference position and the mounting component position in the second embodiment of the present invention, the positional relationship between the inspection reference position before the change and the inspection reference position after the change, and the target mounting position and the inspection standard before the change. Diagram showing the positional relationship with the position 本発明の実施の形態3における検査装置の制御系統を示すブロック図The block diagram which shows the control system of the inspection apparatus in Embodiment 3 of this invention. 本発明の実施の形態3における検査基準位置と装着部品位置との位置関係および目標装着位置と装着部品位置との位置関係を示す図The figure which shows the positional relationship between the inspection reference position and the mounting component position, and the positional relationship between the target mounting position and the mounting component position in the third embodiment of the present invention. 本発明の実施の形態3における検査装置が実行する検査作業の流れを示すフローチャートA flowchart showing the flow of inspection work executed by the inspection apparatus according to the third embodiment of the present invention.

(実施の形態1)
先ず、本発明の実施の形態1について説明する。図1において、部品装着システム1は、部品装着装置11、検査装置12および管理装置13を備えている。
(Embodiment 1)
First, Embodiment 1 of the present invention will be described. In FIG. 1, the component mounting system 1 includes a component mounting device 11, an inspection device 12, and a management device 13.

部品装着装置11は、上流の装置(例えば半田印刷装置)から基板KBを受け取って位置決めし、その位置決めした基板KBに部品BHを装着して下流の検査装置12に搬出する部品装着作業を行う。検査装置12は上流の部品装着装置11から基板KBを受け取って位置決めし、その位置決めした基板KBに装着されている部品BHの装着状態を検査して下流の装置に搬出する検査作業を行う。管理装置13は部品装着装置11および検査装置12と通信可能に繋がっており、部品装着装置11と検査装置12から情報を取得して各装置の動作を管理する。以下、各装置の詳細を説明する。 The component mounting device 11 receives the board KB from an upstream device (for example, a solder printing device), positions the board KB, mounts the component BH on the positioned board KB, and carries out the component mounting operation to carry it out to the downstream inspection device 12. The inspection device 12 receives the board KB from the upstream component mounting device 11 and positions it, inspects the mounted state of the component BH mounted on the positioned board KB, and carries out an inspection operation of carrying it out to the downstream device. The management device 13 is communicably connected to the component mounting device 11 and the inspection device 12, and acquires information from the component mounting device 11 and the inspection device 12 to manage the operation of each device. The details of each device will be described below.

先ず、部品装着装置11について説明する。図1および図2において、部品装着装置11は、基板搬送路21、部品供給部22、装着ヘッド23、ヘッド移動機構24、部品認識カメラ25、装着装置表示入力部26および装着装置制御部27を備えている。基板搬送路21は基板KBの搬入、位置決めおよび搬出を行う。部品供給部22は例えばテープフィーダから成り、所定の位置に部品BHを供給する。 First, the component mounting device 11 will be described. In FIGS. 1 and 2, the component mounting device 11 includes a board transport path 21, a component supply unit 22, a mounting head 23, a head moving mechanism 24, a component recognition camera 25, a mounting device display input unit 26, and a mounting device control unit 27. I have. The board transport path 21 carries in, positions, and carries out the board KB. The component supply unit 22 is composed of, for example, a tape feeder, and supplies the component BH to a predetermined position.

図2において、ヘッド移動機構24は固定ビーム24aと固定ビーム24aに対して移動自在な移動ビーム24bを備えたXYビーム機構から成り、装着ヘッド23を水平面内で移動させる。装着ヘッド23は下端に部品BHの吸着口を備えたノズル23Nを備えており、部品供給部22が供給する部品BHのピックアップと、ピックアップした部品BHの基板KBへの装着を行う。 In FIG. 2, the head moving mechanism 24 includes an XY beam mechanism including a fixed beam 24a and a moving beam 24b that is movable with respect to the fixed beam 24a, and moves the mounting head 23 in a horizontal plane. The mounting head 23 is provided with a nozzle 23N having a suction port for the component BH at the lower end, and picks up the component BH supplied by the component supply unit 22 and mounts the picked up component BH on the board KB.

部品認識カメラ25は撮像視野を上方へ向けており、ノズル23Nに部品BHを吸着させた装着ヘッド23が上方を通過するときにその部品BHを下方から撮像する。部品認識カメラ25が撮像して得た部品BHの画像はその部品BHの認識とノズル23Nに対する部品BHの位置(部品中心の位置)の検出に用いられる。ここで検出されたノズル23Nに対する部品BHの位置の情報は、基板KB上の目標装着位置MK(図3)に部品BHを装着する際に利用される。目標装着位置MKは図3に示すように、基板KBを基準に定められた座標系の座標として定められている。 The component recognition camera 25 directs the imaging field of view upward, and when the mounting head 23 having the component BH adsorbed on the nozzle 23N passes above, the component BH is imaged from below. The image of the component BH obtained by the component recognition camera 25 is used for recognizing the component BH and detecting the position of the component BH with respect to the nozzle 23N (the position of the center of the component). The information on the position of the component BH with respect to the nozzle 23N detected here is used when the component BH is mounted at the target mounting position MK (FIG. 3) on the substrate KB. As shown in FIG. 3, the target mounting position MK is defined as the coordinates of the coordinate system defined with the substrate KB as a reference.

装着装置表示入力部26は例えばタッチパネルから成る。装着装置表示入力部26は作業者による入力操作を受け入れるとともに、作業者が行うべき作業や種々の情報を画面や音声等で作業者に報知する。 The mounting device display input unit 26 is composed of, for example, a touch panel. The mounting device display input unit 26 accepts input operations by the operator, and notifies the operator of the work to be performed by the operator and various information by screen, voice, or the like.

図4において、装着装置制御部27は、装着装置記憶部31、装着処理部32、ピックアップ部品位置算出部33、フィードバック処理部34および装着装置通信部35を備えている。装着装置記憶部31には生産データ41が記憶されており、生産開始後には位置ずれ量データ42が記憶される。生産データ41には目標装着位置データ41a、装着プログラム41b、部品データ41cおよび部品中心検出方式データ41dが含まれている。 In FIG. 4, the mounting device control unit 27 includes a mounting device storage unit 31, a mounting processing unit 32, a pickup component position calculation unit 33, a feedback processing unit 34, and a mounting device communication unit 35. The production data 41 is stored in the mounting device storage unit 31, and the misalignment amount data 42 is stored after the start of production. The production data 41 includes the target mounting position data 41a, the mounting program 41b, the component data 41c, and the component center detection method data 41d.

目標装着位置データ41aには、基板KB上に設定されている目標装着位置MK(図3)が記録されている。装着プログラム41bは、目標装着位置データ41aに記録されている各目標装着位置MKに部品BHが装着されるように部品装着装置11の各部(部品供給部22、装着ヘッド23、ヘッド移動機構24、部品認識カメラ25等)を動作させる制御プログラムである。部品データ41cには、各目標装着位置MKに装着される部品BHの種類や装着方向等が記録されている。 In the target mounting position data 41a, the target mounting position MK (FIG. 3) set on the substrate KB is recorded. The mounting program 41b includes each part of the component mounting device 11 (part supply unit 22, mounting head 23, head moving mechanism 24, so that the component BH is mounted on each target mounting position MK recorded in the target mounting position data 41a. This is a control program that operates the component recognition camera 25, etc.). In the component data 41c, the type and mounting direction of the component BH to be mounted at each target mounting position MK are recorded.

部品中心検出方式データ41dには、部品BHの位置を検出する際に必要となる部品BHの中心(部品中心)を検出する方式として、例えば図5(a)~(e)の方式が記録されている。図5(a)は、チップ状の部品BHが有する2つの電極DKの重心位置間の中点位置をその部品中心とするものであり、図5(b)は、チップ状の部品BHの全体の外形の重心位置をその部品中心とするものであり、図5(c)は、チップ状の部品BHのボディBDの重心位置をその部品中心とするものである。図5(d)は、複数のリードRDを有する部品BHのうち、特定の番号の複数のリードRDそれぞれの座標から算出される複数のリードRD全体の重心位置をその部品中心とするものであり、図5(e)は、複数のリードRDを有する部品BHのボディBDの重心位置をその部品中心とするものである。 In the component center detection method data 41d, for example, the methods of FIGS. 5A to 5E are recorded as a method for detecting the center of the component BH (component center) required for detecting the position of the component BH. ing. FIG. 5A is centered on the midpoint position between the positions of the centers of gravity of the two electrodes DK of the chip-shaped component BH, and FIG. 5B is the entire chip-shaped component BH. The position of the center of gravity of the outer shape of the above is the center of the component, and FIG. 5 (c) shows the position of the center of gravity of the body BD of the chip-shaped component BH as the center of the component. FIG. 5D shows the center of gravity of the entire plurality of lead RDs calculated from the coordinates of each of the plurality of lead RDs having a specific number among the component BHs having the plurality of lead RDs as the center of the component. 5 (e) shows the center of gravity of the body BD of the component BH having a plurality of lead RDs as the center of the component.

位置ずれ量データ42は、検査装置12で検出された結果のデータであり、基板KB上に装着された各部品BHの基準位置(後述する検査基準位置)からの位置ずれ量のデータである。位置ずれ量データ42は、後述するように、検査装置12によって算出され、管理装置13を通じて送られてくる。 The misalignment amount data 42 is the data of the result detected by the inspection device 12, and is the data of the misalignment amount from the reference position (inspection reference position described later) of each component BH mounted on the substrate KB. The misalignment amount data 42 is calculated by the inspection device 12 and sent through the management device 13 as described later.

