JP2022041953A - ガラス板用合紙 - Google Patents

Abstract

【課題】ガラス板の表面にケイ素含有異物の中でも、特に微小サイズのシリカ異物が付着することを抑制するガラス板用合紙を提供する。【解決手段】セルロースパルプを主成分とし、蛍光Ｘ線分析で測定したケイ素濃度をＸ、カルシウム濃度をＹとしたとき、Ｘが２００ｐｐｍ以下、ケイ素濃度をカルシウム濃度で除した値であるＸ／Ｙ比が４．００以下であるガラス板用合紙。【選択図】図３

Description

本発明は、ガラス板用合紙、ガラス板積層体、およびガラス板梱包体に関する。

液晶ディスプレイ等のフラットパネルディスプレイ（ＦＰＤ）に用いられるガラス板では、ガラス板表面に対して微細な電子配線（以下、「配線」ともいう）が形成されるため、表面の僅かなキズや汚れが、断線等の不良の原因となる。そのため、ガラス板の表面には高い清浄度が求められる。

ガラス板は、搬送効率を高める目的で、ガラス板を重ねて搬送される。このとき、隣り合うガラス板の間にガラス板用合紙（以下、単に「合紙」ともいう）を介在させ、搬送中にガラス板表面にキズなどがつくことを抑制している。

しかし、合紙を製造する工程で混入した異物や、種々の化学物質の影響で合紙からガラス板の表面に異物が付着することがある。ガラス板表面に付着した異物の多くは、ガラス板表面に配線を形成する工程前の洗浄で除去されるが、洗浄後もガラス板表面に残存し、断線等の原因となるおそれある。そのため、ガラス板の表面に付着する異物を低減させるガラス板用合紙が求められる。

特許文献１では、ガラス板用合紙中に含まれる、アルミニウムやケイ素やマグネシウム等の濃度を低くすることで、ガラス板の表面の汚染を低減しようとしている。

特開２０１７－２１０２８６

しかし、近年のディスプレイの高精細化に伴い、従来よりもガラス板の表面に形成される配線の幅やピッチが細化していくことにより、例えば特許文献１のようなガラス板用合紙を用いても、配線形成時に断線等の問題が生じるようになってきた。

発明者らが上記問題を調べたところ、洗浄後もガラス板表面に残存してしまう微小サイズのシリカ異物が原因であることを見出した。微小サイズのシリカ異物は、配線を形成する前の洗浄工程で除去することが難しいため、微小サイズのシリカ異物をガラス板の表面に付着させないことが重要である。

本発明は、ガラス板の表面に、微小サイズのシリカ異物が付着することを抑制することで、配線形成時の断線等の不良の発生を抑制するガラス板用合紙の提供を目的とする。

本発明に係るガラス板用合紙は、セルロースパルプを主成分とし、坪量が１０ｇ／ｍ^２以上、１００ｇ／ｍ^２以下であり、前記ガラス板用合紙は、蛍光Ｘ線分析で測定したケイ素濃度をＸ、カルシウム濃度をＹとしたとき、Ｘが２００ｐｐｍ以下であり、ケイ素濃度をカルシウム濃度で除した値であるＸ／Ｙ比が４．００以下であることを特徴とする。

前記ガラス板用合紙は、蛍光Ｘ線分析で測定したマグネシウム濃度をＺとしたとき、ケイ素濃度をマグネシウム濃度で除した値であるＸ／Ｚ比が、３．００以下であることが好ましい。

