JP2021158128A - 固体撮像装置及び電子機器 - Google Patents

固体撮像装置及び電子機器 Download PDF

Info

Publication number
JP2021158128A
JP2021158128A JP2018119768A JP2018119768A JP2021158128A JP 2021158128 A JP2021158128 A JP 2021158128A JP 2018119768 A JP2018119768 A JP 2018119768A JP 2018119768 A JP2018119768 A JP 2018119768A JP 2021158128 A JP2021158128 A JP 2021158128A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pixel
solid
photoelectric conversion
light
semiconductor layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2018119768A
Other languages
English (en)
Inventor
英訓 前田
Hidekuni Maeda
英訓 前田
壽史 若野
Hisashi Wakano
壽史 若野
悠介 大竹
Yusuke Otake
悠介 大竹
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Semiconductor Solutions Corp
Original Assignee
Sony Semiconductor Solutions Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Semiconductor Solutions Corp filed Critical Sony Semiconductor Solutions Corp
Priority to JP2018119768A priority Critical patent/JP2021158128A/ja
Priority to US17/252,810 priority patent/US20210280622A1/en
Priority to DE112019003237.2T priority patent/DE112019003237T5/de
Priority to PCT/JP2019/022699 priority patent/WO2020003972A1/ja
Priority to CN201920894204.2U priority patent/CN210092085U/zh
Priority to CN201910510471.XA priority patent/CN110634894A/zh
Priority to TW108120987A priority patent/TWI820154B/zh
Publication of JP2021158128A publication Critical patent/JP2021158128A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L27/14627Microlenses
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14603Special geometry or disposition of pixel-elements, address-lines or gate-electrodes
    • H01L27/14605Structural or functional details relating to the position of the pixel elements, e.g. smaller pixel elements in the center of the imager compared to pixel elements at the periphery
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14603Special geometry or disposition of pixel-elements, address-lines or gate-electrodes
    • H01L27/14607Geometry of the photosensitive area
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14609Pixel-elements with integrated switching, control, storage or amplification elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1462Coatings
    • H01L27/14623Optical shielding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14625Optical elements or arrangements associated with the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1463Pixel isolation structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0216Coatings
    • H01L31/02161Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/02162Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for filtering or shielding light, e.g. multicolour filters for photodetectors
    • H01L31/02164Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for filtering or shielding light, e.g. multicolour filters for photodetectors for shielding light, e.g. light blocking layers, cold shields for infrared detectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0232Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L31/02325Optical elements or arrangements associated with the device the optical elements not being integrated nor being directly associated with the device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/08Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
    • H01L31/10Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by potential barriers, e.g. phototransistors
    • H01L31/101Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
    • H01L31/102Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by only one potential barrier
    • H01L31/107Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation characterised by only one potential barrier the potential barrier working in avalanche mode, e.g. avalanche photodiodes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

【課題】SPADフォトダイオードにおいて、遠距離、近距離に関わらず、被写体を正確に捉える。【解決手段】本開示に係る固体撮像装置は、光電変換領域を画素毎に画定する画素分離部と、前記光電変換領域に設けられた第1半導体層と、前記第1半導体層との間に電子増倍のための電圧が印加される第2半導体層と、を備え、複数の前記画素の感度が異なるように構成される。この構成により、SPADフォトダイオードにおいて、遠距離、近距離に関わらず、被写体を正確に捉えることが可能となる。【選択図】図1