装着処理部32は、装着装置記憶部31に記憶された装着プログラム41bに基づいて、部品装着装置11の各部(基板搬送路21、部品供給部22、装着ヘッド23、ヘッド移動機構24および部品認識カメラ25等)を作動させる。これにより基板搬送路21は基板KBの搬入および位置決めを行い、部品供給部22は部品BHを供給し、ヘッド移動機構24と装着ヘッド23は連動して作動して装着ターンを繰り返し実行する。 The mounting processing unit 32 has each part of the component mounting device 11 (board transfer path 21, component supply section 22, mounting head 23, head moving mechanism 24, and component recognition) based on the mounting program 41b stored in the mounting device storage unit 31. (Camera 25, etc.) is operated. As a result, the board transport path 21 carries in and positions the board KB, the component supply unit 22 supplies the component BH, and the head moving mechanism 24 and the mounting head 23 operate in conjunction with each other to repeatedly execute the mounting turn.

1回の装着ターンにおいて、装着ヘッド23は、部品BHをピックアップする動作(ピックアップ動作)、部品認識カメラ25の上方を通過する動作(カメラ上方通過動作)、部品BHを装着する動作(装着動作)をこの順序で実行する。ピックアップ動作では、装着ヘッド23は部品供給部22の上方に移動して部品供給部22が供給する部品BHをノズル23Nに吸着させる。カメラ上方通過動作では、装着ヘッド23は部品認識カメラ25の上方を通過して、ノズル23Nに吸着させた部品BHを部品認識カメラ25に撮像させる。このカメラ上方通過動作において、装着ヘッド23に吸着された部品BHの画像が取得され、部品BHが認識される。装着動作では、装着ヘッド23が基板KBの上方に移動し、部品BHの認識結果に基づいて基板KB上の目標装着位置MKに部品BHを装着する。 In one mounting turn, the mounting head 23 picks up the component BH (pickup operation), passes above the component recognition camera 25 (passing above the camera), and mounts the component BH (mounting operation). In this order. In the pickup operation, the mounting head 23 moves above the component supply unit 22 and attracts the component BH supplied by the component supply unit 22 to the nozzle 23N. In the camera upper passage operation, the mounting head 23 passes above the component recognition camera 25 and causes the component recognition camera 25 to take an image of the component BH attracted to the nozzle 23N. In this camera upper passage operation, an image of the component BH attracted to the mounting head 23 is acquired, and the component BH is recognized. In the mounting operation, the mounting head 23 moves above the board KB, and the component BH is mounted at the target mounting position MK on the board KB based on the recognition result of the component BH.

ピックアップ部品位置算出部33は、上記装着ターンのカメラ上方通過動作において取得された部品BHの画像に基づいて、ノズル23Nに対する部品中心の位置を算出する。このノズル23Nに対する部品中心の位置の算出には、前述した複数の部品中心の検出方式の中から選択されたひとつの検出方式が用いられる。このように部品認識カメラ25とピックアップ部品位置算出部33は、装着ヘッド23にピックアップされた部品BHのノズル23Nに対する部品中心の位置(ピックアップ部品位置)を検出するピックアップ部品位置検出部43(図4)となっている。 The pickup component position calculation unit 33 calculates the position of the component center with respect to the nozzle 23N based on the image of the component BH acquired in the camera upper passage operation of the mounting turn. One detection method selected from the above-mentioned plurality of component center detection methods is used for calculating the position of the component center with respect to the nozzle 23N. In this way, the component recognition camera 25 and the pickup component position calculation unit 33 detect the position of the center of the component (pickup component position) with respect to the nozzle 23N of the component BH picked up by the mounting head 23 (FIG. 4). ).

フィードバック処理部34は、補正部44および情報集計部45を備えている。フィードバック処理部34は、検査装置12から出力されて装着装置記憶部31に記憶された前述の位置ずれ量データ42に基づいてフィードバック処理を行う。フィードバック処理の主な内容は、部品装着装置11が基板KBに部品BHを装着する際の装着ヘッド23の動作パラメータの補正である。動作パラメータとは、ここでは、基板KB上の目標装着位置MKに部品BHが装着されるように装着ヘッド23を動作させるための制御データをいう。フィードバック処理部34については、検査装置12および管理装置13の説明の後に説明する。 The feedback processing unit 34 includes a correction unit 44 and an information aggregation unit 45. The feedback processing unit 34 performs feedback processing based on the above-mentioned misalignment amount data 42 output from the inspection device 12 and stored in the mounting device storage unit 31. The main content of the feedback process is the correction of the operating parameters of the mounting head 23 when the component mounting device 11 mounts the component BH on the board KB. Here, the operation parameter refers to control data for operating the mounting head 23 so that the component BH is mounted at the target mounting position MK on the board KB. The feedback processing unit 34 will be described after the description of the inspection device 12 and the management device 13.

装着装置通信部35は、管理装置13および検査装置12の双方と通信可能に繋がっている(図4)。装着装置通信部35は、検査装置12により検出された前述の位置ずれ量データ42等の情報を、管理装置13を介して受け取る。 The mounting device communication unit 35 is connected to both the management device 13 and the inspection device 12 so as to be able to communicate with each other (FIG. 4). The mounting device communication unit 35 receives information such as the above-mentioned misalignment amount data 42 detected by the inspection device 12 via the management device 13.

次に、検査装置12について説明する。図1および図6において、検査装置12は、基板搬送部51、カメラ移動機構52、検査カメラ53、検査装置表示入力部54および検査装置制御部55を備えている。基板搬送部51は基板KBの搬入、位置決めおよび搬出を行う。カメラ移動機構52は固定側ビーム52aと固定側ビーム52aに対して移動自在な移動側ビーム52bを備えたXYビーム機構から成り、検査カメラ53を水平面内で移動させる。検査カメラ53は撮像視野を下方に向けており、基板搬送部51が位置決めした基板KB上の所定領域(部品BHが装着される領域)を上方から撮像する。 Next, the inspection device 12 will be described. In FIGS. 1 and 6, the inspection device 12 includes a substrate transport unit 51, a camera moving mechanism 52, an inspection camera 53, an inspection device display input unit 54, and an inspection device control unit 55. The board transfer unit 51 carries in, positions, and carries out the board KB. The camera moving mechanism 52 includes an XY beam mechanism provided with a moving side beam 52b that is movable with respect to the fixed side beam 52a and the fixed side beam 52a, and moves the inspection camera 53 in a horizontal plane. The inspection camera 53 directs the imaging field of view downward, and images a predetermined region (area on which the component BH is mounted) on the substrate KB positioned by the substrate transport unit 51 from above.

検査装置表示入力部54は例えばタッチパネルから成る。検査装置表示入力部54は作業者による入力操作を受け入れるとともに、作業者が行うべき作業や種々の情報を画面や音声等で作業者に報知する。 The inspection device display input unit 54 includes, for example, a touch panel. The inspection device display input unit 54 accepts the input operation by the operator, and notifies the operator of the work to be performed by the operator and various information by screen, voice, or the like.

検査装置制御部55は、図7に示すように、検査装置記憶部61、装着部品位置算出部62、検査基準位置変更部63、差分算出部64、第1位置ずれ量算出部65、第2位置ずれ量算出部66、良否判定部67および検査装置通信部68を備えている。検査装置記憶部61には検査データ71、目標装着位置データ72および検査基準位置データ73が記憶されている。検査データ71には、検査プログラム71a、検査用部品データ71bおよび部品中心検出方式データ71cが含まれている。 As shown in FIG. 7, the inspection device control unit 55 includes an inspection device storage unit 61, a mounted component position calculation unit 62, an inspection reference position change unit 63, a difference calculation unit 64, a first position deviation amount calculation unit 65, and a second. It includes a misalignment amount calculation unit 66, a quality determination unit 67, and an inspection device communication unit 68. The inspection device storage unit 61 stores inspection data 71, target mounting position data 72, and inspection reference position data 73. The inspection data 71 includes an inspection program 71a, inspection component data 71b, and component center detection method data 71c.

検査プログラム71aは、検査装置12の各部(基板搬送部51、カメラ移動機構52および検査カメラ53等)を動作させる制御プログラムである。検査装置12の各部は検査プログラム71aに従って動作することで、部品装着装置11によって基板KBに装着された各部品BHの装着状態の良否判定を行う。 The inspection program 71a is a control program for operating each part of the inspection device 12 (board transfer unit 51, camera moving mechanism 52, inspection camera 53, etc.). Each part of the inspection device 12 operates according to the inspection program 71a, so that the component mounting device 11 determines whether or not the mounted state of each component BH mounted on the board KB is good or bad.

検査用部品データ71bは検査対象となる部品BHのデータである。検査用部品データ71bには、装着装置記憶部31に記憶された部品データ41cの内容を含むデータが記録されている。 The inspection part data 71b is the data of the part BH to be inspected. In the inspection component data 71b, data including the contents of the component data 41c stored in the mounting device storage unit 31 is recorded.

部品中心検出方式データ71cには、基板KBに装着された部品BHの中心(部品中心)を検出する際に用いる部品中心の検出方式のデータが記録されている。この部品中心検出方式データ71cに記録されている部品中心の検出方式は、部品装着装置11のピックアップ部品位置検出部43がピックアップ部品位置を検出する際に用いる部品中心の検出方式(図5(a)~(e))と同じである。 In the component center detection method data 71c, data of the component center detection method used when detecting the center (component center) of the component BH mounted on the substrate KB is recorded. The component center detection method recorded in the component center detection method data 71c is a component center detection method used by the pickup component position detection unit 43 of the component mounting device 11 to detect the pickup component position (FIG. 5 (a). )-(E)).

目標装着位置データ72は、基板KB上に設定された目標装着位置MKのデータである。目標装着位置データ72は、検査装置12が部品装着装置11から目標装着位置データ41aを入手できる場合には、その入手した目標装着位置データ41aをそのまま目標装着位置データ72とすることができる。 The target mounting position data 72 is data of the target mounting position MK set on the board KB. In the target mounting position data 72, when the inspection device 12 can obtain the target mounting position data 41a from the component mounting device 11, the obtained target mounting position data 41a can be used as the target mounting position data 72 as it is.