前記Ｚは２０ｐｐｍ以上、１００ｐｐｍ以下であることが好ましい。

前記Ｙは２０ｐｐｍ以上、４００ｐｐｍ以下であることが好ましい。

前記ガラス板用合紙は、少なくとも一方の合紙表面に存在する０．５μｍ以上５０μｍ以下のケイ素含有異物の数が２０００個／ｍｍ^２以下であることが好ましい。

前記ガラス板用合紙は、少なくとも一方の合紙表面に存在する１μｍ以上１０μｍ以下のケイ素含有異物の数が１０００個／ｍｍ^２以下であることが好ましい。

前記ガラス板用合紙は、少なくとも一方の合紙表面に存在する０．５μｍ以上５０μｍ以下のシリカ異物の数が１００個／ｍｍ^２以下であることが好ましい。

前記ガラス板用合紙は、少なくとも一方の合紙表面に存在する１μｍ以上１０μｍ以下のシリカ異物の数が５０個／ｍｍ^２以下であることが好ましい。

前記ガラス板用合紙の透気抵抗度は５秒以上であることが好ましい。

本発明にかかるガラス板積層体は、少なくとも２枚以上のガラス板を積層させ、隣り合うガラス板間に、本発明に係るガラス板用合紙を有する。

本発明にかかるガラス板梱包体は、前記ガラス板積層体と、前記ガラス板積層体を載置するパレットとを有する。

ガラス板の表面に、微小サイズのシリカ異物が付着することを抑制するガラス板用合紙を提供できる。これにより、配線形成時の断線等の不良の発生を抑制できる。

ガラス板用合紙の製造方法を示す概念図である。 ガラス板を載置するパレットを示す概念図である。 ガラス板梱包体の一実施形態を示す概念図である。

以下、本発明に係るガラス板用合紙の好ましい実施形態について説明する。以下に示す実施形態は一例であり、本発明はこれらの実施形態に限定して解釈されるものではない。

ガラス板は、搬送効率の観点から、少なくとも２枚以上のガラス板を積層させ、パレットに載置して搬送する。少なくとも２枚以上のガラス板を積層し、隣り合うガラス板間に合紙を介在させたものをガラス板積層体といい、前記ガラス板積層体をパレットに載置したものをガラス板梱包体という。ガラス板積層体において、ガラス板同士が接触すると、ガラス板の表面にキズが生じるおそれがある。このようなキズは、ディスプレイなどの製造工程において、断線等の問題を引き起こすことが知られている。そこで、ガラス板とガラス板との間にガラス板用合紙を介在させることで、ガラス板の表面にキズが生じることを抑制している。

しかし、ガラス板用合紙に含まれる異物がガラス板の表面に付着することにより、断線等の問題が生じることがある。特に、近年のディスプレイの高精細化に伴い、従来問題とならなかったガラス板用合紙を用いても、断線等の問題が生じるようになってきた。

そこで、本発明者らは、ガラス板に付着している異物について分析をした。その結果、ガラス板の表面にはケイ素含有異物が多く付着していることが判明した。また、ケイ素含有異物の中でも、特に微小サイズのシリカ異物は配線形成前の洗浄で除去され難く、洗浄後も残存して問題となることを見出した。本明細書において、微小サイズのシリカ異物とは、最長径が１０μｍ以下のシリカ異物をいう。

なお、最長径が１０μｍ超のシリカ異物は、ガラス板上に配線を形成する前に実施する洗浄で除去し易いため、最長径が１０μｍ以下のシリカ異物に比べて、断線等の不良を引き起こす原因となり難いと考えられる。

ケイ素含有異物の中でも特に微小サイズのシリカ異物は洗浄で除去され難く、洗浄後も残存しやすい。これは、タルク等のシリカ異物以外のケイ素含有異物は球形状が多いのに対して、シリカ異物の形状は扁平であることが多いのが理由であると考えられる。すなわち、扁平な形状の場合、高さが低いので、例えばブラシ洗浄などの洗浄工程で除去し難いため、残存しやすいと考えられる。

また、発明者らは、ガラス板の表面に残存しているシリカ異物は合紙からガラス板の表面に付着したものであることを見出した。以上より、ガラス板用合紙に存在する微小サイズのシリカ異物を低減させることが重要である。

（ガラス板用合紙の製造方法）
ガラス板用合紙の原料液（パルプを水で希釈した液体）は、ヘッドボックス１１２から、ワイヤパート１１４に設置された下ワイヤ１１６の上に、シート状に供給される。下ワイヤ１１６に供給された原料液は、次いで、下ワイヤ１１６と上ワイヤ１１８とによって挟み込まれることにより、均一の厚さに広げられ、かつ脱水されて、湿紙（紙）となる。

ワイヤパート１１４の下ワイヤ１１６および上ワイヤ１１８は、無端帯状に形成された透過膜である。具体的には、プラスチックまたは金属材料で作られた網、もしくは、天然繊維または合成繊維からなるフェルト製の無端帯である。

下ワイヤ１１６および上ワイヤ１１８は、複数のローラに掛け渡されて、図示を省略するモータの駆動力を、複数のローラの中の駆動ローラに伝達することにより、所定の速度で周回移動されている。

ワイヤパート１１４で形成された湿紙は、プレスローラ、無端帯状のフェルト、およびプレスローラ対等を有するプレスパート１２０に搬送され、ここで、さらなる脱水とプレスとが行われる。

プレスパート１２０を通過した湿紙は、複数本のローラで構成されるドライヤパート１２４に搬送され、ドライヤパート１２４を通過中に、例えば約１２０℃の雰囲気で乾燥される。

ドライヤパート１２４を通過する際、湿紙をそのまま高速で搬送すると紙切れのおそれがあるため、カンバスと呼ばれる補助部材を湿紙に接触させた状態で搬送する。

ドライヤパート１２４で乾燥された紙は、カレンダパート１２６に搬送され、カレンダロールによる挟持搬送等によってカレンダ処理を施されて、表裏面が平滑化されてもよい。なお、必要に応じて、ドライヤパート１２４とカレンダパート１２６との間にコータパートを設け、平滑化された紙の表面に塗料等を塗布してもよい。