Description

本開示は、固体撮像装置及び電子機器に関する。
従来、下記の特許文献1には、第1のピクセルの受光面積と第2のピクセルの受光面積を異なるようにした光電変換素子が記載されている。
特開2017−117834号公報
近時においては、画素毎に画定された光電変換領域に設けられた第1半導体層と第2半導体層との間に電子増倍のための電圧が印加される、いわゆるSPADフォトダイオードが知られている。
このSPADフォトダイオードでは、高輝度の被写体を撮像する場合など、入射する光量が多い場合は、光量が少ない場合に比べて、光量に対する受光信号の関係に変化が生じる。このような場合、被写体を正確に測距できなくなる問題が生じる。
より具体的には、SPADフォトダイオードにおける測距レンジ拡大において、遠距離までカバーするためには、高感度のSPADフォトダイオードを準備する必要がある。しかし、高感度のSPADフォトダイオードにおいて、入射する光量が多い場合は、光量が少ない場合に比べて光量に対する受光信号の関係に変化が生じるため、太陽光等の高照度の光に対して測距できない状況が発生する。
上記特許文献1に記載された技術では、画素を異なるサイズとすることで画素毎に感度を変えている。このような手法では、画素のセルサイズの変更という比較的大掛かりな構造の変更が必要であるため、設計変更に煩雑な手間がかかるとともに、製造コストの増大を招来する問題がある。
そこで、SPADフォトダイオードにおいて、遠距離、近距離に関わらず、被写体を正確に捉えることが望まれていた。
本開示によれば、光電変換領域を画素毎に画定する画素分離部と、前記光電変換領域に設けられた第1半導体層と、前記第1半導体層との間に電子増倍のための電圧が印加される第2半導体層と、を備え、複数の前記画素の感度が異なるように構成された、固体撮像装置が提供される。
また、本開示によれば、光電変換領域を画素毎に画定する画素分離部と、前記光電変換領域に設けられた第1半導体層と、前記第1半導体層との間に電子増倍のための電圧が印加される第2半導体層と、を有し、複数の前記画素の前記光電変換領域の感度が異なるように構成された、固体撮像装置を備える、電子機器が提供される。
以上説明したように本開示によれば、SPADフォトダイオードにおいて、遠距離、近距離に関わらず、被写体を正確に捉えることが可能となる。
なお、上記の効果は必ずしも限定的なものではなく、上記の効果とともに、または上記の効果に代えて、本明細書に示されたいずれかの効果、または本明細書から把握され得る他の効果が奏されてもよい。
本開示の一実施形態に係る固体撮像素子(SPADフォトダイオード)を示す平面図である。 固体撮像素子の1画素の構成を示す概略断面図である。 図1と同様に固体撮像素子を示す平面図であって、数種類のサイズの集光レンズを備えた例を示す図である。 集光レンズを備えていない画素を設けた例を示す平面図である。 1の画素に複数の集光レンズを設けた例を示す平面図である。 画素毎に遮光膜の幅を変えることで、画素毎に感度調整を行う例を示す模式図である。 画素毎に遮光膜の幅を変えることで、画素毎に感度調整を行う例を示す模式図である。 3つの画素の遮光膜の構成を示す概略断面図である。 固体撮像素子を示す平面図であって、4つの画素のうちの3画素に複数種類の異なる遮光幅の遮光膜を設けた例を示す図である。 遮光膜の開口の形状のバリエーションを示す平面図である。 光電変換部と集光レンズの間に設けられる透過膜の膜厚を異ならせる例を示す模式図である。 図11に示す構成に対し、光電変換部の詳細な構成を示した概略断面図である。 本技術を適用した電子機器としての、カメラ装置の構成例を示すブロック図である。
以下に添付図面を参照しながら、本開示の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
なお、説明は以下の順序で行うものとする。
1.本実施形態に係る固体撮像素子の構成例
1.1.固体撮像素子の基本的構成例
1.2.画素毎に集光レンズの大きさを異ならせる例
1.3.画素毎に遮光膜の幅を異ならせる例
1.4.光電変換部と集光レンズ間の透過膜の膜厚を異ならせる例
2.本実施形態に係る固体撮像素子の適用例
1.本実施形態に係る固体撮像素子の構成例
1.1.固体撮像素子の基本的構成例
電子増倍をすることにより1光子レベルの読み出し感度を持ったフォトダイオードを実現するSPAD(Single Photon Avalanche Diode)の技術がある。SPADでは、増倍を起こすために±数10V程度の高電圧が用いられる。SPADは、画素毎に設けられた高電界のPN接合領域で光電変換により発生したキャリアを増倍させることで、1個のフォトンを画素毎に検出することが可能なデバイスである。
図1は本開示の一実施形態に係る固体撮像素子(SPADフォトダイオード;固体撮像装置)1000を示す平面図である。図1では、固体撮像素子1000が備える4つの画素を示している。また、図2は、固体撮像素子1000の1画素の構成を示す概略断面図である。本実施形態では、下層セルサイズは同じであるが上層の集光部分のレンズサイズや形状、遮光幅を変えることにより、下層レイアウトを変更することなく、上層レイアウトの変更だけで感度を制御する。