これに対し、検査装置12が部品装着装置11から目標装着位置データ41aを入手できない場合には、検査装置12は部品装着装置11によって部品BHが装着されたダミーの基板KBを検査カメラ53により撮像し、目標装着位置MKに相当する位置を検出することによって目標装着位置データ72を作成する。前者の方法は、部品装着装置11と検査装置12が同じメーカによって製造された場合に多く採用され、後者の方法は、部品装着装置11と検査装置12が異なるメーカによって製造された場合に多く採用される。 On the other hand, when the inspection device 12 cannot obtain the target mounting position data 41a from the component mounting device 11, the inspection device 12 captures the dummy substrate KB on which the component BH is mounted by the component mounting device 11 with the inspection camera 53. Then, the target mounting position data 72 is created by detecting the position corresponding to the target mounting position MK. The former method is often adopted when the component mounting device 11 and the inspection device 12 are manufactured by the same manufacturer, and the latter method is often adopted when the component mounting device 11 and the inspection device 12 are manufactured by different manufacturers. Will be done.

検査基準位置データ73は、基板KBに装着された部品BHの検査用の基準位置である検査基準位置KK(図8)のデータである。検査基準位置KKは当初は目標装着位置MKと一致しているが、後述するように、検査基準位置KKは検査基準位置変更部63を通じて変更することができ、検査基準位置KKを変更した場合には、目標装着位置MKとは異なる位置(座標)となる。図8は、検査基準位置KKが当初の位置から変更された状態を示している。 The inspection reference position data 73 is data of the inspection reference position KK (FIG. 8), which is a reference position for inspection of the component BH mounted on the substrate KB. The inspection reference position KK initially coincides with the target mounting position MKK, but as will be described later, the inspection reference position KK can be changed through the inspection reference position changing unit 63, and when the inspection reference position KK is changed. Is a position (coordinates) different from the target mounting position MK. FIG. 8 shows a state in which the inspection reference position KK has been changed from the initial position.

装着部品位置算出部62は、検査装置記憶部61に記憶されている部品中心検出方式データ71cに基づき、検査カメラ53によって取得した画像(検査画像)から、基板KBに装着された部品BHの基板KB上での位置(部品中心の位置)である装着部品位置Z(図9(a))を算出する。装着部品位置Zを検出する際に用いられる部品中心の検出方式は、部品BHごとに定められている。 The mounted component position calculation unit 62 is the substrate of the component BH mounted on the substrate KB from the image (inspection image) acquired by the inspection camera 53 based on the component center detection method data 71c stored in the inspection device storage unit 61. The mounted component position Z (FIG. 9A), which is the position on the KB (the position at the center of the component), is calculated. The component-centered detection method used when detecting the mounted component position Z is defined for each component BH.

このように検査カメラ53と検査装置制御部55の装着部品位置算出部62は、基板KBに装着された部品BHの基板KB上での位置を装着部品位置Zとして検出する装着部品位置検出部69(図7)となっている。ここで、装着部品位置検出部69は、検出対象となっている部品BHがリードRDを有する場合には、その部品BHが有するリードRDの測定に関するリード計測基準(リードRDの座標等)に基づいて、その部品BHの部品中心を検出する(前述の図5(d))。 In this way, the mounted component position calculation unit 62 of the inspection camera 53 and the inspection device control unit 55 detects the position of the component BH mounted on the board KB on the board KB as the mounted component position Z. (Fig. 7). Here, when the component BH to be detected has a lead RD, the mounted component position detection unit 69 is based on a lead measurement standard (coordinates of the lead RD, etc.) relating to the measurement of the lead RD possessed by the component BH. Then, the component center of the component BH is detected (FIG. 5 (d) described above).

検査基準位置変更部63は、検査基準位置KKを変更する機能部である。部品装着システム1では、基板生産を開始する前に、検査基準位置KKの取得(設定)のために用意されたダミーの基板KBに対して部品BHを装着し、ダミーの基板KBに装着された各部品BHのダミーの基板KB上における位置(部品中心の位置)を装着部品位置検出部69によって検出する。検査基準位置KKは、前述したように当初は目標装着位置MKと一致しているが、検査基準位置変更部63は、その検出された基板KB上の部品BHの位置(装着部品位置Z)を、目標装着位置MKに替えて、新たな検査基準位置KKとして設定(変更)することができる(図9(a)→図9(b))。このような検査基準位置KKの変更操作は、検査装置表示入力部54から行うことができる。 The inspection reference position changing unit 63 is a functional unit that changes the inspection reference position KK. In the component mounting system 1, the component BH is mounted on the dummy board KB prepared for acquiring (setting) the inspection reference position KK before the board production is started, and the component BH is mounted on the dummy board KB. The position (position of the center of the component) of each component BH on the dummy substrate KB is detected by the mounted component position detecting unit 69. As described above, the inspection reference position KK initially coincides with the target mounting position MK, but the inspection reference position changing unit 63 determines the position of the component BH (mounting component position Z) on the detected board KB. , The target mounting position MK can be set (changed) as a new inspection reference position KK (FIG. 9 (a) → FIG. 9 (b)). Such an operation of changing the inspection reference position KK can be performed from the inspection device display input unit 54.

検査基準位置KKが変更(新たに設定)された場合には、変更後の検査基準位置KKのデータが検査基準位置データ73として検査装置記憶部61に記憶される。検査基準位置KKの変更は複数回行うことが可能である。 When the inspection reference position KK is changed (newly set), the data of the changed inspection reference position KK is stored in the inspection device storage unit 61 as the inspection reference position data 73. The inspection reference position KK can be changed multiple times.

図7において、差分算出部64は、差分演算部64Aと差分記憶部64Bを備えている。差分演算部64Aは、目標装着位置MKと検査基準位置KKとの間の差分δ(δX,δY)を算出する(図10)。具体的には、各部品BHについて、目標装着位置データ72から読み出した目標装着位置MKと検査基準位置データ73から読み出した検査基準位置KKのX座標とY座標それぞれの差を求めることによって、その部品BHについての差分δ(δX,δY)を算出する。差分算出部64は、検査基準位置変更部63を通じて検査基準位置KKが変更された場合は、その都度、部品BHごとの差分δ(δX,δY)を算出する。 In FIG. 7, the difference calculation unit 64 includes a difference calculation unit 64A and a difference storage unit 64B. The difference calculation unit 64A calculates the difference δ (δX, δY) between the target mounting position MK and the inspection reference position KK (FIG. 10). Specifically, for each component BH, the difference between the X coordinate and the Y coordinate of the target mounting position MK read from the target mounting position data 72 and the inspection reference position KK read from the inspection reference position data 73 is obtained. The difference δ (δX, δY) for the component BH is calculated. The difference calculation unit 64 calculates the difference δ (δX, δY) for each component BH each time the inspection reference position KK is changed through the inspection reference position change unit 63.

差分記憶部64Bは、差分演算部64Aが算出した目標装着位置MKと検査基準位置KKとの間の差分δ(δX,δY)を部品BHごとに記憶する。検査基準位置KKが変更された場合には変更後の検査基準位置KKについての差分δ(δX,δY)のみが記憶されればよく、過去の検査基準位置KKについての差分δ(δX,δY)については消去されてもよい。 The difference storage unit 64B stores the difference δ (δX, δY) between the target mounting position MK and the inspection reference position KK calculated by the difference calculation unit 64A for each component BH. When the inspection reference position KK is changed, only the difference δ (δX, δY) for the changed inspection reference position KK needs to be stored, and the difference δ (δX, δY) for the past inspection reference position KK is required. May be erased.

第1位置ずれ量算出部65は、基板KBに装着された部品BHの位置と基板KBに対して設定された検査基準位置KKとを比較することによって、検査基準位置KKからの部品BHの位置ずれ量である第1位置ずれ量ΔZ1を算出する。具体的には、装着部品位置検出部69により検出された装着部品位置Zと、検査基準位置データ73から読み出したその部品BHについての検査基準位置KKのX座標とY座標それぞれの差を求めることによって、第1位置ずれ量ΔZ1(ΔX1,ΔY1)を算出する(図10)。 The first position deviation amount calculation unit 65 compares the position of the component BH mounted on the board KB with the inspection reference position KK set for the board KB, and thereby, the position of the component BH from the inspection reference position KK. The first position deviation amount ΔZ1, which is the deviation amount, is calculated. Specifically, the difference between the X-coordinate and the Y-coordinate of the inspection reference position KK for the component BH read from the inspection reference position data 73 and the mounting component position Z detected by the mounting component position detection unit 69 is obtained. The first positional deviation amount ΔZ1 (ΔX1, ΔY1) is calculated (FIG. 10).

第2位置ずれ量算出部66は、目標装着位置MKからの部品BHの位置ずれ量である第2位置ずれ量ΔZ2(ΔX2,ΔY2)を算出する。具体的には、差分算出部64により算出された差分δ(δX,δY)を、第1位置ずれ量算出部65により算出された第1位置ずれ量ΔZ1(ΔX1,ΔY1)に加算することによって(ΔX2=ΔX1+δX,ΔY2=ΔY1+δY)、第2位置ずれ量ΔZ2(ΔX2,ΔY2)を算出する(図10)。なお、検査基準位置KKが変更される場合には、差分算出部64は、検査基準位置KKが変更されるごとに、目標装着位置MKと変更後の検査基準位置KKとを比較して部品BHごとの差分δ(δX,δY)を算出する。 The second misalignment amount calculation unit 66 calculates the second misalignment amount ΔZ2 (ΔX2, ΔY2), which is the misalignment amount of the component BH from the target mounting position MK. Specifically, by adding the difference δ (δX, δY) calculated by the difference calculation unit 64 to the first position deviation amount ΔZ1 (ΔX1, ΔY1) calculated by the first position deviation amount calculation unit 65. (ΔX2 = ΔX1 + δX, ΔY2 = ΔY1 + δY), the second position shift amount ΔZ2 (ΔX2, ΔY2) is calculated (FIG. 10). When the inspection reference position KK is changed, the difference calculation unit 64 compares the target mounting position MKK with the changed inspection reference position KK each time the inspection reference position KK is changed, and the component BH. The difference δ (δX, δY) for each is calculated.