カレンダパート１２６においてカレンダ処理を施された紙は、ガラス板用合紙としてリール１２８に巻き取られ、ロール状（以下、ジャンボロール１３０とする）にされる。

ジャンボロール１３０とされたガラス板用合紙は、通常、例えば、ガラス板用合紙は、製品に応じた幅に切断されて、巻き取られ、８０００～１００００ｍ程度の所定長の長尺なガラス板用合紙を巻回した合紙ロール４２とされる。

ガラス板用合紙は、ジャンボロール１３０から送り出され、カッタ１３４によって所定幅に切断（長手方向に切断）され、ワインダ１３６によって巻き取られる。ジャンボロール１３０から送り出したガラス板用合紙が、所定の長さになった時点で、カッタ１３４によって所定長さに切断（幅方向に切断）されて、所定の幅で、長尺なガラス板用合紙を巻回してなる合紙ロール４２とされる。

合紙ロール４２に巻回された長尺なガラス板用合紙は、積層するガラス板に応じたサイズのカットシート状（矩形状）に切断され、積層されるガラス板の間に介在される。

（ケイ素濃度）
ガラス板用合紙に含まれるケイ素は、主に原料となるセルロースパルプや水、製造過程で混入する空気中の塵に由来するものである。ケイ素は、製造されたガラス板用合紙において、主に含水ケイ酸マグネシウム（以下、「タルク」ともいう）やシリカといったケイ素含有異物として存在するようになる。

本発明のガラス板用合紙は、蛍光Ｘ線分析で測定したときのケイ素濃度を２００ｐｐｍ以下とすることにより、ガラス板用合紙のシリカ異物を充分に低減し、断線等の不良の発生を抑制したものである。

前記ケイ素濃度は、好ましくは１５０ｐｐｍ以下であり、より好ましくは１３０ｐｐｍ以下であり、さらに好ましくは１００ｐｐｍ以下であり、特に好ましくは５０ｐｐｍ以下である。

なお、本明細書において、ガラス板用合紙を蛍光Ｘ線分析で測定したときのケイ素濃度をＸとも称する。Ｘは以下の方法で測定される。

（ケイ素濃度Ｘの測定方法）
本発明における蛍光Ｘ線分析は、例えば、ＺＸＳ ＰＲＩＭＵＳ（株式会社リガク）等の市販の蛍光Ｘ線分析装置を使用して実施できる。蛍光Ｘ線分析の前処理としてガラス板用合紙は刃物などで測定に適したサイズに予め切断される。切断された紙は試料台に載せられる。この際、試料台の成分が測定のノイズとならないように予め組成が既知で純度の高い試料台を用いてもよく、底の深いカップ型の試料台を用いてもよく、ガラス板用合紙を重ねてもよい。次に測定エリアに穴のあいた蓋を用いガラス板用合紙を固定させる。試料台は蛍光Ｘ線分析装置に入れられ、装置内が真空にされた後、測定面にＸ線が照射され、ガラス板用合紙から発生した蛍光Ｘ線が測定、分析される。

評価領域が広いほど安定した結果が得られるため、評価領域は好ましくは１０平方ミリメートル以上であり、より好ましくは１００平方ミリメートル以上であり、さらに好ましくは６００平方ミリメートル以上である。本明細書においては特に説明が無い限り、評価領域は７００平方ミリメートルである。

検出元素の定量のため、予め濃度が既知である基準試料を測定した後にそのＸ線強度から各元素の数値を補正した。測定の際の電力は３０００Ｗとした。

測定に際してはナトリウム、マグネシウム、アルミニウム、ケイ素、リン、硫黄、塩素、カリウム、カルシウム、鉄、ニッケル、銅、ジルコンの各元素の含有量を定量した。

ケイ素濃度が小さすぎると、ガラス板用合紙の原料液を撹拌した際の破泡性が悪く、ガラス板用合紙に穴が開く場合がある。そのためケイ素濃度は、好ましくは１０ｐｐｍ以上であり、より好ましくは１５ｐｐｍ以上であり、さらに好ましくは２０ｐｐｍ以上である。

ケイ素濃度は、原料のセルロースパルプや、原料の水や、合紙の製造方法に影響される。

原料のセルロースパルプとして、シリコーンオイルを含まないもしくは使用量が少ないものや、ピッチコントロール剤としてタルクを含まないものや、強い遠心力をかけて微小な鉱石、土埃が除かれたものを選定することにより、ケイ素濃度を小さくできる。原料の水として、充分なろ過などで地下水もしくは河川水の鉱石に由来するケイ素成分を除いた水を使用することによってもケイ素濃度を小さくできる。また、合紙の製造方法において、抄造工程をクリーンルームで行うことで、土埃の侵入を防いだり、シリコーンオイルを含むセルロースパルプを使った抄造工程とガラス板用合紙の抄造工程を別にしたりすることで、ケイ素濃度を小さくできる。