図1及び図2示すように、固体撮像素子1000の各画素は、素子分離部100によって区画され、各画素に光電変換部200が構成されている。素子分離部100は、一例として、絶縁膜または金属膜から構成される。図2に示すように、素子分離部100によって区画された各画素には、素子分離部100の縁から各画素の底部に延存するP型層102が設けられ、P型層102の内側にN型層104が設けられている。
また、光電変換部200の光照射面側(図面上で上側)には高濃度のN型層106が設けられ、高濃度のN型層106の下層には高濃度のP型層108が設けられている。また、素子分離部100に沿って形成されたP型層102の上部には、高濃度のP型層110が設けられている。一例として、上述した電子増倍を起こすため、P型層108とN型層104との間に高電圧が印加される。なお、不純物層の導電型は一例であり、PとNを入れ替えて逆の導電型にしても良い。また、高電界になる増倍領域の作り方は他にも様々な方法が考えられる。更に、増倍領域を分離するための不純物注入領域を設けたり、画素分離部150としてSTI(Sallow Trench Isolation)などを設けても良い。
1.2.画素毎に集光レンズの大きさを異ならせる例
光電変換部200の上部には、光電変換部200に光を集光させる集光レンズ300が設けられている。図1に示すように、集光レンズ300は、画素毎に異なるサイズで形成されている。
図1に示す例では、図面上で左上の画素と右下の画素の集光レンズ300の大きさは、左下の画素と右上の画素の集光レンズ300のよりも大きいサイズで構成されている。これにより、集光レンズ300の大きさに応じて、光電変換を行う際の感度を画素毎に変更することができる。なお、図1に示す例では、左上の画素と右下の画素の集光レンズ300の大きさは同一であり、左下の画素と右上の画素の集光レンズ300の大きさは同一である。
図1に示す例では、集光レンズ300の位置を画素の中心に配置しているが、撮像面の画素領域における画素の位置に応じて、集光レンズ300の位置を画素の中心からずらすように配置しても良い。例えば、画素領域の右上に位置する画素では、画素の中心に対して左下に集光レンズ300を配置する。これにより、撮像面における画素の位置に応じて、集光レンズ300の位置を最適に配置できる。
図3は、図1と同様に固体撮像素子1000を示す平面図であって、数種類のサイズの集光レンズ300を備えた例を示す図である。また、図4は、集光レンズ300を備えていない画素を設けた例を示す平面図である。また、図5は、1の画素に複数の集光レンズ300を設けた例を示す平面図である。図3〜図5の例においても、集光レンズ300の大きさに応じて、光電変換を行う際の感度を画素毎に変更することができる。
図4に示すように、集光レンズ300を備えていない画素を設けることで、集光レンズ300を設けた画素に対して、より広い感度差を実現できる。また、図5に示すように、1の画素に複数の集光レンズ300を設けることで、集光効率を高めることができる。また、複数の集光レンズ300の個数を調整することで、感度を容易に調整することが可能となる。以上のように、図3〜図5に示す例においても、画素毎に感度調整を行うことができる。
1.3.画素毎に遮光膜の幅を異ならせる例
図6及び図7は、画素毎に遮光膜の幅を変えることで、画素毎に感度調整を行う例を示す模式図である。図6は、図1と同様に固体撮像素子1000を示す平面図であって、固体撮像素子1000が備える4つの画素を示している。
図6において、光電変換部200を含む各画素の基本的な構成は、図1及び図2と同様である。図6では、一部の画素に遮光膜400が設けられている。図7は、遮光膜400が設けられた画素の構成を示す概略断面図である。遮光膜400は、光電変換部200に入射する光の一部を遮光する機能を有する。このように、一部の画素に遮光膜400を設けることで、画素毎に感度調整を行うことが可能である。なお、図7において、遮光膜400の上に集光レンズ300が設けられていても良い。
図8は、3つの画素の遮光膜400の構成を示す概略断面図である。図8に示すように、各画素の光電変換部200に対応して集光レンズ300がそれぞれ設けられている。また、各画素の光電変換部200の上には、遮光膜400が設けられている。各画素は同じセルサイズであるが、遮光膜400によって遮られた領域の幅が異なる。これにより、画素毎に感度調整を行うことができる。
同様に、図9は、固体撮像素子1000を示す平面図であって、4つの画素のうちの3画素に複数種類の異なる遮光幅の遮光膜400を設けた例を示す図である。これにより、画素毎に感度調整を行うことができる。
図10は、遮光膜400の開口の形状のバリエーションを示す平面図である。図10では、図面上で右上と左下の画素の遮光膜400の開口の形状を十字形状としている。また、右下の画素の遮光膜400の開口の形状を円形としている。遮光膜400の開口の形状は、矩形、多角形、円形等、様々な形状とすることができる。
1.4.光電変換部と集光レンズ間の透過膜の膜厚を異ならせる例