良否判定部67は、第1位置ずれ量算出部65により算出された第1位置ずれ量ΔZ1(ΔX1,ΔY1)に基づいて、基板KB上に装着された各部品BHの装着状態の良否判定を行う。具体的には、第1位置ずれ量算出部65で算出された第1位置ずれ量ΔZ1(ΔX1,ΔY1)のXY各成分を、その部品BHに対応して定められている許容値のXY各成分と比較し、第1位置ずれ量ΔZ1(ΔX1,ΔY1)が許容値以下であるか否かを調べる。そして、第1位置ずれ量ΔZ1(ΔX1,ΔY1)が許容値以下であった場合にはその部品BHの装着状態は良好であると判定し、第1位置ずれ量ΔZ1(ΔX1,ΔY1)が許容値を超えていた場合にはその部品BHの装着状態は不良であると判定する。 The quality determination unit 67 determines the quality of the mounted state of each component BH mounted on the substrate KB based on the first position shift amount ΔZ1 (ΔX1, ΔY1) calculated by the first position shift amount calculation unit 65. conduct. Specifically, each component of XY of the first misalignment amount ΔZ1 (ΔX1, ΔY1) calculated by the first misalignment amount calculation unit 65 is XY of the allowable value determined corresponding to the component BH. It is examined whether or not the first misalignment amount ΔZ1 (ΔX1, ΔY1) is equal to or less than the allowable value by comparing with the components. When the first misalignment amount ΔZ1 (ΔX1, ΔY1) is equal to or less than the permissible value, it is determined that the mounting state of the component BH is good, and the first misalignment amount ΔZ1 (ΔX1, ΔY1) is permissible. If it exceeds the value, it is determined that the mounted state of the component BH is defective.

例えば、第1位置ずれ量ΔZ1(ΔX1,ΔY1)の許容値のX成分がRX、Y成分がRYであるとすると、良否判定部67は、ΔX1≦RXかつΔY1≦RYであった場合には、部品BHの装着状態が良好であると判定する。一方、良否判定部67は、ΔX1>RXまたはΔY1>RYであった場合には、部品BHの装着状態は不良であると判定する。なお、各部品BHについての許容値のデータは検査装置記憶部61に記憶されている。 For example, assuming that the X component of the allowable value of the first misalignment amount ΔZ1 (ΔX1, ΔY1) is RX and the Y component is RY, the pass / fail determination unit 67 may have ΔX1 ≦ RX and ΔY1 ≦ RY. , It is determined that the mounted state of the component BH is good. On the other hand, when the quality determination unit 67 determines that ΔX1> RX or ΔY1> RY, the mounting state of the component BH is defective. The allowable value data for each component BH is stored in the inspection device storage unit 61.

検査装置通信部68は、管理装置13および部品装着装置11の双方と通信可能に繋がっている(図7)。検査装置通信部68は、第2位置ずれ量算出部66で算出された各部品BHについての第2位置ずれ量ΔZ2のデータのほか、良否判定部67で判定された基板KB上の各部品BHについての良否判定結果の情報を出力(管理装置13に送信)する。このように検査装置通信部68は、第2位置ずれ量算出部66により算出された第2位置ずれ量ΔZ2を出力する出力部となっている。 The inspection device communication unit 68 is connected to both the management device 13 and the component mounting device 11 so as to be able to communicate (FIG. 7). In the inspection device communication unit 68, in addition to the data of the second position deviation amount ΔZ2 for each component BH calculated by the second position deviation amount calculation unit 66, each component BH on the substrate KB determined by the quality determination unit 67 The information of the pass / fail judgment result is output (transmitted to the management device 13). As described above, the inspection device communication unit 68 is an output unit that outputs the second position deviation amount ΔZ2 calculated by the second position deviation amount calculation unit 66.

図11において、管理装置13は、管理装置記憶部81、管理装置通信部82および管理装置表示入力部83を備えている。管理装置記憶部81には、部品装着装置11の装着装置記憶部31に記憶されている生産データ41のマスターデータである生産マスターデータ91と、検査装置12の検査装置記憶部61に記憶されている検査データ71のマスターデータである検査マスターデータ92が記憶されている。 In FIG. 11, the management device 13 includes a management device storage unit 81, a management device communication unit 82, and a management device display input unit 83. The management device storage unit 81 stores the production master data 91, which is the master data of the production data 41 stored in the mounting device storage unit 31 of the component mounting device 11, and the inspection device storage unit 61 of the inspection device 12. The inspection master data 92, which is the master data of the inspection data 71, is stored.

図11に示すように、管理装置記憶部81には、検査情報93が記憶される。検査情報93は、検査装置12で検査された結果(各部品BHについての第2位置ずれ量ΔZ2のデータや良否判定の結果)等のデータである。 As shown in FIG. 11, the inspection information 93 is stored in the management device storage unit 81. The inspection information 93 is data such as the result of inspection by the inspection device 12 (data of the second position deviation amount ΔZ2 for each component BH and the result of quality determination).

管理装置通信部82は、部品装着装置11および検査装置12の双方と通信可能に繋がっている。管理装置通信部82は、検査装置12より送られてきた各部品BHについての検査結果のデータを部品装着装置11に送信(転送)する。 The management device communication unit 82 is connected to both the component mounting device 11 and the inspection device 12 so as to be able to communicate with each other. The management device communication unit 82 transmits (transfers) the inspection result data for each component BH sent from the inspection device 12 to the component mounting device 11.

次に、部品装着装置11の装着装置制御部27が備えるフィードバック処理部34について説明する。フィードバック処理部34は前述したように、補正部44および情報集計部45を備えている。補正部44は、検査装置12で算出されて出力され、管理装置13を経由して送られてきた各部品BHについての第2位置ずれ量ΔZ2のデータを受け取る。そして、その受け取った各部品BHについての第2位置ずれ量ΔZ2のデータに基づいて、装着ヘッド23の動作パラメータの補正値を算出し、その算出した補正値を用いて動作パラメータを補正する。なお、補正値は、基板KBにおける目標装着位置MKごとに複数のデータ(部品BHの位置ずれデータ)を蓄積し、統計的な手法によって補正値を算出する。 Next, the feedback processing unit 34 included in the mounting device control unit 27 of the component mounting device 11 will be described. As described above, the feedback processing unit 34 includes a correction unit 44 and an information aggregation unit 45. The correction unit 44 receives the data of the second position deviation amount ΔZ2 for each component BH calculated and output by the inspection device 12 and sent via the management device 13. Then, the correction value of the operation parameter of the mounting head 23 is calculated based on the data of the second position deviation amount ΔZ2 for each received component BH, and the operation parameter is corrected using the calculated correction value. As the correction value, a plurality of data (positional deviation data of the component BH) are accumulated for each target mounting position MK on the board KB, and the correction value is calculated by a statistical method.

情報集計部45は、管理装置13を通じて検査装置12から送られてきた各部品BHについての情報を集計する。具体的には、情報集計部45は、検査装置12から送られてきた各部品BHについての第2位置ずれ量ΔZ2のデータの情報を用いて部品BHの装着精度に関する情報を集計する。 The information aggregation unit 45 aggregates information about each component BH sent from the inspection device 12 through the management device 13. Specifically, the information aggregation unit 45 aggregates information on the mounting accuracy of the component BH using the data information of the second position deviation amount ΔZ2 for each component BH sent from the inspection device 12.

次に、このような構成の部品装着システム1により、基板KBに部品BHを装着する部品装着作業を行って実装基板(部品BHが装着された基板KB)を製造する手順(基板製造方法)およびこの基板製造方法に含まれる基板KB上に設定された目標装着位置MKに装着された部品BHを検査する検査方法について説明する。実装基板を製造する場合には、部品装着システム1は先ず、部品装着装置11が基板搬送路21によって上流の装置(例えば半田印刷装置)から基板KBを受け取り、所定の部品装着作業位置に位置決めする(位置決め工程)。基板KBが部品装着作業位置に位置決めされたら、装着ヘッド23が部品供給部22の上方に移動し、部品供給部22によって供給される部品BHをノズル23Nによりピックアップする(ピックアップ工程)。 Next, a procedure (board manufacturing method) for manufacturing a mounting board (board KB on which the part BH is mounted) by performing a component mounting operation for mounting the part BH on the board KB by the component mounting system 1 having such a configuration. An inspection method for inspecting the component BH mounted on the target mounting position MK set on the board KB included in this board manufacturing method will be described. When manufacturing a mounting board, the component mounting system 1 first receives the board KB from an upstream device (for example, a solder printing device) by the component mounting device 11 through the board transfer path 21 and positions the board KB at a predetermined component mounting work position. (Positioning process). When the board KB is positioned at the component mounting work position, the mounting head 23 moves above the component supply unit 22 and picks up the component BH supplied by the component supply unit 22 by the nozzle 23N (pickup process).