前記セルロースパルプとしては、クラフトパルプ（ＫＰ）、サルファイトパルプ（ＳＰ）、ソーダパルプ（ＡＰ）等の化学パルプ；セミケミカルパルプ（ＳＣＰ）、ケミグランドウッドパルプ（ＣＧＰ）等の半化学パルプ； 砕木パルプ（ＧＰ）、サーモメカニカルパルプ（ＴＭＰ、ＢＣＴＭＰ）、リファイナーグランドウッドパルプ（ＲＧＰ）等の機械パルプ；楮、三椏、麻、ケナフ等を原料とする非木材繊維パルプ；合成パルプ；等、各種の原料からなるガラス板用合紙を利用できる。また、これらを混合したものでもよい。

（カルシウム濃度）
ガラス板用合紙に含まれるカルシウムは、主に原料となるセルロースパルプや水、製造過程で混入する空気中の塵に由来するものである。カルシウムは製造されたガラス板用合紙において、例えばメタケイ酸カルシウム、オルトケイ酸カルシウムといったケイ素含有異物、または炭酸カルシウムとして存在するようになる。

本明細書において、ガラス板用合紙を蛍光Ｘ線分析で測定したときのカルシウム濃度をＹとも称する。Ｙは上記の（ケイ素濃度Ｘの測定方法）と同様の手順で測定される。

ケイ素濃度をカルシウム濃度で除した値であるＸ／Ｙ比が小さいほど、ケイ素に対してカルシウムが多く存在していることを意味する。カルシウムは炭酸カルシウムとして存在する以外に、メタケイ酸カルシウムやオルトケイ酸カルシウムのような、ケイ素を含む化合物としても存在するため、カルシウム濃度Ｙが大きいほど、シリカとして存在するケイ素の割合は小さくなり、シリカ異物が少なくなると考えられる。

本発明のガラス板用合紙は、Ｘ／Ｙ比を４．００以下とすることにより、ガラス板用合紙のシリカ異物を充分に低減できたものである。前記Ｘ／Ｙ比は好ましくは３．５０以下であり、より好ましくは３．００以下であり、さらに好ましくは２．００以下であり、特に好ましくは１．００以下であり、最も好ましくは０．５０以下である。

また、Ｙが大きすぎると、シリカ異物は少なくなると考えられるが、炭酸カルシウムなどのカルシウム含有異物が多くなり、問題となるおそれがある。そのため、Ｙは、４００ｐｐｍ以下が好ましく、３００ｐｐｍ以下がより好ましく、２５０ｐｐｍ以下がさらに好ましい。

また、Ｙが小さすぎると、ガラス板用合紙の原料液を撹拌した際の破泡性が悪く、ガラス板用合紙に穴があく場合がある。そのためＹは、好ましくは２０ｐｐｍ以上であり、より好ましくは３０ｐｐｍ以上であり、さらに好ましくは５０ｐｐｍ以上である。

カルシウム含有濃度が高いバージンパルプを用いることで、Ｘ／Ｙ比を小さくできる。

（マグネシウム濃度）
ガラス板用合紙中に含まれるマグネシウムは、主に原料となるセルロースパルプや水、製造過程で混入する空気中の塵に由来するものである。マグネシウムは、製造されたガラス板用合紙において、主にタルクといったケイ素含有異物として存在するようになる。

本明細書において、ガラス板用合紙を蛍光Ｘ線分析で測定した時のマグネシウム濃度をＺとも称する。Ｚは、上記の（ケイ素濃度Ｘの測定方法）と同様の手順で測定される。

ケイ素濃度をマグネシウム濃度で除した値であるＸ／Ｚ比が小さいほど、ケイ素に対してマグネシウムが多く存在していることを意味する。マグネシウムは前記の通り、タルクといったケイ素を含む化合物として存在しているため、Ｚが大きいほど、シリカとして存在するケイ素の割合は小さくなり、シリカ異物が少なくなると考えられる。

本発明のガラス板用合紙のＸ／Ｚ比は、好ましくは３．００以下であり、より好ましくは２．５０以下であり、さらに好ましくは２．００以下であり、特に好ましくは１．００以下である。

また、Ｚが大きければ、シリカ異物は少なくなると考えられるが、タルクが多くなり、問題となるおそれがある。そのため、マグネシウムの含有量は、１００ｐｐｍ以下が好ましく、７０ｐｐｍ以下がより好ましい。Ｚの下限値は特に限定されないが、１０ｐｐｍ以上が好ましく、２０ｐｐｍ以上がより好ましい。