図11は、光電変換部200と集光レンズ300の間に設けられる透過膜500の膜厚を異ならせる例を示す模式図である。光電変換部200の光照射面に照射される光は、透過膜500を透過して光電変換部200に入射する。透過膜500は、絶縁膜から構成される。また、透過膜500を金属膜から構成しても良い。
図11は、3つの画素の透過膜500の構成を示す概略断面図である。図11に示すように、各画素の光電変換部200に対応して集光レンズ300がそれぞれ設けられている。各画素において、透過膜500は、集光レンズ300と光電変換部200との間に設けられている。
図11に示すように、中央の画素の透過膜500の膜厚は、その両側の画素の透過膜500よりも薄く形成されている。図12は、図11に示す構成に対し、各画素の光電変換部200の詳細な構成を示した概略断面図である。光電変換部200の詳細な構成は、図2に示したものと同様である。なお、図12において、集光レンズ300の図示は省略している。このように、画素毎に透過膜500の膜厚を異ならせることで、画素毎に感度調整を行うことができる。
2.本実施形態に係る固体撮像素子の適用例
図13は、本技術を適用した電子機器としての、カメラ装置2000の構成例を示すブロック図である。図20に示すカメラ装置2000は、レンズ群などからなる光学部2100、上述した固体撮像装置(撮像デバイス)1000、およびカメラ信号処理装置であるDSP回路2200を備える。また、カメラ装置2000は、フレームメモリ2300、表示部(表示装置)2400、記録部2500、操作部2600、および電源部2700も備える。DSP回路2200、フレームメモリ2300、表示部2400、記録部2500、操作部2600および電源部2700は、バスライン2800を介して相互に接続されている。
光学部2100は、被写体からの入射光(像光)を取り込んで固体撮像装置1000の撮像面上に結像する。固体撮像装置1000は、光学部2100によって撮像面上に結像された入射光の光量を画素単位で電気信号に変換して画素信号として出力する。
表示部2400は、例えば、液晶パネルや有機EL(Electro Luminescence)パネル等のパネル型表示装置からなり、固体撮像装置1000で撮像された動画または静止画を表示する。DSP回路2200は、固体撮像装置1000から出力された画素信号を受け取り、表示部2400に表示させるための処理を行う。記録部2500は、固体撮像装置1000で撮像された動画または静止画を、ビデオテープやDVD(Digital Versatile Disk)等の記録媒体に記録する。
操作部2600は、ユーザによる操作の下に、固体撮像装置1000が有する様々な機能について操作指令を発する。電源部2700は、DSP回路2200、フレームメモリ2300、表示部2400、記録部2500および操作部2600の動作電源となる各種の電源を、これら供給対象に対して適宜供給する。
以上説明したように本実施形態によれば、固体撮像装置1000の上層のレイアウトを変更するのみで、異なる感度を有する画素を実現することができ、広いダイナミックレンジの固体撮像素子1000を実現することが可能となる。
以上、添付図面を参照しながら本開示の好適な実施形態について詳細に説明したが、本開示の技術的範囲はかかる例に限定されない。本開示の技術分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本開示の技術的範囲に属するものと了解される。
また、本明細書に記載された効果は、あくまで説明的または例示的なものであって限定的ではない。つまり、本開示に係る技術は、上記の効果とともに、または上記の効果に代えて、本明細書の記載から当業者には明らかな他の効果を奏しうる。
なお、以下のような構成も本開示の技術的範囲に属する。
(1) 光電変換領域を画素毎に画定する画素分離部と、
前記光電変換領域に設けられた第1半導体層と、
前記第1半導体層との間に電子増倍のための電圧が印加される第2半導体層と、を備え、
複数の前記画素の前記光電変換領域の感度が異なるように構成された、固体撮像装置。
(2) 前記画素毎に光照射面に設けられた集光レンズを備え、
画素毎に異なる大きさの前記集光レンズが設けられた、前記(1)に記載の固体撮像装置。
(3) 前記集光レンズを備えていない前記画素を有する、前記(2)に記載の固体撮像装置。
(4) 1画素に複数の前記集光レンズが設けられた、前記(2)に記載の固体撮像装置。
(5) 前記画素毎に前記光電変換領域の光照射面に到達する光を遮光する遮光部を備え、
前記画素毎に前記遮光部の遮光幅が異なる、前記(1)に記載の固体撮像装置。
(6) 前記遮光部の開口の形状は、多角形又は円形である、前記(5)に記載の固体撮像装置。
(7) 前記画素毎に前記光電変換領域の光照射面に設けられ、光照射面に到達する光を透過する透過膜を備え、
前記画素毎に厚さの異なる前記透過膜が設けられた、前記(1)に記載の固体撮像装置。
(8) 光電変換領域を画素毎に画定する画素分離部と、前記光電変換領域に設けられた第1半導体層と、前記第1半導体層との間に電子増倍のための電圧が印加される第2半導体層と、を有し、複数の前記画素の前記光電変換領域の感度が異なるように構成された、固体撮像装置を備える、電子機器。
300 集光レンズ
400 遮光膜
500 透過膜
1000 固体撮像素子