装着ヘッド23は、部品BHをノズル23Nによりピックアップしたら、部品認識カメラ25の上方を通過するように移動し、部品認識カメラ25は部品BHの画像を取得する(ピックアップ部品画像取得工程)。部品装着装置11は、装着ヘッド23にピックアップされた部品BHの画像を取得したら、生産データ41に含まれる部品中心検出方式データ41dに基づいて、装着ヘッド23にピックアップされた部品BHのノズル23Nに対する部品中心の位置(ピックアップ部品位置)を検出する(ピックアップ部品位置検出工程)。そして、所定の場合に動作パラメータの補正を行ったうえで(補正工程)、装着ヘッド23によりピックアップした部品BHを基板KB上の目標装着位置MKに装着する(部品装着工程)。部品装着装置11は、基板KBに装着すべき部品BHを全て装着したら、その基板KBを下流の検査装置12に搬出して(基板搬出工程)、基板KBの1枚当たりの部品装着作業を終了する。 After the component BH is picked up by the nozzle 23N, the mounting head 23 moves so as to pass above the component recognition camera 25, and the component recognition camera 25 acquires an image of the component BH (pickup component image acquisition step). After the component mounting device 11 acquires the image of the component BH picked up by the mounting head 23, the component mounting device 11 with respect to the nozzle 23N of the component BH picked up by the mounting head 23 based on the component center detection method data 41d included in the production data 41. The position of the center of the component (pickup component position) is detected (pickup component position detection process). Then, after correcting the operation parameters in a predetermined case (correction step), the component BH picked up by the mounting head 23 is mounted on the target mounting position MK on the board KB (component mounting process). When the component mounting device 11 mounts all the components BH to be mounted on the board KB, the board KB is carried out to the downstream inspection device 12 (board unloading process), and the component mounting work per board KB is completed. do.

図12に示すフローチャートは、検査装置12が行う検査作業の流れを示している。検査装置12は、検査作業を行う場合には先ず、部品装着装置11から基板KBを受け取って搬入し、所定の検査作業位置に位置決めする(ステップST1。基板位置決め工程)。基板KBが検査作業位置に位置決めされたら、検査カメラ53が基板KBの上方を移動しつつ、基板KB上に装着された各部品BHについての画像(検査画像)を取得する(ステップST2。検査画像取得工程)。 The flowchart shown in FIG. 12 shows the flow of inspection work performed by the inspection device 12. When performing inspection work, the inspection device 12 first receives the board KB from the component mounting device 11 and carries it in, and positions the board KB at a predetermined inspection work position (step ST1; board positioning step). When the board KB is positioned at the inspection work position, the inspection camera 53 moves above the board KB and acquires an image (inspection image) of each component BH mounted on the board KB (step ST2. Inspection image). Acquisition process).

検査装置12は、基板KB上の各部品BHについての検査画像を取得したら、その取得した検査画像に基づいて、基板KBに装着された各部品BHの装着部品位置Zを検出する(ステップST3。装着部品位置検出工程)。この装着部品位検出工程において、検査装置12は、検査データ71に含まれる部品中心検出方式データ71cに基づいて、基板KBに装着された部品BHの中心の位置を検出する。 After acquiring the inspection image for each component BH on the board KB, the inspection device 12 detects the mounted component position Z of each component BH mounted on the board KB based on the acquired inspection image (step ST3. Mounting component position detection process). In this mounted component position detection step, the inspection device 12 detects the position of the center of the component BH mounted on the substrate KB based on the component center detection method data 71c included in the inspection data 71.

検査装置12は、ステップST3で装着部品位置Zを検出したら、各部品BHについての検査基準位置KKを検査基準位置データ73から読み出す。そして、各部品BHについて、検出した装着部品位置Z(すなわち、基板KBに装着された部品BHの位置)と、基板KBに対して設定された検査基準位置KKとを比較することによって、検査基準位置KKからの部品BHの位置ずれ量である第1位置ずれ量ΔZ1を算出する(ステップST4。第1位置ずれ量算出工程)。 When the inspection device 12 detects the mounted component position Z in step ST3, the inspection device 12 reads out the inspection reference position KK for each component BH from the inspection reference position data 73. Then, for each component BH, the detected mounting component position Z (that is, the position of the component BH mounted on the board KB) is compared with the inspection reference position KK set for the board KB to perform the inspection standard. The first position deviation amount ΔZ1 which is the position deviation amount of the component BH from the position KK is calculated (step ST4, the first position deviation amount calculation step).

検査装置12は、第1位置ずれ量ΔZ1を算出したら、その算出した第1位置ずれ量ΔZ1に基づいて、基板KBに装着された各部品BHについての装着状態の良否を判定する(ステップST5。良否判定工程)。そして、検査装置12は、各部品BHについての装着状態の良否を判定したら、差分算出部64において、目標装着位置MKと検査基準位置KKとの間の差分δ(δX,δY)を算出する(ステップST6。差分算出工程)。 After calculating the first position shift amount ΔZ1, the inspection device 12 determines whether or not the mounted state of each component BH mounted on the substrate KB is good or bad based on the calculated first position shift amount ΔZ1 (step ST5. Pass / fail judgment process). Then, after the inspection device 12 determines whether or not the mounting state of each component BH is good or bad, the difference calculation unit 64 calculates the difference δ (δX, δY) between the target mounting position MK and the inspection reference position KK (δX, δY). Step ST6. Difference calculation step).

検査装置12は、ステップST6において目標装着位置MKと検査基準位置KKとの間の差分δ(δX,δY)を算出したら、その算出した差分δ(δX,δY)をステップST4で算出した第1位置ずれ量ΔZ1に加算することによって、目標装着位置MKからの部品BHの位置ずれ量である第2位置ずれ量ΔZ2を算出する(ステップST7。第2位置ずれ量算出工程)。 The inspection device 12 calculates the difference δ (δX, δY) between the target mounting position MK and the inspection reference position KK in step ST6, and then calculates the calculated difference δ (δX, δY) in step ST4. By adding to the misalignment amount ΔZ1, the second misalignment amount ΔZ2, which is the misalignment amount of the component BH from the target mounting position MK, is calculated (step ST7, second position misalignment amount calculation step).

検査装置12は、第2位置ずれ量ΔZ2を算出したら、良否判定工程で判定した各部品BHについての良否判定結果と、第2位置ずれ量算出工程で第2位置ずれ量算出部66により算出した第2位置ずれ量ΔZ2を、フィードバックデータとして、検査装置通信部68から管理装置13に出力する(ステップST8。出力工程)。そして、基板KB上の全ての部品BHについての検査が終了したら、その基板KBを下流に搬出して(ステップST9。基板搬出工程)、基板KBの1枚当たりの検査作業を終了する。 After calculating the second position deviation amount ΔZ2, the inspection device 12 calculated the quality determination result for each component BH determined in the quality determination step and the second position deviation amount calculation unit 66 in the second position deviation amount calculation process. The second misalignment amount ΔZ2 is output as feedback data from the inspection device communication unit 68 to the management device 13 (step ST8, output step). Then, when the inspection of all the component BHs on the substrate KB is completed, the substrate KB is carried out downstream (step ST9, the substrate carrying-out process), and the inspection work for each of the substrate KB is completed.

管理装置13は、検査装置12から各部品BHについての第2位置ずれ量ΔZ2のデータを受け取ったら、その受け取ったデータを検査情報93として管理装置記憶部81に記憶する。そして、その記憶した各部品BHについての第2位置ずれ量ΔZ2のデータを、部品装着装置11に送信(転送する)。部品装着装置11は、管理装置13から第2位置ずれ量ΔZ2のデータを受け取ったら、その第2位置ずれ量ΔZ2のデータを、前述の位置ずれ量データ42として、装着装置記憶部31に記憶する。 When the management device 13 receives the data of the second misalignment amount ΔZ2 for each component BH from the inspection device 12, the management device 13 stores the received data as inspection information 93 in the management device storage unit 81. Then, the data of the second position deviation amount ΔZ2 for each stored component BH is transmitted (transferred) to the component mounting device 11. When the component mounting device 11 receives the data of the second position shift amount ΔZ2 from the management device 13, the component mounting device 11 stores the data of the second position shift amount ΔZ2 in the mounting device storage unit 31 as the above-mentioned position shift amount data 42. ..

部品装着装置11は、検査装置12からのフィードバックデータとしての第2位置ずれ量ΔZ2のデータを管理装置13から受け取ったら、その第2位置ずれ量ΔZ2のデータを位置ずれ量データ42として装着装置記憶部31に記憶する。そして、必要なデータ数が集まった場合には、フィードバック処理部34の補正部44が、第2位置ずれ量ΔZ2に基づいて動作パラメータの補正値を算出する。動作パラメータの補正値が算出されたら、部品装着装置11は、その算出された補正値を用いて部品装着工程における装着ヘッド23の動作パラメータを補正する(前述の補正工程)。このため装着ヘッド23は補正された動作パラメータを用いて部品BHを基板KBに装着することになり、部品BHは高い装着精度で基板KBに装着されることになる。 When the component mounting device 11 receives the data of the second misalignment amount ΔZ2 as the feedback data from the inspection device 12 from the management device 13, the component mounting device 11 stores the data of the second misalignment amount ΔZ2 as the misalignment amount data 42. Store in unit 31. Then, when the required number of data is collected, the correction unit 44 of the feedback processing unit 34 calculates the correction value of the operation parameter based on the second position deviation amount ΔZ2. After the correction value of the operation parameter is calculated, the component mounting device 11 corrects the operation parameter of the mounting head 23 in the component mounting process by using the calculated correction value (correction step described above). Therefore, the mounting head 23 mounts the component BH on the board KB using the corrected operation parameters, and the component BH is mounted on the board KB with high mounting accuracy.

部品装着装置11はまた、記憶した第2位置ずれ量ΔZ2のデータに基づいて、情報集計部45により、部品BHの装着精度に関する情報を集計する(情報集計工程)。この情報集計工程では、例えば第2位置ずれ量ΔZ2の変化を時系列に沿って集計し、動作パラメータの補正によって第2位置ずれ量ΔZ2が次第に小さくなっていく状態を確認できるデータを作成する。 The component mounting device 11 also aggregates information regarding the mounting accuracy of the component BH by the information aggregation unit 45 based on the stored data of the second position deviation amount ΔZ2 (information aggregation step). In this information aggregation step, for example, changes in the second position deviation amount ΔZ2 are aggregated in chronological order, and data is created that can confirm the state in which the second position deviation amount ΔZ2 gradually becomes smaller by correcting the operation parameters.