（ケイ素含有異物及びシリカ異物の測定方法）
ケイ素含有異物は、例えば走査型電子顕微鏡と走査型電子顕微鏡に取り付けられるエネルギー分散型Ｘ線分析装置にて測定される。測定の前処理として小さく切断したサンプルに測定しない元素、例えばカーボンや白金の導電膜処理を実施してもよい。走査型電子顕微鏡に合紙をセットした後は、反射電子検出器を用いて画像の明暗から主に合紙を構成する元素であるカーボンよりも重い元素を判別する。この反射電子検出器を用いた方法ではカーボンより重い元素は一般的に明るい画素で表現される。最初に例えば０．１ｍｍ×０．１ｍｍのエリアを１００エリア測定する。次に、１μｍ以上１０μｍ以下のケイ素含有異物、およびシリカ異物の個数を測定する場合においては、１μｍ以上のカーボン以外の異物をカウントする。この反射電子検出器により検出した異物１つずつに対し、画素数からサイズを算出し、最長径が１μｍ以上１０μｍ以下の粒子について１つずつエネルギー分散型Ｘ線分析装置で元素を分析し、カーボンと酸素を除いた元素の中でケイ素を１０重量％以上含有する粒子をケイ素含有物とした。またケイ素を８０重量％以上含有する粒子をシリカ異物とした。

０．５μｍ以上５０μｍ以下のケイ素含有異物、およびシリカ異物の個数を測定する場合においては、０．５μｍ以上のカーボン以外の異物をカウントし、同様に測定した。

ケイ素含有異物の最長径が１μｍ未満であり配線幅やピッチ幅より充分に小さい場合、断線等の不具合となり難い。また、シリカ異物の中でも最長径が小さい程、洗浄で除去し難く、特に最長径が１０μｍ以下のシリカ異物は、洗浄後においてもガラス板の表面に残存しやすいことが分かった。

本実施形態の合紙は、少なくとも一方の合紙表面に存在する０．５μｍ以上５０μｍ以下のケイ素含有異物が２０００個／ｍｍ^２以下であることが好ましく、１０００個／ｍｍ^２以下であることがより好ましく、２００個／ｍｍ^２以下であることがさらに好ましく、２０個／ｍｍ^２以下であることが特に好ましい。合紙中に含まれる０．５μｍ以上５０μｍ以下のケイ素含有異物が少ないほど、問題となる１μｍ以上１０μｍ以下のシリカ異物もまた少ないと考えられる。

また、本実施形態の合紙は、少なくとも一方の合紙表面に存在する１μｍ以上１０μｍ以下のケイ素含有異物が１０００個／ｍｍ^２以下であることが好ましく、１００個／ｍｍ^２以下であることがより好ましく、１０個／ｍｍ^２以下であることがさらに好ましい。合紙中に含まれる１μｍ以上１０μｍ以下のケイ素含有異物が少ないほど、１μｍ以上１０μｍ以下のシリカ異物もまた少ないと考えられる。

また、本実施形態の合紙は、少なくとも一方の合紙表面に存在する０．５μｍ以上５０μｍ以下のシリカ異物が１００個／ｍｍ^２以下が好ましく、５０個／ｍｍ^２以下がより好ましく、２０個／ｍｍ^２以下がさらに好ましく、１０個／ｍｍ^２以下が特に好ましい。合紙中に含まれる０．５μｍ以上５０μｍ以下のシリカ異物が少ないほど、１μｍ以上１０μｍ以下のシリカ異物もまた少ないと考えられる。

また、本実施形態の合紙は、少なくとも一方の合紙表面に存在する１μｍ以上１０μｍ以下のシリカ異物が５０個／ｍｍ^２以下が好ましく、３０個／ｍｍ^２以下がより好ましく、１０個／ｍｍ^２以下がさらに好ましく、５個／ｍｍ^２以下が特に好ましい。１μｍ以上１０μｍ以下のシリカ異物が少ないほど、ガラス板に転写される前記シリカ異物が少なくなり、断線等の問題が生じ難くなる。

（透気抵抗度）
透気抵抗度はＪＩＳ Ｐ８１１７に準拠した方法で測定される。透気抵抗度は、５秒以上が好ましく、１０秒以上がより好ましく、１５秒以上が特に好ましい。透気抵抗度が５秒以上あると真空吸着パッドでガラス板梱包体から合紙１枚のみを除去し易い。一方透気抵抗度が５秒未満である場合は真空吸着パッドでガラス板梱包体から合紙を除去しようとする際に、除去しようとした合紙の下にあるガラス板を同時に除去してしまうといった異常が発生しやすくなる。また透気抵抗度の上限は特に限定されないが、５０秒以下が好ましく、４５秒以下がより好ましく、４０秒以下がさらに好ましい。