Claims (8)

  1. 光電変換領域を画素毎に画定する画素分離部と、
    前記光電変換領域に設けられた第1半導体層と、
    前記第1半導体層との間に電子増倍のための電圧が印加される第2半導体層と、を備え、
    複数の前記画素の前記光電変換領域の感度が異なるように構成された、固体撮像装置。
  2. 前記画素毎に光照射面に設けられた集光レンズを備え、
    画素毎に異なる大きさの前記集光レンズが設けられた、請求項1に記載の固体撮像装置。
  3. 前記集光レンズを備えていない前記画素を有する、請求項2に記載の固体撮像装置。
  4. 1画素に複数の前記集光レンズが設けられた、請求項2に記載の固体撮像装置。
  5. 前記画素毎に前記光電変換領域の光照射面に到達する光を遮光する遮光部を備え、
    前記画素毎に前記遮光部の遮光幅が異なる、請求項1に記載の固体撮像装置。
  6. 前記遮光部の開口の形状は、多角形又は円形である、請求項5に記載の固体撮像装置。
  7. 前記画素毎に前記光電変換領域の光照射面に設けられ、光照射面に到達する光を透過する透過膜を備え、
    前記画素毎に厚さの異なる前記透過膜が設けられた、請求項1に記載の固体撮像装置。
  8. 光電変換領域を画素毎に画定する画素分離部と、前記光電変換領域に設けられた第1半導体層と、前記第1半導体層との間に電子増倍のための電圧が印加される第2半導体層と、を有し、複数の前記画素の前記光電変換領域の感度が異なるように構成された、固体撮像装置を備える、電子機器。
JP2018119768A 2018-06-25 2018-06-25 固体撮像装置及び電子機器 Pending JP2021158128A (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018119768A JP2021158128A (ja) 2018-06-25 2018-06-25 固体撮像装置及び電子機器
US17/252,810 US20210280622A1 (en) 2018-06-25 2019-06-07 Solid-state imaging apparatus and electronic apparatus
DE112019003237.2T DE112019003237T5 (de) 2018-06-25 2019-06-07 Festkörperbildaufnahmeeinrichtung und elektronische einrichtung
PCT/JP2019/022699 WO2020003972A1 (ja) 2018-06-25 2019-06-07 固体撮像装置及び電子機器
CN201920894204.2U CN210092085U (zh) 2018-06-25 2019-06-13 固体摄像装置以及电子设备
CN201910510471.XA CN110634894A (zh) 2018-06-25 2019-06-13 固体摄像装置以及电子设备
TW108120987A TWI820154B (zh) 2018-06-25 2019-06-18 固體攝像裝置及電子機器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018119768A JP2021158128A (ja) 2018-06-25 2018-06-25 固体撮像装置及び電子機器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2021158128A true JP2021158128A (ja) 2021-10-07

Family

ID=68968446

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018119768A Pending JP2021158128A (ja) 2018-06-25 2018-06-25 固体撮像装置及び電子機器