このように実施の形態1において、検査装置12は、基板KBに対して設定された検査基準位置KKからの部品BHの位置ずれ量である第1位置ずれ量ΔZ1を算出するだけでなく、目標装着位置MKと検査基準位置KKとの間の差分δを算出し、その算出した差分δを第1位置ずれ量ΔZ1に加算することによって、目標装着位置MKからの部品BHの位置ずれ量である第2位置ずれ量ΔZ2を算出するようになっている。そして、基板KBに装着された部品BHの装着状態の良否の判定を第1位置ずれ量ΔZ1に基づいて行う一方、算出した第2の位置ずれ量ΔZ2をフィードバックデータとして部品装着装置11に出力するようになっている。このため、部品装着装置11は部品BHの装着時の基準である目標装着位置MKを基準とする位置ずれ量(第2位置ずれ量ΔZ2)で装着ヘッド23の動作パラメータの補正値を求めることができ、部品BHの装着精度を向上させることができる。 As described above, in the first embodiment, the inspection device 12 not only calculates the first misalignment amount ΔZ1 which is the misalignment amount of the component BH from the inspection reference position KK set for the substrate KB, but also targets the target. By calculating the difference δ between the mounting position MK and the inspection reference position KK and adding the calculated difference δ to the first position deviation amount ΔZ1, it is the position deviation amount of the component BH from the target mounting position MK. The second misalignment amount ΔZ2 is calculated. Then, the quality of the mounted state of the component BH mounted on the board KB is determined based on the first position shift amount ΔZ1, while the calculated second position shift amount ΔZ2 is output to the component mounting device 11 as feedback data. It has become like. Therefore, the component mounting device 11 can obtain the correction value of the operation parameter of the mounting head 23 by the position deviation amount (second position deviation amount ΔZ2) based on the target mounting position MK, which is the reference when the component BH is mounted. It is possible to improve the mounting accuracy of the component BH.

(実施の形態2)
次に、本発明の実施の形態2について説明する。実施の形態2が実施の形態1と異なるところは、検査装置12が備える検査装置制御部55の構成および動作(第2位置ずれ量ΔZ2の算出手順)のみである。
(Embodiment 2)
Next, Embodiment 2 of the present invention will be described. The only difference between the second embodiment and the first embodiment is the configuration and operation of the inspection device control unit 55 included in the inspection device 12 (procedure for calculating the second misalignment amount ΔZ2).

図13において、実施の形態2では、検査装置制御部55の差分算出部64が、実施の形態1における差分演算部64Aと差分記憶部64Bの代わりに、オフセット量算出部64Cとオフセット量累積値記憶部64Dを備えている。オフセット量算出部64Cは、検査基準位置KKを変更した場合の変更前の検査基準位置(図14において符号「KK(n-1)」で示す)と変更後の検査基準位置(図14において符号「KK(n)」で示す)との間の差分であるオフセット量δm(δmX,δmY)を算出し、オフセット量累積値記憶部64Dは、オフセット量算出部64Cで算出されたオフセット量δm(δmX,δmY)を順次累積して得られるオフセット量累積値Σδm(ΣδmX,ΣδmY)を記憶するようになっている。 In FIG. 13, in the second embodiment, the difference calculation unit 64 of the inspection device control unit 55 replaces the difference calculation unit 64A and the difference storage unit 64B in the first embodiment with the offset amount calculation unit 64C and the offset amount cumulative value. It has a storage unit 64D. The offset amount calculation unit 64C has the inspection reference position before the change (indicated by the reference numeral “KK (n-1)” in FIG. 14) and the inspection reference position after the change (reference numeral in FIG. 14) when the inspection reference position KK is changed. The offset amount δm (δmX, δmY), which is the difference from (indicated by “KK (n)”), is calculated, and the offset amount cumulative value storage unit 64D uses the offset amount δm (definition amount δm) calculated by the offset amount calculation unit 64C. The cumulative offset amount Σδm (ΣδmX, ΣδmY) obtained by sequentially accumulating δmX, δmY) is stored.

実施の形態2では、オフセット量累積値記憶部64Dに記憶されたオフセット量累積値Σδm(ΣδmX,ΣδmY)が、実施の形態1における差分δ(δX,δY)に相当する。よって、第1位置ずれ量算出部65により算出された第1位置ずれ量ΔZ1(ΔX1,ΔY1)に、オフセット量累積値記憶部64Dに記憶されたオフセット量累積値Σδm(ΣδmX,ΣδmY)を加算することによって、装着部品位置Zの目標装着位置MKからの位置ずれ量である第2位置ずれ量ΔZ2(ΔX2,ΔY2)を算出することができる(図14)。具体的には、演算ΔX2=ΔX1+ΣδmX,ΔY2=ΔY1+ΣδmYによって、第2位置ずれ量ΔZ2(ΔX2,ΔY2)を求めることができる。 In the second embodiment, the offset amount cumulative value Σδm (ΣδmX, ΣδmY) stored in the offset amount cumulative value storage unit 64D corresponds to the difference δ (δX, δY) in the first embodiment. Therefore, the offset amount cumulative value Σδm (ΣδmX, ΣδmY) stored in the offset amount cumulative value storage unit 64D is added to the first position shift amount ΔZ1 (ΔX1, ΔY1) calculated by the first position shift amount calculation unit 65. By doing so, it is possible to calculate the second position deviation amount ΔZ2 (ΔX2, ΔY2), which is the position deviation amount of the mounting component position Z from the target mounting position MK (FIG. 14). Specifically, the second position shift amount ΔZ2 (ΔX2, ΔY2) can be obtained by the calculation ΔX2 = ΔX1 + ΣδmX, ΔY2 = ΔY1 + ΣδmY.

このように実施の形態2において、検査装置12は、基板KBに対して設定された検査基準位置KKからの部品BHの位置ずれ量である第1位置ずれ量ΔZ1を算出するだけでなく、変更前の検査基準位置KKと変更後の検査基準位置KKとの間のオフセット量δm(δmX,δmY)を順次累積して得られるオフセット量累積値Σδm(ΣδmX,ΣδmY)から差分δ(δX,δY)を算出し、その算出した差分δを第1位置ずれ量ΔZ1に加算することによって、目標装着位置MKからの部品BHの位置ずれ量である第2位置ずれ量ΔZ2を算出するようになっている。そして、基板KBに装着された部品BHの装着状態の良否の判定を第1位置ずれ量ΔZ1に基づいて行う一方、算出した第2の位置ずれ量ΔZ2をフィードバックデータとして部品装着装置11に出力するようになっている。このため、部品装着装置11は部品BHの装着時の基準である目標装着位置MKを基準とする位置ずれ量(第2位置ずれ量ΔZ2)で装着ヘッド23の動作パラメータの補正値を求めることができ、実施の形態1の場合と同様に、部品BHの装着精度を向上させることができる。 As described above, in the second embodiment, the inspection device 12 not only calculates the first misalignment amount ΔZ1 which is the misalignment amount of the component BH from the inspection reference position KK set for the substrate KB, but also modifies it. Difference δ (δX, δY) from the cumulative offset amount Σδm (ΣδmX, ΣδmY) obtained by sequentially accumulating the offset amount δm (δmX, δmY) between the previous inspection reference position KK and the changed inspection reference position KK. ), And the calculated difference δ is added to the first position shift amount ΔZ1 to calculate the second position shift amount ΔZ2 which is the position shift amount of the component BH from the target mounting position MK. There is. Then, the quality of the mounted state of the component BH mounted on the board KB is determined based on the first position shift amount ΔZ1, while the calculated second position shift amount ΔZ2 is output to the component mounting device 11 as feedback data. It has become like. Therefore, the component mounting device 11 can obtain the correction value of the operation parameter of the mounting head 23 by the position deviation amount (second position deviation amount ΔZ2) based on the target mounting position MK, which is the reference when the component BH is mounted. It is possible to improve the mounting accuracy of the component BH as in the case of the first embodiment.

(実施の形態3)
次に、本発明の実施の形態3について説明する。実施の形態3が実施の形態1,2と異なるところは、検査装置12が備える検査装置制御部55の構成および動作(第2位置ずれ量ΔZ2の算出手順)のみである。
(Embodiment 3)
Next, Embodiment 3 of the present invention will be described. The third embodiment differs from the first and second embodiments only in the configuration and operation of the inspection device control unit 55 included in the inspection device 12 (procedure for calculating the second misalignment amount ΔZ2).

図15において、実施の形態3における検査装置制御部55は、実施の形態1,2と異なり、差分算出部64を備えていない。実施の形態3では、第2位置ずれ量算出部66が、基板KBに装着された部品BHの位置と基板KBにおける部品BHの目標装着位置MKとを比較することによって、部品BHの目標装着位置MKからの位置ずれ量である第2位置ずれ量ΔZ2を算出(検査基準位置KKが変更される場合には、検査基準位置KKが変更されるごとに第2位置ずれ量ΔZ2を算出)する。具体的には、装着部品位置検出部69により検出された装着部品位置Zと、目標装着位置データ72から読み出した目標装着位置MKのX座標とY座標それぞれの差を求めることによって、第2位置ずれ量ΔZ2(ΔX2,ΔY2)を算出する(図16)。なお、検査基準位置KKが変更される場合には、第2位置ずれ量算出部66は、検査基準位置KKが変更されるごとに第2位置ずれ量ΔZ2(ΔX2,ΔY2)を算出する。 In FIG. 15, unlike the first and second embodiments, the inspection device control unit 55 according to the third embodiment does not include the difference calculation unit 64. In the third embodiment, the second position deviation amount calculation unit 66 compares the position of the component BH mounted on the board KB with the target mounting position MK of the component BH on the board KB, thereby allowing the target mounting position of the component BH to be mounted. The second position deviation amount ΔZ2, which is the position deviation amount from the MK, is calculated (when the inspection reference position KK is changed, the second position deviation amount ΔZ2 is calculated every time the inspection reference position KK is changed). Specifically, the second position is obtained by obtaining the difference between the X-coordinate and the Y-coordinate of the target mounting position MK read from the target mounting position data 72 and the mounting component position Z detected by the mounting component position detecting unit 69. The deviation amount ΔZ2 (ΔX2, ΔY2) is calculated (FIG. 16). When the inspection reference position KK is changed, the second position deviation amount calculation unit 66 calculates the second position deviation amount ΔZ2 (ΔX2, ΔY2) every time the inspection reference position KK is changed.