（ガラス板用合紙の特性）
ガラス板用合紙の坪量は、ＪＩＳ Ｐ８１１８に準拠した方法で測定される。合紙の坪量が小さい方が搬送時の質量が小さくなるため好ましいが、小さすぎると、十分な緩衝性を得ることができない。そのため、合紙の坪量は１０ｇ／ｍ^２以上が好ましく、２０ｇ／ｍ^２以上がより好ましく、３０ｇ／ｍ^２以上がさらに好ましい。また、合紙の坪量が大きすぎると搬送時の質量が大きくなるため好ましくない。そのため、合紙の坪量は１００ｇ／ｍ^２以下が好ましく、９０ｇ／ｍ^２以下がより好ましく、８０ｇ／ｍ^２以下がさらに好ましい。

合紙の厚さは緩衝性の観点から、５０μｍ以上２００μｍ以下が好ましい。また、合紙の密度は０．３０ｇ／ｃｍ^３以上、１．００ｇ／ｃｍ^３以下が好ましい。

（ガラス板積層体）
本実施形態のガラス板積層体１２は、少なくとも２枚以上のガラス板１４を積層させ、隣り合うガラス板間に本発明にかかるガラス板用合紙１６を有している。

（ガラス板梱包体）
本実施形態のガラス板梱包体１０は、ガラス板積層体１２と、ガラス板積層体１２を載置するパレットとを有している。

パレットは公知のガラス板梱包用のパレットであり、基台２２と、基台２２の上面に設置された傾斜台１８と、ガラス板積層体１２の端面を支持する載置台２４とを有する。載置台２４と傾斜台１８との角度θはガラス板１４を安定して積載できれば特に限定されないが、９０°が好ましい。

傾斜台１８の角度γとは、傾斜台１８と水平面との角度である。すなわち、図１のように傾斜台１８および載置台２４が設置される基台上面が水平である場合には、傾斜台１８の角度γは、傾斜台１８と基台２２とがなす角度をいう。傾斜台１８の角度γを９０°に近付けるほど、省スペース化につながるが、ガラス板１４の端面に大きな圧力がかかるため、欠け等の不良が発生する恐れがある。また、傾斜台１８を０°に近付けるほど、ガラス板１４にかかる圧力が分散し、端面の欠け等の不良を抑制できるが、大きなスペースを必要とするため、保管や搬送の効率が落ちる。本明細書において、傾斜台１８の角度が１０°以下のパレットを平積みのパレットといい、１０°超のパレットを縦積みのパレットという。

使用するパレットは平積みのパレットでも縦積みのパレットでもよいが、大型のガラス板の場合、ガラス板１４の自重によってガラス板１４の端部に大きな圧力がかかる。そのため、大型のガラス板である場合、ガラス板を平積み状態で載置するパレットを用いることが好ましい。また、ガラス板１４が大型であるほど、ガラス板１４の端面にかかる圧力が大きくなるため、傾斜台の角度は０°以上５°以下が好ましく、０°以上３°以下がより好ましく、０°以上１°以下がさらに好ましい。しかし、ガラス板１４の輸送用のトラックやコンテナ等に収納する際に平積みのパレットでは収納できない場合がある。そのため、省スペース化のために縦積みのパレットを用いてもよい。

大型のガラス板とは、例えば少なくとも一辺が２４００ｍｍ以上のガラス板、具体的な例としては、長辺２４００ｍｍ以上、短辺２０００ｍｍ以上のガラス板をいう。前記大型のガラス板は、少なくとも一辺が２４００ｍｍ以上のガラス板、例えば、長辺２４００ｍｍ以上、短辺２１００ｍｍ以上のガラス板が好ましく、少なくとも一辺が３０００ｍｍ以上のガラス板、例えば、長辺３０００ｍｍ以上、短辺２８００ｍｍ以上のガラス板がより好ましく、少なくとも一辺が３２００ｍｍ以上のガラス板、例えば、長辺３２００ｍｍ以上、短辺２９００ｍｍ以上のガラス板がさらに好ましく、少なくとも一辺が３３００ｍｍ以上のガラス板、例えば、長辺３３００ｍｍ以上、短辺２９５０ｍｍ以上のガラス板が特に好ましい。

ガラス板１４の厚みは１ｍｍ以下が好ましい。ガラス板１４を薄くすることで、軽量化が達成できる。本発明のガラス板１４の厚みは０．７５ｍｍ以下がより好ましく、０．６ｍｍ以下がさらに好ましく、０．５ｍｍ以下が特に好ましく、最も好ましくは０．４ｍｍ以下である。厚みを０．１ｍｍ以下、あるいは０．０５ｍｍ以下とすることもできる。ただし、自重たわみを防ぐ観点からは、厚みは０．１ｍｍ以上が好ましく、０．２ｍｍ以上がより好ましい。