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20210280622A1 (ja)
JP (1) JP2021158128A (ja)
CN (2) CN210092085U (ja)
DE (1) DE112019003237T5 (ja)
TW (1) TWI820154B (ja)
WO (1) WO2020003972A1 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022024550A1 (ja) * 2020-07-29 2022-02-03 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置及び電子機器
CN114450565A (zh) * 2020-08-31 2022-05-06 深圳市大疆创新科技有限公司 光电探测器件、探测方法和电子设备
CN112713160B (zh) * 2020-12-25 2023-08-11 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 X射线平板探测器及其光敏单元阵列
JP2022107240A (ja) 2021-01-08 2022-07-21 株式会社東芝 光検出器、光検出システム、ライダー装置、移動体及び車

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08125933A (ja) * 1994-10-20 1996-05-17 Toshiba Corp 固体撮像素子及び固体撮像装置
JP2003274422A (ja) * 2002-03-15 2003-09-26 Fujitsu Ten Ltd イメージセンサ
US9124881B2 (en) * 2010-12-03 2015-09-01 Fly's Eye Imaging LLC Method of displaying an enhanced three-dimensional images
JP2014060380A (ja) * 2012-06-14 2014-04-03 Rohm Co Ltd 光電変換装置
EP3352219B1 (en) * 2015-09-17 2020-11-25 Sony Semiconductor Solutions Corporation Solid-state imaging element, electronic device and method for manufacturing solid-state imaging element
JP6754157B2 (ja) * 2015-10-26 2020-09-09 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 撮像装置
JP6650261B2 (ja) * 2015-12-21 2020-02-19 浜松ホトニクス株式会社 光電変換素子
JP6818875B2 (ja) * 2016-09-23 2021-01-20 アップル インコーポレイテッドApple Inc. 積層背面照射型spadアレイ
JP7055544B2 (ja) * 2016-11-29 2022-04-18 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 センサチップおよび電子機器
US10636930B2 (en) * 2017-09-29 2020-04-28 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. SPAD image sensor and associated fabricating method
KR102531355B1 (ko) * 2018-03-20 2023-05-10 삼성전자주식회사 이미지 센서

Also Published As

Publication number Publication date
TW202002317A (zh) 2020-01-01
WO2020003972A1 (ja) 2020-01-02
CN110634894A (zh) 2019-12-31
CN210092085U (zh) 2020-02-18
US20210280622A1 (en) 2021-09-09
DE112019003237T5 (de) 2021-04-08
TWI820154B (zh) 2023-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20220320166A1 (en) Solid-state imaging device and electronic apparatus
WO2020003972A1 (ja) 固体撮像装置及び電子機器
US10192920B2 (en) Solid-state imaging device
CN104639848B (zh) 固态摄像器件、固态摄像器件的驱动方法和电子装置
TWI541991B (zh) 具有高度的短波長偵測效率之背側照明單光子崩潰二極體成像感測器系統
US10199408B2 (en) Imaging device including first and second pixels
CN102201419B (zh) 固体摄像元件、其制造方法和电子装置
JP6879919B2 (ja) 固体撮像素子、電子機器、及び、固体撮像素子の製造方法
KR102499590B1 (ko) 고체 촬상 소자 및 그 제조 방법, 및 전자 기기
US20150288901A1 (en) Solid-state imaging device
US20160013233A1 (en) Solid-state imaging device, method for manufacturing same, and electronic device
JP2015053411A (ja) 固体撮像素子、固体撮像素子の製造方法、および電子機器
US10536659B2 (en) Solid-state image capturing element, manufacturing method therefor, and electronic device
TWI670978B (zh) 藉由升壓光電二極體驅動之成像感測器
JP2014225536A (ja) 固体撮像装置及びカメラ
JP2016162917A (ja) 固体撮像素子および電子機器
JP2016066766A (ja) 固体撮像装置、および電子装置
CN104617118A (zh) 固态摄像装置、固态摄像装置的制造方法以及电子设备
TW201347531A (zh) 用於暗電流校正之系統、裝置及方法
JP6263914B2 (ja) 撮像装置、撮像装置の駆動方法、および、カメラ
JP6578834B2 (ja) 撮像素子および撮像装置
JP2016021520A (ja) 半導体装置および電子機器
JP2018148097A (ja) 固体撮像素子
JP2013085164A (ja) 固体撮像装置
JP7126826B2 (ja) 固体撮像素子および固体撮像素子の製造方法、並びに電子機器