図17のフローチャートは、実施の形態3における検査装置12が行う検査作業の流れを示している。フローチャートに示すステップST11~ステップST15は、実施の形態1,2におけるフローチャート(図12)のステップST1~ステップST5と同じである。実施の形態3では、ステップST15において、各部品BHについての装着状態の良否を判定したら、目標装着位置データ72から読み出した目標装着位置MKとステップST13で検出した装着部品位置Zとを比較することによって、目標装着位置MKからの部品BHの位置ずれ量である第2位置ずれ量ΔZ2を算出する(ステップST16。第2位置ずれ量算出工程)。 The flowchart of FIG. 17 shows the flow of the inspection work performed by the inspection device 12 in the third embodiment. Steps ST11 to ST15 shown in the flowchart are the same as steps ST1 to ST5 in the flowcharts (FIG. 12) in the first and second embodiments. In the third embodiment, after determining whether the mounting state of each component BH is good or bad in step ST15, the target mounting position MK read from the target mounting position data 72 is compared with the mounting component position Z detected in step ST13. The second position deviation amount ΔZ2, which is the position deviation amount of the component BH from the target mounting position MK, is calculated (step ST16; second position deviation amount calculation step).

検査装置12は、ステップST16で第2位置ずれ量ΔZ2を算出したら、ステップST15の良否判定工程で判定した各部品BHについての良否判定結果と、ステップST16の第2位置ずれ量算出工程で算出した第2位置ずれ量ΔZ2のデータを、検査装置通信部68から管理装置13に出力する(ステップST17。出力工程)。そして、基板KB上の全ての部品BHについての検査が終了したら、その基板KBを下流に搬出して(ステップST18。基板搬出工程)、基板KBの1枚当たりの検査作業を終了する。 After calculating the second position deviation amount ΔZ2 in step ST16, the inspection device 12 calculated the quality determination result for each component BH determined in the quality determination step of step ST15 and the second position deviation amount calculation step in step ST16. The data of the second misalignment amount ΔZ2 is output from the inspection device communication unit 68 to the management device 13 (step ST17, output step). Then, when the inspection of all the component BHs on the substrate KB is completed, the substrate KB is carried out downstream (step ST18, the substrate carrying-out process), and the inspection work per one of the substrate KB is completed.

このように実施の形態3において、検査装置12は、基板KBに対して設定された検査基準位置KKからの部品BHの位置ずれ量である第1位置ずれ量ΔZ1を算出するだけでなく、基板KBに装着された部品BHの位置(装着部品位置Z)と目標装着位置MKとを比較することによって、目標装着位置MKからの部品BHの位置ずれ量である第2位置ずれ量ΔZ2を算出するようになっている。そして、基板KBに装着された部品BHの装着状態の良否の判定を第1位置ずれ量ΔZ1に基づいて行う一方、算出した第2の位置ずれ量ΔZ2をフィードバックデータとして部品装着装置11に出力するようになっている。このため、部品装着装置11は部品BHの装着時の基準である目標装着位置MKを基準とする位置ずれ量(第2位置ずれ量ΔZ2)で装着ヘッド23の動作パラメータの補正値を求めることができ、実施の形態1,2の場合と同様に、部品BHの装着精度を向上させることができる。 As described above, in the third embodiment, the inspection device 12 not only calculates the first misalignment amount ΔZ1 which is the misalignment amount of the component BH from the inspection reference position KK set for the substrate KB, but also the substrate. By comparing the position of the component BH mounted on the KB (mounting component position Z) with the target mounting position MK, the second misalignment amount ΔZ2, which is the amount of misalignment of the component BH from the target mounting position MK, is calculated. It has become like. Then, the quality of the mounted state of the component BH mounted on the board KB is determined based on the first position shift amount ΔZ1, while the calculated second position shift amount ΔZ2 is output to the component mounting device 11 as feedback data. It has become like. Therefore, the component mounting device 11 can obtain the correction value of the operation parameter of the mounting head 23 by the position deviation amount (second position deviation amount ΔZ2) based on the target mounting position MK, which is the reference when the component BH is mounted. It is possible to improve the mounting accuracy of the component BH as in the cases of the first and second embodiments.

以上説明したように、実施の形態1,2,3における部品装着システム1では、検査装置12が、検査基準位置KKからの部品BHの位置ずれ量である第1位置ずれ量ΔZ1を算出して部品BHの装着状態の良否判定を行う一方、目標装着位置MKからの部品BHの位置ずれ量である第2位置ずれ量ΔZ2を算出するようになっている。そして、部品装着装置11には第2位置ずれ量ΔZ2をフィードバックデータとして出力し、部品装着装置11はその第2位置ずれ量ΔZ2を用いて補正値を算出するようになっている。このため部品装着装置11は装着ヘッド23の動作パラメータの補正を適切な補正値で行うことができるので、部品BHの装着精度の向上を図ることができる。 As described above, in the component mounting system 1 in the first, second, and third embodiments, the inspection device 12 calculates the first displacement amount ΔZ1, which is the displacement amount of the component BH from the inspection reference position KK. While the quality of the mounted state of the component BH is determined, the second misalignment amount ΔZ2, which is the misalignment amount of the component BH from the target mounting position MK, is calculated. Then, the second position deviation amount ΔZ2 is output to the component mounting device 11 as feedback data, and the component mounting device 11 calculates the correction value using the second position deviation amount ΔZ2. Therefore, since the component mounting device 11 can correct the operating parameters of the mounting head 23 with an appropriate correction value, it is possible to improve the mounting accuracy of the component BH.

これまで本発明の実施の形態1,2,3について説明してきたが、本発明は上述したものに限定されず、種々の変形等が可能である。例えば、上述の実施の形態1,2,3では、部品装着装置11は検査装置12が出力する検査情報を管理装置13経由で受け取るようになっていたが、管理装置13を経由することなく、検査装置12から直接受け取るようになっていてもよい。 Although embodiments 1, 2, and 3 of the present invention have been described so far, the present invention is not limited to those described above, and various modifications and the like are possible. For example, in the above-described first, second, and third embodiments, the component mounting device 11 receives the inspection information output by the inspection device 12 via the management device 13, but does not go through the management device 13. It may be received directly from the inspection device 12.

部品の装着精度の向上を図ることができる部品装着システム、検査装置、基板製造方法および検査方法を提供する。 Provided are a component mounting system, an inspection device, a substrate manufacturing method, and an inspection method capable of improving the mounting accuracy of components.

1 部品装着システム
11 部品装着装置
12 検査装置
23 装着ヘッド
64 差分算出部
65 第1位置ずれ量算出部
66 第2位置ずれ量算出部
68 検査装置通信部(出力部)
KK 検査基準位置
MK 目標装着位置
ΔZ1 第1位置ずれ量
ΔZ2 第2位置ずれ量
δ 差分
δm オフセット量
Σδm オフセット量累積値
BH 部品
RD リード
KB 基板
1 Parts mounting system 11 Parts mounting device 12 Inspection device 23 Mounting head 64 Difference calculation unit 65 1st misalignment amount calculation unit 66 2nd misalignment amount calculation unit 68 Inspection device communication unit (output unit)
KK Inspection reference position MK Target mounting position ΔZ1 First position shift amount ΔZ2 Second position shift amount δ Difference δm Offset amount Σδm Offset amount Cumulative value BH Parts RD Lead KB board

Claims (22)