ガラス板１４は、ディスプレイに用いることが好ましい。ガラス板１４の主表面に存在する１μｍ以上１０μｍ以下のシリカ異物が少ないため、断線等の不良を抑制できる。ディスプレイとしては、液晶ディスプレイの基板に用いることが好ましい。

以上、ガラス板用合紙１６、ガラス板積層体１２、及びガラス板梱包体１０について詳細に説明したが、本発明は、上述の例に限定はされず、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、各種の改良や変更を行ってもよいのは、勿論である。

＜実施例＞
以下、実施例により本発明を詳細に説明するが、本発明はこれらによって限定されるものではない。以下において、例１～４は実施例であり、例５～７は比較例である。また、特に記載の無い場合については、製造した合紙はＪＩＳ Ｐ８１１１に準じて処理を行ったあと測定した。

例１～例７の合紙に含まれるケイ素濃度、マグネシウム濃度およびカルシウム濃度を、蛍光Ｘ線分析を用いてそれぞれ２回ずつ測定し、その平均値を算出した。次に、走査型電子顕微鏡と走査型電子顕微鏡に取り付けられるエネルギー分散型Ｘ線分析装置にて最長径が０．５μｍ以上５０μｍ以下、および１μｍ以上１０μｍ以下のケイ素含有異物の個数（個／ｍｍ^２）、並びに最長径が０．５μｍ以上５０μｍ以下および１μｍ以上１０μｍ以下のシリカ異物の個数（個／ｍｍ^２）を測定した。各サイズのケイ素含有異物およびシリカ異物を、異なる合紙を用いてそれぞれ２回ずつ測定し、その平均値を算出した。

例１～７のガラス板用合紙を、２３３０ｍｍ×１９９０ｍｍサイズに成形し、それぞれ板厚が０．５ｍｍで、２２５０ｍｍ×１９５０ｍｍサイズのＦＰＤ用のガラス板の間に介在させて、複数枚のガラス板を積層したガラス板積層体とした。

各ガラス板積層体を、図２に示す縦積みのパレットに載置し（ガラス板６００枚）、ガラス板梱包体を作製した。作製したガラス板梱包体を１０日間保管した。

ガラス板梱包体から、パレットの傾斜台に最も近いガラス板を取り出し、前記ガラス板を洗浄した後、ガラス板の表面に残っている異物数を光学式検査機で測定した。

各測定は下記の方法でおこなった。

＜蛍光Ｘ線分析によるガラス板用合紙の元素濃度の測定＞
蛍光Ｘ線分析装置（メーカ：株式会社リガク社製、型式：ＺＸＳ ＰＲＩＭＵＳＩＩ）を使用して合紙の略中央部を測定した。次に、検出元素の定量のため予め濃度が既知である基準試料を測定した後に、そのＸ線強度から各元素の数値を補正した。測定の際の電力は３０００Ｗとし、マグネシウム、アルミニウム、ケイ素、カルシウム、の各元素の含有量を定量した。

＜ガラス板用合紙中に含まれるケイ素含有異物、およびシリカ異物の個数の測定＞
合紙中に含まれるケイ素含有異物は、走査型電子顕微鏡（メーカ：日本電子株式会社製、型式：ＪＳＭ－６４９０ＬＡ）及びエネルギー分散型Ｘ線分析装置（メーカ：オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社製、型式：Ｘ－ＭＡＸＮ５０）を使用して合紙の略中央部を測定した。観察時の加速電圧は２０ｋＶとした。

最長径が０．５μｍ以上５０μｍ以下のケイ素含有異物、およびシリカ異物を測定する場合においては、まず、０．１ｍｍ×０．１ｍｍのエリアを１００エリア測定し、最長径が０．５μｍ以上のカーボン以外の異物をカウントした。この反射電子検出器により検出した異物１つずつに対し、画素数からサイズを算出し、最長径が０．５μｍ以上５０μｍ以下の粒子について１つずつエネルギー分散型Ｘ線分析装置で元素を分析し、カーボンと酸素を除いた元素の中で、ケイ素を１０重量％以上含有する粒子（ケイ素含有異物）およびケイ素を８０重量％以上含有する粒子（シリカ異物）の個数をカウントした。

また、最長径が１μｍ以上１０μｍ以下のケイ素含有異物、およびシリカ異物を測定する場合においても同様に測定した。

＜ガラス板表面に残存する異物の測定と評価＞
１０日間保管したガラス板梱包体から、パレットの傾斜台に最も近いガラス板を取り出し、前記ガラス板を洗浄した後、ガラス板の表面に残っている異物数を光学式検査機（メーカ：株式会社日立ハイテクファインシステムズ社製、型式：ＧＩ）で測定した。ガラス板の洗浄は、ガラス板を水平方向に搬送しつつ、純水をかけながらＰＶＡスポンジにて擦ることで行った。