装着ヘッドにより部品をピックアップして基板上に設定された目標装着位置に装着する部品装着装置と、前記部品装着装置により前記基板に装着された前記部品を検査する検査装置とを備えた部品装着システムであって、
前記検査装置は、
前記基板に装着された部品の位置と前記基板に対して設定された検査基準位置とを比較することによって、前記検査基準位置からの前記部品の位置ずれ量である第1位置ずれ量を算出する第1位置ずれ量算出部と、
前記目標装着位置からの前記部品の位置ずれ量である前記第2位置ずれ量を算出する第2位置ずれ量算出部と、
前記第2位置ずれ量算出部により算出された前記第2位置ずれ量を出力する出力部と、を備え、
前記部品装着装置は、前記出力部から出力された前記第2位置ずれ量に基づいて補正値を算出し、その算出した補正値を用いて前記装着ヘッドの動作パラメータを補正する、部品装着システム。
A component mounting system including a component mounting device that picks up a component by a mounting head and mounts it at a target mounting position set on a board, and an inspection device that inspects the component mounted on the board by the component mounting device. And
The inspection device is
By comparing the position of the component mounted on the board with the inspection reference position set for the board, the first position deviation amount, which is the position deviation amount of the component from the inspection reference position, is calculated. First position shift amount calculation unit and
A second position deviation amount calculation unit that calculates the second position deviation amount, which is the position deviation amount of the component from the target mounting position, and
It is provided with an output unit that outputs the second position deviation amount calculated by the second position deviation amount calculation unit.
The component mounting device is a component mounting system that calculates a correction value based on the second position deviation amount output from the output unit and corrects an operation parameter of the mounting head using the calculated correction value.
前記検査基準位置は変更可能である、請求項1に記載の部品装着システム。 The component mounting system according to claim 1, wherein the inspection reference position can be changed. 前記目標装着位置と前記検査基準位置との間の差分を算出する差分算出部を備え、前記第2位置ずれ量算出部は、前記差分算出部により算出された前記差分を前記第1位置ずれ量算出部により算出された前記第1位置ずれ量に加算することによって前記第2位置ずれ量を算出する、請求項1または2に記載の部品装着システム。 A difference calculation unit for calculating the difference between the target mounting position and the inspection reference position is provided, and the second position deviation amount calculation unit uses the difference calculated by the difference calculation unit as the first position deviation amount. The component mounting system according to claim 1 or 2, wherein the second misalignment amount is calculated by adding to the first misalignment amount calculated by the calculation unit. 前記差分算出部は、前記目標装着位置と前記検査基準位置とを比較して前記差分を算出する、請求項3に記載の部品装着システム。 The component mounting system according to claim 3, wherein the difference calculating unit calculates the difference by comparing the target mounting position with the inspection reference position. 前記差分算出部は、変更前の前記検査基準位置と変更後の前記検査基準位置との間のオフセット量を順次累積して得られるオフセット量累積値から前記差分を算出する、請求項2を引用する請求項3に記載の部品装着システム。 The difference calculation unit cites claim 2, wherein the difference calculation unit calculates the difference from the cumulative value of the offset amount obtained by sequentially accumulating the offset amount between the inspection reference position before the change and the inspection reference position after the change. The component mounting system according to claim 3. 前記部品の位置は、前記部品が有するリードの測定に関するリード計測基準に基づいて検出される、請求項1~5のいずれかに記載の部品装着システム。 The component mounting system according to any one of claims 1 to 5, wherein the position of the component is detected based on a lead measurement standard for measuring leads of the component. 前記リード計測基準は、前記リードの座標に関する情報を含む、請求項6に記載の部品装着システム。 The component mounting system according to claim 6, wherein the lead measurement reference includes information regarding the coordinates of the lead. 基板上に設定された目標装着位置に装着された前記部品を検査する検査装置であって、
前記基板に装着された部品の位置と前記基板に対して設定された検査基準位置とを比較することによって、前記検査基準位置からの前記部品の位置ずれ量である第1位置ずれ量を算出する第1位置ずれ量算出部と、
前記目標装着位置からの前記部品の位置ずれ量である前記第2位置ずれ量を算出する第2位置ずれ量算出部と、
前記第2位置ずれ量算出部により算出された前記第2位置ずれ量を出力する出力部と、を備えた検査装置。
An inspection device that inspects the parts mounted at the target mounting position set on the board.
By comparing the position of the component mounted on the board with the inspection reference position set for the board, the first position deviation amount, which is the position deviation amount of the component from the inspection reference position, is calculated. First position shift amount calculation unit and
A second position deviation amount calculation unit that calculates the second position deviation amount, which is the position deviation amount of the component from the target mounting position, and
An inspection device including an output unit that outputs the second position deviation amount calculated by the second position deviation amount calculation unit.
前記検査基準位置は変更可能である、請求項8に記載の検査装置。 The inspection device according to claim 8, wherein the inspection reference position can be changed. 前記目標装着位置と前記検査基準位置との間の差分を算出する差分算出部を備え、前記第2位置ずれ量算出部は、前記差分算出部により算出された前記差分を前記第1位置ずれ量算出部により算出された前記第1位置ずれ量に加算することによって前記第2位置ずれ量を算出する、請求項8または9に記載の検査装置。 A difference calculation unit for calculating the difference between the target mounting position and the inspection reference position is provided, and the second position deviation amount calculation unit uses the difference calculated by the difference calculation unit as the first position deviation amount. The inspection device according to claim 8 or 9, wherein the second position deviation amount is calculated by adding to the first position deviation amount calculated by the calculation unit. 前記差分算出部は、前記目標装着位置と前記検査基準位置とを比較して前記差分を算出する、請求項10に記載の検査装置。 The inspection device according to claim 10, wherein the difference calculation unit calculates the difference by comparing the target mounting position with the inspection reference position. 前記差分算出部は、変更前の前記検査基準位置と変更後の前記検査基準位置との間のオフセット量を順次累積して得られるオフセット量累積値から前記差分を算出する、請求項9を引用する請求項10に記載の検査装置。 Citing claim 9, the difference calculation unit calculates the difference from the cumulative value of the offset amount obtained by sequentially accumulating the offset amount between the inspection reference position before the change and the inspection reference position after the change. The inspection device according to claim 10. 基板に部品が装着された実装基板を製造する基板製造方法であって、
装着ヘッドにより部品をピックアップして基板上に設定された目標装着位置に装着する部品装着工程と、
前記基板に装着された部品の位置と前記基板に対して設定された検査基準位置とを比較することによって、前記検査基準位置からの前記部品の位置ずれ量である第1位置ずれ量を算出する第1位置ずれ量算出工程と、
前記目標装着位置からの前記部品の位置ずれ量である前記第2位置ずれ量を算出する第2位置ずれ量算出工程と、
前記第2位置ずれ量算出工程で算出された前記第2位置ずれ量を出力する出力工程と、
前記出力工程で出力された前記第2位置ずれ量に基づいて補正値を算出し、その算出した補正値を用いて前記部品装着工程での前記装着ヘッドの動作パラメータを補正する補正工程と、を含む基板製造方法。
It is a board manufacturing method that manufactures a mounting board with components mounted on the board.
The parts mounting process of picking up parts with the mounting head and mounting them at the target mounting position set on the board,
By comparing the position of the component mounted on the board with the inspection reference position set for the board, the first position deviation amount, which is the position deviation amount of the component from the inspection reference position, is calculated. First position shift amount calculation process and
A second position deviation amount calculation step for calculating the second position deviation amount, which is the position deviation amount of the component from the target mounting position, and
An output step for outputting the second position shift amount calculated in the second position shift amount calculation step, and an output step.
A correction step of calculating a correction value based on the second position deviation amount output in the output step and using the calculated correction value to correct the operation parameter of the mounting head in the component mounting step. Substrate manufacturing method including.
前記検査基準位置は変更可能である、請求項13に記載の基板製造方法。 The substrate manufacturing method according to claim 13, wherein the inspection reference position can be changed. 前記目標装着位置と前記検査基準位置との間の差分を算出する差分算出工程を含み、前記第2位置ずれ量算出工程は、前記差分算出工程で算出された前記差分を前記第1位置ずれ量算出部により算出された前記第1位置ずれ量に加算することによって前記第2位置ずれ量を算出する、請求項13または14に記載の基板製造方法。 The second position deviation amount calculation step includes the difference calculation step of calculating the difference between the target mounting position and the inspection reference position, and the second position deviation amount calculation step uses the difference calculated in the difference calculation step as the first position deviation amount. The substrate manufacturing method according to claim 13 or 14, wherein the second misalignment amount is calculated by adding to the first misalignment amount calculated by the calculation unit. 前記差分算出工程は、前記目標装着位置と前記検査基準位置とを比較して前記差分を算出する、請求項15に記載の基板製造方法。 The substrate manufacturing method according to claim 15, wherein the difference calculation step calculates the difference by comparing the target mounting position with the inspection reference position. 前記差分算出工程は、変更前の前記検査基準位置と変更後の前記検査基準位置との間のオフセット量を順次累積して得られるオフセット量累積値から前記差分を算出する、請求項14を引用する請求項15に記載の基板製造方法。 The difference calculation step cites claim 14, wherein the difference is calculated from the cumulative value of the offset amount obtained by sequentially accumulating the offset amount between the inspection reference position before the change and the inspection reference position after the change. 15. The substrate manufacturing method according to claim 15. 基板上に設定された目標装着位置に装着された部品を検査する検査方法であって、
前記基板に装着された部品の位置と前記基板に対して設定された検査基準位置とを比較することによって、前記検査基準位置からの前記部品の位置ずれ量である第1位置ずれ量を算出する第1位置ずれ量算出工程と、
前記目標装着位置からの前記部品の位置ずれ量である前記第2位置ずれ量を算出する第2位置ずれ量算出工程と、
前記第2位置ずれ量算出工程で算出された前記第2位置ずれ量を出力する出力工程と、を含む検査方法。
It is an inspection method that inspects parts mounted at the target mounting position set on the board.
By comparing the position of the component mounted on the board with the inspection reference position set for the board, the first position deviation amount, which is the position deviation amount of the component from the inspection reference position, is calculated. First position shift amount calculation process and
A second position deviation amount calculation step for calculating the second position deviation amount, which is the position deviation amount of the component from the target mounting position, and
An inspection method including an output step of outputting the second misalignment amount calculated in the second misalignment amount calculation step.
前記検査基準位置は変更可能である、請求項18に記載の検査方法。 The inspection method according to claim 18, wherein the inspection reference position can be changed. 前記目標装着位置と前記検査基準位置との間の差分を算出する差分算出工程を含み、前記第2位置ずれ量算出工程は、前記差分算出工程で算出された前記差分を前記第1位置ずれ量算出部により算出された前記第1位置ずれ量に加算することによって前記第2位置ずれ量を算出する、請求項18または19に記載の検査方法。 The second position deviation amount calculation step includes the difference calculation step of calculating the difference between the target mounting position and the inspection reference position, and the second position deviation amount calculation step uses the difference calculated in the difference calculation step as the first position deviation amount. The inspection method according to claim 18 or 19, wherein the second position deviation amount is calculated by adding to the first position deviation amount calculated by the calculation unit. 前記差分算出工程は、前記目標装着位置と前記検査基準位置とを比較して前記差分を算出する、請求項20に記載の検査方法。 The inspection method according to claim 20, wherein the difference calculation step calculates the difference by comparing the target mounting position with the inspection reference position. 前記差分算出工程は、変更前の前記検査基準位置と変更後の前記検査基準位置との間のオフセット量を順次累積して得られるオフセット量累積値から前記差分を算出する、請求項19を引用する請求項20に記載の検査方法。 The difference calculation step cites claim 19, wherein the difference is calculated from the cumulative value of the offset amount obtained by sequentially accumulating the offset amount between the inspection reference position before the change and the inspection reference position after the change. The inspection method according to claim 20.
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