ガラス板の表面に存在する異物が５０個未満をＡ、５０個以上６０個未満をＢ、６０個以上をＣとした。

（例１、例２）
原料としてカルシウム含有濃度が高いバージンパルプを、ろ過精度２００μｍのプロセスフィルターでろ過した地下水で希釈することで、合紙の原料液を得た。前記原料液を均一の厚さに広げ、脱水することで湿紙を得た。得られた湿紙を、プレスローラでプレスすることで脱水し、プレス後の湿紙を約１２０℃の雰囲気で乾燥させることで合紙を得た。

（例３、例４）
原料として、ケイ素含有濃度が高いバージンパルプを用いた以外は例１と同様の方法で製造した。

（例５）
原料として、ケイ素含有濃度が高く、カルシウム含有濃度が低いバージンパルプを用いた以外は例１と同様の方法で製造した。

（例６、例７）
原料として、タルクが添加され、ケイ素及びマグネシウム含有濃度が高いバージンパルプを用いた以外は例１と同様の方法で製造した。

＜結果＞
表１は測定結果と評価結果を示している。表１によれば、ケイ素濃度が２００ｐｐｍ以下であり、ケイ素濃度をカルシウム濃度で除したＸ／Ｙ比が４．００以下である場合、汚染性はＡまたはＢであった。一方で、ケイ素濃度が２００ｐｐｍ超であり、Ｘ／Ｙ比が４．００より大きい場合は、汚染性はすべてＣであった。

この結果からケイ素濃度と、Ｘ／Ｙ比が、合紙中に存在するシリカの個数及びガラス板の汚染性に関連していることが理解できる。

１０…ガラス板梱包体、１２…ガラス板積層体、１４…ガラス板、１６…ガラス板用合紙、１８…傾斜台、２２…基台、２４…載置台、４２…合紙ロール、１００…ガラス板用合紙の製造装置、１１２…ヘッドボックス、１１４…ワイヤパート、１１６…下ワイヤ、１１８…上ワイヤ、１２０…プレスパート、１２４…ドライヤパート、１２６…カレンダパート、１２８…リール、１３０…ジャンボロール、１３４…カッタ、１３６…ワインダ。

Claims (11)

1. セルロースパルプを主成分とし、
   坪量が１０ｇ／ｍ^２以上、１００ｇ／ｍ^２以下であるガラス板用合紙であって、
   前記ガラス板用合紙は、蛍光Ｘ線分析で測定したケイ素濃度をＸ、カルシウム濃度をＹとしたとき、
   Ｘが２００ｐｐｍ以下であり、
   ケイ素濃度をカルシウム濃度で除した値であるＸ／Ｙ比が４．００以下であることを特徴とするガラス板用合紙。
2. 前記ガラス板用合紙は、蛍光Ｘ線分析で測定したマグネシウム濃度をＺとしたとき、
   ケイ素濃度をマグネシウム濃度で除した値であるＸ／Ｚ比が３．００以下である、請求項１に記載のガラス板用合紙。
3. 前記Ｚは２０ｐｐｍ以上、１００ｐｐｍ以下である、請求項２に記載のガラス板用合紙。
4. 前記Ｙは２０ｐｐｍ以上、４００ｐｐｍ以下である、請求項１～３のいずれか一項に記載のガラス板用合紙。
5. 前記ガラス板用合紙は、少なくとも一方の合紙表面に存在する０．５μｍ以上５０μｍ以下のケイ素含有異物の数が２０００個／ｍｍ^２以下である請求項１～４のいずれか一項に記載のガラス板用合紙。
6. 前記ガラス板用合紙は、少なくとも一方の合紙表面に存在する１μｍ以上１０μｍ以下のケイ素含有異物の数が１０００個／ｍｍ^２以下である請求項１～５のいずれか一項に記載のガラス板用合紙。
7. 前記ガラス板用合紙は、少なくとも一方の合紙表面に存在する０．５μｍ以上５０μｍ以下のシリカ異物の数が１００個／ｍｍ^２以下である請求項１～６のいずれか一項に記載のガラス板用合紙。
8. 前記ガラス板用合紙は、少なくとも一方の合紙表面に存在する１μｍ以上１０μｍ以下のシリカ異物の数が５０個／ｍｍ^２以下である請求項１～７のいずれか一項に記載のガラス板用合紙。
9. 前記ガラス板用合紙は透気抵抗度が５秒以上である、
   請求項１～８のいずれか一項に記載のガラス板用合紙。
10. 少なくとも２枚以上のガラス板を積層させたガラス板積層体であって、
    隣り合うガラス板間に請求項１～９のいずれか１項に記載のガラス板用合紙を有するガラス板積層体。
11. 請求項１０に記載のガラス板積層体と、前記ガラス板積層体を載置するパレットとを備えるガラス板梱包体。

Images